JP2020067361A - 測距装置、測距方法、プログラム及び記録媒体 - Google Patents

測距装置、測距方法、プログラム及び記録媒体 Download PDF

Info

Publication number
JP2020067361A
JP2020067361A JP2018199929A JP2018199929A JP2020067361A JP 2020067361 A JP2020067361 A JP 2020067361A JP 2018199929 A JP2018199929 A JP 2018199929A JP 2018199929 A JP2018199929 A JP 2018199929A JP 2020067361 A JP2020067361 A JP 2020067361A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
distance
signal
reflected
reflected light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2018199929A
Other languages
English (en)
Inventor
佐藤 充
Mitsuru Sato
充 佐藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Pioneer Corp
Original Assignee
Pioneer Electronic Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Pioneer Electronic Corp filed Critical Pioneer Electronic Corp
Priority to JP2018199929A priority Critical patent/JP2020067361A/ja
Publication of JP2020067361A publication Critical patent/JP2020067361A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Measurement Of Optical Distance (AREA)
  • Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)

Abstract

【課題】対象物までの距離にかかわらず、正確に測距を行うことが可能な測距装置を提供する。【解決手段】所定領域に向けて出射され所定領域内の対象物によって反射された光を、第1の反射光RL1と第2の反射光RL2とに分岐させる分岐部と、第1の反射光の光路上に設けられた第1の集光レンズ22Aと、第1の集光レンズを経た第1の反射光の光路上に設けられた第1の受光部23Aと、第2の反射光の光路上に設けられた第2の集光レンズ22Bと、第2の集光レンズを経た第2の反射光の光路上に設けられた第2の受光部23Bと、第1の受光部の受光結果及び第2の受光部の受光結果の少なくとも一方に基づいて対象物までの距離を算出する距離算出部33と、を有し、分岐部は、対象物によって反射された光を第1の反射光の外縁が第2の反射光の外縁よりも大きくなるように分岐させる。【選択図】図1

Description

本発明は、測距装置に関する。
レーザ光を対象物に照射し、当該対象物によって反射されたレーザ光を受光して解析することにより、対象物までの距離を計測する測距装置が知られている(例えば、特許文献1)。かかる測距装置では、例えば対象物によって反射されたレーザ光をレンズによって集光し、集光したレーザ光を受光素子で受光する。
特開2015−129646号公報
上記のような測距装置では、通常、対象物からの戻り光の光量は対象物までの距離の2乗に逆比例するため、近距離にある対象物からの戻り光は受光素子を飽和させるおそれがあり、対象物までの正確な距離を得ることができないという問題があった。
本発明は上記した点に鑑みてなされたものであり、対象物までの距離にかかわらず、正確に測距を行うことが可能な測距装置を提供することを目的の一つとしている。
請求項1に記載の発明は、測距装置であって、所定領域に向けて出射され前記所定領域内の対象物によって反射された光を、第1の反射光と第2の反射光とに分岐させる分岐部と、前記第1の反射光の光路上に設けられた第1の集光レンズと、前記第1の集光レンズを経た前記第1の反射光の光路上に設けられた第1の受光部と、前記第2の反射光の光路上に設けられた第2の集光レンズと、前記第2の集光レンズを経た前記第2の反射光の光路上に設けられた第2の受光部と、前記第1の受光部の受光結果及び前記第2の受光部の受光結果の少なくとも一方に基づいて前記対象物までの距離を算出する距離算出部と、を有し、前記分岐部は、前記対象物によって反射された前記光を前記第1の反射光の外縁が前記第2の反射光の外縁よりも大きくなるように分岐させることを特徴とする。
請求項6に記載の発明は、光を一方の外縁が他方の外縁よりも大きくなるように分岐させる分岐部と、前記分岐部により分岐した光の一方の光路上に設けられた第1の集光レンズと、前記第1の集光レンズを経た光の光路上に設けられた第1の受光部と、前記分岐部により分岐した光の他方の光路上に設けられた第2の集光レンズと、前記第2の集光レンズを経た光の光路上に設けられた第2の受光部と、前記第1の受光部又は前記第2の受光部の受光結果に基づいて前記対象物までの距離を算出する距離算出部と、を有する測距装置が実行する測距方法であって、前記分岐部が、所定領域に向けて出射され前記所定領域内の対象物によって反射された光を、第1の反射光と前記第1の反射光よりも外縁が小さい第2の反射光とに分岐させるステップと、前記第1の集光レンズが、前記第1の反射光を集光するステップと、前記第2の集光レンズが、前記第2の反射光を集光するステップと、前記第1の受光部が、前記第1の集光レンズにより集光された前記第1の反射光を受光して第1の受光信号を生成するステップと、前記第2の受光部が、前記第2の集光レンズにより集光された前記第2の反射光を受光して第2の受光信号を生成するステップと、前記距離算出部が、前記第1の受光信号又は前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの概算距離を判定するステップと、前記距離算出部が、前記概算処理が閾値以上である場合には、前記第1の受光信号と前記第2の受光信号とを合算した合算信号に基づいて前記対象物までの距離を算出し、前記概算距離が前記閾値未満である場合には前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの距離を算出するステップと、を含むことを特徴とする。
請求項7に記載の発明は、プログラムであって、所定領域に向けて出射され前記所定領域内の対象物によって反射された光を、第1の反射光と前記第1の反射光よりも外縁が小さい第2の反射光とに分岐させる分岐部と、前記第1の反射光を集光する第1の集光レンズと、前記第1の集光レンズを経た前記第1の反射光を受光して第1の受光信号を生成する第1の受光部と、前記第2の反射光を集光する第2の集光レンズと、前記第2の集光レンズを経た前記第2の反射光を受光して第2の受光信号を生成する第2の受光部と、を有する測距装置に搭載されたコンピュータに、前記第1の受光信号又は前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの概算距離を判定するステップと、前記概算処理が閾値以上である場合には、前記第1の受光信号と前記第2の受光信号とを合算した合算信号に基づいて前記対象物までの距離を算出し、前記概算距離が前記閾値未満である場合には前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの距離を算出するステップと、を実行させることを特徴とする。
請求項8に記載の発明は、記録媒体であって、所定領域に向けて出射され前記所定領域内の対象物によって反射された光を、第1の反射光と前記第1の反射光よりも外縁が小さい第2の反射光とに分岐させる分岐部と、前記第1の反射光を集光する第1の集光レンズと、前記第1の集光レンズを経た前記第1の反射光を受光して第1の受光信号を生成する第1の受光部と、前記第2の反射光を集光する第2の集光レンズと、前記第2の集光レンズを経た前記第2の反射光を受光して第2の受光信号を生成する第2の受光部と、を有する測距装置に搭載されたコンピュータに、前記第1の受光信号又は前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの概算距離を判定するステップと、前記概算処理が閾値以上である場合には、前記第1の受光信号と前記第2の受光信号とを合算した合算信号に基づいて前記対象物までの距離を算出し、前記概算距離が前記閾値未満である場合には前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの距離を算出するステップと、を実行させるプログラムを記録することを特徴とする。
実施例1の測距装置の構成を示すブロック図である。 対象物が遠距離にある場合の受光信号の波形を示す図である。 対象物が近距離にある場合の受光信号の波形を示す図である。 遠距離、中間的な距離及び近距離にある対象物からの反射光の受光の様子を示す模式図である。 受光信号RS1の波形を表した図である。 受光素子RS2の受光信号の波形を表した図である。 合算信号RS3の波形を表した図である。 実施例2のビームスプリッタの例を示す図である。
以下に本発明の好適な実施例を詳細に説明する。なお、以下の各実施例における説明及び添付図面においては、実質的に同一または等価な部分には同一の参照符号を付している。
図1は、本実施例の測距装置100の構成を示すブロック図である。測距装置100は、レーザ光を所定領域に向けて出射し、所定領域内の対象物OJTによって反射されたレーザ光を受光して、受光結果に基づいて対象物OJTまでの距離を計測する測距装置である。測距装置100は、投光部11、ビームスプリッタ20、第1受光処理部21A、第2受光処理部21B、及び測距部30を有する。
投光部11は、レーザ光を出射する光源12、光源12を駆動する発光駆動部13、及び光源12から出射されたレーザ光の光路上に設けられた投光レンズ14を含む。光源12は、例えばライン状に配された複数のエミッタ(マルチエミッタ)から構成され、当該複数のエミッタから出射されたレーザ光が合わさったライン形状のレーザ光(すなわち、ラインビーム)を出射する。透光部11は、光源12から出射されたレーザ光を所定領域に向けて出射する。
ビームスプリッタ20は、所定領域内の対象物OJTによって反射されたレーザ光である反射光RLの光路上に設けられている。ビームスプリッタ20は、例えばハーフミラーから構成され、反射光RLの一部を反射させるとともに他の一部を透過させることにより、反射光RLを第1の反射光RL1と第2の反射光RL2とに分岐させる。例えば、本実施例では、反射光RLの一部を反射させたものを第1の反射光RL1とし、反射光RLの他の一部を透過させたものを第2の反射光RL2とする。
第1受光処理部21Aは、第1の反射光RL1を受光し、第1の受光信号RS1を生成する信号処理部である。第1受光処理部21Aは、第1の受光レンズ22A及び第1の受光部23Aを含む。
第1の受光レンズ22Aは、入射された光を集光する集光レンズであり、例えば凸レンズとして構成されている。第1の受光レンズ22Aは、ビームスプリッタ20によって反射された反射光RLの一部である第1の反射光RL1の光路上に設けられている。
第1の受光部23Aは、受光した光の強度を電気信号に変換する受光素子がライン状に複数配列されたラインセンサとして構成されている。第1の受光部23Aを構成する受光素子の各々は、例えばAPD(Avalanche Photodiode)から構成されている。第1の受光部23Aは、第1の受光レンズ22Aを透過した第1の反射光RL1の光路上に設けられており、第1の反射光RL1を受光して電気信号に変換することにより、第1の受光信号RS1を生成する。なお、第1の受光部23Aの各受光素子は、第1の受光レンズ22Aに入射した平行光が集光する位置に配置されている。
第2受光処理部21Bは、第2の反射光RL2を受光し、第2の受光信号RS2を生成する信号処理部である。第2受光処理部21Bは、第2の受光レンズ22B及び第2の受光部23Bを含む。
第2の受光レンズ22Bは、入射された光を集光する集光レンズであり、例えば凸レンズとして構成されている。第2の受光レンズ22Bは、ビームスプリッタ20によって透過された反射光RLの一部である第2の反射光RL2の光路上に設けられている。また、第2の受光レンズ22Bの入射面側には開口絞りASが設けられている。開口絞りASを通過することにより、第2の受光レンズに入射する第2の反射光RS2のビーム径は、第1の受光レンズに入射する反射光RS1のビーム径よりも小さくなる。 第2の受光部23Bは、受光素子がライン状に複数配列されたラインセンサとして構成されている。第2の受光部23Bを構成する受光素子の各々は、例えばAPDから構成されている。第2の受光部23Bは、第2の受光レンズ22Bを透過した第2の反射光RL2の光路上に設けられており、第2の反射光RL2を受光して電気信号に変換することにより、第2の受光信号RS2を生成する。なお、第2の受光部23Bの各受光素子は、第2の受光レンズ22Bに入射した平行光が集光する位置に配置されている。前述した開口絞りASにより、受光部23Bに入射する光量は、受光部23Aに入射する光量よりも小さくなる。
測距部30は、第1の受光信号RS1又は第2の受光信号RS2に基づいて、対象物OJTまでの距離を算出する処理演算を行う信号処理部である。測距部30は、概算距離判定部31、使用受光素子判定部32及び距離算出部33を含む。
概算距離判定部31は、第1の受光部23Aから第1の受光信号RS1、第2の受光部23Bから第2の受光信号RS2の供給をそれぞれ受け、第1の受光信号RS1及び第2の受光信号RS2のうちの少なくとも一方に基づいて、対象物OJTまでの概算距離を判定する。例えば、概算距離判定部31は、対象物OJTが第1の受光レンズ22Aから見て無限遠とみなせる所定以上の遠距離 に位置しているか否かを判定する。
使用受光素子判定部32は、概算距離判定部31により判定された概算距離に基づいて、第1の受光部23A又は第2の受光部23Bのいずれによる受光結果を用いて対象物OJTまでの距離を算出するかを判定する。例えば、使用受光素子判定部32は、概算距離が所定以上の遠距離である場合には、第1の受光部23Aによる受光結果である第1の受光信号RS1と第2の受光部23Bによる受光結果である第2の受光信号RS2とを合算した合算信号に基づいて、対象物OJTまでの距離を算出すると判定する。一方、使用受光素子判定部32は、概算距離が所定未満の近距離である場合には、第2の受光部23Bによる受光結果である第2の受光信号RS2に基づいて、対象物OJTまでの距離を算出すると判定する。
距離算出部33は、使用受光素子判定部32による判定結果に応じて、第1の受光信号RS1と第2の受光信号RS2とを合算した合算信号、又は第2の受光信号RS2に基づいて、対象物OJTまでの距離を算出する。
次に、本実施例の測距装置100による反射光RLの受光(すなわち、第1の反射光RL1及び第2の反射光RL2の受光)について説明する。所定領域内の対象物OJTによって反射されたレーザ光である反射光RLは、ビームスプリッタ20で一部が反射し、他の一部がビームスプリッタ20を透過することにより、第1の反射光RL1及び第2の反射光RL2に分岐される。第1の反射光RL1は第1の受光レンズ22Aによって集光され、第2の反射光RL2は第2の受光レンズ22Bによって集光される。
具体的には、まず概算距離判定部31が、第1の受光部23Aからの受光信号RS1および第2の受光部23Bからの受光信号RS2の合算信号RS3に基づいて、対象物OJTまでの概算距離を判定する。例えば、反射光RLが無限遠とみなせるような遠距離にある対象物OJTからの反射光である場合、合算信号RS3は図2Aに示すような信号波形となる。ここで、横軸は出射光OLが出射されてからの経過時間、縦軸は合算信号RS3の信号レベルを示している。遠距離からの反射光RLに基づく合算信号RS3は、基準タイミングRTよりも遅く立ち上がる信号波形となる。このため、概算距離判定部31は、無限遠とみなせるような所定以上の遠距離に対象物OJTが位置していると判定する。
一方、反射光RLが無限遠とはみなせないような近距離にある対象物OJTからの反射光である場合、合算信号RS3は図2Bに示すような信号波形となり、非常に強い受光信号により受光素子が飽和し、受光信号の時間的なピーク位置が判定できない状態となる。しかし、基準タイミングRTよりも早く立ち上がる信号波形であることは検出できるので、概算距離判定部31は、反射光RLが無限遠とはみなせないような近距離に象物OJTが位置していると判定する。
使用受光素子判定部32は、判定された概算距離に基づいて、距離算出部33による対象物OJTまでの距離の算出に、第1の受光信号RS1と第2の受光信号RS2とを合算した合算信号R3を用いるか、第2の受光信号RS2のみを用いるかを判定する。例えば概算距離が遠距離である場合には、使用受光素子判定部32は、合算信号R3を用いて距離を算出すると判定する。概算距離が近距離である場合には、使用受光素子判定部32は、第2の受光信号RS2のみを用いて距離を算出すると判定する。
距離算出部33は、使用受光素子判定部32の判定結果に基づいて、第2の受光信号RS2又は合算信号R3に基づいて、対象物OJTまでの距離を算出する。すなわち、対象物OJTが遠距離にある場合、距離算出部33は、合算信号R3を用いて距離の算出を行う。対象物OJTが近距離にある場合、距離算出部33は、第2の受光信号RS2のみを用いて距離の算出を行う。
図3Aは、無限遠とみなせるような遠距離にある対象物OJA、中間的な距離にある対象物OJB及び近距離にある対象物OJCからの反射光の受光の様子を示す模式図であり、3つの対象物OJA、OJB、OJCからの反射光がラインセンサ23Aおよび23Bの対応する画素でそれぞれ受光される様子を表している。
図3Bは受光素子23Aの受光信号RS1の波形を表したものである。RS1はビーム径が大きく光量も大きい光による受光信号であるため、画素P1で受光された遠方の対象物OJAからの受光信号も十分に受光できている一方、画素P3で受光された近距離の対象物OJCからの受光信号は、光量レベルが大きすぎて飽和してしまう。
図3Cは受光素子23Bの受光信号RS2の波形を表したものである。RS2はビーム径が小さく光量も小さい光による受光信号であるため、画素P3で受光された近距離の対象物OJCからの受光信号も素子が飽和することなく受光できている一方、画素P1で受光されるべき遠距離の対象物OJAからの受光信号は、光量が不足して信号が得られない。
図3Dは受光信号RS1と受光信号RS2の合算信号RS3の波形を表したものである。これによると対象物OJCからの受光信号のみが基準タイミングRTよりも早く立ち上がっていることがわかるので、OJCは受光信号RS2のみを用いて距離の判定を行い、そのほかの対象物はRS1とRS2の合算信号を用いて距離の判定をすればよいことになる。
かかる構成によれば、対象物OJTまでの距離にかかわらず、正確に測距をすることが可能となる。
次に、本発明の実施例2の測距装置について説明する。本実施例の測距装置は、ビームスプリッタ20がハーフミラーではなく穴あきミラーから構成されている点で、実施例1の測距装置100と異なる。本実施例では穴あきミラーによりRS1とRS2のビーム径を変えているので、実施例1で受光レンズ22Bの入射面側に配置した開口絞りは必要ない。
図4は、本実施例のビームスプリッタ20の表面の例を示す図である。本実施例のビームスプリッタ20は、中央部付近に開口部APを有する。また、開口部APの周縁には所定の反射率を有する反射領域RPが形成されている。
図1に示すようにビームスプリッタ20に入射した反射光RLは、その一部が開口部APを通って反射光RL2となる。一方、反射光RLの他の一部は反射領域RPによって反射されて反射光RL1となる。これにより、反射光RLは、第1の反射光RL1と、第1の反射光RL1よりも外縁が小さい第2の反射光RL2とに分岐される。このとき開口部APの大きさは、第1の反射光RL1の光量が第2の反射光RL2よりも大きくなるように設定される。
本実施例の概算距離判定部31は、実施例1と同様、概算距離判定部31が、第1の受光部23Aからの受光信号RS1又は第2の受光部23Bからの受光信号RS2に基づいて、対象物OJTまでの概算距離を判定する。
使用受光素子判定部32は、判定された概算距離に基づいて、距離算出部33による対象物OJTまでの距離の算出に、第1の受光信号RS1と第2の受光信号RS2とを合算した合算信号R3を用いるか、第2の受光信号RS2のみを用いるかを判定する。例えば概算距離が遠距離である場合には、使用受光素子判定部32は、第1の受光信号RS1と第2の受光信号RS2とを合算した合算信号R3を用いて距離を算出すると判定する。概算距離が近距離である場合には、使用受光素子判定部32は、第2の受光信号RS2のみを用いて距離を算出すると判定する。
距離算出部33は、使用受光素子判定部32の判定結果に基づいて、第2の受光信号RS2又は合算信号R3に基づいて、対象物OJTまでの距離を算出する。すなわち、対象物OJTが遠距離にある場合、距離算出部33は、合算信号R3を用いて距離の算出を行う。対象物OJTが近距離にある場合、距離算出部33は、第2の受光信号RS2のみを用いて距離の算出を行う。
本実施例の測距装置200では、実施例1と同様、遠距離の対象物OJTについての距離の算出には、合算信号R3(すなわち、第1の受光信号RS1及び第2の受光信号RS2の双方)を用いるため、正確に距離を算出することが可能である。また、近距離の対象物OJTについての距離の算出には、外縁の小さい第2の反射光RL2の受光結果(第2の受光信号RS2)のみを用いるため、受光素子が飽和することなく、正確な距離を算出することが可能である。
したがって、本実施例の測距装置200によれば、対象物までの距離にかかわらず、正確に測距を行うことが可能となる。
なお、本発明の実施形態は、上記実施例で示したものに限られない。 上記実施例では、第1の受光部23A及び第2の受光部23Bが、それぞれ受光素子がライン状に複数配列されたラインセンサとして構成されている場合について説明したが、第1の受光部23A及び第2の受光部23Bの構成はこれに限られない。例えば、第1の受光部23A及び第2の受光部23Bは、それぞれ単一の受光素子から構成されていてもよい。また、第1の受光部23A及び第2の受光部23Bは、それぞれ2次元のアレイ状に配列された複数の受光素子から構成されていてもよい。
また、上記実施例では、光源12がライン状に配された複数のエミッタ(マルチエミッタ)から構成され、ライン形状のレーザ光を出射する場合について説明した。しかし、光源12の構成及び出射するレーザ光の形状はこれに限られない。例えば、光源12はシングルエミッタとして構成されていてもよい。
また、上記実施例2では、中央部に円形の開口部を有する穴あきミラーを用いて、反射光RLを第1の反射光RL1と第2の反射光RL2とに分岐させる構成について説明した。しかし、反射光RLを分岐させる分岐部は、このような穴あきミラーに限られず、第1の反射光RL1の外縁が第2の反射光RL2の外縁よりも大きくなるように分岐させることが可能に構成されていればよい。
また、上記実施例で説明した一連の処理は、例えばROMなどの記録媒体に格納されたプログラムに従ったコンピュータ処理により行うことができる。
100 測距装置
11 投光部
12 光源
13 発光駆動部
14 投光レンズ
20 ビームスプリッタ
21A 第1受光処理部
21B 第2受光処理部
22A 第1の受光レンズ
22B 第2の受光レンズ
23A 第1の受光部
23B 第2の受光部
24A 受光素子
24B 受光素子
30 測距部
31 概算距離判定部
32 使用受光素子判定部
33 距離算出部

Claims (8)

  1. 所定領域に向けて出射され前記所定領域内の対象物によって反射された光を、第1の反射光と第2の反射光とに分岐させる分岐部と、
    前記第1の反射光の光路上に設けられた第1の集光レンズと、
    前記第1の集光レンズを経た前記第1の反射光の光路上に設けられた第1の受光部と、
    前記第2の反射光の光路上に設けられた第2の集光レンズと、
    前記第2の集光レンズを経た前記第2の反射光の光路上に設けられた第2の受光部と、
    前記第1の受光部の受光結果及び前記第2の受光部の受光結果の少なくとも一方に基づいて前記対象物までの距離を算出する距離算出部と、
    を有し、
    前記分岐部は、前記対象物によって反射された前記光を前記第1の反射光の外縁が前記第2の反射光の外縁よりも大きくなるように分岐させることを特徴とする測距装置。
  2. 前記分岐部は、前記対象物によって反射された前記光の一部を反射して前記第1の反射光及び前記第2の反射光のうちの一方とし、前記光の他の一部を透過させて前記第1の反射光及び前記第2の反射光のうちの他方とすることを特徴とする請求項1に記載の測距装置。
  3. 前記第1の受光部は、前記第1の集光レンズを経た前記第1の反射光を受光して第1の受光信号を生成し、
    前記第2の受光部は、前記第2の集光レンズを経た前記第2の反射光を受光して第2の受光信号を生成し、
    前記距離算出部は、前記第1の受光信号と前記第2の受光信号とを合算した合算信号、又は前記第2の受光信号に基づいて、前記対象物までの距離を算出する、
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の測距装置。
  4. 前記距離算出部は、前記第1の受光信号又は前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの概算距離を判定し、前記概算距離が閾値以上である場合には前記合算信号に基づいて前記対象物までの距離を算出し、前記概算距離が前記閾値未満である場合には前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの距離を算出することを特徴とする請求項3に記載の測距装置。
  5. ライン状の前記光を出射する出射部を有し、
    前記第1の受光部及び前記第2の受光部の各々は、複数の受光素子がライン状に配列されたラインセンサであることを特徴とする請求項1乃至4のいずれか1に記載の測距装置。
  6. 光を一方の外縁が他方の外縁よりも大きくなるように分岐させる分岐部と、前記分岐部により分岐した光の一方の光路上に設けられた第1の集光レンズと、前記第1の集光レンズを経た光の光路上に設けられた第1の受光部と、前記分岐部により分岐した光の他方の光路上に設けられた第2の集光レンズと、前記第2の集光レンズを経た光の光路上に設けられた第2の受光部と、前記第1の受光部又は前記第2の受光部の受光結果に基づいて前記対象物までの距離を算出する距離算出部と、を有する測距装置が実行する測距方法であって、
    前記分岐部が、所定領域に向けて出射され前記所定領域内の対象物によって反射された光を、第1の反射光と前記第1の反射光よりも外縁が小さい第2の反射光とに分岐させるステップと、
    前記第1の集光レンズが、前記第1の反射光を集光するステップと、
    前記第2の集光レンズが、前記第2の反射光を集光するステップと、
    前記第1の受光部が、前記第1の集光レンズにより集光された前記第1の反射光を受光して第1の受光信号を生成するステップと、
    前記第2の受光部が、前記第2の集光レンズにより集光された前記第2の反射光を受光して第2の受光信号を生成するステップと、
    前記距離算出部が、前記第1の受光信号又は前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの概算距離を判定するステップと、
    前記距離算出部が、前記概算処理が閾値以上である場合には、前記第1の受光信号と前記第2の受光信号とを合算した合算信号に基づいて前記対象物までの距離を算出し、前記概算距離が前記閾値未満である場合には前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの距離を算出するステップと、
    を含むことを特徴とする測距方法。
  7. 所定領域に向けて出射され前記所定領域内の対象物によって反射された光を、第1の反射光と前記第1の反射光よりも外縁が小さい第2の反射光とに分岐させる分岐部と、前記第1の反射光を集光する第1の集光レンズと、前記第1の集光レンズを経た前記第1の反射光を受光して第1の受光信号を生成する第1の受光部と、前記第2の反射光を集光する第2の集光レンズと、前記第2の集光レンズを経た前記第2の反射光を受光して第2の受光信号を生成する第2の受光部と、を有する測距装置に搭載されたコンピュータに、
    前記第1の受光信号又は前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの概算距離を判定するステップと、
    前記概算処理が閾値以上である場合には、前記第1の受光信号と前記第2の受光信号とを合算した合算信号に基づいて前記対象物までの距離を算出し、前記概算距離が前記閾値未満である場合には前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの距離を算出するステップと、
    を実行させることを特徴とするプログラム。
  8. 所定領域に向けて出射され前記所定領域内の対象物によって反射された光を、第1の反射光と前記第1の反射光よりも外縁が小さい第2の反射光とに分岐させる分岐部と、前記第1の反射光を集光する第1の集光レンズと、前記第1の集光レンズを経た前記第1の反射光を受光して第1の受光信号を生成する第1の受光部と、前記第2の反射光を集光する第2の集光レンズと、前記第2の集光レンズを経た前記第2の反射光を受光して第2の受光信号を生成する第2の受光部と、を有する測距装置に搭載されたコンピュータに、
    前記第1の受光信号又は前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの概算距離を判定するステップと、
    前記概算処理が閾値以上である場合には、前記第1の受光信号と前記第2の受光信号とを合算した合算信号に基づいて前記対象物までの距離を算出し、前記概算距離が前記閾値未満である場合には前記第2の受光信号に基づいて前記対象物までの距離を算出するステップと、
    を実行させるプログラムを記録する記録媒体。
JP2018199929A 2018-10-24 2018-10-24 測距装置、測距方法、プログラム及び記録媒体 Pending JP2020067361A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018199929A JP2020067361A (ja) 2018-10-24 2018-10-24 測距装置、測距方法、プログラム及び記録媒体

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2018199929A JP2020067361A (ja) 2018-10-24 2018-10-24 測距装置、測距方法、プログラム及び記録媒体

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2020067361A true JP2020067361A (ja) 2020-04-30

Family

ID=70390131

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2018199929A Pending JP2020067361A (ja) 2018-10-24 2018-10-24 測距装置、測距方法、プログラム及び記録媒体

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2020067361A (ja)

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59125007A (ja) * 1982-12-29 1984-07-19 Matsushita Electric Works Ltd 距離測定装置
JPH05134040A (ja) * 1991-11-13 1993-05-28 Mitsubishi Electric Corp レーザ倣い式変位計
WO2001018563A1 (en) * 1999-09-08 2001-03-15 3Dv Systems, Ltd. 3d imaging system
US6229913B1 (en) * 1995-06-07 2001-05-08 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Apparatus and methods for determining the three-dimensional shape of an object using active illumination and relative blurring in two-images due to defocus
US20020060784A1 (en) * 2000-07-19 2002-05-23 Utah State University 3D multispectral lidar
JP2005106797A (ja) * 2003-09-09 2005-04-21 Univ Of Fukui 測定装置、測定システムおよび測定方法
JP2010127918A (ja) * 2008-12-01 2010-06-10 Mitsubishi Electric Corp 光波レーダ装置
US20130201052A1 (en) * 2012-02-06 2013-08-08 The Boeing Company Object Detection System for Mobile Platforms
JP2013222109A (ja) * 2012-04-17 2013-10-28 Mitsutoyo Corp オートフォーカス機構
CN105403877A (zh) * 2015-11-12 2016-03-16 中国科学院上海光学精密机械研究所 大动态范围光学分视场探测激光雷达
JP2016114355A (ja) * 2013-04-02 2016-06-23 株式会社ニコン・トリンブル 測距装置
JP2016191630A (ja) * 2015-03-31 2016-11-10 株式会社トプコン 光波距離計
JP2017003490A (ja) * 2015-06-12 2017-01-05 三菱電機株式会社 レーザレーダ装置
JP2018091630A (ja) * 2016-11-30 2018-06-14 パイオニア株式会社 測定装置

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59125007A (ja) * 1982-12-29 1984-07-19 Matsushita Electric Works Ltd 距離測定装置
JPH05134040A (ja) * 1991-11-13 1993-05-28 Mitsubishi Electric Corp レーザ倣い式変位計
US6229913B1 (en) * 1995-06-07 2001-05-08 The Trustees Of Columbia University In The City Of New York Apparatus and methods for determining the three-dimensional shape of an object using active illumination and relative blurring in two-images due to defocus
WO2001018563A1 (en) * 1999-09-08 2001-03-15 3Dv Systems, Ltd. 3d imaging system
US20020060784A1 (en) * 2000-07-19 2002-05-23 Utah State University 3D multispectral lidar
JP2005106797A (ja) * 2003-09-09 2005-04-21 Univ Of Fukui 測定装置、測定システムおよび測定方法
JP2010127918A (ja) * 2008-12-01 2010-06-10 Mitsubishi Electric Corp 光波レーダ装置
US20130201052A1 (en) * 2012-02-06 2013-08-08 The Boeing Company Object Detection System for Mobile Platforms
JP2013222109A (ja) * 2012-04-17 2013-10-28 Mitsutoyo Corp オートフォーカス機構
JP2016114355A (ja) * 2013-04-02 2016-06-23 株式会社ニコン・トリンブル 測距装置
JP2016191630A (ja) * 2015-03-31 2016-11-10 株式会社トプコン 光波距離計
JP2017003490A (ja) * 2015-06-12 2017-01-05 三菱電機株式会社 レーザレーダ装置
CN105403877A (zh) * 2015-11-12 2016-03-16 中国科学院上海光学精密机械研究所 大动态范围光学分视场探测激光雷达
JP2018091630A (ja) * 2016-11-30 2018-06-14 パイオニア株式会社 測定装置

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11573327B2 (en) Systems and methods for light detection and ranging
KR101891907B1 (ko) 거리 측정 장치 및 시차 연산 시스템
US9891432B2 (en) Object detection device and sensing apparatus
JP6477083B2 (ja) 光学的測距装置
US11204420B2 (en) Distance measurement apparatus
US10215857B2 (en) Depth sensor module and depth sensing method
US7834984B2 (en) Device for optical distance measurement
US20030128351A1 (en) Device for optical distance measurement of distance over a large measuring range
EP2728377A2 (en) Modulated laser range finder and method
KR102280072B1 (ko) Lidar 시스템들에 대한 간섭 검출 및 완화
US20170199272A1 (en) Optical reflection sensor and electronic device
US10955555B2 (en) Depth sensor combining line triangulation and time of flight
CN107209116A (zh) 包括考虑样本内的光学路径长度的变化的光学检查系统和方法
JP6493018B2 (ja) レーザ測距装置
JP2015222234A (ja) レーザレーダ装置
KR20090121609A (ko) 멀티채널 레이저 거리측정 장치
EP3271749B1 (en) Multiple-beam triangulation-based range finder and method
KR20120069487A (ko) 능동형 광 레이더 장치
JP2020067361A (ja) 測距装置、測距方法、プログラム及び記録媒体
JP2018040748A (ja) レーザー距離計測装置
JP5154028B2 (ja) 光波距離計
KR101604867B1 (ko) 분광기술을 적용한 검지장치
CN112066907A (zh) 深度成像装置
JP4894365B2 (ja) 周囲障害物検出装置
WO2021146954A1 (en) Systems and methods for light detection and ranging

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20210917

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20220817

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20220823

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20221019

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20230207

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20230801