JP2020034483A5 - - Google Patents

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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP7222764B2 (ja) 2019-03-18 2023-02-15 株式会社キーエンス 画像測定装置
JP7252018B2 (ja) 2019-03-18 2023-04-04 株式会社キーエンス 画像測定装置
US20230281772A1 (en) * 2020-07-15 2023-09-07 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Imaging system, inspection system, information processing device, information processing method and program thereof, and imaging control method and program thereof
DE102022124523A1 (de) * 2021-09-27 2023-03-30 Okuma Corporation System zur Messung einer dreidimensionalen Form und Werkzeugmaschinensystem
JP2023167380A (ja) 2022-05-12 2023-11-24 株式会社キーエンス 画像測定装置
JP2023167388A (ja) 2022-05-12 2023-11-24 株式会社キーエンス 画像測定装置
CN115265408A (zh) * 2022-07-29 2022-11-01 深圳市中图仪器股份有限公司 闪测仪及其操作方法

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5095644B2 (ja) 2009-01-23 2012-12-12 株式会社キーエンス 画像計測装置及びコンピュータプログラム
JP5597056B2 (ja) 2010-08-02 2014-10-01 株式会社キーエンス 画像測定装置、画像測定方法及び画像測定装置用のプログラム
JP5923824B2 (ja) * 2012-02-21 2016-05-25 株式会社ミツトヨ 画像処理装置
US8804136B2 (en) * 2012-12-06 2014-08-12 Asm Technology Singapore Pte Ltd Apparatus and method for locating a plurality of placement positions on a carrier object
JPWO2015102057A1 (ja) * 2014-01-06 2017-03-23 富士通株式会社 画像処理方法、画像処理システム、およびプログラム
US10176452B2 (en) * 2014-06-13 2019-01-08 Conduent Business Services Llc Store shelf imaging system and method
JP6474334B2 (ja) * 2015-07-30 2019-02-27 株式会社キーエンス 画像検査装置、画像検査方法および画像検査プログラム
JP2017053671A (ja) * 2015-09-08 2017-03-16 キヤノン株式会社 形状測定方法
WO2017043067A1 (ja) * 2015-09-11 2017-03-16 富士フイルム株式会社 走行支援装置及び走行支援装置による走行支援方法
CN108353128B (zh) * 2015-10-27 2020-05-19 富士胶片株式会社 摄像系统以及对象检测装置及其工作方法
JP6663807B2 (ja) 2016-07-04 2020-03-13 株式会社キーエンス 画像測定装置
JP6663808B2 (ja) * 2016-07-04 2020-03-13 株式会社キーエンス 画像測定装置
JP6522181B2 (ja) 2018-02-09 2019-05-29 株式会社キーエンス 画像測定器

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