JP2019147203A - Frame for package substrate and method for grinding package substrate - Google Patents

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Abstract

To provide a frame for a package substrate capable of reducing the cost of grinding processing by performing grinding processing of a package substrate without executing a large scale of alteration of a grinding device.SOLUTION: A frame for a package substrate 2 to be used during grinding a mold resin by holding a package substrate in which a region is covered with the mold resin except an end material region of the surface of the substrate including the end material regions at a peripheral part by suction by a chuck table includes: a disk-shaped frame body 4 having a diameter equal to or larger than the diameter of the suction surface of the chuck table provided with a circular suction surface for sucking a workpiece; opening parts 4d for exposing the mold resin of the package substrate formed on the frame body; and eaves parts 6 provided along the outer periphery of the opening parts to cover the end material regions.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、パッケージ基板に研削加工を施す際に用いるパッケージ基板用フレーム、及び該パッケージ基板用フレームを用いたパッケージ基板の研削方法に関する。   The present invention relates to a package substrate frame used when grinding a package substrate, and a package substrate grinding method using the package substrate frame.

半導体ウェーハを分割して得られたデバイスチップを基板上に実装し、該デバイスチップを樹脂からなる封止材(モールド樹脂)で被覆することにより、パッケージ基板が得られる。このパッケージ基板から製造されたパッケージデバイスは様々な電子機器に内蔵されており、近年、電子機器の小型化・薄型化に伴いパッケージ基板にも小型化・薄型化が求められている。そこで、パッケージ基板のモールド樹脂を研削砥石で研削することにより、パッケージ基板を薄化する手法が用いられている。   A device chip obtained by dividing a semiconductor wafer is mounted on a substrate, and the device chip is covered with a sealing material (mold resin) made of a resin to obtain a package substrate. Package devices manufactured from this package substrate are built in various electronic devices, and in recent years, with the downsizing and thinning of electronic devices, the package substrate is also required to be downsized and thinned. Therefore, a method of thinning the package substrate by grinding the mold resin of the package substrate with a grinding wheel is used.

研削加工を行うための研削装置としては、半導体ウェーハ等の円板状の被加工物を研削する研削装置が広く用いられており、この研削装置をパッケージ基板の研削に適用することにより、新たな研削装置の導入が不要となりコストを削減できる。しかしながら、このような研削装置は円板状の被加工物の研削を想定して構成されており、これをパッケージ基板の研削に用いるためには、例えば被加工物を保持するチャックテーブルや被加工物を搬送する搬送ユニットなどの構成を、パッケージ基板の形状等に合わせて変更する必要がある。   As a grinding apparatus for performing the grinding process, a grinding apparatus for grinding a disk-shaped workpiece such as a semiconductor wafer is widely used. By applying this grinding apparatus to the grinding of a package substrate, a new one can be obtained. The introduction of a grinding device is not necessary, and costs can be reduced. However, such a grinding apparatus is configured to grind a disk-shaped workpiece, and in order to use it for grinding a package substrate, for example, a chuck table or workpiece to hold the workpiece It is necessary to change the configuration of a transport unit for transporting an object in accordance with the shape of the package substrate.

特許文献1には、パッケージ基板に研削加工を施す際にパッケージ基板を保持するための固定冶具が開示されている。この固定冶具は、矩形状の基板に複数のデバイスチップが形成されてなるパッケージ基板を固定するため、デバイスチップの位置に対応して配置され吸引口と接続された複数の凹部を有する矩形状の基材を備えている。   Patent Document 1 discloses a fixing jig for holding a package substrate when grinding the package substrate. In order to fix a package substrate in which a plurality of device chips are formed on a rectangular substrate, the fixing jig is arranged in a rectangular shape having a plurality of concave portions arranged corresponding to the positions of the device chips and connected to suction ports. A substrate is provided.

特開2015−85414号公報Japanese Patent Laying-Open No. 2015-85414

半導体ウェーハ等の円板状の被加工物の研削が想定された研削装置を用いて、例えば平面視で矩形状のパッケージ基板を研削する場合は、チャックテーブルを上記の固定冶具に置き換えるなど研削装置の大掛かりな改造が必要となり、研削加工のコストが増大する。   When grinding a rectangular package substrate in plan view, for example, using a grinding device that is supposed to grind a disk-shaped workpiece such as a semiconductor wafer, a grinding device such as replacing the chuck table with the above-mentioned fixing jig Therefore, the cost of grinding processing increases.

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、研削装置に大掛かりな改造を施すことなくパッケージ基板の研削加工を実施して研削加工のコストを低減することを可能とするパッケージ基板用フレーム、及び、該パッケージ基板用フレームを用いたパッケージ基板の研削方法を提供することを課題とする。   SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of such a problem, and a frame for a package substrate that can reduce the cost of the grinding process by performing the grinding process of the package substrate without making a major modification to the grinding apparatus. It is another object of the present invention to provide a grinding method for a package substrate using the package substrate frame.

本発明によれば、外周部に端材領域を備える基板の表面の該端材領域を除く領域がモールド樹脂で覆われてなるパッケージ基板をチャックテーブルによって吸引保持して該モールド樹脂を研削する際に用いるパッケージ基板用フレームであって、被加工物を吸引する円形の吸引面を備える該チャックテーブルの該吸引面の径以上の径を有する円板状のフレーム本体と、該フレーム本体に形成され該パッケージ基板の該モールド樹脂を露出させる開口部と、該開口部の外周に沿って設けられ、該端材領域を覆う庇部と、を備えるパッケージ基板用フレームが提供される。   According to the present invention, when the mold substrate is ground by holding the package substrate in which the region excluding the end material region on the surface of the substrate having the end material region on the outer peripheral portion is covered with the mold resin by the chuck table. A frame for a package substrate for use in a disk-shaped frame main body having a diameter equal to or larger than the diameter of the suction surface of the chuck table provided with a circular suction surface for sucking a workpiece, and formed on the frame main body. There is provided a package substrate frame comprising: an opening for exposing the mold resin of the package substrate; and a flange provided along the outer periphery of the opening and covering the end material region.

なお、本発明に係るパッケージ基板用フレームは、該フレーム本体に形成され、該フレーム本体の方向を示す目印部を備えていてもよい。   The package substrate frame according to the present invention may include a mark portion formed on the frame body and indicating the direction of the frame body.

また、本発明によれば、上記のパッケージ基板用フレームを用いたパッケージ基板の研削方法であって、該モールド樹脂が該開口部から該フレーム本体の表面側に露出し、該端材領域が該庇部に覆われるように該パッケージ基板を位置付け、該フレーム本体の裏面側に粘着テープを貼付することにより該パッケージ基板を該フレーム本体に固定してフレームユニットを形成するフレームユニット形成ステップと、該チャックテーブルによって該フレームユニットを保持し、該開口部から該フレーム本体の表面側に露出した該モールド樹脂を研削ユニットで研削する研削ステップと、を備えるパッケージ基板の研削方法が提供される。   Further, according to the present invention, there is provided a grinding method for a package substrate using the above-described package substrate frame, wherein the mold resin is exposed to the surface side of the frame body from the opening, and the end material region is A frame unit forming step of positioning the package substrate so as to be covered by a flange and fixing the package substrate to the frame body by applying an adhesive tape to the back side of the frame body to form a frame unit; A grinding step of holding the frame unit by a chuck table and grinding the mold resin exposed to the surface side of the frame body from the opening by a grinding unit.

本発明に係るパッケージ基板用フレームは、研削装置に備えられたチャックテーブルの吸引面以上の径を有する円板状に形成され、任意の形状やサイズのパッケージ基板を収容して、該パッケージ基板をチャックテーブルに保持させることができる。これにより、円板状の被加工物の研削を想定した研削装置を用いて、例えば平面視で矩形状のパッケージ基板を研削する等の加工が可能となり、研削装置に大掛かりな改造を施すことなくパッケージ基板の研削加工を実施できる。   A frame for a package substrate according to the present invention is formed in a disc shape having a diameter equal to or larger than a suction surface of a chuck table provided in a grinding apparatus, and accommodates a package substrate having an arbitrary shape and size. It can be held on the chuck table. As a result, it is possible to perform processing such as grinding a rectangular package substrate in a plan view using a grinding device that assumes grinding of a disk-shaped workpiece, and without making extensive modifications to the grinding device. The package substrate can be ground.

図1(A)は、パッケージ基板用フレームの構成例を示す斜視図であり、図1(B)はパッケージ基板用フレームの構成例を示す断面図である。1A is a perspective view illustrating a configuration example of a package substrate frame, and FIG. 1B is a cross-sectional view illustrating a configuration example of a package substrate frame. 図2(A)は、パッケージ基板にパッケージ基板用フレームが装着される様子を示す斜視図であり、図2(B)は、パッケージ基板にパッケージ基板用フレームが装着される様子を示す断面図である。2A is a perspective view showing a state where the package substrate frame is mounted on the package substrate, and FIG. 2B is a cross-sectional view showing a state where the package substrate frame is mounted on the package substrate. is there. 図3(A)は、パッケージ基板にパッケージ基板用フレームを装着した状態のフレームユニットを示す斜視図であり、図3(B)は、パッケージ基板にパッケージ基板用フレームを装着した状態のフレームユニットを示す断面図である。3A is a perspective view showing the frame unit in a state where the package substrate frame is mounted on the package substrate, and FIG. 3B is a perspective view of the frame unit in the state where the package substrate frame is mounted on the package substrate. It is sectional drawing shown. 研削装置の構成例を示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structural example of a grinding apparatus. フレームユニットが搬送ユニットによって搬送される様子を示す正面図である。It is a front view which shows a mode that a frame unit is conveyed by the conveyance unit. モールド樹脂が研削ユニットによって研削される様子を示す断面図である。It is sectional drawing which shows a mode that mold resin is ground by the grinding unit. 図7(A)は、パッケージ基板用フレームの変形例を示す斜視図であり、図7(B)は、パッケージ基板用フレームの変形例を示す断面図である。FIG. 7A is a perspective view showing a modification of the package substrate frame, and FIG. 7B is a cross-sectional view showing a modification of the package substrate frame. フレームユニットの変形例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the modification of a frame unit. フレームユニットが凸部を有するチャックテーブルによって保持された状態を示す断面図である。It is sectional drawing which shows the state with which the frame unit was hold | maintained by the chuck table which has a convex part.

以下、添付図面を参照して、本発明の実施形態を説明する。図1(A)は、本実施形態に係るパッケージ基板用フレーム2の構成例を示す斜視図であり、図1(B)は該パッケージ基板用フレーム2の構成例を示す断面図である。パッケージ基板用フレーム2は、パッケージ基板に研削加工を施す際、研削装置が備えるチャックテーブルの保持面にパッケージ基板と共に保持され、パッケージ基板をチャックテーブル上で固定する機能を有する。   Embodiments of the present invention will be described below with reference to the accompanying drawings. FIG. 1A is a perspective view illustrating a configuration example of the package substrate frame 2 according to the present embodiment, and FIG. 1B is a cross-sectional view illustrating a configuration example of the package substrate frame 2. The package substrate frame 2 has a function of holding the package substrate on the chuck table by holding the package substrate together with the package substrate on the holding surface of the chuck table included in the grinding device when grinding the package substrate.

以下では一例として、半導体ウェーハ等の円板状の被加工物を研削する研削装置に備えられ、被加工物の形状に対応して円形の保持面を有するチャックテーブルに、平面視で矩形状のパッケージ基板を保持する形態について説明する。本実施形態に係るパッケージ基板用フレーム2を用いることにより、円板状の被加工物の研削を想定して構成された研削装置を、平面視で矩形状のパッケージ基板の研削加工に用いることが可能となる。   In the following, as an example, a grinding device for grinding a disk-shaped workpiece such as a semiconductor wafer is provided, and a chuck table having a circular holding surface corresponding to the shape of the workpiece has a rectangular shape in plan view. A mode for holding the package substrate will be described. By using the package substrate frame 2 according to the present embodiment, a grinding device configured to grind a disk-shaped workpiece may be used for grinding a rectangular package substrate in plan view. It becomes possible.

パッケージ基板用フレーム2は、樹脂や金属などによって形成され、表面4a及び裏面4bを有する円板状のフレーム本体4を備える。フレーム本体4の裏面4b側には、平面視で矩形状の凹部4cが形成されている。この凹部4cの上側に位置する領域には、フレーム本体4の表面4aに達し、平面視で矩形状の開口部4dが設けられている。なお、開口部4dは、凹部4cよりもその幅(Y軸方向の長さ)及び奥行き(X軸方向の長さ)が小さくなるように形成される。   The package substrate frame 2 is formed of resin, metal, or the like, and includes a disk-shaped frame body 4 having a front surface 4a and a back surface 4b. On the back surface 4b side of the frame body 4, a rectangular recess 4c is formed in plan view. In a region located on the upper side of the recess 4c, an opening 4d that reaches the surface 4a of the frame body 4 and is rectangular in plan view is provided. The opening 4d is formed so that the width (the length in the Y-axis direction) and the depth (the length in the X-axis direction) are smaller than the recess 4c.

また、凹部4cの上側には、本体部4から開口部4dに向かって突出する庇状の庇部6が開口部4dの外周に沿って構成される。また、凹部4cの内部には、庇部6の下側に位置しフレーム本体4と庇部6とによって囲まれた空間10が形成される。   Further, on the upper side of the concave portion 4c, a hook-shaped flange portion 6 protruding from the main body portion 4 toward the opening portion 4d is formed along the outer periphery of the opening portion 4d. In addition, a space 10 is formed inside the recess 4 c and is located below the flange 6 and surrounded by the frame body 4 and the flange 6.

後述の通り、凹部4cには研削加工が施されるパッケージ基板の一部が収容される。なお、図1(B)ではフレーム本体4に2つの凹部4c及び2つの開口部4dが形成されているが、凹部4c及び開口部4dの数は、フレーム本体4のサイズ及びパッケージ基板のサイズに応じて増減できる。   As will be described later, a part of the package substrate to be ground is accommodated in the recess 4c. In FIG. 1B, the frame body 4 has two recesses 4c and two openings 4d. The number of the recesses 4c and the openings 4d depends on the size of the frame body 4 and the size of the package substrate. Can be increased or decreased accordingly.

パッケージ基板に研削加工を施す際は、パッケージ基板にパッケージ基板用フレーム2を装着する。図2(A)は、パッケージ基板11にパッケージ基板用フレーム2が装着される様子を示す斜視図であり、図2(B)は、パッケージ基板11にパッケージ基板用フレーム2が装着される様子を示す断面図である。   When grinding the package substrate, the package substrate frame 2 is mounted on the package substrate. 2A is a perspective view showing a state in which the package substrate frame 2 is attached to the package substrate 11, and FIG. 2B is a state in which the package substrate frame 2 is attached to the package substrate 11. FIG. It is sectional drawing shown.

パッケージ基板11は、平面視で矩形状に形成された板状の基板13と、基板13の表面13a側に実装された複数のデバイスチップ(不図示)とを備える。基板13上に実装された複数のデバイスチップは、樹脂からなり複数のデバイスチップを封止するモールド樹脂15によって覆われている。また、基板13は、モールド樹脂15が形成されていない端材領域17をその外周部に有する。   The package substrate 11 includes a plate-like substrate 13 formed in a rectangular shape in plan view, and a plurality of device chips (not shown) mounted on the surface 13 a side of the substrate 13. The plurality of device chips mounted on the substrate 13 are made of resin and covered with a mold resin 15 that seals the plurality of device chips. Moreover, the board | substrate 13 has the end material area | region 17 in which the mold resin 15 is not formed in the outer peripheral part.

フレーム本体4の凹部4cは、その厚さ(Z軸方向の長さ)がパッケージ基板11の基板13の厚さと概ね一致するように形成される。また、凹部4cは、その幅及び奥行きが基板13よりも大きくなるように形成される。   The recess 4c of the frame body 4 is formed so that the thickness (the length in the Z-axis direction) substantially matches the thickness of the substrate 13 of the package substrate 11. Further, the recess 4 c is formed so that its width and depth are larger than those of the substrate 13.

また、開口部4dは、その幅がモールド樹脂15の幅より大きく且つ基板13の幅よりも小さくなり、その奥行きがモールド樹脂15の奥行きより大きく且つ基板13の奥行きよりも小さくなるように形成される。さらに、開口部4dは、その厚さがモールド樹脂15の厚さよりも小さくなるように形成される。   The opening 4d is formed so that the width is larger than the width of the mold resin 15 and smaller than the width of the substrate 13, and the depth is larger than the depth of the mold resin 15 and smaller than the depth of the substrate 13. The Furthermore, the opening 4 d is formed so that its thickness is smaller than the thickness of the mold resin 15.

パッケージ基板11に研削加工を施す際は、まず、パッケージ基板11にパッケージ基板用フレーム2を装着してフレームユニットを形成する(フレームユニット形成ステップ)。具体的には、基板13の表面13a側をフレーム本体4の裏面4b側から凹部4cに挿入し、基板13を凹部4cに収容する。   When grinding the package substrate 11, first, the package substrate frame 2 is mounted on the package substrate 11 to form a frame unit (frame unit forming step). Specifically, the front surface 13a side of the substrate 13 is inserted into the recess 4c from the back surface 4b side of the frame body 4, and the substrate 13 is accommodated in the recess 4c.

この状態で、フレーム本体4の裏面4b及び基板13の裏面13bに、エポキシ樹脂などによって形成される粘着テープ12を貼付する。これにより、パッケージ基板用フレーム2とパッケージ基板11とが固定され、フレームユニットが形成される。   In this state, the adhesive tape 12 formed of epoxy resin or the like is attached to the back surface 4b of the frame body 4 and the back surface 13b of the substrate 13. Thereby, the package substrate frame 2 and the package substrate 11 are fixed, and a frame unit is formed.

図3(A)はパッケージ基板11にパッケージ基板用フレーム2を装着した状態のフレームユニット19を示す斜視図であり、図3(B)は、該フレームユニット19を示す断面図である。パッケージ基板11の基板13が凹部4c(図1(B)参照)に収容されると、モールド樹脂15の上側の一部が開口部4d(図1(B)参照)からフレーム本体4の表面4a側に露出して突出した状態となる。また、基板13の端材領域17の少なくとも一部は、庇部6に覆われるように空間10に収容され、その上面が庇部6と接した状態で固定される。   FIG. 3A is a perspective view showing the frame unit 19 in a state where the package substrate frame 2 is mounted on the package substrate 11, and FIG. 3B is a cross-sectional view showing the frame unit 19. When the substrate 13 of the package substrate 11 is accommodated in the recess 4c (see FIG. 1B), a part of the upper side of the mold resin 15 passes from the opening 4d (see FIG. 1B) to the surface 4a of the frame body 4. It is exposed to the side and protrudes. Further, at least a part of the end material region 17 of the substrate 13 is accommodated in the space 10 so as to be covered with the flange portion 6, and is fixed in a state where the upper surface thereof is in contact with the flange portion 6.

図3(B)に示すように、粘着テープ12は少なくとも凹部4cを覆うようにフレーム本体4の裏面4bに貼付されていればよく、必ずしもフレーム本体4の裏面4b全域に貼付されていなくてもよい。フレーム本体4の裏面4bの一部のみに粘着テープ12を貼付することにより、粘着テープ12を節約できる。   As shown in FIG. 3 (B), the adhesive tape 12 only needs to be affixed to the back surface 4b of the frame body 4 so as to cover at least the recess 4c. Good. By sticking the adhesive tape 12 only to a part of the back surface 4b of the frame body 4, the adhesive tape 12 can be saved.

なお、上記ではパッケージ基板11が平面視で矩形状である例を説明したが、これに限定されず、任意のサイズや形状のパッケージ基板11を用いることができる。また、凹部4c及び開口部4dのサイズや形状もパッケージ基板11に応じて適宜変更できる。したがって、パッケージ基板用フレーム2は任意の形状やサイズのパッケージ基板11を収容できる。   Although the example in which the package substrate 11 is rectangular in plan view has been described above, the present invention is not limited to this, and the package substrate 11 having an arbitrary size and shape can be used. Further, the size and shape of the recess 4 c and the opening 4 d can be changed as appropriate according to the package substrate 11. Therefore, the package substrate frame 2 can accommodate a package substrate 11 having an arbitrary shape and size.

また、図1(A)、図2(A)、図3(A)に示すように、フレーム本体4にはフレーム本体4の方向を示す目印部4eが形成されていてもよい。目印部4eをセンサ等で検出することにより、パッケージ基板用フレーム2が装着されたパッケージ基板11の向きを把握できる。目印部4eは、例えば、フレームユニット19を研削装置のチャックテーブルによって保持する際や、フレームユニット19を研削装置のカセットに収容する際の、フレームユニット19の向きの調整に用いることができる。   Further, as shown in FIGS. 1A, 2A, and 3A, the frame body 4 may be formed with a mark portion 4e indicating the direction of the frame body 4. By detecting the mark portion 4e with a sensor or the like, the orientation of the package substrate 11 on which the package substrate frame 2 is mounted can be grasped. The mark portion 4e can be used, for example, for adjusting the orientation of the frame unit 19 when the frame unit 19 is held by a chuck table of the grinding apparatus or when the frame unit 19 is accommodated in a cassette of the grinding apparatus.

なお、図1(A)、図2(A)、図3(A)では目印部4eがフレーム本体4の外周部を切り欠いて形成されたノッチである例を示しているが、目印部4eの形成方法に制限はない。例えば、目印部4eとしてフレーム本体4の外周部にオリエンテーションフラットを形成してもよいし、フレーム本体4の一部を着色して目印部4eとして用いてもよい。ノッチやオリエンテーションフラットをフレーム本体4の外周部に設けることにより、フレームユニット19を半導体ウェーハと同様に扱うことが可能となる。   1A, 2A, and 3A show examples in which the mark portion 4e is a notch formed by cutting out the outer peripheral portion of the frame body 4, the mark portion 4e. There is no limitation on the forming method. For example, an orientation flat may be formed on the outer peripheral part of the frame body 4 as the mark part 4e, or a part of the frame body 4 may be colored and used as the mark part 4e. By providing notches and orientation flats on the outer periphery of the frame body 4, the frame unit 19 can be handled in the same manner as a semiconductor wafer.

次に、パッケージ基板11にパッケージ基板用フレーム2が装着されたフレームユニット19を、研削装置に備えられたチャックテーブルの保持面によって保持し、開口部4dからフレーム本体4の表面4a側に露出して突出したモールド樹脂15を研削する(研削ステップ)。モールド樹脂15の研削によって、パッケージ基板11を薄化することができる。なお、ここでは、円板状の被加工物を保持するために円形の保持面を有するチャックテーブルを備えた研削装置を用いる例について説明する。   Next, the frame unit 19 having the package substrate frame 2 mounted on the package substrate 11 is held by the holding surface of the chuck table provided in the grinding apparatus, and is exposed to the surface 4a side of the frame body 4 from the opening 4d. The mold resin 15 protruding in this way is ground (grinding step). The package substrate 11 can be thinned by grinding the mold resin 15. Here, an example will be described in which a grinding device including a chuck table having a circular holding surface is used to hold a disk-shaped workpiece.

以下、パッケージ基板11の研削に用いる研削装置の構成例について説明する。図4は、半導体ウェーハ等の円板状の被加工物に研削加工を施すことが可能な研削装置20の構成例を示す斜視図である。   Hereinafter, a configuration example of a grinding apparatus used for grinding the package substrate 11 will be described. FIG. 4 is a perspective view showing a configuration example of a grinding apparatus 20 capable of grinding a disk-shaped workpiece such as a semiconductor wafer.

図4に示すように、研削装置20は、研削装置20の各構成要素を支持する基台22を備えている。基台22の上面の正面側には開口22aが形成されており、この開口22a内には、フレームユニット19を搬送する搬送ユニット24が設けられている。また、開口22aのさらに前方の領域には、複数のフレームユニット19を収容可能なカセット26a,26bが設けられている。   As shown in FIG. 4, the grinding apparatus 20 includes a base 22 that supports each component of the grinding apparatus 20. An opening 22a is formed on the front side of the upper surface of the base 22, and a transport unit 24 for transporting the frame unit 19 is provided in the opening 22a. Further, cassettes 26 a and 26 b that can accommodate a plurality of frame units 19 are provided in a region further forward of the opening 22 a.

開口22aの斜め後方には、フレームユニット19の位置を調整するための位置調整機構28が設けられている。カセット26a,26bから搬送ユニット24によって搬出されたフレームユニット19は位置調整機構28に配置され、位置調整機構28によってその位置が調整される。位置調整機構28と隣接する位置には、フレームユニット19を保持して旋回する搬送ユニット30が配置されている。位置調整機構28に配置されたフレームユニット19は、搬送ユニット30によって搬送される。   A position adjustment mechanism 28 for adjusting the position of the frame unit 19 is provided obliquely behind the opening 22a. The frame unit 19 carried out from the cassettes 26 a and 26 b by the transport unit 24 is disposed in the position adjustment mechanism 28, and the position thereof is adjusted by the position adjustment mechanism 28. At a position adjacent to the position adjusting mechanism 28, a transport unit 30 that holds and turns the frame unit 19 is disposed. The frame unit 19 disposed in the position adjustment mechanism 28 is transported by the transport unit 30.

図5は、フレームユニット19が搬送ユニット30によって搬送される様子を示す正面図である。搬送ユニット30は、円板状の基台32と、基台32の下面側に設けられ、フレームユニット19を吸引する複数の吸着パッド34とを備える。複数の吸着パッド34で本体フレーム4の上面4aを吸引することにより、フレームユニット19が搬送ユニット30に保持される。この状態で基台32を移動させることにより、フレームユニット19が搬送される。   FIG. 5 is a front view illustrating a state in which the frame unit 19 is transported by the transport unit 30. The transport unit 30 includes a disk-shaped base 32 and a plurality of suction pads 34 that are provided on the lower surface side of the base 32 and suck the frame unit 19. The frame unit 19 is held by the transport unit 30 by sucking the upper surface 4 a of the main body frame 4 with the plurality of suction pads 34. The frame unit 19 is conveyed by moving the base 32 in this state.

なお、フレーム本体4の表面4a側には、モールド樹脂15が突出しており、吸着パッド34はモールド樹脂15と接触しないように本体フレーム4の上面4aを吸引する。吸着パッド34の数に制限はなく、例えば、4つの吸着パッド34を設けて本体フレーム4の外周部4か所を吸引保持する構成とすることができる。   The mold resin 15 protrudes on the surface 4 a side of the frame body 4, and the suction pad 34 sucks the upper surface 4 a of the body frame 4 so as not to contact the mold resin 15. The number of suction pads 34 is not limited. For example, four suction pads 34 may be provided to suck and hold the four outer peripheral portions of the main body frame 4.

図4に示す搬送ユニット30の後方には、鉛直方向に対して平行な回転軸の周りに回転可能なターンテーブル36が配置されている。ターンテーブル36の上面には、フレームユニット19を吸引保持する3個のチャックテーブル38が設けられている。なお、ターンテーブル36上に配置されるチャックテーブル38の数は、必ずしも3個に限定されない。   A turntable 36 that is rotatable around a rotation axis parallel to the vertical direction is arranged behind the transport unit 30 shown in FIG. Three chuck tables 38 for sucking and holding the frame unit 19 are provided on the upper surface of the turntable 36. Note that the number of chuck tables 38 arranged on the turntable 36 is not necessarily limited to three.

吸着パッド34でフレームユニット19を吸引保持した搬送ユニット30は、チャックテーブル38の所定の位置にフレームユニット19が配置されるように、フレームユニット19をチャックテーブル38に搬送する。なお、フレームユニット19をチャックテーブル38に配置する際は、フレーム本体4に設けられた目印部4e(図1(A)、図2(A)、図3(A)参照)を用いてフレームユニット19の方向を決定できる。   The conveyance unit 30 that sucks and holds the frame unit 19 with the suction pad 34 conveys the frame unit 19 to the chuck table 38 so that the frame unit 19 is disposed at a predetermined position of the chuck table 38. When the frame unit 19 is arranged on the chuck table 38, the frame unit 19 is used by using the mark portion 4e provided on the frame body 4 (see FIGS. 1A, 2A, and 3A). 19 directions can be determined.

チャックテーブル38は、モータ等の回転機構(不図示)と連結されており、鉛直方向に対して平行な回転軸の周りに回転する。なお、チャックテーブル38の上面はフレームユニット19を保持する保持面となっている。この保持面は、チャックテーブル38の内部に形成された吸引路(不図示)を通じて吸引源(不図示)と接続されている。チャックテーブル38に搬送されたフレームユニット19は、チャックテーブル38の保持面に作用する吸引源の負圧で吸引される。   The chuck table 38 is connected to a rotation mechanism (not shown) such as a motor, and rotates around a rotation axis parallel to the vertical direction. The upper surface of the chuck table 38 is a holding surface that holds the frame unit 19. The holding surface is connected to a suction source (not shown) through a suction path (not shown) formed inside the chuck table 38. The frame unit 19 conveyed to the chuck table 38 is sucked by the negative pressure of the suction source that acts on the holding surface of the chuck table 38.

ターンテーブル36の後方には、2本の柱状の支持構造40が設けられている。支持構造40の正面側には、Z軸移動機構42を介してZ軸移動プレート44が設けられている。Z軸移動機構42は、Z軸方向に平行な一対のZ軸ガイドレール46を備えており、Z軸ガイドレール46には、Z軸移動プレート44がスライド可能に設置されている。   Two columnar support structures 40 are provided behind the turntable 36. A Z-axis moving plate 44 is provided on the front side of the support structure 40 via a Z-axis moving mechanism 42. The Z-axis moving mechanism 42 includes a pair of Z-axis guide rails 46 parallel to the Z-axis direction, and a Z-axis moving plate 44 is slidably installed on the Z-axis guide rail 46.

Z軸移動プレート44の後面側(裏面側)には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、Z軸ガイドレール46と平行にZ軸ボールネジ48が螺合されている。Z軸ボールネジ48の一端部には、Z軸パルスモータ50が連結されている。Z軸パルスモータ50でZ軸ボールネジ48を回転させると、Z軸移動プレート44はZ軸ガイドレール46に沿ってZ軸方向に移動する。   A nut portion (not shown) is provided on the rear surface side (back surface side) of the Z-axis moving plate 44, and a Z-axis ball screw 48 is screwed into the nut portion in parallel with the Z-axis guide rail 46. Yes. A Z-axis pulse motor 50 is connected to one end of the Z-axis ball screw 48. When the Z-axis ball screw 48 is rotated by the Z-axis pulse motor 50, the Z-axis moving plate 44 moves in the Z-axis direction along the Z-axis guide rail 46.

Z軸移動プレート44の正面側には、研削ユニット52が設けられている。研削ユニット52は、Z軸移動プレート44に固定されたスピンドルハウジング54を備えている。スピンドルハウジング54には、回転軸を構成するスピンドル66(図6参照)が回転可能に支持されている。   A grinding unit 52 is provided on the front side of the Z-axis moving plate 44. The grinding unit 52 includes a spindle housing 54 fixed to the Z-axis moving plate 44. The spindle housing 54 rotatably supports a spindle 66 (see FIG. 6) that constitutes a rotation shaft.

スピンドルの下端部には、研削ホイール56が装着されている。研削ホイール56は、円筒状のホイール基台70(図6参照)と、ホイール基台70の下面に環状に配置された複数の研削砥石72(図6参照)とを含む。   A grinding wheel 56 is attached to the lower end of the spindle. The grinding wheel 56 includes a cylindrical wheel base 70 (see FIG. 6) and a plurality of grinding wheels 72 (see FIG. 6) arranged in an annular shape on the lower surface of the wheel base 70.

フレームユニット19がチャックテーブル38によって吸引保持されると、ターンテーブル36は回転してフレームユニット19を研削ユニット52の下方に位置付ける。その後、チャックテーブル38及び研削ホイール56を相互に回転させた状態で研削ユニット52を下降させ、研削ホイール56の研削砥石をフレームユニット19のモールド樹脂15に接触させると、フレームユニット19のモールド樹脂15が研削される。   When the frame unit 19 is sucked and held by the chuck table 38, the turntable 36 rotates to position the frame unit 19 below the grinding unit 52. Thereafter, when the chuck table 38 and the grinding wheel 56 are rotated relative to each other, the grinding unit 52 is lowered and the grinding wheel of the grinding wheel 56 is brought into contact with the mold resin 15 of the frame unit 19. Is ground.

搬送ユニット30と隣接する位置には、研削後のフレームユニット19を吸引保持して旋回する搬送ユニット58が設けられている。搬送ユニット58の前方には、搬送ユニット58で搬出された研削後のフレームユニット19を洗浄する洗浄機構60が配置されている。洗浄機構60で洗浄されたフレームユニット19は、搬送ユニット24で搬送され、カセット26bに収容される。   At a position adjacent to the conveyance unit 30, a conveyance unit 58 that rotates while sucking and holding the ground frame unit 19 is provided. A cleaning mechanism 60 for cleaning the ground frame unit 19 carried out by the transport unit 58 is disposed in front of the transport unit 58. The frame unit 19 cleaned by the cleaning mechanism 60 is transported by the transport unit 24 and accommodated in the cassette 26b.

なお、フレーム本体4に設けられた目印部4e(図1(A)、図2(A)、図3(A)参照)によってフレームユニット19の向きを把握することにより、フレームユニット19の向きを揃えてカセット26bに収容できる。   It should be noted that the orientation of the frame unit 19 can be determined by grasping the orientation of the frame unit 19 with the mark portion 4e provided on the frame body 4 (see FIGS. 1A, 2A, and 3A). They can be accommodated in the cassette 26b.

研削装置2の研削ユニット52によってパッケージ基板11に形成されたモールド樹脂15を研削することにより、パッケージ基板11を薄化できる。以下、モールド樹脂15の研削の詳細について説明する。図6は、モールド樹脂15が研削ユニット52によって研削される様子を示す断面図である。   The package substrate 11 can be thinned by grinding the mold resin 15 formed on the package substrate 11 by the grinding unit 52 of the grinding apparatus 2. Hereinafter, details of the grinding of the mold resin 15 will be described. FIG. 6 is a cross-sectional view showing how the mold resin 15 is ground by the grinding unit 52.

チャックテーブル38の上面は、フレームユニット19を保持する保持面38aとなっている。また、チャックテーブル38は、ポーラスセラミックスなどによって形成され、フレームユニット19を吸引する円板状の吸引部62を備え、吸引部62はチャックテーブル38の内部に形成された吸引路64を通じて吸引源(不図示)と接続されている。吸引部62の上面は、被加工物を吸引する円形の吸引面62aとなっており、吸引面62aによって保持面38aの一部が構成される。   The upper surface of the chuck table 38 is a holding surface 38 a that holds the frame unit 19. The chuck table 38 is formed of porous ceramics or the like, and includes a disk-like suction part 62 that sucks the frame unit 19. The suction part 62 passes through a suction path 64 formed inside the chuck table 38. (Not shown). The upper surface of the suction part 62 is a circular suction surface 62a that sucks the workpiece, and the suction surface 62a constitutes a part of the holding surface 38a.

フレームユニット19を吸引面62aに接するように配置した状態で、吸引源の負圧を吸引面62aに作用させることで、フレームユニット19が吸引面62aに接した状態で保持される。   With the frame unit 19 disposed so as to be in contact with the suction surface 62a, the negative pressure of the suction source is applied to the suction surface 62a, whereby the frame unit 19 is held in contact with the suction surface 62a.

チャックテーブル38の保持面38aでパッケージ基板11を直に保持しようとする場合、パッケージ基板11の裏面が吸引面62aよりも小さいと、吸引面62aの一部がパッケージ基板11によって覆われずに露出する。この状態で吸引源の負圧を吸引面62aに作用させても、露出した吸引面62aの一部から負圧がリークし、パッケージ基板11の固定が不十分になる。そのため、パッケージ基板11のサイズや形状によっては、チャックテーブル38によって保持することが困難な場合がある。   When the package substrate 11 is to be held directly by the holding surface 38 a of the chuck table 38, if the back surface of the package substrate 11 is smaller than the suction surface 62 a, a part of the suction surface 62 a is exposed without being covered by the package substrate 11. To do. Even if the negative pressure of the suction source is applied to the suction surface 62a in this state, the negative pressure leaks from a part of the exposed suction surface 62a and the package substrate 11 is not sufficiently fixed. For this reason, depending on the size and shape of the package substrate 11, it may be difficult to hold the package substrate 11 by the chuck table 38.

そこで、本実施形態では、吸引面62aの全面を覆うことが可能なサイズ及び形状のフレーム本体4によってパッケージ基板用フレーム2を構成し、これをパッケージ基板11に装着することによってフレームユニット19を構成する。具体的には、フレーム本体4を、その径が吸引面62aの径以上となるように形成する。例えば、フレーム本体4の径をチャックテーブル38の保持面38aと略同径とすると、フレームユニット19を半導体ウェーハと同様に扱うことが可能となる。   Therefore, in the present embodiment, the frame body 4 having a size and shape capable of covering the entire suction surface 62a is configured to form the package substrate frame 2, and the frame unit 19 is configured by mounting this on the package substrate 11. To do. Specifically, the frame body 4 is formed so that its diameter is equal to or larger than the diameter of the suction surface 62a. For example, if the diameter of the frame body 4 is substantially the same as the holding surface 38a of the chuck table 38, the frame unit 19 can be handled in the same manner as a semiconductor wafer.

そして、このフレームユニット19を、吸引面62aを覆うようにチャックテーブル38の保持面38aに配置する。これにより、吸引源の負圧をフレームユニット19の下面に確実に作用させ、パッケージ基板11をチャックテーブル38に正確に吸引保持させることができる。このように、パッケージ基板用フレーム2を用いることにより、パッケージ基板11をそのサイズや形状に関わらずチャックテーブル38によって保持可能となる。   Then, the frame unit 19 is arranged on the holding surface 38a of the chuck table 38 so as to cover the suction surface 62a. Accordingly, the negative pressure of the suction source can be reliably applied to the lower surface of the frame unit 19, and the package substrate 11 can be accurately sucked and held on the chuck table 38. Thus, by using the package substrate frame 2, the package substrate 11 can be held by the chuck table 38 regardless of its size and shape.

また、モールド樹脂15の形成時の熱処理などに起因して、パッケージ基板11には反りが発生することがある。パッケージ基板11に反りが発生した状態でモールド樹脂15を研削すると、モールド樹脂15の表面の一部のみが局所的に研削され、モールド樹脂15の厚みにばらつきが生じ得る。そのため、モールド樹脂15の研削時にはパッケージ基板11の反りを矯正することが好ましい。   Further, the package substrate 11 may be warped due to heat treatment or the like during the formation of the mold resin 15. When the mold resin 15 is ground in a state where the package substrate 11 is warped, only a part of the surface of the mold resin 15 is locally ground, and the thickness of the mold resin 15 may vary. Therefore, it is preferable to correct the warpage of the package substrate 11 when the mold resin 15 is ground.

ここで、パッケージ基板用フレーム2を装着したパッケージ基板11をチャックテーブル38の保持面38aで保持すると、基板13の端材領域17が庇部6によって保持面38a側に押し付けられる。そのため、基板13及びモールド樹脂15が保持面38aと平行に配置されるように変形し、パッケージ基板11の反りが解消される。これにより、研削加工を精度よく実施できる。   Here, when the package substrate 11 on which the package substrate frame 2 is mounted is held by the holding surface 38 a of the chuck table 38, the end material region 17 of the substrate 13 is pressed against the holding surface 38 a side by the flange portion 6. Therefore, the substrate 13 and the mold resin 15 are deformed so as to be arranged in parallel with the holding surface 38a, and the warpage of the package substrate 11 is eliminated. Thereby, grinding can be performed with high accuracy.

チャックテーブル38の上方には、研削ユニット52が配置されている。研削ユニット52のスピンドルハウジング54(図4参照)にはスピンドル66が収容されており、スピンドル66の下端部には、円板状のマウント68が固定されている。   A grinding unit 52 is disposed above the chuck table 38. A spindle 66 is accommodated in the spindle housing 54 (see FIG. 4) of the grinding unit 52, and a disc-shaped mount 68 is fixed to the lower end portion of the spindle 66.

マウント68の下面には、マウント68と概ね同径の研削ホイール56が装着されている。研削ホイール56は、ステンレス、アルミニウム等の金属材料で形成された円筒状のホイール基台70を備えている。ホイール基台70の下面には、複数の研削砥石72が配列されている。   A grinding wheel 56 having substantially the same diameter as the mount 68 is mounted on the lower surface of the mount 68. The grinding wheel 56 includes a cylindrical wheel base 70 made of a metal material such as stainless steel or aluminum. A plurality of grinding wheels 72 are arranged on the lower surface of the wheel base 70.

スピンドル66の上端側(基端側)には、モータ等の回転駆動源(不図示)が連結されており、研削ホイール56は、この回転駆動源から発生する力によって、鉛直方向に平行な回転軸の周りに回転する。研削ユニット52の内部又は近傍には、純水等の研削液をフレームユニット19に対して供給するためのノズル(不図示)が設けられている。   A rotation drive source (not shown) such as a motor is connected to the upper end side (base end side) of the spindle 66, and the grinding wheel 56 rotates in parallel with the vertical direction by the force generated from the rotation drive source. Rotate around an axis. A nozzle (not shown) for supplying a grinding liquid such as pure water to the frame unit 19 is provided in or near the grinding unit 52.

パッケージ基板11のモールド樹脂15を研削する際は、フレームユニット19をチャックテーブル38によって保持した状態で、チャックテーブル38を研削ユニット52の下方に移動させる。そして、チャックテーブル38と研削ホイール56とをそれぞれ回転させて、研削液をフレームユニット19に供給しながらスピンドル66を下降させる。   When grinding the mold resin 15 of the package substrate 11, the chuck table 38 is moved below the grinding unit 52 while the frame unit 19 is held by the chuck table 38. Then, the chuck table 38 and the grinding wheel 56 are rotated to lower the spindle 66 while supplying the grinding liquid to the frame unit 19.

そして、研削砥石72がモールド樹脂15に接触すると、モールド樹脂15が研削される。なお、スピンドルハウジング54の下降速度(下降量)は、研削砥石72の下面が適切な力でモールド樹脂15に押し当てられるように適宜調整される。このようにして、パッケージ基板11を薄化することができる。   When the grinding wheel 72 comes into contact with the mold resin 15, the mold resin 15 is ground. The lowering speed (lowering amount) of the spindle housing 54 is appropriately adjusted so that the lower surface of the grinding wheel 72 is pressed against the mold resin 15 with an appropriate force. In this way, the package substrate 11 can be thinned.

以上のように、本実施形態に係るパッケージ基板用フレーム2は、チャックテーブル38とはサイズや形状が異なるパッケージ基板11を収容して、該パッケージ基板11をチャックテーブル38に保持させることができる。これにより、円板状の被加工物の研削を想定した研削装置20を用いて、例えば平面視で矩形状のパッケージ基板11を研削する等の加工が可能となり、研削装置20に大掛かりな改造を施すことなくパッケージ基板11の研削加工を実施できる。   As described above, the package substrate frame 2 according to the present embodiment can accommodate the package substrate 11 having a size and shape different from that of the chuck table 38 and hold the package substrate 11 on the chuck table 38. Accordingly, it is possible to perform processing such as grinding the rectangular package substrate 11 in a plan view using the grinding device 20 that assumes grinding of a disk-shaped workpiece, and the grinding device 20 can be modified significantly. The grinding of the package substrate 11 can be carried out without applying.

なお、図1ではフレーム本体4と庇部6とが一体化した構成例を示したが、フレーム本体4と別途作製した庇部6をフレーム本体4に固定してもよい。図7(A)は、パッケージ基板用フレーム2の変形例を示す斜視図であり、図7(B)は、パッケージ基板用フレーム2の変形例を示す断面図である。   Although FIG. 1 shows a configuration example in which the frame body 4 and the flange portion 6 are integrated, the frame body 4 and the separately manufactured flange portion 6 may be fixed to the frame body 4. FIG. 7A is a perspective view showing a modified example of the package substrate frame 2, and FIG. 7B is a cross-sectional view showing a modified example of the package substrate frame 2.

図7(A)、図7(B)に示すパッケージ基板用フレーム2では、フレーム本体4とは別途形成された板状の庇部6が、フレーム本体4の上面4a側に固定されている。フレーム本体4は、表面4aから裏面4bに達する開口部4fを備えている。また、庇部6は、樹脂や金属などによって平面視で矩形状に形成され、庇部6の表面6aから裏面6bに達する開口部6cを備えている。開口部4f及び開口部6cは平面視で矩形状に形成されている。   In the package substrate frame 2 shown in FIGS. 7A and 7B, a plate-shaped flange 6 formed separately from the frame body 4 is fixed to the upper surface 4 a side of the frame body 4. The frame body 4 includes an opening 4f that reaches from the front surface 4a to the back surface 4b. In addition, the flange portion 6 is formed in a rectangular shape in a plan view with resin, metal, or the like, and includes an opening 6c that reaches the back surface 6b from the front surface 6a of the flange portion 6. The opening 4f and the opening 6c are formed in a rectangular shape in plan view.

庇部6は、フレーム本体4に形成された開口部4fよりもその幅及び奥行きが大きくなるように形成され、開口部6cは、開口部4fよりもその幅及び奥行きが小さくなるように形成される。そして、庇部6は、開口部6cが開口部4fと平面視で重畳するように、開口部4fの外周部に沿ってフレーム本体4の表面4a側に固定される。なお、庇部6をフレーム本体4に固定する方法に制限はない。例えば、接着剤を用いて庇部6をフレーム本体4に固定することができる。   The flange portion 6 is formed so that the width and depth thereof are larger than the opening portion 4f formed in the frame body 4, and the opening portion 6c is formed so that the width and depth thereof are smaller than those of the opening portion 4f. The And the collar part 6 is fixed to the surface 4a side of the flame | frame main body 4 along the outer peripheral part of the opening part 4f so that the opening part 6c may overlap with the opening part 4f in planar view. In addition, there is no restriction | limiting in the method of fixing the collar part 6 to the frame main body 4. FIG. For example, the collar portion 6 can be fixed to the frame body 4 using an adhesive.

また、フレーム本体4及び庇部6の寸法は、パッケージ基板用フレーム2に収容されるパッケージ基板11の寸法に応じて設定される。具体的には、フレーム本体4は、その厚さがパッケージ基板11の基板13の厚さと概ね一致するように形成される。庇部6は、開口部6cの幅がモールド樹脂15の幅より大きく且つ基板13の幅よりも小さくなり、開口部6cの奥行きがモールド樹脂15の奥行きより大きく且つ基板13の奥行きよりも小さくなるように形成される。また、庇部6の厚さは、モールド樹脂15の厚さ未満とする。   The dimensions of the frame body 4 and the flange 6 are set according to the dimensions of the package substrate 11 accommodated in the package substrate frame 2. Specifically, the frame body 4 is formed so that the thickness thereof substantially matches the thickness of the substrate 13 of the package substrate 11. In the flange portion 6, the width of the opening 6 c is larger than the width of the mold resin 15 and smaller than the width of the substrate 13, and the depth of the opening 6 c is larger than the depth of the mold resin 15 and smaller than the depth of the substrate 13. Formed as follows. Further, the thickness of the flange portion 6 is less than the thickness of the mold resin 15.

このパッケージ基板用フレーム2をパッケージ基板11に装着すると、フレーム本体4の開口部4fに基板13が収容され、モールド樹脂15の上側の一部が庇部6の開口部6cからフレーム本体4の表面4a側に露出し突出する。すなわち、開口部4fは図1(B)における凹部4cに相当し、開口部6cは図1(B)における開口部4dに相当する。また、基板13の端材領域17の少なくとも一部は、庇部6に覆われるように空間10に収容され、その上面が庇部6と接した状態で固定される。   When the package substrate frame 2 is mounted on the package substrate 11, the substrate 13 is accommodated in the opening 4 f of the frame main body 4, and a part of the upper side of the mold resin 15 passes from the opening 6 c of the flange 6 to the surface of the frame main body 4. It is exposed and protrudes on the 4a side. That is, the opening 4f corresponds to the recess 4c in FIG. 1B, and the opening 6c corresponds to the opening 4d in FIG. Further, at least a part of the end material region 17 of the substrate 13 is accommodated in the space 10 so as to be covered with the flange portion 6, and is fixed in a state where the upper surface thereof is in contact with the flange portion 6.

以上のように、庇部6をフレーム本体4とは別途作製することにより、フレーム本体4の寸法を変えることなく、様々なサイズ及び形状のパッケージ基板11に対応した複数のパッケージ基板用フレーム2を容易に得ることができる。   As described above, a plurality of package substrate frames 2 corresponding to package substrates 11 having various sizes and shapes can be formed without changing the dimensions of the frame body 4 by separately manufacturing the flange portion 6 from the frame body 4. Can be easily obtained.

例えば、開口部4fのサイズ及び形状が等しい複数のフレーム本体4と、開口部6cのサイズ又は形状が異なる複数の庇部6とを準備する。そして、複数のフレーム本体4にそれぞれ開口部6cのサイズ又は形状が異なる庇部6を固定することにより、異なる寸法のパッケージ基板11を収容可能な複数のパッケージ基板用フレーム2が得られる。この場合、パッケージ基板11の寸法に応じてフレーム本体4の寸法を変更する必要がないため、パッケージ基板用フレーム2の製造コストを削減できる。   For example, a plurality of frame main bodies 4 having the same size and shape of the opening 4f and a plurality of flanges 6 having different sizes or shapes of the opening 6c are prepared. A plurality of package substrate frames 2 that can accommodate package substrates 11 having different dimensions are obtained by fixing the flanges 6 having different sizes or shapes of the openings 6c to the plurality of frame bodies 4, respectively. In this case, since it is not necessary to change the dimension of the frame body 4 according to the dimension of the package substrate 11, the manufacturing cost of the package substrate frame 2 can be reduced.

また、図2では、板状の基板13の表面13a側にデバイスチップを覆うモールド樹脂15が形成されたパッケージ基板11を示したが、パッケージ基板11の態様はこれに限定されない。例えば、基板13としてフレキシブル基板を用いてもよいし、基板13の表面13a側及び裏面13b側の両方にモールド樹脂に覆われたデバイスチップが実装されていてもよい。図8は、図2とは異なるパッケージ基板11にパッケージ基板用フレーム2を装着した、フレームユニット19の変形例を示す断面図である。   2 shows the package substrate 11 in which the mold resin 15 that covers the device chip is formed on the surface 13a side of the plate-like substrate 13, the form of the package substrate 11 is not limited to this. For example, a flexible substrate may be used as the substrate 13, and device chips covered with mold resin may be mounted on both the front surface 13 a side and the back surface 13 b side of the substrate 13. FIG. 8 is a cross-sectional view showing a modified example of the frame unit 19 in which the package substrate frame 2 is mounted on the package substrate 11 different from FIG.

図8に示すフレームユニット19のパッケージ基板11は、樹脂等によって形成された可撓性を有するフレキシブル基板21を有する。フレキシブル基板21の表面21a側には、表面21a側に実装されたデバイスチップ(不図示)を覆うモールド樹脂23aが形成され、フレキシブル基板21の裏面21b側には、裏面21b側に実装されたデバイスチップ(不図示)を覆うモールド樹脂23bが形成されている。例えば、表面21a側にはセンサ等の機能を有するデバイスチップを実装し、裏面21b側にはメモリ等の機能を有するデバイスチップを実装できる。   The package substrate 11 of the frame unit 19 shown in FIG. 8 has a flexible flexible substrate 21 formed of resin or the like. A mold resin 23a that covers a device chip (not shown) mounted on the front surface 21a side is formed on the front surface 21a side of the flexible substrate 21, and a device mounted on the back surface 21b side on the back surface 21b side of the flexible substrate 21. A mold resin 23b that covers a chip (not shown) is formed. For example, a device chip having a function such as a sensor can be mounted on the front surface 21a side, and a device chip having a function such as a memory can be mounted on the back surface 21b side.

モールド樹脂23aを研削する際は、まず、パッケージ基板11をフレーム本体4の凹部4c内部に配置する。なお、フレーム本体4は、その厚さがパッケージ基板11よりも薄くなるように形成する。そして、モールド樹脂23aの一部をフレーム本体4の開口部4dから表面4a側に突出させた状態で、フレーム本体4の裏面4b及びモールド樹脂23bに粘着テープ12を貼付してフレームユニット19を形成する。   When grinding the mold resin 23 a, first, the package substrate 11 is placed inside the recess 4 c of the frame body 4. The frame body 4 is formed so that its thickness is thinner than that of the package substrate 11. Then, with a part of the mold resin 23a protruding from the opening 4d of the frame body 4 toward the front surface 4a, the adhesive tape 12 is applied to the back surface 4b of the frame body 4 and the mold resin 23b to form the frame unit 19. To do.

その後、このフレームユニット19を研削装置20のチャックテーブル38で保持し(図6参照)、モールド樹脂23aを研削して薄化する。なお、モールド樹脂23bの研削も同様の方法で実施できる。   Thereafter, the frame unit 19 is held by the chuck table 38 of the grinding device 20 (see FIG. 6), and the mold resin 23a is ground and thinned. The molding resin 23b can be ground by the same method.

ここで、パッケージ基板に可撓性を有するフレキシブル基板21を用いる場合、モールド樹脂23aを研削する際にフレキシブル基板21の端部が変形してモールド樹脂側23aに曲がり、研削加工の妨げになる場合がある。しかしながら、本実施形態では図8に示すように、パッケージ基板11にパッケージ基板用フレーム2を装着すると、庇部6がフレキシブル基板21の端部に接し、フレキシブル基板21の端部が下側(モールド樹脂23b側)に押し付けられる。そのため、フレキシブル基板21の端部のモールド樹脂23a側への露出を防止でき、研削加工を円滑に実施できる。   Here, when the flexible substrate 21 having flexibility is used as the package substrate, when the mold resin 23a is ground, the end of the flexible substrate 21 is deformed and bent to the mold resin side 23a, which hinders the grinding process. There is. However, in this embodiment, as shown in FIG. 8, when the package substrate frame 2 is mounted on the package substrate 11, the flange portion 6 comes into contact with the end portion of the flexible substrate 21, and the end portion of the flexible substrate 21 is on the lower side (mold It is pressed against the resin 23b side). Therefore, it is possible to prevent the end portion of the flexible substrate 21 from being exposed to the mold resin 23a side, and it is possible to smoothly perform the grinding process.

また、図8に示すパッケージ基板用フレーム2の庇部6は、開口部4dに向かって徐々に薄くなるように、下面がフレーム本体4の表面4aに対して傾斜した形状に形成されている。これにより、本体フレーム4によって支持される庇部6の領域が増し、庇部6の剛性を高めることができる。この構造は、例えば、モールド樹脂23aが比較的薄く(100μm以下など)、それに伴い庇部6も薄く設計する必要がある場合に、庇部6の剛性の低下を抑えることができるため特に有効である。   Further, the flange portion 6 of the package substrate frame 2 shown in FIG. 8 is formed in a shape in which the lower surface is inclined with respect to the surface 4a of the frame body 4 so as to become gradually thinner toward the opening 4d. Thereby, the area | region of the collar part 6 supported by the main body frame 4 increases, and the rigidity of the collar part 6 can be improved. This structure is particularly effective because, for example, when the mold resin 23a is relatively thin (eg, 100 μm or less) and the flange portion 6 needs to be designed to be thin, a reduction in rigidity of the flange portion 6 can be suppressed. is there.

なお、モールド樹脂23aが薄く形成される場合、庇部6を薄くする代わりに、フレームユニット19を保持するチャックテーブルに凸部を設け、該凸部の上にパッケージ基板11を配置することにより、モールド樹脂23aの見かけ上の厚さを増加させて研削加工を実施することもできる。図9は、フレームユニット19が凸部38bを有するチャックテーブル38によって保持された状態を示す断面図である。   When the mold resin 23a is formed thin, instead of thinning the flange portion 6, by providing a convex portion on the chuck table that holds the frame unit 19, and disposing the package substrate 11 on the convex portion, Grinding can also be performed by increasing the apparent thickness of the mold resin 23a. FIG. 9 is a cross-sectional view showing a state in which the frame unit 19 is held by the chuck table 38 having the convex portions 38b.

図9に示すチャックテーブル38は、パッケージ基板11が保持される位置に対応して、保持面38a側に突出する凸部38bを有する。凸部38bは、パッケージ基板11を支持し、その幅及び奥行きがフレーム本体4の凹部4cよりも小さくなるように形成される。   The chuck table 38 shown in FIG. 9 has a convex portion 38b that protrudes toward the holding surface 38a corresponding to the position where the package substrate 11 is held. The convex portion 38 b supports the package substrate 11 and is formed so that its width and depth are smaller than the concave portion 4 c of the frame body 4.

モールド樹脂23aに研削加工を施す際は、パッケージ基板11の裏面側が凸部38bと接するように、フレームユニット19をチャックテーブル38によって保持する。このとき、凸部38bはフレーム本体4の凹部4c内部に配置され、パッケージ基板11はパッケージ基板用フレーム2に対して凸部38bの厚さ分上側に配置される。これにより、モールド樹脂23aの一部が開口4cから上面4a側に露出する。   When grinding the mold resin 23a, the frame unit 19 is held by the chuck table 38 so that the back surface side of the package substrate 11 is in contact with the convex portion 38b. At this time, the convex portion 38 b is disposed inside the concave portion 4 c of the frame body 4, and the package substrate 11 is disposed above the package substrate frame 2 by the thickness of the convex portion 38 b. Thereby, a part of the mold resin 23a is exposed from the opening 4c to the upper surface 4a side.

このように、チャックテーブル38に凸部38bを設けることにより、モールド樹脂23aが比較的薄く形成されている場合であっても、庇部6の厚さを変更することなく、モールド樹脂23aをパッケージ基板用フレーム2から露出させることができる。   Thus, by providing the convex part 38b on the chuck table 38, the mold resin 23a can be packaged without changing the thickness of the flange part 6 even when the mold resin 23a is formed relatively thin. The substrate frame 2 can be exposed.

なお、図9では凸部38bがチャックテーブル38の一部によって構成されている例を示しているが、チャックテーブル38とは別途作製された凸部38bをチャックテーブル38の保持面38aに固定してもよい。   Although FIG. 9 shows an example in which the convex portion 38 b is constituted by a part of the chuck table 38, the convex portion 38 b separately manufactured from the chuck table 38 is fixed to the holding surface 38 a of the chuck table 38. May be.

その他、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。   In addition, the structure, method, and the like according to the above-described embodiment can be appropriately modified and implemented without departing from the scope of the object of the present invention.

2 パッケージ基板用フレーム
4 フレーム本体
4a 表面
4b 裏面
4c 凹部
4d 開口部
4e 目印部
4f 開口部
6 庇部
6a 表面
6b 裏面
6c 開口部
10 空間
12 粘着テープ
20 研削装置
22 基台
22a 開口
24 搬送ユニット
26a,26b カセット
28 位置調整機構
30 搬送ユニット
32 基台
34 吸着パッド
36 ターンテーブル
38 チャックテーブル
38a 保持面
38b 凸部
40 支持構造
42 Z軸移動機構
44 Z軸移動プレート
46 Z軸ガイドレール
48 Z軸ボールネジ
50 Z軸パルスモータ
52 研削ユニット
54 スピンドルハウジング
56 研削ホイール
58 搬送ユニット
60 洗浄機構
62 吸引部
62a 吸引面
64 吸引路
66 スピンドル
68 マウント
70 ホイール基台
72 研削砥石
11 パッケージ基板
13 基板
13a 表面
13b 裏面
15 モールド樹脂
17 端材領域
19 フレームユニット
21 フレキシブル基板
23a,23b モールド樹脂
2 Frame for Package Substrate 4 Frame Main Body 4a Front 4b Back 4c Recess 4d Opening 4e Marking 4f Opening 6 Gutter 6a Front 6b Back 6c Opening 10 Space 12 Adhesive Tape 20 Grinding Device 22 Base 22a Opening 24 Transport Unit 26a , 26b Cassette 28 Position adjustment mechanism 30 Transport unit 32 Base 34 Suction pad 36 Turntable 38 Chuck table 38a Holding surface 38b Protruding portion 40 Support structure 42 Z-axis moving mechanism 44 Z-axis moving plate 46 Z-axis guide rail 48 Z-axis ball screw 50 Z-axis pulse motor 52 Grinding unit 54 Spindle housing 56 Grinding wheel 58 Transport unit 60 Cleaning mechanism 62 Suction part 62a Suction surface 64 Suction path 66 Spindle 68 Mount 70 Wheel base 72 Grinding wheel 1 package substrate 13 substrate 13a surface 13b back surface 15 mold resin 17 end material region 19 frame unit 21 the flexible substrate 23a, 23b molded resin

Claims (3)

外周部に端材領域を備える基板の表面の該端材領域を除く領域がモールド樹脂で覆われてなるパッケージ基板をチャックテーブルによって吸引保持して該モールド樹脂を研削する際に用いるパッケージ基板用フレームであって、
被加工物を吸引する円形の吸引面を備える該チャックテーブルの該吸引面の径以上の径を有する円板状のフレーム本体と、
該フレーム本体に形成され該パッケージ基板の該モールド樹脂を露出させる開口部と、
該開口部の外周に沿って設けられ、該端材領域を覆う庇部と、を備えることを特徴とするパッケージ基板用フレーム。
Package substrate frame used when a mold substrate is ground by sucking and holding a package substrate in which a region excluding the end material region on the surface of the substrate having an end material region on the outer periphery is covered with a mold resin. Because
A disc-shaped frame body having a diameter equal to or larger than the diameter of the suction surface of the chuck table, which includes a circular suction surface for sucking a workpiece;
An opening formed in the frame body and exposing the mold resin of the package substrate;
A package substrate frame, comprising: a flange provided along the outer periphery of the opening and covering the end material region.
該フレーム本体に形成され、該フレーム本体の方向を示す目印部を備えることを特徴とする請求項1記載のパッケージ基板用フレーム。   The package substrate frame according to claim 1, further comprising a mark portion formed on the frame body and indicating a direction of the frame body. 請求項1又は2記載のパッケージ基板用フレームを用いたパッケージ基板の研削方法であって、
該モールド樹脂が該開口部から該フレーム本体の表面側に露出し、該端材領域が該庇部に覆われるように該パッケージ基板を位置付け、該フレーム本体の裏面側に粘着テープを貼付することにより該パッケージ基板を該フレーム本体に固定してフレームユニットを形成するフレームユニット形成ステップと、
該チャックテーブルによって該フレームユニットを保持し、該開口部から該フレーム本体の表面側に露出した該モールド樹脂を研削ユニットで研削する研削ステップと、を備えることを特徴とするパッケージ基板の研削方法。
A package substrate grinding method using the package substrate frame according to claim 1 or 2,
Position the package substrate so that the mold resin is exposed from the opening to the front side of the frame body, and the end material region is covered by the flange, and apply an adhesive tape to the back side of the frame body A frame unit forming step of fixing the package substrate to the frame body to form a frame unit;
A grinding step of holding the frame unit by the chuck table and grinding the mold resin exposed to the surface side of the frame body from the opening by a grinding unit.
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