JP2019152528A - 電流測定装置及び放射線検出装置 - Google Patents
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Abstract
Description
電流測定装置1は、入力端子2から入力される被測定電流(電離電流)Iinを積分する電荷積分回路3を備え、その出力信号(積分電圧信号)Voは低レンジ側電流測定部4及び高レンジ側電流測定部5に入力されている。これらの電流測定部4,5により算出された測定値ImL,ImHは、測定値決定部6に入力されて最終的な電流測定値Imが決定される。
電荷積分回路3の入力側には、積分コンデンサに蓄積された電荷を放電させるポンピング回路7が接続され、このポンピング回路7には高レンジ側電流測定部5からのパルス信号P1が入力されている。
電荷積分回路3はオペアンプ31と積分コンデンサ32とを備え、オペアンプ31から出力された積分電圧信号Voは低レンジ側電流測定部4のA/D変換回路41によりディジタル信号Vodに変換され、低レンジ側測定値演算部42a及び高レンジ側測定値演算部42bからなる演算処理回路42に入力される。
カウンタ回路53は、逐次入力されるパルス信号P1の周期、すなわち積分電圧信号Voの周期Tに相当するカウント値Nを計数し、低レンジ側電流測定部4内の高レンジ側測定値演算部42bに出力する。
なお、図7は、高レンジ側電流測定部5を構成する各部の動作を、被測定電流Iin及び積分電圧信号Voと共に示したものである。
一方、高レンジ側測定値演算部42bは、所定周期(例えば125[ms])のタイマ割込処理によってカウンタ回路53から取り込んだ周期Tに基づき積分電圧信号Voの周波数を求め、この周波数に換算係数を乗算して高レンジ側電流測定値ImHを算出する。
図8(a)は、低レンジ側測定値演算部42aにより演算される被測定電流Iin(ImL)と積分電圧信号Voの時間変化率との関係を示し、図8(b)は、高レンジ側測定値演算部42bにより演算される被測定電流Iin(ImH)と積分電圧信号Voの周波数との関係を示している。
このように、高レンジ側電流測定値ImHを所望の出力要求タイミング内に算出できるか否かに応じてImL,ImHの何れかを選択して電流測定値Imを得ているため、レンジの切替による損失時間が発生することがなく、広いレンジの微小な被測定電流Iinを所望の出力要求タイミングに従って正確に測定することができる。
値が既知である被測定電流と、この被測定電流を前記電荷積分手段に入力した時の前記電流測定手段による電流測定値と、の誤差を、前記ポンピング手段による前記積分コンデンサの放電直後から測定して前記誤差に近似した電荷リセット補償関数を生成する補償関数作成手段と、
前記電荷リセット補償関数を用いて前記電流測定値を補正することにより、前記誤差を除去した電流測定値を算出する測定値補正手段と、を備えたことを特徴とする。
始めに、本発明は、被測定電流が入力されて積分動作を行う電荷積分手段と、その積分電圧信号に基づいて被測定電流を算出する電流測定手段と、電荷積分手段の積分コンデンサを所定のタイミングで放電させるポンピング手段とを備えた電流測定装置を対象とする。
このため、本発明は、例えば特許文献1に記載された電流測定装置にも適用可能であるが、前述した低レンジ側電流測定部、高レンジ側電流測定部を切り替えて測定する機能は必ずしも必要ではない。
図1において、例えば電離箱式放射線検出装置における電離電流等の被測定電流Iinは、図6に示したようにオペアンプ及び積分コンデンサを備えた電荷積分手段11に入力されている。この電荷積分手段11から出力される積分電圧信号Voは電流測定手段12に入力され、電流測定手段12は、積分電圧信号Voと積分コンデンサの容量と測定開始からの経過時間とに基づいて周知の演算により電流測定値Im’を算出する。
そこで、本実施形態では、測定値Im’の誤差を測定値補正手段15により補正して正確な測定値Imを得ることとし、この補正を行うために,補償関数作成手段としての合成手段14により生成した合成補償関数SCnを用いるようにした。
なお、積分電荷リセット補償関数を単一の関数によって実現することは困難であるため、本実施形態では、複数の補償関数を合成して得た合成補償関数SCnを用いている。
ここでは、電流測定装置に約326[fA]の被測定電流Iinを入力し、1回目〜4回目の各測定について、積分コンデンサを放電させてから1[s]ごとの経過時間における約50個の測定値(リセット補償なしのデータ)Im’と、4回分の測定値Im’の平均値と、この平均値の被測定電流Iinに対する測定誤差と、を求め、それぞれの測定誤差に近似した合成補償関数を補償関数1〜3の加算値として算出している。
図2において、網掛けを施したデータNo.0〜No.3は、被測定電流Iinの値を確認してから積分コンデンサを放電させた部分であり、データNo.3の時点が放電のタイミング(経過時間=0)である。
合成補償関数SCnは前述した図1の合成手段14によって求められるため、測定値補正手段15では、この合成補償関数SCnを測定値Im’に加算または減算して積分電荷リセット補償を行うことにより、積分コンデンサの誘電吸収に起因する誤差が除去された測定値Imを得ることができる。
図4のリセット補償なし(破線)の波形において、経過時間が0に近い方から4つのピーク値は図2におけるデータNo.5の1回目〜4回目の測定値であり、各ピーク値の間の約50個の測定値が図2のリセット補償なしのデータである。
リセット補償なしの場合には、測定値が大きく変動しているが、本実施形態によるリセット補償あり(実線)の波形では測定値の変動幅が小さく、補償効果が顕著に表れているのがわかる。
12:電流測定手段
13:ポンピング手段
14:合成手段
15:測定値補正手段
Claims (4)
- 被測定電流を積分して積分電圧信号を出力する電荷積分手段と、 前記積分電圧信号の時間変化率に基づいて被測定電流を算出する電流測定手段と、前記積分電圧信号が基準電圧に達した時に前記電荷積分手段内の積分コンデンサを放電させるポンピング手段と、を備えた電流測定装置において、
値が既知である被測定電流と、この被測定電流を前記電荷積分手段に入力した時の前記電流測定手段による電流測定値と、の誤差を、前記ポンピング手段による前記積分コンデンサの放電直後から測定して前記誤差に近似した電荷リセット補償関数を生成する補償関数作成手段と、
前記電荷リセット補償関数を用いて前記電流測定値を補正することにより、前記誤差を除去した電流測定値を算出する測定値補正手段と、
を備えたことを特徴とする電流測定装置。 - 請求項1に記載した電流測定装置において、
前記補償関数作成手段は、電流初期値、減衰係数、及び、前記積分コンデンサの放電開始後の経過時間からなる補償関数を複数、合成して前記電荷リセット補償関数を作成することを特徴とする電流測定装置。 - 請求項1または2に記載した電流測定装置において、
前記被測定電流が、放射線の線量率を測定するための電離電流であることを特徴とする電流測定装置。 - 請求項1〜3の何れか1項に記載した電流測定装置を備え、前記測定値補正手段から出力される電流測定値を用いて放射線の線量率を検出することを特徴とする放射線検出装置。
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