JP2020028883A - レーザ加工方法及びレーザ加工装置 - Google Patents
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Abstract
Description
レーザ光を走査する走査領域より、加工領域が大きい加工対象物をレーザ加工するレーザ加工方法において、
前記加工対象物を第1方向に移動させる第1駆動装置に保持し、
次いで、前記第1駆動装置により前記加工対象物を前記第1方向に移動させつつ、ガルバノスキャナにより、前記ガルバノスキャナとfθレンズとを通過して前記加工対象物に照射する前記レーザ光を、前記加工対象物に対して、前記第1方向と前記第1方向の逆方向とに往復移動させて走査するとき、
前記加工対象物の移動速度をVtとし、前記レーザ光の走査速度をVsとし、前記加工対象物を前記移動速度Vtで移動させつつ、前記加工対象物の加工予定線の一部の同一直線上で、前記走査速度Vsで前記レーザ光を連続して3回以上往復走査して前記レーザ光を照射し、
前記レーザ光の走査の線速度V0は相対的に一定になるように制御部で制御され、前記走査速度Vsによる前記往復走査のうち、往路走査のガルバノスキャナ往路走査速度をVs1とするとともに復路走査のガルバノスキャナ復路走査速度Vs2とすると、
前記往路走査での前記線速度V0は、
V0=Vs1−Vt であり、
前記復路走査での前記線速度V0は、
V0=Vs2+Vt であり、
前記線速度V0は、相対的に一定に制御することから、
Vt=(Vs1−Vs2)/2 であり、
前記ガルバノスキャナは、前記ガルバノスキャナ復路走査速度Vs2より前記ガルバノスキャナ往路走査速度Vs1が速く、Vs1>Vs2 であり、
前記移動速度Vtより前記ガルバノスキャナの前記走査速度Vsが、2倍以上速く、Vs>2Vt である、
レーザ加工方法を提供する。
図1は、本発明の実施の形態のレーザ加工装置90の構成についての図である。
レーザ光Lが任意の形状の加工予定線402aを一定の速度及び一方向に走査できるように、X軸駆動ステージ102及びY軸駆動ステージ105のそれぞれの駆動制御部で制御しつつ、ガルバノスキャナ202の回転角制御部202eで、同加工予定線402a上を走査領域401内でガルバノスキャナ202を往復動作させながら、相対的な線速が一定になるように制御する。
V0 = Vs1 − Vt
となる。
V0 = Vs2 + Vt
となる。
Vs1 > Vs2である。
Vs1 − Vt > Vs2 + Vt
であり、
(Vs1 − Vs2) / Vt >2
となる。
前記より、fθレンズ203の中心203aを通る為、精度良く加工され、かつ十字に軌跡通過範囲幅Aがある為、最大走査範囲901の上限まで使用でき、かつ走査距離を長くできることで加工時間の短縮となることから、レーザ加工における加工精度と生産性とが両立できる。
91 基台
100 制御部
101 加工対象物
102 X軸駆動ステージ
103 加工ヘッド
104 Z軸駆動ステージ
105 Y軸駆動ステージ
106 門柱
201 レーザ発振器
202 ガルバノスキャナ
202a,202b X軸用及びY軸用のガルバノミラー
202c,202d 軸回転用モータ
202e 回転角制御部
203 fθレンズ
203a fθレンズの中心
301 切断品
401 ガルバノスキャナの走査領域
402 レーザ走査軌跡
402a 加工予定線
501 駆動ステージ走査
502 ガルバノスキャナ走査
503 同期走査の軌跡
504 同期走査軌跡分解イメージ
701 加工端エリア
701a 段差
702 切断ライン
801 開始点オーバーラップ
802 終了点オーバーラップ
803 開始端
804 終了端
901 ガルバノスキャナ最大走査範囲
902 軌跡通過範囲幅
902a 軌跡通過範囲
903 走査軌跡パターン
903a,903b,903c,903d 軌跡パターン
Claims (11)
- レーザ光を走査する走査領域より、加工領域が大きい加工対象物をレーザ加工するレーザ加工方法において、
前記加工対象物を第1方向に移動させる第1駆動装置に保持し、
次いで、前記第1駆動装置により前記加工対象物を前記第1方向に移動させつつ、ガルバノスキャナにより、前記ガルバノスキャナとfθレンズとを通過して前記加工対象物に照射する前記レーザ光を、前記加工対象物に対して、前記第1方向と前記第1方向の逆方向とに往復移動させて走査するとき、
前記加工対象物の移動速度をVtとし、前記レーザ光の走査速度をVsとし、前記加工対象物を前記移動速度Vtで移動させつつ、前記加工対象物の加工予定線の一部の同一直線上で、前記走査速度Vsで前記レーザ光を連続して3回以上往復走査して前記レーザ光を照射し、
前記レーザ光の走査の線速度V0は相対的に一定になるように制御部で制御され、前記走査速度Vsによる前記往復走査のうち、往路走査のガルバノスキャナ往路走査速度をVs1とするとともに復路走査のガルバノスキャナ復路走査速度Vs2とすると、
前記往路走査での前記線速度V0は、
V0=Vs1−Vt であり、
前記復路走査での前記線速度V0は、
V0=Vs2+Vt であり、
前記線速度V0は、相対的に一定に制御することから、
Vt=(Vs1−Vs2)/2 であり、
前記ガルバノスキャナは、前記ガルバノスキャナ復路走査速度Vs2より前記ガルバノスキャナ往路走査速度Vs1が速く、Vs1>Vs2 であり、
前記移動速度Vtより前記ガルバノスキャナの前記走査速度Vsが、2倍以上速く、Vs>2Vt である、
レーザ加工方法。 - 前記往復走査は、前記加工予定線に沿った前記ガルバノスキャナによる往復動作により走査軌跡が形成され、
前記往復動作の回数は3回以上かつ奇数回である、
請求項1に記載のレーザ加工方法。 - 前記制御部において、前記ガルバノスキャナによる前記往復走査と、前記第1駆動装置による前記第1方向沿いの一方向に一定速度での移動とを協調制御して組合せることで、前記走査軌跡が、レーザ加工の深さ方向に関しては階段形状になる、
請求項2に記載のレーザ加工方法。 - 前記制御部は、前記レーザ光による加工開始点と加工終了点の加工端エリアにおいて、前記加工対象物の断面の段差を無くようにオーバーラップして走査する前記走査軌跡を生成して走査するように制御する、
請求項3に記載のレーザ加工方法。 - 前記ガルバノスキャナでからの前記レーザ光が前記fθレンズの中心を通るように前記走査軌跡を生成するように走査し、
前記走査軌跡は、前記fθレンズの軌跡通過範囲内として、前記fθレンズの最大走査直径をDsとし、軌跡通過範囲幅をAとするとき、
A = Ds * sinπ/4 *0.06
となる条件の下で前記走査軌跡を生成するように前記走査を行う、
請求項2〜4のいずれか1つに記載のレーザ加工方法。 - レーザ光を走査するレーザ走査領域より、加工領域が大きい加工対象物をレーザ加工するレーザ加工装置において、
前記加工対象物を保持した状態で移動速度Vtで第1方向に移動する駆動ステージと、
前記レーザ光を出射するレーザ出射部と、
前記レーザ出射部から出射した前記レーザ光の走査方向を変更し、前記レーザ光を、前記加工対象物に対して、前記第1方向と前記第1方向の逆方向とに往復移動させるように走査速度Vsで走査するガルバノスキャナと、
前記ガルバノスキャナから出射した前記レーザ光を透過して前記加工対象物に任所定角度で照射するfθレンズと、
前記駆動ステージと前記ガルバノスキャナとの駆動をそれぞれ制御して、前記駆動ステージにより前記加工対象物を前記第1方向に移動させつつ、前記ガルバノスキャナにより前記ガルバノスキャナと前記fθレンズとを介して前記レーザ光を前記加工対象物に照射して走査するとき、前記加工対象物の前記移動速度をVtとし、前記レーザ光の前記走査速度をVsとし、前記加工対象物を前記移動速度Vtで移動させつつ、前記加工対象物の加工予定線の一部の同一直線上で、前記走査速度Vsで前記レーザ光を連続して3回以上往復走査して前記レーザ光を照射するように制御する制御部とを有し、
前記制御部により制御するとき、
前記レーザ光の走査の線速度V0は相対的に一定になるように制御され、前記走査速度Vsによる前記往復走査のうち、往路走査のガルバノスキャナ往路走査速度をVs1とするとともに復路走査のガルバノスキャナ復路走査速度Vs2とすると、
前記往路走査での前記線速度V0は、
V0=Vs1−Vt であり、
前記復路走査での前記線速度V0は、
V0=Vs2+Vt であり、
前記線速度V0は、相対的に一定に制御することから、
Vt=(Vs1−Vs2)/2 であり、
前記ガルバノスキャナは、前記ガルバノスキャナ復路走査速度Vs2より前記ガルバノスキャナ往路走査速度Vs1が速く、Vs1>Vs2 であり、
前記移動速度Vtより前記ガルバノスキャナの前記走査速度Vsが、2倍以上速く、Vs>2Vt である、
レーザ加工装置。 - 前記駆動ステージは、前記加工対象物が保持されて前記第1方向であるX軸沿いに移動させるX軸駆動ステージであり、
前記レーザ加工装置は、
前記ガルバノスキャナ及び前記fθレンズとを有する加工ヘッドと、
前記加工ヘッドは、前記X軸と交差するZ軸の方向に前記加工ヘッドを移動させるZ軸駆動ステージと、
前記Z軸駆動ステージが取付けられ、前記X軸及び前記Z軸とは交差するY軸の方向に前記加工ヘッドと前記Z軸駆動ステージとを移動させるY軸駆動ステージとをさらに備え、
前記制御部は、前記Z軸駆動ステージと前記Y軸駆動ステージとの駆動もそれぞれ制御する、
請求項6に記載のレーザ加工装置。 - 前記制御部は、前記駆動ステージと前記ガルバノスキャナとを協調制御して前記往復走査を行い、所定の走査軌跡を生成して走査することで、前記加工対象物を所定の形状の切断品に切断する、
請求項6〜7のいずれか1つに記載のレーザ加工装置。 - 前記制御部は、前記レーザ光が任意の形状の前記加工予定線を一定の速度及び一方向に走査できるように、前記X軸駆動ステージ及び前記Y軸駆動ステージで制御しつつ、前記ガルバノスキャナを同加工予定線上を走査領域内で往復動作させながら、相対的な線速が一定になるように制御する、
請求項7に記載のレーザ加工装置。 - 前記レーザ出射部は、ピコ秒〜フェムト秒の超短パルス、及び、最大周波数1MHz以上で前記レーザ光を発振するレーザ発振器である、
請求項6〜9のいずれか1つに記載のレーザ加工装置。 - 前記fθレンズは、F値が45以上でかつ110以下であるfθレンズである、
請求項6〜10のいずれか1つに記載のレーザ加工装置。
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