JP2019117130A - 透過型光電センサ - Google Patents
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Abstract
Description
そして、投光器から出力されるレーザ光を受光器で受光し、その受光レベルをコントローラで判定することにより、投光器と受光器との間で搬送される被検査物の変位が検出される。
特許文献1,2には、透過型光電センサの光軸ずれを検出する構成が開示されているが、光軸ずれを補正する機能は開示されていない。
また、上記の透過型光電センサでは、前記コントローラは、前記受光素子の前記受光可能領域の中から、前記ライン光を基準レベル以上の受光レベルで受光する受光領域を検出し、該受光領域の範囲内であらかじめ設定された範囲の有効領域を設定する第一の設定手段を備えることが好ましい。
また、上記の透過型光電センサでは、前記コントローラは、前記有効領域の範囲を調整する第二の設定手段を備えることが好ましい。
また、上記の透過型光電センサでは、前記コントローラは、前記受光領域のエッジを検出するエッジ検出手段と、検出された前記エッジを前記有効領域から除外するように設定する第三の設定手段を備えることが好ましい。
また、上記の透過型光電センサでは、前記コントローラは、前記有効領域が前記受光可能領域内に収まらないとき、エラーを表示するエラー表示手段を備えることが好ましい。
また、上記の透過型光電センサでは、前記受光器に、前記ライン光を取り込んで前記受光素子に供給する受光窓を備え、前記受光素子の前記一次元方向の中心を、前記受光窓の前記一次元方向の中心に対しオフセットし、前記コントローラは、前記受光窓の端部との距離が近い前記受光素子の一方の端部に位置する前記受光セルから受光信号を順次読み出す。
図1に示す透過型光電センサは、投光器1と、受光器2と、コントローラ3を備える。投光器1及び受光器2は、同一の外形寸法を備えたケース4,5を備える。ケース4,5は、例えば厚さが10mmの直方体で形成され、その直方体の対角位置の隅部において、ケース4,5を厚さ方向に貫通する取付孔6を備えている。そして、取付孔6に挿通されるネジにより、ケース4,5の厚さ方向の一方の側面4a,5aが取付面にそれぞれ固定される。ケース4,5を固定する投光器側設置面及び受光器側設置面は、同一面の一部をなす平面である。
図3に示すように、受光器2のケース5内には、レーザ光を受光する受光素子9が受光窓8に沿って取付けられている。受光素子9は、CMOSによって構成される。レーザ光を受光可能とした受光素子9の受光可能領域ARpは、受光窓8の長手方向の幅より広く形成され、その受光可能領域ARpの長手方向の中心位置Xは、受光窓8の長手方向の中心Yとは一致しない。図3においては、受光領域の長手方向の中心位置Xが受光窓8の長手方向の中心Yより下方にオフセットされ、受光素子9の一方の端部9a(図3においては上端)と受光窓8の上端との距離D1が受光素子9の他方の端部9b(図3においては下端)と受光窓8の下端との距離D2より短くなっている。
図6は、透過型光電センサを設置位置に設置して測定動作を開始するまでの手順を示す。
次に、ステップ1の光軸調整処理について説明する。
次いで、CPU23は受光レベルRLが基準レベルSを超えるセル位置P1を特定し、セル位置P1からあらかじめ設定した所定数X1のセルを隔てたセル位置P2を特定する。
また、CPU23は上記光軸調整処理に先立って、有効領域AR2の範囲、すなわちセル数を任意に設定する機能を備えている。
次いで、CPU23は現在設定されている有効領域AR2のセル数、すなわち上記の所定数X2を表示する。この状態から、upキー14あるいはdownキー15を操作すると、所定数X2が増減される。
(1)受光素子9の受光可能領域ARpが、投光器1の投光幅Aより広いので、投光器1及び受光器2をネジで取付面に固定する際に、その固定位置のずれにより、投光素子と受光素子9の光軸が、投光素子及び受光素子9の延びる一次元方向にずれても、投光幅Aが受光素子9の受光可能領域ARpの範囲内に収まり易い。従って、投光器1と受光器2の固定位置の再調整、すなわち光軸の再調整が必要となる可能性を低くすることができる。
・投光器1及び受光器2をネジ以外の固定手段で設置面に固定してもよい。
・投光器1から出力される光は、レーザ光以外の光としてもよい。
・投光素子から出力されるライン状の光は、一次元のみならず、僅かな幅を持った帯状の光も含まれる。
・投光器1と受光器2の外形寸法は同一でなくてもよい。
Claims (6)
- 投光器側設置面に固定手段で固定され、前記投光器側設置面に沿う一次元方向のライン光を出力する投光器と、
前記投光器側設置面と同一面方向に延設される受光器側設置面に固定手段で固定され、前記投光器から出力される前記ライン光を、該ライン光と同方向の一次元方向に受光可能な多数の受光セルを備えた受光素子で受光する受光器と、
前記受光素子で受光した前記ライン光の受光レベルに基づいて、前記投光器と前記受光器との間に位置する被検査物の変位を検出するコントローラと
を備えた透過型光電センサにおいて、
前記受光素子は、前記投光器から出力される前記ライン光の投光幅を含み、該投光幅より広い幅の受光可能領域を備えたことを特徴とする透過型光電センサ。 - 請求項1に記載の透過型光電センサにおいて、
前記コントローラは、
前記受光素子の前記受光可能領域の中から、前記ライン光を基準レベル以上の受光レベルで受光する受光領域を検出し、該受光領域の範囲内であらかじめ設定された範囲の有効領域を設定する第一の設定手段を備えたことを特徴とする透過型光電センサ。 - 請求項2に記載の透過型光電センサにおいて、
前記コントローラは、
前記有効領域の範囲を調整する第二の設定手段を備えたことを特徴とする透過型光電センサ。 - 請求項2又は3に記載の透過型光電センサにおいて、
前記コントローラは、
前記受光領域のエッジを検出するエッジ検出手段と、
検出された前記エッジを前記有効領域から除外するように設定する第三の設定手段を備えたことを特徴とする透過型光電センサ。 - 請求項3又は4に記載の透過型光電センサにおいて、
前記コントローラは、
前記有効領域が前記受光可能領域内に収まらないとき、エラーを表示するエラー表示手段を備えたことを特徴とする透過型光電センサ。 - 請求項1乃至5のいずれか1項に記載の透過型光電センサにおいて、
前記受光器に、前記ライン光を取り込んで前記受光素子に供給する受光窓を備え、前記受光素子の前記一次元方向の中心を、前記受光窓の前記一次元方向の中心に対しオフセットし、前記コントローラは、前記受光窓の端部との距離が近い前記受光素子の一方の端部に位置する前記受光セルから受光信号を順次読み出すことを特徴とする透過型光電センサ。
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Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6461603A (en) * | 1987-09-02 | 1989-03-08 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Method and device for detecting camber of beltlike body |
JPH05296717A (ja) * | 1992-04-22 | 1993-11-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 2次元位置検出装置 |
JPH10239024A (ja) * | 1997-02-26 | 1998-09-11 | Omron Corp | 光学式計測装置 |
JP2002335006A (ja) * | 2001-05-09 | 2002-11-22 | Toshiba Corp | 反射型光センサ |
JP2008275462A (ja) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Omron Corp | 位置寸法測定装置 |
JP2009002701A (ja) * | 2007-06-19 | 2009-01-08 | Yamatake Corp | エッジ検出装置及びエッジ検出装置用ラインセセンサ |
JP2010286244A (ja) * | 2009-06-09 | 2010-12-24 | Keyence Corp | 透過型寸法測定装置 |
WO2011147385A2 (en) * | 2010-05-28 | 2011-12-01 | Petr Perner | Method and device for continuous detection of the thickness and/or homogeneity of linear objects, particularly textile fibres, and their application |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0583981U (ja) * | 1992-04-20 | 1993-11-12 | 竹中エンジニアリング株式会社 | 反射型光電スイッチ |
JP5410137B2 (ja) * | 2009-03-31 | 2014-02-05 | パナソニック デバイスSunx株式会社 | 光電センサ |
JP5507879B2 (ja) * | 2009-04-24 | 2014-05-28 | 株式会社キーエンス | 透過型寸法測定装置 |
JP6285376B2 (ja) | 2015-02-19 | 2018-02-28 | アズビル株式会社 | エッジ検出装置 |
CN205561758U (zh) * | 2016-02-19 | 2016-09-07 | 深圳市意普兴科技有限公司 | 红外测量装置 |
-
2017
- 2017-12-27 JP JP2017251636A patent/JP2019117130A/ja active Pending
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Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6461603A (en) * | 1987-09-02 | 1989-03-08 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | Method and device for detecting camber of beltlike body |
JPH05296717A (ja) * | 1992-04-22 | 1993-11-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 2次元位置検出装置 |
JPH10239024A (ja) * | 1997-02-26 | 1998-09-11 | Omron Corp | 光学式計測装置 |
JP2002335006A (ja) * | 2001-05-09 | 2002-11-22 | Toshiba Corp | 反射型光センサ |
JP2008275462A (ja) * | 2007-04-27 | 2008-11-13 | Omron Corp | 位置寸法測定装置 |
JP2009002701A (ja) * | 2007-06-19 | 2009-01-08 | Yamatake Corp | エッジ検出装置及びエッジ検出装置用ラインセセンサ |
JP2010286244A (ja) * | 2009-06-09 | 2010-12-24 | Keyence Corp | 透過型寸法測定装置 |
WO2011147385A2 (en) * | 2010-05-28 | 2011-12-01 | Petr Perner | Method and device for continuous detection of the thickness and/or homogeneity of linear objects, particularly textile fibres, and their application |
Also Published As
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