JP2019138715A - 放射率測定装置、温度測定装置、放射率測定方法及び温度測定方法 - Google Patents
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Description
また、本発明の放射率測定装置は、検出素子から出力される検出信号をデジタルデータに変換する変換部と、検出素子に垂直同期信号を出力すると共に、検出素子に垂直同期信号を出力するタイミングに合わせて、波長選択素子を赤外線光が透過可能な波長帯域を切替える制御を行い、かつ検出素子からフレーム毎に入力する検出信号に基づいて演算した測定対象物の放射率を出力する制御部を備える。
さらに、波長帯域を切替える制御により切替えられる波長帯域に対応する制御電圧を波長選択素子に出力する電圧制御部を備える。
(a)制御電圧の入力に応じて、測定対象物から放射される赤外線光が波長選択素子を透過可能な少なくとも2つの異なる波長帯域が選択されるステップ、
(b)選択された波長帯域で波長選択素子を透過した赤外線光の強度を検出して検出信号を出力する一つ又は複数のセンサを有する検出素子が、垂直同期信号が入力するタイミングでフレーム毎に検出信号を出力するステップ、
(c)検出素子から出力される検出信号をデジタルデータに変換するステップ、
(d)検出素子に垂直同期信号を出力すると共に、検出素子に垂直同期信号を出力するタイミングに合わせて、波長選択素子を赤外線光が透過可能な波長帯域を切替える制御を行い、かつ検出素子からフレーム毎に入力する検出信号に基づいて演算した測定対象物の放射率を出力するステップ、
(e)波長帯域を切替える制御により切替えられる波長帯域に対応する制御電圧を波長選択素子に出力するステップ。
(d’)検出素子に垂直同期信号を出力すると共に、検出素子に垂直同期信号を出力するタイミングに合わせて、波長選択素子を赤外線光が透過可能な波長帯域を切替える制御を行い、かつ検出素子からフレーム毎に入力する検出信号に基づいて演算した測定対象物の絶対温度を出力するステップ。
上記した以外の課題、構成及び効果は、以下の実施の形態の説明により明らかにされる。
測定装置1は、波長選択素子11、レンズ12及び検出素子13を備える。
測定装置1は、上述した図1に示した波長選択素子11及び検出素子13に加えて、A/D(Analog/Digital)変換部14、制御部15、表示部16、電圧制御部17及び操作部18を備える。
検出素子13の各センサ13aから出力される検出信号は、測定対象物の絶対温度が高くなるほど、大きい値となるような1次式に近似して表される。ただし、検出素子13の各センサ13aに対応するマイクロボロメータの特性がばらついており、1次式自体が標準の1次式から乖離している。このため、例えば、測定装置1の工場出荷時において、各センサ13aに対応するマイクロボロメータの特性を揃えるためのゲイン補正及びオフセット補正に用いる補正値が不図示のメモリに保存される。そして、制御部15は、メモリから読み出した補正値に基づいてデジタルデータを補正する。
ゲイン補正部15aは、A/D変換部14から入力したデジタルデータに変換された検出信号のゲイン補正を行う。ゲイン補正部15aによりゲイン、すなわち1次式の傾きが補正される。
オフセット補正部15bは、ゲイン補正部15aによりゲインが補正されたデジタルデータのオフセット補正を行う。オフセット補正部15bによりオフセット、すなわち1次式の切片が補正される。
実際には、波長選択素子11の波長選択性には拡がりがあり、例えば、波長λ1を選択した場合は、波長選択素子11によりλ1−Δλ1からλ1+Δλ1の波長の光が選択され、透過することとなる。同様に、波長λ2を選択した場合は、波長選択素子11によりλ2−Δλ2からλ2+Δλ2の波長の光が選択され、透過することとなる。
λ1:測定対象物から放射される赤外線光の第1波長帯域の波長[μm]
λ2:測定対象物から放射される赤外線光の第2波長帯域の波長[μm]
T:測定対象物の絶対温度[K]
β0:比例定数
τ0:測定対象物から測定装置1までの透過率
c2:第二放射定数=ch/k=1.438769××10−2[mK]
ε1:波長λ1の赤外線光を放射する測定対象物の放射率
ε2:波長λ2の赤外線光を放射する測定対象物の放射率
式(1)、(2)により、数値が不明である放射率ε1、ε2と絶対温度Tとを変数とした2つの方程式が得られる。ただし、波長λ1、λ2が十分に近い波長であるとき、放射率ε1、ε2を同じ値の放射率εとみなすことができる。そこで、制御部15は、2つの方程式に基づいて、測定対象物の放射率εと、絶対温度Tを求めることが可能となる。
表示部16には、画像データ生成部15dにより生成された画像データに基づいて放射率画像が表示される。この放射率画像には、例えば、測定対象物の放射率εの分布状況と凡例が示される。このため、測定装置1のユーザーは、例えば、測定対象物のうち、放射率εが「0.6±0.05」、「0.7±0.05」、「0.8±0.05」、「0.9±0.05」である領域を一目で把握することができる。このため、ユーザーは、測定対象物の状態が変わった箇所を特定することが容易となる。
表示部16には、画像データ生成部15dにより生成された画像データに基づいて温度画像が表示される。この温度画像には、例えば、測定対象物の絶対温度Tの分布状況と凡例が示される。このため、測定装置1のユーザーは、例えば、測定対象物のうち、絶対温度Tが「300±2.5」、「295±2.5」、「290±2.5」、「285±2.5」である領域を一目で把握することができる。このため、ユーザーは、測定対象物の温度分布状況を特定することが容易となる。
例えば、上述した実施の形態は本発明を分かりやすく説明するために測定装置の構成を詳細かつ具体的に説明したものであり、必ずしも説明した全ての構成を備えるものに限定されない。また、制御線や情報線は説明上必要と考えられるものを示しており、製品上必ずしも全ての制御線や情報線を示しているとは限らない。実際には殆ど全ての構成が相互に接続されていると考えてもよい。
Claims (10)
- 制御電圧の入力に応じて、測定対象物から放射される赤外線光が透過可能な少なくとも2つの異なる波長帯域が選択される波長選択素子と、
選択された波長帯域で前記波長選択素子を透過した前記赤外線光の強度を検出して検出信号を出力する一つ又は複数のセンサを有し、垂直同期信号が入力するタイミングでフレーム毎に前記検出信号を出力する検出素子と、
前記検出素子から出力される前記検出信号をデジタルデータに変換する変換部と、
前記検出素子に前記垂直同期信号を出力すると共に、前記検出素子に前記垂直同期信号を出力するタイミングに合わせて、前記波長選択素子を前記赤外線光が透過可能な波長帯域を切替える制御を行い、かつ前記検出素子から前記フレーム毎に入力する前記検出信号に基づいて演算した前記測定対象物の放射率を出力する制御部と、
波長帯域を切替える制御により切替えられる波長帯域に対応する前記制御電圧を前記波長選択素子に出力する電圧制御部と、を備える
放射率測定装置。 - 前記制御部は、
前記波長選択素子を透過した第1波長帯域の前記赤外線光により前記検出素子から出力された前記検出信号と、前記波長選択素子を透過した第2波長帯域の前記赤外線光により前記検出素子から出力された前記検出信号とに基づいて、前記測定対象物の放射率を演算する演算部と、を備える
請求項1に記載の放射率測定装置。 - さらに、表示部を備え、
前記制御部は、
前記演算部により演算された前記測定対象物の放射率に基づいて画像データを生成する画像データ生成部を有し、
前記表示部は、前記画像データに基づいて、前記測定対象物の放射率画像を表示する
請求項2に記載の放射率測定装置。 - 前記制御部は、前記波長選択素子の波長帯域を切替えた直後に出力される所定数の前記フレームに含まれる前記検出信号を不使用とし、不使用とされた前記所定数の前記フレームが出力された後に出力される前記フレームに含まれる前記検出信号を使用して前記測定対象物の放射率を演算する
請求項1〜3のいずれか一項に記載の放射率測定装置。 - 制御電圧の入力に応じて、測定対象物から放射される赤外線光が透過可能な少なくとも2つの異なる波長帯域が選択される波長選択素子と、
選択された波長帯域で前記波長選択素子を透過した前記赤外線光の強度を検出して検出信号を出力する一つ又は複数のセンサを有し、垂直同期信号が入力するタイミングでフレーム毎に前記検出信号を出力する検出素子と、
前記検出素子から出力される前記検出信号をデジタルデータに変換する変換部と、
前記検出素子に前記垂直同期信号を出力すると共に、前記検出素子に前記垂直同期信号を出力するタイミングに合わせて、前記波長選択素子を前記赤外線光が透過可能な波長帯域を切替える制御を行い、かつ前記検出素子から前記フレーム毎に入力する前記検出信号に基づいて演算した前記測定対象物の絶対温度を出力する制御部と、
波長帯域を切替える制御により切替えられる波長帯域に対応する前記制御電圧を前記波長選択素子に出力する電圧制御部と、を備える
温度測定装置。 - 前記制御部は、
前記波長選択素子を透過した第1波長帯域の前記赤外線光により前記検出素子から出力された前記検出信号と、前記波長選択素子を透過した第2波長帯域の前記赤外線光により前記検出素子から出力された前記検出信号とに基づいて、前記測定対象物の絶対温度を演算する演算部と、を備える
請求項5に記載の温度測定装置。 - さらに、表示部を備え、
前記制御部は、
前記演算部により演算された前記測定対象物の絶対温度に基づいて画像データを生成する画像データ生成部を有し、
前記表示部は、前記画像データに基づいて、前記測定対象物の温度画像を表示する
請求項6に記載の温度測定装置。 - 前記制御部は、前記波長選択素子の波長帯域を切替えた直後に出力される所定数の前記フレームに含まれる前記検出信号を不使用とし、不使用とされた前記所定数の前記フレームが出力された後に出力される前記フレームに含まれる前記検出信号を使用して前記測定対象物の絶対温度を演算する
請求項5〜7のいずれか一項に記載の温度測定装置。 - 制御電圧の入力に応じて、測定対象物から放射される赤外線光が波長選択素子を透過可能な少なくとも2つの異なる波長帯域が選択されるステップと、
選択された波長帯域で前記波長選択素子を透過した前記赤外線光の強度を検出して検出信号を出力する一つ又は複数のセンサを有する検出素子が、垂直同期信号が入力するタイミングでフレーム毎に前記検出信号を出力するステップと、
前記検出素子から出力される前記検出信号をデジタルデータに変換するステップと、
前記検出素子に前記垂直同期信号を出力すると共に、前記検出素子に前記垂直同期信号を出力するタイミングに合わせて、前記波長選択素子を前記赤外線光が透過可能な波長帯域を切替える制御を行い、かつ前記検出素子から前記フレーム毎に入力する前記検出信号に基づいて演算した前記測定対象物の放射率を出力するステップと、
波長帯域を切替える制御により切替えられる波長帯域に対応する前記制御電圧を前記波長選択素子に出力するステップと、を含む
放射率測定方法。 - 制御電圧の入力に応じて、測定対象物から放射される赤外線光が波長選択素子を透過可能な少なくとも2つの異なる波長帯域が選択されるステップと、
選択された波長帯域で前記波長選択素子を透過した前記赤外線光の強度を検出して検出信号を出力する一つ又は複数のセンサを有する検出素子が、垂直同期信号が入力するタイミングでフレーム毎に前記検出信号を出力するステップと、
前記検出素子から出力される前記検出信号をデジタルデータに変換するステップと、
前記検出素子に前記垂直同期信号を出力すると共に、前記検出素子に前記垂直同期信号を出力するタイミングに合わせて、前記波長選択素子を前記赤外線光が透過可能な波長帯域を切替える制御を行い、かつ前記検出素子から前記フレーム毎に入力する前記検出信号に基づいて演算した前記測定対象物の絶対温度を出力するステップと、
波長帯域を切替える制御により切替えられる波長帯域に対応する前記制御電圧を前記波長選択素子に出力するステップと、を含む
温度測定方法。
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JP7572747B1 (ja) | 2023-07-28 | 2024-10-24 | 高爾科技股▲ふん▼有限公司 | 熱画像アレイ画素の動的補正方法 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5639433A (en) * | 1979-09-05 | 1981-04-15 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Method for measuring temperature pattern and its apparatus |
JPH10262178A (ja) * | 1997-03-18 | 1998-09-29 | Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency | 多波長域赤外線撮像装置 |
JP2004257769A (ja) * | 2003-02-24 | 2004-09-16 | Nec San-Ei Instruments Ltd | 多色赤外線撮像装置及び赤外エネルギーデータ処理方法 |
US20070152153A1 (en) * | 2004-10-15 | 2007-07-05 | Millennium Engineering And Integration Company | Compact emissivity and temperature measuring infrared detector |
JP2012193976A (ja) * | 2011-03-15 | 2012-10-11 | Hochiki Corp | エチルアルコール検知装置及び検知方法 |
WO2016093070A1 (ja) * | 2014-12-10 | 2016-06-16 | ソニー株式会社 | 撮像装置、撮像方法、およびプログラム、並びに画像処理装置 |
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Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5639433A (en) * | 1979-09-05 | 1981-04-15 | Sumitomo Metal Ind Ltd | Method for measuring temperature pattern and its apparatus |
JPH10262178A (ja) * | 1997-03-18 | 1998-09-29 | Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency | 多波長域赤外線撮像装置 |
JP2004257769A (ja) * | 2003-02-24 | 2004-09-16 | Nec San-Ei Instruments Ltd | 多色赤外線撮像装置及び赤外エネルギーデータ処理方法 |
US20070152153A1 (en) * | 2004-10-15 | 2007-07-05 | Millennium Engineering And Integration Company | Compact emissivity and temperature measuring infrared detector |
JP2012193976A (ja) * | 2011-03-15 | 2012-10-11 | Hochiki Corp | エチルアルコール検知装置及び検知方法 |
WO2016093070A1 (ja) * | 2014-12-10 | 2016-06-16 | ソニー株式会社 | 撮像装置、撮像方法、およびプログラム、並びに画像処理装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7572747B1 (ja) | 2023-07-28 | 2024-10-24 | 高爾科技股▲ふん▼有限公司 | 熱画像アレイ画素の動的補正方法 |
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