JP2019525249A5 - - Google Patents
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Description
図4c)は、リソグラフィビーム060の領域070、071、080を変更し得る付加的なビーム成形ユニット110で追加されたリソグラフィシステム090によって、リソグラフィビーム060の非平面初期構造010との相互作用がどのように付加的に減少させられ得るかを、模式的に示す。好ましい例示的な一実施形態では、初期構造010の非透明部分領域011と相互作用するリソグラフィビームの領域070が、好ましくはゼロ伝達に切り替えられるビーム成形ユニット110の関連する部分113によって、このように完全に遮られ得る。したがって、図4b)に示される影響が完全に回避される。初期構造010の透明部分領域012と相互作用するリソグラフィビーム060の領域071に同様の手順が採用され得る。様々な実施形態がこの目的に適している。
リソグラフィビーム060の焦点065の近傍において発生する最大強度の変化に加えて、非平面初期構造010との相互作用は、最大強度のポイントの空間的シフトを引き起こし得る。これに関して、例示により、高開口数を有するリソグラフィビーム060の焦点065の、フォトレジスト100(n=1.52)に埋設されたグラスファイバの端面への接近は(ガラスファイバのクラッディング:n1=1.4537、および、ガラスファイバのコアn0≒1.4589)、最大強度のポイントがリソグラフィレンズに向かってわずかに移動するという影響を有する。これは、図6c)から明らかである。d=0.5の距離に関して、リソグラフィレンズの方向への移動に対応する、z=0からzの負の値へ最大強度のポイントがシフトする。この場合、浸液として機能するフォトレジスト100において乱れることなくリソグラフィビーム060が伝搬し得る場合に、z=0が焦点065の基準位置に対応するように座標系が選択される。
図10は、非平面初期構造010上にターゲット構造030をリソグラフィ生成するための本発明による装置090の例示的な実施形態の模式図を示し、装置は、図3に関連して説明した構成要素に加えて、テストビームの焦点の近傍からのルミネセンス放射940を検出するように構成され、データ処理ユニット700によって制御されるルミネセンス検出ユニット960を含む。単純な実施形態では、テストビームは、同時に液浸媒体として機能するフォトレジスト100におけるターゲット構造030のリソグラフィパターニングのためにも使用される同じ光源およびビーム成形ユニットによって生成され得る。この目的のために、図10において部分的に透過するミラーとして模式的に示されたビームスプリッタ950は、リソグラフィシステムのビーム経路に導入することができ、ビームスプリッタは、テストビームの焦点の近傍において生成されるルミネセンス放射940を少なくとも部分的に検出し、それをルミネセンス検出ユニット960に送ることができる。ビームスプリッタ950は、ビーム経路における任意の位置に配置されてもよく、図10に模式的に示されるように、必ずしもビーム成形ユニット110の上流に設置されなくてもよい。さらに、ビームスプリッタは、必ずしも部分的に透過するミラーとして設計される必要はない。代替的な実施形態では、光学的に広帯域であるか、またはダイクロイック特性、光サーキュレータまたは回折格子を有し得る、ファイバベースまたは一体化された光パワーディバイダーを備えることができる。さらに、ルミネセンス検出ユニット960は、ルミネセンス放射940を検出するためのビーム経路が空間的に完全にテストビームおよび/またはリソグラフィビームの経路から分離され得るように、およびパワーディバイダーがそのために必要ないように設計されてもよい。ルミネセンス検出ユニット960は、この例示的な実施形態のように、光検出器980と、さらには付加的な光学フィルタ970とを備えることができる。付加的な光学フィルタ970は、テストビーム自体の後方散乱光を抑制しつつ、好ましくは、テストビームの焦点の近傍に由来するルミネセンス放射940を通過させることができるカラーフィルタとして設計され得る。低ルミネセンスパワーでも信頼性の高い結果を可能にするために、光検出器980は、光電子増倍器(PM)として設計され得る。上記の構成要素に加えて、ルミネセンス検出ユニット960は、たとえば、光ファイバ、ダイヤフラム、レンズ要素、または他の光学、光電子または光機械部品、回折格子、分光計モジュールやカメラなどのさらなる構成要素を備えることができる。特定の実施形態では、これらの構成要素は、特に共焦点顕微鏡の原理で、ルミネセンスパワーの空間的で選択的な検出を達成することを可能にし得る。代替手段として、またはこれに加えて、回折格子またはスペクトロメータモジュールの使用は、ルミネセンス放射940のスペクトル分析を可能にする。カメラは、ルミネセンスパワーの空間分布が検出されることを可能にする。これらの構成要素は、ルミネセンス放射を検出するために排他的に使用される必要はないが、リソグラフィシステム内のさらなる機能を同時に実行され得る。特定の実施形態では、ルミネセンス放射940は、好ましくは、リソグラフィシステム内にいずれにせよ存在し、リソグラフィシステムの座標系における非平面初期構造010の位置を検出するように機能するカメラにより検出され得る。したがって、ルミネセンス検出ユニット960は、必ずしも物理的に限定されたアセンブリとして存在している必要はないが、リソグラフィシステムにおいて、むしろ付加的に、またはいずれにせよ設置され、フォトレジスト100またはテスト媒体とのテストビームの相互作用に起因するルミネセンス放射940を検出することができるようにその全体が構成されている、構成要素を少なくとも部分的に備えていてもよい。代替的にまたは付加的に、ルミネセンス検出ユニット960は、フォトレジスト100またはテスト媒体においてルミネセンス放射940を励起するために使用され得るテストビーム945を生成するために機能することもできる。ここでまた、ルミネセンス検出ユニット960は、必ずしも物理的に限定されたアセンブリとして存在している必要はないが、むしろ付加的に、またはいずれにせよ、リソグラフィシステムにおいて設置される構成要素を備えていてもよい。
本発明によれば、これらの影響は、ルミネセンス検出の方法により度量衡学的に直接検出され得る。この目的のために、まず、ファイバ平坦面021の上流に位置する空間的領域が、テストビームを用いて走査され得て、テストビーム945の焦点の近傍で発生したルミネセンス放射が度量衡学的に検出され得る。この目的のために、リソグラフィシステムは、好ましくは、ルミネセンス検出ユニット960によって補完される。特定の一実施形態では、当該ルミネセンス検出ユニットは、共焦点顕微鏡の原理に基づく構成を備えることができ、その構成によって、テストビームの焦点の近傍からのルミネセンス放射940が空間的に選択的に検出され得る。加えて、光ショートパスフィルタ970が使用され得て、これによりテストビームおよびルミネセンス放射940の励起放射が、互いにスペクトル分離さえ得る。リソグラフィビーム060自体はテストビームとして使用され得て、ルミネセンス放射940は見えるが、依然として架橋反応がフォトレジスト100において生じないようにパワーが選択され得る。例示的な本実施形態では、フォトレジスト100に対して多光子リソグラフィで使用するのに適した商業的に使用可能なアクリレートが使用され、UV励起下で強い蛍光性を有するフルオレン基を含む光開始剤がアクリレートと混合された。テストビームは、好ましくは、50〜250フェムト秒、好ましくは約100フェムト秒のパルス持続時間、50〜250MHz、好ましくは約100MHzの繰り返し周波数、および750〜800nm、好ましくは約780nmの中心波長を有する一連のショートレーザパルスを含み得る。しかしながら、他の種類のテストビームが可能である。フォトレジストにおける架橋反応の開始のように、光開始剤のフルオレン基によるルミネセンス放射の放出の励起は、多光子プロセスのみによって可能であってもよく、これは、テスト露光中に得られた蛍光信号とリソグラフィプロセスにおいて予想されたフォトレジスト100の架橋の程度との間の強い相関の予想を可能にする。テストビームの焦点の近傍に放出されたルミネセンス放射は、約460から540nmに延在し、ひいては少なくとも1つの光学ショートパスフィルタ970によってテストビームの後方散乱光パワーから容易に分離さえ得る広範な光学スペクトルを有していた。
図11a)では、ファイバ平坦面021の近傍でのテストビームのパワーの補正は行われなかった。予想されるように、この場合、図6a)に係るシミュレーションによって予測されるように、ファイバ平坦面021に非常に近くでの増加を除いて、テストビームがファイバ平坦面021および部品キャリア015の表面にますます近づくにつれて、蛍光パワーが、テストビームの非平面初期構造010との相互作用により低下する。したがって、さらなる補正措置なしに行われるターゲット構造030のリソグラフィパターニングもまた、たとえば図11b)から明らかなように、特にターゲット構造030の下部においてフォトレジスト100の架橋が達成されないという、不十分な結果をもたらす。
測定された蛍光パワーの空間分布に基づいて、パターニングに必要な光パワーの補正がさらなるステップにおいて達成され得る。この目的のために、テストビームのパワーに対する補正係数により空間的に一定の蛍光パワーをまず達成する手順に従うことが可能であり、補正係数は焦点の位置に依存する。フォトレジスト100における架橋反応速度および放射される蛍光パワーが、同一の非線形関係によってリソグラフィビーム060のパワーまたはテストビームに依存するとすれば、フォトレジスト100の空間的に均一な架橋もまた、リソグラフィパワーの同じ空間補正の仕様を使用して達成され得る。例示的な本実施形態では、以下の補正係数による単純な乗算でパワーの位置依存補正を達成することが可能である。
Claims (18)
- 少なくとも1つのリソグラフィビーム(060)を用いてフォトレジスト(100)を露光することにより、非平面初期構造(010)上にターゲット構造(030)をリソグラフィ生成する方法であって、
a)非平面初期構造(010)の表面のトポグラフィ(020)を検出するステップ、
b)前記リソグラフィビーム(060)に対する少なくとも1つのテストパラメータを使用し、前記リソグラフィビーム(060)の前記非平面初期構造(010)との相互作用と、結果として生じる前記リソグラフィビーム(060)の変化または生成されるべき前記ターゲット構造(030)の変化のうちの少なくとも1つを決定するステップ、
c)前記リソグラフィビーム(060)の前記非平面初期構造(010)との相互作用によって生じる、前記リソグラフィビーム(060)または生成されるべき前記ターゲット構造(030)の変化のうちの少なくとも1つが減少するように、前記リソグラフィビーム(060)に対する少なくとも1つの補正パラメータを決定するステップ、および
d)前記リソグラフィビーム(060)に対する前記少なくとも1つの補正パラメータを使用して、前記少なくとも1つのリソグラフィビーム(060)によって前記フォトレジスト(100)を露光することにより、前記所望のターゲット構造(030)を前記非平面初期構造(010)上に生成するステップ、を含む方法。 - 方法のステップb)およびc)は、前記リソグラフィビーム(060)の前記非平面初期構造(010)との前記相互作用により生成される前記ターゲット構造(030)の前記変化が結果として次第に低減されるように反復的に実行される、請求項1記載の方法。
- 前記非平面初期構造(010)の前記表面の前記トポグラフィ(020)を検出することが、前記非平面初期構造(010)のモデルに既知のデータを用いて、または前記表面の前記トポグラフィ(020)を決定するように構成された測定方法またはカメラを用いて実行される、請求項1または2記載の方法。
- 前記リソグラフィビーム(060)の前記非平面初期構造(010)との相互作用と、ステップb)中に、結果として生じる前記リソグラフィビーム(060)の変化および/または生成されるべき前記ターゲット構造(030)とを決定することが、ルミネセンス放射(940)を検出することによって実行され、前記ルミネセンス放射(940)は、前記テストパラメータで設定された前記リソグラフィビーム(060)により生成される、請求項1〜3のいずれか1項に記載の方法。
- 前記ルミネセンス放射(940)のパワーが、前記フォトレジスト(100)における前記リソグラフィビーム(060)の焦点(065)での強度に非直線的に依存する、請求項4記載の方法。
- 前記リソグラフィビーム(060)に対する少なくとも1つの前記補正パラメータが、前記リソグラフィビーム(060)のうちの少なくとも1つの領域(070、071)の
− 光パワー
− 少なくとも1つの波長
− 描画速度
− 断面
− 振幅プロファイル
− 位相プロファイル、または
− 位置
のうちの少なくとも1つの調整を含む、請求項1〜5のいずれか1項に記載の方法。 - 前記リソグラフィビーム(060)に対する前記少なくとも1つの補正パラメータは、前記リソグラフィビーム(060)に通過される、ビーム成形ユニット(110)の調整を含み、それにより前記リソグラフィビーム(060)の振幅または位相分布のうちの少なくとも1つの調整が実行される、請求項1〜6のいずれか1項に記載の方法。
- 露光されるべき各体積要素(040)への個々の調整が少なくとも1つの第1補正パラメータに対して行われ、第2補正パラメータに対しては、選択されたグループ内の複数の堆積要素(040)に対して同じ値が維持されるように少なくとも2つの補正パラメータが変更される、請求項1〜7のいずれか1項に記載の方法。
- 前記非平面初期構造(010)が、前記リソグラフィビーム(060)と相互作用するエッジ(052)を有し、前記リソグラフィビーム(060)が前記エッジ(052)に接近するにつれて、前記リソグラフィビーム(060)の前記光パワーを増加させることによって、前記エッジ(052)の影響が少なくとも部分的に補償される、請求項1〜8のいずれか1項に記載の方法。
- 前記フォトレジスト(100)が、リソグラフィレンズに対する液浸媒体として同時に機能する液体から選択される、請求項1〜9のいずれか1項に記載の方法。
- 前記少なくとも1つの補正パラメータは、以下のサブステップ、
i)前記リソグラフィビーム(060)が、前記リソグラフィビーム(060)の前記非平面初期構造(010)との相互作用なしに体積要素(040)の中心点(041)に到達する、前記リソグラフィビーム(060)の第1領域(080)を決定するステップ、
ii)前記リソグラフィビーム(060)が、前記体積要素(040)の前記中心点(041)への経路で前記非平面初期構造(010)と相互作用する、前記リソグラフィビーム(060)の第2領域(071)を決定するステップ、および
iii)前記ビーム成形ユニット(110)の少なくとも1つの部分領域(111、112)の設定によって前記リソグラフィビーム(060)の前記第1領域(070)または前記第2領域(071)を修正するステップ
により決定される、請求項1〜10のいずれか1項に記載の方法。 - サブステップiii)が、前記ビーム成形ユニット(110)の第2部分領域(112)の設定により、前記リソグラフィビーム(060)の前記第2領域(071)を遮るステップと、前記リソグラフィビーム(060)の前記第1領域(070)の所望の強度分布が、前記体積要素(040)の前記中心点(041)の近傍において発生するように、前記ビーム成形ユニット(110)の第1部分領域(111)の設定を決定するステップと、を含む、請求項11記載の方法。
- 前記ターゲット構造(030)が、内側部分領域(037)および近表面部分領域(038)に分解され、前記リソグラフィビーム(060)に対する前記少なくとも1つの補正パラメータを決定することが、前記近表面部分領域および前記内側部分領域(037)に対して相互に異なる補正パラメータが決定されるように実行される、請求項1〜12のいずれか1項に記載の方法。
- 生成される前記ターゲット構造(030)が、その屈折光学素子、回折光学素子、光導波路またはこれらの組み合わせを含む群から選択される少なくとも1つの光学素子を有する、請求項1〜13のいずれか1項に記載の方法。
- 前記非平面初期構造(010)が、少なくとも1つの導光性コアを有する光ファイバ、端面放射型集積光チップ、半導体レーザーまたはこれらの組み合わせを含む群から選択される少なくとも1つの光学素子を有する、請求項1〜14のいずれか1項に記載の方法。
- 請求項1〜15のいずれか1項に記載の方法により、少なくとも1つのリソグラフィビーム(060)を用いてフォトレジスト(100)を露光させることによって非平面初期構造(010)上にターゲット構造(030)をリソグラフィ生成するための装置であって、
− フォトレジスト(100)内で、前記リソグラフィビーム(060)を発生させ、前記リソグラフィビーム(060)を位置決めするためのリソグラフィユニット(600)、
− 前記リソグラフィビーム(060)の振幅または位相分布のうちの少なくとも1つに影響を与えるように構成されたビーム成形ユニット(110)、および
− 前記リソグラフィユニット(600)と前記ビーム成形ユニット(110)を駆動するように構成されたデータ処理ユニット(610)であって、生成されるべき前記ターゲット構造(030)の構造データと、前記リソグラフィビーム(060)の前記非平面初期構造(010)との相互作用によって生じる前記リソグラフィビーム(060)の変化を補正するためのデータとを保存するようにさらに構成されたデータ処理ユニット(610)
を少なくとも備える、装置。 - − 前記非平面初期構造(010)の前記トポグラフィ(020)を検出するように構成された光学測定ユニット(900)、または
− 前記フォトレジスト(100)からのルミネセンス放射(940)を検出するように構成されたルミネセンス検出ユニット(960)
のうちの少なくとも1つをさらに備える請求項16記載の装置。 - 前記ビーム成形ユニット(110)は、次のユニット:
− 空間光変調器(SLM)
− 液晶ベースの変調器
− 音響−光学変調器(AOM)
− 電気光学変調器(EOM)
− 駆動可能なダイヤフラム、または
− マイクロミラーアレイ
のうちの少なくとも1つを含む、請求項16または17記載の装置。
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