JP2019160160A - プラント制御装置用試験装置、プラント制御装置用試験装置運用システム、およびプラント制御装置試験手順書自動生成方法 - Google Patents

プラント制御装置用試験装置、プラント制御装置用試験装置運用システム、およびプラント制御装置試験手順書自動生成方法 Download PDF

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Abstract

【課題】プラント制御装置の試験に関して、人間系の作業を低減する。【解決手段】実施形態によれば、プラント制御装置用試験装置100は、入力指令条件を生成する入力指令条件設定部30と、入力指令条件を格納する入力指令条件収納部30と、機能検証の対象となる演算ロジックを格納し入力指令条件収納部30に収納された入力指令条件を入力として受け入れて演算ロジックによる演算を行う演算部40と、演算部40の演算結果である出力指令条件を格納する出力指令条件収納部51と、入力指令条件収納部30に収納された入力指令条件と出力指令条件収納部51に収納された出力指令条件との組合せに基づいて試験手順書データを生成する試験手順書自動生成部60とを備える。【選択図】図1

Description

本発明の実施形態は、プラント制御装置用試験装置、プラント制御装置用試験装置運用システム、およびプラント制御装置試験手順書自動生成方法に関する。
従来、原子力発電所のプラント制御装置の制御回路の機能検証を実施する場合には、試験の実施までに多くのステップを経ていた。すなわち、まず、回路機能を表わす機能ブロック図(インターロックブロック線図)に基づき、入力信号である操作指令信号、操作指令信号の成立を許可する操作許可信号、および、人間系の操作を介さずに自動的にポンプや弁等の駆動端に起動/停止指令や開閉指令を出力する自動駆動指令信号の各信号状態を演算する。次に、その演算結果により各駆動端への出力信号の成立状態を手順書作成者が考え、それを試験手順の入力信号条件や判定値に展開する。さらに制御盤のハードワイヤー接続を表わす展開接続図等により、操作機器/条件信号/駆動端の名称/端子台番号等を反映する。このようにして、試験員が実機にて試験可能な試験手順書を作成していた。また、この手順書に従って、試験を実施していた。
特開2017−102781号公報
前述した試験手順書の作成作業は、各入力信号と出力信号の組み合わせを人間系で摘出するため、手順書の作成作業に時間を要するとともに、見落とし等のヒューマンエラーによる誤った条件設定や誤った判定を生ずるリスクがあった。
一方、プラント制御装置の動作が正常であるか否かを自動判定するプラント制御装置用試験装置も提案されている。すなわち、まず、機能検証のための試験対象であるプラント制御装置に対し、監視操作模擬盤とプラントの挙動を模擬するシミュレータを組み合わせた体系を設定する。次に、あらかじめデータベース化された試験手順に従い、監視操作模擬盤またはシミュレータへ模擬入力を入力する。プラント制御装置の制御演算部を介し、再度、前記監視操作模擬盤またはシミュレータへ出力される信号を確認する。入力される模擬信号とこの出力される信号の組み合わせに基づいて、プラント制御装置の動作が正常であるか否かを自動判定する方法である。
しかしながら、試験手順のデータベース化の方法については、これまで、具体的に示されているものがなかった。
また、ディジタル化されている制御装置では、前述の例のように自動試験装置の導入が行われているが、たとえば、原子力発電所の重大事故発生時にもプラント制御を継続させる機能を有する制御盤においては、機器の信頼性の確保の観点から、その制御機能をハード機器であるリレー回路により構築している制御盤が主である。このような場合には、試験手順書作成だけでなく、試験の実施についても人間系で行うことになるため、試験作業にも時間を要していた。
そこで、本発明の実施形態は、プラント制御装置の試験に関して、人間系の作業を低減することを目的とする。
上述の目的を達成するため、本実施形態に係るプラント制御装置用試験装置は、入力指令条件を生成する入力指令条件設定部と、前記入力指令条件を格納する入力指令条件収納部と、機能検証の対象となる演算ロジックを格納し、前記入力指令条件収納部に収納された前記入力指令条件を入力として受け入れて、前記演算ロジックによる演算を行う演算部と、前記演算部の演算結果である出力指令条件を格納する出力指令条件収納部と、前記入力指令条件収納部に収納された前記入力指令条件と前記出力指令条件収納部に収納された前記出力指令条件との組合せに基づいて試験手順書データを生成する試験手順書自動生成部と、を備えることを特徴とする。
また、本実施形態は、被制御側制御盤と前記被制御側制御盤を制御する制御側制御盤とが設けられた体系において、前記制御側制御盤に代わって前記被制御側制御盤を制御するプラント制御装置用試験装置運用システムであって、前記制御側制御盤と並列に配され、フィードバック信号としての入力を受け入れる信号入力部と、前記出力指令条件収納部に収納された出力指令条件を出力する信号出力部と、をさらに有する請求項1または請求項2に記載のプラント制御装置用試験装置と、前記制御側制御盤が前記被制御側制御盤を制御する状態と、前記プラント制御装置用試験装置が前記被制御側制御盤を制御する状態とを切り替える入出力信号切り替え装置と、を具備することを特徴とする。
また、本実施形態は、被制御側制御盤と前記被制御側制御盤を制御する制御側制御盤とが設けられた体系において、前記制御側制御盤に代わって前記被制御側制御盤を制御するプラント制御装置用試験装置運用システムであって、前記制御側制御盤と並列に配され、フィードバック信号としての入力を受け入れる信号入力部と、前記制御側制御盤からの指令信号を受け入れる信号受信部と、前記信号受信部で受け入れた指令信号と、前記出力指令条件に収納された出力指令条件とを比較照合し一致しているか否かを判定する試験結果判定部とをさらに有する請求項1または請求項2に記載のプラント制御装置用試験装置と、前記信号入力部が前記フィードバック信号を受け入れ、かつ前記信号受信部が前記指令信号を受け入れる状態と、いずれも受け入れない状態とを切り替える入出力信号分配装置と、を具備することを特徴とする。
また、本実施形態に係るプラント制御装置試験手順書自動生成方法は、入力指令条件収納部が、入力指令条件を収納する入力指令条件データ収納ステップと、演算結果記録部が、前記入力指令条件データ収納ステップで収納された前記入力指令条件を読み出し、記憶する入力指令条件記録ステップと、演算部が、前記入力指令条件データ収納ステップで収納された入力指令条件に基づき出力指令条件を演算する演算ステップと、出力指令条件収納部が、前記演算ステップにより演算された出力指令条件を収納する出力指令条件収納ステップと、前記出力指令条件収納ステップで収納された出力指令条件を読み出し、記憶する出力指令条件記録ステップと、試験手順書データ生成部が、前記入力指令条件記録ステップで記憶された前記入力指令条件と、前記出力指令条件記録ステップで記憶された前記出力指令条件とに基づいて、試験手順書データを作成する試験手順書生成ステップと、を有すること特徴とする。
本発明の実施形態によれば、プラント制御装置の試験に関して、人間系の作業を低減することができる。
第1の実施形態に係るプラント制御装置用試験装置の構成を示すブロック図である。 第1の実施形態に係るプラント制御装置用試験装置の入力部を説明する部分的なインターロックブロック線図である。 第1の実施形態に係るプラント制御装置用試験装置の入力指令条件収納部に収納されるデータの構成を示す入力指令条件表である。 第1の実施形態に係るプラント制御装置用試験装置の出力指令条件収納部に収納されるデータの構成を示す出力指令条件表である。 第1の実施形態に係るプラント制御装置用試験装置の信号・機器情報データベースに収納されるデータの構成を示す信号・機器情報データ表である。 第1の実施形態に係るプラント制御装置試験手順書自動生成方法の手順を示すフロー図である。 第2の実施形態に係るプラント制御装置用試験装置を制御盤の試験に用いた場合の構成を示すブロック図である。 第3の実施形態に係るプラント制御装置用試験装置運用システムの構成を示すブロック図である。 第4の実施形態に係るプラント制御装置用試験装置運用システムの構成を示すブロック図である。
以下、図面を参照して、本発明の実施形態に係るプラント制御装置用試験装置、プラント制御装置用試験装置運用システム、およびプラント制御装置試験手順書自動生成方法について説明する。ここで、互いに同一または類似の部分には、共通の符号を付して、重畳する説明は省略する。
[第1の実施形態]
図1は、第1の実施形態に係るプラント制御装置用試験装置の構成を示すブロック図である。
プラント制御装置用試験装置100は、信号入力部10、入力指令条件設定部20、入力指令条件収納部30、演算部40、出力指令条件収納部51、信号出力部52、および試験手順書自動生成部60を有する。
以下に説明するように、プラント制御装置用試験装置100は、試験対象となるプラント制御装置の機能を模擬し、プラント制御装置の制御対象となる機器、制御器、あるいはプラントのシミュレータ等(以下、外部装置・システム)からのフィードバック信号や外部入力を受け入れ、かつ、これらの外部装置・システムへの指令を出力することが可能に構成されている。また、プラント制御装置用試験装置100は、内部の演算結果に基づいて、試験手順書を自動的に生成することが可能に構成されている。
信号入力部10は、操作指令収納部11、自動指令信号収納部12、成立条件収納部13、および状態信号入力部14を有する。
このうち、状態信号入力部14は、プラント制御装置用試験装置100からの出力を受けた外部装置・システムからのフィードバック信号である状態信号を受け入れる機能を有する。
一方、操作指令収納部11、自動指令信号収納部12、および成立条件収納部13は、外部からの指令、あるいは状態信号を受け入れる部分である。
図2は、入力部を説明する部分的なインターロックブロック線図であり、入力指令信号の生成に係る典型的なロジックを示している。入力指令信号は、演算部40への入力となる信号である。
通常、操作指令信号または自動指令信号が外部から入力され、かつ、プラントにおけるインターロックを含めてプラントの状態が成立条件を満たしているという成立条件信号が入力された場合に、それぞれの入力指令信号が生成される。なお、図2は、入力部を説明するために、信号入力部10と演算部40との関係のみを示している。すなわち、図2では図示を省略しているが、後述するように、信号入力部10と演算部40の間に介在する入力指令条件設定部20が、どの入力指令信号を出力するかについて調整する。
操作指令信号とは、運転員、操作員が、たとえば盤面での操作スイッチを操作することにより生じた信号である。たとえば、対象とする機器がポンプの場合でポンプの操作スイッチが切り替えスイッチである場合、切り替えスイッチが、ポンプ起動側であるのか、ポンプ停止側であるのかといったポンプの運転操作指示に係る信号である。操作指令収納部11は、この操作指令信号を受け入れて収納する。
自動指令信号とは、たとえば、プラント制御装置の上位のプラント全体を統括する制御用計算機から出力される指令信号である。あるいは、他のプラント制御装置から自動的に出力される要求信号である。自動指令信号収納部12は、この自動指令信号を受け入れて収納する。
成立条件信号は、たとえば、機器の起動条件が成立していること、あるいは、成立条件に係る各信号に基づくロジックが成立していることを意味する信号である。機器の起動条件は、たとえば、対象とする機器がポンプの場合、そのポンプの軸受温度が正常であること、そのポンプの電源電圧が正常であること、あるいは締め切り起動が必要な場合に出口弁が閉状態であること、などのポンプ起動に必要な条件である。
成立条件収納部13は、この成立条件信号を受け入れて収納する。なお、成立条件収納部13がこの成立条件ロジックを収納し、成立条件に係る個別の信号を個々に受け入れることでもよい。
操作指令収納部11、自動指令信号収納部12、および成立条件収納部13のそれぞれからの出力は、入力指令条件を構成し、これらは、入力指令条件収納部30に入力される。
入力指令条件設定部20は、入力指令条件収納部30に入力される入力指令条件を編集する機能を有する。入力指令条件設定部20は、入力指令条件グループ設定部21、入力指令条件組合せ抽出部22、および入力指令条件除外部23を有する。
入力指令条件グループ設定部21は、操作指令信号、自動指令信号、および成立条件信号のそれぞれに関するグループを設定しその結果を収納する。たとえば、動作条件が異なり、同時に動作指令がなされることがない2種類の非常用の冷却系統Aと非常用の冷却系統Bとがある場合、これらは、別のグループに区分する。
入力指令条件組合せ抽出部22は、操作指令信号、自動指令信号、および成立条件信号の全ての組合せを摘出する。この際、グループがある場合は、グループ内で、全組合せを摘出する。すなわち、非常用の冷却系統Aの場合は、その系統に属するポンプ、弁、対応する電源系等について摘出する。
入力指令条件除外部23は、操作指令信号、自動指令信号、および成立条件信号の組合せのうち、入力指令条件として無意味な組み合わせを除外する。無意味な組み合わせとしては、たとえば、非常用の冷却系統Aと非常用の冷却系統Bのそれぞれに属する機器などに関する信号のように、互いに同時に発生しない組合せを除外する。あるいは、ポンプ起動側の信号とポンプ停止側の信号のように、互いに矛盾する信号の組合せを除外する。
入力指令条件収納部30はメモリーであり、以上のように、入力指令条件設定部20の入力指令条件グループ設定部21、入力指令条件組合せ抽出部22、および入力指令条件除外部23により編集された入力指令条件を格納する。
図3は、入力指令条件収納部に収納されるデータの構成を示す入力指令条件表である。
入力指令条件表30aは、2次元的な配列である。各行は、入力指令条件の組合せ番号を示す。組合せは、入力指令条件グループ設定部21によりグループ設定された後の全組合せである。それぞれの組合せ番号について、入力指令条件に関する列、および条件設定に関する列が配列されている。
入力指令条件に関する列は、操作指令Xa、自動指令Xb、および成立条件Xcの列からなる。操作指令Xa、自動指令Xbの欄の1はそれぞれの指令が有りの場合を意味し、0はそれぞれの指令が無しの場合を意味する。また、成立条件Xcの欄の1は条件が成立している場合を意味し、0は条件が成立しない場合を意味する。
条件設定の列は、グループの列と除外の列からなる。グループの列は、たとえば第1のグループ区分に関するグループ1Aとグループ1B、第2のグループ区分に関するグループ2Aとグループ2Bのようにグループ区分を示す。また、除外の列は、入力指令条件除外部23により除外されたか否か、すなわち、1の場合は当該組合せ番号が除外されたことを示す。
演算部40は、図2に示したようなAND/OR/NOT等の論理を組合せた演算ロジックおよびその他の加減乗除、積分などの演算機能を格納している。演算ロジックおよびその他の演算機能は、機能検証の対象とする制御装置の演算部を模擬したものである。演算部40は、入力指令条件収納部30に収納されている入力指令条件データのそれぞれの組合せ番号の入力指令条件と、信号入力部10の状態信号入力部14が受け入れたプラントあるいはプラントシミュレータからのフィードバック信号とを入力として受け入れて、演算ロジックに基づいて演算を行い、その結果を出力指令条件として出力する。
出力指令条件収納部51は、メモリーであり、演算部40から出力された出力指令条件を入力として受け入れて、出力指令条件表51aとして格納する。
図4は、出力指令条件収納部に収納されるデータの構成を示す出力指令条件表である。
出力指令条件表51aは、2次元的な配列である。各行は、出力指令条件の組合せ番号を示すが、入力指令条件表30aで除外とされた組合せは除外されている。
それぞれの組合せ番号について、入力指令条件に関する列、および入力指令条件に関する列が配列されている。入力指令条件に関する列は、入力指令条件表と同様である。出力指令条件に関する列は、出力先の機器に応じた項目の列で構成される。出力指令条件の項目としては、たとえば、図4に例示するように、駆動端1への出力指令Ye、駆動端2への出力指令Yf、および駆動端3への出力指令Ygなどの項目を有する。1は出力指令が有り、0は出力指令が無しの条件を示す。
信号出力部52は、出力指令条件収納部51に出力指令条件表51aの形態で収納されている出力指令条件を、順次、外部装置・システムに出力可能である。
試験手順書自動生成部60は、プラント制御装置用試験装置100における処理の流れによる結果に基づいて、試験手順書を自動的に生成する。試験手順書自動生成部60は、演算結果記録部61、信号・機器情報データベース62、試験手順書様式収納部63、試験手順書データ生成部64、および試験手順書出力部65を有する。
演算結果記録部61は、入力指令条件収納部30に収納されている入力指令条件表30aおよび出力指令条件収納部51に収納されている出力指令条件表51aを読み出して、入力指令条件表30aに記載された入力指令条件に関する情報と、これに対応した出力指令条件表51aに記載された出力指令条件に関する情報を収納する。
信号・機器情報データベース62は、入力指令条件表30a、出力指令条件表51aに収納された各データの意味付け、ハード上の裏付けのための情報である信号・機器情報データ表62aを格納する。
図5は、信号・機器情報データベースに収納されるデータの構成を示す信号・機器情報データ表である。信号・機器情報データ表62aは、2次元の表形式のデータであり、信号IDと、それに関する属性情報がまとめられている。各信号IDに関する行には、それぞれ、機器・計器番号、タイプ、信号名称、“0”値状態、“1”値状態が収納されている。
たとえば、信号IDが“Xa”というスイッチの信号の場合、機器・計器番号が“MO−F001”、タイプは“SW”すなわちスイッチ、信号名称は、“TEST弁1 操作SW(接点3−4)”、“0”値状態は“全閉”、“1”値状態は“全開”である。
たとえば、信号IDが“Xb”という水位信号の場合、機器・計器番号が“LT001”、タイプは“SIGNAL”、信号名称は、“TESTタンク水位 100mm以上”、“0”値状態は“100mm未満”、“1”値状態は“100mm以上”である。
たとえば、信号IDが“Ye”という弁の信号の場合、機器・計器番号が“MO−F001”、タイプは“VALVE”、信号名称は、“TEST弁1 駆動指令”、“0”値状態は“閉”、“1”値状態は“開”である。
あるいは、信号IDが“Yf”というポンプの信号の場合、機器・計器番号が“C001”、タイプは“PUMP”、信号名称は、“TESTポンプ1 駆動指令”、“0”値状態は“起動”“1”値状態は“停止”などである。
このようにして、入力指令条件表30a、出力指令条件表51aに収納された各データの意味、ハード上の裏付けがなされ、信号情報と機器情報との対応関係が規定される。
試験手順書様式収納部63は、試験手順書の様式に関する情報を収納する。すなわち、試験手順書毎には変わらない、例えば、手順書表の列/行タイトル等の不変情報があらかじめ記載された試験手順書様式に関する情報を収納する。
試験手順書データ生成部64は、演算結果記録部61に収納されている入力指令条件に関する情報とそれに対応する出力指令条件に関する情報と、信号・機器情報データベース62に収納されている信号情報と機器情報との対応関係に関する情報と、試験手順書様式収納部63に収納されている試験手順書の様式に関する情報とに基づいて、試験手順書データを自動作成する。
試験手順書出力部65は、試験手順書データ生成部64により作成された試験手順書データを手順書として出力する出力装置であり、たとえば、ハードコピーを出力し、あるいは、手順書の内容を表示する。
図6は、第1の実施形態に係るプラント制御装置試験手順書自動生成方法の手順を示すフロー図である。プラント制御装置用試験装置100による試験進行ステップS10に並行して試験手順書自動生成部60による手順書作成ステップS20が行われる。
プラント制御装置用試験装置100による試験進行ステップS10は、以下のような手順を有する。
まず、入力指令条件設定部20の入力指令条件グループ設定部21が、入力指令条件に関するグループを設定する(ステップS11)。
次に、入力指令条件設定部20の入力指令条件組合せ抽出部22が、ステップS11で設定されたそれぞれのグループ内について、入力指令条件の全組合せを導き出す。また、ステップS11で設定されたグループに属さない入力指令条件があれば、それについても、全組合せを導き出す(ステップS12)。
次に、入力指令条件設定部20の入力指令条件除外部23が、ステップS12で導き出された入力指令条件の全組合せの中から、成立しない組合せを除外する(ステップS13)。
入力指令条件収納部30は、入力指令条件設定部20によるステップS11からステップS13までの手順の結果、最終的に得られた入力指令条件、すなわち、成立するすべての入力指令条件を、入力指令条件表30aの形で収納する(ステップS14)。
次に、演算部40が、それぞれの入力指令条件について、試験対象であるプラント制御装置と同様の演算を行う(ステップS15)。出力指令条件収納部51は、演算部40の演算の結果得られた出力指令条件を、出力指令条件表51aの形で収納する(ステップS16)。
なお、ステップS14ないしステップS16は、入力指令条件ごとに行われてもよいし、全ての入力指令条件をステップS14で整備した後に、ステップS15およびステップS16を行ってもよい。
一方、試験手順書自動生成部60による手順書作成ステップS20は、以下のような手順を有する。
まず、試験手順書データ生成部64は、試験手順書様式収納部63から、試験手順書の様式を読み出し、当該試験手順書の作成を開始する(ステップS21)。
次に、演算結果記録部61は、ステップS14で作成された入力指令条件表30aを入力指令条件ごとに順次、あるいは、全ての入力指令条件について一括して読み込む(ステップS22)。
また、演算結果記録部61は、ステップS16で作成された出力指令条件表51aを、出力指令条件ごとに順次、あるいは、全ての出力指令条件について一括して読み込む(ステップS23)。
試験手順書データ生成部64は、演算結果記録部61に収納された入力指令条件表30aおよび出力指令条件表51a、信号・機器情報データベース62に収納されている信号・機器情報データ表62aの内容を順次読み取り、ステップS21で設定した試験手順書に順次反映していく(ステップS24)。この結果、試験実施のために必要な情報が自動設定され、試験手順書の必要箇所が順次、埋められていく。
試験手順書出力部65は、ステップS24で試験手順書データ生成部64により作成された試験手順書を出力する(ステップS25)。
このように出力された試験手順書には、入力指令条件に関する情報に基づいて機能検証の対象とする制御装置への試験入力が明記されている。したがって、試験員は、明記されている試験入力を制御装置に入力する。また、試験手順書には、出力指令条件に関する情報に基づいて機能検証の対象とする制御装置の正常な場合の出力が明記されている。したがって、試験員は、実際の試験時のそれぞれの入力指令条件に対する応答、すなわち、制御装置の出力が正常な出力と一致しているか否かを判定することができる。
以上のように、本実施形態によれば、プラント制御装置の試験計画に当たり、人間系の作業を要することなく、試験手順書が自動的に作成される。この結果、プラント制御装置の試験に関して、人間系の作業を大幅に低減することができる。
[第2の実施形態]
図7は、第2の実施形態に係るプラント制御装置用試験装置を制御盤の試験に用いた場合の構成を示すブロック図である。
本第2の実施形態は、第1の実施形態の変形である。本第2の実施形態におけるプラント制御装置用試験装置101は、信号送信部71、信号受信部72、および試験結果判定部73をさらに有する。その他の点では、第1の実施形態におけるプラント制御装置用試験装置100と同様である。なお、図7では、入力指令条件設定部20、信号出力部52、および試験手順書自動生成部60等の図示を省略している。
プラント制御装置用試験装置101は、制御盤510を試験対象として、試験を遂行する。制御盤510は、制御装置511、信号入力部512、および信号出力部513を有する。信号入力部512で受け入れた信号は、リレー等のハード回路あるいは演算ソフトを有する制御装置511で演算処理され、その演算結果である指令信号を、信号出力部513が出力する。制御盤510が、プラント内で制御機能を遂行する際は、信号出力部513からプラント内の各機器に指令信号として出力される。プラントの各機器の状態信号等は、制御盤510にフィードバックされ信号入力部512で受け入れられる。
なお、プラント制御装置用試験装置101の演算部40は、制御装置511が実施する演算内容を模擬する。
プラント制御装置用試験装置101においては、入力指令条件収納部30に入力指令条件表30aの形で収納されている入力指令条件に関する情報を、信号送信部71が読み出し、出力する。信号送信部71の出力は、制御盤510の信号入力部512により受け入れられる。
また、信号受信部72は、制御盤510の信号出力部513からの信号を受け入れ、試験結果判定部73に出力する。
試験結果判定部73は、出力指令条件収納部51に出力指令条件表51aの形で収納されている出力指令条件に関する情報を読み出し、信号受信部72が制御盤510の信号出力部513から受け入れた指令信号と比較照合し、両者の信号状態の一致/不一致を判定する。
信号状態が一致している場合は、プラント制御装置用試験装置101の演算部40の演算機能と、制御盤510の制御装置511の演算機能が同機能を有しており、かつ、制御装置511は健全に機能している、 すなわち、試験結果は“良”と判断できる。
一方、信号状態が不一致の場合は、制御盤510の制御装置511の演算機能が、プラント制御装置用試験装置101の演算部40のもととなる機能ブロック図通りに実現(製作)されていないことになり、 試験結果は“否”と判断される。
以上のように、制御盤510の制御機能の良否を自動的に判定することができる。
[第3の実施形態]
図8は、第3の実施形態に係るプラント制御装置用試験装置運用システムの構成を示すブロック図である。本第3の実施形態は、第1の実施形態の変形である。
プラント制御装置用試験装置運用システム300は、第1の実施形態と同様のプラント制御装置用試験装置100に加えて、入出力信号切り替え装置310を有する。図8では、プラント制御装置用試験装置100の、入力指令条件設定部20、および試験手順書自動生成部60等の図示を省略している。
いま、制御盤として、制御側制御盤520と、制御側制御盤520からの指令によって動作する被制御側制御盤530の2種類の制御盤がある場合を考える。すなわち、制御側制御盤520が被制御側制御盤530の上位にあり、被制御側制御盤530を制御する場合である。制御側制御盤520は、制御装置521、信号入力部522、および制御装置521での演算、処理結果を出力する信号出力部523を有する。また、被制御側制御盤530は、制御装置531、信号入力部532、および制御装置531での演算、処理結果を出力する信号出力部533を有する。
プラント制御装置用試験装置運用システム300は、被制御側制御盤530と被制御側制御盤530を制御する制御側制御盤520とが設けられた体系において、プラント制御装置用試験装置100を制御側制御盤520と並列に構成し、プラント制御装置用試験装置100が制御側制御盤520に代わって制御側制御盤520を制御可能とするものである。
プラント制御装置用試験装置運用システム300の入出力信号切り替え装置310は、指令側切り替え部311およびフィードバック側切り替え部312を有し、それぞれは、たとえば電磁継電器やソリッドステートリレーである。
指令側切り替え部311は、試験装置側入り切り部311aと制御盤側入り切り部311bを有する。試験装置側入り切り部311aと制御盤側入り切り部311bは、たとえば「a接点」と「b接点」の組み合わせのように、一方が「入り」すなわち導通の場合は、他方が「切り」すなわち不導通となる。試験装置側入り切り部311aが「入り」の場合は、プラント制御装置用試験装置100の信号出力部52と被制御側制御盤530の信号入力部532が導通する。また、制御盤側入り切り部311bが「入り」の場合は、制御側制御盤520の信号出力部523と被制御側制御盤530の信号入力部532が導通する。
フィードバック側切り替え部312は、試験装置側入り切り部312aと制御盤側入り切り部312bを有する。試験装置側入り切り部312aと制御盤側入り切り部312bは、一方が「入り」の場合は、他方が「切り」となる。試験装置側入り切り部312aが「入り」の場合は、プラント制御装置用試験装置100の信号入力部10と被制御側制御盤530の信号出力部533が導通する。また、制御盤側入り切り部312bが「入り」の場合は、制御側制御盤520の信号入力部522と被制御側制御盤530の信号出力部533が導通する。
また、指令側切り替え部311の試験装置側入り切り部311aの「入り」と、フィードバック側切り替え部312の試験装置側入り切り部311aの「入り」への切り替えは、同時に行われる。両者の「切り」の場合も同様である。
以上のような構成により、入出力信号切り替え装置310における切り替えにより、プラント制御装置用試験装置100による被制御側制御盤530の制御状態と、制御側制御盤520による被制御側制御盤530の制御状態との切り替えが可能となる。
この結果、制御側制御盤520のリプレースの際の一時的な期間、プラント制御装置用試験装置100が制御側制御盤520の代替として機能することにより、プラント制御機能を継続させることができる。
[第4の実施形態]
図9は、第4の実施形態に係るプラント制御装置用試験装置運用システムの構成を示すブロック図である。
本第4の実施形態は、第1の実施形態および第3の実施形態の変形である。
本第4の実施形態におけるプラント制御装置用試験装置運用システム301は、プラント制御装置用試験装置102、および入出力信号分配装置320を有する。制御側制御盤520の信号入力部522および被制御側制御盤530との関連システムであることは第3の実施形態のプラント制御装置用試験装置運用システム300と同様であるが、入出力信号切り替え装置310に代えて入出力信号分配装置320を有する点が異なる。また、第1の実施形態におけるプラント制御装置用試験装置100とは、プラント制御装置用試験装置102の構成が一部異なる。
プラント制御装置用試験装置102は、プラント制御装置用試験装置100の構成に加えて、信号受信部72および試験結果判定部73をさらに有する。信号受信部72は、制御側制御盤520の信号出力部523からの指令信号を受け入れ、試験結果判定部73に出力する。試験結果判定部73は、出力指令条件収納部51に出力指令条件表51aの形で収納されている出力指令条件と、信号受信部72が受け入れた制御側制御盤520の信号出力部523からの指令信号とを比較照合し、一致、不一致を判定する。
入出力信号分配装置320は、指令信号分配回路321、およびフィードバック信号分配回路322を有する。
指令信号分配回路321は、同時に、同じ方向に入り切りする試験装置側入り切り部321aおよび制御盤側入り切り部321bを有する。試験装置側入り切り部321aおよび制御盤側入り切り部321bが「入り」の場合は、制御側制御盤520の信号出力部523と、制御盤側入り切り部321bを介して被制御側制御盤530の信号入力部532とが接続される。また、制御盤側入り切り部321bおよび試験装置側入り切り部321aを介して、制御側制御盤520の信号出力部523と、プラント制御装置用試験装置102の信号受信部72とが接続される。
フィードバック信号分配回路322は、指令信号分配回路321と同時に同じ方向に入り切りする試験装置側入り切り部322aおよび制御盤側入り切り部322bを有する。試験装置側入り切り部322aおよび制御盤側入り切り部322bが「入り」の場合は、試験装置側入り切り部322aを介して、被制御側制御盤530の信号出力部533と、プラント制御装置用試験装置102の信号入力部10とが接続される。また、制御盤側入り切り部322bを介して、被制御側制御盤530の信号出力部533と、制御側制御盤520の信号入力部522とが接続される。
以上のような構成により、指令信号分配回路321の試験装置側入り切り部321aおよび制御盤側入り切り部321bが「入り」の状態においては、制御側制御盤520が被制御側制御盤530を制御している。
この状態では、制御側制御盤520の信号出力部523からの指令信号と、被制御側制御盤530の信号出力部533からのフィードバック信号を、それぞれ、プラント制御装置用試験装置102の信号受信部72と、信号入力部10が受け入れている。プラント制御装置用試験装置102の試験結果判定部73は、出力指令条件収納部51に出力指令条件表51aの形で収納されている出力指令条件と、信号受信部72が受け入れた制御側制御盤520の信号出力部523からの指令信号とを比較照合し、一致、不一致を判定し、プラント制御装置用試験装置102あるいは制御側制御盤520に異常状態が生じた場合は、早期に検知が可能となる。
[その他の実施形態]
以上、本発明のいくつかの実施形態を説明したが、これらの実施形態は、例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。たとえば、実施形態では、演算装置の機能が、インターロック線図に対応する機能の場合を示したが、これに限定されない。すなわち、ロジック演算に限らず、たとえば、連続的あるいは離散的なデータに基づいての比例積分制御演算のようなものであってもよい。あるいは、これとロジック演算の組合せなどでもよい。
また、各実施形態の特徴を組み合わせてもよい。さらに、これらの実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれると同様に、特許請求の範囲に記載された発明とその均等の範囲に含まれるものである。
10…信号入力部、11…操作指令収納部、12…自動指令信号収納部、13…成立条件収納部、14…状態信号入力部、20…入力指令条件設定部、21…入力指令条件グループ設定部、22…入力指令条件組合せ抽出部、23…入力指令条件除外部、30…入力指令条件収納部、30a…入力指令条件表、40…演算部、51…出力指令条件収納部、51a…出力指令条件表、52…信号出力部、60…試験手順書自動生成部、61…演算結果記録部、62…信号・機器情報データベース、62a…信号・機器情報データ表、63…試験手順書様式収納部、64…試験手順書データ生成部、65…試験手順書出力部、71…信号送信部、72…信号受信部、73…試験結果判定部、100、101、102…プラント制御装置用試験装置、300、301…プラント制御装置用試験装置運用システム、310…入出力信号切り替え装置、311…指令側切り替え部、311a…試験装置側入り切り部、311b…制御盤側入り切り部、312…フィードバック側切り替え部、312a…試験装置側入り切り部、312b…制御盤側入り切り部、320…入出力信号分配装置、321…指令信号分配回路、321a…試験装置側入り切り部、321b…制御盤側入り切り部、322…フィードバック信号分配回路、322a…試験装置側入り切り部、322b…制御盤側入り切り部、510…制御盤、511…制御装置、512…信号入力部、513…信号出力部、520…制御側制御盤、521…制御装置、522…信号入力部、523…信号出力部、530…被制御側制御盤、531…制御装置、532…信号入力部、533…信号出力

Claims (6)

  1. 入力指令条件を生成する入力指令条件設定部と、
    前記入力指令条件を格納する入力指令条件収納部と、
    機能検証の対象となる演算ロジックを格納し、前記入力指令条件収納部に収納された前記入力指令条件を入力として受け入れて、前記演算ロジックによる演算を行う演算部と、
    前記演算部の演算結果である出力指令条件を格納する出力指令条件収納部と、
    前記入力指令条件収納部に収納された前記入力指令条件と前記出力指令条件収納部に収納された前記出力指令条件との組合せに基づいて試験手順書データを生成する試験手順書自動生成部と、
    を備えることを特徴とするプラント制御装置用試験装置。
  2. 前記試験手順書自動生成部は、
    前記入力指令条件収納部の信号状態と前記出力指令条件収納部の信号状態を記憶する演算結果記録部と、
    前記入力指令条件収納部に記憶された各信号の名称を含む信号・機器情報を格納する信号・機器情報データベースと、
    試験手順書様式を記憶する試験手順書様式収納部と、
    前記信号・機器情報データベース内の情報および前記試験手順書様式収納部に収納された様式を用いて、前記演算結果記録部に収納された情報の組合せに基づいて試験手順書データを生成する試験手順書データ生成部と、
    を有することを特徴とする請求項1に記載のプラント制御装置用試験装置。
  3. 前記入力指令条件収納部から前記入力指令条件を読み出し、機能検証の対象となる演算ロジックを有する制御盤に指令信号を出力する信号送信部と、
    前記制御盤の制御装置での演算結果である指令信号を前記制御盤の信号出力部から受け入れる信号受信部と、
    前記出力指令条件収納部に収納された前記出力指令条件と、前記信号受信部が受け入れた指令信号とを比較照合し、一致するか否かを判定する試験結果判定部と、
    をさらに備えることを特徴とする請求項1または請求項2に記載のプラント制御装置用試験装置。
  4. 被制御側制御盤と前記被制御側制御盤を制御する制御側制御盤とが設けられた体系において、前記制御側制御盤に代わって前記被制御側制御盤を制御するプラント制御装置用試験装置運用システムであって、
    前記制御側制御盤と並列に配され、フィードバック信号としての入力を受け入れる信号入力部と、前記出力指令条件収納部に収納された出力指令条件を出力する信号出力部と、をさらに有する請求項1または請求項2に記載のプラント制御装置用試験装置と、
    前記制御側制御盤が前記被制御側制御盤を制御する状態と、前記プラント制御装置用試験装置が前記被制御側制御盤を制御する状態とを切り替える入出力信号切り替え装置と、
    を具備することを特徴とするプラント制御装置用試験装置運用システム。
  5. 被制御側制御盤と前記被制御側制御盤を制御する制御側制御盤とが設けられた体系において、前記制御側制御盤に代わって前記被制御側制御盤を制御するプラント制御装置用試験装置運用システムであって、
    前記制御側制御盤と並列に配され、フィードバック信号としての入力を受け入れる信号入力部と、前記制御側制御盤からの指令信号を受け入れる信号受信部と、前記信号受信部で受け入れた指令信号と、前記出力指令条件に収納された出力指令条件とを比較照合し一致しているか否かを判定する試験結果判定部とをさらに有する請求項1または請求項2に記載のプラント制御装置用試験装置と、
    前記信号入力部が前記フィードバック信号を受け入れ、かつ前記信号受信部が前記指令信号を受け入れる状態と、いずれも受け入れない状態とを切り替える入出力信号分配装置と、
    を具備することを特徴とするプラント制御装置用試験装置運用システム。
  6. 入力指令条件収納部が、入力指令条件を収納する入力指令条件データ収納ステップと、
    演算結果記録部が、前記入力指令条件データ収納ステップで収納された前記入力指令条件を読み出し、記憶する入力指令条件記録ステップと、
    演算部が、前記入力指令条件データ収納ステップで収納された入力指令条件に基づき出力指令条件を演算する演算ステップと、
    出力指令条件収納部が、前記演算ステップにより演算された出力指令条件を収納する出力指令条件収納ステップと、
    前記出力指令条件収納ステップで収納された出力指令条件を読み出し、記憶する出力指令条件記録ステップと、
    試験手順書データ生成部が、前記入力指令条件記録ステップで記憶された前記入力指令条件と、前記出力指令条件記録ステップで記憶された前記出力指令条件とに基づいて、試験手順書データを作成する試験手順書生成ステップと、
    を有すること特徴とするプラント制御装置試験手順書自動生成方法。
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