JP2019522213A - 非接触式プローブおよび動作の方法 - Google Patents
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Abstract
Description
d=p−p0 (1)
D=s*d/f (2)
X=sin(A)/sin(B)*D (3)
Claims (24)
- 物体の上の関心のポイント、および、位置決め装置の上に装着されている非接触式プローブの光学検査システムを、所望の関係に置く方法であって、前記方法は、
a)前記非接触式プローブおよび前記物体を第1の相対的構成に配置することによって、検査されることとなる前記物体の上の関心のポイントを識別するステップであって、前記第1の相対的構成において、マーカーフィーチャーが、前記関心のポイントを識別しており、前記マーカーフィーチャーは、前記光学検査システムの光軸と同軸ではないプロジェクター軸線に沿って前記非接触式プローブによって投射される、ステップと、
b)その後に、前記非接触式プローブおよび/または物体を移動させ、それらを第2の相対的構成に置くようになっているステップであって、前記第2の相対的構成において、前記関心のポイントおよび前記光学検査システムは、前記所望の関係にあり、前記所望の関係においては、前記位置決め装置が、そのような運動をガイドするように構成されている、ステップと
を含む、方法。 - 前記位置決め装置は、ステップb)において、前記運動をガイドするように構成されており、前記第2の相対的構成において、前記プロジェクター軸線が、それが前記第1の相対的構成において前記物体の前記表面と交差したのと実質的に同じ位置において、前記物体の前記表面と交差するようになっている請求項1に記載の方法。
- 前記第1の構成と前記第2の構成との間の前記運動の間に、前記プロジェクター軸線は、それがステップa)において前記物体の前記表面と交差したのと実質的に同じポイントにおいて、前記物体の前記表面と交差する請求項2に記載の方法。
- 前記第1の構成と前記第2の構成との間の位置の変化は、前記第1の相対的構成における前記プロジェクターのプロジェクター軸線に対して平行な軸線に沿っている請求項1乃至3のいずれか一項に記載の方法。
- 前記非接触式プローブおよび物体は、前記第1の相対的構成における前記プロジェクターのプロジェクター軸線と平行な線に沿って、前記第1の構成と前記第2の構成との間で互いに対して移動する請求項1乃至4のいずれか一項に記載の方法。
- 前記ステップa)は、人が、随意的に、ジョイスティックを介して、前記物体および/または非接触式プローブの前記相対的構成を手動で操作することを含む請求項1乃至5のいずれか一項に記載の方法。
- 前記物体の上の前記マーカーフィーチャーは、人が見ることができる請求項1乃至6のいずれか一項に記載の方法。
- 前記ステップb)は、前記位置決め装置が前記非接触式プローブおよび/または物体を自動的に移動させ、前記光学検査システムおよび前記関心のポイントを前記第2の相対的構成に置くようになっていることを含む請求項1乃至7のいずれか一項に記載の方法。
- 前記光学検査システムおよび前記関心のポイントを前記第2の相対的構成に置くために必要とされる前記運動の程度を自動的に決定するステップを含む請求項1乃至8のいずれか一項に記載の方法。
- 前記運動の程度を自動的に決定するステップは、前記マーカーフィーチャーが前記第1の相対的構成において前記非接触式プローブのセンサーに当たる場所を決定するステップを含む請求項9に記載の方法。
- 前記所望の関係は、前記光学検査システムと前記関心のポイントとの間の事前定義された距離、および/または、前記光学検査システムのセンサーの上の前記関心のポイントの事前定義された場所を含む請求項1乃至10のいずれか一項に記載の方法。
- 前記光学検査システムは、カメラを含む請求項1乃至11のいずれか一項に記載の方法。
- 非接触式プローブは、前記物体の上へ光学パターンを投射するように構成されており、前記光学パターンは、前記光学検査システムによって検出可能であり、随意的に、光学検査システムは、前記光学パターンおよび前記マーカーフィーチャーを検出するように構成されている請求項1乃至12のいずれか一項に記載の方法。
- 前記光学パターンおよびマーカーフィーチャーは、互いから区別でき、それらが一緒にまたは個別に投射され得るようになっている請求項13に記載の方法。
- 前記方法は、前記非接触式プローブおよび前記物体の相対的移動を前記ステップa)におけるそれらの相対的な位置から前記所望の関係に向けてガイドするための制御経路を決定するステップを含み、前記ステップb)において、前記位置決め装置は、前記制御経路にしたがって、そのような運動をガイドするように構成されている請求項1乃至14のいずれか一項に記載の方法。
- 前記物体についての表面位置測定情報を取得するステップを含む請求項1乃至15のいずれか一項に記載の方法。
- 物体の上の関心のポイント、および、位置決め装置の上に装着されている非接触式プローブの光学検査システムを、所望の関係に置く方法であって、前記方法は、
ユーザーが前記非接触式プローブおよび物体を第1の相対的構成に手動で配置するステップであって、前記第1の相対的構成において、マーカーフィーチャーが、関心のポイントを識別しており、前記マーカーフィーチャーは、前記光学検査システムの光軸と同軸ではないプロジェクター軸線に沿って前記非接触式プローブによって投射される、ステップと、
その後に、前記位置決め装置が前記非接触式プローブおよび/または物体を自動的に移動させ、それらを第2の相対的構成に置くようになっているステップであって、前記第2の相対的構成において、前記関心のポイントおよび光学検査システムは、前記所望の関係にある、ステップと
を含む、方法。 - 物体の上の関心のポイント、および、位置決め装置の上に装着されている非接触式プローブの光学検査システムを、所望の関係に置く方法であって、前記方法は、
ユーザーが前記非接触式プローブおよび物体を第1の相対的構成に手動で配置するステップであって、前記第1の相対的構成において、マーカーフィーチャーが、関心のポイントを識別しており、前記マーカーフィーチャーは、前記光学検査システムの光軸と同軸ではないプロジェクター軸線に沿って前記非接触式プローブによって投射される、ステップと、
前記非接触式プローブおよび物体のその後の手動の相対的移動が制限されるように、前記位置決め装置を動作させ、前記非接触式プローブおよび前記物体の上の識別された前記関心のポイントを前記所望の関係に向けてガイドするようになっている、ステップと
を含む、方法。 - 前記その後の手動の相対的移動は、前記プロジェクター軸線に沿った運動に制限されている請求項18に記載の方法。
- インストラクションを含むコンピュータープログラムコードであって、前記インストラクションは、プロセッサーデバイスによって実行されるときに、前記プロセッサーデバイスが請求項1乃至19のいずれか一項に記載の方法を実行することを引き起こす、コンピュータープログラムコード。
- 請求項20に記載のコンピュータープログラムコードを保存するコンピューター可読媒体。
- 物体を検査するための装置であって、前記装置は、
位置決め装置と、
前記位置決め装置の上に装着されている非接触式プローブであって、前記非接触式プローブは、光軸を有する光学検査システム、および、前記光軸と同軸ではないプロジェクター軸線に沿ってマーカーフィーチャーを投射するように構成されているプロジェクターを含む、非接触式プローブと
を含み、
前記マーカーフィーチャーによって識別される前記物体の前記表面の上に示された関心のポイントに基づいて、前記装置は、前記位置決め装置を制御するように構成されており、前記非接触式プローブおよび/または物体の相対運動を相対的構成へガイドするようになっており、前記相対的構成において、示された前記関心のポイントおよび光学検査システムは、所望の関係にある、装置。 - 前記装置は、前記位置決め装置を制御するように構成されており、前記非接触式プローブおよび/または物体の相対運動を第1の相対的構成から第2の相対的構成へ経路に沿ってガイドするようになっており、前記第1の相対的構成において、前記マーカーフィーチャーは、識別された前記関心のポイントを識別し、前記第2の相対的構成において、識別された前記関心のポイントおよび光学検査システムは、前記所望の関係にある請求項22に記載の装置。
- 位置決め装置の上に装着されている非接触式プローブを含む検査装置であって、前記非接触式プローブは、光軸を有する光学検査システムと、前記光軸とは異なるプロジェクター軸線に沿ってマーカーフィーチャーを投射するように構成されているプロジェクターとを含み、前記装置は、前記マーカーフィーチャーによって識別される前記物体の前記表面の上に示された関心のポイントに基づいて、どのように前記非接触式プローブおよび物体を相対的構成へガイドするかということを決定するように構成されており、前記相対的構成において、前記光学検査システムおよび示された前記関心のポイントは、所望の関係にあり、また、前記相対的構成において、前記プロジェクター軸線は、前記マーカーフィーチャーが示された前記関心のポイントを識別したときに、それが前記物体の前記表面と交差したのと同じ位置において、前記物体の前記表面と交差する、検査装置。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022549181A (ja) * | 2019-09-18 | 2022-11-24 | ディーダブリュー・フリッツ・オートメーション・インコーポレイテッド | 非接触光学測定装置および交換可能光プローブ |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7362776B2 (ja) * | 2019-12-11 | 2023-10-17 | 株式会社京都製作所 | 部品供給装置および部品搬送システム |
EP3839418A1 (en) | 2019-12-18 | 2021-06-23 | Hexagon Technology Center GmbH | Optical sensor with overview camera |
US11481917B2 (en) * | 2020-10-21 | 2022-10-25 | Faro Technologies, Inc. | Compensation of three-dimensional measuring instrument having an autofocus camera |
US11763491B2 (en) * | 2020-10-21 | 2023-09-19 | Faro Technologies, Inc. | Compensation of three-dimensional measuring instrument having an autofocus camera |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000097636A (ja) * | 1998-08-07 | 2000-04-07 | Brown & Sharpe Dea Spa | 非接触3次元測定装置の測定ヘッドの位置決めのための装置及び方法 |
JP2015057612A (ja) * | 2007-08-17 | 2015-03-26 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company | 非接触測定を行う装置および方法 |
Family Cites Families (24)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4847687A (en) | 1988-04-18 | 1989-07-11 | General Electric Company | Video ranging system |
GB8908854D0 (en) | 1989-04-19 | 1989-06-07 | Renishaw Plc | Method of and apparatus for scanning the surface of a workpiece |
US5025665A (en) | 1989-06-01 | 1991-06-25 | Elsag International B.V. | Non-contacting on-line paper strength measuring system |
GB9705105D0 (en) | 1997-03-12 | 1997-04-30 | Brown & Sharpe Limited | Optical surface measurement apparatus and methods |
JP2001033306A (ja) | 1999-07-16 | 2001-02-09 | Seiko Precision Inc | 反射型光センサ |
JP3792679B2 (ja) | 2003-06-23 | 2006-07-05 | Necビューテクノロジー株式会社 | 投射面距離測定装置を有するプロジェクタ |
US7301133B2 (en) * | 2005-01-21 | 2007-11-27 | Photon Dynamics, Inc. | Tracking auto focus system |
US7299145B2 (en) * | 2005-08-16 | 2007-11-20 | Metris N.V. | Method for the automatic simultaneous synchronization, calibration and qualification of a non-contact probe |
US7652275B2 (en) * | 2006-07-28 | 2010-01-26 | Mitutoyo Corporation | Non-contact probe control interface |
DE102006049695A1 (de) | 2006-10-16 | 2008-04-24 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Vorrichtung und Verfahren zum berührungslosen Erfassen einer dreidimensionalen Kontur |
GB0707720D0 (en) | 2007-04-23 | 2007-05-30 | Renishaw Plc | Apparatus and method for controlling or programming a measurement routine |
GB0716218D0 (en) | 2007-08-20 | 2007-09-26 | Renishaw Plc | Measurement path generation |
CN101261118A (zh) | 2008-04-17 | 2008-09-10 | 天津大学 | 基于机器人的快速自动化三维形貌在线测量方法和系统 |
GB0915904D0 (en) | 2009-09-11 | 2009-10-14 | Renishaw Plc | Non-contact object inspection |
GB201013938D0 (en) * | 2010-08-20 | 2010-10-06 | Renishaw Plc | Method for recalibrating coordinate positioning apparatus |
CN103026211A (zh) * | 2010-07-16 | 2013-04-03 | 3M创新有限公司 | 高分辨率自动对焦检查系统 |
JP5218514B2 (ja) | 2010-09-30 | 2013-06-26 | オムロン株式会社 | 受光レンズの配置方法、および光学式変位センサ |
US8826719B2 (en) * | 2010-12-16 | 2014-09-09 | Hexagon Metrology, Inc. | Machine calibration artifact |
CN102445183B (zh) | 2011-10-09 | 2013-12-18 | 福建汇川数码技术科技有限公司 | 基于激光与摄像机平行实现的远程测距系统测距激光点的定位方法 |
JP2014130091A (ja) * | 2012-12-28 | 2014-07-10 | Canon Inc | 測定装置および測定方法 |
JP2016513257A (ja) * | 2013-02-25 | 2016-05-12 | ニコン メトロロジー エン ヴェー | 投影システム |
CN104165599B (zh) | 2014-08-20 | 2017-01-25 | 南京理工大学 | 偏摆工件非球面的非接触式测量系统与方法 |
GB201603496D0 (en) * | 2016-02-29 | 2016-04-13 | Renishaw Plc | Method and apparatus for calibrating a scanning probe |
DE202016006669U1 (de) * | 2016-10-26 | 2017-08-29 | Tesa Sa | Optischer Sensor mit variierbaren Messkanälen |
-
2017
- 2017-07-26 WO PCT/GB2017/052182 patent/WO2018020244A1/en unknown
- 2017-07-26 JP JP2019504757A patent/JP7090068B2/ja active Active
- 2017-07-26 CN CN201780045928.3A patent/CN109477714B/zh active Active
- 2017-07-26 US US16/316,995 patent/US11105607B2/en active Active
- 2017-07-26 EP EP17745484.0A patent/EP3491333B1/en active Active
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000097636A (ja) * | 1998-08-07 | 2000-04-07 | Brown & Sharpe Dea Spa | 非接触3次元測定装置の測定ヘッドの位置決めのための装置及び方法 |
JP2015057612A (ja) * | 2007-08-17 | 2015-03-26 | レニショウ パブリック リミテッド カンパニーRenishaw Public Limited Company | 非接触測定を行う装置および方法 |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2022549181A (ja) * | 2019-09-18 | 2022-11-24 | ディーダブリュー・フリッツ・オートメーション・インコーポレイテッド | 非接触光学測定装置および交換可能光プローブ |
JP7434535B2 (ja) | 2019-09-18 | 2024-02-20 | ディーダブリュー・フリッツ・オートメーション・インコーポレイテッド | 非接触光学測定装置および交換可能光プローブ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN109477714B (zh) | 2022-02-18 |
CN109477714A (zh) | 2019-03-15 |
EP3491333B1 (en) | 2022-03-30 |
EP3491333A1 (en) | 2019-06-05 |
WO2018020244A1 (en) | 2018-02-01 |
US11105607B2 (en) | 2021-08-31 |
JP7090068B2 (ja) | 2022-06-23 |
US20190154430A1 (en) | 2019-05-23 |
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