JP2020048193A - 犠牲層エッチングのためのリリースポートの位置 - Google Patents

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Abstract

【課題】薄膜バルク弾性波共振器及びこれを製造する方法、実施形態を提供する。【解決手段】薄膜バルク弾性波共振器100は、キャビティ135の上に配置された圧電膜115を含む。キャビティは、第1頂点、第2頂点及び第3頂点を含む部分楕円の形状とされる。薄膜バルク弾性波共振器はさらに、キャビティの中から犠牲材料すべてを除去する為に、エッチング時間を最小限にする位置にある3つのリリースポート(アパチャ)145を含み、犠牲材料の層をエッチングにより除去する。【選択図】図1

Description

本開示の複数の実施形態は、弾性波デバイスとこれを製造する方法に関する。
弾性波デバイス、例えばバルク弾性波(BAW)デバイスは、無線周波数電子システムにおけるフィルタのコンポーネントとして利用することができる。例えば、携帯電話機の無線周波数フロントエンドにおけるフィルタは、弾性波フィルタを含み得る。2つの弾性波フィルタをデュプレクサとして配列することができる。
ここに開示される一側面によれば、薄膜バルク弾性波共振器が与えられる。薄膜バルク弾性波共振器は、第1頂点、第2頂点及び第3頂点を含む部分楕円の形状とされたキャビティの上に配置された圧電膜と、当該キャビティの中から犠牲材料すべてを除去するエッチ時間を最小限にする位置にある3つのリリースポートとを含む。
いくつかの実施形態において、当該リリースポートのうち第1リリースポートは、キャビティのエッジにおいて、第1頂点と第2頂点との間の弦に垂直に当該第1頂点と第2頂点との間の弦の中心から当該第1頂点と第2頂点との間のキャビティのエッジまで延びる線の交差によって画定される位置に配置される。当該リリースポートのうち第2リリースポートは、キャビティのエッジにおいて、第1リリースポートの位置に配置された中心と第1頂点及び第2頂点と交差するエッジとを有する第1円と同じサイズを有するとともに第3頂点と交差するエッジを有する第2円の中心によって画定された第1頂点と第3頂点との間の位置に配置されてよい。当該リリースポートの第3リリースポートは、キャビティのエッジにおいて、第2頂点と交差するエッジを有するとともに第1円と同じサイズを有する第3円の中心によって画定された第2頂点と第3頂点との間の位置に配置されてよい。第1頂点と第2頂点との間の弦は、第1頂点と第3頂点との間の弦よりも短い。第1頂点と第2頂点との間の弦は、第2頂点と第3頂点との間の弦よりも短い。
いくつかの実施形態において、3つのリリースポートはそれぞれが、キャビティの内部容積と流体連通する。
いくつかの実施形態において、共振器はさらに、キャビティに面する圧電膜の下側に配置された底部電極と、当該下側に対向する圧電膜の上側に配置された頂部電極とを含み、3つのリリースポートの少なくとも一つは、少なくとも部分的に、当該圧電膜、頂部電極又は底部電極の一つ以上を貫通するアパチャによって画定される。
いくつかの実施形態において、3つのリリースポートはそれぞれが、実質的に同一の断面積を有する。
いくつかの実施形態において、キャビティの境界は、第1頂点から第3頂点まで延びる弧によって画定される。第2頂点は当該弧の上に配置されてよい。
いくつかの実施形態において、無線周波数フィルタが、ここに開示される共振器を含む。無線周波数フィルタは、電子機器モジュールに含まれてよい。電子機器モジュールは、電子デバイスに含まれてよい。
他側面によれば、薄膜バルク弾性波共振器を形成する方法が与えられる。方法は、第1頂点、第2頂点及び第3頂点を含む部分楕円の形状とされた犠牲材料層の上に圧電膜を配置して当該圧電膜の下に当該犠牲材料が充填されたキャビティを形成することと、当該圧電膜を貫通して当該犠牲材料層の中に入るリリースポートを形成することと、当該犠牲材料のためのエッチャントを、当該リリースポートを通して導入することにより当該犠牲材料層を除去することとを含み、当該リリースポートは、当該犠牲材料のすべてを除去するエッチ時間を最小限にする位置に配置される。
いくつかの実施形態において、リリースポートを形成することは、第1頂点と第2頂点との間の弦に垂直に当該第1頂点と第2頂点との間の弦の中心から当該第1頂点と第2頂点との間の当該キャビティのエッジまで延びる線の交差によって画定されるキャビティのエッジに配置された位置に第1リリースポートを形成することを含む。リリースポートを形成することはさらに、第1リリースポートの位置に配置された中心と第1頂点及び第2頂点と交差するエッジとを有する第1円と同じサイズを有するとともに第3頂点と交差するエッジを有する第2円の中心によって画定された第1頂点と第3頂点との間の、キャビティのエッジに配置された位置に第2リリースポートを形成することを含んでよい。リリースポートを形成することはさらに、第2頂点と交差するエッジを有するとともに第1円と同じサイズを有する第3円の中心によって画定された第2頂点と第3頂点との間の、キャビティのエッジに配置された位置に第3リリースポートを形成することを含んでよい。第1リリースポート、第2リリースポート及び第3リリースポートは、エッチングによって形成することができる。
いくつかの実施形態において、方法はさらに、第1リリースポート、第2リリースポート及び第3リリースポートの一つ以上を通してキャビティからエッチ反応生成物を除去することを含む。
いくつかの実施形態において、薄膜バルク弾性波共振器は、キャビティに面する圧電膜の下側に配置された底部電極と、当該下側に対向する当該圧電膜の上側に配置された頂部電極とを含み、方法はさらに、当該圧電膜、頂部電極又は底部電極の一つ以上を貫通する一つ以上のアパチャを形成することにより、第1リリースポート、第2リリースポート及び第3リリースポートの少なくとも一つを形成することを含む。
いくつかの実施形態において、リリースポートを通して犠牲材料層のためのエッチャントを導入することは、当該リリースポートを通してフッ化物含有ガスを導入することを含む。リリースポートを通して犠牲材料のためのエッチャントを導入することは、当該リリースポートを通して二フッ化キセノンガスを導入することを含んでよい。
いくつかの実施形態において、犠牲材料層の上に圧電膜を配置することは、ポリシリコンの層の上に当該圧電膜を配置することを含む。
いくつかの実施形態において、リリースポートを通して犠牲材料のためのエッチャントを導入することは、当該リリースポートを通して液体エッチャントを導入することを含む。
いくつかの実施形態において、方法はさらに、犠牲材料層を除去した後にリリースポートを封止することを含む。
本開示の複数の実施形態が、添付図面を参照する非限定的な例を介して以下に記載される。
薄膜バルク弾性波共振器の一例の、簡略化された断面図である。 図1の薄膜バルク弾性波共振器の当該一例の形成中に行われる一ステップの簡略化された断面図である。 図1の薄膜バルク弾性波共振器の当該一例の形成中に行われる他ステップの簡略化された断面図である。 図1の薄膜バルク弾性波共振器の当該一例の形成中に行われる他ステップを模式的に示す。 薄膜バルク弾性波共振器の一例におけるリリースポートの位置を示す。 薄膜バルク弾性波共振器の一例におけるリリースポートのための箇所を特定する方法の第1ステップを示す。 薄膜バルク弾性波共振器の一例におけるリリースポートのための箇所を特定する方法の第2ステップを示す。 薄膜バルク弾性波共振器の一例におけるリリースポートのための箇所を特定する方法の第3ステップを示す。 薄膜バルク弾性波共振器における、犠牲材料層のオーバーエッチングが所望され得る箇所を示す。 第1の代替方法を利用して選択された薄膜バルク弾性波共振器の一例におけるリリースポートの箇所を示す比較例である。 第2の代替方法を利用して選択された薄膜バルク弾性波共振器の一例におけるリリースポートの箇所を示す比較例である。 一例のデバイスにおける薄膜圧電共振器の相対的な箇所を示す。 本開示の複数の側面に係る一つ以上の薄膜バルク弾性波共振器素子を含み得るフィルタモジュールの一つの例のブロック図である。 本開示の複数の側面に係る一つ以上のフィルタモジュールを含み得るフロントエンドモジュールの一つの例のブロック図である。 図10のフロントエンドモジュールを含む無線デバイスの一つの例のブロック図である。
所定の実施形態の以下の説明は、特定の実施形態の様々な記載を表す。しかしながら、ここに記載のイノベーションは、例えば特許請求の範囲によって画定され及びカバーされる多数の異なる態様で具体化することができる。本記載において、同じ参照番号が同一の又は機能的に類似の要素を示し得る図面が参照される。理解されることだが、図面に示される要素は必ずしも縮尺どおりではない。さらに理解されることだが、所定の実施形態は、図面に示されるよりも多くの要素を含んでよく、及び/又は図面に示される要素の部分集合を含んでよい。さらに、いくつかの実施形態は、2つ以上の図面からの特徴のいずれかの適切な組み合わせを組み入れてよい。
薄膜バルク弾性波共振器(FBAR)は、一般に頂部電極と底部電極との間に挟まれた圧電材料の膜を含むバルク弾性波共振器の一形態であり、当該圧電材料の膜はキャビティの上に懸架されて振動が許容される。頂部電極及び底部電極間に適用される信号が弾性波を発生させて圧電材料の膜を通るように進行させる。FBARは、適用された信号に対し、圧電材料の膜の厚さによって決定される共振ピークを有する周波数応答を示す。
図1は、一般に100で示されるFBARの一例の簡略化された断面図である。FBAR100は、基板110上に配置される。基板110は例えば、例えば二酸化ケイ素の誘電表面層110Aを含み得るシリコン基板である。FBAR100は、圧電材料115、例えば窒化アルミニウム(AlN)の層又は膜を含む。頂部電極120は、圧電材料115の層又は膜の一部分の上に配置され、底部電極125は、圧電材料115の層又は膜の一部分の下に、頂部電極120が配置されるその表面に対向するように配置される。頂部電極120は、例えばルテニウム(Ru)から形成されてよい。底部電極125は、単数の材料層から形成してよく、又は、圧電材料115の層又は膜の一部分の下に接触するように配置されたRuの層と、圧電材料115の層又は膜の当該一部分の下に接触する当該Ruの層の一側に対向して当該Ruの層の下側に配置されたチタン(Ti)の層とを含む二重層から形成してよい。頂部電極120と、オプションとしての底部電極125とが、誘電材料130、例えば二酸化ケイ素の層によって覆われてよい。キャビティ135が、底部電極125及び基板110の表面層110Aの下に画定される。例えば銅から形成される底部電気コンタクト140は、底部電極125との電気接続をなし、例えば銅から形成される頂部電気コンタクト145は、頂部電極120との電気接続をなす。
なお、上記の相対的な位置「頂部」及び「底部」への参照は、これらの位置が互いから区別されることだけが意図される。実際のところ、ここに開示されるFBARは、図1に示される配向から回転して又は上下反対にして配向させることができる。すなわち、実際のところ、頂部電極120は、FBARの配向に応じて底部電極125の横に又は下に配向させることができる。
図1に示されるようなFBARを形成する方法における一ステップが図2に示される。FBAR100を形成する方法において、例えばポリシリコンのような犠牲材料142の層が、基板110上に又は当該基板の誘電表面層110A上に堆積され、後にキャビティ135を画定する形状を有するようにパターニングされる。図2に示されるように、底部電極125は、犠牲材料142の層上に堆積され、オプションとして、犠牲材料142の層の上面に形成された二酸化ケイ素10Aの層の頂面上に堆積される。図3に示されるように、圧電材料115の膜、頂部電極120、誘電材料130の層、並びに底部及び頂部電気コンタクト140、145を含んでFBAR100を作り上げる付加層もまた堆積される。
図3に示される構造において、圧電材料115の膜、及び下側電極125の下には、犠牲材料142の層が依然として存在する。圧電材料115の膜が自由に振動するようなキャビティ135を形成するべく、犠牲材料の層が除去される。
犠牲材料142の層を除去する方法は、図4に模式的に示される。犠牲材料の層を除去するべく、一つ以上のアパチャ145がエッチングされ、犠牲材料142の層の上においてFBAR100の一部分又は複数部分を通過する。一つ以上のアパチャ145はエッチングされ、圧電材料115の膜、頂部電極120、及び底部電極125又はこれらの部分集合を、これらの構造物の形状、及び一つ以上のアパチャ145の箇所に応じて通過し得る。一つ以上のアパチャ145は典型的に、FBAR100の周縁にある箇所でエッチングされる。一つ以上のアパチャ145は、同一の又は実質的に同様の断面積又は直径を有し得る。一つ以上のアパチャ145は、約10μmから約50μm、例えば約24μm、の直径を有し得る。一つ以上のアパチャ145は、例えば圧電材料115の膜のようなFBARデバイスの層を通る機械波の伝播への任意の影響を低減するべくFBARデバイスキャビティのエッジに又はその近傍に配置されるのが望ましい。図5は、FBARの一実施形態の平面図を示す。このFBARは、部分楕円形状と、FBARの周縁まわりの異なる箇所にエッチングされた3つのアパチャ145とを有する。
ひとたび一つ以上のアパチャ145が形成されると、犠牲材料142の層がエッチングにより除去される。いくつかの実施形態において、エッチャントガス、例えば二フッ化キセノン(XeF)のようなフッ化物含有ガス、が犠牲材料142の層をエッチングにより除去するべく利用される。ガスは、一つ以上のアパチャ145を通して導入され、犠牲材料142の層の材料と反応し、ガス状反応生成物が一つ以上のアパチャ145を通って戻るように外に出る。よって、一つ以上のアパチャ145は、「リリースポート」と称してよい。エッチング反応は、以下の式に従って生じる。
Figure 2020048193
他実施形態において、ガス状エッチャントに加えて又はその代替として、液体エッチャント、例えばフッ化水素酸含有溶液を、犠牲材料142の層をエッチングして除去するべく使用することができる。
出願人が認識していることだが、犠牲材料142の層を除去するべく使用されるエッチャントの量、及び処理時間は、リリースポート145の思慮深い配置によって最小限にすることができる。犠牲材料142の層の気体系又は液体系エッチングは典型的に等方性である。よって、エッチングされる犠牲材料142の層のエリアは、時間と線形関係で径方向にサイズが成長するリリースポート145を中心とする円によって近似することができる。すなわち、リリースポート145の最適な箇所は、リリースポート145それぞれを中心としてそれぞれが同じ半径を有する円のサイズが最小限にされる一方で当該円が犠牲材料142の層の面積全体をカバーするような箇所とすることができる。部分楕円の形状とされたFBARにおける3つのリリースポート145の最適箇所を決定する方法を、図6A〜6Cを参照して記載する。決定されていることだが、3つのリリースポート145は典型的に、部分楕円の形状とされたFBARから犠牲材料145の層を除去するための最適数のリリースポート145である。いくつかの実施形態において、大きな共振器においては、一つのリリースポートを通るエッチング量を補償するべく4つ又は5つのリリースポートを形成してよい。いくつかの実施形態において、小さな共振器は表面積が約5,000μm未満、中間サイズの共振器は表面積が約5,000μmから約15,000μm、大きな共振器は表面積が15,000μm以上となり得る。しかしながら、リリースポートの数が大きすぎると、FBARデバイスの信頼性が劣化する。デバイスのリリースポートを有する部分が、当該デバイスのリリースポートを有する部分に圧電材料及び金属を欠くことにより、リリースポートが存在しない部分よりも構造的に弱くなるからである。
図6Aに示されるように、FBARにおける犠牲材料142の層の境界を表す部分楕円200の頂点が特定される。これらの頂点は、図6Aにおいて「A」、「B」及び「C」に示される。線205が、頂点Aを頂点B又はCの一方と結ぶ短い方の弦(図6Aに示される例ではAB又はACであり、弦ACの方が短い)に垂直になるように当該短い方の弦の中点からに引かれる。線205と、短い方の弦ACを画定する頂点間の部分楕円200の弧との交差が、第1リリースポート145の箇所210を画定する。図示される円215は、箇所210を中心として頂点Aから頂点Cまでの面積を埋める最小の円である。
第2リリースポート145の最適な箇所220を決定するべく、第1円215と同じサイズの第2円225が、当該円225の周縁が頂点Bに配置されて第2円225の中心が頂点B及びC間の線分上に配置されるように位置決めされる。(図6Bを参照)第2リリースポート145の最適な箇所220は、第2円225の中心の箇所である。
第3リリースポート145の最適な箇所230を決定するべく、第1円215と同じサイズの第3円235が、当該円235の周縁が頂点Aに配置されて第3円225の中心が頂点A及びB間の部分楕円200の弧上に配置されるように位置決めされる。(図6Cを参照)第3リリースポート145の最適な箇所230は、第3円235の中心の箇所230である。
これらのリリースポートは、最適な箇所210、220、230においてエッチングされる。いくつかの実施形態において、犠牲材料層142のオーバーエッチングが望まれることがある。円215、225、235の周縁が部分楕円200の境界に密接に近づく箇所、例えば図6Dにおいて240及び245に示されるエリアにおいて犠牲材料142の層が除去されることを保証するためである。
図7Aは、FBARにおける犠牲材料142の層の境界を表す部分楕円200の頂点A、B、Cにリリースポートが配置される比較例を示す。図7Bは、部分楕円200の頂点対のそれぞれの間の中点にリリースポートが配置される比較例を示す。図6A〜6Cにおける円215、225、235と同じサイズの円が、図7A及び7Bそれぞれにおいて各代替リリースポート箇所を中心として描かれる。図7A及び7Bにおける円の組み合わせでは、部分楕円200内の全面積がカバーされない。これは、図6Cに示される位置ではなく図7A又は7Bに示される位置にリリースポートが配置されていたら、犠牲材料142の層を除去するのに大量の時間及び大量のエッチャント材料が使用されることを示す。
なお、図8に示されるような実際のデバイスにおける複数のFBARの相対位置ゆえに、リリースポート145を最適な箇所に位置決めすることが常に可能なわけではなく、いくつかの例では、3つよりもむしろ2つのポートが利用され得る。
ここに説明される弾性波デバイスは、様々なパッケージ状モジュールに実装することができる。ここに説明されるパッケージ状弾性波デバイスの任意の適切な原理及び利点を実装することができるパッケージ状モジュールのいくつかの例を以下に説明する。図9、10及び11は、所定の実施形態に係る例示のパッケージ状モジュール及びデバイスの模式的なブロック図である。
上述したように、ここに開示されるFBAR素子の複数の実施形態は、例えば、フィルタとして構成し、又はフィルタにおいて使用することができる。同様に、一つ以上のFBAR素子を使用するFBARフィルタは、例えば無線通信デバイスのような電子デバイスにおいて究極的に使用することができるモジュールに組み入れて当該モジュールとしてパッケージ状にすることができる。図9は、FBARフィルタ310を含むモジュール300の一例を示すブロック図である。FBARフィルタ310は、一つ以上の接続パッド322を含む一つ以上のダイ320上に実装してよい。例えば、FBARフィルタ310は、FBARフィルタ用の入力接点に対応する接続パッド322と、FBARフィルタ用の出力接点に対応する他の接続パッド322とを含み得る。パッケージ状モジュール300は、ダイ320を含む複数のコンポーネントを受容するように構成されたパッケージ基板330を含む。複数の接続パッド332をパッケージ基板330上に配置することができ、FBARフィルタダイ320の様々な接続パッド322を、電気コネクタ334を介してパッケージ基板330上の接続パッド332に接続することができる。電気コネクタ334は、様々な信号のFBARフィルタ310への又はFBARフィルタ310からの通過を許容するべく、例えば、はんだバンプ又はワイヤボンドとしてよい。モジュール300はさらに、オプションとして、ここでの開示に鑑みて半導体製作の当業者に知られるような、例えば一つ以上の付加フィルタ、増幅器、前置フィルタ、変調器、復調器、ダウンコンバータ等のような他の回路ダイ340を含んでよい。いくつかの実施形態において、モジュール300はまた、例えばモジュール300の保護を与えて容易な扱いを促すための、一つ以上のパッケージ構造物を含み得る。このようなパッケージ構造物は、パッケージ基板330の上に形成されて様々な回路及び部品を実質的に封入する寸法とされたオーバーモールドを含み得る。
FBARフィルタ310の様々な例及び実施形態は、広範な電子デバイスにおいて使用することができる。例えば、FBARフィルタ310は、アンテナデュプレクサにおいて使用することができる。アンテナデュプレクサ自体は、RFフロントエンドモジュール及び通信デバイスのような様々な電子デバイスに組み入れることができる。
図10を参照すると、例えば無線通信デバイス(例えば携帯電話機)のような電子デバイスにおいて使用できるフロントエンドモジュール400の一例のブロック図が例示される。フロントエンドモジュール400は、共通ノード402、入力ノード404及び出力ノード406を有するアンテナデュプレクサ410を含む。アンテナ510は共通ノード402に接続される。
アンテナデュプレクサ410は、入力ノード404と共通ノード402との間に接続された一つ以上の送信フィルタ412と、共通ノード402と出力ノード406との間に接続された一つ以上の受信フィルタ414とを含み得る。送信フィルタの通過帯域は、受信フィルタの通過帯域と異なる。FBARフィルタ310の複数例を、送信フィルタ412及び/又は受信フィルタ414を形成するべく使用することができる。インダクタ又は他の整合コンポーネント420を、共通ノード402に接続してよい。
フロントエンドモジュール400はさらに、デュプレクサ410の入力ノード404に接続された送信器回路432と、デュプレクサ410の出力ノード406に接続された受信器回路434とを含む。送信器回路432は、アンテナ510を介した送信のための信号を生成することができ、受信器回路434は、アンテナ510を介して信号を受信し、受信した信号を処理することができる。いくつかの実施形態において、受信器回路及び送信器回路は、図10に示されるように別個のコンポーネントとして実装されるが、他実施形態においてこれらのコンポーネントは、共通送受信器回路又はモジュールに一体化され得る。当業者にわかることだが、フロントエンドモジュール400は、図10に例示されない他のコンポーネント(スイッチ、電磁結合器、増幅器、プロセッサ等を含むがこれらに限られない)を含んでよい。
図11は、図10に示されるアンテナデュプレクサ410を含む無線デバイス500の一例のブロック図である。無線デバイス500は、セルラー電話機、スマートフォン、タブレット、モデム、通信ネットワーク、又は音声若しくはデータ通信用に構成された任意の他の携帯若しくは非携帯デバイスとしてよい。無線デバイス500は、アンテナ510から信号を受信及び送信することができる。無線デバイスは、図10を参照して上述されたものと同様のフロントエンドモジュール400の一実施形態を含む。フロントエンドモジュール400は、上述したデュプレクサ410を含む。図11に示される例において、フロントエンドモジュール400はさらに、アンテナスイッチ440を含む。アンテナスイッチ440は、例えば送信モード及び受信モードのような、異なる周波数帯域又はモード間の切り替えをするべく構成することができる。図11に示される例において、アンテナスイッチ440は、デュプレクサ410とアンテナ510との間に位置決めされるが、他例においてデュプレクサ410は、アンテナスイッチ440とアンテナ510との間に位置決めされてもよい。他例において、アンテナスイッチ440とデュプレクサ410とは一体化して一つのコンポーネントにすることができる。
フロントエンドモジュール400は、送信を目的として信号生成するべく、又は受信した信号を処理するべく構成された送受信器430を含む。送受信器430は、図10の例に示されるように、デュプレクサ410の入力ノード404に接続され得る送信器回路432と、デュプレクサ410の出力ノード406に接続され得る受信器回路434とを含み得る。
送信器回路432による送信のために生成された信号は、送受信器430からの生成信号を増幅する電力増幅器(PA)モジュール450によって受信される。電力増幅器モジュール450は、一つ以上の電力増幅器を含み得る。電力増幅器モジュール450は、多様なRF又は他の周波数帯域の送信信号を増幅するべく使用することができる。例えば、電力増幅器モジュール450は、無線ローカルエリアネットワーク(WLAN)信号又は任意の他の適切なパルス信号の送信に役立つように電力増幅器の出力をパルスにするべく使用されるイネーブル信号を受信することができる。電力増幅器モジュール450は、例えばGSM(Global System for Mobile)(登録商標)信号、CDMA(code division multiple access)信号、W−CDMA信号、ロングタームエボリューション(LTE)信号、又はEDGE信号を含む様々なタイプの信号のいずれかを増幅するべく構成することができる。所定の実施形態において、電力増幅器モジュール450及びスイッチ等を含む関連コンポーネントは、例えば高電子移動度トランジスタ(pHEMT)又は絶縁ゲートバイポーラトランジスタ(BiFET)を使用するヒ化ガリウム(GaAs)基板上に作製し、又は相補型金属酸化物半導体(CMOS)電界効果トランジスタを使用するシリコン基板上に作製することができる。
依然として図11を参照すると、フロントエンドモジュール400はさらに、低雑音増幅器モジュール460を含み得る。これは、アンテナ510からの受信信号を増幅してその増幅信号を、送受信器430の受信器回路434に与える。
図11の無線デバイス500はさらに、送受信器430に接続されて無線デバイス500の動作のために電力を管理する電力管理サブシステム520を含む。電力管理システム520はまた、無線デバイス500のベース帯域サブシステム530及び様々な他のコンポーネントの動作を制御することもできる。電力管理システム520は、無線デバイス500の様々なコンポーネントのために電力を供給する電池(図示せず)を含み、又はこれに接続され得る。電力管理システム520はさらに、例えば信号の送信を制御することができる一つ以上のプロセッサ又は制御器を含み得る。一実施形態において、ベース帯域サブシステム530は、ユーザに与えられ又はユーザから受け取る音声及び/又はデータの様々な入力及び出力を容易にするユーザインタフェイス540に接続される。ベース帯域サブシステム530はまた、無線デバイスの動作を容易にし及び/又はユーザのための情報記憶を与えるデータ及び/又は命令を記憶するように構成されたメモリ550に接続することもできる。上述された実施形態のいずれもが、セルラーハンドセットのような携帯デバイスに関連して実装することができる。実施形態の原理及び利点は、ここに説明される実施形態のいずれかから有益となり得る任意のアップリンク無線通信デバイスのような、任意のシステム又は装置によって使用することができる。ここでの教示は、様々なシステムに適用可能である。本開示がいくつかの実施形態例を含むにもかかわらず、ここに説明される教示は、様々な構造に適用することができる。ここに説明される原理及び利点はいずれも、約450MHz〜6GHzの範囲のような、約30kHz〜300GHzの範囲にある信号を処理するRF回路構成に関連して実装することができる。
本開示の複数の側面は、様々な電子デバイスに実装することができる。電子デバイスの例は、消費者用電子製品、パッケージ状無線周波数モジュールのような消費者用電子製品の部品、アップリンク無線通信デバイス、無線通信インフラストラクチャ、電子試験機器等を含むがこれらに限られない。電子デバイスの例は、スマートフォンのような携帯電話機、スマートウォッチ又はイヤーピースのような装着可能コンピューティングデバイス、電話機、テレビ、コンピュータモニタ、コンピュータ、モデム、ハンドヘルドコンピュータ、ラップトップコンピュータ、タブレットコンピュータ、電子レンジ、冷蔵庫、自動車用電子システムのような車載電子システム、ステレオシステム、デジタル音楽プレーヤー、ラジオ、デジタルカメラのようなカメラ、携帯メモリーチップ、洗濯機、乾燥機、洗濯/乾燥機、コピー機、ファクシミリ機、スキャナ、多機能周辺デバイス、腕時計、置き時計等を含むがこれらに限られない。さらに、電子デバイスは未完成の製品も含んでよい。
本明細書及び特許請求の範囲全体にわたり、文脈上そうでないことが明らかに必要とされない限り、「含む」、「備える」、「包含する」等の単語は一般に、排他的又は網羅的な意味とは反対の包括的意味に、すなわち「〜を含むがこれらに限られない」との意味に解釈すべきである。ここで一般に使用される単語「結合」は、直接接続されるか又は一つ以上の中間要素を介して接続されるかのいずれかとなり得る2つ以上の要素を言及する。同様に、ここで一般に使用される単語「接続」は、直接接続されるか又は一つ以上の中間要素を介して接続されるかのいずれかとなり得る2つ以上の要素を言及する。加えて、単語「ここ」、「上」、「下」及び同様の趣旨の単語は、本アプリケーションにおいて使用される場合、本アプリケーション全体を言及し、本アプリケーションの任意の固有部分を言及するわけではない。文脈が許容する場合、単数又は複数を使用する上述の詳細な説明における用語はそれぞれ、複数又は単数をも含み得る。2つ以上の項目のリストを言及する単語「又は」及び「若しくは」は、当該単語の以下の解釈のすべてをカバーする。すなわち、当該リストの任意の項目、当該リストのすべての項目、及び当該リストの項目の任意の組み合わせである。
さらに、とりわけ「できる」、「し得る」、「してよい」、「かもしれない」、「例えば」、「のような」等のようなここに記載の条件付き言語は一般に、特にそうでないことが述べられ、又は使用の文脈上そうでないことが理解される場合を除き、所定の実施形態が所定の特徴、要素及び/又は状態を含む一方で他の実施形態がこれらを含まないことを伝えるように意図される。すなわち、かかる条件的言語は、特徴、要素及び/若しくは状態が一つ以上の実施形態にとって必要な任意の態様にあること、又は一つ以上の実施形態が必ず、筆者のインプット若しくは促しありで若しくはなしで、これらの特徴、要素及び/若しくは状態が任意の固有実施形態に含まれ若しくは当該実施形態で行われるか否かを決定するロジックを含むこと、を示唆することを一般には意図しない。
所定の実施形態が記載されてきたが、これらの実施形態は、例示により提示されたにすぎないので、本開示の範囲を制限することを意図しない。実際のところ、ここに記載される新規な方法、装置及びシステムは、様々な他の形態で具体化することができる。さらに、ここに記載される方法及びシステムの形態における様々な省略、置換及び変更が、本開示の要旨から逸脱することなくなし得る。例えば、ブロックが所与の配列で提示されるが、代替実施形態は、異なる部品及び/又は回路トポロジで同様の機能を果たすことができ、いくつかのブロックは削除、移動、追加、細分化、結合、及び/又は修正することができる。これらのブロックはそれぞれが、様々な異なる態様で実装することができる。上述した様々な実施形態の要素及び工程の任意の適切な組み合わせを、さらなる実施形態を与えるように組み合わせることができる。添付の特許請求の範囲及びその均等物が、本開示の範囲及び要旨に収まるかかる形態又は修正をカバーすることが意図される。

Claims (26)

  1. 薄膜バルク弾性波共振器であって、
    第1頂点、第2頂点及び第3頂点を含む部分楕円の形状とされたキャビティの上に配置された圧電膜と、
    前記キャビティの中から犠牲材料すべてを除去するエッチ時間を最小限にする位置にある3つのリリースポートと
    を含む、共振器。
  2. 前記リリースポートのうち第1リリースポートは、前記キャビティのエッジにおいて、前記第1頂点と第2頂点との間の弦に垂直に前記第1頂点と第2頂点との間の弦の中心から前記第1頂点と第2頂点との間の前記キャビティのエッジまで延びる線の交差によって画定される位置に配置される、請求項1の共振器。
  3. 前記リリースポートのうち第2リリースポートは、前記キャビティのエッジにおいて、前記第1リリースポートの位置に配置された中心と前記第1頂点及び第2頂点と交差するエッジとを有する第1円と同じサイズを有するとともに第3頂点と交差するエッジを有する第2円の中心によって画定された前記第1頂点と第3頂点との間の位置に配置される、請求項2の共振器。
  4. 前記リリースポートの第3リリースポートは、前記キャビティのエッジにおいて、前記第2頂点と交差するエッジを有するとともに前記第1円と同じサイズを有する第3円の中心によって画定された前記第2頂点と第3頂点との間の位置に配置される、請求項3の共振器。
  5. 前記第1頂点と第2頂点との間の弦は、前記第1頂点と第3頂点との間の弦よりも短い、請求項4の共振器。
  6. 前記第1頂点と第2頂点との間の弦は、前記第2頂点と第3頂点との間の弦よりも短い、請求項5の共振器。
  7. 前記3つのリリースポートはそれぞれが、前記キャビティの内部容積と流体連通する、請求項1の共振器。
  8. 前記キャビティに面する前記圧電膜の下側に配置された底部電極と、前記下側に対向する前記圧電膜の上側に配置された頂部電極とをさらに含み、前記3つのリリースポートの少なくとも一つは、少なくとも部分的に、前記圧電膜、頂部電極又は底部電極の一つ以上を貫通するアパチャによって画定される、請求項1の共振器。
  9. 前記3つのリリースポートはそれぞれが、実質的に同一の断面積を有する、請求項1の共振器。
  10. 前記キャビティの境界は、前記第1頂点から第3頂点まで延びる弧によって画定される、請求項1の共振器。
  11. 前記第2頂点は前記弧の上に配置される、請求項10の共振器。
  12. 請求項1の共振器を含む無線周波数フィルタ。
  13. 請求項12の無線周波数フィルタを含む電子機器モジュール。
  14. 請求項13の電子機器モジュールを含む電子デバイス。
  15. 薄膜バルク弾性波共振器を形成する方法であって、
    第1頂点、第2頂点及び第3頂点を含む部分楕円の形状とされた犠牲材料層の上に圧電膜を配置して前記圧電膜の下に前記犠牲材料が充填されたキャビティを形成することと、
    前記圧電膜を貫通して前記犠牲材料層の中に入るリリースポートを形成することと、
    前記犠牲材料のためのエッチャントを、前記リリースポートを通して導入することにより前記犠牲材料層を除去することと
    を含み、
    前記リリースポートは、前記犠牲材料のすべてを除去するエッチ時間を最小限にする位置に配置される、方法。
  16. 前記リリースポートを形成することは、前記第1頂点と第2頂点との間の弦に垂直に前記第1頂点と第2頂点との間の弦の中心から前記第1頂点と第2頂点との間の前記キャビティのエッジまで延びる線の交差によって画定される前記キャビティのエッジに配置された位置に第1リリースポートを形成することを含む、請求項15の方法。
  17. 前記リリースポートを形成することはさらに、前記第1リリースポートの位置に配置された中心と前記第1頂点及び第2頂点と交差するエッジとを有する第1円と同じサイズを有するとともに前記第3頂点と交差するエッジを有する第2円の中心によって画定された前記第1頂点と第3頂点との間の、前記キャビティのエッジに配置された位置に第2リリースポートを形成することを含む、請求項16の方法。
  18. 前記リリースポートを形成することはさらに、前記第2頂点と交差するエッジを有するとともに前記第1円と同じサイズを有する第3円の中心によって画定された前記第2頂点と第3頂点との間の、前記キャビティのエッジに配置された位置に第3リリースポートを形成することを含む、請求項17の方法。
  19. 前記第1リリースポート、第2リリースポート及び第3リリースポートはエッチングにより形成される、請求項18の方法。
  20. 前記第1リリースポート、第2リリースポート及び第3リリースポートの一つ以上を通して前記キャビティからエッチ反応生成物を除去することをさらに含む、請求項18の方法。
  21. 前記薄膜バルク弾性波共振器は、
    前記キャビティに面する前記圧電膜の下側に配置された底部電極と、
    前記下側に対向する前記圧電膜の上側に配置された頂部電極と
    を含み、
    前記方法はさらに、前記圧電膜、頂部電極又は底部電極の一つ以上を貫通する一つ以上のアパチャを形成することにより、前記第1リリースポート、第2リリースポート及び第3リリースポートの少なくとも一つを形成することを含む、請求項18の方法。
  22. 前記リリースポートを通して前記犠牲材料層のためのエッチャントを導入することは、前記リリースポートを通してフッ化物含有ガスを導入することを含む、請求項15の方法。
  23. 前記リリースポートを通して前記犠牲材料層のためのエッチャントを導入することは、前記リリースポートを通して二フッ化キセノンガスを導入することを含む、請求項22の方法。
  24. 前記犠牲材料層の上に前記圧電膜を配置することは、ポリシリコンの層の上に前記圧電膜を配置することを含む、請求項15の方法。
  25. 前記リリースポートを通して前記犠牲材料層のためのエッチャントを導入することは、前記リリースポートを通して液体エッチャントを導入することを含む、請求項15の方法。
  26. 前記犠牲材料層を除去した後に前記リリースポートを封止することをさらに含む、請求項15の方法。
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