JP2019182742A - Scribing method and scribing apparatus - Google Patents

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亮 森
Akira Mori
亮 森
光寿 植田
Mitsutoshi Ueda
光寿 植田
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Abstract

To provide a scribing method and scribing apparatus, capable of suppressing the deformation of a substrate when scribing to obtain a high quality product.SOLUTION: A scribing method for processing a division scribe line on a substrate by cutter wheels 3a and 3b comprises: moving the cutter wheel along a travel line parallel to the surface of the substrate until reaching the vicinity of an end position of the substrate; travelling the cutter wheel from the vicinity of the end position of the substrate to the end position of the substrate so as to gradually separate the cutter wheel from the surface of the substrate; and instantaneously evacuating the cutter wheel from the substrate for a stop time of zero when the substrate reaches the end position.SELECTED DRAWING: Figure 12

Description

本発明は、2枚の基板を貼り合わせて形成された貼り合わせ基板(または貼り合わせマザー基板ともいい、以下これを「マザー基板」という)に分断用のスクライブラインを加工するスクライブ方法に関し、特に、縁部に端子領域を有するマザー基板のスクライブ方法およびスクライブ装置に関する。   The present invention relates to a scribing method for processing a cutting scribe line on a bonded substrate (or a bonded mother substrate, hereinafter referred to as a “mother substrate”) formed by bonding two substrates. The present invention relates to a scribing method and a scribing device for a mother board having a terminal region at an edge.

液晶表示パネル製造用のマザー基板は、複数のカラーフィルタがパターン形成された第一基板(CF側基板ともいう)と、複数のTFTおよび端子領域がパターン形成された第二基板(TFT側基板ともいう)とを、液晶を封入するシール材を挟んで貼り合わせてある。そして、このマザー基板を格子状の分断予定ラインに沿ってカッターホイールなどでスクライブラインを加工することによって単位製品に分割している。また、端子領域は上側のCF側基板を端縁から必要な幅(端子幅)だけ内側に入った位置で切除することによって形成されている(特許文献1、2参照)。   A mother substrate for manufacturing a liquid crystal display panel includes a first substrate (also referred to as a CF side substrate) on which a plurality of color filters are patterned, and a second substrate (also referred to as a TFT side substrate) on which a plurality of TFTs and terminal regions are patterned. Are attached to each other with a sealing material enclosing the liquid crystal in between. And this mother board | substrate is divided | segmented into the unit product by processing a scribe line with a cutter wheel etc. along the grid-like parting line. Further, the terminal region is formed by cutting the upper CF-side substrate at a position inside the necessary width (terminal width) from the edge (see Patent Documents 1 and 2).

図2〜図4は、マザー基板から単位製品を切り出す工程の一例を示すものである。ここではマザー基板Mから8つの単位製品を切り出す場合について説明する。
まず、図1並びに図7(a)に示すように、マザー基板Mを挟んで対向するように上下に配置された第一、第二のカッターホイール3a、3bを用いて、マザー基板Mを構成するCF側基板1とTFT側基板2のそれぞれに対し、X方向の分断予定ラインに沿って第一、第二のカッターホイール3a、3bを圧接してスクライブすることにより各基板にスクライブラインS1を刻む。次いで、図7(b)に示すように、第一カッターホイール3aでCF側基板1に端子領域形成用のスクライブラインS2を形成する。スクライブラインS1は基板の厚み方向にクラック(亀裂)ができる程度の切り込みで形成され、後工程で基板を撓ませること等により分断する。スクライブラインS1から分断されたマザー基板Mは、図3に示すように、それぞれ4つの単位製品を含む短冊状基板M1となり、スクライブラインS2で分断されたCF側基板1の端部は、端材Eとして除去されて端子領域Tが露出される。
2 to 4 show an example of the process of cutting out the unit product from the mother substrate. Here, a case where eight unit products are cut out from the mother substrate M will be described.
First, as shown in FIG. 1 and FIG. 7A, the mother substrate M is configured by using the first and second cutter wheels 3a and 3b that are vertically arranged so as to face each other with the mother substrate M interposed therebetween. For each of the CF side substrate 1 and the TFT side substrate 2 to be scribed, the first and second cutter wheels 3a and 3b are pressed and scribed along the planned cutting line in the X direction, thereby forming a scribe line S1 on each substrate. Engrave. Next, as shown in FIG. 7B, a scribe line S2 for forming a terminal region is formed on the CF side substrate 1 by the first cutter wheel 3a. The scribe line S <b> 1 is formed with a notch that can crack in the thickness direction of the substrate, and is divided by bending the substrate in a subsequent process. As shown in FIG. 3, the mother substrate M divided from the scribe line S1 becomes a strip-shaped substrate M1 including four unit products, and the end of the CF side substrate 1 divided by the scribe line S2 is an end material. E is removed and the terminal region T is exposed.

次いで、短冊状基板M1を90度回転させたあと、分断予定ラインに沿って第一、第二のカッターホイール3a、3bを同時に押し付けながらスクライブして各基板にスクライブラインS3を刻み、当該スクライブラインS3に沿って分断して図4に示す単位製品M2を切り出す。
なお、端子領域Tは、上記のように単位製品の一辺のみに形成される場合のほかに、図5(a)のように左右両辺に形成される場合や、図5(b)のように隣接する2辺に沿ってL状に形成される場合、あるいは図示は省略するが、単位製品の3辺に沿ってコの字状に形成される場合もある。
Next, after the strip-shaped substrate M1 is rotated by 90 degrees, the first and second cutter wheels 3a and 3b are simultaneously pressed along the line to be divided, and the scribe line S3 is engraved on each substrate. Dividing along the line S3, the unit product M2 shown in FIG. 4 is cut out.
In addition to the case where the terminal region T is formed only on one side of the unit product as described above, the terminal region T may be formed on both the left and right sides as shown in FIG. 5A, or as shown in FIG. When it is formed in an L shape along two adjacent sides, or although not shown, it may be formed in a U shape along three sides of a unit product.

なお、第一、第二のカッターホイール3a、3bで基板の上下面をスクライブする場合、第一、第二のカッターホイール3a、3bが同じ対向位置で走行する「同時切り」のほかに、図6(a)のように第一、第二のカッターホイール3a、3bがスクライブ方向に対して前後にずれて走行する「先行切り」と、図6(b)のように第一、第二のカッターホイール3a、3bがスクライブ方向に対して左右にずれて走行する「シフト切り」と、図示は省略するが、第一、第二のカッターホイールがスクライブ方向に対して前後左右にずれて走行する「先行・シフト切り」とがあり、基板の厚みや種類、上下の分断予定ラインの位置などによって使い分けられている。一般的には、スクライブの始点または終点に端子領域が存在する場合、第一、第二のカッターホイールが基板に同時に接触する、または基板から同時に離れるように、「先行切り」や「先行・シフト切り」の手法が多く用いられている。   When scribing the upper and lower surfaces of the substrate with the first and second cutter wheels 3a and 3b, in addition to “simultaneous cutting” in which the first and second cutter wheels 3a and 3b travel at the same facing position, “First cutting” in which the first and second cutter wheels 3a and 3b run forward and backward with respect to the scribe direction as shown in FIG. 6 (a), and the first and second cutter wheels as shown in FIG. 6 (b). Although the illustration is omitted, the “shift cut” in which the cutter wheels 3a and 3b are shifted to the left and right with respect to the scribe direction is omitted, but the first and second cutter wheels are shifted to the front and rear and the left and right with respect to the scribe direction. There are “advance / shift cutting”, which are used depending on the thickness and type of the substrate and the positions of the upper and lower cut lines. Generally, when there is a terminal area at the start or end of the scribe, the “first cutting” or “leading / shifting” is performed so that the first and second cutter wheels are simultaneously in contact with the substrate or separated from the substrate at the same time. The “cut” method is often used.

WO2005/087458号公報WO2005 / 087458 特開2015−13783号公報JP2015-13783A

上記したマザー基板の分断過程において、製品領域においてはCF側基板1とTFT側基板2それぞれを第一、第二のカッターホイール3a、3bでマザー基板Mの上下面をスクライブすることとなる。このとき、従来は、カッターホイールは基板の終端まで所定の押圧荷重で走行して停止させたあと、基板から離れるように上下に退避する動作を行うようにしている。   In the process of dividing the mother substrate described above, in the product region, the upper and lower surfaces of the mother substrate M are scribed on the CF side substrate 1 and the TFT side substrate 2 with the first and second cutter wheels 3a and 3b, respectively. At this time, conventionally, after the cutter wheel travels to a terminal end of the substrate with a predetermined pressing load and stops, the cutter wheel is retreated up and down so as to be separated from the substrate.

一方、端子領域が形成された部分をスクライブするときは、図8に示すように、第二カッターホイール3bは、端子領域Tの部分で上側のCF側基板1がない状態で下側のTFT側基板2のみを押し込んでスクライブすることになる。通常、0.3mm〜1.0mmの薄いTFT側基板に対して直径2mm〜3mmのカッターホイールを用いて4N〜8Nの荷重でスクライブしているが、端子領域Tの部分をスクライブするときに、上側の基板が切除されて端子領域Tを上側のCF側基板1及び対向する第一カッターホイール3aで支持することができないので、図9に示すように第二カッターホイール3bの押し付けによって端子領域Tの部分が根元部Rを基点として変形する現象が発生する。このような端子領域Tの変形は、基板が薄いほど、また端子幅が長くなるほど大きくなる。   On the other hand, when the portion where the terminal region is formed is scribed, as shown in FIG. 8, the second cutter wheel 3b is connected to the lower TFT side without the upper CF side substrate 1 in the portion of the terminal region T. Only the substrate 2 is pushed in and scribed. Usually, scribing is performed on a thin TFT side substrate of 0.3 mm to 1.0 mm with a load of 4 N to 8 N using a cutter wheel having a diameter of 2 mm to 3 mm, but when the portion of the terminal region T is scribed, Since the upper substrate is removed and the terminal region T cannot be supported by the upper CF side substrate 1 and the first cutter wheel 3a facing the upper substrate 1, the terminal region T is pressed by pressing the second cutter wheel 3b as shown in FIG. This causes a phenomenon in which the portion is deformed with the root portion R as a base point. Such deformation of the terminal region T becomes larger as the substrate is thinner and the terminal width is longer.

また、カッターホイールが基板の終端で停止したあと、上下に退避するまでにわずかな時間(計測値では0.18秒)があり、そのため停止時間中は基板に負荷がかかり続けることになって、これが端子領域Tの変形の大きな要因となっている。このような変形が生じると、端子領域Tの破壊が生じたり、スクライブラインの亀裂がホイールの直下からスクライブ方向前方へ伸展し、予定されたスクライブライン上に生じない先走り現象が生じたりして不良品の原因となる。   In addition, after the cutter wheel stops at the end of the substrate, there is a short time (0.18 seconds in the measured value) until the cutter wheel is retracted up and down, so the load continues to be applied to the substrate during the stop time, This is a major factor in deformation of the terminal region T. If such deformation occurs, the terminal region T may be broken, or cracks in the scribe line may extend from directly under the wheel to the front of the scribe direction, resulting in a pre-run phenomenon that does not occur on the scheduled scribe line. It causes non-defective products.

また、「先行・シフト切り」を行う場合は、第一、第二のカッターホイールがスクライブ方向に対して左右にもずれて走行する。このため、スクライブ進行方向から見て、基板の変形が非対称になり、スクライブラインの亀裂が基板の厚み方向に対して傾いて形成される、「ソゲ」と呼ばれる現象が発生しやすくなる。   Further, when performing “advance / shift cut”, the first and second cutter wheels are shifted to the left and right with respect to the scribe direction. For this reason, the deformation of the substrate becomes asymmetrical when viewed from the direction of scribe, and a phenomenon called “sedge” is likely to occur, in which the cracks of the scribe line are inclined with respect to the thickness direction of the substrate.

そこで本発明は、上記した課題に鑑み、基板が薄く、端子幅が長い場合であってもスクライブ時における端子領域の変形現象を抑制して破壊や先走り、ソゲのない高品質の製品を得ることのできる基板のスクライブ方法およびスクライブ装置を提供することを主たる目的とする。 Therefore, in view of the above-described problems, the present invention obtains a high-quality product that is free from sowing by suppressing the deformation phenomenon of the terminal region at the time of scribing even when the substrate is thin and the terminal width is long. a main object to provide a scribing method and the scribing apparatus can Ru groups board.

上記目的を達成するために本発明では次のような技術的手段を講じた。すなわち、本発明のスクライブ方法にあっては、基板の面に分断用のスクライブラインを加工するスクライブ方法であって、カッターホイールを、前記基板の終端位置の近傍に至るまでは前記基板の表面と平行な走行ラインに沿って移行させ、前記基板の終端位置の近傍から前記基板の終端位置までは前記基板の表面から徐々に離れるように走行させ、前記基板の終端位置に達すると停止時間ゼロで瞬時に基板から退避させるようにした。 In order to achieve the above object, the present invention takes the following technical means. That, in the scribing method of the present invention is a scribing method for processing a scribe line for dividing the front surface of the base plate, the cutter wheel, is up to the vicinity of the end position of the substrate of the substrate A transition is made along a travel line parallel to the surface, the travel is performed so as to gradually move away from the surface of the substrate from the vicinity of the end position of the substrate to the end position of the substrate. Evacuated from the substrate instantly at zero .

また、本発明は、基板の面に分断用のスクライブラインを加工するスクライブ装置であって、加工すべき基板を保持するテーブルと、前記テーブルに保持された基板に昇降機構を介して昇降可能に配置され、前記基板走行するカッターホイールと、前記カッターホイールによる基板加工処理全般の制御を行う制御部と、を含み、前記制御部は、前記カッターホイールが、前記基板の終端位置の近傍に至るまでは前記基板の表面と平行な走行ラインに沿って移行し、前記基板の終端位置の近傍から前記基板の終端位置までは前記基板の表面から徐々に離れるように走行し、前記基板の終端位置に達すると停止時間ゼロで瞬時に前記基板から退避するように前記昇降機構を昇降させるようにしたスクライブ装置をも特徴とする。 Further, the present invention provides a scribing apparatus for processing a scribe line for dividing the front surface of the substrate, through a table for holding the workpiece all-out board, the lifting mechanism on the substrate held by the table lifting It is capable disposed includes a Luca Tsu coater wheel to travel the substrate, and a control unit for controlling the substrate processing in general by the cutter wheel, the control unit, the cutter wheel, the end position of the substrate It moves along a travel line parallel to the surface of the substrate until it reaches the vicinity, and travels gradually away from the surface of the substrate from the vicinity of the end position of the substrate to the end position of the substrate. The scribing apparatus is also characterized in that the elevating mechanism is moved up and down so as to retreat from the substrate instantaneously with zero stop time when reaching the end position .

本発明は、上記したように、基板をカッターホイールでスクライブするときに、基板の終端位置の近傍から終端位置に至るまで徐々に基板の表面から離れるように走行するので、カッターホイールによる基板への押し付け力が緩和されるとともに、カッターホイールが基板の終端位置に達すると停止時間ゼロで瞬時に基板から退避させるようにしたので、従来のような停止時間中に基板に負荷がかかり続けることがなくなる。これにより、基板が薄い場合など、基板の変形が大きくなりやすい条件においても、基板の破壊や先走り、ソゲの発生を確実に防止することができるといった効果がある The present invention, as described above, when the scribing base plate with a cutter wheel, so travels gradually away from the surface of the substrate from the vicinity of the end position of the substrate up to the end position, into the substrate by the cutter wheel with pressing force is reduced, and because the cutter wheel is to be retracted from the substrate instantaneously and downtime reaching the end position of the substrate, that the substrate during the stop time as in the conventional continuously applied load Disappear. Accordingly, etc. substrate is thin case, even in the modified large tends condition of the substrate, the substrate damage or getting ahead of ourselves, there is advantage of the ability to reliably prevent the occurrence of splintering.

上記発明において、前記基板の終端位置は、前記基板の端子領域に位置するようにするのがよい。
これにより、端子幅が長い場合など、端子領域の変形が大きくなりやすい条件においても、端子領域の破壊や先走り、ソゲの発生を確実に防止することができる。
また、上記発明において、予め探索された、端子破壊点を超えない少なくとも1つの適正切込量の加工条件のデータが記憶されたスクライブレシピの1つを選択し、当該加工条件に基づいて前記基板をスクライブするようにしてもよい。
端子領域部分をカッターホイールで切り込んでスクライブしたときに、端子領域が変形して破壊が生じる端子破壊点を超えない適正切込量を選択して当該加工条件に基づいてスクライブするようにしたので、カッターホイールのスクライブ終端時における端子領域の変形が抑制される。
さらに、前記カッターホイールを、前記基板の終端位置の近傍に至るまでは第一のスクライブ荷重でスクライブし、前記基板の終端位置の近傍から前記基板の終端位置までは前記第一のスクライブ荷重より小さい第二のスクライブ荷重でスクライブするようにしてもよい。
製品領域は比較的高い第一のスクライブ荷重でスクライブし、変形が生じやすい前記基板の終端位置をスクライブする際に第一のスクライブ荷重より小さい第二のスクライブ荷重でスクライブすることにより、端子領域の変形を抑えながら、スクライブラインの大部分を占める製品領域において、より深い垂直クラックを形成することができる。これにより、後の工程の分離性を高めることができ、分断工程を簡素化したり、分断の不具合に伴う製品品質の低下を抑制したりすることができる。
In the above invention, the terminal position of the substrate is preferably located in the terminal region of the substrate .
Accordingly , even when the terminal area is likely to be greatly deformed, such as when the terminal width is long, it is possible to reliably prevent the terminal area from being destroyed, pre-run, and soggy.
In the above invention, one of the scribe recipes stored in advance in which data of processing conditions of at least one appropriate cutting amount not exceeding the terminal breaking point is stored is selected, and the substrate is selected based on the processing conditions. You may make it scribe.
When cutting the terminal area with the cutter wheel and scribing, the terminal area is deformed to cause destruction and the appropriate cutting amount that does not exceed the terminal breaking point is selected and scribed based on the processing conditions. Deformation of the terminal area at the end of the cutter wheel scribe is suppressed.
Further, the cutter wheel is scribed with a first scribe load until it reaches the vicinity of the end position of the substrate, and is smaller than the first scribe load from the vicinity of the end position of the substrate to the end position of the substrate. You may make it scribe by a 2nd scribe load.
The product area is scribed with a relatively high first scribe load, and when scribing the end position of the substrate where deformation is likely to occur, by scribing with a second scribe load smaller than the first scribe load, Deeper vertical cracks can be formed in the product region occupying most of the scribe line while suppressing deformation. Thereby, the separability of a subsequent process can be improved, the division process can be simplified, and the deterioration of the product quality accompanying the malfunction of a division can be suppressed.

本発明のスクライブ方法を実施するためのスクライブ装置の一例を示す図。The figure which shows an example of the scribing apparatus for enforcing the scribing method of this invention. 加工対象となるマザー基板の一例を示す平面図並びに正面図。The top view and front view which show an example of the mother board | substrate used as a process target. 図2のマザー基板から分断された短冊状基板を示す平面図並びに側面図。The top view and side view which show the strip-shaped board | substrate parted from the mother board | substrate of FIG. 図3の短冊状基板から切り出された単位製品を示す斜視図。The perspective view which shows the unit product cut out from the strip-shaped board | substrate of FIG. 単位製品に形成される端子領域の別の形成例を示す斜視図。The perspective view which shows another example of formation of the terminal area | region formed in a unit product. 先行切り並びにシフト切りのスクライブ手段を示す説明図。Explanatory drawing which shows the scribing means of prior cut and shift cut. マザー基板にスクライブラインを加工するときの説明図。Explanatory drawing when processing a scribe line on a mother substrate. 第二カッターホイールで端子領域をスクライブするときの説明図。Explanatory drawing when scribing a terminal area | region with a 2nd cutter wheel. 第二カッターホイールで端子領域をスクライブしたときの反り上がり現象を示す説明図。Explanatory drawing which shows the curvature phenomenon when scribing a terminal area | region with the 2nd cutter wheel. 第二カッターホイールで端子領域をスクライブしたときの良好な状態を示す説明図。Explanatory drawing which shows a favorable state when the terminal area | region was scribed with the 2nd cutter wheel. 第一、第二カッターホイールによるスクライブ過程を示す説明図。Explanatory drawing which shows the scribe process by a 1st, 2nd cutter wheel. 第一、第二カッターホイールによる端子領域のスクライブ過程を示す説明図。Explanatory drawing which shows the scribe process of the terminal area | region by a 1st, 2nd cutter wheel. スクライブレシピの一例を示す説明図。Explanatory drawing which shows an example of a scribe recipe. スクライブ装置に付帯するコンピュータの構造を示すブロック図。The block diagram which shows the structure of the computer incidental to a scribe apparatus. Z軸アドレスの最大変化量を切込量ごとに表示した図。The figure which displayed the maximum change amount of the Z-axis address for every cutting amount.

以下において本発明の詳細を説明する。
図1は本発明のスクライブ方法を実施するためのスクライブ装置の一例を概略的に示す斜視図である。このスクライブ装置は、加工すべきマザー基板Mを吸着して保持する水平なテーブル4と、このテーブル4を挟んで互いに対向するようにしてテーブル4の上方並びに下方に配置された第一カッターホイール3a並びに第二カッターホイール3bとを備えている。テーブル4は、図1のY方向に沿って所定間隔をあけて前後に分割されており、この間隔内に第一カッターホイール3a並びに第二カッターホイール3bが位置するように配置されている。
Details of the present invention will be described below.
FIG. 1 is a perspective view schematically showing an example of a scribing apparatus for carrying out the scribing method of the present invention. The scribing device includes a horizontal table 4 that sucks and holds a mother substrate M to be processed, and a first cutter wheel 3a that is disposed above and below the table 4 so as to face each other across the table 4. And a second cutter wheel 3b. The table 4 is divided back and forth with a predetermined interval along the Y direction in FIG. 1, and the first cutter wheel 3a and the second cutter wheel 3b are arranged within this interval.

第一、第二のカッターホイール3a並びに3bは、それぞれ上下のホルダ5、5に保持され、ホルダ5、5は、スクライブヘッド6、6に昇降機構(図示略)を介して昇降可能に取り付けられている。また、スクライブヘッド6、6は、両側の支持柱7、7によってX方向に水平に橋架された上下のガイドバー8、8のガイド9、9に沿って移動可能に取り付けられ、モータ10、10の回転によりX方向に移動できるように形成されている。   The first and second cutter wheels 3a and 3b are respectively held by upper and lower holders 5 and 5, and the holders 5 and 5 are attached to the scribe heads 6 and 6 so as to be movable up and down via a lifting mechanism (not shown). ing. The scribing heads 6 and 6 are attached so as to be movable along the guides 9 and 9 of the upper and lower guide bars 8 and 8 bridged horizontally in the X direction by the support pillars 7 and 7 on both sides. It is formed so that it can move in the X direction by the rotation of.

このスクライブ装置の第一、第二のカッターホイール3a、3bを用いて、先に述べた図2〜図4で示した手順と同じ手順によりマザー基板MにスクライブラインS1、S2を加工して端子領域Tを有する短冊状基板M1を切り出す。その後、分断予定ラインに沿って短冊状基板M1にスクライブラインS3を加工して製品領域Pと端子領域Tと有する単位製品M2を切り出す。ここで、製品領域Pは第一基板(CF側基板)1と第二基板(TFT側基板)2のそれぞれを有する領域であり、端子領域TはCF側基板1が予め端子幅分切除されてTFT側基板のみが残されている領域である。   Using the first and second cutter wheels 3a and 3b of this scribing device, the scribe lines S1 and S2 are processed on the mother board M by the same procedure as that shown in FIGS. The strip-shaped substrate M1 having the region T is cut out. Thereafter, the scribe line S3 is processed on the strip-shaped substrate M1 along the planned dividing line to cut out the unit product M2 having the product region P and the terminal region T. Here, the product region P is a region having each of the first substrate (CF side substrate) 1 and the second substrate (TFT side substrate) 2, and the terminal region T is obtained by cutting the CF side substrate 1 in advance by the terminal width. This is a region where only the TFT side substrate remains.

本発明では、この端子領域Tを有する短冊状基板M1にスクライブラインS3を加工するときに下記の手段で行うようにした。すなわち、端子領域Tを有する第二基板(TFT側基板)2を第二カッターホイール3bで押し付けてスクライブしたときに、予め端子領域Tに破壊が生じるカッターホイール3bの基板への切込量を破壊切込量として探索して設定しておき、スクライブ時に破壊切込量を超えない適正切込量の加工条件の範囲内でカッターホイール3bを押し込んでスクライブすることにより、端子領域Tの変形を緩和して端子領域Tにおける破壊の発生をなくすようにした。   In the present invention, when the scribe line S3 is processed on the strip-shaped substrate M1 having the terminal region T, the following means is used. That is, when the second substrate (TFT side substrate) 2 having the terminal region T is pressed and scribed by the second cutter wheel 3b, the cutting amount of the cutter wheel 3b in which the terminal region T is broken in advance is destroyed. By searching and setting as the cutting depth and scribing by pushing the cutter wheel 3b within the range of the appropriate cutting depth machining conditions that do not exceed the fracture cutting depth at the time of scribing, the deformation of the terminal region T is alleviated. Thus, the occurrence of destruction in the terminal region T is eliminated.

発明者等は、TFT側基板2の厚みが0.3mm、端子幅6mmの貼り合わせ基板(短冊状基板M1)を、直径2mmの第一、第二のカッターホイール3a、3bを用いて「先行切り」のスクライブ手法により1.0mmの切込量でスクライブラインを加工するスクライブ実験を行った。その結果、図9に示すように、端子領域Tの変形により破壊が発生し、その時の第二カッターホイール3bのZ軸アドレスの変化量hは0.41mmであることが確認された。なお、Z軸アドレスとは、スクライブ時におけるカッターホイールの基板厚さ方向に沿った移動軌跡の位置をいい、変化量hはカッターホイールが基板に接触する位置を基準(0点)として、設定された切込量に応じた実際のカッターホイールの位置の変化量をいう。   The inventors use a first and second cutter wheels 3a and 3b having a diameter of 2 mm to attach a bonded substrate (strip-shaped substrate M1) having a TFT side substrate 2 thickness of 0.3 mm and a terminal width of 6 mm. A scribing experiment was performed in which a scribing line was processed with a cutting depth of 1.0 mm by the scribing method of “cutting”. As a result, as shown in FIG. 9, it was confirmed that destruction occurred due to the deformation of the terminal region T, and the change amount h of the Z-axis address of the second cutter wheel 3b at that time was 0.41 mm. The Z-axis address refers to the position of the movement trajectory along the substrate thickness direction of the cutter wheel at the time of scribing, and the change amount h is set based on the position (0 point) where the cutter wheel contacts the substrate. The amount of change in the actual cutter wheel position according to the cut depth.

また、上記と同じ貼り合わせ基板に、それぞれ0.1mm〜0.9mmの切込量を設定してスクライブ実験を行った。その結果を図15に示す。これによれば、切込量が0.1mm〜0.3mmでは、端子領域TにおけるZ軸アドレスの最大変化量が0.4mm以下であり、上記の端子破壊点を超えない範囲に収まっているが、切込量0.5mm以上ではZ軸アドレスの最大変化量が端子破壊点を超えており、端子領域Tに破壊が発生する可能性が高くなる。したがって、0.1mm〜0.3mmが適正切込量となる。実際に、図15における切込量0.3mmの場合の図10におけるZ軸アドレスの最大変化量は0.253mmであって、端子領域Tの変形は小さく抑制され、端子領域Tの破壊は発生しない。   In addition, scribing experiments were performed on the same bonded substrate as described above by setting a cutting amount of 0.1 mm to 0.9 mm. The result is shown in FIG. According to this, when the cutting depth is 0.1 mm to 0.3 mm, the maximum change amount of the Z-axis address in the terminal region T is 0.4 mm or less, and is within a range not exceeding the above-described terminal breaking point. However, when the cutting depth is 0.5 mm or more, the maximum amount of change in the Z-axis address exceeds the terminal breakdown point, and the possibility that the terminal area T is broken increases. Therefore, the appropriate cutting amount is 0.1 mm to 0.3 mm. Actually, the maximum change amount of the Z-axis address in FIG. 10 when the depth of cut is 0.3 mm in FIG. 15 is 0.253 mm, the deformation of the terminal region T is suppressed to a small extent, and the destruction of the terminal region T occurs. do not do.

このようなスクライブ実験を、0.1mm〜1.0mmの厚みの貼り合わせ基板に対してそれぞれ行うことにより、Z軸アドレスの最大変化量が端子破壊点を超えない適正切込量を各板厚ごとに分類して設定する。そしてこの設定値をスクライブレシピとして、スクライブ装置に付帯するコンピュータの制御部に記憶させておき、スクライブ開始時に、加工すべき基板に対応する希望の切込量をレシピから選択してコンピュータ制御によりスクライブするようにした。   By performing such a scribing experiment on each of the bonded substrates having a thickness of 0.1 mm to 1.0 mm, an appropriate cutting amount in which the maximum change amount of the Z-axis address does not exceed the terminal breaking point is set for each plate thickness. Classify and set for each. This set value is stored as a scribing recipe in a computer control unit attached to the scribing device, and at the start of scribing, a desired cutting amount corresponding to the substrate to be processed is selected from the recipe and the scribing is performed by computer control. I tried to do it.

次に、図11、図12を参照して、端子領域Tを含む第二基板において、スクライブラインの始点が製品領域Pに位置し、スクライブラインの終点に端子領域Tが位置する場合に行われるスクライブ過程について説明する。図11は第一、第二カッターホイールによるスクライブ過程を示す説明図であり、図12は第一、第二カッターホイールによる端子領域のスクライブ過程を示す説明図である。   Next, referring to FIG. 11 and FIG. 12, in the second substrate including the terminal region T, this is performed when the start point of the scribe line is located in the product region P and the terminal region T is located at the end point of the scribe line. The scribe process will be described. FIG. 11 is an explanatory view showing a scribing process by the first and second cutter wheels, and FIG. 12 is an explanatory view showing a terminal area scribing process by the first and second cutter wheels.

TFT側基板2に対して、上記の適正切込量と、第一のスクライブ荷重が選択され、スクライブ始点に第二カッターホイール3bが押しつけられる。第二カッターホイール3bが所定の走行速度(スクライブ速度)で転動させられることにより、製品領域Pにスクライブラインが形成される。続いて、端子領域Tをスクライブする際に、第一のスクライブ荷重より、例えば20〜50%小さい第二のスクライブ荷重が選択される。具体的には、端子領域Tより所定距離内側からスクライブ荷重が変化し、端子領域Tの根元部Rから終端部においては第二のスクライブ荷重でスクライブラインが形成される。端子領域Tの根元部Rから確実に第二のスクライブ荷重とするためには、端子領域Tから内側、すなわち製品領域Pの端子領域T近傍で荷重が変化し始めることが好ましい。一方、製品領域Pでのスクライブ荷重が小さい場合、垂直クラックの深さが小さくなり、後の分断工程において分断不良が発生する可能性がある。このため、製品領域Pの、端子領域Tの根元部Rより1〜2mm内側の位置から荷重を変化させることが好ましい。これにより、端子領域の変形をさらに抑制することができ、特に、シフト切りにより、基板の変形がスクライブ進行方向から見て非対称になる場合に、ソゲの発生を抑制することができる。   The appropriate cutting amount and the first scribe load are selected for the TFT side substrate 2, and the second cutter wheel 3b is pressed against the scribe start point. A scribe line is formed in the product region P by causing the second cutter wheel 3b to roll at a predetermined traveling speed (scribe speed). Subsequently, when the terminal region T is scribed, a second scribe load that is, for example, 20 to 50% smaller than the first scribe load is selected. Specifically, the scribe load changes from the inside of the terminal region T by a predetermined distance, and a scribe line is formed by the second scribe load from the root portion R to the terminal portion of the terminal region T. In order to ensure the second scribe load from the root portion R of the terminal region T, it is preferable that the load starts to change from the terminal region T, that is, in the vicinity of the terminal region T of the product region P. On the other hand, when the scribe load in the product region P is small, the depth of the vertical crack becomes small, and there is a possibility that a division failure may occur in the subsequent division step. For this reason, it is preferable to change a load from the position inside 1-2 mm from the root part R of the terminal area | region T of the product area | region P. FIG. As a result, the deformation of the terminal region can be further suppressed, and in particular, the generation of soge can be suppressed when the deformation of the substrate becomes asymmetric when viewed from the scribe progression direction due to shift cutting.

さらに、端子領域Tの終端部においては、図10に示すように、端子領域Tの終端位置の近傍Nまでは水平な走行ライン15に沿って移行させ、端子領域Tの終端位置の近傍Nから端子領域Tの終端位置までは端子領域Tの表面から徐々に、かつ、わずかに離れるように走行させる。そして、端子領域Tの終端位置に達すると停止時間ゼロで瞬時に垂直方向へ退避させるようにした。具体的には、終端位置より例えば10μm内側から第二カッターホイール3bが端子領域Tの表面から離れはじめることで、確実に端子領域Tの終端位置において停止することなく垂直方向へ退避することが可能である。   Furthermore, at the terminal portion of the terminal region T, as shown in FIG. 10, the terminal region T is moved along the horizontal travel line 15 up to the vicinity N of the terminal region T, and from the vicinity N of the terminal region T to the terminal region T. The terminal region T is caused to travel gradually and slightly away from the surface of the terminal region T until the terminal position of the terminal region T is reached. Then, when the terminal position of the terminal region T is reached, it is retracted instantaneously in the vertical direction with zero stop time. Specifically, the second cutter wheel 3b starts to move away from the surface of the terminal region T from, for example, 10 μm from the end position, so that it can be retracted in the vertical direction without stopping at the end position of the terminal region T. It is.

次に、第一基板(CF側基板)1のスクライブ動作について説明する。本実施の形態においては、第一基板(CF側基板)1と第二基板(TFT側基板)2において、第一カッターホイール3aと第二カッターホイール3bにより同時にスクライブ動作が行われる。CF側基板1においても、TFT側基板2と同様に、切込量と、前述の第一のスクライブ荷重が選択され、スクライブ始点に第一カッターホイール3aが押しつけられて、所定のスクライブ速度で製品領域Pのスクライブが実行される。続いて、対向するTFT基板の端子領域Tがスクライブされる間、第一のスクライブ荷重より、例えば20〜50%小さい第二のスクライブ荷重によりスクライブが行われる。具体的には、TFT側基板の第二カッターホイール3bによって加えられる荷重が変化し始めるのと同時に、CF側基板においても荷重が変化させられ、TFT側基板の端子幅wに相当する距離が第二のスクライブ荷重でスクライブが行われる。すなわち、製品領域Pの終端部より、端子幅wに加えて1〜2mm内側の位置から荷重を変化させることが好ましい。このように第一カッターホイール3aと第二カッターホイール3bの荷重が同時に変化するため、マザー基板にかかる負荷が不均一になることがない。従って、マザー基板全体の変形を抑制することができる。   Next, the scribing operation of the first substrate (CF side substrate) 1 will be described. In the present embodiment, a scribing operation is simultaneously performed on the first substrate (CF side substrate) 1 and the second substrate (TFT side substrate) 2 by the first cutter wheel 3a and the second cutter wheel 3b. Similarly to the TFT side substrate 2, the CF side substrate 1 selects the cutting amount and the first scribe load described above, and the first cutter wheel 3 a is pressed against the scribe start point, so that the product is obtained at a predetermined scribe speed. The scribing of the area P is executed. Subsequently, while the terminal region T of the opposing TFT substrate is scribed, scribing is performed with a second scribe load that is 20 to 50% smaller than the first scribe load, for example. Specifically, the load applied by the second cutter wheel 3b of the TFT side substrate starts to change, and at the same time, the load is also changed in the CF side substrate, and the distance corresponding to the terminal width w of the TFT side substrate is the first. Scribing is performed with a second scribe load. That is, it is preferable to change the load from a position on the inner side of 1 to 2 mm in addition to the terminal width w from the end portion of the product region P. Thus, since the load of the 1st cutter wheel 3a and the 2nd cutter wheel 3b changes simultaneously, the load concerning a mother board | substrate does not become non-uniform | heterogenous. Therefore, deformation of the entire mother board can be suppressed.

また、第一基板終端位置の近傍までは第一カッターホイール3aを第一基板表面に水平な走行ラインに沿って移行させ、CF側基板1の終端位置の近傍から終端位置までは第一基板の表面から徐々に、かつ、わずかに離れるように走行させる。そして、第一基板の終端位置に達すると停止時間ゼロで瞬時に垂直方向へ退避させる。具体的には、終端位置より例えば10μm内側から第一カッターホイール3aがCF側基板1の表面から離れはじめることで、確実にCF側基板1の終端位置において停止することなく垂直方向へ退避することが可能である。このようにCF側基板1をスクライブする第一カッターホイール3aも基板の終端で瞬時に退避するため、第一カッターホイールの停止時間中にCF側基板1の終端にのみ負荷がかかり続けることがなくなる。従って、CF側基板1並びにマザー基板M全体の変形も抑制することができる。 Further, the first cutter wheel 3a is moved along the traveling line horizontal to the surface of the first substrate up to the vicinity of the first substrate end position, and from the vicinity of the end position of the CF side substrate 1 to the end position of the first substrate. Run slowly and slightly away from the surface. When the end position of the first substrate is reached, the first substrate is instantaneously retracted in the vertical direction with zero stop time. Specifically, the first cutter wheel 3a starts to move away from the surface of the CF side substrate 1 from, for example, 10 μm from the end position, so that the first cutter wheel 3a can be surely retracted without stopping at the end position of the CF side substrate 1. Is possible . Since the first cutter wheel 3a scribing CF side substrate 1 as this also retracts instantly at the end of the substrate, that load only at the end of the CF-side substrate 1 is continuously applied while the first cutter wheel downtime Disappear. Therefore, deformation of the CF side substrate 1 and the mother substrate M as a whole can also be suppressed.

このとき、第一カッターホイール3aと第二カッターホイール3bとが、同時にマザー基板Mから退避するように、言い換えれば、第一カッターホイール3aがCF側基板の終端位置に達すると同時に第二カッターホイール3bがTFT側基板2の端子領域Tの終端位置に達するように、スクライブ速度等のスクライブ条件を設定することが好ましい。これにより、第一カッターホイール3aと第二カッターホイール3bがマザー基板Mの終端で瞬時に退避するため、マザー基板Mにかかる負荷が不均一になることがない。従って、マザー基板全体の変形も抑制することができる。   At this time, the first cutter wheel 3a and the second cutter wheel 3b are retracted from the mother substrate M at the same time, in other words, the first cutter wheel 3a reaches the terminal position of the CF side substrate and at the same time the second cutter wheel. It is preferable to set a scribe condition such as a scribe speed so that 3b reaches the terminal position of the terminal region T of the TFT side substrate 2. As a result, the first cutter wheel 3a and the second cutter wheel 3b are retracted instantaneously at the end of the mother substrate M, so that the load on the mother substrate M does not become uneven. Therefore, deformation of the entire mother board can also be suppressed.

なお、CF側基板1には端子領域Tが存在しないため、CF側基板1における切込量としては、TFT側基板2と同じ適正切込量を用いてもよく、適正切込量より大きな切込量を用いてもよい。製品領域PにおいてはCF側基板1とTFT側基板2が互いに貼り合わされており、CF側基板1においては端子破壊点を超える切込量を用いても、基板の破壊に至る変形は生じないためである。   In addition, since the terminal area T does not exist in the CF side substrate 1, the same appropriate cutting amount as that of the TFT side substrate 2 may be used as the cutting amount in the CF side substrate 1, and the cutting amount larger than the appropriate cutting amount may be used. Complicated amount may be used. In the product region P, the CF side substrate 1 and the TFT side substrate 2 are bonded to each other, and even if a cut amount exceeding the terminal breakdown point is used in the CF side substrate 1, no deformation that leads to the destruction of the substrate occurs. It is.

図13は、スクライブレシピSDの一例を示す図である。各スクライブレシピSDには、レシピNo.1…No.nのようにレシピごとに識別するための番号が付されている。それぞれのスクライブレシピSDには、基板の厚み、切込量、端子幅、使用されるカッターホイールの直径並びに刃先の種類、カッターホイールの走行速度、スクライブ荷重などがスクライブ情報として分類して記述されている。そして、オペレータによりこれから実行しようとするスクライブ加工に適合したレシピの1つが選択されると、制御部がこれを読み込むことで、スクライブレシピSDに記述された内容に基づいてカッターホイールの上昇量が制御されてスクライブ処理が実行される。   FIG. 13 is a diagram illustrating an example of the scribe recipe SD. Each scribe recipe SD has a recipe no. 1 ... No. A number for identifying each recipe, such as n, is attached. In each scribe recipe SD, the thickness of the substrate, the depth of cut, the terminal width, the diameter of the cutter wheel used, the type of blade edge, the traveling speed of the cutter wheel, the scribe load, etc. are classified and described as scribe information. Yes. Then, when one of the recipes suitable for the scribe process to be executed is selected by the operator, the controller reads the recipe, and the amount of lift of the cutter wheel is controlled based on the contents described in the scribe recipe SD. The scribe process is executed.

図14は、コンピュータ11の構造を示すブロック図である。コンピュータ11は、CPU、RAM、ROM等のコンピュータハードウエアにより実現される制御部12と、入力部13と、処理メニューや動作状況が表示される表示部14を備えている。制御部12は、テーブル4による基板の吸着保持、モータ10によるスクライブヘッド6、6の移動、昇降機構によるカッターホイール3a、3bの昇降動作等、基板に対する加工処理動作全般の制御を行う。入力部13は、オペレータがスクライブ装置に対して種々の操作指示やデータを入力するためのインターフェースである。   FIG. 14 is a block diagram showing the structure of the computer 11. The computer 11 includes a control unit 12 realized by computer hardware such as a CPU, a RAM, and a ROM, an input unit 13, and a display unit 14 on which a processing menu and an operation status are displayed. The control unit 12 controls the overall processing operation of the substrate, such as suction holding of the substrate by the table 4, movement of the scribe heads 6 and 6 by the motor 10, and lifting and lowering of the cutter wheels 3a and 3b by the lifting mechanism. The input unit 13 is an interface for an operator to input various operation instructions and data to the scribe device.

本発明は上記したように、端子領域Tの部分を第二カッターホイール3bで切り込んでスクライブしたときに、端子領域Tが変形して破壊が生じるカッターホイールの位置を端子破壊点とし、この端子破壊点を超えない適正切込量を選択してスクライブを行うとともに、端子領域の終端においてカッターホイールが停止することなく端子領域から退避するようにした。これにより、基板の厚さが小さく、端子幅が大きい端子領域Tの変形が生じやすい条件下においても、第二カッターホイール3bのスクライブ終端時において端子領域Tの変形が抑制されて、端子領域Tが破壊されるのを確実に防止することができる。また、端子領域Tのスクライブ時にはスクライブ荷重を低減することで、端子領域T以外のスクライブ荷重を高くする場合においても先走りやソゲ等の不具合を抑制することができ、高品質の製品を得ることができる。   As described above, according to the present invention, when the portion of the terminal region T is cut by the second cutter wheel 3b and scribed, the position of the cutter wheel where the terminal region T is deformed and broken is defined as the terminal breaking point. Scribing was performed by selecting an appropriate cutting amount not exceeding the point, and the cutter wheel was retracted from the terminal area without stopping at the end of the terminal area. Accordingly, even when the terminal region T is thin and has a large terminal width, the terminal region T is prevented from being deformed at the end of the scribing of the second cutter wheel 3b. Can be reliably prevented from being destroyed. Further, by reducing the scribe load when scribing the terminal region T, it is possible to suppress problems such as pre-running and sogging even when the scribe load other than the terminal region T is increased, and to obtain a high-quality product. it can.

以上、本発明の代表的な実施例について説明したが、本発明は必ずしも上記の実施形態に特定されるものではなく、本発明の目的を達成し、請求の範囲を逸脱しない範囲内で適宜修正、変更することが可能である。
例えば、本実施の形態においてはマザー基板Mがテーブル4上にCF側基板1が上面となるように配置されているが、TFT側基板2が上面となるように配置されてもよい。この場合、第一のカッターホイール3aがテーブルの下方に、第二のカッターホイール3bがテーブルの上方にそれぞれ配置される。
As described above, the representative examples of the present invention have been described. However, the present invention is not necessarily limited to the above-described embodiments, and can be appropriately modified within the scope of achieving the object of the present invention and not departing from the scope of the claims. It is possible to change.
For example, in the present embodiment, the mother substrate M is arranged on the table 4 so that the CF side substrate 1 becomes the upper surface, but may be arranged so that the TFT side substrate 2 becomes the upper surface. In this case, the first cutter wheel 3a is disposed below the table, and the second cutter wheel 3b is disposed above the table.

本発明の基板のスクライブ方法およびスクライブ装置は、基板に分断用のスクライブラインを加工するときに利用することができる。 Scribe method and the scribing apparatus of the board of the present invention can be utilized when processing a scribe line for dividing the substrate.

M マザー基板
M1 短冊状基板
M2 単位製品
SD スクライブレシピ
T 端子領域
1 第一基板(CF側基板)
2 第二基板(TFT側基板)
3a 第一カッターホイール
3b 第二カッターホイール
4 テーブル
11 コンピュータ
12 制御部
M Mother board M1 Strip board M2 Unit product SD Scribe recipe T Terminal area 1 First board (CF side board)
2 Second substrate (TFT side substrate)
3a 1st cutter wheel 3b 2nd cutter wheel 4 Table 11 Computer 12 Control part

Claims (5)

板の表面に分断用のスクライブラインを加工するスクライブ方法であって、
カッターホイールを、前記基板の終端位置の近傍に至るまでは前記基板の表面と平行な走行ラインに沿って移行させ、前記基板の終端位置の近傍から前記基板の終端位置までは前記基板の表面から徐々に離れるように走行させ、前記基板の終端位置に達すると停止時間ゼロで瞬時に基板から退避させるようにしたスクライブ方法。
A scribing method for processing a scribe line for dividing a surface of a base plate,
The cutter wheel is moved along a travel line parallel to the surface of the substrate until it reaches the vicinity of the end position of the substrate, and from the vicinity of the end position of the substrate to the end position of the substrate from the surface of the substrate. A scribing method in which the vehicle is moved away gradually, and when it reaches the end position of the substrate, it is retracted from the substrate instantaneously with zero stop time .
前記基板の終端位置は、前記基板の端子領域に位置する、請求項1に記載のスクライブ方法。 The scribing method according to claim 1 , wherein an end position of the substrate is located in a terminal region of the substrate . 予め探索された、端子破壊点を超えない少なくとも1つの適正切込量の加工条件のデータが記憶されたスクライブレシピの1つを選択し、当該加工条件に基づいて前記基板をスクライブする、請求項2に記載のスクライブ方法。A scribing recipe in which data of processing conditions of at least one appropriate cutting amount that does not exceed a terminal breaking point, which is searched in advance, is stored is selected, and the substrate is scribed based on the processing conditions. 2. The scribing method according to 2. 前記カッターホイールを、前記基板の終端位置の近傍に至るまでは第一のスクライブ荷重でスクライブし、前記基板の終端位置の近傍から前記基板の終端位置までは前記第一のスクライブ荷重より小さい第二のスクライブ荷重でスクライブするようにした、請求項1から3のいずれか1項に記載のスクライブ方法。The cutter wheel is scribed with a first scribe load until it reaches the vicinity of the end position of the substrate, and a second smaller than the first scribe load from the vicinity of the end position of the substrate to the end position of the substrate. The scribing method according to any one of claims 1 to 3, wherein scribing is performed with a scribing load of. 板の面に分断用のスクライブラインを加工するスクライブ装置であって、
加工すべき基板を保持するテーブルと、
前記テーブルに保持された基板に昇降機構を介して昇降可能に配置され、前記基板を走行するカッターホイールと、前記カッターホイールによる基板加工処理全般の制御を行う制御部と、を含み、
前記制御部は、
前記カッターホイールが、前記基板の終端位置の近傍に至るまでは前記基板の表面と平行な走行ラインに沿って移行し、前記基板の終端位置の近傍から前記基板の終端位置までは前記基板の表面から徐々に離れるように走行し、前記基板の終端位置に達すると停止時間ゼロで瞬時に前記基板から退避するように前記昇降機構を昇降させるようにしたスクライブ装置。
A scribing apparatus for processing a scribe line for dividing the front surface of the base plate,
A table for holding the workpiece all-out board,
Through the lifting mechanism to the substrate held on the table it is movable vertically arranged, includes a Luca Tsu coater wheel to travel a pre-Symbol substrate, and a control unit for controlling the substrate processing in general by the cutter wheel,
The controller is
The cutter wheel moves along a running line parallel to the surface of the substrate until it reaches the vicinity of the termination position of the substrate, and the surface of the substrate extends from the vicinity of the termination position of the substrate to the termination position of the substrate. gradually it travels away from the scan Clive apparatus the lifting mechanism so as to retreat from the substrate instantaneously and downtime reaching the end position of the substrate so as to lift.
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