JP2020090426A - 水素製造装置、水素製造装置の作動方法及び作動プログラム - Google Patents

水素製造装置、水素製造装置の作動方法及び作動プログラム Download PDF

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Abstract

【課題】部品点数の増加を抑制しながら、かつ、低コストで水の流量を計測することが可能な水素製造装置を提供する。【解決手段】水素製造装置10は、改質器11、バーナ17、圧力計40、及び制御部13を備えている。圧力計40は、改質器11に供給される原料ガスの改質器11の供給側の圧力PR1Gを第1圧力PR1として計測する。制御部13は、圧力計40が計測した第1圧力PR1(圧力PR1G)に基づいて、改質器11に供給される水の流量Vwを算出する。【選択図】図1

Description

本開示の技術は、水素製造装置、水素製造装置の作動方法及び作動プログラムに関する。
炭化水素を含む都市ガス又はLPG(Liquefied Petroleum Gas)等を原料ガスとして、水素を製造する水素製造装置が開発されている(特許文献1参照)。水素製造装置は、改質器を有している。改質器は、約700〜約800℃程度の温度環境下において、原料ガスと水蒸気とを触媒の存在下で反応(水蒸気改質反応)させ、水素を含む改質ガスを出力する。改質器には、改質器内を昇温するためのバーナが設けられている。
特許文献1に記載の水素製造装置において、改質器に供給する水の供給路には、水の流量を計測する流量計が設けられている。特許文献1に記載の水素製造装置は、流量計で計測した計測値に基づいて、水の流量を制御している。
特開2014−139116号公報
水素製造装置において、水は原料となるため、特許文献1に記載されているとおり、水の流量の制御は不可欠である。しかしながら、専用の流量計を設けるのは部品点数の増加することに加えて、流量計はコストが高いという問題がある。
本開示の技術は、部品点数の増加を抑制しながら、かつ、低コストで水の流量を計測することが可能な水素製造装置、水素製造装置の作動方法及び作動プログラムを提供することを目的とする。
上記目的を達成するために、本開示の水素製造装置は、炭化水素を含むガスと水とを原料として、水が気化した水蒸気とガスとを触媒の存在下で反応させることにより、水素を含む改質ガスを出力する改質器と、改質器内を昇温するためのバーナと、改質器に供給されるガスの改質器の供給側の圧力、又は改質器に供給される水の改質器の供給側の圧力を第1圧力として計測する第1圧力計と、第1圧力計が計測した第1圧力に基づいて、改質器に供給される水の流量を算出する算出部と、を備えている。
第1圧力をPR1、係数をA1、水の流量をVwとしたときに、算出部は、次式(1)に基づいて、水の流量Vwを算出することが好ましい。
Vw=PR1×A1 ・・・・式(1)
改質器の温度を計測する温度計を備えており、算出部は、第1圧力の他に、温度計が計測した温度をパラメータとして加えて、水の流量を算出することが好ましい。
第1圧力をPR1、温度をT、係数をA2、水の流量をVwとしたときに、算出部は、次式(2)に基づいて、水の流量Vwを算出することが好ましい。
Vw=PR1×T×A2 ・・・・式(2)
改質器から出力される改質ガスの改質器の出力側の圧力を第2圧力として計測する第2圧力計を備えており、算出部は、第1圧力の他に、第2圧力をパラメータとして加えて、前記水の流量を算出することが好ましい。
第1圧力をPR1、第2圧力をPR2、係数をA3、水の流量をVwとしたときに、算出部は、次式(3)に基づいて、水の流量Vwを算出することが好ましい。
Vw=(PR1−PR2)×A3 ・・・・式(3)
改質器の温度を計測する温度計を備えており、算出部は、第1圧力及び第2圧力の他に、温度計が計測した温度をパラメータとして加えて、水の流量を算出することが好ましい。
第1圧力をPR1、温度をT、係数をA4、水の流量をVwとしたときに、算出部は、次式(4)に基づいて、水の流量Vwを算出することが好ましい。
Vw=(PR1−PR2)×T×A4 ・・・・式(4)
第1圧力は、原料となるガスを改質器に供給する原料ガス供給路内のガスの圧力であることが好ましい。
第1圧力は、原料となる水を改質器に供給する水供給路内の水の圧力であることが好ましい。
また、本開示の水素製造装置の作動方法は、炭化水素を含むガスと水とを原料として、水が気化した水蒸気とガスとを触媒の存在下で反応させることにより、水素を含む改質ガスを出力する改質器と、改質器内を昇温するためのバーナとを備えた水素製造装置の作動方法において、改質器に供給されるガスの改質器の供給側の圧力、又は改質器に供給される水の改質器の供給側の圧力を第1圧力として計測する第1圧力計から、第1圧力を取得する第1圧力取得ステップと、第1圧力取得ステップにおいて取得された第1圧力に基づいて、算出部が、改質器に供給される水の流量を算出する算出ステップと、を備えている。
また、本開示の水素製造装置の作動プログラムは、炭化水素を含むガスと水とを原料として、水が気化した水蒸気とガスとを触媒の存在下で反応させることにより、水素を含む改質ガスを出力する改質器と、改質器内を昇温するためのバーナとを備えた水素製造装置の作動プログラムにおいて、改質器に供給されるガスの改質器の供給側の圧力、又は改質器に供給される水の改質器の供給側の圧力を第1圧力として計測する第1圧力計から、第1圧力を取得する第1圧力取得ステップと、第1圧力取得ステップにおいて取得された第1圧力に基づいて、算出部が、改質器に供給される水の流量を算出する算出ステップと、をコンピュータに実現させる。
本開示の技術によれば、部品点数の増加を抑制しながら、かつ、低コストで水の流量を計測することができる。
第1実施形態に係る水素製造装置の構成を示す図である。 第1実施形態の制御部の処理を示す図である。 第1実施形態の変形例に係る水素製造装置の構成を示す図である。 第2実施形態の制御部の処理を示す図である。 第3実施形態に係る水素製造装置の構成を示す図である。 第3実施形態の制御部の処理を示す図である。 第4実施形態の制御部の処理を示す図である。 水の流量に基づいて異常監視をする処理を示す図である。 制御部をCPUで構成する場合の説明図である。
[第1実施形態]
図1において、水素製造装置10は、改質器11と、PSA(Pressure Swing Adsorption)装置12と、制御部13とを備える。改質器11は、改質部42とCO変成部46と、改質器11を昇温するためのバーナ17とを有している。
改質器11は、例えば、直径等のサイズが異なる複数の筒状体で構成された多重筒構造をしている。改質器11の内部には、複数の筒状体のそれぞれを構成する複数の筒状壁11A〜11Dが配置されている。
内側から1番目の筒状壁11Aの内部は、燃焼室21になっている。バーナ17は、改質器11の鉛直方向における上部に取り付けられており、炎が噴出する火口側の一部が燃焼室21内に進入するように、火口を下向きにした姿勢で配置される。バーナ17には、主燃料となるオフガスと、都市ガス等の補助燃料と、燃焼に必要な空気とが供給される。
バーナ17には、後述するPSA装置12から出力されるオフガスをバーナ17に供給するためのオフガス供給路61を構成する配管が接続されている。オフガス供給路61上には、オフガスタンク66と、流量制御部24とが配置されている。オフガスタンク66は、後述するようにオフガスを一時的に貯留する貯留部である。流量制御部24は、オフガスタンク66からバーナ17へ供給するオフガスの供給量を制御する。
流量制御部24は、例えばマスフローコントローラで構成される。マスフローコントローラは、周知のように、流体の流量を計測する流量計と、開度調節により、流体が流れる流路の断面積を変化させるバルブと、ソレノイドなどのバルブを駆動する駆動部と、制御回路とを備えている。流量制御部24は、制御部13と電気信号の送受信が可能なように配線で接続されている。流量制御部24は、制御部13からの制御信号に基づいて、オフガスの流量を制御する。例えば、流量制御部24に対しては、制御部13から制御信号として、オフガスの流量の目標値が送信される。流量制御部24において、制御回路は、受信した目標値と流量計の計測値とを比較して、計測値が目標値になるように、駆動部を通じてバルブの開度を調節することにより、オフガスの流量を制御する。
また、バーナ17には、補助燃料をバーナ17に供給する補助燃料供給路26を構成する配管が接続されている。補助燃料供給路26上には、バーナ17に供給する補助燃料の供給量を制御する流量制御部27が配置されている。流量制御部27は、流量制御部24と同様に、例えばマスフローコントローラで構成される。
流量制御部27の上流側には、図示しないポンプが設けられている。ポンプは、配管を通じて、都市ガス等の補助燃料の供給源と接続されており、補助燃料をバーナ17に送り込む。流量制御部27は、流量制御部24と同様に、制御部13の制御の下、適切な量の補助燃料がバーナ17に供給されるように、ポンプから供給される補助燃料の流量を制御する。
改質器11において、筒状壁11Aとその外側の筒状壁11Bの間は、バーナ17から排出される排ガスの排ガス流路28になっている。燃焼室21の下端において、燃焼室21と排ガス流路28は連通しており、排ガスは、燃焼室21から排ガス流路28に進入する。排ガスは、排ガス流路28を通って、排ガスポート28Aから改質器11の外部に排出される。
改質器11には、原料ガス供給ポート31と、水供給ポート32とが設けられている。
原料ガス供給ポート31及び水供給ポート32は、改質ガスの原料となる原料ガスと水とをそれぞれ改質器11に供給するポートである。水は、改質器11内において水蒸気改質反応を生じさせるために、原料ガスと混合される水蒸気の元になる改質用水である。改質用水として純水が使用される。
原料ガス供給ポート31には、原料ガス供給路33を構成する配管が接続されている。原料ガス供給路33上には、改質器11に供給する原料ガスの供給量を制御する流量制御部34が配置されている。流量制御部34は、流量制御部24と同様に、例えばマスフローコントローラで構成される。
流量制御部34の上流側には、ポンプ35が設けられている。ポンプ35は、配管を通じて、都市ガス等の原料ガスの供給源と接続されており、原料ガスを改質器11に送り込む。流量制御部34は、流量制御部24と同様に、制御部13の制御の下、適切な量の原料ガスが改質器11に供給されるように、ポンプ35から供給される原料ガスの流量を制御する。
また、原料ガス供給路33上には、圧力計40が配置されている。圧力計40は、改質器11に供給される原料ガスの改質器11の供給側の第1圧力PR1を計測する。改質器11の供給側の圧力とは、改質器11とポンプ35との間の圧力をいう。圧力計40は、ポンプ35の下流側に配置された流量制御部34と改質器11の原料ガス供給ポート31との間に配置されており、原料ガス供給路33内における、この位置の原料ガスの圧力PR1を第1圧力PR1として、計測する。
圧力計40は、制御部13と電気信号の送受信が可能なように配線で接続されている。圧力計40は、計測した原料ガスの圧力PR1を制御部13に送信する。圧力PR1は、第1圧力PR1の一例であり、圧力計40は、原料ガスの圧力PR1を第1圧力PR1として計測する第1圧力計の一例である。
水供給ポート32には、水供給路39を構成する配管が接続されている。水供給路39上には、水タンク36とポンプ(Pw)37とが配置されている。水タンク36は、改質器11に供給する水を貯留する。ポンプ37は、水タンク36内の水を吸い上げて、改質器11に供給する。
ポンプ37は、制御部13と電気信号の送受信が可能なように配線で接続されている。制御部13は、ポンプ37の回転数及び駆動時間を制御することにより、改質器11に供給される水の流量を制御する。
水タンク36には、外部からの水を供給する外部水供給部38が接続されている。外部水供給部38は、例えば、公共の水道管や改質用に用意された純水を供給する供給源である。また、水タンク36には、外部水供給部38からの水が貯留される他、後述するように、改質ガスを冷却することにより、改質ガス中に含まれる水蒸気を液化した水が貯留される。
改質器11において、筒状壁11Bとその外側の筒状壁11Cの間は、第1流路41となっている。第1流路41には、上流側において、原料ガス供給ポート31と水供給ポート32とが接続されている。第1流路41の下流側には改質部42が設けられている。第1流路41内を流れる水は、バーナ17による加熱によって気化されて、水蒸気となる。第1流路41内において、水蒸気と原料ガスとが混合されて、改質部42に進入する。
改質部42は、例えばニッケル系触媒等の改質触媒層を有する。改質部42は、バーナ17の加熱により、約700℃〜約800℃に熱せられる。改質部42は、改質触媒層の存在下で、かつ、約700℃〜約800℃の温度環境下において、改質触媒層の内部に進入した原料ガスと水蒸気とを反応(水蒸気改質反応)させる。そして、原料ガスを水素と一酸化炭素とに改質して、水素と一酸化炭素とを含む第1ガスを生成して、出力する。
第1流路41において、改質部42の下流側には、改質器11内の温度(改質温度)Tを測定する温度センサ43が設けられている。温度センサ43は、例えば、熱電対で構成される。温度センサ43は、改質器11の温度を計測する温度計の一例である。
また、第1流路41は、改質部42の下流側で第2流路44と連通している。第2流路44は、筒状壁11Cとその外側の筒状壁11Dとの間に形成される。第2流路44には、改質部42から出力する第1ガスが流入する。第2流路44には、CO変成部46が設けられている。CO変成部46は、例えば鉄−クロム系触媒、銅−亜鉛系触媒、白金系等の変成触媒層を有する。CO変成部46は、変成触媒層の存在下において、改質部42が出力する第1ガスと水蒸気とを反応させて、第1ガス中の一酸化炭素の一部を、水素と二酸化炭素に変成する。そして、CO変成部46は、水素、一酸化炭素、及び二酸化炭素を含む第2ガスを改質ガスとして出力する。
CO変成部46の下流側には、出力ポート47が設けられている。CO変成部46が出力する改質ガスは、出力ポート47から改質器11の外部へ出力される。
出力ポート47は、改質ガスをPSA装置12に向けて供給する改質ガス供給路48を構成する配管に接続されている。改質ガス供給路48上には、昇圧前分離部51、バッファタンク52、圧縮機53、昇圧後分離部54、及びバッファタンク56がこの順で配置されており、これらの各部の間は、改質ガス供給路48を構成する配管で接続されている。
昇圧前分離部51は、図示しない熱交換器の冷却水によって、改質ガスを冷却することで、改質ガスに含まれる水蒸気を凝縮して、水に戻す。これにより、改質ガスに含まれる水蒸気が改質ガスから分離される。水は、昇圧前分離部51の底部に貯留される。昇圧前分離部51は、配管によって水タンク36に接続されており、昇圧前分離部51に貯留された水は、水タンク36に回収される。上述のとおり、水タンク36に回収された水は、水供給路39を通じて改質器11に供給される。
昇圧前分離部51から出力される改質ガスは、バッファタンク52を経由して、圧縮機53に供給される。バッファタンク52は、圧縮機53の手前で改質ガスを一時的に貯留することで、圧縮機53の上流側における改質ガスの流量変動を抑制し、圧縮機53への改質ガスの供給量を安定させる。
圧縮機53は、後段のPSA装置12に高圧状態の改質ガスを供給するために、バッファタンク52から供給される改質ガスを圧縮する。圧縮機53から出力される高圧状態の改質ガスは、昇圧後分離部54に流入する。昇圧後分離部54は、昇圧前分離部51と同様に、改質ガスから水蒸気を分離し、水蒸気が液化した水を底部に貯留する。昇圧後分離部54も、配管によって水タンク36に接続されており、貯留された水は、水タンク36に回収される。上述のとおり、水タンク36に回収された水は、水供給路39を通じて改質器11に供給される。なお、改質ガスに加えて、排ガスに含まれる水蒸気を液化した水を水タンク36に回収してもよい。
昇圧後分離部54から出力される改質ガスは、バッファタンク56を経由して、PSA装置12に供給される。バッファタンク56は、PSA装置12の手前で改質ガスを一時的に貯留することで、PSA装置12の上流側における改質ガスの流量変動を抑制し、PSA装置12への改質ガスの供給量を安定させる。
PSA装置12は、改質ガスから水素以外の成分である不純物を除去して、製品となる水素(以下、製品水素という)を外部に出力する。PSA装置12は、水素を精製する水素精製装置の一例である。PSA装置12は、改質ガスから製品水素を除いた、不純物を主成分として含む残りのガスをオフガスとして出力する。
PSA装置12は、吸着剤が充填された吸着塔を有している。吸着剤としては、例えば、ゼオライト系吸着剤、活性炭、シリカゲル等を組み合わせたものが使用される。吸着剤において、改質ガス中の各成分(水素及び不純物)の吸着容量(単位吸着剤量当たりの吸着量)は、吸着塔内の圧力が大きいほど差が大きくなる。PSA装置12は、加圧環境下において、水素と不純物の吸着容量の差が大きくなることを利用して、水素よりも吸着されやすい不純物を優先的に吸着剤に吸着させることで、改質ガスから水素を分離して回収する。
PSA装置12は、例えば、2つの吸着塔を有しており、各吸着塔は、加圧環境下で、改質ガス中の不純物を吸着剤に吸着させる吸着工程と、常圧まで減圧して不純物を吸着剤から脱着する脱着工程とを繰り返す。各吸着塔は、一方が吸着工程を実施しているときに、他方が脱着工程を実施するというように、交互に動作する。
吸着工程を実施する吸着塔には、加圧状態の改質ガスが供給されて、吸着剤によって不純物が分離されて、吸着塔から純度の高い製品水素が流量制御部62に向けて出力される。一方、脱着工程を実施する吸着塔においては、吸着塔内が減圧されて、吸着剤に吸着された不純物がオフガス供給路61に向けて送出される。
流量制御部62は、製品水素の出力量を制御する。流量制御部62は、例えば、流量制御部24と同様のマスフローコントローラで構成される。流量制御部62も、制御部13と電気信号の送受信が可能なように配線で接続されている。流量制御部62は、制御部13から出力量制御信号を受信して、受信した出力量制御信号に基づいて、製品水素の出力量を制御する。
流量制御部62には、製品水素を外部に出力する排出路63を構成する配管と、製品水素の一部をオフガス供給路61に戻す戻し流路(図示せず)を構成する配管とが接続されている。流量制御部62が外部に出力すべき製品水素の出力量を減らすと、戻し流路の配管を通じて、出力量の減少分に相当する製品水素がオフガス供給路61に送出される。
オフガス供給路61は、PSA装置12から出力されるオフガスをバーナ17に供給する供給路である。オフガス供給路61上には、流量制御部24の前段に、オフガスタンク66が配置されている。オフガスタンク66は、PSA装置12から出力されるオフガスを一時的に貯留し、バーナ17の上流側におけるオフガスの流量変動を抑制し、バーナ17に供給されるオフガスの供給量を安定させる。
制御部13は、各流量制御部、ポンプ、圧縮機53、PSA装置12などの各部を含む水素製造装置10の全体を統括的に制御する。制御部13は、例えばマイクロコンピュータなどで構成される。制御部13は、改質器11に供給される水の供給量を制御する機能を有している。
制御部13は、水の流量を算出する流量算出部13Aと、流量制御部13Bとを有している。流量算出部13Aは、改質器11の供給側の第1圧力PR1に基づいて、改質器11に供給される水の流量を算出する算出部の一例である。より具体的には、流量算出部13Aは、水の流量をVw、第1圧力PR1すると、次式(1)に基づいて、水の流量Vwを算出する。
Vw=PR1×A1 ・・・・(1)
ここで、A1は係数である。第1圧力PR1の単位はkPaであり、流量Vwの単位はcc/minであり、係数A1の単位はcc/(min・kPa)である。
本例では、第1圧力PR1には、圧力計40から受信する原料ガスの圧力PR1が適用される。第1圧力PR1の一例である原料ガスの圧力PR1と、改質器11に供給される水の流量Vwは比例関係にあり、改質温度Tが決まれば、原料ガスの圧力PR1から水の流量Vwを計算で求めることができる。改質温度Tはほぼ一定に制御されるという前提の下では、改質温度Tも既知の値として、圧力PR1のみをパラメータとして、流量Vwを算出することができる。係数A1としては、改質温度Tを予め設定された値とした場合における、流量Vwと圧力PR1との相関関係、具体的には、流量Vwと圧力PR1を変化させながら取得した複数の実測データに基づいて求めた係数A1Gが使用される。係数A1Gの具体的な値としては、例えば約1.6である。
流量制御部13Bは、流量算出部13Aが算出した水の流量Vwに基づいて、予め目標値として設定された適切な量の水が改質器11に供給されるように、ポンプ(Pw)37を制御する。具体的には、ポンプ37の駆動電圧及び駆動電流の値を含む制御信号をポンプ37に送信して、ポンプ37の回転数及び駆動時間を制御する。これにより、改質器11に対する水の供給量が制御される。
以下、上記構成による作用を説明する。水素製造装置10が稼働中は、改質器11に原料ガスと水が供給される。改質器11は、バーナ17によって、改質温度Tfpが約700℃〜約800℃程度になるように加熱される。この温度環境下で、改質部42において、原料ガスと水の水蒸気改質反応が生じて、第1ガスが生成され、CO変成部46において、第1ガスと水蒸気とが反応して、第2ガスが生成される。この第2ガスが改質ガスとして、改質器11の出力ポート47から改質ガス供給路48に出力される。
改質ガス供給路48において、改質ガスは、昇圧前分離部51において水蒸気が分離され、圧縮機53によって高圧状態にされる。さらに、改質ガスは、昇圧後分離部54において水蒸気が分離された後、PSA装置12に供給される。PSA装置12において、改質ガスから不純物が分離されて、製品水素が出力される。一方、改質ガスのうち、製品水素として出力されない残りのガスは、オフガスとして、オフガス供給路61に送出されて、バーナ17に供給される。
図2に示すように、水素製造装置10が稼働している間、制御部13には、圧力計40から原料ガスの圧力PR1が送信される。これにより、制御部13は、圧力計40から圧力PR1を取得する。制御部13において、流量算出部13Aは、受信した圧力PR1を第1圧力PR1として、式(1)に適用して、水の流量Vwを算出する。
このように、流量算出部13Aは、圧力PR1に基づいて水の流量Vwを算出することができる。そのため、水の流量Vwを計測するための専用の流量計を設ける必要がない。圧力計40は、流量計と比較してコストが安い。そのため、本開示の技術によれば、部品点数の増加を抑制しながら、かつ、低コストで水の流量Vwを計測することができる。
流量制御部13Bは、算出した流量Vwに基づいて、改質器11に供給する水の供給量が目標値になるように、ポンプ(Pw)37を制御する。
これにより、例えば、改質器11内に供給される原料ガスと水の供給割合が適切に制御されて、水蒸気改質反応が適切な状態で進む。また、改質器11から出力される改質ガスに含まれる成分割合も適切な値となる。
上記例において、圧力計40を流量制御部34の後段に配置したが、圧力計40は、できるだけ改質器11の直前に配置することが好ましい。図1において図示は省略しているが、実際には、原料ガス供給路33上には、流量制御部34以外にも、都市ガス等に含まれる硫黄分を除去する脱硫器、及び原料ガスの逆流を防止する逆止弁などが配置されている。圧力計40は、脱硫器及び逆止弁の後段の改質器11の近くに配置されることが好ましい。
(第1圧力の変形例)
上記例では、第1圧力PR1として、原料ガスの圧力PR1を使用する例で説明したが、第1圧力PR1としては、水の圧力PR1を使用してもよい。水の圧力PR1は、具体的には、図3に示すように、水供給路39上に配置された圧力計71によって計測される圧力であって、改質器11に供給される水の改質器11の供給側の圧力である。改質器11の供給側の圧力とは、改質器11とポンプ37との間の圧力をいう。
圧力計71は、ポンプ37と水供給ポート32との間に配置されており、水供給路39内における、この位置の水の圧力を計測する。圧力計71は、制御部13と電気信号の送受信が可能なように配線で接続されている。圧力計71は、計測した水の圧力PR1を制御部13に送信する。圧力計71は、水の圧力を第1圧力として計測する第1圧力計の一例である。
水の流量Vwの算出式は、式(1)が使用される。なお、係数A1としては、上記例の係数A1Gの代わりに、水の流量Vwと水の圧力PR1との相関関係によって求めた係数A1Wが使用される。係数A1Wの具体的な値としては、例えば約1.0である。
[第2実施形態]
第1実施形態においては、改質温度Tを一定として、第1圧力PR1のみをパラメータとして水の流量Vwを算出しているが、図3に示す第2実施形態のように、第1圧力PR1の他に、改質温度Tをパラメータとして加えて、水の流量Vwを算出してもよい。第2実施形態の構成は、第1実施形態と同様であるため、説明を省略する。この場合には、流量Vwは、次式(2)に基づいて算出される。
Vw=PR1×T×A2 ・・・・(2)
ここで、A2は係数である。第1圧力PR1の単位はkPaであり、Tの単位は℃であり、流量Vwの単位はcc/minであり、係数A2の単位はcc/(min・kPa)である。
係数A2は、流量Vw、圧力PR1、及び改質温度Tの相関関係、具体的には、流量Vw、第1圧力PR1(圧力PR1)、及び改質温度Tを変化させながら取得した複数の実測データに基づいて求められる。
[第3実施形態]
図5及び図6に示す第3実施形態に係る水素製造装置10は、改質器11の供給側の第1圧力PR1と、改質器11の出力側の第2圧力PR2とに基づいて水の流量Vwを算出する。図5に示すように、第3実施形態に係る水素製造装置10は、改質器11の後段において、改質ガス供給路48に配置されるバッファタンク52には、圧力計76が設けられている。圧力計76は、バッファタンク52内の改質ガスの圧力を監視するために設けられている。
制御部13は、圧力計76が計測する、バッファタンク52内の改質ガスの圧力PR2を第2圧力PR2として利用する。圧力計76は、改質器11から出力される改質ガスの改質器の出力側の第2圧力PR2を計測する第2圧力計の一例である。
圧力計76は、制御部13と電気信号の送受信が可能なように配線で接続されている。圧力計76は、計測した改質ガスの圧力PR2を第2圧力PR2として制御部13に送信する。流量算出部13Aは、流量Vwを、次式(3)に基づいて算出する。
Vw=(PR1−PR2)×A3 ・・・・(3)
ここで、A3は係数である。第1圧力PR1及び第2圧力PR2の単位はkPaであり、Tの単位は℃であり、流量Vwの単位はcc/minであり、係数A3の単位はcc/(min・kPa)である。
係数A3は、流量Vw、第1圧力PR1、及び第2圧力PR2の相関関係、具体的には、流量Vw、第1圧力PR1(圧力PR1)、及び第2圧力PR2(圧力PR2)を変化させながら取得した複数の実測データに基づいて求められる。
第3実施形態は、改質器11の供給側と出力側の圧力差に基づいて水の流量Vwを算出するため、第1実施形態と比較して、より正確に流量Vwを算出することができる。
なお、第2圧力計は、改質器11と圧縮機53との間に配置されていればよい。本例では、バッファタンク52の圧力計76を第2圧力計として使用したが、上述のとおり、バッファタンク52には、バッファタンク52内の圧力監視用に圧力計76が標準で設けられている場合が多い。そのため、本例では、バッファタンク52に設けられる標準の装備品を第2圧力計として兼用できるため、部品点数及びコストの増加を抑制できる。
なお、より高い算出精度を求める場合には、改質ガス供給路48において、改質器11により近い位置の圧力を第2圧力PR2として測定することが好ましい。そのため、算出精度をより重視する場合は、出力ポート47と昇圧前分離部51との間など、改質器11により近い位置に、第2圧力計を設けてもよい。
[第4実施形態]
図7に示す第4実施形態は、第2実施形態と第3実施形態を組み合わせた形態である。すなわち、第1圧力PR1、第2圧力PR2、及び改質温度Tの3つをパラメータとして水の流量Vwを算出する例である。第4実施形態では、流量Vwは、次式(4)に基づいて算出される。
Vw=(PR1−PR2)×T×A4 ・・・・(4)
ここで、A4は係数である。第1圧力PR1及び第2圧力PR2の単位はkPaであり、Tの単位は℃であり、流量Vwの単位はcc/minであり、係数A4の単位はcc/(min・kPa)である。
係数A4は、流量Vw、第1圧力PR1、第2圧力PR2、及び改質温度Tの相関関係、具体的には、流量Vw、第1圧力PR1(圧力PR1)、第2圧力PR2(圧力PR2)、及び改質温度Tを変化させながら取得した複数の実測データに基づいて求められる。
[第5実施形態]
上記各実施形態では、流量算出部13Aが算出した水の流量Vwを、改質器11に供給する水の供給量を制御するために使用する例で説明したが、図8に示すように、水の流量Vwを、水の供給量を制御する以外の用途に使用してもよい。
図8において、制御部13には、流量算出部13Aの他に、異常監視部13Cが設けられている。異常監視部13Cは、流量算出部13Aが算出した水の流量Vwに基づいて、改質器11に供給される原料ガスと水の供給割合が予め設定された範囲内に維持されているか否かを監視し、異常が発生した場合には、警告する。
例えば、改質器11に対する、水の供給量と原料ガスの供給量の比(原料ガス/水)が、一定の範囲を下回ると、改質触媒上に炭素が析出して、改質触媒が劣化してしまうというリスクがある。水素製造装置10においては、このようなリスクの検知、予防又は回避をするために、水の流量を監視する必要がある。本例によれば、部品点数及びコストを抑制しながら、こうした異常監視が可能となる。
上記実施形態は、本発明の一例であり、本発明の趣旨を逸脱しない範囲において種々の変形が可能である。例えば、第1圧力計として、原料ガスの圧力PR1を計測する圧力計40(図1参照)と、水の圧力PR2を計測する圧力計71(図3参照)とを両方設けてもよい。両方を設けることで、例えば、どちらのかの圧力計が故障しても、水の流量Vwの監視を行うことができるというメリットがある。
また、上記実施形態では、温度センサ43として熱電対を使用し、熱電対を改質器11内の改質部42の下流側に配置して改質温度Tを測定しているが、改質器11の外部、例えば、改質器11の筐体の外周面に温度センサを設けてもよい。改質器11の外部に温度センサを設ける場合は、外部の温度センサで測定される外部温度と改質部42の近くの改質温度Tとの相関関係を予め取得しておき、相関関係に基づいて外部温度から改質温度Tを間接的に測定する。この場合でも、なるべく、改質部42に近い位置の温度を測定することが好ましいため、外部の温度センサを設ける位置は、例えば、改質部42の下流側に位置する、改質器11の底部などが好ましい。
また、本発明は、上記実施形態で示した水素製造装置に加えて、水素製造装置の作動方法、及び水素製造装置において実行される制御をコンピュータによって実現する水素製造装置の作動プログラムにも及ぶ。
本開示の水素製造装置の制御をコンピュータによって実現する場合は、例えば、図9に示すように、制御部13は、ハードウェアであるCPU(Central Processing Unit)101と、ソフトウェアである作動プログラム104との協働によって実現される。作動プログラム104は、データストレージデバイス103内に格納されている。メモリ102は、CPU101が処理を実行するためのワークメモリである。CPU101は、作動プログラム104をメモリ102にロードして、作動プログラム104に記述されたステップを実行する。これにより、図2、図4、及び図6から図8などに示す処理が実現される。
10 水素製造装置
11 改質器
11A 筒状壁
11B 筒状壁
11C 筒状壁
11D 筒状壁
12 PSA装置
12A、12B 吸着塔
12C バッファタンク
13 制御部
17 バーナ
21 燃焼室
24、27、34 流量制御部
26 補助燃料供給路
28 排ガス流路
28A 排ガスポート
31 原料ガス供給ポート
32 水供給ポート
33 原料ガス供給路
35、37 ポンプ
36 水タンク
38 外部水供給部
39 水供給路
41 第1流路
42 改質部
43 温度センサ
44 第2流路
46 CO変成部
47 出力ポート
48 改質ガス供給路
51 昇圧前分離部
52、56 バッファタンク
53 圧縮機
54 昇圧後分離部
61 オフガス供給路
62 流量制御部
63 排出路
66 オフガスタンク
101 CPU
102 メモリ
103 データストレージデバイス
104 作動プログラム
PR1 第1圧力
PR2 第2圧力
T 改質温度

Claims (12)

  1. 炭化水素を含むガスと水とを原料として、前記水が気化した水蒸気と前記ガスとを触媒の存在下で反応させることにより、水素を含む改質ガスを出力する改質器と、
    前記改質器内を昇温するためのバーナと、
    前記改質器に供給される前記ガスの前記改質器の供給側の圧力、又は前記改質器に供給される前記水の前記改質器の供給側の圧力を第1圧力として計測する第1圧力計と、
    前記第1圧力計が計測した第1圧力に基づいて、前記改質器に供給される前記水の流量を算出する算出部と、
    を備えている水素製造装置。
  2. 前記第1圧力をPR1、係数をA1、前記水の流量をVwとしたときに、
    前記算出部は、次式(1)に基づいて、前記水の流量Vwを算出する請求項1に記載の水素製造装置。
    Vw=PR1×A1 ・・・・式(1)
  3. 前記改質器の温度を計測する温度計を備えており、
    前記算出部は、前記第1圧力の他に、前記温度計が計測した温度をパラメータとして加えて、前記水の流量を算出する請求項1に記載の水素製造装置。
  4. 前記第1圧力をPR1、前記温度をT、係数をA2、前記水の流量をVwとしたときに、
    前記算出部は、次式(2)に基づいて、前記水の流量Vwを算出する請求項3に記載の水素製造装置。
    Vw=PR1×T×A2 ・・・・式(2)
  5. 前記改質器から出力される前記改質ガスの前記改質器の出力側の圧力を第2圧力として計測する第2圧力計を備えており、
    前記算出部は、前記第1圧力の他に、前記第2圧力をパラメータとして加えて、前記水の流量を算出する請求項1に記載の水素製造装置。
  6. 前記第1圧力をPR1、前記第2圧力をPR2、係数をA3、前記水の流量をVwとしたときに、
    前記算出部は、次式(3)に基づいて、前記水の流量Vwを算出する請求項5に記載の水素製造装置。
    Vw=(PR1−PR2)×A3 ・・・・式(3)
  7. 前記改質器の温度を計測する温度計を備えており、
    前記算出部は、前記第1圧力及び前記第2圧力の他に、前記温度計が計測した温度をパラメータとして加えて、前記水の流量を算出する請求項6に記載の水素製造装置。
  8. 前記第1圧力をPR1、前記温度をT、係数をA4、前記水の流量をVwとしたときに、
    前記算出部は、次式(4)に基づいて、前記水の流量Vwを算出する請求項7に記載の水素製造装置。
    Vw=(PR1−PR2)×T×A4 ・・・・式(4)
  9. 前記第1圧力は、前記原料となる前記ガスを前記改質器に供給する原料ガス供給路内の前記ガスの圧力である請求項1から8のいずれか1項に記載の水素製造装置。
  10. 前記第1圧力は、前記原料となる前記水を前記改質器に供給する水供給路内の前記水の圧力である請求項1から9のいずれか1項に記載の水素製造装置。
  11. 炭化水素を含むガスと水とを原料として、前記水が気化した水蒸気と前記ガスとを触媒の存在下で反応させることにより、水素を含む改質ガスを出力する改質器と、
    前記改質器内を昇温するためのバーナとを備えた水素製造装置の作動方法において、
    前記改質器に供給される前記ガスの前記改質器の供給側の圧力、又は前記改質器に供給される前記水の前記改質器の供給側の圧力を第1圧力として計測する第1圧力計から、前記第1圧力を取得する第1圧力取得ステップと、
    前記第1圧力取得ステップにおいて取得された前記第1圧力に基づいて、算出部が、前記改質器に供給される前記水の流量を算出する算出ステップと、
    を備えている水素製造装置の作動方法。
  12. 炭化水素を含むガスと水とを原料として、前記水が気化した水蒸気と前記ガスとを触媒の存在下で反応させることにより、水素を含む改質ガスを出力する改質器と、
    前記改質器内を昇温するためのバーナとを備えた水素製造装置の作動プログラムにおいて、
    前記改質器に供給される前記ガスの前記改質器の供給側の圧力、又は前記改質器に供給される前記水の前記改質器の供給側の圧力を第1圧力として計測する第1圧力計から、前記第1圧力を取得する第1圧力取得ステップと、
    前記第1圧力取得ステップにおいて取得された前記第1圧力に基づいて、算出部が、前記改質器に供給される前記水の流量を算出する算出ステップと、
    をコンピュータに実現させる作動プログラム。
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