JP2020071169A - 電磁波検出装置及び情報取得システム - Google Patents
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Abstract
Description
図5〜図8を用いて、一実施例における制御部14の動作を説明する。この実施例では、検出部17は、対象obを撮像するイメージセンサであり、検出部20は、対象obまでの距離を測定する測距センサである。例えば、情報取得システム11は、対象obを撮像するとともに対象obまでの距離を測定し、撮像画像と距離情報とを取得する。
変形例では、制御部14は、検出部17の1フレーム内の画素信号群毎に、画素信号群の強度の平均を導出する。そして、その平均に対応する最適増幅率を、対応する検出部20の1フレーム内の画素信号群に対し設定してもよい。図10A、10B、11A、11B、12A、及び12Bには、それぞれ図9A、9Bと同様の表現で、検出部17の1フレームF17の画素信号、またはこれに対応する検出部20の1フレームF20の画素信号が示される。
11 情報取得システム
12 放射部
13 走査部
14 制御部
15 前段光学系
16 分離部
17、20 検出部
18 進行部
19 後段光学系
ob 対象
px 画素
ss 基準面
Claims (31)
- 入射する電磁波を複数の方向に分離して進行させる分離部と、
分離された第1の電磁波を第1の頻度で検出する第1の検出部と、
前記第1の電磁波と異なる方向へ分離された第2の電磁波を前記第1の頻度より低い第2の頻度で検出し、検出信号の増幅率を前記第1の検出部の検出結果に応じて変化させる第2の検出部と、
を有する電磁波検出装置。 - 請求項1において、
前記第2の検出部は、前回第2の電磁波を検出した後に前記第1の検出部により検出された前記第1の電磁波の検出結果に応じて、前記増幅率を変化させる、
電磁波検出装置。 - 請求項1または2において、
前記第2の検出部は、検出信号の増幅率を前記第1の検出部の検出結果の一部に基づいて設定する、
電磁波検出装置。 - 請求項1乃至3のいずれかにおいて、
前記第2の検出部は、検出信号の増幅率を前記第1の検出部の検出結果の平均に基づいて設定する、
電磁波検出装置。 - 請求項1乃至4のいずれかにおいて、
前記第2の検出部の前記増幅率は、前記第1の検出部の検出結果に基づいて当該増幅率を決定する制御部により設定される、
電磁波検出装置。 - 請求項5において、
前記制御部は、前記第1の検出部にて出力される前記第1の電磁波の強度に応じた出力信号に基づき、前記第2の検出部の増幅率を設定する、
電磁波検出装置。 - 請求項1乃至6のいずれかにおいて、
前記第1の検出部は、測距センサ、イメージセンサ、及びサーモセンサの少なくともいずれかを含む
電磁波検出装置。 - 請求項1乃至7のいずれかにおいて、
前記第1の検出部及び前記第2の検出部は、異種または同種のセンサを含む、
電磁波検出装置。 - 請求項1乃至8のいずれかにおいて、
前記第1の検出部は、赤外線、可視光線、紫外線、及び電波の少なくともいずれかを検出する、
電磁波検出装置。 - 請求項1乃至9のいずれかにおいて、
前記第1の検出部及び前記第2の検出部は、同種または異種の電磁波を検出する、
電磁波検出装置。 - 請求項1乃至10のいずれかにおいて、
前記第1の検出部及び前記第2の検出部は、APD(Avalanche PhotoDiode)、MPPC(Multi−Pixel Photon Counter)、SPAD(Single Photon Avalanche Diode)その他の半導体素子を含む、
電磁波検出装置。 - 請求項1乃至11のいずれかにおいて、
前記分離部は、入射する前記電磁波を波長に応じて複数の方向に分離して進行させる、
電磁波検出装置。 - 請求項12において、
前記第1の電磁波と前記第2の電磁波の波長帯域の差は20000nm以下である、
電磁波検出装置。 - 請求項1乃至13のいずれかにおいて、
前記第2の電磁波の進行方向を画素ごとに切換えて前記第2の検出部へ進行させる進行部をさらに有する、
電磁波検出装置。 - 請求項14において、
前記進行部は、電磁波を反射する反射面を前記画素毎に有し、当該反射面の向きを前記画素毎に変更することにより前記第2の電磁波の進行方向を、前記第2の検出部に向かう方向および該方向以外の方向に切り替える、
電磁波検出装置。 - 請求項14または15において、
前記進行部は、前記基準面に入射した電磁波を透過させて前記第2の検出部に進行させる透過する透過状態と、前記第2の検出部に向かう方向とは別の方向に反射させる反射状態を、前記画素毎に切替える、
電磁波検出装置。 - 請求項16において、
前記進行部は、電磁波を反射する反射面を含むシャッタを前記画素毎に含み、前記シャ
ッタを前記画素毎に開閉することにより前記反射状態と前記透過状態とに、切替える、
電磁波検出装置。 - 請求項17において、
前記進行部は、前記シャッタがアレイ状に配列されたMEMSシャッタを含む、
電磁波検出装置。 - 請求項16または17において、
前記進行部は、電磁波を反射する反射状態および透過する透過状態を液晶配光に応じて
前記画素毎に切替え可能な液晶シャッタを含む、
電磁波検出装置。 - 請求項15乃至19のいずれかにおいて、
前記進行部は、デジタルマイクロミラーデバイスを有する、
電磁波検出装置。 - 請求項1乃至20のいずれかにおいて、
前記分離部は、可視光反射コーティング、ハーフミラー、ビームスプリッタ、ダイクロイックミラー、コールドミラー、ホットミラー、メタサーフェス、及び偏向素子の少なくともいずれかを含む、
電磁波検出装置。 - 請求項1乃至21のいずれかにおいて、
前記第1の検出部及び前記第2の検出部はそれぞれ、放射部から対象に向けて放射された電磁波の前記対象からの反射波を検出するアクティブセンサ、またはパッシブセンサを含む、
電磁波検出装置。 - 請求項1乃至22のいずれかにおいて、
前記第1の検出部及び前記第2の検出部はそれぞれ、異なる放射部、または同一の放射部から対象に向けて放射された電磁波の前記対象からの反射波を検出するアクティブセンサを含む、
電磁波検出装置。 - 請求項23において、
前記異なる放射部はそれぞれ、異種または同種の電磁波を放射する、
電磁波検出装置。 - 請求項22から24のいずれかにおいて、
前記放射部は、赤外線、可視光線、紫外線、及び電波のいずれかを放射する、
電磁波検出装置。 - 請求項22乃至25のいずれかにおいて、
前記放射部は、フェイズドスキャン方式により電磁波を走査する
電磁波検出装置。 - 請求項22乃至25のいずれかにおいて、
前記放射部から放射される電磁波を用いて走査する走査部を、さらに有する
電磁波検出装置。 - 請求項19において、
前記走査部は、電磁波を反射する反射面を含み、前記放射部から放射される電磁波を、前記反射面の向きを変更しながら前記反射面に反射させることにより、走査する
電磁波検出装置。 - 請求項19または28において、
前記走査部は、MEMSミラー、ポリゴンミラー、ガルバノミラーのいずれかを含む、
電磁波検出装置。 - 請求項1乃至29のいずれかにおいて、
前記電磁波検出装置と、
前記第1の検出部及び前記第2の検出部による電磁波の検出結果に基づいて、周囲に関する情報を取得する制御部とを、有する
情報取得システム。 - 請求項30において、
前記制御部は、前記周囲に関する情報として、画像情報、距離情報、及び温度情報の少なくともいずれかを取得する、
情報取得システム。
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