JP2019198724A - 眼科装置 - Google Patents

Abstract

【課題】他覚的により正確に測定した結果に基づいて被検眼の測定モードを選択することが可能な眼科装置を提供する。【解決手段】眼科装置は、干渉光学系と、第１光スキャナと、第２光スキャナと、制御部とを含む。干渉光学系は、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、測定光を被検眼に照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出する。第１光スキャナは、被検眼と干渉光学系との間において被検眼の瞳孔と光学的に略共役な位置に配置される。第２光スキャナは、被検眼と干渉光学系との間において被検眼の眼底と光学的に略共役な位置に配置される。制御部は、少なくとも第１光スキャナ及び第２光スキャナを制御する。【選択図】図１

Description

この発明は、眼科装置に関する。

白内障は、レンズの役目を担う水晶体が混濁することにより徐々に視力が低下していく眼疾患である。白内障が進行した被検眼に対しては、一般的に、白内障手術が行われる。例えば、白内障手術では、混濁した水晶体を取り除き、代わりに眼内レンズ（Ｉｎｔｒａｏｃｕｌａｒ Ｌｅｎｓ：以下、ＩＯＬ）が挿入される。

このような白内障の検査として、グレア検査が知られている。グレア検査は、グレア光源を用いる自覚検査である。当該検査の実施により実生活への影響度を把握することが可能になるため、グレア検査は、白内障手術の時期の決定に有効な検査となり得る。

一方、グレア検査は、被検者の応答を要する検査であるため検査時間が長くなる。また、グレア検査は、グレア光を被検眼に入射するため被検者にとって負担がかかる。従って、例えば、被検眼が白内障眼であるか否かを他覚的に検査し、必要な場合にだけグレア検査を実施することにより無駄な検査を省き、被検者の負担を最小限に抑えることが望ましい。

特許文献１には、レフラクトメータにより取得された像の状態などから被検眼が白内障眼であるか否かを他覚的に検査する手法が開示されている。

特開２０１２−１３５５２８号公報

しかしながら、レフラクトメータは瞳孔における既定の輪帯を透過する光束だけを撮影するものであるため、輪帯以外の領域（例えば、水晶体中央部や外周部）の混濁を検出することは困難である。また、一般的に、小瞳孔の被検眼でも測定が可能になるように輪帯径が小さく設定されているため、比較的初期に外周部に生じる混濁を検出することは難しい。

更に、瞳孔から眼底に光束を入射し、眼底での反射光を光源として水晶体の混濁状態を観察するための徹照像を撮影することにより白内障の判定を行うものもあるが、角膜表面や対物レンズの反射光により水晶体全域にわたる混濁状態を確認することは困難である。このように、従来の手法では、被検眼が白内障眼であるか否かを他覚的に正確に検査することが困難である。

また、前述のグレア検査だけではなく、測定時間が長く、被検者に負担がかかる測定（検査）前に被検眼を他覚的に正確に測定し、必要な場合だけ当該測定を実施することで、無駄な測定を省き、被検者の負担を最小限に抑えることが望ましい。

本発明は、このような問題を解決するためになされたものであり、その目的は、より正確に他覚的に測定した結果に基づいて被検眼の測定モードを選択することが可能な眼科装置を提供することにある。

実施形態に係る眼科装置は、干渉光学系と、第１光スキャナと、第２光スキャナと、制御部とを含む。干渉光学系は、光源からの光を参照光と測定光とに分割し、測定光を被検眼に照射し、その戻り光と参照光との干渉光を生成し、生成された干渉光を検出する。第１光スキャナは、被検眼と干渉光学系との間において被検眼の瞳孔と光学的に略共役な位置に配置される。第２光スキャナは、被検眼と干渉光学系との間において被検眼の眼底と光学的に略共役な位置に配置される。制御部は、少なくとも第１光スキャナ及び第２光スキャナを制御する。

実施形態によれば、より正確に他覚的に測定した結果に基づいて被検眼の測定モードを選択することが可能な眼科装置を提供することができる。

実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の構成例を示す概略図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の動作説明図である。 実施形態に係る眼科装置の動作例を示すフロー図である。

この発明に係る眼科装置の実施形態の例について、図面を参照しながら詳細に説明する。なお、この明細書において引用された文献の記載内容や任意の公知技術を、以下の実施形態に援用することが可能である。

実施形態に係る眼科装置は、他覚測定と自覚検査とを実行可能である。他覚測定は、被検者からの応答を参照することなく、主に物理的な手法を用いて被検眼に関する情報を取得する測定手法である。他覚測定には、被検眼の特性を取得するための測定と、被検眼の画像を取得するための撮影とが含まれる。他覚測定には、他覚屈折測定、角膜形状測定、眼圧測定、眼底撮影、光干渉計測等がある。

一方、自覚検査は、被検者からの応答を利用して情報を取得する測定手法である。自覚検査には、遠用検査、近用検査、コントラスト検査、グレア検査等の自覚屈折測定や、視野検査などがある。

実施形態に係る眼科装置は、任意の自覚検査及び任意の他覚測定の少なくとも一方を実行可能である。光干渉計測は、眼軸長、角膜厚、前房深度、水晶体厚など、被検眼の構造を表す眼球情報を取得するために用いられる。また、被検眼の画像や解析データを取得するために光干渉計測を利用することもできる。

＜構成＞
図１及び図２に、実施形態に係る眼科装置の構成例を示す。眼科装置１０００は、被検眼Ｅの検査を行うための光学系として、Ｚアライメント系１、ＸＹアライメント系２、ケラト測定系３、視標投影系４、観察系５、レフ測定投影系６、レフ測定受光系７、及び眼内距離測定系８を含む。また、眼科装置１０００は処理部９を含む。

（処理部９）
処理部９は、眼科装置１０００の各部を制御する。また、処理部９は、各種演算処理を実行可能である。処理部９はプロセッサを含む。プロセッサの機能は、例えば、ＣＰＵ（Ｃｅｎｔｒａｌ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＧＰＵ（Ｇｒａｐｈｉｃｓ Ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ Ｕｎｉｔ）、ＡＳＩＣ（Ａｐｐｌｉｃａｔｉｏｎ Ｓｐｅｃｉｆｉｃ Ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ Ｃｉｒｃｕｉｔ）、プログラマブル論理デバイス（例えば、ＳＰＬＤ（Ｓｉｍｐｌｅ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＣＰＬＤ（Ｃｏｍｐｌｅｘ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｌｏｇｉｃ Ｄｅｖｉｃｅ）、ＦＰＧＡ（Ｆｉｅｌｄ Ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ Ｇａｔｅ Ａｒｒａｙ））等の回路により実現される。処理部９は、例えば、記憶回路や記憶装置に格納されているプログラムを読み出し実行することで、実施形態に係る機能を実現する。

（観察系５）
観察系５は、被検眼Ｅの前眼部を動画撮影する。被検眼Ｅの前眼部からの光（赤外光）は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２及び５３を透過し、絞り５４の開口を通過する。絞り５４の開口を通過した光は、ハーフミラー５５を透過し、リレーレンズ５６及び５７を通過し、結像レンズ５８により撮像素子５９（エリアセンサ）の撮像面に結像される。撮像素子５９は、所定のレートで撮像及び信号出力を行う。撮像素子５９の出力（映像信号）は処理部９に入力される。処理部９は、この映像信号に基づく前眼部像Ｅ’を表示部１０の表示画面１０ａに表示させる。前眼部像Ｅ’は、例えば赤外動画像である。観察系５は、前眼部を照明するための照明光源を含んでいてもよい。

（Ｚアライメント系１）
Ｚアライメント系１は、観察系５の光軸方向（前後方向、Ｚ方向）におけるアライメントを行うための光（赤外光）を被検眼Ｅに照射する。Ｚアライメント光源１１から出力された光は、被検眼Ｅの角膜Ｋに照射され、角膜Ｋにより反射され、結像レンズ１２によりラインセンサ１３に結像される。角膜頂点の位置が前後方向に変化すると、ラインセンサ１３に対する光の投影位置が変化する。処理部９は、ラインセンサ１３に対する光の投影位置に基づいて被検眼Ｅの角膜頂点の位置を求め、これに基づきＺアライメントを実行する。

（ＸＹアライメント系２）
ＸＹアライメント系２は、観察系５の光軸に直交する方向（左右方向（Ｘ方向）、上下方向（Ｙ方向））のアライメントを行うための光（赤外光）を被検眼Ｅに照射する。ＸＹアライメント系２は、ハーフミラー５５により観察系５から分岐された光路に設けられたＸＹアライメント光源２１を含む。ＸＹアライメント光源２１から出力された光は、ハーフミラー５５により反射され、観察系５を通じて被検眼Ｅに照射される。その角膜Ｋによる反射光は、観察系５を通じて撮像素子５９に導かれる。

この反射光の像（輝点像）は前眼部像Ｅ’に含まれる。処理部９は、図１に示すように、輝点像Ｂｒを含む前眼部像Ｅ’とアライメントマークＡＬとを表示画面１０ａに表示させる。手動でＸＹアライメントを行う場合、ユーザは、アライメントマークＡＬ内に輝点像Ｂｒを誘導するように光学系の移動操作を行う。自動でアライメントを行う場合、処理部９は、アライメントマークＡＬに対する輝点像Ｂｒの変位がキャンセルされるように、光学系を移動させるための機構を制御する。

（ケラト測定系３）
ケラト測定系３は、角膜Ｋの形状を測定するためのリング状光束（赤外光）を角膜Ｋに投影する。ケラト板３１は、対物レンズ５１と被検眼Ｅとの間に配置されている。ケラト板３１の背面側（対物レンズ５１側）にはケラトリング光源３２が設けられている。ケラトリング光源３２からの光でケラト板３１を照明することにより、角膜Ｋにリング状光束が投影される。その反射光（ケラトリング像）は撮像素子５９により前眼部像とともに検出される。処理部９は、このケラトリング像を基に公知の演算を行うことで角膜形状パラメータを算出する。

（視標投影系４）
視標投影系４は、固視標や自覚検査用視標等の各種視標を被検眼Ｅに呈示する。視標投影系４は、前述の視標とともにグレア光を被検眼Ｅに投影するためのグレア検査光学系を含む。グレア検査光学系の光路は、ハーフミラー４６により視標投影系４の光路に結合される。

光源４１から出力された光（可視光）は視標チャート４２に照射される。視標チャート４２は、例えば透過型の液晶パネルを含み、視標を表すパターンを表示する。視標チャート４２を透過した光は、ハーフミラー４６を透過し、結像レンズ４３及びＶＣＣレンズ４４を通過し、反射ミラー４５により反射され、ダイクロイックミラー５３により反射され、ダイクロイックミラー５２を透過し、対物レンズ５１を通過して眼底Ｅｆに投影される。

グレア光源４７は、白色ＬＥＤ（Ｌｉｇｈｔ Ｅｍｉｔｔｉｎｇ Ｄｉｏｄｅ）等の１以上の可視光源を含む。グレア光源４７から出力されたグレア光は、ハーフミラー４６により反射され、光源４１から出力された光と同様の経路で被検眼Ｅに照射される。それにより、視標投影系４により各種の視標が投影された被検眼Ｅに対してグレア光を照射することができる。光源４１、視標チャート４２、ハーフミラー４６及びグレア光源４７は、一体となって視標投影系４の光軸方向に移動可能である。

自覚検査を行う場合、処理部９は、他覚測定の結果に基づき視標チャート４２、光源４１及びＶＣＣレンズ４４を制御する。処理部９は、検者又は処理部９により選択された視標を視標チャート４２に表示させる。それにより、当該視標が被検者に呈示される。被検者は視標に対する応答を行う。応答内容の入力を受けて、処理部９は、更なる制御や、自覚検査値の算出を行う。例えば、視力測定において、処理部９は、ランドルト環等に対する応答に基づいて、次の視標を選択して呈示し、これを繰り返し行うことで視力値を決定する。

グレア検査を行う場合、処理部９は、光源４１及び視標チャート４２による視標とともにグレア光源４７からのグレア光を被検眼Ｅに投影させる。被検者はグレア光が照射された状態で視標に対する応答を行う。応答内容の入力を受けて、処理部９は、更なる制御や、自覚検査値の算出を行う。例えば、処理部９は、被検者の応答に基づいて、次の視標を選択して呈示し、これを繰り返し行う。それにより、どの程度まで視標の判別が可能かが検査される。

（レフ測定投影系６及びレフ測定受光系７）
レフ測定投影系６及びレフ測定受光系７は他覚屈折測定（レフ測定）に用いられる。レフ測定投影系６は、他覚測定用のリング状光束（赤外光）を眼底Ｅｆに投影する。レフ測定受光系７は、このリング状光束の被検眼Ｅからの戻り光を受光する。

レフ測定光源６１は光軸方向に移動可能であり、眼底Ｅｆと光学的に共役な位置に配置される。レフ測定光源６１から出力された光は、コンデンサレンズ６２を通過し、反射ミラー６３により反射され、円錐プリズム６４Ａ及びリレーレンズ６４Ｂを透過し、リング絞り６４Ｃのリング状透光部を通過してリング状光束となる。リング絞り６４Ｃにより形成されたリング状光束は、孔開きプリズム６５の反射面により反射され、ロータリープリズム６６を通過し、クイックリターンミラー６７に導かれる。

ロータリープリズム６６は、眼底Ｅｆの血管や疾患部位に対するリング状光束の光量分布を平均化させるために用いられる。また、クイックリターンミラー６７は、他覚屈折測定と眼内距離測定との切り替えに用いられる。他覚屈折測定を行う場合、クイックリターンミラー６７の反射面は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路（分岐光路）に配置される。それにより、レフ測定投影系６の光路及びレフ測定受光系７の光路の双方が観察系５の光路に結合される。一方、眼内距離測定を行う場合、クイックリターンミラー６７は、この分岐光路から退避される。それにより、眼内距離測定系８の光路が観察系５の光路に結合される。

他覚屈折測定では、ロータリープリズム６６を通過したリング状光束は、クイックリターンミラー６７により反射され、ダイクロイックミラー５２に反射され、対物レンズ５１を通過して眼底Ｅｆに投影される。

眼底Ｅｆに投影されたリング状光束の戻り光は、対物レンズ５１を通過し、ダイクロイックミラー５２及びクイックリターンミラー６７により反射される。クイックリターンミラー６７により反射された戻り光は、ロータリープリズム６６を通過し、孔開きプリズム６５の穴部を通過し、リレーレンズ７１及び合焦レンズ７２を透過し、結像レンズ７３により撮像素子７４の撮像面に結像される。撮像素子７４の出力は処理部９に入力される。処理部９は、撮像素子７４からの出力を基に公知の演算を行うことで被検眼Ｅの球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを算出する。

処理部９は、算出された屈折値に基づいて、レフ測定光源６１と眼底Ｅｆと撮像素子７４とが共役となる位置に、レフ測定光源６１と合焦レンズ７２とをそれぞれ光軸方向に移動させる。更に、処理部９は、合焦レンズ７２及びレフ測定光源６１の移動に連動して眼内距離測定系８の合焦レンズ８５（合焦レンズ８５を含む光スキャナ８７ｂ）をその光軸方向に移動させる。処理部９は、レフ測定光源６１、合焦レンズ７２及び合焦レンズ８５（光スキャナ８７ｂ）、光源４１及び視標チャート４２を一体的に移動させることも可能である。

（眼内距離測定系８）
眼内距離測定系８は、眼球情報としての眼内距離を取得するための光干渉計測を行う。光干渉計測が行われるとき、クイックリターンミラー６７が上記分岐光路から退避される。また、光干渉計測よりも前にレフ測定が実施され、光ファイバ８０ａの端面が眼底Ｅｆと共役となるように合焦レンズ８５の位置が調整される。

図２に示すように、干渉計ユニット８０において、干渉計光源８１から出力された光（赤外光、広帯域光）Ｌ０は、光ファイバ８０ｂを通じて導かれたファイバカプラ８２により測定光ＬＳと参照光ＬＲとに分割される。測定光ＬＳは、光ファイバ８０ａを通じてコリメータレンズ８４に導かれる。一方、参照光ＬＲは、光ファイバ８０ｃを通じて参照光路長変更ユニット９０に導かれる。

参照光路長変更ユニット９０は、参照光ＬＲの光路長を変更する。参照光路長変更ユニット９０に導かれた参照光ＬＲは、コリメータレンズ９１により平行光束とされてビームスプリッタ９２に入射する。ビームスプリッタ９２は、５０：５０の分割比で参照光ＬＲを２つの光束（網膜・前房深度用光束、角膜用光束）に分割する。なお、ビームスプリッタ９２の分割比は必ずしも等分割でなくてもよく、光学系の構成などに応じた分割比であってよい。

ビームスプリッタ９２の透過方向には網膜・前房深度用シャッター９３と網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４とが設けられ、反射方向には角膜用シャッター９５と角膜用参照ミラーユニット９６とが設けられている。網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４は、結像レンズ９４Ａと網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂとを含む。角膜用参照ミラーユニット９６は、結像レンズ９６Ａと角膜用参照ミラー９６Ｂとを含む。

網膜・前房深度用シャッター９３は、ビームスプリッタ９２と網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂとの間の網膜・前房深度用光束の光路（網膜・前房深度用参照光路）に対して挿脱可能である。角膜用シャッター９５は、ビームスプリッタ９２と角膜用参照ミラー９６Ｂとの間の角膜用光束の光路（角膜用参照光路）に対して挿脱可能である。網膜・前房深度用シャッター９３が光路から退避されている場合、網膜・前房深度用光束は、結像レンズ９４Ａにより網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂの反射面に結像され、網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂにより反射され、結像レンズ９４Ａを通過してビームスプリッタ９２に戻る。角膜用シャッター９５が光路から退避されている場合、角膜用光束は結像レンズ９６Ａにより角膜用参照ミラー９６Ｂの反射面に結像され、角膜用参照ミラー９６Ｂにより反射され、結像レンズ９６Ａを通過してビームスプリッタ９２に戻る。

一方、干渉計ユニット８０から出力された測定光ＬＳは、コリメータレンズ８４により平行光束とされる。平行光束とされた測定光ＬＳの光路に対して、水晶体レンズ８９が挿脱される。当該光路に水晶体レンズ８９が挿入されている場合、平行光束とされた測定光ＬＳは、光スキャナ８７ｃ及び８７ｂによりそれぞれ偏向され、リレーレンズ８６及び水晶体レンズ８９を通過し、ミラー８７ａにより偏向される。当該光路から水晶体レンズ８９が退避されている場合、平行光束とされた測定光ＬＳは、光スキャナ８７ｃ及び８７ｂｂによりそれぞれ偏向され、リレーレンズ８６を通過し、ミラー８７ａにより偏向される。

ミラー８７ａにより偏向された測定光ＬＳは、瞳レンズ８８を通過し、ダイクロイックミラー５２により反射され、対物レンズ５１を通過して被検眼Ｅに照射される。被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光は、対物レンズ５１を通過し、往路と同じ経路を通じて干渉計ユニット８０に導かれる。

光スキャナ８７ｃは、被検眼Ｅの瞳孔と光学的に共役な位置に配置された偏向ユニットである。光スキャナ８７ｃは、被検眼Ｅの眼底Ｅｆのスキャンに用いられる。光スキャナ８７ｃは、例えば１以上のガルバノミラーを含み、処理部９による制御を受けて測定光ＬＳの偏向方向を変化させる。図１では、光スキャナ８７ｃは、互いに直交する方向に回動可能なミラー８７４、８７３を含み、例えば、測定光ＬＳの光路におけるミラー８７４、８７３の間の中間位置が被検眼Ｅの瞳孔と光学的に共役な位置となるように配置されている。

光スキャナ８７ｂは、被検眼Ｅの眼底Ｅｆと光学的に共役な位置に配置された偏向ユニットである。光スキャナ８７ｂは、被検眼Ｅの水晶体のスキャン（瞳孔内スキャン）に用いられる。光スキャナ８７ｂは、例えば１以上のガルバノミラーを含み、処理部９による制御を受けて測定光ＬＳの偏向方向を変化させる。図１では、光スキャナ８７ｂは、互いに直交する方向に回動可能なミラー８７２、８７１と、合焦レンズ８５とを含み、例えば、測定光ＬＳの光路におけるミラー８７２、８７１の間の中間位置が被検眼Ｅの眼底Ｅｆと光学的に共役な位置となるように配置されている。光スキャナ８７ｂは、眼内距離測定系８の光軸方向に移動可能である。例えば、眼内距離測定系８は、光スキャナ８７ｂを光軸方向に移動させる移動機構を含み、処理部９からの制御を受けた駆動部が当該移動機構を駆動する。

ファイバカプラ８２は、参照光路長変更ユニット９０を経由した参照光と、測定光ＬＳの戻り光とを干渉させる。それにより生成された干渉光ＬＣは、光ファイバ８０ｄにより分光器８３に導かれる。分光器８３は、干渉光ＬＣを空間的に波長分離し、これら波長成分をラインセンサで検出する。処理部９は、分光器８３から出力された信号にＦＦＴ（Ｆａｓｔ Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｔｒａｎｓｆｏｒｍ）等の公知の信号処理を施すことにより、深さ方向の情報を取り出す。

本例ではスペクトラルドメインＯＣＴ（Ｏｐｃｉｔｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）が適用されているが、他のタイプのＯＣＴを適用することも可能である。例えばスウェプトソースＯＣＴが適用される場合、低コヒーレンス光源（干渉計光源８１）の代わりに波長掃引光源（波長可変光源）が設けられ、且つ、分光器８３の代わりにバランスドフォトダイオード等の光検出器が設けられる。

処理部９は、深さ方向の所定位置に干渉信号が配置されるように、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４と角膜用参照ミラーユニット９６とを移動させることが可能である。ＦＦＴにより得られる干渉信号の強度の深さ方向における変化の例を図３に示す。点線で示す干渉信号ＳＣ０が得られた状態において、図４に示すように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４をビームスプリッタ９２に近接させることにより、図３に示す所定範囲内に干渉信号ＳＣ０（網膜に相当）を移動させることができる。つまり、結像レンズ９４Ａ及び網膜・前房深度用参照ミラー９４Ｂを点線で示す位置から実線で示す位置に移動させることにより、所望の範囲内に干渉信号ＳＣ０を移動させることができる。

Ｚアライメント系１を用いて検出される角膜頂点の位置を利用することで、被検眼Ｅに対する対物レンズ５１の距離（作動距離）を一定に保つことができる。ここで、角膜用シャッター９５が光路から退避されると、角膜Ｋに相当する干渉信号も分光器８３により同時に検出される。角膜用参照ミラー９６Ｂは、網膜に相当する干渉信号ＳＣ１に重ならないように、角膜Ｋから所定距離ｄだけ離れた位置に配置される（図５）。これにより、図６に示すように、網膜に相当する干渉信号ＳＣ１と角膜に相当する干渉信号ＳＣ２の双方を、深さ方向における計測範囲Ｒにおいて同時に取得できる。

図６に示すように計測範囲Ｒにおいて信号感度ＳＣが変化する場合、比較的信号が弱い干渉信号ＳＣ１を比較的高感度の計測範囲Ｒ１で検出し、比較的信号が強い干渉信号ＳＣ２を比較的低感度の計測範囲Ｒ２で検出することができる。それにより、双方の干渉信号の検出精度が向上される。

この実施形態では、被検眼Ｅの眼内距離を測定するとき、処理部９は、角膜用参照ミラーユニット９６を固定した状態で網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させる。それにより、基準部位としての角膜頂点を基準に被検眼Ｅの各種の眼内距離を測定することが可能になる。図５に示すように、眼軸長を測定する場合、網膜に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させて角膜頂点と眼底（網膜）との距離Ｄ１を求める。前房深度を測定する場合、水晶体前面に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させて角膜頂点と水晶体前面との距離Ｄ２を求める。水晶体厚を測定する場合、水晶体後面に相当する干渉信号を検出できるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動させて角膜頂点と水晶体後面との距離（Ｄ２＋Ｄ３）を求め、距離（Ｄ２＋Ｄ３）から前述の距離Ｄ２を差し引いて距離Ｄ３を求める。角膜厚を測定する場合、角膜後面に相当する干渉信号を検出して角膜頂点と角膜後面との距離を求める。

（情報処理系の構成）
眼科装置１０００の情報処理系について説明する。眼科装置１０００の情報処理系の機能的構成の例を図７及び図８に示す。図７は、眼科装置１０００の情報処理系の機能ブロック図の一例を表したものである。図８は、図７の演算処理部１２０の機能ブロック図の一例を表したものである。処理部９は、制御部１１０と演算処理部１２０とを含む。また、眼科装置１０００は、表示部１７０と、操作部１８０と、通信部１９０とを含む。

（制御部１１０）
制御部１１０は、プロセッサを含み、眼科装置１０００の各部を制御する。制御部１１０は、主制御部１１１と、記憶部１１２とを含む。

主制御部１１１は、後述の解析部１３０による解析結果に基づいて、あらかじめ決められた複数の測定モードのいずれかを選択し、選択された測定モードに応じて眼科装置１０００の各部を測定制御部として制御する。主制御部１１１が選択可能な複数の測定モードには、少なくともグレア検査が実行される白内障モードと、グレア検査が実行されない通常モードとが含まれる。具体的には、主制御部１１１は、解析部１３０による解析結果が上記の所定条件を満たすとき被検眼Ｅが白内障眼である可能性があると判定し、白内障モードを選択する。

主制御部１１１は、測定制御部として眼科装置１０００の各種制御を行う。主制御部１１１は、Ｚアライメント系１のＺアライメント光源１１やラインセンサ１３、ＸＹアライメント系２のＸＹアライメント光源２１、ケラト測定系３のケラトリング光源３２を制御する。それにより、Ｚアライメント光源１１やＸＹアライメント光源２１やケラトリング光源３２から出力される光の光量が変更されたり、点灯や非点灯が切り替えられたりする。また、ラインセンサ１３により検出された信号が取り込まれ、取り込まれた信号に基づくアライメント制御等が行われる。

主制御部１１１は、視標投影系４の光源４１、視標チャート４２、ＶＣＣレンズ４４、及びグレア光源４７を制御する。それにより、光源４１やグレア光源４７から出力される光の光量が変更されたり、点灯や非点灯が切り替えられたりする。また、視標チャート４２における視標や固視標の表示のオン・オフや、視標や固視標が切り替えられる。例えば、図１０に示すように、視標Ｔ１に対して水平方向に所定距離だけ離れた位置でグレア光Ｇ１、Ｇ２が発光される。光源４１、視標チャート４２及びグレア光源４７は、光軸方向の位置が変更される。更に、ＶＣＣレンズ４４により被検眼Ｅの乱視状態が矯正されたりする。

主制御部１１１は、観察系５の撮像素子５９を制御する。それにより、撮像素子５９により取得された信号が取り込まれ、演算処理部１２０により画像の形成等が行われたりする。なお、観察系５が照明光源を含んで構成されている場合、主制御部１１１は照明光源を制御することが可能である。

主制御部１１１は、レフ測定投影系６のレフ測定光源６１、ロータリープリズム６６、クイックリターンミラー６７を制御する。それにより、レフ測定光源６１がレフ測定投影系６の光軸に沿って移動されたり、レフ測定光源６１から出力される光の光量が変更されたり、点灯や非点灯が切り替えられたりする。また、ロータリープリズム６６が回転されたり、クイックリターンミラー６７により光路が切り替えられたりする。

主制御部１１１は、レフ測定受光系７の合焦レンズ７２や撮像素子７４を制御する。それにより、合焦レンズ７２の光軸方向の位置が変更されたり、撮像素子７４により取得された信号が取り込まれ、演算処理部１２０により画像の形成等が行われたりする。

主制御部１１１は、レフ測定光源６１から出力される光の光量、撮像素子７４の検出感度、露光時間、及び撮像素子７４により検出された光に基づく像の重ね合わせ枚数のうち少なくとも１つを変更することが可能である。それにより、レフ測定投影系６及びレフ測定受光系７の測定条件が変更される。

主制御部１１１は、干渉計光源８１、分光器８３、合焦レンズ８５、光スキャナ８７ｂ及び８７ｃ、水晶体レンズ８９、網膜・前房深度用シャッター９３、角膜用シャッター９５、網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４、及び角膜用参照ミラーユニット９６を制御する。それにより、干渉計光源８１から出力される光の光量が変更されたり、点灯や非点灯が切り替えられたり、分光器８３により取得された信号が取り込まれ、演算処理部１２０により画像の形成等が行われたり、合焦レンズ８５の光軸方向の位置が変更されたりする。また、被検眼Ｅに対する測定光ＬＳの入射位置が変更されたり、参照ミラーの位置が変更されたりする。主制御部１１１は、合焦レンズ８５をレフ測定光源６１及び合焦レンズ７２に連動して眼内距離測定系８の光軸に沿って移動させてもよい。また、主制御部１１１は、更に合焦レンズ８５に連動して光源４１及び視標チャート４２を光軸に沿って移動させてもよい。主制御部１１１は、合焦レンズ８５を光スキャナ８７ｂと独立に光軸方向に移動させてもよいし、合焦レンズ８５と光スキャナ８７ｂとを一体的に光軸方向に移動させてもよい。

主制御部１１１は、光スキャナ８７ｂ及び８７ｃを排他的に制御する。それにより、被検眼Ｅの眼底Ｅｆの所望の部位に向けて偏向された測定光で水晶体をスキャンし、被検眼Ｅにおける複数の位置の情報を取得することが可能になる。また、主制御部１１１は、光スキャナ８７ｂ及び８７ｃを並列に制御することも可能である。

主制御部１１１は、干渉計光源８１から出力される光の光量、分光器８３の検出感度、露光時間及び分光器８３により検出された光に基づく像の重ね合わせ枚数のうち少なくとも１つを変更することが可能である。それにより、眼内距離測定系８の測定条件が変更される。

水晶体レンズ８９は、測定対象に対応して設けられた「合焦調整範囲変更手段」の一例である。「合焦調整範囲変更手段」は、測定対象に対して高精度な合焦を行うために測定対象近傍に合焦レンズによる合焦調整範囲を移動させる。具体的には、合焦レンズ８５（光スキャナ８７ｂ）の移動だけでは移動量が足りず、眼内距離測定系８の焦点を水晶体前面や水晶体後面に合わせることができない。そこで、水晶体前面や水晶体後面等の水晶体に関する眼内距離を測定する場合に、主制御部１１１は、測定光ＬＳの光路に水晶体レンズ８９を挿入させる。それにより、合焦レンズ８５の合焦調整範囲を水晶体近傍に移動させることができ、水晶体前面や水晶体後面に合焦させた状態で水晶体に関する眼内距離を高精度に測定することが可能になる。

また、主制御部１１１は、記憶部１１２にデータを書き込む処理や、記憶部１１２からデータを読み出す処理を行う。

記憶部１１２は、各種のデータを記憶する。記憶部１１２に記憶されるデータとしては、例えば、光干渉計測結果、光干渉計測により取得された画像データ、眼底像の画像データ、被検眼情報などがある。被検眼情報は、患者ＩＤや氏名などの被検者に関する情報や、左眼／右眼の識別情報などの被検眼に関する情報を含む。測定情報は、眼科装置１０００の内部又は外部にて被検眼Ｅの眼屈折力測定が行われたときに記憶部１１２に記憶される。また、記憶部１１２には、眼科装置１０００を動作させるための各種プログラムやデータが記憶されている。

（演算処理部１２０）
演算処理部１２０は、例えば、干渉光の検出結果の解析、眼屈折力の算出、眼内距離（眼軸長、前房深度、水晶体厚、角膜厚等）の算出、ＩＯＬ度数の算出、光干渉計測画像（ＯＣＴ画像）の生成、光干渉計測画像の解析など、各種の演算を実行する。演算処理部１２０は、解析部１３０と、眼屈折力算出部１２１と、眼内距離算出部１２２と、ＩＯＬ度数算出部１２３とを含む。眼内距離算出部１２２は、眼軸長算出部１２２Ａと、前房深度算出部１２２Ｂと、水晶体厚算出部１２２Ｃと、角膜厚算出部１２２Ｄとを含む。

解析部１３０は、眼内距離測定系８により検出された干渉光に基づく干渉信号の強度又はその分布を解析する。白内障眼では、被検眼Ｅの瞳孔に入射した測定光の眼底Ｅｆからの戻り光と参照光との干渉光に基づく信号強度又はその分布が変化する。解析部１３０は、被検眼Ｅの複数の位置に照射した測定光の戻り光に基づく複数の干渉光を検出することにより取得された複数の干渉信号の強度又はその分布の変化を解析する。

白内障の種類は、水晶体の混濁部位に応じて「核白内障」、「嚢下白内障」及び「皮質白内障」の３つに大別される。「核白内障」では、水晶体の中央部に混濁が生じる。「嚢下白内障」には、水晶体の中央部の後端側に混濁が生じる「後嚢下白内障」と、前端側に混濁が生じる「前嚢下白内障」とがある。「皮質白内障」では、水晶体の外周部に混濁が生じる。「核白内障」又は「嚢下白内障」の場合、健常眼と比較すると、水晶体の中央部を通過した測定光の戻り光に基づく信号強度は極めて小さくなる。

解析部１３０は、水晶体の中央部を通過するように光スキャナ８７ｂにより偏向された測定光の戻り光に基づく干渉光の検出結果から取得された干渉信号の強度と第１閾値とを比較する。それにより、主制御部１１１は、当該強度が第１閾値以下のとき（所定条件を満たすとき）、被検眼Ｅが「核白内障」又は「嚢下白内障」の可能性があると判定することができる。

「皮質白内障」の場合、健常眼と比較すると、水晶体の中央部を通過した測定光の戻り光に基づく信号強度が低下したか否かを判別しにくくなるが、水晶体の外周部を通過した測定光の戻り光に基づく信号強度は小さくなる。

図９に、「皮質白内障」の被検眼に対する干渉信号の強度分布の一例を模式的に示す。図９は、ラインスキャンが行われた被検眼の水晶体における所定のスキャンラインの干渉信号の強度分布の一例を表す。縦軸は当該スキャンラインにおいて検出された干渉信号の信号強度を示し、横軸は当該スキャンラインにおけるスキャン位置を示す。スキャン位置の両端付近は水晶体の外周部に相当する。図９に示すように、健常眼における干渉信号の強度分布Ｗ１に対して、「皮質白内障」の被検眼における干渉信号の強度分布Ｗ２は、水晶体の中央部より外周部において強度が低下する。

解析部１３０は、水晶体の外周部を通過するように光スキャナ８７ｂにより偏向された測定光の戻り光に基づく干渉光の検出結果から取得された干渉信号の強度分布を解析する。例えば、解析部１３０は、水晶体の外周部における干渉信号を特定し、水晶体の中央部において強度分布Ｗ１と強度分布Ｗ２との差分と第２閾値とを比較し、水晶体の外周部において強度分布Ｗ２の干渉信号の強度と第３閾値とを比較する。それにより、主制御部１１１は、当該差分が第２閾値以下であり、且つ、当該強度が第３閾値以下であるとき（所定条件を満たすとき）、被検眼Ｅが「皮質白内障」の可能性があると判定することができる。

前述のように、主制御部１１１は、このような解析部１３０による解析結果に基づいて測定モードを選択し、選択された測定モードに応じて眼科装置１０００の各部を制御する。

眼屈折力の算出において、眼屈折力算出部１２１は、レフ測定受光系７からの出力（リング像）の形状を解析する。例えば、眼屈折力算出部１２１は、得られた画像における輝度分布からリング像の重心位置を求め、この重心位置から放射状に延びる複数の走査方向に沿った輝度分布を求め、この輝度分布からリング像を特定する。続いて、眼屈折力算出部１２１は、特定されたリング像の近似楕円を求め、この近似楕円の長径及び短径を公知の式に代入することによって球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを求める。或いは、眼屈折力算出部１２１は、基準パターンに対するリング像の変形及び変位に基づいて眼屈折力のパラメータを求めることができる。

眼屈折力算出部１２１は、眼内距離測定系８を用いた光干渉計測の結果から、少なくとも球面度数を求めることができる。例えば、眼屈折力算出部１２１は、合焦レンズ８５の移動により干渉光ＬＣの検出信号がピークになる合焦レンズ８５の位置を特定し、０Ｄに相当する合焦レンズの位置と、特定されたピークになる合焦レンズ８５の位置とに基づいて等価球面度数を求める。

眼屈折力算出部１２１は、観察系５により取得されたケラトリング像に基づいて、角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。例えば、眼屈折力算出部１２１は、ケラトリング像を解析することにより角膜前面の強主経線や弱主経線の角膜曲率半径を算出し、角膜曲率半径に基づいて上記パラメータを算出する。

眼内距離算出部１２２は、眼内距離測定系８により取得された２つの干渉光の検出データに基づいて被検眼Ｅの１以上の眼内距離を算出する。眼内距離算出部１２２は、検出データに含まれる当該２つの干渉光に基づく２つの干渉信号（例えば図６参照）の位置の間隔に基づいて被検眼Ｅの眼内距離を算出する。眼内距離算出部１２２は、水晶体レンズ８９の挿脱を行いつつ被検眼Ｅの複数の眼内距離を算出することが可能である。眼内距離算出部１２２は、光路から水晶体レンズ８９が退避されている状態で取得された検出データに基づいて眼軸長や角膜厚（第１眼内距離）を算出する。また、眼内距離算出部１２２は、当該光路に水晶体レンズ８９が挿入されている状態で取得された検出データに基づいて前房深度や水晶体厚（第２眼内距離）を算出する。水晶体レンズは既存のレンズ(例えばリレーレンズ８６)と組み合わせた焦点距離を有し、これをリレーレンズ８６と差し替え可能であってもよい。

眼内距離算出部１２２は、被検眼Ｅの基準部位を基準に複数の眼内距離を算出することが可能である。基準部位として、被検眼Ｅからの測定光ＬＳの戻り光の強度が強い部位が挙げられる。基準部位には、被検眼Ｅの角膜頂点（角膜前面）や網膜や内境界膜等がある。それにより、被検眼Ｅが動いてしまい、干渉信号の位置が変わってしまった場合でも、基準部位の干渉信号を基準にすることによって、常に高い精度で複数の眼内距離を算出することができる。

眼軸長算出部１２２Ａは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と網膜に相当する干渉信号の位置との間隔及び参照ミラーユニットの移動量に基づいて眼軸長（眼内距離Ｄ１）を求める。前房深度算出部１２２Ｂは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体前面に相当する干渉信号の位置との間隔及び参照ミラーユニットの移動量に基づいて前房深度（眼内距離Ｄ２）を求める。水晶体厚算出部１２２Ｃは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて距離（Ｄ２＋Ｄ３）を求め、求められた距離（Ｄ２＋Ｄ３）から距離Ｄ２を差し引くことにより水晶体厚（距離Ｄ３）を求める。角膜厚算出部１２２Ｄは、角膜頂点（角膜前面）に相当する干渉信号の位置と角膜後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて角膜厚を求める。

ＩＯＬ度数の算出において、ＩＯＬ度数算出部１２３は、ケラトの測定結果と眼内距離算出部１２２において求められた眼軸長、前房深度、水晶体厚及び角膜厚の少なくとも１つを公知の計算式に代入することによりＩＯＬ度数を求める。なお、ＩＯＬ度数算出部１２３は、眼屈折力の算出結果と眼軸長の算出結果とを公知の計算式に代入することによりＩＯＬ度数を求めてもよい。

（表示部１７０、操作部１８０）
表示部１７０は、制御部１１０による制御を受けて情報を表示する。表示部１７０は表示部１０を含む。操作部１８０は、眼科装置１０００の操作や情報入力に使用される。操作部１８０は、各種のハードウェアキー（ジョイスティック、ボタン、スイッチなど）、及び／又は、表示部１７０に提示される各種のソフトウェアキー（ボタン、アイコン、メニューなど）を含む。

（通信部１９０）
通信部１９０は、外部装置と通信する機能を持つ。通信部１９０は、外部装置との接続形態に応じた通信インターフェイスを備える。外部装置の例として、レンズの光学特性を測定するための眼鏡レンズ測定装置がある。眼鏡レンズ測定装置は、被検者が装用する眼鏡レンズの度数などを測定し、この測定データを眼科装置１０００に入力する。また、外部装置は、任意の眼科装置、記録媒体から情報を読み取る装置（リーダ）や、記録媒体に情報を書き込む装置（ライタ）などでもよい。更に、外部装置は、病院情報システム（ＨＩＳ）サーバ、ＤＩＣＯＭ（Ｄｉｇｉｔａｌ Ｉｍａｇｉｎｇ ａｎｄ ＣＯｍｍｕｎｉｃａｔｉｏｎ ｉｎ Ｍｅｄｉｃｉｎｅ）サーバ、医師端末、モバイル端末、個人端末、クラウドサーバなどでもよい。

干渉計ユニット８０は、実施形態に係る「干渉光学系」の一例である。干渉計光源８１は、実施形態に係る「光源」の一例である。光スキャナ８７ｂは、実施形態に係る「照射位置変更部」、「偏向部」の一例である。

＜動作例＞
実施形態に係る眼科装置１０００の動作について説明する。眼科装置１０００の動作の一例を図１１に示す。図１１は、眼科装置１０００の動作例のフロー図を表したものである。

（Ｓ１）
検者が操作部１８０に対して所定の操作を行うことで、眼科装置１０００による測定項目が設定される。Ｓ１において設定された測定項目に応じて眼科装置１０００の測定モードが決定される。

（Ｓ２）
図示しない顔受け部に被検者の顔が固定された状態で、検者が操作部１８０に対して所定の操作を行うことで、眼科装置１０００は、光源４１及び視標チャート４２により固視標を被検眼Ｅに投影し、アライメントを実行する。具体的には、主制御部１１１は、Ｚアライメント光源１１やＸＹアライメント光源２１や光源４１を点灯させる。処理部９は、撮像素子５９の撮像面上に結像された前眼部像の撮像信号を取得し、表示部１７０（表示部１０の表示画面１０ａ）に前眼部像Ｅ’を表示させる。その後、図１に示す光学系が被検眼Ｅの検査位置に移動される。検査位置とは、被検眼Ｅの検査を行うことが可能な位置である。前述のアライメント（Ｚアライメント系１及びＸＹアライメント系２と観察系５とによるアライメント）を介して被検眼Ｅが検査位置に配置される。光学系の移動は、ユーザによる操作若しくは指示又は主制御部１１１による指示に従って、主制御部１１１によって実行される。すなわち、被検眼Ｅの検査位置への光学系の移動と、他覚測定を行うための準備とが行われる。

また、主制御部１１１は、レフ測定光源６１と合焦レンズ７２、合焦レンズ８５、光源４１及び視標チャート４２を連動させて、光軸に沿って原点、例えば、０Ｄの位置に移動させる。

主制御部１１１は、光源４１及び視標チャート４２により固視標を被検眼Ｅに投影させ、ケラト測定を実行させる。すなわち、主制御部１１１は、ケラトリング光源３２を点灯させる。ケラトリング光源３２から光が出力されると、角膜Ｋに角膜形状測定用のリング状光束が投影される。眼屈折力算出部１２１は、撮像素子５９によって取得された像に対して演算処理を施すことにより、角膜曲率半径を算出し、算出された角膜曲率半径から角膜屈折力、角膜乱視度及び角膜乱視軸角度を算出する。制御部１１０では、算出された角膜屈折力などが記憶部１１２に記憶される。主制御部１１１からの指示、又は操作部１８０に対するユーザの操作若しくは指示により、眼科装置１０００の動作はＳ３に移行する。

（Ｓ３）
主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路にクイックリターンミラー６７の反射面を配置させる。主制御部１１１は、光源４１及び視標チャート４２により固視標を被検眼Ｅに投影させ、レフ測定を実行させる。すなわち、主制御部１１１は、前述のようにレフ測定のためのリング状の測定パターン光束を被検眼Ｅに投影させる。被検眼Ｅからの測定パターン光束の戻り光に基づくリング像が撮像素子７４の結像面に結像される。主制御部１１１は、撮像素子７４により検出された眼底Ｅｆからの戻り光に基づくリング像を取得できたか否かを判定する。例えば、主制御部１１１は、撮像素子７４により検出された戻り光に基づく像のエッジの位置（画素）を検出し、像の幅（外径と内径との差）が所定値以上であるか否かを判定する、或いは強度が所定の高さ以上の点（像）に基づいてリングを形成できるか否かを判定することにより、リング像を取得できたか否かを判定する。

リング像を取得できたと判定されたとき、眼屈折力算出部１２１は、被検眼Ｅに投影された測定パターン光束の戻り光に基づくリング像を公知の手法で解析し、仮の球面度数Ｓ及び乱視度数Ｃを取得する。仮の球面度数Ｓ及び乱視度数Ｃに基づき、レフ測定光源６１、合焦レンズ７２（合焦レンズ８５）、光源４１及び視標チャート４２を等価球面度数（Ｓ＋Ｃ／２）の位置（仮の遠点位置）へ移動させる。その位置から、風景チャートを雲霧視させた（すなわち、雲霧位置に移動させた）後、再度本測定としてリング像を取得し、前述と同様に得られたリング像の解析結果と合焦レンズの移動量から球面度数Ｓ、乱視度数Ｃ及び乱視軸角度Ａを求める。眼屈折力算出部１２１は、求められた球面度数Ｓ及び乱視度数Ｃから被検眼Ｅの遠点位置（本測定により得られた遠点位置）を求め、求められた遠点位置に光源４１及び視標チャート４２を移動させる。制御部１１０では、合焦レンズ７２（合焦レンズ８５）の位置や算出された球面度数などが記憶部１１２に記憶される。主制御部１１１からの指示、又は操作部１８０に対するユーザの操作若しくは指示により、眼科装置１０００の動作はＳ４に移行する。

リング像を取得できないと判定されたとき、まずは強度屈折異常眼である可能性を考慮してレフ測定光源６１、合焦レンズ７２をあらかじめ設定したステップでマイナス度数側（例えば−１０Ｄ）、プラス度数側（例えば＋１０Ｄ）へ移動し各位置でリング像の検出を実施する。それでもリング像を取得できないと判定されたとき、眼科装置１０００の動作はＳ４に移行する。制御部１１０では、レフ測定結果が得られなかったことを示す情報が記憶部１１２に記憶される。

（Ｓ４）
主制御部１１１は、白内障チェックを実行させるか否かを判定する。白内障チェックでは、前述のように被検眼Ｅが白内障眼であるか否かが判定される。主制御部１１１は、事前に設定された被検者の年齢（例えば、５０歳以上であるか否か）、又はＳ１において設定された情報に基づいて白内障チェックの実行の可否を決定することが可能である。白内障チェックを実行させると判定されたされたとき（Ｓ４：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はＳ５に移行する。白内障チェックを実行させないと判定されたとき（Ｓ４：Ｎ）、眼科装置１０００の動作はＳ１０に移行する。

（Ｓ５）
白内障チェックを実行させると判定されたとき（Ｓ４：Ｙ）、主制御部１１１は、水晶体スキャンを実行する。主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７の反射面を退避させて、光干渉計測経路（眼内距離測定系８の光路）を開放する。

続いて、主制御部１１１は、例えば、光スキャナ８７ｃを制御することにより被検眼Ｅの眼底Ｅｆにおける所定の領域内で測定光の照射位置を変更しつつ、各照射位置において光スキャナ８７ｂを制御することにより被検眼Ｅの水晶体をスキャンする。それにより、被検眼Ｅの複数の位置について眼内距離測定系８により得られた複数の干渉光の検出結果が取得される。解析部１３０は、これら複数の位置のそれぞれについて前述のように解析を行う。主制御部１１１は、これら複数の位置についての解析部１３０による解析結果に基づいて、被検眼Ｅが白内障眼である可能性があるか否かを判定する。

或いは、主制御部１１１は、被検眼Ｅの水晶体の中央部について被検眼Ｅが白内障眼であるか否かを判定し、白内障眼ではないと判定された場合に被検眼Ｅの外周部について被検眼Ｅが白内障眼であるか否かを判定するようにしてもよい。すなわち、前述のように被検眼Ｅが「核白内障」又は「嚢下白内障」の可能性があるか否か判定し、いずれの可能性もないと判定されたとき被検眼Ｅが「皮質白内障」の可能性があるか否か判定するようにしてもよい。それにより、解析部１３０は、被検眼Ｅの複数の位置について眼内距離測定系８により得られた複数の干渉光の検出結果に基づいて、被検眼Ｅが白内障眼である可能性があるか否かを判定することが可能である。

（Ｓ６）
被検眼Ｅが白内障である可能性があると判定されたとき（Ｓ６：Ｙ）、主制御部１１１は、眼科装置１０００の測定モードとして白内障モードを選択する。眼科装置１０００の動作は、Ｓ７に移行する。被検眼Ｅが白内障である可能性がないと判定されたとき（Ｓ６：Ｎ）、眼科装置１０００の動作は終了する（エンド）。

なお、Ｓ５とＳ６の間において、Ｓ１において設定された情報に基づいて自覚検査を実行するか否かを判定し、自覚検査を実行すると判定されたときに眼科装置１０００に自覚検査を実行させた後にＳ６に移行させてもよい。このとき、自覚検査を実行しないと判定された場合に、ＩＯＬ処方を行うときに眼科装置１０００の動作をＳ８に移行させ、ＩＯＬ処方を行わないときに眼科装置１０００の動作を終了させる。

（Ｓ７）
被検眼Ｅが白内障である可能性があると判定されたとき（Ｓ６：Ｙ）、主制御部１１１は、グレア検査を実行させる。主制御部１１１は、光源４１及び視標チャート４２による視標とともにグレア光源４７からのグレア光を被検眼Ｅに投影させる（図１０参照）。被検者は被検眼にグレア光が照射された状態で視標に対する応答を行う。応答内容の入力を受けて、処理部９は、更なる制御や、自覚検査値の算出を行う。例えば、処理部９は、被検者の応答に基づいて、次の視標を選択して呈示し、これを繰り返し行う。それにより、どの程度まで視標の判別が可能かが検査される。

（Ｓ８）
次に、主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７の反射面を退避させて、眼内距離測定を実行させる。眼内距離測定では、眼軸長測定、前房深度測定、水晶体厚測定及び角膜厚測定の少なくとも１つが行われる。

＜眼軸長測定＞
主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させ、光源４１及び視標チャート４２により固視標として輝点を被検眼Ｅに投影させる。次に、主制御部１１１は、角膜用参照光路に対し角膜用シャッター９５を挿入させ、網膜・前房深度用参照光路から網膜・前房深度用シャッター９３を退避させる。その後、主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７の反射面を退避させる。それにより、干渉計ユニット８０と被検眼Ｅとの間に測定光ＬＳの光路が形成され、光干渉計測経路が開放される。

主制御部１１１は、Ｓ３において記憶部１１２に記憶された情報に基づいて、レフ測定結果があるか否かを判定する。

レフ測定結果があると判定されたとき、主制御部１１１は、Ｓ３において記憶部１１２に記憶された合焦レンズ７２（合焦レンズ８５）の位置から眼軸長測定時の合焦レンズ８５の位置を決定し、決定された位置に合焦レンズ８５を移動する。具体的には、レフ測定は雲霧視させた状態で実行されるため、レフ測定時は、被検眼Ｅに対する合焦において求められた合焦レンズ７２の位置から所定の距離ΔＤだけ移動される。レフ測定系の移動部（レフ測定光源６１、合焦レンズ７２）と眼内距離測定系８の合焦レンズ８５は一体で移動可能な場合、Ｓ３のレフ測定時には合焦レンズ８５は既に雲霧位置にあるので雲霧分のみ戻せばよい。

次に、主制御部１１１は、網膜に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。

一方、レフ測定結果がないと判定されたとき、主制御部１１１は、網膜に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動する。次に、主制御部１１１は、網膜に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動する。

以上のように、レフ測定結果があるとき（すなわち、合焦レンズ８５の位置がわかっているとき）、最初に合焦状態に設定することにより、網膜に相当する干渉信号の検出が容易になる。これに対して、レフ測定結果がないとき（すなわち、合焦レンズ８５の位置が不明であるとき）、最初に、網膜に相当する干渉信号を検出することにより、網膜に対する合焦を可能にする。

次に、主制御部１１１は、角膜用参照光路から角膜用シャッター９５を退避させる。それにより、角膜頂点に相当する干渉信号と網膜に相当する干渉信号とを同時に検出することが可能になる（図６参照）。

眼軸長算出部１２２Ａは、同時に検出可能になった角膜頂点に相当する干渉信号の位置と網膜に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて眼軸長を算出する。以上のように、測定光ＬＳの戻り光の反射強度が強い角膜頂点ではなく網膜に合焦させた状態で取得された検出データに含まれる２つの干渉信号の位置の間隔を用いて眼軸長が求められる。それにより、眼軸長を高精度に求めることが可能になる。

＜前房深度測定＞
前房深度測定も、眼軸長測定と同様のフローに従って行われる。

前房深度測定では、まず、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７の反射面を退避させて光干渉計測経路が開放される。その後、主制御部１１１は、測定光ＬＳの光路（光干渉計測経路）に対し水晶体レンズ８９を挿入させる。水晶体レンズ８９の挿入時、合焦レンズの位置は既定の位置に移動する。それにより、合焦レンズ８５の合焦調整範囲が網膜（眼底）近傍から水晶体近傍に移動する。次に、主制御部１１１は、水晶体前面に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動し、水晶体前面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動する。

その後、主制御部１１１は、網膜・前房深度用シャッター９３及び角膜用シャッター９５の双方をそれぞれの光路から退避させる。それにより、角膜頂点に相当する干渉信号と水晶体前面に相当する干渉信号とを同時に検出することが可能になる。前房深度算出部１２２Ｂは、同時に検出可能になった角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体前面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて前房深度を算出する。

以上のように、合焦レンズ８５の移動による合焦調整範囲を水晶体近傍に移動させ、角膜頂点ではなく水晶体前面に合焦させた状態で取得された検出データに含まれる２つの干渉信号の位置の間隔を用いて前房深度が求められる。

＜水晶体厚測定＞
水晶体厚測定も、眼軸長測定と同様のフローに従って行われる。

水晶体厚測定では、まず、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７の反射面を退避させて光干渉計測経路が開放される。その後、主制御部１１１は、測定光ＬＳの光路（光干渉計測経路）に対し水晶体レンズ８９を挿入させる。次に、主制御部１１１は、水晶体後面に相当する干渉信号の位置が所定の位置となるように網膜・前房深度用参照ミラーユニット９４を移動し、水晶体後面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動する。

その後、主制御部１１１は、網膜・前房深度用シャッター９３及び角膜用シャッター９５の双方をそれぞれの光路から退避させる。それにより、角膜頂点に相当する干渉信号と水晶体後面に相当する干渉信号とを同時に検出することが可能になる。水晶体厚算出部１２２Ｃは、同時に検出可能になった角膜頂点に相当する干渉信号の位置と水晶体後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて、角膜頂点と水晶体後面との距離を求める。水晶体厚算出部１２２Ｃは、求められた角膜頂点と水晶体後面との距離から前述のように求められた前房深度を差し引くことにより、水晶体厚を算出する。

以上のように、合焦レンズ８５の移動による合焦調整範囲を水晶体近傍に移動させ、角膜頂点ではなく水晶体後面に合焦させた状態で取得された検出データに含まれる２つの干渉信号の位置の間隔を用いて水晶体厚が求められる。

＜角膜厚測定＞
角膜厚測定では、主制御部１１１は、干渉計光源８１を点灯させ、光源４１及び視標チャート４２により固視標として輝点を被検眼Ｅに投影させる。次に、主制御部１１１は、角膜用参照光路から角膜用シャッター９５を退避させ、網膜・前房深度用参照光路に対し網膜・前房深度用シャッター９３を挿入させる。その後、主制御部１１１は、ダイクロイックミラー５２により観察系５の光路から分岐された光路からクイックリターンミラー６７の反射面を退避させる。それにより、光干渉計測経路が開放される。

主制御部１１１は、測定光ＬＳの光路から水晶体レンズ８９を退避させ、角膜後面に相当する干渉信号の強度が最も高くなるように合焦レンズ８５を移動する。角膜頂点に相当する干渉信号と角膜後面に相当する干渉信号とが同時に検出することが可能であるため、角膜厚算出部１２２Ｄは、角膜頂点に相当する干渉信号の位置と角膜後面に相当する干渉信号の位置との間隔に基づいて角膜厚を算出する。以上のように、角膜頂点ではなく角膜後面に合焦させた状態で取得された検出データに含まれる２つの干渉信号の位置の間隔を用いて角膜厚が求められる。

（Ｓ９）
ＩＯＬ度数算出部１２３は、Ｓ２で求められた角膜屈折力(ケラト値)、眼軸長測定、前房深度、水晶体厚及び角膜厚の少なくとも１つを用いてＩＯＬの度数を求める。制御部１１０では、求められたＩＯＬ度数が記憶部１１２に記憶される。その後、眼科装置１０００の動作は終了する（エンド）。

（Ｓ１０）
白内障チェックを実行させないと判定されたとき（Ｓ４：Ｎ）、主制御部１１１は、Ｓ１において設定された情報に基づいて自覚検査を実行するか否かを判定する。自覚検査を実行すると判定されたとき（Ｓ１０：Ｙ）、眼科装置１０００の動作はＳ１１に移行する。自覚検査を実行しないと判定されたとき（Ｓ１０：Ｎ）、眼科装置１０００の動作は終了する（エンド）。

（Ｓ１１）
自覚検査を実行すると判定されたとき（Ｓ１０：Ｙ）、主制御部１１１は、自覚検査を実行させる。自覚検査では、主制御部１１１は、例えば、操作部１８０に対するユーザの指示に基づき、視標チャート４２を制御することにより所望の視標を表示させる。また、主制御部１１１は、他覚測定の結果に応じた位置に光源４１及び視標チャート４２を移動する。被検者は、眼底Ｅｆに投影された視標に対する応答を行う。例えば、視力測定用の視標の場合には、被検者の応答により被検眼の視力値が決定される。視標の選択とそれに対する被検者の応答が、検者又は制御部１１０の判断により繰り返し行われる。

或いは、主制御部１１１は、他覚測定で得られた被検眼Ｅの乱視状態（乱視度数、乱視軸角度）に基づいて、この乱視状態が矯正されるようにＶＣＣレンズ４４を制御する。被検者は、眼底Ｅｆに投影された視標に対する応答を行う。被検者の応答に基づきＶＣＣレンズを制御することも可能である。例えば、視力測定用の視標の場合には、被検者の応答により被検眼の視力値が決定される。視標の選択とそれに対する被検者の応答が、検者又は制御部１１０の判断により繰り返し行われる。検者又は制御部１１０は、被検者からの応答に基づいて視力値或いは処方値（Ｓ、Ｃ、Ａ）を決定し、眼科装置１０００の動作は終了する（エンド）。

＜実施形態の変形例＞
前述の実施形態では、光スキャナ８７ｂを制御することにより被検眼Ｅの水晶体におけるスキャン位置を変更する場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。例えば、被検眼Ｅに向かう測定光の光路を平行移動させることにより被検眼Ｅの水晶体におけるスキャン位置を変更するようにしてもよい。

この場合、眼科装置１０００は、測定ヘッドと、測定ヘッドを観察系５の光軸方向及び当該光軸に直交する方向に移動する移動機構とを含む。測定ヘッドには、図１に示すＺアライメント系１、ＸＹアライメント系２、ケラト測定系３、視標投影系４、観察系５、レフ測定投影系６、レフ測定受光系７、及び眼内距離測定系８が収容される。移動機構は、主制御部１１１からの制御を受け測定ヘッドを移動させる。それにより、被検眼Ｅの水晶体の任意の部位を通過する測定光の戻り光に基づく干渉光を検出することが可能になり、実施形態と同様に被検眼Ｅが白内障眼である可能性があるか否かを判定することが可能になる。

また、前述の実施形態では、被検眼の瞳孔と光学的に共役な位置に配置された光スキャナ８７ｃとは別途に光スキャナ８７ｂを設ける場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。例えば、光スキャナ８７ｂに代えて合焦レンズ８５を設け、その他の光学部材の移動や光学素子の挿脱により、光スキャナ８７ｃにより被検眼Ｅの水晶体のスキャンが可能になるようにしてもよい。

［作用・効果］
実施形態に係る眼科装置１０００の作用及び効果について説明する。

実施形態に係る眼科装置（眼科装置１０００）は、干渉光学系（干渉計ユニット８０）と、照射位置変更部（光スキャナ８７ｂ又は移動機構）と、制御部（制御部１１０又は主制御部１１１）とを含む。干渉光学系は、光源（干渉計光源８１）からの光（光Ｌ０）を参照光（参照光ＬＲ）と測定光（測定光ＬＳ）とに分割し、測定光を被検眼（被検眼Ｅ）に照射し、その戻り光と参照光との干渉光（干渉光ＬＣ）を生成し、生成された干渉光を検出する。照射位置変更部は、被検眼の複数の位置に測定光を照射するために用いられる。制御部は、複数の位置について干渉光学系により得られた複数の干渉光の検出結果に基づいて被検眼の測定モードを選択する。

このような構成によれば、被検眼の複数の位置について干渉光学系により得られた複数の干渉光の検出結果に基づいて被検眼の状態を他覚的に正確に測定（検査）することができる。それにより、他覚的に正確に測定した結果に基づいて被検眼の測定モードを選択することが可能になる。従って、測定時間が長く、被検者に負担がかかる測定（検査）前に被検眼を他覚的に正確に測定し、必要な場合だけ当該測定を実施することで、無駄な測定を省き、被検者の負担を最小限に抑えることが可能になる。

また、実施形態に係る眼科装置では、制御部は、検出結果が所定条件を満たしたときに白内障モードを選択してもよい。

このような構成によれば、被検眼の複数の位置について干渉光学系により得られた複数の干渉光の検出結果に基づいて被検眼が白内障眼であるか否かを判定し、その判定結果に基づいて白内障モードを選択することができる。それにより、白内障の検査前に被検眼を他覚的に正確に測定し、必要な場合だけ当該検査を実施することで、無駄な検査の実施を省き、被検者の負担を最小限に抑えることが可能になる。

また、実施形態に係る眼科装置では、制御部は、被検眼の眼底（眼底Ｅｆ）に相当する干渉光の成分の強度が所定の閾値以下の場合に白内障モードを選択してもよい。

このような構成によれば、被検眼が「核白内障」又は「嚢下白内障」である可能性がある場合に白内障モードを選択することが可能になる。また、被検眼の所定の位置（例えば、水晶体の外周部）について干渉光の成分の強度が所定の閾値以下であるか否かを判定することにより、被検眼が「皮質白内障」である可能性がある場合に白内障モードを選択することが可能になる。

また、実施形態に係る眼科装置は、グレアテストを行うためのグレア光源（グレア光源４７）と、被検眼に視標を投影する視標投影系（視標投影系４）と、を含み、白内障モードが選択された場合に、制御部は、少なくともグレアテストを実行させてもよい。

このような構成によれば、被検眼の複数の位置について干渉光学系により得られた複数の干渉光の検出結果に基づいて被検眼が白内障眼であるか否かを判定し、その判定結果に基づいて白内障モードを選択することができる。それにより、グレア検査前に被検眼を他覚的に正確に測定し、必要な場合だけ当該グレア検査を実施することで、無駄なグレア検査の実施を省き、被検者の負担を最小限に抑えることが可能になる。

また、実施形態に係る眼科装置では、照射位置変更部は、測定光を偏向する偏向部（光スキャナ８７ｂ）を含んでもよい。

このような構成によれば、装置を小型化し、簡素な構成及び制御で、被検眼における複数の位置について干渉光学系により複数の干渉光の検出結果を取得することが可能になる。

また、実施形態に係る眼科装置では、偏向部は、被検眼の眼底と光学的に共役な位置に配置された光スキャナ（光スキャナ８７ｂ）を含んでもよい。

このような構成によれば、装置を小型化し、簡素な構成及び制御で、被検眼の水晶体（瞳孔）における複数の位置について干渉光学系により複数の干渉光の検出結果を取得することが可能になる。

また、実施形態に係る眼科装置では、照射位置変更部は、被検眼に向かう測定光の光路を平行移動させる移動機構を含んでもよい。

このような構成によれば、簡素な構成及び制御で、被検眼における複数の位置について干渉光学系により複数の干渉光の検出結果を取得することが可能になる。

また、実施形態に係る眼科装置は、干渉光学系による干渉光の検出結果に基づいて被検眼における眼内距離を求める眼内距離算出部（眼内距離算出部１２２）を含んでもよい。

このような構成によれば、眼内距離を求めることが可能な干渉光学系を用いて被検眼の状態を他覚的に正確に測定することができ、他覚的に正確に測定した結果に基づいて被検眼の測定モードを選択することが可能になる。

また、実施形態に係る眼科装置では、眼内距離算出部は、眼軸長、前房深度、水晶体厚及び角膜厚のうち少なくとも１つを求めてもよい。

このような構成によれば、遠点に調節させた状態で被検眼の視軸を安定させて眼内距離を求めることができるため、より精度の高い眼軸長、前房深度、水晶体厚及び角膜厚の少なくとも１つの測定が可能になる。

＜その他変形例＞
以上に示された実施形態は、この発明を実施するための一例に過ぎない。この発明を実施しようとする者は、この発明の要旨の範囲内において任意の変形、省略、追加等を施すことが可能である。

前述の実施形態又はその変形例では、主に、被検眼Ｅの眼底Ｅｆや水晶体をラインスキャンする場合について説明したが、ラスタースキャンやサークルスキャンやスパイラルスキャン等の他のスキャン方法であってもよい。

前述の実施形態又はその変形例では、リレーレンズ８６及びミラー８７ａの間で水晶体レンズ８９が挿脱される場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。水晶体レンズ８９は、測定光の光路の任意の位置で挿脱可能である。

前述の実施形態又はその変形例では、視標チャート４２として透過型の液晶パネルを用いた場合について説明したが、実施形態に係る眼科装置の構成はこれに限定されるものではない。視標チャート４２は、光学式チャートであってもよい。

前述の実施形態又はその変形例では、光干渉計測の測定結果に基づいてグレア検査を行う測定モードを選択する場合について説明したが、例えば、コントラスト検査や視野検査等の自覚検査を行う測定モードを選択するものに適用可能である。

１ Ｚアライメント系
２ ＸＹアライメント系
３ ケラト測定系
４ 視標投影系
５ 観察系
６ レフ測定投影系
７ レフ測定受光系
８ 眼内距離測定系
９ 処理部
８０ 干渉計ユニット
８７ｂ、８７ｃ 光スキャナ
１１０ 制御部
１１１ 主制御部
１３０ 解析部
１０００ 眼科装置

Claims (6)

1. 光源からの光を参照光と測定光とに分割し、前記測定光を被検眼に照射し、その戻り光と前記参照光との干渉光を生成し、生成された前記干渉光を検出する干渉光学系と、
   前記被検眼と前記干渉光学系との間において前記被検眼の瞳孔と光学的に略共役な位置に配置された第１光スキャナと、
   前記被検眼と前記干渉光学系との間において前記被検眼の眼底と光学的に略共役な位置に配置された第２光スキャナと、
   少なくとも前記第１光スキャナ及び前記第２光スキャナを制御する制御部と、
   を含む眼科装置。
2. 前記第１光スキャナ及び前記第２光スキャナの少なくとも一方を制御して前記測定光を偏向することにより前記被検眼の複数の位置について前記干渉光学系により得られた干渉光の検出結果に対応した干渉信号の強度分布に基づいて白内障の種別を判定する解析部を含む
   ことを特徴とする請求項１に記載の眼科装置。
3. 前記第２光スキャナは、光軸方向に移動可能である
   ことを特徴とする請求項１または請求項２に記載の眼科装置。
4. 前記制御部は、前記第１光スキャナ及び前記第２光スキャナを排他的に制御する
   ことを特徴とする請求項１〜請求項３のいずれか一項に記載の眼科装置。
5. 前記干渉光学系による前記干渉光の検出結果に基づいて前記被検眼における眼内距離を求める眼内距離算出部を含む
   ことを特徴とする請求項１〜請求項４のいずれか一項に記載の眼科装置。
6. 前記眼内距離算出部は、眼軸長、前房深度、水晶体厚及び角膜厚のうち少なくとも１つを求める
   ことを特徴とする請求項５に記載の眼科装置。
   
   

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