JP2019133192A - Object transportation device, exposure device, method of producing flat panel display, and method of producing device - Google Patents

Object transportation device, exposure device, method of producing flat panel display, and method of producing device Download PDF

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Abstract

To provide a mask stage device improved in position control properties of a mask.SOLUTION: The mask stage device 14 includes: a first micromotion stage 48 disposed on a guide 44 extending in a scanning direction (X axis direction ), supporting a +Y side end part of a mask M, and movable on the guide 44 along the scanning direction; and a second micromotion stage 48 disposed on a guide 44 other than the guide 44 extending in the scanning direction so as to physically separate from the micromotion stage 48 supporting the +Y side end part of the mask M, supporting a -Y side end part of the mask M, and movable on the other guide 44 along the scanning direction.SELECTED DRAWING: Figure 2

Description

本発明は、物体搬送装置、露光装置、フラットパネルディスプレイの製造方法、及びデバイス製造方法に関する。   The present invention relates to an object conveying apparatus, an exposure apparatus, a flat panel display manufacturing method, and a device manufacturing method.

従来、液晶表示素子、半導体素子(集積回路等)等の電子デバイス(マイクロデバイス)を製造するリソグラフィ工程では、マスク(フォトマスク)又はレチクル(以下、「マスク」と総称する)と、ガラスプレート又はウエハ(以下、「基板」と総称する)とを所定の走査方向(スキャン方向)に沿って同期移動させつつ、マスクに形成されたパターンをエネルギビームを用いて基板上に転写するステップ・アンド・スキャン方式の露光装置(いわゆるスキャニング・ステッパ(スキャナとも呼ばれる))などが用いられている。   Conventionally, in a lithography process for manufacturing electronic devices (microdevices) such as liquid crystal display elements, semiconductor elements (integrated circuits, etc.), a mask (photomask) or reticle (hereinafter collectively referred to as “mask”), a glass plate or A step-and-step of transferring a pattern formed on a mask onto a substrate using an energy beam while synchronously moving a wafer (hereinafter collectively referred to as a “substrate”) along a predetermined scanning direction (scanning direction). A scanning exposure apparatus (a so-called scanning stepper (also called a scanner)) or the like is used.

この種の露光装置としては、マスクの端部を保持する枠状の部材(マスクホルダなどと称される)を駆動することによってマスクの位置制御を行うマスクステージ装置を備えたものが知られている(例えば、特許文献1参照)。   As this type of exposure apparatus, an exposure apparatus having a mask stage device that controls the position of the mask by driving a frame-like member (called a mask holder or the like) that holds the edge of the mask is known. (For example, refer to Patent Document 1).

ここで、マスクパターンを基板に対して高精度で転写するためには、高精度で基板とマスクとを同期駆動する必要があり、マスクステージ装置の位置制御性の向上が望まれていた。   Here, in order to transfer the mask pattern to the substrate with high accuracy, it is necessary to drive the substrate and the mask synchronously with high accuracy, and it has been desired to improve the position controllability of the mask stage apparatus.

米国特許出願公開第2008/0030702号明細書US Patent Application Publication No. 2008/0030702

本発明の第1の態様によれば、所定パターンが形成された物体の所定方向に関する一端部を保持する第1移動体と、前記物体の前記所定方向に関する他端部を保持する第2移動体と、前記所定方向に関して、前記第1移動体と前記第2移動体とが互いに離れる方向へ相対移動させる駆動部と、前記所定方向に関して前記第1移動体と前記第2移動体との間に位置し、前記第1及び第2移動体の相対移動により前記第1及び第2移動体による前記物体の保持が解除された前記物体を支持する搬送部と、を備える物体搬送装置が、提供される。   According to the first aspect of the present invention, the first moving body that holds one end of the object on which the predetermined pattern is formed in the predetermined direction, and the second moving body that holds the other end of the object in the predetermined direction. Between the first moving body and the second moving body with respect to the predetermined direction, and a drive unit that moves the first moving body and the second moving body relative to each other in a direction away from each other. And a transport unit that supports the object positioned and released from holding the object by the first and second moving bodies by the relative movement of the first and second moving bodies. The

本発明の第2の態様によれば、第1の態様に係る物体搬送装置と、露光対象物体を保持し、前記露光対象物体に前記所定パターンが露光されるよう、前記露光対象物体を移動させる移動体と、を備える露光装置が、提供される。   According to the second aspect of the present invention, the object conveying apparatus according to the first aspect and the exposure target object are held, and the exposure target object is moved so that the predetermined pattern is exposed to the exposure target object. An exposure apparatus comprising a moving body is provided.

本発明の第3の態様によれば、第2の態様に係る露光装置を用いて前記露光対象物体を露光することと、露光された前記露光対象物体を現像することと、を含むフラットパネルディスプレイの製造方法が、提供される。   According to a third aspect of the present invention, the flat panel display includes: exposing the object to be exposed using the exposure apparatus according to the second aspect; and developing the exposed object to be exposed A manufacturing method is provided.

本発明の第4態様によれば、第2の態様に係る露光装置を用いて前記露光対象物体を露光することと、露光された前記露光対象物体を現像することと、を含むデバイス製造方法が、提供される。   According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a device manufacturing method including exposing the object to be exposed using the exposure apparatus according to the second aspect, and developing the exposed object to be exposed. Provided.

第1の実施形態に係る液晶露光装置の構成を概略的に示す図である。It is a figure which shows schematically the structure of the liquid-crystal exposure apparatus which concerns on 1st Embodiment. 図2(A)は、図1の液晶露光装置が有するマスクステージ装置の平面図、図2(B)は、マスクステージ装置の正面図である。2A is a plan view of a mask stage apparatus included in the liquid crystal exposure apparatus of FIG. 1, and FIG. 2B is a front view of the mask stage apparatus. 図1の液晶露光装置が有するマスクストッカ、マスクローダ、及びマスクステージ装置を示す図である。It is a figure which shows the mask stocker, mask loader, and mask stage apparatus which the liquid crystal exposure apparatus of FIG. 1 has. マスクストッカ、マスクローダ、及びマスクステージ装置の平面図である。It is a top view of a mask stocker, a mask loader, and a mask stage apparatus. 図5(A)は、マスクローダが有する支持アームの平面図、図5(B)は、支持アームの側面図、図5(C)は、マスクステージ装置、及びマスクローダの正面図である。5A is a plan view of a support arm included in the mask loader, FIG. 5B is a side view of the support arm, and FIG. 5C is a front view of the mask stage device and the mask loader. 図6(A)及び図6(B)は、マスクの交換動作を説明するため図(その1)であって、マスクステージ装置、及びマスクローダの平面図及び側面図である。FIGS. 6A and 6B are views (part 1) for explaining the mask replacement operation, and are a plan view and a side view of the mask stage device and the mask loader. 図7(A)及び図7(B)は、マスクの交換動作を説明するため図(その2)であって、マスクステージ装置、及びマスクローダの平面図及び側面図である。FIGS. 7A and 7B are views (part 2) for explaining the mask replacement operation, and are a plan view and a side view of the mask stage device and the mask loader. 図8(A)及び図8(B)は、マスクの交換動作を説明するため図(その3)であって、マスクステージ装置、及びマスクローダの平面図及び側面図である。FIGS. 8A and 8B are views (No. 3) for explaining the mask replacement operation, and are a plan view and a side view of the mask stage device and the mask loader. マスクの交換動作を説明するため図(その4)であって、マスクステージ装置、及びマスクローダの平面図である。It is FIG. (4) for demonstrating the replacement | exchange operation | movement of a mask, Comprising: It is a top view of a mask stage apparatus and a mask loader. 図10(A)及び図10(B)は、マスクの交換動作を説明するため図(その5)であって、マスクステージ装置、及びマスクローダの平面図及び側面図である。FIGS. 10A and 10B are views (No. 5) for explaining the mask replacement operation, and are a plan view and a side view of the mask stage device and the mask loader. 図11(A)及び図11(B)は、マスクの交換動作を説明するため図(その6)であって、マスクステージ装置、及びマスクローダの平面図及び側面図である。FIGS. 11A and 11B are views (No. 6) for explaining the mask replacement operation, and are a plan view and a side view of the mask stage device and the mask loader. 図12(A)及び図12(B)は、マスクの交換動作を説明するため図(その7)であって、マスクステージ装置、及びマスクローダの平面図及び側面図である。12A and 12B are views (No. 7) for explaining the mask replacement operation, and are a plan view and a side view of the mask stage device and the mask loader. マスクの交換動作を説明するため図(その8)であって、マスクステージ装置、マスクローダ、及びマスクストッカの平面図である。It is FIG. (8) for demonstrating the replacement | exchange operation | movement of a mask, Comprising: It is a top view of a mask stage apparatus, a mask loader, and a mask stocker. 第1の変形例に係るマスクローダの平面図である。It is a top view of the mask loader concerning the 1st modification. 第2の変形例に係るマスクステージ装置の正面図である。It is a front view of the mask stage apparatus which concerns on a 2nd modification. 図16(A)及び図16(B)は、第2の変形例に係るマスクステージ装置の動作を説明するための図(平面図及び正面図)である。FIGS. 16A and 16B are views (plan view and front view) for explaining the operation of the mask stage apparatus according to the second modification. 図17(A)及び図17(B)は、第3の変形例に係るマスクステージ装置を示す平面図及び正面図である。FIGS. 17A and 17B are a plan view and a front view showing a mask stage apparatus according to a third modification. 第4の変形例に係るマスクステージ装置の平面図である。It is a top view of the mask stage apparatus which concerns on a 4th modification. 図19(A)及び図19(B)は、第2の実施形態に係るマスクローダの平面図及び側面図である。19A and 19B are a plan view and a side view of a mask loader according to the second embodiment. 第3の実施形態に係るマスクステージ装置の平面図である。It is a top view of the mask stage apparatus which concerns on 3rd Embodiment. 第4の実施形態に係るマスクステージ装置の平面図である。It is a top view of the mask stage apparatus which concerns on 4th Embodiment.

《第1の実施形態》
以下、第1の実施形態について、図1〜図13を用いて説明する。
<< First Embodiment >>
Hereinafter, a first embodiment will be described with reference to FIGS.

図1には、第1の実施形態に係る液晶露光装置10の構成が概略的に示されている。液晶露光装置10は、例えば液晶表示装置(フラットパネルディスプレイ)などに用いられる矩形(角型)のガラス基板P(以下、単に基板Pと称する)を露光対象物とするステップ・アンド・スキャン方式の投影露光装置、いわゆるスキャナである。   FIG. 1 schematically shows the configuration of a liquid crystal exposure apparatus 10 according to the first embodiment. The liquid crystal exposure apparatus 10 employs a step-and-scan method in which a rectangular (square) glass substrate P (hereinafter simply referred to as a substrate P) used in, for example, a liquid crystal display device (flat panel display) is an exposure object. A projection exposure apparatus, a so-called scanner.

液晶露光装置10は、照明系12、光透過型のマスクMを保持するマスクステージ装置14、投影光学系16、装置本体18、表面(図1で+Z側を向いた面)にレジスト(感応剤)が塗布された基板Pを保持する基板ステージ装置20、マスクローダ90(図1では不図示。図3参照)、マスクストッカ100(図1では不図示。図3参照)、及びこれらの制御系等を有している。以下、露光時にマスクMと基板Pとが投影光学系16に対してそれぞれ相対走査される方向をX軸方向とし、水平面内でX軸に直交する方向をY軸方向、X軸及びY軸に直交する方向をZ軸方向とし、X軸、Y軸、及びZ軸回りの回転方向をそれぞれθx、θy、及びθz方向として説明を行う。また、X軸、Y軸、及びZ軸方向に関する位置をそれぞれX位置、Y位置、及びZ位置として説明を行う。   The liquid crystal exposure apparatus 10 includes an illumination system 12, a mask stage apparatus 14 that holds a light transmission type mask M, a projection optical system 16, an apparatus body 18, and a resist (sensitive agent) on the surface (the surface facing the + Z side in FIG. ) Coated substrate stage device 20, mask loader 90 (not shown in FIG. 1, see FIG. 3), mask stocker 100 (not shown in FIG. 1, see FIG. 3), and their control systems Etc. Hereinafter, the direction in which the mask M and the substrate P are relatively scanned with respect to the projection optical system 16 at the time of exposure is defined as the X-axis direction, and the direction orthogonal to the X-axis in the horizontal plane is defined as the Y-axis direction, the X-axis, and the Y-axis. The description will be made assuming that the orthogonal direction is the Z-axis direction, and the rotation directions around the X-axis, Y-axis, and Z-axis are the θx, θy, and θz directions, respectively. Further, description will be made assuming that the positions in the X-axis, Y-axis, and Z-axis directions are the X position, the Y position, and the Z position, respectively.

照明系12は、例えば米国特許第5,729,331号明細書などに開示される照明系と同様に構成されている。照明系12は、図示しない光源(例えば、水銀ランプ)から射出された光を、それぞれ図示しない反射鏡、ダイクロイックミラー、シャッター、波長選択フィルタ、各種レンズなどを介して、露光用照明光(照明光)ILとしてマスクMに照射する。照明光ILとしては、例えばi線(波長365nm)、g線(波長436nm)、h線(波長405nm)などの光(あるいは、上記i線、g線、h線の合成光)が用いられる。   The illumination system 12 is configured similarly to the illumination system disclosed in, for example, US Pat. No. 5,729,331. The illumination system 12 irradiates light emitted from a light source (not shown) (for example, a mercury lamp) through exposure mirrors (not shown), dichroic mirrors, shutters, wavelength selection filters, various lenses, and the like. ) Irradiate the mask M as IL. As the illumination light IL, for example, light such as i-line (wavelength 365 nm), g-line (wavelength 436 nm), h-line (wavelength 405 nm), or the combined light of the i-line, g-line, and h-line is used.

照明系12(上記各種レンズなどを含む照明系ユニット)は、クリーンルームの床11上に設置された照明系フレーム30に支持されている。照明系フレーム30は、複数の脚部32(図1では紙面奥行き方向に重なっている)、及び該複数の脚部32に支持された照明系支持部34を有している。   The illumination system 12 (an illumination system unit including the various lenses described above) is supported by an illumination system frame 30 installed on the floor 11 of the clean room. The illumination system frame 30 has a plurality of leg portions 32 (overlapping in the depth direction in FIG. 1) and an illumination system support portion 34 supported by the plurality of leg portions 32.

マスクステージ装置14は、マスクMを照明系12(照明光IL)に対してX軸方向(スキャン方向)に所定の長ストロークで駆動するとともに、Y軸方向、及びθz方向に微少駆動するための要素である。マスクMは、例えば石英ガラスにより形成された平面視矩形の板状部材から成り、図1における−Z側を向いた面(下面部)に所定の回路パターン(マスクパターン)が形成されている。マスクMの下面部には、図2(B)に示されるように、マスクパターンを保護するためにペリクルPeと称される防塵フィルムが取り付けられている。ここで、マスクMの下面の幅方向(図2(B)ではY軸方向)両端部には、マスクパターンが形成されていない領域(以下、余白領域と称する)が設けられている。このため、ペリクルPeの幅方向寸法は、マスクMの幅方向寸法よりも短く設定されている。マスクステージ装置14の詳細な構成については、後述する。   The mask stage device 14 drives the mask M with a predetermined long stroke in the X-axis direction (scan direction) with respect to the illumination system 12 (illumination light IL), and slightly drives it in the Y-axis direction and the θz direction. Is an element. The mask M is made of, for example, a rectangular plate-like member made of quartz glass, and a predetermined circuit pattern (mask pattern) is formed on the surface (lower surface portion) facing the −Z side in FIG. As shown in FIG. 2B, a dustproof film called a pellicle Pe is attached to the lower surface of the mask M to protect the mask pattern. Here, regions where the mask pattern is not formed (hereinafter referred to as blank regions) are provided at both ends of the width direction (Y-axis direction in FIG. 2B) of the lower surface of the mask M. For this reason, the width direction dimension of the pellicle Pe is set shorter than the width direction dimension of the mask M. The detailed configuration of the mask stage device 14 will be described later.

図1に戻り、投影光学系16は、マスクステージ装置14の下方に配置されている。投影光学系16は、例えば米国特許第6,552,775号明細書などに開示される投影光学系と同様な構成の、いわゆるマルチレンズ投影光学系であり、例えば両側テレセントリックな等倍系で正立正像を形成する複数の投影光学系を備えている。   Returning to FIG. 1, the projection optical system 16 is disposed below the mask stage device 14. The projection optical system 16 is a so-called multi-lens projection optical system having the same configuration as the projection optical system disclosed in, for example, US Pat. No. 6,552,775, and is a double-sided telecentric equal magnification system. A plurality of projection optical systems for forming a vertical image are provided.

液晶露光装置10では、照明系12からの照明光ILによってマスクM上の照明領域が照明されると、マスクMを通過した照明光により、投影光学系16を介してその照明領域内のマスクMの回路パターンの投影像(部分正立像)が、基板P上の照明領域に共役な照明光の照射領域(露光領域)に形成される。そして、照明領域(照明光IL)に対してマスクMが走査方向に相対移動するとともに、露光領域(照明光IL)に対して基板Pが走査方向に相対移動することで、基板P上の1つのショット領域の走査露光が行われ、そのショット領域にマスクMに形成されたパターンが転写される。   In the liquid crystal exposure apparatus 10, when the illumination area on the mask M is illuminated by the illumination light IL from the illumination system 12, the illumination light that has passed through the mask M causes the mask M in the illumination area to pass through the projection optical system 16. A projection image (partial upright image) of the circuit pattern is formed in an irradiation region (exposure region) of illumination light conjugate to the illumination region on the substrate P. Then, the mask M moves relative to the illumination area (illumination light IL) in the scanning direction, and the substrate P moves relative to the exposure area (illumination light IL) in the scanning direction. Scanning exposure of one shot area is performed, and the pattern formed on the mask M is transferred to the shot area.

装置本体18は、複数の防振装置19を介して床11上に設置されている。装置本体18は、例えば米国特許出願公開第2008/0030702号明細書に開示される装置本体と同様に構成されており、上架台部18a、下架台部18b、及び一対の中架台部18cを有している。上記投影光学系16は、上架台部18aに支持されている。装置本体18は、上記照明系フレーム30とは、振動的に分離して配置されている。したがって、投影光学系16と照明系12とが振動的に分離される。   The apparatus main body 18 is installed on the floor 11 via a plurality of vibration isolation devices 19. The apparatus main body 18 is configured in the same manner as the apparatus main body disclosed in, for example, US Patent Application Publication No. 2008/0030702, and includes an upper gantry 18a, a lower gantry 18b, and a pair of middle gantry 18c. doing. The projection optical system 16 is supported by the upper mount 18a. The apparatus main body 18 is arranged so as to be vibrationally separated from the illumination system frame 30. Therefore, the projection optical system 16 and the illumination system 12 are vibrationally separated.

基板ステージ装置20は、ベース22、XY粗動ステージ24、及び微動ステージ26を含む。ベース22は、平面視(+Z側から見て)矩形の板状の部材から成り、下架台部18b上に一体的に載置されている。XY粗動ステージ24は、例えばX軸方向に所定の長ストロークで移動可能なX粗動ステージと、Y軸方向に所定の長ストロークで移動可能なY粗動ステージとを組み合わせた、いわゆるガントリタイプの2軸ステージ装置(X、Y粗動ステージは図示省略)である。   The substrate stage apparatus 20 includes a base 22, an XY coarse movement stage 24, and a fine movement stage 26. The base 22 is made of a plate member that is rectangular in plan view (viewed from the + Z side), and is integrally mounted on the lower base 18b. The XY coarse movement stage 24 is, for example, a so-called gantry type that combines an X coarse movement stage that can move with a predetermined long stroke in the X-axis direction and a Y coarse movement stage that can move with a predetermined long stroke in the Y-axis direction. 2 axis stage device (X and Y coarse movement stages are not shown).

微動ステージ26は、平面視矩形の板状(あるいは箱形)の部材から成り、基板Pの下面を吸着保持する基板ホルダを含む。微動ステージ26は、例えば米国特許出願公開第2010/0018950号明細書に開示されるような重量キャンセル装置(図1では不図示)を介してベース22上に載置されている。微動ステージ26は、上記XY粗動ステージ24に案内(誘導)されることにより、投影光学系16(照明光IL)に対してX軸方向、及び/又はY軸方向に所定の長ストロークで移動する。   Fine movement stage 26 is made of a plate-shaped (or box-shaped) member having a rectangular shape in plan view, and includes a substrate holder that holds the lower surface of substrate P by suction. The fine movement stage 26 is placed on the base 22 via a weight cancellation device (not shown in FIG. 1) as disclosed in, for example, US Patent Application Publication No. 2010/0018950. The fine movement stage 26 is guided (guided) by the XY coarse movement stage 24 to move with a predetermined long stroke in the X axis direction and / or the Y axis direction with respect to the projection optical system 16 (illumination light IL). To do.

微動ステージ26のXY平面内の位置情報は、微動ステージ26に固定されたバーミラー27(実際にはXバーミラーとYバーミラーとを含む)を用いて装置本体18に固定されたレーザ干渉計28(実際にはXレーザ干渉計とYレーザ干渉計とを含む)により求められ、該レーザ干渉計28の出力に基づいて基板PのXY平面内の位置制御が行われる。なお、上記マスクステージ装置14に保持されたマスクMに同期するように基板Pを少なくともX軸(走査)方向に所定の長ストロークで駆動することができれば、基板ステージ装置20の構成は、特に限定されない。   The positional information of the fine movement stage 26 in the XY plane is based on a laser interferometer 28 (actually fixed) to the apparatus main body 18 using a bar mirror 27 (actually including an X bar mirror and a Y bar mirror) fixed to the fine movement stage 26. Includes an X laser interferometer and a Y laser interferometer), and the position of the substrate P in the XY plane is controlled based on the output of the laser interferometer 28. The configuration of the substrate stage device 20 is particularly limited as long as the substrate P can be driven with a predetermined long stroke in at least the X-axis (scanning) direction so as to be synchronized with the mask M held by the mask stage device 14. Not.

次にマスクステージ装置14の構成について説明する。マスクステージ装置14は、一対のステージユニット40を有している。一対のステージユニット40は、一方が照明系から照射される照明光ILの光路(すなわちマスクM)の+Y側に、他方が照明光ILの光路(すなわちマスクM)の−Y側にそれぞれ配置されている。一対のステージユニット40は、マスクMを挟んで紙面左右対称に配置されている点を除き、実質的に同じ構成を有している。以下、一方(+Y側)のステージユニット40についてのみ説明し、他方(−Y側)のステージユニット40の構成の説明は、省略する。   Next, the configuration of the mask stage device 14 will be described. The mask stage device 14 has a pair of stage units 40. One of the pair of stage units 40 is arranged on the + Y side of the optical path (that is, the mask M) of the illumination light IL irradiated from the illumination system, and the other is arranged on the −Y side of the optical path of the illumination light IL (that is, the mask M). ing. The pair of stage units 40 have substantially the same configuration except that they are arranged symmetrically on the paper surface with the mask M in between. Hereinafter, only one (+ Y side) stage unit 40 will be described, and description of the configuration of the other (−Y side) stage unit 40 will be omitted.

図2(A)に示されるように、ステージユニット40は、ベース42、ガイド44、粗動ステージ46、微動ステージ48、及び複数のボイスコイルモータ(Xボイスコイルモータ50x、一対のYボイスコイルモータ50y)を含む。   As shown in FIG. 2A, the stage unit 40 includes a base 42, a guide 44, a coarse movement stage 46, a fine movement stage 48, and a plurality of voice coil motors (X voice coil motor 50x, a pair of Y voice coil motors). 50y).

ベース42は、X軸方向に延びるXY平面に平行な板状の部材から成り、図1に示されるように、照明系フレーム30が有する複数の脚部32に固定されたマスクステージ支持部材36に支持されており、装置本体18、及び基板ステージ装置20に対して相互に振動的に分離されている。なお、本実施形態において、ベース42は、照明系フレーム30に支持されているが、装置本体18、及び基板ステージ装置20に対して相互に振動的に分離した状態で床11上に設置された別の架台上に搭載されていても良い。   The base 42 is formed of a plate-like member parallel to the XY plane extending in the X-axis direction. As shown in FIG. 1, the base 42 is attached to a mask stage support member 36 fixed to a plurality of legs 32 of the illumination system frame 30. The apparatus main body 18 and the substrate stage apparatus 20 are vibrationally separated from each other. In the present embodiment, the base 42 is supported by the illumination system frame 30, but is installed on the floor 11 in a state of being vibrationally separated from the apparatus main body 18 and the substrate stage apparatus 20. It may be mounted on another base.

図2(A)に戻り、ベース42の上面には、一対のXリニアガイド52aがY軸方向に関して互いに離間して固定されている。Xリニアガイド52aは、X軸方向に延びる部材から成り、その長さは、ベース42と同程度に設定されている。また、ベース42の上面であって、一対のXリニアガイド52a間の領域には、X軸方向に所定間隔で配列された複数の永久磁石を含む磁石ユニット54aが固定されている。   Returning to FIG. 2A, a pair of X linear guides 52 a are fixed to the upper surface of the base 42 so as to be separated from each other in the Y-axis direction. The X linear guide 52 a is made of a member extending in the X axis direction, and the length thereof is set to be approximately the same as that of the base 42. A magnet unit 54a including a plurality of permanent magnets arranged at predetermined intervals in the X-axis direction is fixed on the upper surface of the base 42 and in a region between the pair of X linear guides 52a.

ガイド44は、X軸方向に延びるYZ断面矩形(図2(B)参照)の部材から成り、図1に示されるように、装置本体18の上架台部18aの上面であって、ベース42と投影光学系16との間の領域に、ベース42、及び投影光学系16に対して相互に離間した状態で配置されている。図2(A)に戻り、ベース42、及びガイド44の長手方向寸法は、ほぼ同じであり、本実施形態において、その長さは、例えばマスクMの長手方向の寸法の3倍程度に設定されている。ガイド44の上面は、平面度が非常に高く仕上げられている。   The guide 44 is made of a member having a rectangular YZ section (see FIG. 2B) extending in the X-axis direction, and as shown in FIG. In a region between the projection optical system 16 and the base 42 and the projection optical system 16, they are arranged apart from each other. Returning to FIG. 2A, the longitudinal dimensions of the base 42 and the guide 44 are substantially the same. In this embodiment, the length is set to about three times the longitudinal dimension of the mask M, for example. ing. The upper surface of the guide 44 is finished with very high flatness.

粗動ステージ46は、図2(B)に示されるように、YZ断面L字状の部材から成り、ベース42上に載置されている。粗動ステージ46の下面には、複数(1本のXリニアガイド52aにつき、例えば2つ)のXスライド部材52bが固定されている。Xスライド部材52bは、対応するXリニアガイド52aとともに、例えば米国特許第6,761,482号明細書に開示されるような機械的なXリニアガイド装置52を構成しており、粗動ステージ46は、該Xリニアガイド装置52により、ベース42上でX軸方向に直進案内される。   As shown in FIG. 2B, the coarse movement stage 46 is made of a member having an L-shaped YZ cross section and is placed on the base 42. A plurality of (for example, two for each X linear guide 52a) X slide members 52b are fixed to the lower surface of the coarse movement stage 46. The X slide member 52b, together with the corresponding X linear guide 52a, constitutes a mechanical X linear guide device 52 as disclosed in, for example, US Pat. No. 6,761,482. Is linearly guided in the X-axis direction on the base 42 by the X linear guide device 52.

また、粗動ステージ46の下面中央部には、上記磁石ユニット54aに対向してコイルユニット54bが固定されている。コイルユニット54bは、磁石ユニット54aとともに、例えば米国特許第8,030,804号明細書に開示されるようなXリニアモータ54を構成しており、粗動ステージ46は、該Xリニアモータ54により、ベース42上でX軸方向に直進駆動される。コイルユニットに供給される電流の向き、及び大きさは、不図示の主制御装置により制御される。粗動ステージ46のX位置情報は、不図示のリニアエンコーダシステム(あるいは光干渉計システム)により求められる。なお、粗動ステージ46をX軸方向に駆動するためのアクチュエータの種類は、特に限定されず、例えば送りネジ装置、ロープ(あるいはベルト)駆動装置などであっても良い。また、リニアモータは、ムービングマグネットタイプであっても良い。   A coil unit 54b is fixed to the center of the lower surface of the coarse movement stage 46 so as to face the magnet unit 54a. The coil unit 54b and the magnet unit 54a constitute an X linear motor 54 as disclosed in, for example, US Pat. No. 8,030,804, and the coarse movement stage 46 is driven by the X linear motor 54. Then, it is linearly driven on the base 42 in the X-axis direction. The direction and magnitude of the current supplied to the coil unit are controlled by a main controller (not shown). The X position information of the coarse movement stage 46 is obtained by a linear encoder system (or optical interferometer system) not shown. The type of actuator for driving the coarse movement stage 46 in the X-axis direction is not particularly limited, and may be, for example, a feed screw device, a rope (or belt) drive device, or the like. The linear motor may be a moving magnet type.

微動ステージ48は、粗動ステージ46の−Y側(マスクM側)であって、上記ガイド44上の上方に配置されている。微動ステージ48は、図2(A)に示されるように、本体部48aと、マスクMを吸着保持する部分である複数の吸着保持部48bとを備えている。本体部48aは、X軸方向に延びるXY平面に平行な板状の部材から成り、その長さは、粗動ステージ46(及びマスクM)と同程度に設定されている。本体部48aは、軸受け面がガイド44の上面に対向して配置された不図示のエアベアリングを有している。本体部48aは、上記エアベアリングからガイド44の上面に対して噴出される加圧気体の静圧により、図2(B)に示されるように、ガイド44に対して微少なクリアランスを介して浮上している。   The fine movement stage 48 is arranged on the −Y side (mask M side) of the coarse movement stage 46 and above the guide 44. As shown in FIG. 2A, the fine movement stage 48 includes a main body 48a and a plurality of suction holding portions 48b that are portions that hold the mask M by suction. The main body 48a is made of a plate-like member parallel to the XY plane extending in the X-axis direction, and its length is set to be approximately the same as that of the coarse movement stage 46 (and the mask M). The main body 48 a has an air bearing (not shown) whose bearing surface is disposed to face the upper surface of the guide 44. As shown in FIG. 2B, the main body 48a floats with a slight clearance from the air bearing due to the static pressure of the pressurized gas ejected from the air bearing to the upper surface of the guide 44. doing.

吸着保持部48bは、XY平面に平行な板状に形成され、本体部48aの−Y側(マスク側)の面部の上端部近傍から−Y方向に付き出している。本実施形態において、微動ステージ48は、図2(A)に示されるように、X軸方向に所定間隔(平面視で櫛歯状に配置された状態)で、例えば4つの吸着保持部48bを有しており、該4つの吸着保持部48bを用いてマスクMの+Y側の余白領域を下方から支持する。吸着保持部48bには、マスクステージ装置14の外部に配置された不図示の真空吸引装置が接続されている。吸着保持部48bは、上面に孔部が形成されており、上記真空吸引装置から供給される真空吸引力によりマスクMの下面を吸着保持可能となっている。なお、本実施形態では、本体部48aと吸着保持部48bとは一体に形成されているが、これに限られず、別部材であっても良い。   The suction holding portion 48b is formed in a plate shape parallel to the XY plane, and is attached in the −Y direction from the vicinity of the upper end portion of the surface portion on the −Y side (mask side) of the main body portion 48a. In the present embodiment, as shown in FIG. 2A, the fine movement stage 48 includes, for example, four suction holding portions 48b at predetermined intervals in the X-axis direction (a state in which the fine movement stage 48 is arranged in a comb shape in a plan view). And the margin area on the + Y side of the mask M is supported from below by using the four suction holding portions 48b. A vacuum suction device (not shown) disposed outside the mask stage device 14 is connected to the suction holding portion 48b. The suction holding portion 48b has a hole on the upper surface, and can hold the lower surface of the mask M by suction with a vacuum suction force supplied from the vacuum suction device. In the present embodiment, the main body portion 48a and the suction holding portion 48b are integrally formed. However, the present invention is not limited to this, and another member may be used.

Xボイスコイルモータ50xは、粗動ステージ46から微動ステージ48に対してX軸方向の推力(ローレンツ力)を作用させ、Yボイスコイルモータ50yは、粗動ステージ46から微動ステージ48に対してY軸方向の推力(ローレンツ力)を作用させる。一方のYボイスコイルモータ50yは、Xボイスコイルモータ50xの+X側に、他方のYボイスコイルモータ50yは、Xボイスコイルモータ50xの−X側にそれぞれ配置されている。   The X voice coil motor 50x applies a thrust (Lorentz force) in the X-axis direction from the coarse movement stage 46 to the fine movement stage 48, and the Y voice coil motor 50y is Y from the coarse movement stage 46 to the fine movement stage 48. Axial thrust (Lorentz force) is applied. One Y voice coil motor 50y is disposed on the + X side of the X voice coil motor 50x, and the other Y voice coil motor 50y is disposed on the -X side of the X voice coil motor 50x.

+X側のYボイスコイルモータ50yは、図2(B)に示されるように、粗動ステージ46に固定された固定子50aと、微動ステージ48に固定された可動子50bとにより構成される。可動子50bは、YZ断面U字状に形成され、一対の対向面間に固定子50aが所定のクリアランスを介して挿入されている。可動子50bは、一対の対向面に不図示の永久磁石を含む磁石ユニットを有している。また、固定子50aは、不図示のコイルユニットを有している。コイルユニットに供給される電流の向き、及び大きさは、不図示の主制御装置により制御される。−X側のYボイスコイルモータ50y(図2(A)参照)の構成は、+X側のYボイスコイルモータ50yと同じであるが、+X側のYボイスコイルモータ50yとは、独立に制御される。また、Xボイスコイルモータ50x(図2(A)参照)の構成は、永久磁石の大きさ、及び磁極の配置(磁界の向き)、並びにコイルの大きさ、及び電流の向きが異なる点を除き、上記Yボイスコイルモータ50yと概ね同じ(粗動ステージ46に固定された固定子と、微動ステージ48に固定された可動子とを含む)であるので、説明を省略する。なお、Xボイスコイルモータ50x、及びYボイスコイルモータ50yは、ムービングコイルタイプであっても良い。   As shown in FIG. 2B, the + X side Y voice coil motor 50y includes a stator 50a fixed to the coarse movement stage 46 and a mover 50b fixed to the fine movement stage 48. The mover 50b is formed in a UZ shape in the YZ section, and the stator 50a is inserted between a pair of opposed surfaces with a predetermined clearance. The mover 50b has a magnet unit including a permanent magnet (not shown) on a pair of opposed surfaces. The stator 50a has a coil unit (not shown). The direction and magnitude of the current supplied to the coil unit are controlled by a main controller (not shown). The configuration of the -X side Y voice coil motor 50y (see FIG. 2A) is the same as that of the + X side Y voice coil motor 50y, but is controlled independently of the + X side Y voice coil motor 50y. The The configuration of the X voice coil motor 50x (see FIG. 2A) is different except that the size of the permanent magnet, the arrangement of the magnetic poles (direction of the magnetic field), the size of the coil, and the direction of the current are different. Since it is substantially the same as the Y voice coil motor 50y (including a stator fixed to the coarse movement stage 46 and a movable element fixed to the fine movement stage 48), description thereof is omitted. The X voice coil motor 50x and the Y voice coil motor 50y may be a moving coil type.

ここで、Yボイスコイルモータ50y(不図示であるがXボイスコイルモータ50xも同様)において、固定子50aと、可動子50bとの間には、Y軸方向に関して、余白領域の幅方向寸法よりも長いクリアランスが形成されている。これにより、Yボイスコイルモータ50yは、微動ステージ48をY軸方向に、上記余白領域の幅方向寸法よりも長いストロークで駆動することが可能となっており、吸着保持部48bを、余白領域に対向する位置と、マスクMの下方から退避した(マスクMと上下方向に重ならない)位置との間で駆動することができる。   Here, in the Y voice coil motor 50y (not shown but the same applies to the X voice coil motor 50x), between the stator 50a and the mover 50b, the dimension in the width direction of the blank area with respect to the Y-axis direction. Even long clearances are formed. As a result, the Y voice coil motor 50y can drive the fine movement stage 48 in the Y-axis direction with a stroke longer than the width-direction dimension of the blank area, and the suction holding portion 48b can be moved to the blank area. It is possible to drive between the facing position and a position retracted from below the mask M (not overlapping the mask M in the vertical direction).

主制御装置は、Xリニアモータ54を用いて粗動ステージ46をX軸方向に駆動する際に、これと同期して微動ステージ48が粗動ステージ46と一体的にX軸方向に移動するように、Xボイスコイルモータ50xが発生する推力の大きさ及び向きを制御する。このように、マスクステージ装置14では、微動ステージ48が粗動ステージ46に誘導されることにより、X軸方向に所定の長ストロークで移動する。また、主制御装置は、微動ステージ48がX軸方向に所定の長ストロークで移動する際に、一対のYボイスコイルモータ50yを用いて粗動ステージ46に対して微動ステージ48をY軸方向に微少駆動すること、及び一対のYボイスコイルモータ50yの推力を異ならせることにより、粗動ステージ46に対して微動ステージ48をθz方向に微少駆動することができる。   When the main controller drives the coarse movement stage 46 in the X-axis direction using the X linear motor 54, the fine movement stage 48 moves integrally with the coarse movement stage 46 in the X-axis direction in synchronization with this. In addition, the magnitude and direction of thrust generated by the X voice coil motor 50x are controlled. As described above, in the mask stage device 14, the fine movement stage 48 is guided to the coarse movement stage 46, thereby moving with a predetermined long stroke in the X-axis direction. Further, the main control device moves the fine movement stage 48 in the Y-axis direction with respect to the coarse movement stage 46 using the pair of Y voice coil motors 50y when the fine movement stage 48 moves with a predetermined long stroke in the X-axis direction. By finely driving and making the thrusts of the pair of Y voice coil motors 50 y different, the fine movement stage 48 can be finely driven in the θz direction with respect to the coarse movement stage 46.

微動ステージ48のXY平面内の位置情報は、ガイド44の上面(ただし微動ステージ48が有するエアベアリングの軸受面と対向しない位置)に固定された2次元グレーティング56と、微動ステージ48に固定された不図示のエンコーダヘッドとを含む2次元エンコーダシステムにより求められる。なお、微動ステージ48の位置情報を求めるための計測系の構成は、これに限られず、例えば光干渉計システム、あるいは光干渉計システムとリニアエンコーダシステムとを組み合わせた計測系を用いても良い。   Position information of the fine movement stage 48 in the XY plane is fixed to the upper surface of the guide 44 (however, a position not facing the bearing surface of the air bearing of the fine movement stage 48) and the fine movement stage 48. It is calculated | required by the two-dimensional encoder system containing an encoder head not shown. The configuration of the measurement system for obtaining the position information of fine movement stage 48 is not limited to this, and for example, an optical interferometer system or a measurement system that combines an optical interferometer system and a linear encoder system may be used.

以上説明した+Y側のステージユニット40と同様に、−Y側のステージユニット40も、ベース42、ガイド44、粗動ステージ46、微動ステージ48、複数のボイスコイルモータ(50x、50y)を有している。−Y側のステージユニット40の粗動ステージ46、及び微動ステージ48を駆動するための駆動系、および位置情報を求めるための計測系の構成は、上記+Y側のステージユニット40のものと同様である(ただし独立に制御される)。マスクステージ装置14では、+Y側のステージユニット40の微動ステージ48によりマスクMの+Y側の端部が吸着保持されるとともに、−Y側のステージユニット40の微動ステージ48によりマスクMの−Y側の端部が吸着保持される。すなわち、一対の微動ステージ48が協働してマスクホルダとして機能する。そして、主制御装置は、一対のステージユニット40それぞれの粗動ステージ46(及び微動ステージ48)をX軸方向に長ストロークで同期駆動することにより、マスクMを照明光IL(図1参照)に対して駆動する。   Similar to the + Y side stage unit 40 described above, the −Y side stage unit 40 also includes a base 42, a guide 44, a coarse movement stage 46, a fine movement stage 48, and a plurality of voice coil motors (50x, 50y). ing. The configuration of the drive system for driving the coarse movement stage 46 and the fine movement stage 48 of the −Y side stage unit 40 and the measurement system for obtaining position information are the same as those of the + Y side stage unit 40. Yes (but controlled independently). In the mask stage device 14, the + Y side end of the mask M is sucked and held by the fine movement stage 48 of the + Y side stage unit 40, and the −Y side of the mask M is held by the fine movement stage 48 of the −Y side stage unit 40. Is held by suction. That is, the pair of fine movement stages 48 cooperate to function as a mask holder. Then, the main control device synchronously drives the coarse movement stage 46 (and fine movement stage 48) of each of the pair of stage units 40 with a long stroke in the X-axis direction, thereby making the mask M the illumination light IL (see FIG. 1). Drive against.

次に、図3に示されるマスクローダ90、及びマスクストッカ100の構成について説明する。マスクローダ90は、マスクストッカ100とマスクステージ装置14との間におけるマスクMの搬送に用いられる。マスクローダ90、及びマスクストッカ100それぞれは、装置本体18、基板ステージ装置20(図3では不図示。図1参照)と共に不図示のチャンバ内に収容され、クリーンルームの床11上であって、装置本体18よりも−X側の領域(図1及び図3において、装置本体18よりも紙面奥側の領域)に設置されている。なお、説明の簡略化のため、図3及び図4では、マスクステージ装置14は、模式的に示されている。   Next, the configuration of the mask loader 90 and the mask stocker 100 shown in FIG. 3 will be described. The mask loader 90 is used for transporting the mask M between the mask stocker 100 and the mask stage device 14. Each of the mask loader 90 and the mask stocker 100 is housed in a chamber (not shown) together with the apparatus main body 18 and the substrate stage apparatus 20 (not shown in FIG. 3, see FIG. 1), and is on the floor 11 of the clean room. It is installed in a region on the −X side from the main body 18 (in FIG. 1 and FIG. 3, a region on the back side of the paper surface from the apparatus main body 18). For simplification of description, the mask stage device 14 is schematically shown in FIGS. 3 and 4.

マスクストッカ100は、マスクライブラリなどとも称され、直方体状(箱形)の部材から成る本体部102を有している。本体部102は、架台104を介して床11に対して所定の高さ位置に設置されている。本体部102の+Y側の面部には、開口部106が形成されている。本体部102の内部には、複数のマスクMを上下方向に所定間隔で保持可能なように、一対の支持部材108(図3では一方のみ図示。図4参照)がZ軸方向に所定間隔で複数配置されている。一対の支持部材108は、図4に示されるように、マスクMの余白領域を下方から支持可能となっている。なお、図3では不図示であるが、マスクストッカ100に保管されている複数のマスクMそれぞれの下面には、予めペリクルPe(図2(A)参照)が取り付けられている。   The mask stocker 100 is also referred to as a mask library or the like, and has a main body 102 made of a rectangular parallelepiped (box-shaped) member. The main body 102 is installed at a predetermined height position with respect to the floor 11 via the gantry 104. An opening 106 is formed on the surface of the main body 102 on the + Y side. A pair of support members 108 (only one is shown in FIG. 3; see FIG. 4) are provided at predetermined intervals in the Z-axis direction so that a plurality of masks M can be held in the vertical direction at predetermined intervals in the main body 102. Several are arranged. As shown in FIG. 4, the pair of support members 108 can support the blank area of the mask M from below. Although not shown in FIG. 3, a pellicle Pe (see FIG. 2A) is previously attached to the lower surface of each of the plurality of masks M stored in the mask stocker 100.

マスクローダ90は、Yアクチュエータ92Y、Zアクチュエータ92Z、回転駆動装置94、支持アーム96、複数の支持駒98を有している。Yアクチュエータ92Yは、床11上に設置されており、Zアクチュエータ92ZをY軸方向に所定の長ストロークで駆動する。Zアクチュエータ92Zは、回転駆動装置94をZ軸方向に所定の長ストロークで駆動する。Yアクチュエータ92Y、及びZアクチュエータ92Zそれぞれの種類は、特に限定されず、リニアモータ、エアシリンダなどを用いることができる。回転駆動装置94は、高さの低い箱形の部材から成り、Zアクチュエータ92Zの先端部(+Z側の端部)に取り付けられている。回転駆動装置94は、不図示の回転モータを有しており、Zアクチュエータ92Zに対してθz方向に、少なくとも180°回転できるようになっている。   The mask loader 90 includes a Y actuator 92Y, a Z actuator 92Z, a rotation drive device 94, a support arm 96, and a plurality of support pieces 98. The Y actuator 92Y is installed on the floor 11, and drives the Z actuator 92Z with a predetermined long stroke in the Y-axis direction. The Z actuator 92Z drives the rotary drive device 94 with a predetermined long stroke in the Z-axis direction. The type of each of the Y actuator 92Y and the Z actuator 92Z is not particularly limited, and a linear motor, an air cylinder, or the like can be used. The rotary drive device 94 is made of a box-shaped member having a low height, and is attached to the tip end portion (+ Z side end portion) of the Z actuator 92Z. The rotation drive device 94 has a rotation motor (not shown) and can rotate at least 180 ° in the θz direction with respect to the Z actuator 92Z.

支持アーム96は、図4に示されるように、XY平面内の1軸方向(図4ではY軸方向)に延びる一対の棒状部材96aを備える。一対の棒状部材96aは、その長手方向に直交する方向(図4ではX軸方向)に関して互いに離間して配置されている。棒状部材96aの長手方向寸法は、特に限定されないが、少なくともマスクMの長手方向寸法の2倍以上であり、本実施形態では、例えばマスクMの長手方向寸法の2.5倍程度に設定されている。棒状部材96aは、長手方向の中央部が、回転駆動装置94に接続されており、回転駆動装置94から見て、XY平面内の1軸方向(図4ではY軸方向)の一側、及び他側それぞれに、ほぼ同じ長さ延びている。   As shown in FIG. 4, the support arm 96 includes a pair of rod-like members 96a extending in one axial direction (Y-axis direction in FIG. 4) in the XY plane. The pair of rod-like members 96a are arranged so as to be separated from each other in the direction perpendicular to the longitudinal direction (X-axis direction in FIG. 4). The longitudinal dimension of the rod-like member 96a is not particularly limited, but is at least twice as long as the longitudinal dimension of the mask M. In this embodiment, for example, it is set to about 2.5 times the longitudinal dimension of the mask M. Yes. The rod-shaped member 96a is connected to the rotational drive device 94 at the center in the longitudinal direction. When viewed from the rotational drive device 94, one side in one axis direction (Y-axis direction in FIG. 4) in the XY plane, and Each of the other sides extends approximately the same length.

一対の棒状部材96a間の間隔は、図5(C)に示されるように、マスクステージ装置14の一対のガイド44間の間隔よりも狭く設定されている。これにより、支持アーム96が一対のガイド44間に所定のクリアランスを介して挿入可能となっている。また、一対の棒状部材96a間の間隔は、マスクMの幅方向寸法よりも幾分短く(狭く)設定されている。さらに、棒状部材96aの幅方向寸法(太さ)は、マスクMの余白領域の幅方向寸法よりも狭く設定されている。これにより、支持アーム96は、ペリクルPeに接触することなく、マスクMを下方から支持することができる。   The interval between the pair of rod-like members 96a is set to be narrower than the interval between the pair of guides 44 of the mask stage device 14, as shown in FIG. As a result, the support arm 96 can be inserted between the pair of guides 44 through a predetermined clearance. Further, the interval between the pair of rod-shaped members 96a is set to be somewhat shorter (narrower) than the dimension in the width direction of the mask M. Furthermore, the width direction dimension (thickness) of the rod-shaped member 96a is set narrower than the width direction dimension of the blank area of the mask M. Thus, the support arm 96 can support the mask M from below without contacting the pellicle Pe.

マスクローダ90は、図3及び図4から分かるように、支持アーム96がYアクチュエータ92Y、Zアクチュエータ92Z、及び回転駆動装置94を含む3自由度(Y軸、Z軸、θz)駆動装置に取り付けられていることから、マスクMを下方から支持した支持アーム96を、上記3自由度に任意に駆動することができる。すなわち、マスクローダ90は、支持アーム96の一側の端部近傍をマスクストッカ100の本体部102内に挿入してマスクMをマスクストッカ100から受け取る(あるいは受け渡す)こと、該マスクMを本体部102内から抜き出すこと(あるいはマスクMをマスクストッカ100に戻すこと)、該マスクMをθz方向に90°回転させて図5(A)に示されるように、マスクステージ装置14の一対のガイド44間に挿入することが可能となっている。上記マスクストッカ100が有する一対の支持部材108(図4参照)の構成は、支持アーム96との干渉を避けるため、例えば上記微動ステージ48(図2(A)参照)と同様な櫛歯状(X軸方向に移動可能)であっても良いし、上記吸着保持部48b(図2(A)参照)よりも狭幅な部材により形成(X軸方向に移動しなくても良い)しても良い。   As can be seen from FIGS. 3 and 4, the mask loader 90 is attached to a three-degree-of-freedom (Y-axis, Z-axis, θz) drive device in which the support arm 96 includes a Y actuator 92Y, a Z actuator 92Z, and a rotary drive device 94. Therefore, the support arm 96 that supports the mask M from below can be arbitrarily driven in the three degrees of freedom. That is, the mask loader 90 receives (or delivers) the mask M from the mask stocker 100 by inserting the vicinity of one end of the support arm 96 into the main body 102 of the mask stocker 100, and the mask M is received from the main body. As shown in FIG. 5A, the pair of guides of the mask stage device 14 is extracted from the portion 102 (or the mask M is returned to the mask stocker 100), and the mask M is rotated by 90 ° in the θz direction. It is possible to insert between 44. The configuration of the pair of support members 108 (see FIG. 4) included in the mask stocker 100 is, for example, comb-like (similar to the fine movement stage 48 (see FIG. 2A)) to avoid interference with the support arm 96 (see FIG. 2A). It may be movable in the X-axis direction) or may be formed by a member narrower than the suction holding portion 48b (see FIG. 2A) (it may not be moved in the X-axis direction). good.

棒状部材96aの一端部近傍、及び他端部近傍それぞれの上面には、図5(B)に示されるように、複数(本実施形態では、例えば3つ)の支持駒98が該棒状部材96aの長手方向(図5(B)ではX軸方向)に沿って所定間隔で固定されている。例えば3つの支持駒98の間隔は、図5(A)に示されるように、マスクステージ装置14の微動ステージ48が有する複数(本実施形態では、例えば4つ)の吸着保持部48b間に挿入できるように設定されている。複数の支持駒98それぞれには、マスクローダ90の外部に設置された不図示の真空吸引装置が接続されている。支持駒98は、上面に複数の孔部が形成されており、上記真空吸引装置から供給される真空吸引力によりマスクMの下面を吸着保持可能となっている。   As shown in FIG. 5B, a plurality of (for example, three in this embodiment) support pieces 98 are provided on the upper surfaces of the rod-shaped member 96a in the vicinity of one end and the other end, respectively. Are fixed at predetermined intervals along the longitudinal direction (X-axis direction in FIG. 5B). For example, as shown in FIG. 5A, the interval between the three support pieces 98 is inserted between a plurality of (for example, four in this embodiment) suction holding portions 48b of the fine movement stage 48 of the mask stage device 14. It is set to be possible. A vacuum suction device (not shown) installed outside the mask loader 90 is connected to each of the plurality of support pieces 98. The support piece 98 has a plurality of holes formed on the upper surface, and the lower surface of the mask M can be sucked and held by the vacuum suction force supplied from the vacuum suction device.

支持駒98の高さ方向寸法は、図5(C)に示されるように、吸着保持部48bの厚さ方向寸法よりも大きく設定されている。これにより、マスクMが複数の吸着保持部48bに下方から支持された状態で、支持駒98を互いに隣接する一対の吸着保持部48b間に挿入させることにより、支持駒98と吸着保持部48bとを接触させることなく、マスクMをマスクステージ装置14からマスクローダ90へと受け渡すことができる。   As shown in FIG. 5C, the height dimension of the support piece 98 is set larger than the dimension in the thickness direction of the suction holding portion 48b. Thus, the support piece 98 and the suction holding portion 48b are inserted by inserting the support piece 98 between a pair of adjacent suction holding portions 48b while the mask M is supported by the plurality of suction holding portions 48b from below. The mask M can be transferred from the mask stage device 14 to the mask loader 90 without contacting them.

上述のようにして構成された液晶露光装置10(図1参照)では、不図示の主制御装置の管理の下、マスクローダ90によって、マスクステージ装置14上へのマスクMのロードが行われるとともに、不図示の基板ローダ装置によって、基板ステージ装置上への基板Pのロードが行なわれる。その後、主制御装置により、不図示のアライメント検出系を用いてアライメント計測が実行され、そのアライメント計測の終了後、基板P上に設定された複数のショット領域に逐次ステップ・アンド・スキャン方式の露光動作が行なわれる。なお、この露光動作は従来から行われているステップ・アンド・スキャン方式の露光動作と同様であるので、その詳細な説明は省略するものとする。   In the liquid crystal exposure apparatus 10 (see FIG. 1) configured as described above, the mask M is loaded onto the mask stage apparatus 14 by the mask loader 90 under the control of a main controller (not shown). The substrate P is loaded onto the substrate stage device by a substrate loader device (not shown). Thereafter, alignment measurement is performed by the main controller using an alignment detection system (not shown), and after completion of the alignment measurement, a plurality of shot areas set on the substrate P are sequentially exposed in a step-and-scan manner. Operation is performed. Since this exposure operation is the same as a conventional step-and-scan exposure operation, a detailed description thereof will be omitted.

ここで、液晶露光装置10では、基板Pに形成するマスクパターンに応じて、マスクMの交換が適宜行われる。以下、マスクステージ装置14に保持されるマスクMの交換動作を含み、マスクローダ90、及びマスクステージ装置14の動作について図6(A)〜図13を用いて説明する。なお、図面の簡略化のため、図6(A)〜図13では、マスクローダ90、及びマスクステージ装置14の要素の一部が省略されている。   Here, in the liquid crystal exposure apparatus 10, the mask M is appropriately replaced according to the mask pattern formed on the substrate P. Hereinafter, the operations of the mask loader 90 and the mask stage device 14 including the replacement operation of the mask M held by the mask stage device 14 will be described with reference to FIGS. For simplification of the drawings, some elements of the mask loader 90 and the mask stage device 14 are omitted in FIGS.

図6(A)及び図6(B)には、マスクステージ装置14が、一対の微動ステージ48に保持されたマスクMを、所定のマスク交換位置へ移動させている状態が示されている。マスク交換位置は、マスクMを照明系12(図1参照)の下方から退避させた位置であって、具体的には、一対の微動ステージ48のX軸方向に関する−X側のストロークエンド近傍に位置させたときのマスク位置である。 In FIGS. 6 (A) and FIG. 6 (B) the mask stage apparatus 14, a mask M 1 which is held in a pair of fine movement stage 48 shows a state that is moved to a predetermined mask exchange position . The mask replacement position is a position where the mask M is retracted from the lower side of the illumination system 12 (see FIG. 1), and specifically, near the −X side stroke end in the X-axis direction of the pair of fine movement stages 48. This is the mask position when positioned.

また、図6(A)に示されるように、マスクMに換えてマスクステージ装置14(一対の微動ステージ48)に保持される予定のマスクMがマスクローダ90の支持アーム96の一側の端部近傍に支持されている。また、なにも支持していない(空の状態の)支持アーム96の他側の端部近傍が、一対のガイド44間に挿入されている。この際、図6(B)に示されるように、複数の支持駒98の上端部が、ガイド44の上面よりも上方に突き出さないように、Zアクチュエータ92Zが制御される。 Further, as shown in FIG. 6 (A), one side of the support arm 96 of the mask stage apparatus 14 (a pair of fine movement stage 48) the mask M 2 mask loader 90 will be held in place of the mask M 1 It is supported in the vicinity of the end portion. In addition, the vicinity of the other end of the support arm 96 that is not supported (empty) is inserted between the pair of guides 44. At this time, as shown in FIG. 6B, the Z actuator 92 </ b> Z is controlled so that the upper ends of the plurality of support pieces 98 do not protrude above the upper surface of the guide 44.

図7(A)及び図7(B)には、マスクMがマスク交換位置に位置決めされた状態が示されている。マスク交換位置では、吸着保持部48bのX位置と、支持駒98のX位置とが重複しないように、微動ステージ48のX位置が制御される。マスクMがマスク交換位置に位置決めされると、マスクステージ装置14では、吸着保持部48bによるマスクMの吸着保持が解除される。 In FIGS. 7 (A) and. 7 (B) shows a state in which the mask M 1 is positioned in the mask exchange position. At the mask exchange position, the X position of the fine movement stage 48 is controlled so that the X position of the suction holding portion 48b and the X position of the support piece 98 do not overlap. When the mask M 1 is positioned in the mask exchange position, the mask stage apparatus 14, the suction holding the mask M 1 is released by the suction holding portion 48b.

次いで、図8(A)及び図8(B)に示されるように、Zアクチュエータ92Zにより支持アーム96が上昇駆動され、これにより複数の支持駒98が互いに隣接する一対の吸着保持部48b間を通過してマスクMの下面に当接し、マスクMと吸着保持部48bとを離間させる。この状態で、図8(A)に示されるように、一対の微動ステージ48それぞれがYボイスコイルモータ50y(図8(A)では不図示。図2(A)参照)により互いに離間する方向に駆動され、これにより吸着保持部48bがマスクMの下方から退避する。マスクローダ90は、複数の支持駒98を用いてマスクMを吸着保持する。 Next, as shown in FIGS. 8A and 8B, the support arm 96 is driven up by the Z actuator 92Z, whereby the plurality of support pieces 98 are located between a pair of adjacent suction holding portions 48b. passed through contact with the lower surface of the mask M 1, the to separate the suction holding portion 48b and the mask M 1. In this state, as shown in FIG. 8A, the pair of fine movement stages 48 are separated from each other by the Y voice coil motor 50y (not shown in FIG. 8A, see FIG. 2A). It is driven, thereby the suction holding portion 48b is retracted from below the mask M 1. Mask loader 90, the mask M 1 is held by suction with a plurality of support frames 98.

マスクMがマスクローダ90に受け渡されると、マスクステージ装置14では、図9に示されるように、一対の微動ステージ48それぞれが+X方向に駆動される。また、マスクローダ90では、支持アーム96がガイド44と接触しない位置まで上昇駆動された後、回転駆動装置94により平面視で時計回り方向(反時計回り方向でも良い)に、例えば180°回転駆動される。この際、一対の微動ステージ48それぞれは、支持アーム96に接触しない位置に退避している。 When the mask M 1 is delivered to the mask loader 90, the mask stage apparatus 14, as shown in FIG. 9, a pair of fine movement stage 48, respectively, are driven in the + X direction. Further, in the mask loader 90, after the support arm 96 is driven up to a position where it does not come into contact with the guide 44, it is rotated by, for example, 180 ° in a clockwise direction (may be a counterclockwise direction) in a plan view by a rotation driving device 94. Is done. At this time, each of the pair of fine movement stages 48 is retracted to a position where it does not contact the support arm 96.

図10(A)及び図10(B)は、支持アーム96が、例えば180°回転した後の状態が示されている。マスクローダ90は、Zアクチュエータ92Zを用いて支持アーム96を下降駆動させる。この際、棒状部材96aの上面が吸着保持部48bの下面よりも下方、且つマスクMの下面が吸着保持部48bの上面よりも上方にそれぞれ位置するように、支持アーム96のZ位置が位置決めされる。また、マスクステージ装置14では、一対の微動ステージ48が−X方向に駆動され、吸着保持部48bのX位置が複数の支持駒98のX位置と重複しない位置に位置決めされる。そして、一対の微動ステージ48それぞれがYボイスコイルモータ50y(図10(A)では不図示。図2(A)参照)により互いに接近する方向に駆動され、該複数の吸着保持部48bがマスクMの下方に挿入される。以下、不図示であるが、マスクMの吸着保持を解除した支持アーム96が下降駆動され、マスクMがマスクローダ90からマスクステージ装置14に受け渡される。 10A and 10B show a state after the support arm 96 has rotated, for example, 180 °. The mask loader 90 drives the support arm 96 downward using the Z actuator 92Z. At this time, below the lower surface of the upper surface suction holding portion 48b of the rod 96a, and as the lower surface of the mask M 2 is respectively located above the upper surface of the suction holding portion 48b, Z position of the support arm 96 is positioned Is done. In the mask stage device 14, the pair of fine movement stages 48 is driven in the −X direction, and the X position of the suction holding portion 48 b is positioned at a position that does not overlap with the X positions of the plurality of support pieces 98. Each of the pair of fine movement stages 48 is driven in a direction approaching each other by a Y voice coil motor 50y (not shown in FIG. 10A, see FIG. 2A), and the plurality of suction holding portions 48b are mask M. 2 is inserted below. Hereinafter, although not shown, the support arm 96 releases the suction holding of the mask M 2 is driven downward, the mask M 2 is passed from the mask loader 90 to the mask stage apparatus 14.

次いで、マスクステージ装置14では、図11(A)及び図11(B)に示されるように、マスクMを用いた露光動作のために、マスクMを吸着保持した一対の微動ステージ48が+X方向に駆動される。この際、複数の支持駒98の上端部が吸着保持部48bと接触しないように、支持アーム96のZ位置が制御される。 Then, the mask stage apparatus 14, as shown in FIG. 11 (A) and FIG. 11 (B), for exposure operation using the mask M 2, a pair of fine movement stage 48 which has adsorbed holding the mask M 2 is Driven in the + X direction. At this time, the Z position of the support arm 96 is controlled so that the upper ends of the plurality of support pieces 98 do not contact the suction holding portion 48b.

マスクMをマスクステージ装置14に受け渡したマスクローダ90では、図12(A)及び図12(B)に示されるように、支持アーム96が、ガイド44を接触しない位置まで上昇駆動された後、平面視反時計回りに、例えば90°回転駆動される。なお、図12(A)及び図12(B)において、マスクステージ装置14では、マスクMを用いた露光動作が行われているが、その説明は省略する。 In the mask loader 90 hands over the mask M 2 in the mask stage unit 14, as shown in FIG. 12 (A) and FIG. 12 (B), the after supporting arm 96 has been driven upward to a position that does not contact the guide 44 For example, it is rotated 90 ° counterclockwise in plan view. Note that in FIG. 12 (A) and FIG. 12 (B), the in the mask stage apparatus 14, the exposure operation using the mask M 2 is being performed, and a description thereof will be omitted.

この後、図13に示されるように、支持アーム96がYアクチュエータ92Yにより−Y方向に駆動され、支持アーム96の他側(マスクMを支持した側)の端部近傍がマスクストッカ100内に挿入される。この際、マスクMをマスクストッカ100内の所望の位置に収容できるように、支持アーム96のZ位置が制御される。 Thereafter, as shown in FIG. 13, the support arm 96 is driven in the −Y direction by the Y actuator 92 </ b> Y, and the vicinity of the end of the other side of the support arm 96 (the side supporting the mask M 1 ) is within the mask stocker 100. Inserted into. At this time, the Z position of the support arm 96 is controlled so that the mask M 1 can be accommodated in a desired position in the mask stocker 100.

以上説明したように、本第1の実施形態のマスクステージ装置14によれば、マスクMの一側、及び他側の端部をそれぞれ保持する一対の微動ステージ48が、互いに物理的に独立(分離)して構成されているので、例えば枠状の部材であるマスクホルダにマスクを保持させ、該マスクホルダを駆動する従来のマスクステージ装置に比べ、微動ステージ48を上記枠状のマスクホルダよりも軽量化することができる。また、微動ステージ48の剛性の確保が容易となる。従って、マスクMの位置制御性が向上する。また、上記枠状のマスクホルダに相当する部材である一対の微動ステージ48それぞれを小型化できるので、該微動ステージ48をセラミックスなどの高剛性材料で一体成形をすることが可能となり、コストが下がる。   As described above, according to the mask stage apparatus 14 of the first embodiment, the pair of fine movement stages 48 that respectively hold the one end and the other end of the mask M are physically independent from each other ( For example, the fine movement stage 48 is more than the above-mentioned frame-shaped mask holder as compared with a conventional mask stage apparatus that holds a mask in a mask holder, which is a frame-shaped member, and drives the mask holder. Can also be reduced in weight. In addition, it is easy to ensure the rigidity of fine movement stage 48. Therefore, the position controllability of the mask M is improved. In addition, since each of the pair of fine movement stages 48, which are members corresponding to the frame-shaped mask holder, can be downsized, it is possible to integrally form the fine movement stage 48 with a high-rigidity material such as ceramics, thereby reducing costs. .

また、一対の微動ステージ48が互いに分離されているので、該一対の微動ステージ48を独立にY軸方向に駆動して、互いに離間、及び接近させることができる。これにより、マスクローダ90は、支持アーム96を一対の微動ステージ48間に通過させることができ、持ち替え動作なしでマスクストッカ100とマスクステージ装置14との間で直接マスクMの搬送が可能となる。したがって、マスクローダ90のコストが下がり、マスク交換時間も短縮できる。   In addition, since the pair of fine movement stages 48 are separated from each other, the pair of fine movement stages 48 can be driven independently in the Y-axis direction so as to be separated from and approach each other. As a result, the mask loader 90 can pass the support arm 96 between the pair of fine movement stages 48, and the mask M can be directly transferred between the mask stocker 100 and the mask stage device 14 without changing the holding arm 96. . Therefore, the cost of the mask loader 90 is reduced, and the mask replacement time can be shortened.

なお、上記第1の実施形態の液晶露光装置10の構成は、適宜変更可能である。例えば、図14に示されるマスクローダ90A(第1の変形例)のように、支持アーム196は、一枚のマスクMのみを支持可能な構成であっても良い。この場合、マスクMの交換動作に要する時間は、上記第1の実施形態よりも長くなるが、マスクローダ90Aを上記第1の実施形態に比べて安価、且つコンパクトにすることができる。なお、マスクMをマスクステージ装置14からマスクストッカ100に戻す際のマスクMの搬送経路(マスクステージ装置14の近傍が好ましい)上に、該マスクMを一時的に受け渡す(仮置きする)ことが可能な架台などを複数設置しても良い。該複数の架台は、複数のマスクMを上下方向に仮置きできるようにするため、上下方向に配置することが好ましい。   The configuration of the liquid crystal exposure apparatus 10 of the first embodiment can be changed as appropriate. For example, as in the mask loader 90A (first modification) shown in FIG. 14, the support arm 196 may be configured to support only one mask M. In this case, the time required for the replacement operation of the mask M is longer than that in the first embodiment, but the mask loader 90A can be made cheaper and more compact than the first embodiment. In addition, the mask M is temporarily transferred (temporarily placed) on a transfer path of the mask M when the mask M is returned from the mask stage apparatus 14 to the mask stocker 100 (preferably near the mask stage apparatus 14). A plurality of mounts that can be installed may be installed. The plurality of mounts are preferably arranged in the vertical direction so that the plurality of masks M can be temporarily placed in the vertical direction.

また、図15に示されるマスクステージ装置14A(第2の変形例)のように、他方(−Y側)のステージユニット40Aにおいて、粗動ステージ46が、ベース42に対してY軸方向に所定のストロークで移動可能となっていても良い。具体的に説明すると、ステージユニット40Aは、Xテーブル58を有している。Xテーブル58は、ベース42に対してXリニアガイド装置52を介してX軸方向に直進案内され、Xリニアモータ54によりX軸方向に所定の長ストロークで駆動される。粗動ステージ46は、Yリニアガイド装置55(Xテーブル58上面に固定されたYリニアガイド55aと、粗動ステージ46下面に固定された複数のYスライド部材55bとを含む)により、Xテーブル58に対してY軸方向に直進案内されれる。また、不図示であるが、粗動ステージ46は、Yリニアモータ(Xテーブル58上面に固定されたY固定子と、粗動ステージ46下面に固定されたY可動子とを含む)によりY軸方向に所定のストロークで駆動される。また、ステージユニット40Aにおいて、ガイド44Aは、他方のステージユニット40のガイド44に比べて幾分広幅に形成されている。   Further, as in the mask stage apparatus 14A (second modification) shown in FIG. 15, in the other (−Y side) stage unit 40A, the coarse movement stage 46 is predetermined in the Y-axis direction with respect to the base 42. It may be possible to move with the stroke. More specifically, the stage unit 40A has an X table 58. The X table 58 is linearly guided in the X-axis direction with respect to the base 42 via the X linear guide device 52, and is driven by the X linear motor 54 with a predetermined long stroke in the X-axis direction. The coarse movement stage 46 includes an X table 58 by a Y linear guide device 55 (including a Y linear guide 55a fixed to the upper surface of the X table 58 and a plurality of Y slide members 55b fixed to the lower surface of the coarse movement stage 46). In contrast, it is guided straight in the Y-axis direction. Although not shown, coarse movement stage 46 is Y-axis driven by a Y linear motor (including a Y stator fixed to the upper surface of X table 58 and a Y mover fixed to the lower surface of coarse movement stage 46). Driven with a predetermined stroke in the direction. In the stage unit 40A, the guide 44A is formed to be somewhat wider than the guide 44 of the other stage unit 40.

以下、マスクステージ装置14Aの動作を説明する。上記第1の実施形態では、図8(A)及び図8(B)に示されるように、マスクステージ装置14からマスクローダ90にマスクMを受け渡すために、一対の微動ステージ48それぞれが互いに離間する方向に駆動されたのに対し、図16(A)及び図16(B)に示されるように、マスクステージ装置14Aでは、一方のステージユニット40A側の粗動ステージ46(及びYボイスコイルモータ50yを介して微動ステージ48)がマスクMから離間する方向(−Y方向)に駆動される。また、これと併せて支持アーム96も−Y方向に(ただし粗動ステージ46の半分の移動量で)駆動される。これにより、一対の微動ステージ48の吸着保持部48bのY位置と支持アーム96のY位置とが重複しなくなり、支持アーム96を上昇駆動してマスクMをマスクステージ装置14Aから搬出することができるようになる。マスクステージ装置14Aによれば、マスクMの搬出時において粗動ステージ46に対して微動ステージ48を相対移動させないので、複数のボイスコイルモータ(50x、50y)それぞれの固定子、及び可動子間の隙間を小さくすることができ、ボイスコイルモータを小型化することができる。 Hereinafter, the operation of the mask stage apparatus 14A will be described. In the first embodiment, as shown in FIG. 8 (A) and FIG. 8 (B), for passing the mask M 1 from the mask stage unit 14 to the mask loader 90, a pair of fine movement stage 48, respectively 16A and 16B, in the mask stage apparatus 14A, the coarse movement stage 46 (and Y voice) on the one stage unit 40A side is driven. fine movement stage 48) is driven in the direction (-Y direction) away from the mask M 1 via a coil motor 5Oy. At the same time, the support arm 96 is also driven in the −Y direction (however, with a half movement amount of the coarse movement stage 46). Thus, the Y position of the suction holding portion 48b of the pair of fine movement stage 48 and the Y position of the support arm 96 is no longer overlap, that the support arm 96 to rise driven unloading the mask M 1 from the mask stage unit 14A become able to. According to the mask stage apparatus 14A, since the fine movement stage 48 with respect to coarse movement stage 46 at the time of unloading of the mask M 1 is not moved relative, a plurality of voice coil motors (50x, 5Oy) respectively of the stator, and between the mover Can be reduced, and the voice coil motor can be reduced in size.

また、図17(A)に示されるマスクステージ装置14B(第3の変形例)のように、一方(+Y側)のステージユニット40Bに一対のクランプ装置60を設けても良い。ここで、ステージユニット40Bは、図2(A)に示される上記第1の実施形態に係るマスクステージ装置14と異なり、一対のYボイスコイルモータ50yを有していない。なお、図17(A)に示されるように、一方のステージユニット40Aは、上記第2の変形例に係るマスクステージ装置14A(図15参照)と同じ構成であり、一対のYボイスコイルモータ50yを有しているので、マスクMをY軸方向、及びθz方向に微少駆動することが可能である。   Further, as in the mask stage device 14B (third modified example) shown in FIG. 17A, a pair of clamping devices 60 may be provided on one (+ Y side) stage unit 40B. Here, unlike the mask stage apparatus 14 according to the first embodiment shown in FIG. 2A, the stage unit 40B does not have a pair of Y voice coil motors 50y. As shown in FIG. 17A, one stage unit 40A has the same configuration as the mask stage device 14A according to the second modification (see FIG. 15), and a pair of Y voice coil motors 50y. Therefore, the mask M can be slightly driven in the Y-axis direction and the θz direction.

一対のクランプ装置60は、一方がXボイスコイルモータ50xの+X側、他方がXボイスコイルモータ50xの−X側に配置されているが、その構成は同じである。クランプ装置60は、図17(B)に示されるように、支持部材60aを介して粗動ステージ46に固定されたZアクチュエータ60b(例えばエアシリンダ)と、該Zアクチュエータ60bによりZ軸方向に所定のストロークで駆動されるボール60cとを備えている。また、微動ステージ48の上面であって、ボール60cに対応する位置には、凹部60dが形成されている。ステージユニット40Bでは、一対のクランプ装置60それぞれのボール60cが対応する凹部60dに挿入されることにより、粗動ステージ46と微動ステージ48とのXY平面に沿った相対移動が制限される。凹部60dは、円錐面(テーパ面)により規定されており、ボール60cと凹部60dとの位置が幾分ずれていても、容易にボール60cを凹部60dに挿入することができる。   One pair of the clamp devices 60 is arranged on the + X side of the X voice coil motor 50x and the other is arranged on the −X side of the X voice coil motor 50x, but the configuration is the same. As shown in FIG. 17B, the clamp device 60 includes a Z actuator 60b (for example, an air cylinder) fixed to the coarse movement stage 46 via a support member 60a, and a predetermined Z-axis direction by the Z actuator 60b. And a ball 60c driven by the stroke. In addition, a recess 60d is formed on the upper surface of fine movement stage 48 at a position corresponding to ball 60c. In the stage unit 40B, the relative movement of the coarse movement stage 46 and the fine movement stage 48 along the XY plane is limited by inserting the balls 60c of the pair of clamping devices 60 into the corresponding recesses 60d. The recess 60d is defined by a conical surface (tapered surface), and the ball 60c can be easily inserted into the recess 60d even if the positions of the ball 60c and the recess 60d are somewhat shifted.

マスクステージ装置14Bによれば、Xボイスコイルモータ50xを用いなくても、一対のクランプ装置60を用いて粗動ステージ46と微動ステージ48とのXY平面に沿った相対移動を制限した状態にすることで、粗動ステージ46の推力のみを用いてマスクMをX軸方向に駆動することができる。クランプ装置60は、主にマスクMを加速、及び減速する際に用い、例えば露光動作時などに微動ステージ48を等速駆動する際には、クランプ装置60をオフにし、Xボイスコイルモータ50xを用いて高精度の位置制御をすることが望ましい。これにより、複数のボイスコイルモータ(50x、50y)の出力を抑制し、該ボイスコイルモータを小型軽量化して低コスト化を図ること、及び発熱量を抑制することができる。   According to the mask stage device 14B, the relative movement of the coarse movement stage 46 and the fine movement stage 48 along the XY plane is limited using the pair of clamping devices 60 without using the X voice coil motor 50x. Thus, the mask M can be driven in the X-axis direction using only the thrust of the coarse movement stage 46. The clamp device 60 is mainly used for accelerating and decelerating the mask M. For example, when the fine movement stage 48 is driven at a constant speed during an exposure operation, the clamp device 60 is turned off and the X voice coil motor 50x is turned on. It is desirable to use the position control with high accuracy. Thereby, the output of a plurality of voice coil motors (50x, 50y) can be suppressed, the voice coil motor can be reduced in size and weight, the cost can be reduced, and the amount of generated heat can be suppressed.

また、上記一対のクランプ装置60は、図18に示されるマスクステージ装置14C(第4の変形例)のように、他方(−Y側)のステージユニット40Cに設けられていても良い。また、ステージユニット40Cの粗動ステージ46は、図15に示される上記第2の変形例に係るマスクステージ装置14Aのように、ベース42に対してY軸方向に所定のストロークで移動可能となっている。ステージユニット40Cでは、マスクMをX軸方向に加速、及び減速する際のみならず、マスク交換時に微動ステージ48をY軸方向に駆動する際にも上記一対のクランプ装置60が用いられる。また、ステージユニット40Cでは、Yボイスコイルモータ50yがひとつのみ設けられ、一対のXボイスコイルモータ50xが、上記Yボイスコイルモータ50yの両側に設けられている。微動ステージ48がθz方向に回転しないようにするため、Yボイスコイルモータ50yは、微動ステージ48の重心位置を通るY軸に平行な軸線に沿って微動ステージ48に推力を作用させること(重心駆動すること)ができるように配置することが好ましい。なお、Yボイスコイルモータ50yは、一方のステージユニット40B側に設けられても良い。   Further, the pair of clamping devices 60 may be provided on the other (−Y side) stage unit 40C as in the mask stage device 14C (fourth modification) shown in FIG. Further, the coarse movement stage 46 of the stage unit 40C can move with a predetermined stroke in the Y-axis direction with respect to the base 42, like the mask stage apparatus 14A according to the second modification shown in FIG. ing. In the stage unit 40C, the pair of clamp devices 60 are used not only when accelerating and decelerating the mask M in the X-axis direction, but also when driving the fine movement stage 48 in the Y-axis direction during mask replacement. In the stage unit 40C, only one Y voice coil motor 50y is provided, and a pair of X voice coil motors 50x are provided on both sides of the Y voice coil motor 50y. In order to prevent fine movement stage 48 from rotating in the θz direction, Y voice coil motor 50y applies a thrust to fine movement stage 48 along an axis parallel to the Y axis passing through the gravity center position of fine movement stage 48 (centroid drive). It is preferable to arrange so that it can be performed. The Y voice coil motor 50y may be provided on one stage unit 40B side.

《第2の実施形態》
次に、第2の実施形態について、図19(A)及び図19(B)を用いて説明する。本第2の実施形態に係るマスクローダ190は、上記第1の実施形態と比べ、複数の支持駒98の配置が異なる。以下、相違点についてのみ説明し、上記第1の実施形態と同じ構成及び機能を有する要素については、上記第1の実施形態と同じ符号を付してその説明を省略する。
<< Second Embodiment >>
Next, a second embodiment will be described with reference to FIGS. 19A and 19B. The mask loader 190 according to the second embodiment is different from the first embodiment in the arrangement of the plurality of support pieces 98. Hereinafter, only differences will be described, and elements having the same configuration and functions as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals as those of the first embodiment, and description thereof is omitted.

上記第1の実施形態において、図5(C)に示されるように、マスクローダ90の複数の支持駒98は、マスクMの幅方向両端部(図5(C)では+Y側、及び−Y側)に形成された余白領域を下方から支持したのに対し、本第2の実施形態では、図19(A)及び図19(B)に示されるように、マスクMの長手方向両端部(図19(A)及び図19(B)では+X側、及び−X側)に形成された余白領域が、複数の支持駒98に下方から支持される。すなわち、支持アーム196を構成する一対の棒状部材196aの一側、及び他側の端部近傍それぞれには、一対の支持駒98がX軸方向に所定間隔で固定されている。一対の支持駒98のX軸方向に関する間隔は、マスクMの長手方向両端部に形成された余白領域を下方から支持できるように、マスクMの長手方向の寸法よりも短く、且つペリクル(図19(A)及び図19(B)では不図示。図2(A)参照)の長手方向の寸法よりも長く設定されている。支持駒98の高さは、ペリクルPeの厚みよりも高く設定される。マスクローダ190を用いたマスクMの交換動作については、上記第1の実施形態と同じであるので説明を省略する。   In the first embodiment, as shown in FIG. 5C, the plurality of support pieces 98 of the mask loader 90 are arranged at both ends in the width direction of the mask M (on the + Y side in FIG. 5C and −Y). In the second embodiment, as shown in FIGS. 19 (A) and 19 (B), both end portions of the mask M in the longitudinal direction (as shown in FIGS. 19A and 19B) are supported. The blank areas formed on the + X side and the −X side in FIGS. 19A and 19B are supported by the plurality of support pieces 98 from below. That is, a pair of support pieces 98 are fixed at predetermined intervals in the X-axis direction on one side of the pair of rod-shaped members 196a constituting the support arm 196 and in the vicinity of the other end portions. The distance between the pair of support pieces 98 in the X-axis direction is shorter than the size in the longitudinal direction of the mask M so that the blank areas formed at both ends in the longitudinal direction of the mask M can be supported from below, and the pellicle (FIG. 19). (A) and FIG. 19B (not shown; see FIG. 2A)) are set longer than the longitudinal dimension. The height of the support piece 98 is set higher than the thickness of the pellicle Pe. The replacement operation of the mask M using the mask loader 190 is the same as that in the first embodiment, and a description thereof will be omitted.

本第2の実施形態によれば、上記第1の実施形態と同様の効果に加え、微動ステージ148に支持駒98を挿入するための切り欠きを形成する必要がない(微動ステージ148を櫛歯状に形成する必要がない。ただし、櫛歯状でも良い)。また、粗動ステージ46(図19では不図示。図2(A)参照)に対して微動ステージ148をY軸方向に長ストロークで相対移動させないので、マスク交換時間を短縮できるとともに、複数のボイスコイルモータ(図19(A)及び図19(B)では不図示)それぞれの固定子、及び可動子間のY軸方向に関する隙間を小さくすることができる。従って、ボイスコイルモータを小型化、低コスト化することができる。また、本第2の実施形態では、マスクローダ190の支持アーム196を構成する棒状部材196aは、必ずしも2本である必要はなく、例えば1本でも良いし、3本以上でも良い。また、棒状部材196aの太さは、余白領域の幅を考慮する必要がないので、上記第1実施形態よりも太くすることができる。   According to the second embodiment, in addition to the same effects as those of the first embodiment, it is not necessary to form a notch for inserting the support piece 98 in the fine movement stage 148 (the fine movement stage 148 is comb-toothed). It is not necessary to form it in a shape, but it may be in a comb shape). Further, since the fine movement stage 148 is not moved relative to the coarse movement stage 46 (not shown in FIG. 19; see FIG. 2A) with a long stroke in the Y-axis direction, the mask exchange time can be shortened and a plurality of voices can be shortened. A gap in the Y-axis direction between the stator and the movable element of each of the coil motors (not shown in FIGS. 19A and 19B) can be reduced. Therefore, the voice coil motor can be reduced in size and cost. In the second embodiment, the number of rod-shaped members 196a constituting the support arm 196 of the mask loader 190 is not necessarily two, and may be one, for example, or three or more. Further, the thickness of the rod-shaped member 196a does not need to consider the width of the blank area, and can be made thicker than in the first embodiment.

《第3の実施形態》
次に、第3の実施形態について、図20を用いて説明する。本第3の実施形態に係るマスクステージ装置214は、上記第1の実施形態と比べ、複数の押圧部材62を有している点が異なる。以下、相違点についてのみ説明し、上記第1の実施形態と同じ構成及び機能を有する要素については、上記第1の実施形態と同じ符号を付してその説明を省略する。
<< Third Embodiment >>
Next, a third embodiment will be described with reference to FIG. The mask stage device 214 according to the third embodiment is different from the first embodiment in that it has a plurality of pressing members 62. Hereinafter, only differences will be described, and elements having the same configuration and functions as those of the first embodiment are denoted by the same reference numerals as those of the first embodiment, and description thereof is omitted.

押圧部材62は、一方、及び他方のステージユニット240それぞれに一対設けられている。また、ステージユニット240において、粗動ステージ246のX軸方向の寸法は、微動ステージ48のX軸方向の寸法よりも幾分長く設定されている。一対の押圧部材62は、一方が粗動ステージ246の+X側の端部に固定され、他方が粗動ステージ246の−X側の端部に固定されている。押圧部材62は、一端部が粗動ステージ246に固定されるとともに、他端部がガイド44の上方に延びており、微動ステージ48は、一対の押圧部材62間に挿入されている。一対の押圧部材62それぞれと微動ステージ48との間には、所定のクリアランスが形成されている。粗動ステージ246と微動ステージ48との間隔は、不図示のセンサ(位置センサ、あるいは力センサなど)により常時計測され、通常の露光動作時などにおいて、微動ステージ48と押圧部材62とが当接しないように位置制御が行われる。   A pair of pressing members 62 is provided for each of the one and the other stage units 240. In the stage unit 240, the dimension of the coarse movement stage 246 in the X-axis direction is set to be slightly longer than the dimension of the fine movement stage 48 in the X-axis direction. One of the pair of pressing members 62 is fixed to the + X side end of the coarse movement stage 246, and the other is fixed to the −X side end of the coarse movement stage 246. The pressing member 62 has one end fixed to the coarse movement stage 246 and the other end extending above the guide 44, and the fine movement stage 48 is inserted between the pair of pressing members 62. A predetermined clearance is formed between each of the pair of pressing members 62 and the fine movement stage 48. The interval between the coarse movement stage 246 and the fine movement stage 48 is always measured by a sensor (not shown) (position sensor, force sensor, etc.), and the fine movement stage 48 and the pressing member 62 come into contact with each other during a normal exposure operation. Position control is performed so as not to.

押圧部材62は、微動ステージ48を重心駆動することができるようにY位置が設定されている。マスクステージ装置214では、図17(A)に示される複数のクランプ装置60を備えたマスクステージ装置14B(第3の変形例)と同様に、マスクMの加減速時に押圧部材62を介して粗動ステージ246が微動ステージ48を押圧することができるので、Xボイスコイルモータ50xを用いなくても良く、効率が良い。   The pressing member 62 is set at the Y position so that the fine movement stage 48 can be driven at the center of gravity. In the mask stage device 214, similarly to the mask stage device 14B (third modified example) provided with a plurality of clamping devices 60 shown in FIG. Since the moving stage 246 can press the fine moving stage 48, it is not necessary to use the X voice coil motor 50x, which is efficient.

また、微動ステージ48の粗動ステージ246に対するX軸方向の相対移動可能範囲が一対の押圧部材62により規定されることから、一対の押圧部材62は、ストッパ装置としても機能し、なんらかのトラブルで微動ステージ48のX位置を制御することができなくなった場合であっても、マスクMの暴走を抑制することができる。   In addition, since the relative movable range of the fine movement stage 48 in the X-axis direction with respect to the coarse movement stage 246 is defined by the pair of pressing members 62, the pair of pressing members 62 also function as a stopper device, and may be finely moved due to some trouble. Even when the X position of the stage 48 cannot be controlled, the runaway of the mask M can be suppressed.

《第4の実施形態》
次に、第4の実施形態について、図21を用いて説明する。本第4の実施形態に係るマスクステージ装置314は、上記第3の実施形態(図20参照)と比べ、マスキングブレード装置70を有している点が異なる。以下、相違点についてのみ説明し、上記第3の実施形態と同じ構成及び機能を有する要素については、上記第3の実施形態と同じ符号を付してその説明を省略する。
<< Fourth Embodiment >>
Next, a fourth embodiment will be described with reference to FIG. The mask stage device 314 according to the fourth embodiment is different from the third embodiment (see FIG. 20) in that it has a masking blade device 70. Hereinafter, only differences will be described, and elements having the same configuration and function as those of the third embodiment are denoted by the same reference numerals as those of the third embodiment, and description thereof is omitted.

マスキングブレード装置70は、一対のブレード72(ブラインドなどとも称される)、及び一対のブレード駆動装置74を含む。一対のブレード駆動装置74の一方は、一方の粗動ステージ246上に載置され、他方のブレード駆動装置74は、他方の粗動ステージ246上に載置されている。一対のブレード72は、一対のブレード駆動装置74間に架設されている。ブレード72は、Y軸方向に延びる部材から成り、マスクM、複数のボイスコイルモータ(50x、50y)よりも上方の空間に配置されている。一対のブレード72それぞれは、一対のブレード駆動装置74により独立にX軸方向に駆動される。マスクステージ装置314では、一対のブレード72のX位置が適宜制御されることにより、露光用照明光IL(図1参照)がマスクM上の所望しない領域に照射されることを防止する。また、マスク交換動作時には、一対のブレード72をマスクMよりも+X側に退避させておくことができるように、一対のブレード駆動装置74の長さが設定されている。マスキングブレード装置70は、一対の粗動ステージ246上に載置されているので、一対の微動ステージ48(すなわちマスクM)の位置制御性を損なうことがない。なお、マスキングブレード装置70は、上記第1(第1〜第4の変形例を含む。)、第2の実施形態に係るマスクステージ装置に適用することも可能である。   The masking blade device 70 includes a pair of blades 72 (also referred to as blinds) and a pair of blade driving devices 74. One of the pair of blade driving devices 74 is placed on one coarse movement stage 246, and the other blade driving device 74 is placed on the other coarse movement stage 246. The pair of blades 72 is installed between the pair of blade driving devices 74. The blade 72 is made of a member extending in the Y-axis direction, and is disposed in a space above the mask M and the plurality of voice coil motors (50x, 50y). Each of the pair of blades 72 is independently driven in the X-axis direction by a pair of blade driving devices 74. In the mask stage device 314, the X position of the pair of blades 72 is appropriately controlled to prevent the exposure illumination light IL (see FIG. 1) from being irradiated onto an undesired region on the mask M. Further, the length of the pair of blade driving devices 74 is set so that the pair of blades 72 can be retracted to the + X side from the mask M during the mask replacement operation. Since the masking blade device 70 is placed on the pair of coarse movement stages 246, the position controllability of the pair of fine movement stages 48 (that is, the mask M) is not impaired. The masking blade device 70 can also be applied to the mask stage devices according to the first (including the first to fourth modifications) and second embodiments.

なお、以上説明した第1〜第4の実施形態(第1〜第4の変形例を含む。以下同じ)の構成は、適宜変更可能である。例えば一対の粗動ステージ46(あるいは246)は、走査方向に直交する方向(Y軸方向)にX軸方向への移動可能ストロークに比べて短いストロークで移動可能に構成されていても良い。この場合、例えば米国特許第8,159,649号明細書に開示されるような、2種類のマスクパターンが形成されたマスクを適宜Y軸方向にステップ移動させることにより、マスク交換を行うことなく上記2種類のマスクパターンを選択的に基板に転写することが可能な露光装置にも、上記第1〜第4の実施形態に係るマスクステージ装置を適用することができる。   Note that the configurations of the first to fourth embodiments described above (including the first to fourth modifications. The same applies hereinafter) can be changed as appropriate. For example, the pair of coarse movement stages 46 (or 246) may be configured to be movable in a direction shorter than the movable stroke in the X-axis direction in the direction orthogonal to the scanning direction (Y-axis direction). In this case, for example, as disclosed in US Pat. No. 8,159,649, a mask on which two types of mask patterns are formed is moved stepwise in the Y-axis direction without changing the mask. The mask stage apparatus according to the first to fourth embodiments can also be applied to an exposure apparatus that can selectively transfer the two types of mask patterns to the substrate.

また、Xボイスコイルモータ50xとYボイスコイルモータ50yとが個別に配置されたが、これに限られずひとつの固定子とひとつの可動子とでX軸方向、及び/又はY軸方向に任意に推力を発生することができる、いわゆる2DOFボイスコイルモータを用いても良い。   Further, the X voice coil motor 50x and the Y voice coil motor 50y are individually arranged. However, the present invention is not limited to this, and any one stator and one mover can be arbitrarily set in the X axis direction and / or the Y axis direction. A so-called 2DOF voice coil motor that can generate thrust may be used.

また、微動ステージ48(あるいは148)におけるガイド44との対向面にエアベアリング(不図示)用の孔部とは別の孔部を形成するとともに、該別の孔部を用いて微動ステージ48とガイド44との間の気体を真空吸引させ、微動ステージ48に−Z方向の弱い負荷を作用させても良い。これにより、微動ステージ48の姿勢を安定させることができる。なお、ガイド44を磁性材料により形成するとともに、微動ステージ48に磁石を取り付けることによって同様に微動ステージ48に−Z方向の弱い負荷を作用させても良い。   Further, a hole other than an air bearing (not shown) hole is formed on the surface of the fine movement stage 48 (or 148) facing the guide 44, and the fine movement stage 48 is formed using the other hole. The gas between the guide 44 and the guide 44 may be vacuumed to apply a weak load in the −Z direction to the fine movement stage 48. Thereby, the attitude | position of the fine movement stage 48 can be stabilized. The guide 44 may be formed of a magnetic material, and a weak load in the −Z direction may be similarly applied to the fine movement stage 48 by attaching a magnet to the fine movement stage 48.

また、マスクローダ90は、支持アーム96(あるいは196)をX軸方向に駆動できるようになっていても良い。この場合、マスクMがマスク交換位置に位置した状態で、支持アーム96をマスクの下方にX軸方向から侵入させることができる。また、マスクストッカ100からマスクステージ装置14へのマスク搬送経路の途中には、マスクM上に付着したダストを検査したり、マスクMに付着したダストをふるい落としたりするなどの処理装置を介在させても良いし、マスクMを仮置きする置き台などを設けても良い。   The mask loader 90 may be configured to drive the support arm 96 (or 196) in the X-axis direction. In this case, with the mask M positioned at the mask replacement position, the support arm 96 can be entered below the mask from the X-axis direction. Further, in the middle of the mask conveyance path from the mask stocker 100 to the mask stage device 14, a processing device such as inspecting dust adhering to the mask M or sieving dust adhering to the mask M is interposed. Alternatively, a table for temporarily placing the mask M may be provided.

また、照明光は、ArFエキシマレーザ光(波長193nm)、KrFエキシマレーザ光(波長248nm)などの紫外光や、F2レーザ光(波長157nm)などの真空紫外光であっても良い。また、照明光としては、例えばDFB半導体レーザ又はファイバーレーザから発振される赤外域、又は可視域の単一波長レーザ光を、例えばエルビウム(又はエルビウムとイッテルビウムの両方)がドープされたファイバーアンプで増幅し、非線形光学結晶を用いて紫外光に波長変換した高調波を用いても良い。また、固体レーザ(波長:355nm、266nm)などを使用しても良い。 The illumination light may be ultraviolet light such as ArF excimer laser light (wavelength 193 nm), KrF excimer laser light (wavelength 248 nm), or vacuum ultraviolet light such as F 2 laser light (wavelength 157 nm). As the illumination light, for example, a single wavelength laser beam oscillated from a DFB semiconductor laser or a fiber laser is amplified by a fiber amplifier doped with, for example, erbium (or both erbium and ytterbium). In addition, harmonics converted into ultraviolet light using a nonlinear optical crystal may be used. A solid laser (wavelength: 355 nm, 266 nm) or the like may be used.

また、投影光学系16が複数本の光学系を備えたマルチレンズ方式の投影光学系である場合について説明したが、投影光学系の本数はこれに限らず、1本以上あれば良い。また、マルチレンズ方式の投影光学系に限らず、オフナー型の大型ミラーを用いた投影光学系などであっても良い。また、投影光学系16としては、拡大系、又は縮小系であっても良い。   Although the case where the projection optical system 16 is a multi-lens projection optical system including a plurality of optical systems has been described, the number of projection optical systems is not limited to this, and one or more projection optical systems may be used. The projection optical system is not limited to a multi-lens projection optical system, and may be a projection optical system using an Offner type large mirror. Further, the projection optical system 16 may be an enlargement system or a reduction system.

また、露光装置の用途としては角型のガラスプレートに液晶表示素子パターンを転写する液晶用の露光装置に限定されることなく、例えば有機EL(Electro-Luminescence)パネル製造用の露光装置、半導体製造用の露光装置、薄膜磁気ヘッド、マイクロマシン及びDNAチップなどを製造するための露光装置にも広く適用できる。また、半導体素子などのマイクロデバイスだけでなく、光露光装置、EUV露光装置、X線露光装置、及び電子線露光装置などで使用されるマスク又はレチクルを製造するために、ガラス基板又はシリコンウエハなどに回路パターンを転写する露光装置にも適用できる。   Further, the use of the exposure apparatus is not limited to the exposure apparatus for liquid crystal that transfers the liquid crystal display element pattern onto the square glass plate. For example, the exposure apparatus for manufacturing an organic EL (Electro-Luminescence) panel, the semiconductor manufacture The present invention can also be widely applied to an exposure apparatus for manufacturing an exposure apparatus, a thin film magnetic head, a micromachine, a DNA chip, and the like. Moreover, in order to manufacture not only microdevices such as semiconductor elements but also masks or reticles used in light exposure apparatuses, EUV exposure apparatuses, X-ray exposure apparatuses, electron beam exposure apparatuses, etc., glass substrates, silicon wafers, etc. The present invention can also be applied to an exposure apparatus that transfers a circuit pattern.

また、露光対象となる物体はガラスプレートに限られず、例えばウエハ、セラミック基板、フィルム部材、あるいはマスクブランクスなど、他の物体でも良い。また、露光対象物がフラットパネルディスプレイ用の基板である場合、その基板の厚さは特に限定されず、例えばフィルム状(可撓性を有するシート状の部材)のものも含まれる。なお、本実施形態の露光装置は、一辺の長さ、又は対角長が500mm以上の基板が露光対象物である場合に特に有効である。   The object to be exposed is not limited to a glass plate, and may be another object such as a wafer, a ceramic substrate, a film member, or mask blanks. Moreover, when the exposure target is a substrate for a flat panel display, the thickness of the substrate is not particularly limited, and includes, for example, a film-like (flexible sheet-like member). The exposure apparatus of the present embodiment is particularly effective when a substrate having a side length or diagonal length of 500 mm or more is an exposure target.

液晶表示素子(あるいは半導体素子)などの電子デバイスは、デバイスの機能・性能設計を行うステップ、この設計ステップに基づいたマスク(あるいはレチクル)を製作するステップ、ガラス基板(あるいはウエハ)を製作するステップ、上述した各実施形態の露光装置、及びその露光方法によりマスク(レチクル)のパターンをガラス基板に転写するリソグラフィステップ、露光されたガラス基板を現像する現像ステップ、レジストが残存している部分以外の部分の露出部材をエッチングにより取り去るエッチングステップ、エッチングが済んで不要となったレジストを取り除くレジスト除去ステップ、デバイス組み立てステップ、検査ステップ等を経て製造される。この場合、リソグラフィステップで、上記実施形態の露光装置を用いて前述の露光方法が実行され、ガラス基板上にデバイスパターンが形成されるので、高集積度のデバイスを生産性良く製造することができる。   For electronic devices such as liquid crystal display elements (or semiconductor elements), the step of designing the function and performance of the device, the step of producing a mask (or reticle) based on this design step, and the step of producing a glass substrate (or wafer) A lithography step for transferring a mask (reticle) pattern to a glass substrate by the exposure apparatus and the exposure method of each embodiment described above, a development step for developing the exposed glass substrate, and a portion where the resist remains. It is manufactured through an etching step for removing the exposed member of the portion by etching, a resist removing step for removing a resist that has become unnecessary after etching, a device assembly step, an inspection step, and the like. In this case, in the lithography step, the above-described exposure method is executed using the exposure apparatus of the above embodiment, and a device pattern is formed on the glass substrate. Therefore, a highly integrated device can be manufactured with high productivity. .

以上説明したように、本発明の物体搬送装置は、所定のパターンが形成された物体の搬送に適している。また、本発明の露光装置は、露光対象物体に所定のパターンを形成するのに適している。また、本発明のフラットパネルディスプレイの製造方法は、フラットパネルディスプレイの生産に適している。また、本発明のデバイス製造方法は、マイクロデバイスの生産に適している。   As described above, the object conveying apparatus of the present invention is suitable for conveying an object on which a predetermined pattern is formed. The exposure apparatus of the present invention is suitable for forming a predetermined pattern on an exposure target object. Moreover, the manufacturing method of the flat panel display of this invention is suitable for production of a flat panel display. The device manufacturing method of the present invention is suitable for the production of micro devices.

10…液晶露光装置、14…マスクステージ装置、20…基板ステージ装置、40…ステージユニット、46…粗動ステージ、48…微動ステージ、90…マスクローダ、100…マスクストッカ、M…マスク、P…基板。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Liquid crystal exposure apparatus, 14 ... Mask stage apparatus, 20 ... Substrate stage apparatus, 40 ... Stage unit, 46 ... Coarse movement stage, 48 ... Fine movement stage, 90 ... Mask loader, 100 ... Mask stocker, M ... Mask, P ... substrate.

Claims (12)

所定パターンが形成された物体の所定方向に関する一端部を保持する第1移動体と、
前記物体の前記所定方向に関する他端部を保持する第2移動体と、
前記所定方向に関して、前記第1移動体と前記第2移動体とが互いに離れる方向へ相対移動させる駆動部と、
前記所定方向に関して前記第1移動体と前記第2移動体との間に位置し、前記第1及び第2移動体の相対移動により前記第1及び第2移動体による前記物体の保持が解除された前記物体を支持する搬送部と、を備える物体搬送装置。
A first moving body that holds one end of the object on which a predetermined pattern is formed in a predetermined direction;
A second moving body that holds the other end of the object in the predetermined direction;
A drive unit that relatively moves the first moving body and the second moving body away from each other with respect to the predetermined direction;
The object is held by the first and second moving bodies by the relative movement of the first and second moving bodies, which is located between the first moving body and the second moving body with respect to the predetermined direction. And a transport unit that supports the object.
前記搬送部は、前記物体とは異なる別の物体を支持する状態で前記第1移動体と前記第2移動体との間に位置し、
前記駆動部は、前記搬送部から前記別の物体を受け取るように、前記所定方向に関して、前記第1移動体と前記第2移動体とが互いに接近方向へ相対移動させる請求項1に記載の物体搬送装置。
The transport unit is positioned between the first moving body and the second moving body in a state of supporting another object different from the object;
2. The object according to claim 1, wherein the driving unit causes the first moving body and the second moving body to move relative to each other in an approaching direction with respect to the predetermined direction so as to receive the another object from the transport unit. Conveying device.
前記搬送部は、前記物体と前記別の物体を下方から支持する請求項2に記載の物体搬送装置。   The object transport apparatus according to claim 2, wherein the transport unit supports the object and the another object from below. 前記搬送部は、前記物体を保持する第1保持部と、前記別の物体を保持する第2保持部とを有し、
前記第1移動体と前記第2移動体とから受け取った前記物体を保持する前記第1保持部の位置に、前記別の物体を保持する前記第2保持部が位置するように、前記第1保持部と前記第2保持部とを移動させる駆動装置を備える請求項2又は3に記載の物体搬送装置。
The transport unit includes a first holding unit that holds the object, and a second holding unit that holds the another object,
The first holding unit is configured such that the second holding unit that holds the other object is positioned at the position of the first holding unit that holds the object received from the first moving body and the second moving body. The object conveying apparatus according to claim 2, further comprising a driving device that moves the holding unit and the second holding unit.
前記第1移動体を非接触支持する第1ガイド部と、
前記第2移動体を非接触支持する第2ガイド部と、を備え、
前記駆動部は、前記第1ガイド部に対して前記第1移動体を前記所定方向へ相対移動させ、前記第2ガイド部に対して前記第2移動体を前記所定方向へ相対移動させる請求項1〜4のいずれか一項に記載の物体搬送装置。
A first guide part that supports the first moving body in a non-contact manner;
A second guide portion that supports the second moving body in a non-contact manner,
The drive unit moves the first moving body relative to the first guide part in the predetermined direction, and moves the second moving body relative to the second guide part in the predetermined direction. The object conveyance apparatus as described in any one of 1-4.
前記駆動部は、前記搬送部の両側に前記第1移動体と前記第2移動体とが位置するように、前記第1ガイド部に対して前記第1移動体を前記所定方向と交差する交差方向へ相対移動させ、前記第2ガイド部に対して前記第2移動体を前記交差方向へ相対移動させる請求項5に記載の物体搬送装置。   The driving unit intersects the first moving body with the predetermined direction with respect to the first guide unit so that the first moving body and the second moving body are positioned on both sides of the transport unit. The object conveying apparatus according to claim 5, wherein the second moving body is relatively moved in the intersecting direction with respect to the second guide portion. 前記第1移動体と前記第2移動体とは、前記所定方向と前記交差方向とへ、それぞれ独立して移動可能である請求項6に記載の物体搬送装置。   The object transport apparatus according to claim 6, wherein the first moving body and the second moving body are independently movable in the predetermined direction and the intersecting direction. 請求項1〜7のいずれか一項に記載の物体搬送装置と、
露光対象物体を保持し、前記露光対象物体に前記所定パターンが露光されるよう、前記露光対象物体を移動させる移動体と、を備える露光装置。
The object conveying device according to any one of claims 1 to 7,
An exposure apparatus comprising: a moving body that holds an exposure target object and moves the exposure target object so that the predetermined pattern is exposed to the exposure target object.
前記露光対象物体は、フラットパネルディスプレイに用いられる基板である請求項8に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 8, wherein the object to be exposed is a substrate used for a flat panel display. 前記基板は、少なくとも一辺の長さ又は対角長が500mm以上である請求項9に記載の露光装置。   The exposure apparatus according to claim 9, wherein the substrate has a length of at least one side or a diagonal length of 500 mm or more. 請求項8又は9に記載の露光装置を用いて前記露光対象物体を露光することと、
露光された前記露光対象物体を現像することと、を含むフラットパネルディスプレイの製造方法。
Exposing the object to be exposed using the exposure apparatus according to claim 8 or 9,
Developing the exposed object to be exposed, and manufacturing a flat panel display.
請求項8〜10のいずれか一項に記載の露光装置を用いて前記露光対象物体を露光することと、
露光された前記露光対象物体を現像することと、を含むデバイス製造方法。
Exposing the object to be exposed using the exposure apparatus according to any one of claims 8 to 10,
And developing the exposed object to be exposed.
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