JP2019201071A - 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 - Google Patents
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Abstract
Description
51 照射量変調部
52 照射時間演算部
53 描画制御部
54 座標変換部
55 描画情報抽出部
56 温度情報出力部
100 描画装置
110 制御計算機
150 描画部
160 制御部
Claims (5)
- 描画位置及び該描画位置における照射量を含む描画データを一時的に格納する記憶部と、
基板の描画領域を複数の温度計算領域に分割し、温度計算領域毎に、描画順が前の温度計算領域からの伝熱に基づく該温度計算領域の基板温度を算出し、該基板温度に基づいて前記照射量を変調する照射量変調部と、
変調された照射量を含む描画データを用いて基板上に荷電粒子ビームを照射し、描画を行う描画部と、
指定されたレイアウト上の座標を、前記描画部による描画位置に変換する座標変換部と、
前記座標変換部により変換された描画位置にそれぞれ対応する、照射量の変調量及び前記基板温度を含む描画情報を抽出する描画情報抽出部と、
前記指定された座標に対応する前記描画情報を出力する温度情報出力部と、
を備える荷電粒子ビーム描画装置。 - 前記指定されたレイアウト上の座標が、複数の描画位置を含む場合、前記描画情報抽出部は、前記複数の描画位置にそれぞれ対応する照射量の変調量及び前記基板温度を含む描画情報を抽出し、
前記温度情報出力部は、抽出された描画情報の値の平均値を出力することを特徴とする請求項1に記載の荷電粒子ビーム描画装置。 - 前記描画データはショットデータであり、前記荷電粒子ビームはシングルビームである請求項1又は請求項2に記載の荷電粒子ビーム描画装置。
- 前記描画データはピクセルデータであり、前記荷電粒子ビームはマルチビームである請求項1又は請求項2に記載の荷電粒子ビーム描画装置。
- 描画位置及び該描画位置における照射量を含む描画データを記憶部に格納する工程と、
基板の描画領域を複数の温度計算領域に分割し、温度計算領域毎に、描画順が前の温度計算領域からの伝熱に基づく該温度計算領域の基板温度を算出し、該基板温度に基づいて前記照射量を変調する工程と、
変調された照射量を含む描画データを用いて基板上に荷電粒子ビームを照射し、描画処理を行う工程と、
指定されたレイアウト上の座標を、前記描画処理における描画位置に変換する工程、
前記変換された描画位置にそれぞれ対応する、照射量の変調量及び前記基板温度を含む描画情報を抽出する工程と、
前記指定された座標に対応する前記描画情報を出力する工程と、
を備える荷電粒子ビーム描画方法。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2023209825A1 (ja) * | 2022-04-26 | 2023-11-02 | 株式会社ニューフレアテクノロジー | マルチ荷電粒子ビーム描画装置、マルチ荷電粒子ビーム描画方法、及びプログラムを記録した読み取り可能な記録媒体 |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2008177604A (ja) * | 1998-06-30 | 2008-07-31 | Toshiba Corp | 電子線描画システムおよびその制御方法 |
JP2012069675A (ja) * | 2010-09-22 | 2012-04-05 | Nuflare Technology Inc | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 |
JP2016058564A (ja) * | 2014-09-10 | 2016-04-21 | 凸版印刷株式会社 | 近接効果補正方法、及びそれを用いた近接効果補正用プログラム及び近接効果補正装置 |
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2018
- 2018-05-15 JP JP2018093885A patent/JP7095395B2/ja active Active
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