JP2019148540A

JP2019148540A - 光測定装置、及び電子機器

Info

Publication number: JP2019148540A
Application number: JP2018034416A
Authority: JP
Inventors: 達昭舟本; Tatsuaki Funamoto
Original assignee: Seiko Epson Corp
Current assignee: Seiko Epson Corp
Priority date: 2018-02-28
Filing date: 2018-02-28
Publication date: 2019-09-05

Abstract

【課題】簡素な構成の光測定装置、及び電子機器を提供する。【解決手段】光測定装置３０は、第一軸Ｌ１に沿って対象物Ｍに照射する照射光を出射する光源部３１と、照射光の照射により対象物で発光された光のうち、第一軸とは異なる第二軸Ｌ２に沿って進む測定光を受光する受光部３３１と、一対の反射膜を有し、一対の反射膜の間の寸法に応じた波長の光を透過させる干渉フィルター５と、を備え、第一軸に沿って出射された励起光、及び第二軸に沿って進む測定光は、干渉フィルターの一対の反射膜を通過する。【選択図】図３

Description

本発明は、光測定装置、及び電子機器に関する。

従来、入射光から所定波長の光を分光して出力する光測定装置が知られている（例えば特許文献１参照）。
特許文献１の光測定装置（分光測定装置）では、励起光源照射部で励起光を生成して、試料に照射し、試料で励起された蛍光を蛍光検出部で検出する。励起光源照射部は、光源と、ＡＯＴＦ（Acousto-Optic Tunable Filter）とを備えて構成され、光源から出力された光をＡＯＴＦに入射させて、所定波長の励起光を生成する。これにより、励起光の波長を任意の波長に変更することが可能となる。
また、蛍光分析部は、試料から出力される蛍光が入射される第１蛍光フィルターと第２蛍光フィルターとを有し、２種類の蛍光を分析することが可能となっている。
このような光測定装置では、試料に照射する励起光と、試料から出射される蛍光との双方の波長を所望の波長に設定することができ、複数種の蛍光を分析することが可能となる。

特開２００７−９３３７０号公報

しかしながら、特許文献１に記載の光測定装置では、所望の波長の励起光を出力するためのＡＯＴＦと、蛍光を分離するための蛍光フィルターとが必要となる。すなわち、試料に照射する光を分光する分光処理（前分光）と、試料からの光を分光する分光処理（後分光）とに、それぞれ別の分光フィルターを用いる必要がある。このため、複数の分光フィルターが必要となり、光測定装置の構成が複雑化するとの課題がある。

本発明は、簡素な構成の光測定装置、及び電子機器を提供することを目的とする。

本発明の一適用例に係る光測定装置は、第一軸に沿って対象物に照射する照射光を出射する光源部と、前記対象物からの光のうち、前記第一軸とは異なる第二軸に沿って進む測定光を受光する受光部と、一対の反射膜を有し、前記一対の反射膜の間の寸法に応じた波長の光を透過させる干渉フィルターと、を備え、前記第一軸に沿って出射された前記照射光、及び前記第二軸に沿って進む前記測定光は、前記干渉フィルターの前記一対の反射膜を通過することを特徴とする。

本適用例の光測定装置は、光源部から第一軸に沿った照射光が出力されて対象物に照射される。対象物からの光のうち第二軸に沿って進む光が測定光として受光部に入射される。なお、対象物からの光としては、照射光を励起光として対象物に含まれる蛍光物質が励起された際に発光する蛍光や燐光の他、対象物の表面で照射光が反射された際の反射光も含むものである。

本適用例では、第一軸に沿って進む照射光と、第二軸に沿って進む測定光の双方が、１つの干渉フィルターの一対の反射膜を通過する。つまり、干渉フィルターの一対の反射膜を通るように、第一軸及び第二軸が形成されている。このような光測定装置では、１つの干渉フィルターで、光源部からの照射光を分光する前分光と、対象物からの光を分光する後分光とを実施することができる。よって、照射光の波長を設定するための分光フィルターと、測定光の波長を設定するための分光フィルターとのそれぞれを設ける構成に比べて、光測定装置の構成の簡略化を図ることができる。

本適用例の光測定装置において、前記干渉フィルターは、前記一対の反射膜の間の寸法を変更するギャップ変更部を備えることが好ましい。
本適用例では、ギャップ変更部によって一対の反射膜の間の寸法を変更することができる。これにより、対象物に照射する照射光の波長と、受光部で受光させる測定光の波長とを変更することができる。

本適用例の光測定装置において、前記干渉フィルターの前記第一軸及び前記第二軸に対する角度を変更する角度変更部を備えることが好ましい。
ところで、干渉フィルターを透過する光の波長は、当該光の入射角によって変化する。本適用例では、第一軸及び第二軸は異なる軸方向を有し、角度変更部によって干渉フィルターに対する第一軸の角度と、干渉フィルターに対する第二軸の角度とを変更することができる。つまり、干渉フィルターに対する第一軸の角度と、干渉フィルターに対する第二軸の角度とを同じ角度にすれば、照射光の波長と測定光の波長を同一波長とすることができ、異なる角度にすれば、照射光の波長と測定光の波長とを異ならせることができる。したがって、前者では、対象物で反射した所定波長の光の光量を検出する分光測定を実施することができ、後者では、照射光を励起光として対象物で発生した蛍光や燐光の光量を測定することができる。
また、上記適用例のように、ギャップ変更部と角度変更部とを備える構成とし、一対の反射膜の間の寸法と、第一軸や第二軸に対する一対の反射膜との角度との双方を調整可能な構成とすることで、対象物に照射する照射光の波長と、受光部で受光させる測定光の波長との双方を、より細かく制御することが可能となる。

本適用例の光測定装置において、前記第一軸及び前記第二軸は、前記一対の反射膜の一方から、前記一対の反射膜の他方までの間で交差し、前記角度変更部は、前記第一軸及び前記第二軸の交点を中心として前記干渉フィルターの角度を変更することが好ましい。
本適用例では、第一軸及び第二軸が、反射膜の間（反射膜上を含む）のいずれか１点で交差し、角度変更部は、その交点を中心として干渉フィルターを回転させて、第一軸及び第二軸の一対の反射膜に対する角度を変更する。これにより、角度変更部によって干渉フィルターの角度を変更した際に、照射光や測定光の一対の反射膜への入射位置や出射位置が大きくずれることがない。つまり、干渉フィルターの角度を変更する際に、例えば一対の反射膜とは離れた位置を回転中心として干渉フィルターを回転させると、一対の反射膜の位置が大きく変動する。この場合、第一軸や第二軸が反射膜から外れる場合がある。反射膜の面積を大きくすることで、第一軸や第二軸が反射膜から外れないようにすることもできるが、この場合、干渉フィルターのサイズが大型化し、また、反射膜が撓み易くなる。これに対して、本適用例では、干渉フィルターのサイズを拡大することなく、第一軸や第二軸が反射膜から外れる不都合を抑制できる。

本適用例の光測定装置において、前記第一軸における前記光源部から前記対象物までの間、及び前記第二軸における前記対象物から前記受光部までの間に設けられた偏光板を備えることが好ましい。
一般に、干渉フィルターに対して、反射膜の法線方向に対して傾斜する方向から光を入射させると半値幅が広がる。これは、Ｐ偏光の光が干渉フィルターに入射させた際に、干渉フィルターを透過した光のピーク波長と、Ｓ偏光の光が干渉フィルターに入射させた際に、干渉フィルターを透過した光のピーク波長とが異なるためである。反射膜の法線方向に対する光の入射角が大きくなるほど、偏光方向による波長シフト量も大きくなる。
これに対して、本適用例の光測定装置は、偏光方向を所定の直線方向に揃える偏光板を備え、照射光及び測定光が偏光板を通過する。なお、偏光板を設ける位置は、干渉フィルターの光入射面及び出射面のいずれか一方側の面に対向して設けられてもよく、干渉フィルターを挟み込むように一対の偏光板が設けられていてもよい。また、第一軸と第二軸とに、それぞれ個別に偏光板が設けられていてもよい。
このような本適用例では、Ｐ偏光及びＳ偏光のうちのいずれか一方の光が、干渉フィルターを通過する。或いは、干渉フィルターを通過した光のうち、Ｐ偏光及びＳ偏光のうちのいずれか一方の光が偏光板を通過する。したがって、対象物に照射される照射光の波長の半値幅を狭くでき、所望波長の照射光を対象物に照射できる。また、受光部で受光される測定光の波長の半値幅を狭くでき、所望波長の光を精度良く測定できる。

本適用例の光測定装置において、前記偏光板は、前記干渉フィルターの前記対象物とは反対側に設けられることが好ましい。
干渉フィルターに対して傾斜する方向から照射光を入射させると、一部の光が反射膜によって、受光部に向かう方向に反射される。この反射された照射光が受光部で受光されると、測定光の正確な光量を測定することが困難となる。
これに対して、本適用例では、偏光板が対象物とは反対側、つまり、光源部や受光部が設けられる側に配置される。また、この偏光板は、第一軸に沿った照射光及び第二軸に沿った測定光が通過するように配置されている。この場合、光源部からの照射光のうち、第１の直線偏光の照射光が偏光板を通過し、第２の直線偏光の照射光が偏光板で遮光される。干渉フィルターに入射した第１の直線偏光の照射光の一部は、干渉フィルターの反射膜で反射されるが、この際、反射光の位相がλ／２だけずれることになり、第２の直線偏光となる。このため、第２の直線偏光の照射光は、偏光板により遮光され、受光部３３への入射が抑制される。よって、受光部３３で精度良く測定光の光を測定することが可能となる。

本適用例の光測定装置において、前記一対の反射膜のいずれか一方の法線方向と前記第一軸とを含む第一面と、前記法線方向と前記第二軸とを含む第二面とが交差することが好ましい。
本適用例では、第一面と第二面とが交差する。これにより、照射光が一対の反射膜で反射されて受光部で受光される不都合を抑制でき、光測定装置における測定精度を向上できる。

本発明の一適用例に係る電気機器は、上述したような光測定装置と、前記光測定装置を制御する制御部と、を備えたことを特徴とする。
本適用例の電子機器としては、例えば、光測定装置により測定された測定結果に基づいて紙種を判定可能なプリンターや、光測定装置により測定された測定結果により、画像を投影するスクリーンの種別を判定可能なプロジェクター等を例示できる。
上述したように、光測定装置は、１つの干渉フィルターにより、対象物に対して照射する照射光の波長と、受光部で受光させる光の波長とを調整することができ、光測定装置の構成の簡素化を図ることができる。したがって、当該光測定装置を組み込んだ電子機器においても、構成の簡素化を図ることができる。

第一実施形態のプリンターの概略構成を示す外観図。第一実施形態のプリンターの概略構成を示すブロック図。第一実施形態の分光器（光測定装置）の概略構成を示す模式図。第一実施形態の波長可変干渉フィルター（干渉フィルター）の概略構成を示す断面図。波長可変干渉フィルターのＰ偏光の光の透過率を示す図。波長可変干渉フィルターのＳ偏光の光の透過率を示す図。第一実施形態の角度変更部の一例を示す図。第一実施形態において、波長可変干渉フィルターの角度を調整した際の一例を示す図。第一実施形態の駆動テーブルの一例を示す図。第一施形態におけるプリンターの印刷処理を示すフローチャート。第二実施形態の波長可変干渉フィルターに対する第一軸及び第二軸の位置関係を示す図。第二実施形態の角度変更部の一例を示す模式図。本発明に係る光測定装置の他の構成例を示す模式図。本発明に係る光測定装置の他の構成例を示す模式図。

［第一実施形態］
以下、本発明の第一実施形態について説明する。
本実施形態では、光測定装置である分光器を備えたプリンターを一例として説明する。
［プリンター１０の概略構成］
図１は、本実施形態におけるプリンター１０の概略構成を示す外観図である。また、図２は、本実施形態のプリンター１０の概略構成を示すブロック図である。
図１に示すように、プリンター１０は、本発明の電子機器に相当し、供給ユニット１１、搬送ユニット１２と、キャリッジ１３と、キャリッジ移動ユニット１４と、制御ユニット１５（図２参照）と、を備えている。このプリンター１０は、例えばパーソナルコンピューター等の外部機器２０から入力された印刷データに基づいて、各ユニット１１，１２，１４及びキャリッジ１３を制御し、メディアＭ（対象物）上に画像を印刷する。また、本実施形態のプリンター１０は、メディアＭに対して励起光（照射光）を照射し、メディアＭに含まれる蛍光物質から発生する蛍光を測定する蛍光測定を実施する。これにより、プリンター１０は、メディアＭの種別を判定し、メディアＭの種別に応じた印刷処理を実施する。例えば、プリンター１０は、メディアＭに画像を印刷する際のインクの吐出量等を制御する。また、プリンター１０は、例えばメディアＭに蛍光塗料による画像が形成された際の当該画像の色を測定することもできる。
以下、プリンター１０の各構成について具体的に説明する。

供給ユニット１１は、画像形成対象となるメディアＭを、画像形成位置に供給するユニットである。この供給ユニット１１は、例えばメディアＭが巻装されたロール体１１１（図１参照）、ロール駆動モーター（図示略）、及びロール駆動輪列（図示略）等を備える。そして、制御ユニット１５からの指令に基づいて、ロール駆動モーターが回転駆動されることで、ロール駆動輪列を介してロール体１１１が回転し、ロール体１１１に巻装された紙面が副走査方向（Ｙ方向）における下流側（＋Ｙ側）に供給される。
なお、本実施形態では、ロール体１１１に巻装された紙面を供給する例を示すがこれに限定されない。例えば、トレイ等に積載された紙面等のメディアＭをローラー等によって例えば１枚ずつ供給する等、如何なる供給方法によってメディアＭが供給されてもよい。

搬送ユニット１２は、供給ユニット１１から供給されたメディアＭを、Ｙ方向に沿って搬送する。この搬送ユニット１２は、例えば、搬送ローラー１２１と、搬送ローラー１２１とメディアＭを挟んで配置され、搬送ローラー１２１に従動する従動ローラー（図示略）と、プラテン１２２と、を含んで構成されている。
搬送ローラー１２１は、図示略の搬送モーターが制御ユニット１５の制御により駆動されることで回転され、従動ローラーとの間にメディアＭを挟み込んだ状態で、メディアＭをＹ方向に沿って搬送する。また、搬送ローラー１２１の＋Ｙ側には、キャリッジ１３に対向するプラテン１２２が設けられている。

キャリッジ１３は、メディアＭに対して画像を印刷する印刷部１６（図２参照）と、メディアＭ上の所定の測定位置に対して蛍光測定を行う分光器３０（光測定装置；図２参照）と、を備えている。
このキャリッジ１３は、キャリッジ移動ユニット１４によって、Ｙ方向と交差する主走査方向（Ｘ方向）に沿って移動可能に設けられている。また、キャリッジ１３は、フレキシブル回路１３１により制御ユニット１５に接続され、制御ユニット１５からの指令に基づいて、印刷部１６による印刷処理及び、分光器３０による蛍光測定処理を実施する。
なお、キャリッジ１３の詳細な構成については後述する。

キャリッジ移動ユニット１４は、制御ユニット１５からの指令に基づいて、キャリッジ１３をＸ方向に沿って往復移動させる。このキャリッジ移動ユニット１４は、例えば、キャリッジガイド軸１４１と、キャリッジモーター１４２と、タイミングベルト１４３と、を含んで構成されている。
キャリッジガイド軸１４１は、Ｘ方向に沿って配置され、両端部がプリンター１０の例えば筐体に固定されている。キャリッジモーター１４２は、タイミングベルト１４３を駆動させる。タイミングベルト１４３は、キャリッジガイド軸１４１と略平行に支持され、キャリッジ１３の一部が固定されている。そして、制御ユニット１５の指令に基づいてキャリッジモーター１４２が駆動されると、タイミングベルト１４３が正逆走行され、タイミングベルト１４３に固定されたキャリッジ１３がキャリッジガイド軸１４１にガイドされて往復移動する。

次に、キャリッジ１３に設けられる印刷部１６及び分光器３０の構成について、図面に基づいて説明する。
［印刷部１６の構成］
印刷部１６は、メディアＭと対向する部分に、インクを個別にメディアＭ上に吐出して、メディアＭ上に画像を形成する。
この印刷部１６は、例えば、複数色のインクに対応したインクカートリッジ（図示略）が着脱自在に装着されており、各インクカートリッジからインクタンク（図示略）にチューブ（図示略）を介してインクが供給される。また、印刷部１６の下面（メディアＭに対向する位置）には、インク滴を吐出するノズル（図示略）が、各色に対応して設けられている。これらのノズルには、例えばピエゾ素子が配置されており、ピエゾ素子を駆動させることで、インクタンクから供給されたインク滴が吐出されてメディアＭに着弾し、ドットが形成される。

［分光器３０の構成］
図３は、分光器３０の概略構成を示す模式図である。
分光器３０は、本発明における光測定装置であり、図３に示すように、光源部３１と、波長可変干渉フィルター５（干渉フィルター）と、偏光板３２と、受光部３３と、照射側ミラー３４Ａと、受光側ミラー３４Ｂと、角度変更部３５と、駆動制御部３６と、を含んで構成されている。
本実施形態の分光器３０では、光源部３１から第一軸Ｌ１に沿って照射光が出射され、当該第一軸Ｌ１に沿った照射光は波長可変干渉フィルター５に入射され、波長可変干渉フィルター５を透過した所定波長の照射光が励起光として対象物であるメディアＭに照射される。
また、メディアＭに励起光が照射されると、メディアＭに含まれる蛍光物質が励起されて、蛍光（燐光を含む）が発生する。これらの蛍光のうち、受光部３３の光軸となる第二軸Ｌ２に沿って進む光が測定光となり、受光部３３で受光される。この際、第二軸Ｌ２に沿う測定光は、波長可変干渉フィルター５に入射され、波長可変干渉フィルター５を透過した測定光が受光部３３で受光される。
以下、分光器３０の各部の構成について、詳細に説明する。

（波長可変干渉フィルター５の構成）
図４は、波長可変干渉フィルター５の概略構成を示す断面図である。
波長可変干渉フィルター５は、第一基板５１と、第一基板５１に対向する第二基板５２とを有する。第一基板５１の第二基板５２に対向する面には、一対の反射膜の一方を構成する第一反射膜５４が設けられ、第二基板５２の第一基板５１に対向する面には、一対の反射膜の他方を構成する第二反射膜５５が設けられている。つまり、第一反射膜５４及び第二反射膜５５が、ギャップＧを介して対向配置されている。
第一反射膜５４及び第二反射膜５５は、例えば金属膜や誘電体多層膜により構成されている。第一反射膜５４及び第二反射膜５５を誘電体多層膜により構成する場合、導電性膜（例えばＩＴＯ膜やＡｇ等の金属薄膜）を積層する。これにより、これらの第一反射膜５４及び第二反射膜５５は、導電性を有し、容量検出部としても機能させることができる。

また、第二基板５２には、第二反射膜５５が設けられる可動部５２１と、可動部５２１の外周に設けられ、可動部５２１よりも厚み寸法が小さいダイアフラム部５２２とが設けられている。
さらに、第一基板５１は、第二基板５２に対向する面に第一電極５６１を備え、第二基板５２は、第一電極５６１に対向する第二電極５６２を備えている。これらの第一電極５６１及び第二電極５６２により、本発明のギャップ変更部である静電アクチュエーター５６が構成されており、第一電極５６１及び第二電極５６２の間に電圧を印加することで、第二基板５２のダイアフラム部５２２が撓み、可動部５２１が第一基板５１側に変位する。これにより、ギャップＧの寸法が変動し、当該ギャップＧの寸法に応じた波長の光を波長可変干渉フィルター５から透過させることが可能となる。

ここで、以降の説明にあたり、波長可変干渉フィルター５の第一反射膜５４及び第二反射膜５５の中心を通る軸を、フィルター中心軸Ｏとする。また、第一反射膜５４の中心点を、フィルター中心点Ｏ_０とする。

（光源部３１の構成）
光源部３１は、メディアＭに対して本発明の照射光である励起光を照射する光源３１１を有する。本実施形態では、メディアＭに照射する励起光の波長を変化させて、複数の蛍光成分を測定する。よって、光源３１１は、これらの複数の蛍光のそれぞれに対応した励起光を出力可能に構成されており、例えば、タングステンランプや、各色ＬＥＤを組み合わせた光源等が用いられる。
光源部３１は、光源３１１の光出射方向に、光源側アパーチャー３１２を有し、光源３１１から出射された励起光は、光源側アパーチャー３１２を通過することで、フィルター中心点Ｏ_０を通過する第一軸Ｌ１に沿って出射される。

（偏光板３２の構成）
偏光板３２は、入射光のうち、所定の直線偏光の光を透過させる。偏光板３２は、Ｐ偏光の光を透過させてＳ偏光の光を遮断するように配置されていてもよく、Ｓ偏光の光を透過させてＰ偏光の光を遮断するように配置されていてもよい。本実施形態の偏光板３２では、入射光からＳ偏光の光を透過させ、Ｐ偏光の光を遮光する。
この偏光板３２は、第一軸Ｌ１及び第二軸Ｌ２の双方が、当該偏光板３２を通過するように配置されている。すなわち、光源部３１から出力される励起光は、光源部３１からメディアＭに至るまでの間に偏光板３２を通過し、メディアＭで生じた蛍光（測定光）は、受光部３３で受光されるまでの間に偏光板３２を通過する。

本実施形態では、図３に示すように、偏光板３２は、波長可変干渉フィルター５のメディアＭとは反対側（光源部３１及び受光部３３が配置される側）に配置されている。すなわち、本実施形態では、光源部３１から出射された励起光のうち、Ｓ偏光の光が偏光板３２を透過され、Ｐ偏光の光が遮光される。偏光板３２を通過した励起光は、波長可変干渉フィルター５に入射し、ギャップＧの寸法に応じた波長の励起光が波長可変干渉フィルター５を透過してメディアＭに照射される。この際、励起光の一部は、第一反射膜５４または第二反射膜５５で反射され、第二軸Ｌ２に沿って受光部３３に向かって進む。
このような偏光板３２は、波長可変干渉フィルター５のメディアＭとは反対側の面に固定（貼付）されていてもよく、波長可変干渉フィルター５から離れた位置に配置されていてもよい。

図５は、波長可変干渉フィルター５に対してＰ偏光の光を入射させた際の透過率を示し、図６は、波長可変干渉フィルター５に対してＳ偏光の光を入射させた際の透過率を示す。なお、図５及び図６では、フィルター中心軸Ｏに対して光の入射角を変化させた際の、各入射角での透過率を示しており、ギャップＧの寸法は一定としている。
上述したような波長可変干渉フィルター５では、図５及び図６に示すように、フィルター中心軸Ｏに対する入射光の入射角度が大きくなるにしたがって、波長可変干渉フィルター５を透過する光の波長がシフトする。このため、フィルター中心軸Ｏ及び第一軸Ｌ１の角度θと、フィルター中心軸Ｏ及び第二軸Ｌ２の角度φとを異ならせることで、波長可変干渉フィルター５を透過してメディアＭに照射される励起光の波長と、メディアＭから波長可変干渉フィルター５を透過して受光部３３で受光される測定光の波長とを異ならせることができる。
一方、波長可変干渉フィルター５を透過する光の透過率は、フィルター中心軸Ｏに対する入射光の入射角度が大きくなるにしたがって半値幅が大きくなる。これは、図５及び図６に示すように、フィルター中心軸Ｏに傾斜する方向から光を入射させた際の透過光の波長シフト量が、Ｐ偏光とＳ偏光とで異なるためである。すなわち、Ｓ偏光の光は、Ｐ偏光の光よりも、波長可変干渉フィルター５への入射角度を大きくした際の波長シフト量が大きい。このため、Ｐ偏光及びＳ偏光を分離しない場合、励起光や測定光に目標とする波長以外の光成分が混ざって出射されることになり、透過率の半値幅が大きくなり、また、角度によっては、２つのピーク波長を有する光が透過されることになる。

これに対して、本実施形態では、波長可変干渉フィルター５のメディアＭとは反対側に偏光板３２を設ける。このため、励起光は、波長可変干渉フィルター５に入射される前にＰ偏光の光が遮光され、Ｓ偏光の光が波長可変干渉フィルター５に入射される。したがって、波長可変干渉フィルター５を透過する光は、Ｓ偏光の波長シフト量に対応した光となる。
また、メディアＭからの測定光は、Ｓ偏光及びＰ偏光の光が波長可変干渉フィルター５を透過するが、その後偏光板３２に透過されることで、Ｐ偏光の光が遮光される。よって、受光部３３で受光される測定光は、Ｓ偏光の波長シフト量に対応した光となる。

（受光部３３の構成）
受光部３３は、受光素子３３１と、受光側アパーチャー３３２とを備える。
メディアＭに励起光が照射されることで発光された蛍光のうち、受光部３３の光軸である第二軸Ｌ２上の光が測定光となり、波長可変干渉フィルター５に入射される。そして、波長可変干渉フィルター５を透過した光のうち、受光側アパーチャー３３２を通過した光が受光素子３３１で受光される。本実施形態では、第二軸Ｌ２は、波長可変干渉フィルター５のフィルター中心点Ｏ_０を通過する軸であり、フィルター中心点Ｏ_０において第一軸Ｌ１と交差する。
そして、受光素子３３１は、測定光を受光すると、受光量に応じた受光信号を出力する。

（ミラー３４Ａ，３４Ｂの構成）
照射側ミラー３４Ａ及び受光側ミラー３４Ｂは、波長可変干渉フィルター５のメディアＭ側に配置されている。
照射側ミラー３４Ａは、第一軸Ｌ１に沿って進行する照明光をメディアＭの所定の測定位置に向かって反射させる。
また、受光側ミラー３４Ｂは、メディアＭで生じた蛍光を受光部３３に向かって反射させる。受光側ミラー３４Ｂで反射された蛍光のうち、第二軸Ｌ２に沿った蛍光が、受光部３３に受光されることになる。

（角度変更部３５の構成）
角度変更部３５は、波長可変干渉フィルター５のフィルター中心軸ＯのＺ方向に対する傾斜角度ζを変更する。すなわち、角度変更部３５は、フィルター中心軸Ｏと第一軸Ｌ１との為す角度θ、及びフィルター中心軸Ｏと第二軸Ｌ２との為す角度φを変更する。
図７は、本実施形態の角度変更部３５の一例を示す図である。図８は、角度変更部３５によって波長可変干渉フィルター５の角度を調整した際の一例を示す図である。
図７において、光源部３１をＸＹ平面に投射した位置から、受光部３３をＸＹ平面に投射した位置に向かう軸をｕ軸とし、ＸＹ平面においてｕ軸に直交する軸をｖ軸とする。ｕｖＺ座標系における原点は、フィルター中心点Ｏ_０となる。なお、ｕ軸はＸ軸と一致してもよく、Ｙ軸と一致してもよい。
本実施形態では、図７に示すように、波長可変干渉フィルター５は、パッケージ筐体６０に収納されて保持基板６１に固定され、さらに、この保持基板６１は、角度変更部３５によって、回転軸Ｌ３を中心として回転可能に回路基板６２に保持される。なお、回転軸Ｌ３は、フィルター中心軸Ｏ、第一軸Ｌ１及び第二軸Ｌ２が含まれるｕＺ面に対して直交するｖ軸上の軸である。
角度変更部３５としては、保持基板６１を、回転軸Ｌ３を中心に回転させる構成であれば如何なる構成としてもよく、例えば、図７に示すように、保持基板６１に固定された回転軸部３５１を、回路基板６２に設けられた軸受部３５１Ａで受ける構成等が挙げられる。この場合、回転軸部３５１を、ステッピングモーター等の駆動源３５２を用いて回転させて、波長可変干渉フィルター５のフィルター中心軸ＯをｕＺ平面内でＺ軸に対して傾斜させる。

例えば、図３に示す例では、フィルター中心軸ＯがＺ軸と平行となる際、フィルター中心軸Ｏと第一軸Ｌ１との為す角度θ、及び、フィルター中心軸Ｏと第二軸Ｌ２との為す角度φは、同一角度であり、２０°となる。これに対して、図８に示すように、角度変更部３５により、フィルター中心軸Ｏを＋Ｙ側から見て反時計回り方向に１０°回転させる。この場合、フィルター中心軸Ｏと第一軸Ｌ１との為す角度θが１０°となり、フィルター中心軸Ｏと第二軸Ｌ２との為す角度φが３０°となる。これにより、波長可変干渉フィルター５を透過した励起光の波長、及び、波長可変干渉フィルター５を透過した測定光の波長がそれぞれ異なる波長となる。

（駆動制御部３６の構成）
駆動制御部３６は、分光器３０に配置された基板（例えば回路基板６２等）に設けられる。この駆動制御部３６は、マイコン等により構成され、制御ユニット１５の制御指令に基づいて、分光器３０の駆動を制御する。つまり、駆動制御部３６は、光源３１１の点灯及び消灯の制御、受光部３３の駆動制御、波長可変干渉フィルター５の静電アクチュエーター５６への電圧制御、角度変更部３５の駆動制御等を実施する。
この駆動制御部３６は、演算回路やメモリー等の記憶回路、各種ドライバー回路等を備えて構成されている。記憶回路には、波長可変干渉フィルター５を駆動させるための駆動テーブルが記憶されている。
図９は、駆動テーブルの一例を示す図である。駆動テーブルは、図９に示すように、フィルター中心軸ＯとＺ方向との為す傾斜角度ζ、ギャップＧの寸法、及び波長可変干渉フィルター５を透過する光の透過波長の関係が記録されている。なお、ギャップＧの寸法の代わりに、静電アクチュエーター５６に印加する電圧が記録されていてもよく、ギャップＧの寸法に対応する静電アクチュエーター５６への電圧を記録したデータを別途記憶していてもよい。
例えば、図９のデータＤ１は、図３に示すように、第一軸Ｌ１と第二軸Ｌ２との為す角度が４０°である場合で、フィルター中心軸ＯとＺ方向との為す傾斜角度ζが０°（Ｚ方向と平行）である場合に、ギャップＧの寸法をｇ１に設定することで、６００ｎｍの励起光及び測定光が波長可変干渉フィルター５から透過されることを示している。
また、図９のデータＤ２は、フィルター中心軸Ｏを第二軸Ｌ２側に１４°傾けた場合の例であり、第一軸Ｌ１とフィルター中心軸Ｏとの為す角が３４°、第二軸Ｌ２とフィルター中心軸Ｏとの為す角が６°になる例である。この場合、ギャップＧの寸法をｇ２とすることで、５００ｎｍの励起光、６００ｎｍの測定光がそれぞれ波長可変干渉フィルター５を透過することを示している。

駆動制御部３６は、例えば制御ユニット１５から、励起光の波長と、検出対象の蛍光（測定光）の波長とを指令する指令信号を受信すると、上記のような駆動デーブルから対応するギャップＧの寸法と波長可変干渉フィルター５（フィルター中心軸Ｏ）の傾斜角度との組合せを検出する。そして、駆動制御部３６は、検出したギャップＧの寸法に対応する駆動電圧を静電アクチュエーター５６に印加し、かつ、角度変更部３５を制御して、検出した傾斜角度ζに応じて波長可変干渉フィルター５を回転させる。

［制御ユニットの構成］
制御ユニット１５は、本発明の制御部であり、図２に示すように、Ｉ／Ｆ１５１と、ユニット制御回路１５２と、メモリー１５３と、ＣＰＵ（Central Processing Unit）１５４と、を含んで構成されている。
Ｉ／Ｆ１５１は、外部機器２０から入力される印刷データをＣＰＵ１５４に入力する。
ユニット制御回路１５２は、供給ユニット１１、搬送ユニット１２、印刷部１６、分光器３０、及びキャリッジ移動ユニット１４をそれぞれ制御する制御回路を備えており、ＣＰＵ１５４からの指令信号に基づいて、各ユニットの動作を制御する。なお、各ユニットの制御回路が、制御ユニット１５とは別体に設けられ、制御ユニット１５に接続されていてもよい。

メモリー１５３は、プリンター１０の動作を制御する各種プログラムや各種データが記憶されている。
各種データとしては、例えば、メディアＭに照射する励起光の波長と、当該励起光をメディアＭに照射した際に発光される蛍光の波長と、当該メディアＭの種別と、を関連付けたメディア種別データが記憶されている。また、各メディア種別に対して印刷部１６による印刷処理をする際に印刷プロファイルが記録されている。また、本実施形態では、駆動テーブルが駆動制御部３６を構成するマイコンの記憶回路に記憶される例を示したが、メモリー１５３に記憶されていてもよい。

ＣＰＵ１５４は、メモリー１５３に記憶された各種プログラムを読み出し実行することで、各ユニット１１，１２，１４の駆動制御、印刷部１６の印刷制御、分光器３０による測定制御等を実施する。例えば、ユーザーの操作によって印刷指示が入力されると、ＣＰＵ１５４は、分光器に対して、メディア種別データに記録された、励起光の波長と蛍光波長との組合せを分光器３０に出力する。これにより、分光器３０が、各組合せに対する蛍光測定処理を実施し、その結果を制御ユニット１５に返す。ＣＰＵ１５４は、蛍光測定結果に基づいて、メディアＭの種別を判定し、当該メディアＭの種別に対応する印刷プロファイルデータを読み出して印刷部１６による印刷処理を実施する。

［プリンター１０による印刷処理］
次に、上述したようなプリンター１０では、メディアＭに対する蛍光測定を実施し、その結果に基づいた印刷処理を実施する。以下、この印刷処理について説明する。
図１０は、本実施形態における印刷処理を示すフローチャートである。
本実施形態のプリンター１０では、例えばメディアＭに画像を形成する際に、メディアＭの種別に応じた適切な印刷処理を行うために、メディアＭの蛍光特性を測定してメディア種別を判定する。
具体的には、ユーザーにより、メディアＭの交換が実施された後、メディアＭに画像を印刷する印刷指令が入力されると、制御ユニット１５は、分光器３０に対して、蛍光測定を指令する測定指令信号を出力する（ステップＳ１）。この際、制御ユニット１５は、メディア種別を示す変数をｉ（初期値は１）として、メディア種別データから、変数ｉに対応するメディア種別の励起光の波長と励起光の波長との組合せを読み出して、これらの波長を含む測定指令信号を分光器３０に出力する。

分光器３０の駆動制御部３６は、測定指令信号を受信すると、駆動テーブルを参照して、励起光の波長及び蛍光（測定光）の波長の組合せに対応する、ギャップＧの寸法（静電アクチュエーターへの電圧）と、波長可変干渉フィルター５（フィルター中心軸Ｏ）の傾斜角度ζとを読み出す（ステップＳ２）。
そして、駆動制御部３６は、静電アクチュエーター５６に読み出した電圧を印加し、かつ、角度変更部３５を制御して波長可変干渉フィルター５の角度を変更し、光源３１１を点灯させる（ステップＳ３）。
これにより、光源部３１から出力された励起光のうち、波長可変干渉フィルター５を透過した励起光が、第一軸Ｌ１に沿ってメディアＭに照射される。メディアＭに照射された励起光によって励起される蛍光成分が含まれている場合、蛍光が生じ、測定光として第二軸Ｌ２に沿って波長可変干渉フィルター５を通過して受光部３３で受光される。この際、測定指令信号に含まれる蛍光の波長とは一致する波長の蛍光が生じた場合、当該蛍光は波長可変干渉フィルター５を高い透過率で透過されるので、受光部３３での受光量も大きくなる。

なお、メディアＭには、複数波長の励起光に対して蛍光特性を示すものもある。この場合、測定指令信号において、これらの励起光の波長と、対応する蛍光の波長との組合せが複数含まれる場合もある。このように、測定指令信号に励起光の波長と蛍光の波長との組合せが複数含まれている場合、分光器３０は、上記ステップＳ２及びステップＳ３の蛍光測定処理を、これらの組合せ分だけ繰り返し実施し、各蛍光の光量を測定する。

ステップＳ３の蛍光測定処理が終了すると、分光器３０から制御ユニット１５に受光信号が出力される。制御ユニット１５は、受光信号の電圧値に基づいて、メディアＭの種別を判定する。すなわち、制御ユニット１５は、受光信号の電圧値が閾値以上であるか否かを判定する（ステップＳ４）。
ステップＳ４でＮｏと判定された場合、制御ユニット１５は、変数ｉに１を加算し（ステップＳ５）、変数ｉが最大値Ｉ（メディア種別データに含まれるデータ総数）となったか否かを判定する（ステップＳ６）。ステップＳ６でＹｅｓと判定されると、制御ユニット１５は、メディアＭの種別が判定できないとして、エラー処理を実施し（ステップＳ７）、例えばエラーメッセージをプリンター１０に設けられたディスプレイ（図示略）に表示させたり、音声出力部（図示略）から警告音を出力したりする。ステップＳ６でＮｏと判定された場合は、ステップＳ１に戻り、次のメディア種別に対する励起光の波長及び蛍光の波長を含む測定指令信号が分光器３０に出力されて、分光器３０による蛍光測定処理が再度実施される。
また、ステップＳ４においてＹｅｓと判定された場合、制御ユニット１５は、プリンター１０にセットされているメディアＭが、変数ｉに対応するメディア種別であると判定する（ステップＳ８）。これにより、制御ユニット１５は、判定されたメディア種別に対応する印刷プロファイルを読み込んで、印刷部１６による印刷処理を実施する（ステップＳ９）。

［本実施形態の作用効果］
本実施形態のプリンター１０は、分光器３０（光測定装置）と、制御ユニット１５（制御部）とを備えて構成されている。
この分光器３０は、光源部３１と受光部３３と波長可変干渉フィルター５（干渉フィルター）とを備える。光源部３１は、第一軸Ｌ１に沿ってメディアＭ（対象物）に照射する励起光を出射する。受光部３３は、メディアＭへの励起光の照射により発光された蛍光のうち、第一軸Ｌ１とは異なる第二軸Ｌ２に沿って進む測定光を受光する。波長可変干渉フィルター５は、第一反射膜５４及び第二反射膜５５を有し、ギャップＧの寸法に応じた波長の光を透過させる。そして、第一軸Ｌ１及び第二軸Ｌ２が、波長可変干渉フィルター５の第一反射膜５４及び第二反射膜５５を通るように、光源部３１からの励起光の出射方向、受光部３３による測定光の受光方向が設定されている。

このような本実施形態では、波長可変干渉フィルター５に対する第一軸Ｌ１の角度と、波長可変干渉フィルターに対する第二軸の角度とを異ならせることで、メディアＭに照射させる励起光の波長と、受光部３３で受光させる測定光の波長とがそれぞれ異なる波長となる。つまり、１つの波長可変干渉フィルター５により、励起光の波長と、測定光の波長とを設定することができる。したがって、例えば、励起光の波長を設定するための分光フィルターと、受光部３３で受光させる測定光の波長を設定するための分光フィルターとの双方を設ける構成に比べて、構成の簡素化を図れ、小型化を図れる。
また、分光器３０を小型にできるため、分光器３０を搭載させるプリンター１０のキャリッジ１３も小型にでき、プリンター１０の構成の簡素化を図ることができる。

本実施形態では、波長可変干渉フィルター５は、第一反射膜５４と第二反射膜５５との間のギャップＧの寸法を変更する静電アクチュエーター５６を備えている。
このため、静電アクチュエーター５６に印加する電圧を変更することで、メディアＭに照射する励起光の波長と、受光部３３で受光させる測定光の波長との双方を変更することができる。

本実施形態の分光器３０は、さらに、波長可変干渉フィルター５（フィルター中心軸Ｏ）の第一軸Ｌ１及び第二軸Ｌ２に対する角度を変更する角度変更部３５を備えている。
これにより、メディアＭに照射する励起光の波長と、受光部で受光させる測定光の波長とを変更することができる。
また、静電アクチュエーター５６によってギャップＧの寸法を変更し、角度変更部３５によってフィルター中心軸Ｏの傾斜角度を調整することで、励起光の波長及び測定光の波長をより細かく制御することができ、所望波長の励起光をメディアＭに照射させ、所望波長の測定光を受光部３３で測定することができる。

本実施形態では、第一軸Ｌ１及び第二軸Ｌ２は、第一反射膜５４の中心（フィルター中心点Ｏ_０）を交点として交差し、角度変更部３５は、フィルター中心点Ｏ_０を通る回転軸Ｌ３を中心として、波長可変干渉フィルター５を回転させて角度を変更する。
すなわち、本実施形態のように、可動部５２１を第一基板５１側に変位させる構成では、フィルター中心軸Ｏから離れる位置程、波長シフト量が大きくなる。したがって、波長可変干渉フィルター５から精度良く目標波長の光を透過させるには、入射光がフィルター中心軸Ｏ（フィルター中心点Ｏ_０）を通過するように入射させることが好ましい。ここで、波長可変干渉フィルター５を、例えば第一基板５１や第二基板５２の端部を回転中心として回転させると、回転時の第一反射膜５４及び第二反射膜５５の位置が大きく変動する。このため、第一軸Ｌ１や第二軸Ｌ２に沿った光の、第一反射膜５４や第二反射膜５５に対する光入射位置がフィルター中心軸Ｏ（フィルター中心点Ｏ_０）から大きくずれる場合がある。これに対して、本実施形態では、波長可変干渉フィルター５を回転させる回転軸Ｌ３がフィルター中心点Ｏ_０を通るため、回転時における第一反射膜５４及び第二反射膜５５の位置の変動が小さく、入射位置のずれによる波長シフトを抑制できる。

また、上述したように、Ｓ偏光の光は、波長可変干渉フィルター５に対して傾斜して光を入射させた際の波長シフト量が、Ｐ偏光の光よりも大きくなる。したがって、Ｓ偏光の光を透過させる偏光板３２を用いることで、励起光の波長と、測定光の波長との差を大きくできる。

本実施形態では、波長可変干渉フィルター５のメディアＭとは反対側に、偏光板３２が設けられている。
フィルター中心軸Ｏに対して傾斜する方向から波長可変干渉フィルター５を入射させた際、Ｐ偏光の光とＳ偏光の光とでは、透過光の波長が異なる。したがって、偏光板３２を設けない構成とすると、波長が異なるＰ偏光の光とＳ偏光の光が透過されることになる。これに対して、本実施形態のように偏光板３２を設けることで、Ｐ偏光の光を遮光することができる。すなわち、メディアＭに対して、目標波長の励起光を照射することができ、受光部３３で目標波長の測定光を受光することができる。

本実施形態では、偏光板３２は、波長可変干渉フィルター５のメディアＭとは反対側に設けられ、第一軸Ｌ１及び第二軸Ｌ２がこの偏光板３２を通過する。
これによって、第一反射膜５４や第二反射膜５５で、励起光が第二軸Ｌ２側に向かって反射された場合でも、偏光板３２により遮光することができ、励起光が受光部３３で受光される不都合を抑制できる。

［第二実施形態］
次に、本発明に係る第二実施形態について説明する。上述した第一実施形態では、第一軸Ｌ１と、第二軸Ｌ２と、フィルター中心軸Ｏとが同一平面に含まれる場合を例示した。これに対して、第二実施形態では、第一軸Ｌ１とフィルター中心軸Ｏとを含む面が、第二軸Ｌ２とフィルター中心軸Ｏとを含む面とは異なる点で上記第一実施形態と相違する。

図１１は、本実施形態の波長可変干渉フィルター５に対する第一軸Ｌ１及び第二軸Ｌ２の位置関係を示す図である。
図１１に示すように、本実施形態では、光源部３１は、第一面（ＹＺ平面）上の第一軸Ｌ１に沿って励起光をメディアＭに照射する。一方、メディアＭからの測定光のうち、第二面（ＸＺ平面）上の第二軸Ｌ２に沿って進む測定光を受光部３３で受光する。なお、図１１は本実施形態では、第一面がＹＺ平面、第二面がＸＺ平面であり、第一面と第二面とが直交する例を示すが、これに限定されず、第一面と第二面とが直交以外の角度で交差していてもよい。

図１２は、本実施形態の角度変更部３５Ａの一例を示す模式図である。
第二実施形態では、図１２に示すように、波長可変干渉フィルター５を格納したパッケージ筐体６０を保持基板６１が、枠体６３に対して第一回転軸Ｌ４を中心として回転可能に保持される。そして、この枠体６３は、第一回転軸Ｌ４に対して直交する第二回転軸Ｌ５を中心として回転可能に回路基板６２に保持される。
第一回転軸Ｌ４及び第二回転軸Ｌ５は、フィルター中心点Ｏ_０を通る回転軸となる。すなわち、本実施形態では、第一軸Ｌ１、第二軸Ｌ２、第一回転軸Ｌ４、及び第二回転軸Ｌ５がフィルター中心点Ｏ_０で交差する。また、図１２に示す例では、第二回転軸Ｌ５はＹ軸に沿った軸であり、枠体６３をＹ軸回りで回転させる。よって、第一回転軸Ｌ４は、第二回転軸Ｌ５を中心とした回転により、フィルター中心点Ｏ_０を中心にＸＺ平面内で回転可能となる。

角度変更部３５Ａは、保持基板６１を第一回転軸Ｌ４を中心に回転させる回転機構と、枠体６３を第二回転軸Ｌ５を中心に回転させる回転機構とを備える。例えば、図１２に示すように、保持基板６１に固定された第一回転軸部３５３を、枠体６３に設けられた孔部３５４で保持し、枠体６３から回路基板６２側に突出して設けられた第二回転軸部３５５を回路基板６２に設けられた軸受部３５６で受ける。そして、第一回転軸部３５３には、第一駆動源３５７（例えばステッピングモーター等）が接続され、第二回転軸部３５５には、第二駆動源３５８（例えばステッピングモーター等）が接続される。駆動制御部３６の制御によって第一駆動源３５７の駆動が制御されることで、第一回転軸部３５３が回転され、第二駆動源３５８の駆動が制御されることで、第二回転軸部３５５が回転される。
このような構成では、第一実施形態に比べて、第一軸Ｌ１とフィルター中心軸Ｏとの為す角度θ、及び、第二軸Ｌ２とフィルター中心軸Ｏとの為す角度φの設定範囲に自由度を向上させることができ、メディアＭに照射させる励起光の波長と、受光部３３で受光させる測定光の波長とをより自由に選択することができる。

［本実施形態の作用効果］
本実施形態では、第一軸Ｌ１と、第二軸Ｌ２とが異なる平面上に設けられる。このような構成では、第一軸Ｌ１に沿って進む励起光が、波長可変干渉フィルター５の第一反射膜５４または第二反射膜５５で、第二軸Ｌ２に向かって反射される不都合が抑制され、励起光が受光部３３で受光される不都合を抑制できる。
なお、波長可変干渉フィルター５の角度によっては、フィルター中心軸Ｏが第一軸Ｌ１と第二軸Ｌ２とを含む平面上に位置する場合もあるが、偏光板３２を、波長可変干渉フィルター５の光源部３１及び受光部３３が配置される側に配置する構成とすることで、受光部３３で励起光が受光される不都合を抑制することができる。

また、角度変更部３５Ａは、波長可変干渉フィルター５を、第一回転軸Ｌ４を中心として回転させる回転機構と、第二回転軸Ｌ５を中心として回転させる回転機構とを備える。このような構成とすることで、第一軸Ｌ１とフィルター中心軸Ｏとの為す角度θ、及び第二軸Ｌ２とフィルター中心軸Ｏとの為す角度φを、広い自由度で設定することができる。つまり、第一実施形態では、第一軸Ｌ１とフィルター中心軸Ｏとの為す角度θと、第二軸Ｌ２とフィルター中心軸Ｏとの為す角度φとの和を固定値（図３の例では４０°）として、励起光及び測定光の波長に対応する、波長可変干渉フィルター５の角度及びギャップＧの寸法を設定する必要があった。これに対して、本実施形態では、第一軸Ｌ１とフィルター中心軸Ｏとの為す角度θ、及び第二軸Ｌ２とフィルター中心軸Ｏとの為す角度φの和が固定値である必要がなく、励起光及び測定光の波長の選択自由度を拡げることができる。

［変形例］
なお、本発明は前述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の目的を達成できる範囲での変形、改良等は本発明に含まれるものである。

［変形例１］
図１３及び図１４は、本発明に係る光測定装置の他の構成例を示す模式図である。
上記第一実施形態では、励起光を照射側ミラー３４Ａで反射させてメディアＭに入射させ、メディアＭから発せられた蛍光の一部が受光側ミラー３４Ｂで反射されて測定光として受光部３３で受光させた。これに対して、図１３に示すように、第一軸Ｌ１がメディアＭの表面の法線方向となるように、光源部３１を配置してもよい。この場合、照射側ミラー３４Ａの構成を不要にできる。

また、図１４に示すように、第二軸Ｌ２がメディアＭの法線方向となるように、受光部３３を配置してもよい。この場合、受光側ミラー３４Ｂの構成を不要にできる。特に、対象物に励起光を照射して、対象物の蛍光特性を測定する場合、光源部３１からの励起光に対して蛍光の光量は小さくなる。これに対して図１４のような構成とすることで、蛍光の光量低下を抑制することができる。
さらに、受光素子３３１をイメージセンサーにより構成する構成としてもよく、この場合、図１４に示すように、第二軸Ｌ２上に、対象物の像を受光素子３３１に結像させる結像レンズ３３３を設ける構成としてもよい。このような構成では、蛍光波長に対する分光画像を撮像することができ、対象物における蛍光物質の位置や分布を測定することもできる。

［変形例２］
第一実施形態において、偏光板３２がＰ偏光を遮光しＳ偏光を透過させる例を示したが、Ｐ偏光を透過させてＳ偏光を遮断するように構成されていてもよい。

［変形例３］
また、偏光板３２が、波長可変干渉フィルター５のメディアＭとは反対側に配置される例を示したが、波長可変干渉フィルター５のメディアＭ側に配置されていてもよい。
この場合、メディアＭで発光した蛍光が第一反射膜５４や第二反射膜５５で反射した際に、メディアＭに再入射することを抑制できる。
さらに、偏光板３２は、波長可変干渉フィルター５を挟む位置に配置されていてもよい。つまり、波長可変干渉フィルター５のメディアＭ側と、波長可変干渉フィルター５の光源部３１及び受光部３３が設けられる側のそれぞれに偏光板３２が設けられていてもよい。この場合では、第一反射膜５４及び第二反射膜５５で反射された励起光が受光部３３に受光される不都合、及び第一反射膜５４及び第二反射膜５５で反射された測定光がメディアＭに再入射される不都合を抑制できる。

［変形例４］
さらには、偏光板３２は、上述したように、波長可変干渉フィルター５のメディアＭ側の面に貼付されてもよく、波長可変干渉フィルター５から離れた位置に設けられていてもよい。
第一軸Ｌ１及び第二軸Ｌ２の交点に配置される波長可変干渉フィルター５から離れて偏光板３２が配置される場合では、第一軸Ｌ１及び第二軸Ｌ２のそれぞれに対して偏光板３２を配置してもよい。

［変形例５］
さらに、励起光や測定光からＳ偏光の光を透過させ、Ｐ偏光の光を遮断する偏光板３２を例示したが、円偏光を直線偏光に変換するλ／４板が設けられていてもよい。この場合、波長可変干渉フィルター５に励起光や測定光が入射する前に、励起光及び測定光を直線偏光に揃える必要がある。したがって、波長可変干渉フィルター５を挟むようにλ／４を配置すればよい。
或いは、第一軸Ｌ１の光源部３１と波長可変干渉フィルター５との間、第二軸Ｌ２の波長可変干渉フィルター５よりもメディアＭ側にλ／４板を設ける構成としてもよい。

［変形例６］
上記実施形態では、干渉フィルターとして静電アクチュエーター５６によりギャップＧの寸法を変更可能な波長可変干渉フィルター５を例示したが、ギャップ変更部が設けられず、反射膜間の距離が一定である干渉フィルターを用いてもよい。
この場合でも、角度変更部によって干渉フィルターの角度（フィルター中心軸Ｏの角度）を変更することで、励起光の波長と測定光の波長とを変更することができる。

［変形例７］
上記実施形態において、角度変更部３５，３５Ａが設けられない構成としてもよい。この場合でも、波長可変干渉フィルター５のフィルター中心軸Ｏと第一軸Ｌ１との為す角度θ、及びフィルター中心軸Ｏと第一軸Ｌ１との為す角度φが異なる角度であれば、励起光と測定光の波長を異ならせることができる。ギャップＧの寸法を変更することで、励起光と測定光の波長を変更することができる。

［変形例８］
上記実施形態では、フィルター中心軸Ｏと第一軸Ｌ１との為す角度θ、及びフィルター中心軸Ｏと第一軸Ｌ１との為す角度φを異なる角度として、励起光と測定光の波長を異ならせる例を示したが、これに限定されない。すなわち、上記実施形態は、対象物であるメディアＭに対して励起光を照射し、メディアＭで生じた蛍光や燐光を測定するため、励起光の波長と、測定光の波長とを異なる波長とした。
これに対して、例えば、光源部３１からの光をメディアＭに照射し、メディアＭで反射された光を測定部で測定する分光測定装置としても、本発明の光測定装置を適用することができる。
この場合、フィルター中心軸Ｏと第一軸Ｌ１との為す角度θ、フィルター中心軸Ｏと第二軸Ｌ２との為す角度φとを同じ角度にする。前分光で対象物に照射する照射光の波長を目標波長（測定対象の波長）とすることで、目標波長以外の光の対象物への入射が抑制される。また、仮に、外光等の不要な光が対象物に照射された場合でも、後分光によって目標波長の光が受光部３３に導かれる。このように、前分光と後分光とで、分光波長を揃えることで、高精度な分光測定処理を実施することができる。

［変形例９］
上記実施形態では、静電アクチュエーター５６に電圧を印加した際に、位置が移動しない第一反射膜５４の中心をフィルター中心点Ｏ_０として、第一軸Ｌ１、第二軸Ｌ２、及び回転軸Ｌ３（第一回転軸Ｌ４，第二回転軸Ｌ５）の交点がフィルター中心点Ｏ_０となる例を示したが、これに限定されない。
フィルター中心点Ｏ_０としては、波長可変干渉フィルター５において、フィルター中心軸Ｏ上であれば如何なる位置であってもよい。例えば、静電アクチュエーター５６に電圧を印加していない状態で、第一反射膜５４の中心と第二反射膜５５の中心とを結ぶ線分の中点であってもよい。

また、第一軸Ｌ１、及び第二軸Ｌ２がフィルター中心点Ｏ_０で交差する例を示したが、これに限定されない。
例えば、第一軸Ｌ１と第二軸Ｌ２とがねじれの関係となっていてもよい。すなわち、第一軸Ｌ１に沿って進む照射光（励起光）、及び第二軸Ｌ２に沿って進む測定光が、波長可変干渉フィルター５の第一反射膜５４及び第二反射膜５５を通過するように、光源部３１や受光部３３が配置されていればよい。

回転軸Ｌ３（または、第一回転軸Ｌ４及び第二回転軸Ｌ５）においても、フィルター中心点Ｏ_０を通っていなくてもよい。例えば、第一基板５１や第二基板５２の端部位置に回転軸Ｌ３（または第一回転軸Ｌ４及び第二回転軸Ｌ５）が設けられていてもよい。この場合、上述したように、フィルター中心点Ｏ_０を通るように回転軸Ｌ３を設けた場合に比べて、波長可変干渉フィルター５の傾斜角度ζを変更した際の第一反射膜５４及び第二反射膜５５の位置が、大きく変動する。しかしながら、上記の様に、第一軸Ｌ１や第二軸Ｌ２に沿って進む照射光や測定光が、第一反射膜５４及び第二反射膜５５を通過していれば、照射光の波長及び測定光の波長をそれぞれ設定することができる。

［その他の変形例］
ギャップ制御部として静電アクチュエーター５６を例示したが、これに限定されない。例えば、第一基板５１と第二基板５２との間に電圧印加によって伸縮する圧電素子を配置して、ギャップＧの寸法を変更してもよく、ギャップＧの空気圧を変更することで、可動部５２１を押し上げたり吸引したりする構成としてもよい。

また、電子機器としてプリンター１０を例示したが、これに限定されない。例えば、印刷部１６を備えず、メディアＭの測定のみを実施する測定装置であってもよい。また、例えば工場等において製造された印刷物の品質検査を行う品質検査装置に、本発明の光学モジュールを組み込んでもよく、その他、如何なる電子機器に本発明の光学モジュールを組み込んでもよい。

その他、本発明の実施の際の具体的な構造は、本発明の目的を達成できる範囲で他の構造等に適宜変更できる。

５…波長可変干渉フィルター（干渉フィルター）、１０…プリンター（電子機器）、１５…制御ユニット（制御部）、３０…分光器（光測定装置）、３１…光源部、３２…偏光板、３３…受光部、３４Ａ…照射側ミラー、３４Ｂ…受光側ミラー、３５，３５Ａ…角度変更部、３６…駆動制御部、５４…第一反射膜、５５…第二反射膜、５６…静電アクチュエーター、６１…保持基板、６２…回路基板、６３…枠体、３１１…光源、３１２…光源側アパーチャー、３３１…受光素子、３３２…受光側アパーチャー、３３３…結像レンズ、３５１…回転軸部、３５１Ａ…軸受部、３５２…駆動源、３５３…第一回転軸部、３５４…孔部、３５５…第二回転軸部、３５６…軸受部、３５７…第一駆動源、３５８…第二駆動源、Ｇ…ギャップ、Ｌ１…第一軸、Ｌ２…第二軸、Ｌ３…回転軸、Ｌ４…第一回転軸、Ｌ５…第二回転軸、Ｍ…メディア（対象物）、Ｏ…フィルター中心軸、Ｏ_０…フィルター中心点、ζ…傾斜角度、θ…第一軸部とフィルター中心軸との為す角度、φ…第二軸部とフィルター中心軸との為す角度。

Claims

第一軸に沿って対象物に照射する照射光を出射する光源部と、
前記対象物からの光のうち、前記第一軸とは異なる第二軸に沿って進む測定光を受光する受光部と、
一対の反射膜を有し、前記一対の反射膜の間の寸法に応じた波長の光を透過させる干渉フィルターと、を備え、
前記第一軸に沿って出射された前記照射光、及び前記第二軸に沿って進む前記測定光は、前記干渉フィルターの前記一対の反射膜を通過する
ことを特徴とする光測定装置。
請求項１に記載の光測定装置において、
前記干渉フィルターは、前記一対の反射膜の間の寸法を変更するギャップ変更部を備える
ことを特徴とする光測定装置。
請求項１または請求項２に記載の光測定装置において、
前記干渉フィルターの前記第一軸及び前記第二軸に対する角度を変更する角度変更部を備える
ことを特徴とする光測定装置。
請求項３に記載の光測定装置において、
前記第一軸及び前記第二軸は、前記一対の反射膜の一方から、前記一対の反射膜の他方までの間で交差し、
前記角度変更部は、前記第一軸及び前記第二軸の交点を中心として前記干渉フィルターの角度を変更する
ことを特徴とする光測定装置。
請求項１から請求項４のいずれか１項に記載の光測定装置において、
前記第一軸における前記光源部から前記対象物までの間、及び前記第二軸における前記対象物から前記受光部までの間に設けられた偏光板を備える
ことを特徴とする光測定装置。
請求項５に記載の光測定装置において、
前記偏光板は、前記干渉フィルターの前記対象物とは反対側に設けられる
ことを特徴とする光測定装置。
請求項１から請求項６のいずれか１項に記載の光測定装置において、
前記一対の反射膜のいずれか一方の法線方向と前記第一軸とを含む第一面と、前記法線方向と前記第二軸とを含む第二面とが交差する
ことを特徴とする光測定装置。
請求項１から請求項７のいずれか１項に記載の光測定装置と、
前記光測定装置を制御する制御部と、
を備えたことを特徴とする電子機器。