JP2020018056A - 電力変換装置の制御装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】スイッチング素子のターンオフに伴い発生する瞬間的な電圧降下に起因したミラークランプ回路の誤作動の可能性を低減する。【解決手段】スイッチング素子の第1ゲートに駆動信号を印加するためのゲート駆動ラインと、ミラークランプ回路と、ゲート駆動ラインの第1ポイントで生じる電圧を、該電圧のうちの、スイッチング素子のターンオフに伴い第1ポイントで生じる瞬間的な電圧降下分であって第1ポイントと第1ゲートとの間の配線インダクタンスに起因した電圧降下分を緩和してから、ミラークランプ回路に出力する電圧降下緩和部とを含む、電力変換装置の制御装置が開示される。【選択図】図2

Description

本開示は、電力変換装置の制御装置に関する。
MOSFET(metal−oxide−semiconductor field−effect transistor、スイッチング素子の一例)のゲートとドレインとの間に存在するミラー容量(Miller capacitance)により発生する電気的振動を能動的な方法で低減させるアクティブミラークランプ機能を設ける技術が知られている。
特開2017−5698号公報
しかしながら、上記のような従来技術では、スイッチング素子のターンオフに伴い発生する瞬間的な電圧降下(配線インダクタンスに起因した電圧降下)に起因して、ミラークランプ回路が、本来のタイミングよりも有意に早いタイミングで作動(誤作動)する可能性がある。ミラークランプ回路が誤作動すると、ゲート電圧が急峻に立ち下がるため、di/dtが過大となり、サージにより素子にダメージを与えるおそれがある。
そこで、1つの側面では、本発明は、スイッチング素子のターンオフに伴い発生する瞬間的な電圧降下に起因したミラークランプ回路の誤作動の可能性を低減することを目的とする。
1つの側面では、スイッチング素子の第1ゲートに駆動信号を印加するためのゲート駆動ラインと、
ミラークランプ回路と、
前記ゲート駆動ラインの第1ポイントで生じる電圧を、該電圧のうちの、前記スイッチング素子のターンオフに伴い前記第1ポイントで生じる瞬間的な電圧降下分であって前記第1ポイントと前記第1ゲートとの間の配線インダクタンスに起因した電圧降下分を緩和してから、前記ミラークランプ回路に出力する電圧降下緩和部とを含む、電力変換装置の制御装置が提供される。
1つの側面では、本発明によれば、スイッチング素子のターンオフに伴い発生する瞬間的な電圧降下に起因したミラークランプ回路の誤作動の可能性を低減することが可能となる。
電動車両用のモータ駆動システムの全体構成の一例を示す図である。 実施例1によるインバータ制御装置の一部を示す図である。 比較例によるインバータ制御装置の一部を示す図である。 スイッチング素子がオフする際の接続点Pt1で生じる電圧の波形の説明図(その1)である。 スイッチング素子がオフする際の接続点Pt1で生じる電圧の波形の説明図(その2)である。 実施例1における特定の点で生じる電圧波形を示す図である。 実施例2によるインバータ制御装置の一部を示す図である。 実施例2における特定の点で生じる電圧波形を示す図である。 実施例3によるインバータ制御装置の一部を示す図である。 配線インダクタンスが高くなる構成を示す図である。
以下、添付図面を参照しながら各実施例について詳細に説明する。
以下の説明において、特に言及しない限り、各種の要素間の“接続”という用語は、“電気的な接続”を意味する。
図1は、電動車両用のモータ駆動システム1の全体構成の一例を示す図である。モータ駆動システム1は、高圧バッテリ10を用いて走行用モータ40を駆動することにより車両を駆動させるシステムである。なお、電動車両は、電力を用いて走行用モータ40を駆動して走行するものであれば、その方式や構成の詳細は任意である。電動車両は、動力源がエンジンと走行用モータ40であるハイブリッド自動車や、動力源が走行用モータ40のみである電気自動車を含む概念である。
モータ駆動システム1は、図1に示すように、高圧バッテリ10、電動車両用インバータ装置12、走行用モータ40、及び、インバータ制御装置50(電力変換装置の制御装置の一例)を備える。
高圧バッテリ10は、蓄電して直流電圧を出力する任意の蓄電装置であり、ニッケル水素バッテリ、リチウムイオンバッテリや電気2重層キャパシタ等の容量性素子を含んでよい。高圧バッテリ10は、典型的には、定格電圧が100Vを超えるバッテリであり、定格電圧が例えば288Vである。但し、高圧バッテリ10は、いわゆるマイルドハイブリッド自動車で用いられる、より定格電圧の低いバッテリ(例えば48V)であってもよい。
電動車両用インバータ装置12は、平滑コンデンサCと、インバータ30(電力変換装置の一例)とを含む。
平滑コンデンサCは、インバータ30に並列に接続される。平滑コンデンサCは、スイッチング素子Q1のコレクタと負極ラインとの間に接続される。
インバータ30は、正極ラインと負極ラインとの間に互いに並列に配置されるU相、V相、W相の各アームを含む。U相アームは、直列接続されたスイッチング素子(本例ではIGBT:Insulated Gate Bipolar Transistor)Q1、Q2を含み、V相アームは、直列接続されたスイッチング素子(本例ではIGBT)Q3、Q4を含み、W相アームは、直列接続されたスイッチング素子(本例ではIGBT)Q5、Q6を含む。また、各スイッチング素子Q1〜Q6のコレクタ−エミッタ間には、それぞれ、エミッタ側からコレクタ側に電流を流すようにダイオードD11〜D16が配置される。なお、スイッチング素子Q1〜Q6は、MOSFETのような、IGBT以外の他のスイッチング素子であってもよい。
走行用モータ40は、3相の交流モータであり、U、V、W相の3つのコイルの一端が中点で共通接続されている。U相コイルの他端は、スイッチング素子Q1、Q2の中点M1に接続され、V相コイルの他端は、スイッチング素子Q3、Q4の中点M2に接続され、W相コイルの他端は、スイッチング素子Q5、Q6の中点M3に接続される。
なお、図1に示す例では、モータ駆動システム1は、単一の走行用モータ40を備えているが、追加のモータ(発電機を含む)を備えてもよい。この場合、追加のモータ(複数も可)は、対応するインバータとともに、走行用モータ40及びインバータ30と並列な関係で、高圧バッテリ10に接続されてもよい。また、図1に示す例では、モータ駆動システム1は、DC/DCコンバータを備えていないが、高圧バッテリ10とインバータ30の間にDC/DCコンバータを備えてもよい。
高圧バッテリ10と平滑コンデンサCとの間には、図1に示すように、高圧バッテリ10から電力供給を遮断するための遮断用スイッチSW1が設けられる。遮断用スイッチSW1は、半導体スイッチやリレー等で構成されてもよい。遮断用スイッチSW1は、常態でオン状態であり、例えば平滑コンデンサCの急速放電が必要な状況等にオフされる。
次に、図1に示すようなモータ駆動システム1において適用可能なインバータ制御装置50の実施例について説明する。
<実施例1>
図2は、実施例1によるインバータ制御装置50の一部を示す図である。図2は、図1のX部に対応するW相下段のスイッチング素子Q6の駆動用の回路部分を示す。なお、図2に示す回路部分は、スイッチング素子Q1〜Q6のそれぞれに対して設けられる。以下では、代表として、W相下段のスイッチング素子Q6の駆動用の回路部分について説明するが、他のスイッチング素子Q1〜Q5のそれぞれに係る回路部分も実質的に同様である。なお、図2において、領域A1は、パワーモジュールとECU(Electronic Control Unit)との接合部に対応し、領域A2は、ECU内に対応し、領域A3は、パワーモジュール内に対応する。ECUは、インバータ制御装置50を形成する制御装置であり、後述する各種回路やマイクロコンピュータ(図示せず)等が実装される基板等を含む。
インバータ制御装置50は、図2に示すように、駆動IC(Integrated Circuit)51と、電圧降下緩和部52と、プッシュプル回路53とを含む。
駆動IC51は、ゲート駆動ライン54を介してスイッチング素子Q6のゲート(第1ゲートの一例)に接続される。駆動IC51は、ゲート駆動ライン54を介してスイッチング素子Q6に駆動信号を印加することで、スイッチング素子Q6をオン/オフさせる。具体的には、駆動IC51は、スイッチング素子Q6をオンさせる際に、出力端子51aに“High”を出力する。出力端子51aに“High”が出力されると、プッシュプル回路53の上側のNPN型のバイポーラトランジスタTr1がオンし、ゲート駆動用の電源Vgateの電源電圧によりスイッチング素子Q6のゲート電圧が増加する。そして、ゲート電圧が閾値電圧Vth1以上になると、スイッチング素子Q6がオンする。また、駆動IC51は、スイッチング素子Q6をオフさせる際に、出力端子51aに“Low”を出力する。出力端子51aに“Low”が出力されると、プッシュプル回路53の下側のPNP型のバイポーラトランジスタTr2がオンし、グランド電位によりスイッチング素子Q6のゲート電圧が減少し、スイッチング素子Q6がオフする。
また、駆動IC51は、ミラークランプ回路510を有する。ミラークランプ回路510は、スイッチング素子Q6がオフする際のセルフターンオン(ミラー容量に起因したゲート電圧の持ち上がりによるターンオン)を防止するために設けられる。ミラークランプ回路510は、ゲート駆動ライン54に、ミラークランプライン55(第1ラインの一例)を介して接続される。ミラークランプライン55は、ゲート駆動ライン54に一端が接続点Pt1(第1ポイントの一例)で接続され、ミラークランプ回路510のクランプ端子510aに他端が接続される。
ミラークランプ回路510は、ミラークランプライン55にクランプ端子510a(第2ポイントの一例)で接続される。ミラークランプ回路510は、ロジック回路部511と、コンパレータ512と、MOSFET513と、参照電圧電源514とを含む。ロジック回路部511は、クランプ端子510aを介してコンパレータ512の非反転入力端子に入力される電圧が、参照電圧電源514による参照電圧Vrefを下回ると、MOSFET513をオンさせる。MOSFET513がオンすると、後述するように接続点Pt1がグランド電位となる。このようにして、ロジック回路部511は、クランプ端子510aを介してコンパレータ512に入力される電圧が参照電圧Vrefを下回ると、スイッチング素子Q6のゲートをグランドに短絡(クランプ)させる。
電圧降下緩和部52は、接続点Pt1で生じる電圧に応じた電圧をクランプ端子510aに出力する。この際、電圧降下緩和部52は、接続点Pt1で生じる電圧のうちの、スイッチング素子Q6のターンオフに伴い接続点Pt1で生じる瞬間的な電圧降下分(後述する配線インダクタンスに起因した電圧降下分)を緩和してクランプ端子510aに出力する。以下、このような電圧降下緩和部52による機能を、「電圧降下緩和機能」とも称する。
電圧降下緩和部52は、MOSFET521(トランジスタの一例)と、駆動ライン522(第2ラインの一例)と、抵抗R1と、ライン523(第3ラインの一例)と、コンデンサC1と、ライン524と、コンデンサC2とを含む。
MOSFET521は、P型のMOSFETである。MOSFET521は、ゲートに印加される電圧が閾値電圧Vth2以下となるとオンする。駆動ライン522は、一端がMOSFET521のゲートに接続され、他端がゲート駆動ライン54に接続点Pt3で接続される。接続点Pt3は、例えばプッシュプル回路53と接続点Pt1との間である。抵抗R1は、駆動ライン522に設けられる。ライン523は、駆動ライン522に一端が接続点Pt4で接続され、他端が接地される。接続点Pt4は、MOSFET521のゲートとR1の間である。コンデンサC1は、ライン523に設けられる。ライン524は、ミラークランプライン55に一端が接続点Pt5で接続され、他端が接地される。コンデンサC2は、ライン524に設けられる。
電圧降下緩和部52の動作は、電圧降下緩和機能に関連して後述する。
プッシュプル回路53は、駆動IC51による駆動能力が比較的低い場合に用いられる。従って、プッシュプル回路53は、駆動IC51による駆動能力が比較的高い場合は省略されてもよい。プッシュプル回路53は、ゲート駆動用の電源Vgateとグランドとの間に抵抗R2,R3とともに直列に接続されたNPN型のバイポーラトランジスタTr1とPNP型のバイポーラトランジスタTr2を含む。プッシュプル回路53の動作は上述したとおりである。
ここで、比較例を参照しつつ、電圧降下緩和機能及び本実施例の効果について説明する。
図3は、比較例によるインバータ制御装置50’の一部を示す図である。図3には、配線インダクタンスL1〜L3(配線の寄生インダクタンス)やゲート−コレクタ間の容量C11,ゲート−エミッタ間の容量C12等が示されている。なお、このような配線インダクタンスL1〜L3等は、本実施例のインバータ制御装置50(図2に示す回路)においても同様に存在する。
比較例によるインバータ制御装置50’は、本実施例によるインバータ制御装置50に対して、電圧降下緩和部52を備えていない点が主に異なる。従って、比較例では、クランプ端子510aに入力される電圧の波形は接続点Pt1で生じる電圧の波形と略同じとなる。このため、比較例では、ミラークランプ回路510は、実質的には、スイッチング素子Q6がオフする際の接続点Pt1で生じる電圧の波形で動作することになる。
図4A及び図4Bは、スイッチング素子Q6がオフする際の接続点Pt1で生じる電圧の波形(時系列の波形)の説明図であり、図4Aは、横軸に時間を取り、縦軸に電圧を取り、理想的な波形を示し、図4Bは、横軸に時間を取り、縦軸に電圧を取り、配線インダクタンスの影響を受けた波形を示す。図4A及び図4Bにおいて、VHは、スイッチング素子Q6がオン状態であるときの電圧に対応し、VLは、スイッチング素子Q6がオフ状態であるときの電圧に対応する。また、図4A及び図4Bには、参照電圧Vrefが併せて示されている。
スイッチング素子Q6がオフする際の接続点Pt1で生じる電圧は、接続点Pt1とスイッチング素子Q6のゲートとの間の配線インダクタンスL1〜L3の影響を受けることで、図4Aに示す理想的な波形に比べて、図4Bにて400で示すように大きく変動する。すなわち、理想的な波形は、配線インダクタンスL1〜L3が0である場合の波形であるが、実際は、配線インダクタンスL1〜L3の影響により、図4Bに示すように電圧が大きく降下する波形となる。具体的には、スイッチング素子Q6がオフする際の接続点Pt1で生じる電圧は、配線インダクタンスL1〜L3に起因して、瞬間的に大きく降下する。このような瞬間的な電圧降下(配線インダクタンスに起因した電圧降下)が生じると、ミラークランプ回路510が誤作動し易くなる。
具体的には、図4Aに示す理想的な波形では、スイッチング素子Q6がオフする際の接続点Pt1で生じる電圧は、時刻t1で、参照電圧Vrefを下回る。これに対して、図4Bに示す波形では、スイッチング素子Q6がオフする際の接続点Pt1で生じる電圧は、時刻t1よりも前の時刻t0で、参照電圧Vrefを下回る。すなわちスイッチング素子Q6がオフする際の接続点Pt1で生じる電圧は、配線インダクタンスL1〜L3に起因した電圧降下によって、参照電圧Vrefを下回る。この場合、ミラークランプ回路510が本来のタイミング(時刻t1)よりも有意に早いタイミング(時刻t0)で作動(誤作動)する。ミラークランプ回路510が誤作動すると、ゲート電圧が急峻に立ち下がるため、di/dtが過大となり、サージによりスイッチング素子Q6にダメージを与えるおそれがある。
これに対して、本実施例によれば、電圧降下緩和部52が設けられるので、以下で説明するように、配線インダクタンスL1〜L3に起因した電圧降下(スイッチング素子Q6がオフする際に発生する瞬間的な電圧降下)が原因となるミラークランプ回路510の誤作動の可能性を低減できる。
図5は、本実施例における特定の点(接続点Pt1、接続点Pt4、クランプ端子510a)で生じる電圧波形を示す図である。図5では、横軸に時間を取り、縦軸に電圧を取り、接続点Pt1での電圧波形W501と、接続点Pt4での電圧波形W502と、クランプ端子510aでの電圧波形W503とが示される。
接続点Pt1での電圧波形W501は、図4Bで示した波形と実質的に同一であり、配線インダクタンスL1〜L3の影響により接続点Pt1での電圧が参照電圧Vrefを下回るような瞬間的な電圧降下が発生している。
本実施例では、電圧降下緩和部52は、次のようにして機能する。
スイッチング素子Q6のオン状態において、スイッチング素子Q6に対するオフ指令に応じて出力端子51aに“Low”が出力されると、時刻t0で接続点Pt1での電圧が大きく降下する。なお、時刻t0までは、接続点Pt1、接続点Pt4、及びクランプ端子510aでの各電圧は、略VHである。接続点Pt1での電圧が大きく降下すると、MOSFET521のゲート電圧も減少し、MOSFET521が時刻t0よりわずかに後(抵抗R1及びコンデンサC1の時定数に応じた遅延後)にオンする。これにより、時刻t0における接続点Pt1での電圧の急峻な降下の影響を、オフ状態のMOSFET521により瞬間的に遮断できる。MOSFET521がオンすると、抵抗R1及びコンデンサC1の時定数に応じた特性で、接続点Pt4での電圧が降下していく。従って、接続点Pt4での電圧波形W502は、接続点Pt1での電圧波形W501とは異なり、緩やかな下降となる。また、クランプ端子510aでの電圧波形W503も、接続点Pt4での電圧波形W502に追従する態様で、緩やかな下降となる。なお、接続点Pt4での電圧波形W502とクランプ端子510aでの電圧波形W503との間の差分(同一時点での電圧の差分)は、MOSFET521の閾値電圧に対応し、略一定を保つ。そして、クランプ端子510aでの電圧が下降していき、時刻t2にて参照電圧Vrefを下回ると、ミラークランプ回路510が機能し、接続点Pt1、接続点Pt4、及びクランプ端子510aでの各電圧が0(VL)へと一気に下降する。
このようにして本実施例では、電圧降下緩和部52は、接続点Pt1で生じる電圧のうちの、接続点Pt1で現れる配線インダクタンスL1〜L3に起因した電圧降下分(スイッチング素子Q6がオフする際に発生する瞬間的な電圧降下分)を緩和してクランプ端子510aに出力する。すなわち、電圧降下緩和部52は、接続点Pt1での電圧波形W501に基づいて、接続点Pt1での電圧波形W501よりも電圧降下が緩和されるように、クランプ端子510aでの電圧波形W503を生成する。これにより、配線インダクタンスL1〜L3に起因した電圧降下(スイッチング素子Q6がオフする際に発生する瞬間的な電圧降下)が原因となるミラークランプ回路510の誤作動の可能性を低減できる。
<実施例2>
図6は、実施例2によるインバータ制御装置50Aの一部を示す図である。実施例2において上述した実施例1と同様であってよい構成要素については、同一の参照符号を付して説明を省略する場合がある。
実施例2によるインバータ制御装置50Aは、上述した実施例1によるインバータ制御装置50に対して、電圧降下緩和部52が電圧降下緩和部52Aで置換された点が異なる。
電圧降下緩和部52Aは、電圧降下緩和部52に対して、MOSFET521がバイポーラトランジスタ521A(トランジスタの一例)とダイオード526Aで置換された点が異なる。ダイオード526Aは、MOSFET521のボディダイオードに対応して設けられ、アノードが接続点Pt1に接続される。バイポーラトランジスタ521Aは、PNP型であり、コレクタ側が接続点Pt1に接続される。なお、バイポーラトランジスタ521Aのベースには、駆動ライン522が接続される。すなわち、駆動ライン522は、一端がバイポーラトランジスタ521Aのベースに接続され、他端がゲート駆動ライン54に接続点Pt3で接続される。
本実施例においても、電圧降下緩和部52Aが設けられるので、配線インダクタンスL1〜L3(図示せず)に起因した電圧降下(スイッチング素子Q6がオフする際に発生する瞬間的な電圧降下)が原因となるミラークランプ回路510の誤作動の可能性を低減できる。
図7は、本実施例における特定の点(接続点Pt1、接続点Pt4、クランプ端子510a)で生じる電圧波形を示す図である。図7では、横軸に時間を取り、縦軸に電圧を取り、接続点Pt1での電圧波形W701と、接続点Pt4での電圧波形W702と、クランプ端子510aでの電圧波形W703とが示される。
接続点Pt1での電圧波形W701は、図4Bで示した波形と実質的に同一であり、配線インダクタンスL1〜L3の影響により接続点Pt1での電圧が参照電圧Vrefを下回るような瞬間的な電圧降下が発生している。
本実施例では、電圧降下緩和部52Aは、次のようにして機能する。
スイッチング素子Q6のオン状態において、スイッチング素子Q6に対するオフ指令に応じて出力端子51aに“Low”が出力されると、時刻t0で接続点Pt1での電圧が大きく降下する。接続点Pt1での電圧が大きく降下すると、バイポーラトランジスタ521Aのベースに印加される電圧も減少し、バイポーラトランジスタ521Aが時刻t0よりわずかに後(抵抗R1及びコンデンサC1の時定数に応じた遅延後)にオンする。バイポーラトランジスタ521Aがオンすると、抵抗R1及びコンデンサC1の時定数に応じた特性で、接続点Pt4での電圧が降下していく。従って、接続点Pt4での電圧波形W702は、接続点Pt1での電圧波形W701とは異なり、緩やかな下降となる。また、クランプ端子510aでの電圧波形W703も、接続点Pt4での電圧波形W702に追従する態様で、緩やかな下降となる。そして、クランプ端子510aでの電圧が時刻t2にて参照電圧Vrefを下回ると、ミラークランプ回路510が機能し、接続点Pt1、接続点Pt4、及びクランプ端子510aでの各電圧が0(VL)へと一気に下降する。
このようにして本実施例では、電圧降下緩和部52Aは、接続点Pt1で生じる電圧のうちの、接続点Pt1で現れる配線インダクタンスL1〜L3に起因した電圧降下分(スイッチング素子Q6がオフする際に発生する瞬間的な電圧降下分)を緩和してクランプ端子510aに出力する。すなわち、電圧降下緩和部52Aは、接続点Pt1での電圧波形W701に基づいて、接続点Pt1での電圧波形W701よりも電圧降下が緩和されるように、クランプ端子510aでの電圧波形W703を生成する。これにより、配線インダクタンスL1〜L3に起因した電圧降下(スイッチング素子Q6がオフする際に発生する瞬間的な電圧降下)が原因となるミラークランプ回路510の誤作動の可能性を低減できる。
<実施例3>
図8は、実施例3によるインバータ制御装置50Bの一部を示す図である。実施例3において上述した実施例1と同様であってよい構成要素については、同一の参照符号を付して説明を省略する場合がある。
実施例3によるインバータ制御装置50Bは、上述した実施例1によるインバータ制御装置50に対して、ミラークランプライン55がミラークランプライン55B−1及び55B−2で置換された点が異なる。また、実施例3によるインバータ制御装置50Bは、上述した実施例1によるインバータ制御装置50に対して、電圧降下緩和部52が電圧降下緩和部52Bで置換された点が異なる。
ミラークランプライン55B−1は、接続点Pt1とクランプ端子510aとの間を接続する。ミラークランプライン55B−1には、後述するオペアンプ528B及び加算器529Bが設けられる。
ミラークランプライン55B−2は、一端がゲート駆動ライン54に接続点Pt6で接続され、他端がミラークランプ回路510のMOSFET513に接続される。
電圧降下緩和部52Bは、ライン526Bと、ライン527Bと、オペアンプ528Bと、加算器529Bとを含む。
ライン526Bは、一端がミラークランプライン55B−1に接続点Pt8で接続され、他端が加算器529Bに接続される。なお、ライン526Bは、一端がゲート駆動ライン54に接続されてもよい。ライン527Bは、一端がオペアンプ528Bの非反転入力端子に接続され、他端がミラークランプライン55B−2に接続点Pt7で接続される。なお、ライン527Bは、ミラークランプライン55B−2と別に、ゲート駆動ライン54に接続点Pt6で接続されてもよい。この場合、ミラークランプライン55B−2は、接続点Pt1のような他の接続点でゲート駆動ライン54に接続されてもよい。
オペアンプ528Bは、反転入力端子が接続点Pt1に接続されるとともに、非反転入力端子が接続点Pt6に接続される。オペアンプ528Bは、接続点Pt1での電圧V(Pt1)と接続点Pt6での電圧V(Pt6)との差に応じた電圧Vout1(=k×(V(Pt6)−V(Pt1)))を出力する。kは利得であり、例えばk=1+mとされる。ここで、mは、配線インダクタンスL1〜L3の各インダクタンス値L〜Lに応じて設定され、例えば以下の関係を有してよい。
:L+L=1:m
加算器529Bは、オペアンプ528Bの出力である電圧Vout1に対して、接続点Pt1での電圧V(Pt1)を加算する。従って、加算器529Bからの出力電圧Vout2は、Vout2=k×(V(Pt6)−V(Pt1))+V(Pt1)であり、V(Pt1)よりも、k×(V(Pt6)−V(Pt1))だけ高い値となる。(V(Pt6)−V(Pt1))は、配線インダクタンスL1による電圧降下分であり、かつ、k=1+mであるから、k×(V(Pt6)−V(Pt1))は、配線インダクタンスL1〜L3での電圧降下分に対応する。よって、加算器529Bからの出力電圧Vout2は、V(Pt1)における配線インダクタンスL1〜L3での電圧降下分が補償された値となる。
このようにして本実施例では、電圧降下緩和部52Bは、接続点Pt1で生じる電圧のうちの、配線インダクタンスL1〜L3に起因した電圧降下分(スイッチング素子Q6がオフする際に発生する瞬間的な電圧降下分)を緩和してクランプ端子510aに出力する。これにより、配線インダクタンスL1〜L3に起因した電圧降下(スイッチング素子Q6がオフする際に発生する瞬間的な電圧降下)が原因となるミラークランプ回路510の誤作動の可能性を低減できる。
以上、各実施例について詳述したが、特定の実施例に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された範囲内において、種々の変形及び変更が可能である。また、前述した実施例の構成要素を全部又は複数を組み合わせることも可能である。
例えば、上述した実施例1(実施例2も同様)では、好ましい実施例として、電圧降下緩和部52は、コンデンサC1を備えているが、コンデンサC1は省略されてもよい。この場合も、抵抗R1により瞬間的な電圧降下を低減できるので、配線インダクタンスL1〜L3に起因した電圧降下(スイッチング素子Q6がオフする際に発生する瞬間的な電圧降下)が原因となるミラークランプ回路510の誤作動の可能性を低減できる。
また、上述した実施例1(実施例2も同様)において、抵抗R1に並列に、ダイオードが設けられてもよい。この場合、ダイオードは、アノードがゲート駆動ライン54に接続される向きで設けられる。この場合、オフ状態のスイッチング素子Q6をオンさせる際に、当該ダイオードを介してMOSFET521を速やかにオンさせることができる。
また、上述した実施例1(実施例2及び実施例3も同様)において、配線インダクタンスに起因した電圧降下量は、配線インダクタンスL1〜L3のインダクタンス値L〜Lに応じて決まる。従って、上述した実施例1(実施例2及び実施例3も同様)は、配線インダクタンスL1〜L3に起因した電圧降下がミラークランプ回路510の誤作動を引き起こすほどインダクタンス値L〜Lが大きい構成に好適となる。例えば、図9に示すように、接続点Pt1とスイッチング素子Q6との間に、バックアップ電源Vbackが接続される場合、インダクタンス値L〜Lが大きくなりやすい。なお、図9において、遮断回路5351は、バックアップ電源回路(図示せず)によりバックアップ電源が生成される際(スイッチング素子Q6の駆動用電圧電源15Vの電源電圧が所定レベル以下に低下した際)にオフするMOSFET5352を備えることで、バックアップ電源が生成される際に、バックアップ電源の生成に起因した駆動IC51への電流の逆流(バックアップ電源から駆動IC51への電流の流れ)を防止する機能を持つ。
<付記>
以上の実施例に関し、更に以下を開示する。なお、以下で記載する効果のうちの、一の形態に対する追加的な各形態に係る効果は、当該追加的な各形態に起因した付加的な効果である。
一の形態は、スイッチング素子(Q1〜Q6)の第1ゲートに駆動信号を印加するためのゲート駆動ライン(54)と、
ミラークランプ回路(510)と、
前記ゲート駆動ライン(54)の第1ポイント(Pt1)で生じる電圧を、該電圧のうちの、前記スイッチング素子(Q1〜Q6)のターンオフに伴い前記第1ポイント(Pt1)で生じる瞬間的な電圧降下分であって前記第1ポイント(Pt1)と前記第1ゲートとの間の配線インダクタンス(L1〜L3)に起因した電圧降下分を緩和してから、前記ミラークランプ回路(510)に出力する電圧降下緩和部(52、52A、52B)とを含む、電力変換装置(30)の制御装置(50、50A、50B)である。
本形態によれば、第1ポイント(Pt1)で生じる電圧は、直接的にミラークランプ回路(510)に出力されるのではなく、配線インダクタンス(L1〜L3)に起因した電圧降下分が緩和された上で、ミラークランプ回路(510)に出力される。これにより、配線インダクタンス(L1〜L3)に起因した電圧降下が原因となるミラークランプ回路(510)の誤作動の可能性を低減できる。すなわち、スイッチング素子(Q1〜Q6)のターンオフに伴い発生する瞬間的な電圧降下に起因したミラークランプ回路(510)の誤作動の可能性を低減できる。
また、本形態においては、前記ゲート駆動ライン(54)に前記第1ポイント(Pt1)で接続されかつ前記ミラークランプ回路(510)に第2ポイント(510a)で接続される第1ライン(55)を更に含み、
前記電圧降下緩和部(52、52A)は、
第2ゲート又はベースを備え、前記第1ライン(55)に設けられ、前記第2ゲート又は前記ベースに印加される電圧が閾値電圧以下となるとオンして前記第1ポイント(Pt1)と前記第2ポイント(510a)とを導通させるトランジスタ(521、521A)と、
前記ゲート駆動ライン(54)に一端が電気的に接続され、前記第2ゲート又は前記ベースに他端が電気的に接続される第2ライン(522)と、
前記第2ライン(522)に設けられる抵抗(R1)と、
前記第2ライン(522)に一端が電気的に接続され、他端が接地される第3ライン(523)と、
前記第3ラインに設けられるコンデンサ(C1)とを含んでよい。
この場合、第1ポイント(Pt1)で生じる瞬間的な電圧降下を抵抗(R1)により低減できる。また、スイッチング素子(Q1〜Q6)のターンオフの際に、トランジスタ(521、521A)が同時にオンせず、抵抗(R1)及びコンデンサ(C1)を含むRC回路の時定数に従って遅れてオンするので、その遅延時間の間、ミラークランプ回路(510)に対する瞬間的な電圧降下の影響を遮断できる。そして、トランジスタ(521、521A)がオンした後は、抵抗(R1)及びコンデンサ(C1)を含むRC回路の働きにより緩やかな電圧降下が実現される。このようにして、比較的安価な構成で、スイッチング素子(Q1〜Q6)のターンオフに伴い発生する瞬間的な電圧降下に起因したミラークランプ回路(510)の誤作動の可能性を低減できる。
また、本形態においては、前記トランジスタ(521)は、P型のMOSFETであってよい。
この場合、P型のMOSFETを利用して電圧降下緩和部(52)を実現できる。
また、本形態においては、前記トランジスタ(521A)は、PNP型のバイポーラトランジスタであり、
前記電圧降下緩和部(52A)は、前記バイポーラトランジスタ(521A)に対して並列に、アノード側が前記第1ポイント(Pt1)に接続されるダイオード(526A)を更に含んでよい。
この場合、PNP型のバイポーラトランジスタ(521A)及びダイオード(526A)を利用して電圧降下緩和部(52)を実現できる。
1 モータ駆動システム
10 高圧バッテリ
12 電動車両用インバータ装置
30 インバータ
40 走行用モータ
50、50A、50B インバータ制御装置
51a 出力端子
52、52A、52B 電圧降下緩和部
53 プッシュプル回路
54 ゲート駆動ライン
55 ミラークランプライン
55B−1 ミラークランプライン
55B−2 ミラークランプライン
510 ミラークランプ回路
510a クランプ端子
511 ロジック回路部
512 コンパレータ
513 MOSFET
514 参照電圧電源
521 MOSFET
521A バイポーラトランジスタ
522 駆動ライン
523 ライン
524 ライン
526A ダイオード
526B ライン
527B ライン
528B オペアンプ
529B 加算器
5351 遮断回路
C 平滑コンデンサ
C1 コンデンサ
C2 コンデンサ
L1 配線インダクタンス
L2 配線インダクタンス
L3 配線インダクタンス
Pt1 接続点
Pt3 接続点
Pt4 接続点
Pt5 接続点
Pt6 接続点
Pt7 接続点
Q1〜Q6 スイッチング素子
R1 抵抗
R2 抵抗
R3 抵抗
SW1 遮断用スイッチ

Claims (4)

  1. スイッチング素子の第1ゲートに駆動信号を印加するためのゲート駆動ラインと、
    ミラークランプ回路と、
    前記ゲート駆動ラインの第1ポイントで生じる電圧を、該電圧のうちの、前記スイッチング素子のターンオフに伴い前記第1ポイントで生じる瞬間的な電圧降下分であって前記第1ポイントと前記第1ゲートとの間の配線インダクタンスに起因した電圧降下分を緩和してから、前記ミラークランプ回路に出力する電圧降下緩和部とを含む、電力変換装置の制御装置。
  2. 前記ゲート駆動ラインに前記第1ポイントで接続されかつ前記ミラークランプ回路に第2ポイントで接続される第1ラインを更に含み、
    前記電圧降下緩和部は、
    第2ゲート又はベースを備え、前記第1ラインに設けられ、前記第2ゲート又は前記ベースに印加される電圧が閾値電圧以下となるとオンして前記第1ポイントと前記第2ポイントとを導通させるトランジスタと、
    前記ゲート駆動ラインに一端が電気的に接続され、前記第2ゲート又は前記ベースに他端が電気的に接続される第2ラインと、
    前記第2ラインに設けられる抵抗と、
    前記第2ラインに一端が電気的に接続され、他端が接地される第3ラインと、
    前記第3ラインに設けられるコンデンサとを含む、請求項1に記載の電力変換装置の制御装置。
  3. 前記トランジスタは、P型のMOSFETである、請求項2に記載の電力変換装置の制御装置。
  4. 前記トランジスタは、PNP型のバイポーラトランジスタであり、
    前記電圧降下緩和部は、前記バイポーラトランジスタに対して並列に、アノード側が前記第1ポイントに接続されるダイオードを更に含む、請求項2に記載の電力変換装置の制御装置。
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