JP2019105640A - 排ガス分析システム及び排ガス分析方法 - Google Patents

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Abstract

【課題】システムを大掛かりなものや高価なものにすることなく、排ガスに含まれる粒子状物質を精度良く分析できるようにする。【解決手段】内燃機関の排ガスが導入される排ガス流路L1と、排ガス流路L1から分岐する分岐流路L2と、排ガス流路L1における分岐流路L2の分岐箇所Xよりも下流に設けられて、排ガスに含まれる粒子状物質を測定する第1分析装置30aと、分岐流路L2に設けられて排ガスに含まれる粒子状物質を測定する第2分析装置30bと、第1分析装置30aを温調する温調機構10とを具備するようにした。【選択図】図1

Description

本発明は、内燃機関の排ガスを分析する排ガス分析システム及び排ガス分析方法に関するものである。
従来、排ガスに含まれる粒子状物質を分析する排ガス分析システムとしては、特許文献1に示すように、すす(soot)を測定するsoot測定系と、有機溶媒可溶性成分(SOF:Soluble Organic Fraction)を測定するSOF測定系とを備えたものがある。
soot測定系では、sootを測定するための拡散荷電センサ(DCS:Diffusion Charger Sensor)が用いられており、サンプリングした排ガスを加熱してSOFを揮発させた後、その排ガスを配管を介してDCSに導くようにしている。
しかしながら、上述した構成では、排ガスがDCSに至る配管やDCSの内部で冷やされてしまい、排ガスに含まれるSOFが凝縮してしまうので、sootを精度良く分析することはできない。
さらに、上述した構成では、sootとSOFとを測定すべくSOF測定系とsoot測定系とをそれぞれ備えているので、システムが大掛かりなものになるといった問題や、システムが高価なものになるといった問題も生じる。
特開2006−153716号公報
そこで本発明は、上述した問題を一挙に解決すべくなされたものであり、システムを大掛かりなものや高価なものにすることなく、排ガスに含まれる種々の粒子状物質を精度良く分析できるようにすることをその主たる課題とするものである。
すなわち本発明に係る排ガス分析システムは、内燃機関の排ガスが導入される排ガス流路と、前記排ガス流路から分岐する分岐流路と、前記排ガス流路における前記分岐流路の分岐箇所よりも下流に設けられて、前記排ガスに含まれる粒子状物質を測定する第1分析装置と、前記分岐流路に設けられて前記排ガスに含まれる粒子状物質を測定する第2分析装置と、前記第1分析装置を前記第2分析装置よりも高い温度に温調する温調機構とを具備することを特徴とするものである。
このような排ガス分析システムであれば、温調機構によって第1分析装置を高温に温調しているので、第1分析装置に導かれた排ガスは冷やされず、排ガスに含まれるSOF等の揮発性成分は凝縮せずに気化したままとなり、第1分析装置を用いて例えばすす等の不揮発性成分を精度良く分析することが可能となる。なお、第1分析装置を温調する態様としては、第1分析装置を直接加熱して温調しても良いし、第1分析装置に接続される配管を加熱することにより温調しても良い。
さらに、第2分析装置を低温に保つことで、この第2分析装置を用いて揮発性成分と不揮発性成分とが含まれる粒子状物質を分析することができるので、第1分析装置による分析結果と第2分析装置による分析結果とを比較することで、排ガスに含まれる揮発性成分の分析が可能となる。これにより、従来のようにsoot測定系とSOF測定系とをそれぞれ備えずとも、不揮発性成分と揮発性成分とをそれぞれ分析することができ、システムを大掛かりなものや高価なものにすることなく、排ガスに含まれる粒子状物質を精度良く分析することが可能となる。
第1分析装置による分析結果と第2分析装置による分析結果とを比較するうえで、各分析装置の分析条件を揃えるためには、前記第1分析装置と前記第2分析装置とが、互いに同じ分析原理を用いたものであることが好ましい。
このように各分析装置を同じ分析原理を用いたものにすれば、各分析装置の分析結果を比較することで揮発性成分を精度良く分析することができる。
粒子状物質のうちの揮発性成分の濃度などを知るためには、前記第1分析装置及び前記第2分析装置からの出力を取得するとともに、前記各分析装置の分析結果を比較して、排ガスに含まれる揮発性成分の粒子状物質の濃度又は濃度に関連する値を算出する情報処理装置をさらに具備することが好ましい。
揮発性成分の濃度などをリアルタイムに知るためには、前記第1分析装置が、前記排ガス流路を流れる排ガスをリアルタイムに分析するものであり、前記第2分析装置が、前記分岐流路を流れる排ガスをリアルタイムに分析するものであることが好ましい。
ところで、近年ではsootやSOFのみならず、サルフェートと呼ばれる硫黄成分をも含んだ粒子状物質の全量を測定したいという要望が高まっているところ、上述した従来構成ではSOFやsootの測定に留まり、粒子状物質の全量を測定することはできない。
そこで、排ガスに含まれる粒子状物質の全量を測定するためには、前記第1分析装置及び前記第2分析装置が、拡散荷電法を用いて粒子状物質を測定するものであることが好ましい。
このように拡散荷電法を用いることにより、第2分析装置では、sootやSOFのみならず、サルフェートと呼ばれる硫黄成分をも含んだトータル粒子状物質を測定することができる。
具体的な実施態様としては、前記第1分析装置が、粒子状物質のうちの不揮発性成分を測定し、前記第2分析装置が、粒子状物質のうちの不揮発性成分及び揮発性成分を測定することが好ましい。
このような構成であれば、第1分析装置による分析結果と第2分析装置による分析結果とを比較することで、排ガスに含まれる揮発性成分の分析が可能である。
より具体的な実施態様としては、前記第1分析装置が、少なくともsootを含む粒子状物質を測定し、前記第2分析装置が、少なくともsoot、SOF、及びサルフェートを含む粒子状物質を測定する態様が挙げられる。
前記第2分析装置により得られた少なくともsoot、SOF、及びサルフェートを含む粒子状物質の濃度から、前記第1分析装置により得られた少なくともsootを含む粒子状物質の濃度を差し引いて、少なくともSOF及びサルフェートを含む粒子状物質の濃度を算出する揮発性成分算出部を備えることが好ましい。
このような構成であれば、粒子状物質のうち少なくともSOF及びサルフェートを含む揮発性成分の濃度を知ることができる。
第1分析装置に至る排ガス流路を加熱する場合、加熱された排ガスの体積流量が増大して流れが速くなるので、分岐箇所で分岐した排ガスは、第2分析装置よりも先に第1分析装置に到達してしまい、第1分析装置の分析結果と第2分析装置の分析結果とが同期せず、同期しないままこれらの分析結果を比較したのでは分析精度が低下してしまう。
そこで、前記分岐箇所から前記第1分析装置までの前記排ガス流路を形成する配管が、前記分岐箇所から前記第2分析装置までの前記分岐流路を形成する配管よりも、長い又は大径であることが好ましい。
このような構成であれば、分岐箇所で分岐した排ガスが、第1分析装置と第2分析装置とにほぼ同時に到達するので、第1分析装置の分析結果と第2分析装置の分析結果とを同期させることができる。
第1分析装置による不揮発性成分の分析精度を担保するためには、前記温調機構により温調された前記第1分析装置の温度が、前記排ガスに含まれる揮発性成分の蒸発温度以上であることが好ましい。
分析精度を担保すべく排ガスに含まれる水分が排ガス流路内で凝縮してしまうこと防ぐためには、前記排ガス流路における前記分岐箇所よりも上流側に希釈器が設けられていることが好ましい。
また、本発明に係る排ガス分析方法は、内燃機関の排ガスが導入される排ガス流路と、前記排ガス流路から分岐する分岐流路と、前記排ガス流路における前記分岐流路の分岐箇所よりも下流に設けられて、前記排ガスに含まれる粒子状物質を測定する第1分析装置と、前記分岐流路に設けられて前記排ガスに含まれる粒子状物質を測定する第2分析装置と、を具備する排ガス分析システムを用いた排ガス分析方法であって、前記第1分析装置を前記第2分析装置よりも高温に温調することを特徴とする方法である。
このような排ガス分析方法であれば、上述した排ガス分析システムと同様の作用効果を得ることができる。
このように構成した本発明によれば、システムを大掛かりなものや高価なものにすることなく、排ガスに含まれる種々の粒子状物質を精度良く分析することができる。
本実施形態の排ガス分析システムの構成を示す模式図。 本実施形態の第1分析装置及び第2分析装置の構成を示す模式図。 本実施形態の情報処理装置の機能を示す機能ブロック図。
以下に本発明に係る排ガス分析システムの一実施形態について図面を参照して説明する。
本実施形態の排ガス分析システム100は、図示しない内燃機関から排出された排ガスに含まれる成分を分析するものであり、ここでは排ガス中の粒子状物質(PM)の計測に用いられる。
具体的にこの排ガス分析システム100は、サンプリングした排ガスが導入される排ガス流路L1と、排ガス流路L1を温調する温調機構10と、排ガス流路L1に設けられて排ガスに含まれる粒子状物質を測定する第1分析装置20aとを具備している。
排ガス流路L1は、内燃機関から排出された排ガスを全量サンプリングするとともに、サンプリングした排ガスに希釈ガスを混合して希釈排ガスを生成するように構成されており、この排ガス流路L1には所謂フルトンネルと称される希釈器が設けられている。なお、排ガス流路L1は、内燃機関から排出された排ガスの一部をサンプリングして希釈するように構成された、所謂マイクロトンネルを利用したものであっても良い。
本実施形態では、排ガス流路L1に複数の希釈器30が設けられており、具体的には第1希釈器30aと、この第1希釈器30aの下流側に設けられた第2希釈器30bとが直列に配置されている。なお、排ガス流路L1に設けられる希釈器は1つであっても構わない。
温調機構10は、排ガス流路L1における第2希釈器30bの下流側を加熱するものであり、具体的には排ガス流路L1を形成する配管或いはこの配管内を流れる排ガスを、排ガスに含まれる揮発性成分の蒸発温度以上の所定の設定温度に(例えば191℃)に温調するヒータ等である。
第1分析装置20aは、排ガスに含まれる粒子状物質のうちの例えばすす(soot)などを含む不揮発性成分を測定するものであり、ここでは排ガス流路L1を流れる排ガス中の不揮発性成分をリアルタイムで分析するものである。具体的にこの第1分析装置20aは、図2に示すように、拡散荷電法(Diffusion Charger法)を利用した拡散荷電センサ(以下、DCSと記載する)と称される不揮発性成分を分析可能なものであり、ここでは粒子状物質の質量濃度を算出するためのものである。
より詳細に説明すると、第1分析装置20aたるDCSは、導入された粒子の表面をコロナ放電により帯電させることで、単位体積当たりの総粒子長に応じた大きさの電流が電流検出部21で検出されるように構成されている。そして、総粒子長と質量との関係を示す相関データを予め求めておくことで、この相関データと第1分析装置20aの出力(具体的には電流検出部21により検出された電流値)とに基づいて粒子状物質の質量濃度を連続的に算出することができる。
然して、本実施形態の排ガス分析システム100は、上述した温調機構10が第1分析装置20aを後述する第2分析装置よりも高い温度に温調するように構成されている。具体的にこの温調機構10は、第1分析装置20aを排ガスに含まれる揮発性成分の蒸発温度以上の所定の設定温度に加熱するものであり、ここでは排ガス流路L1と同じ設定温度(例えば191℃)に加熱する。
なお、排ガス流路L1を温調する温調機構と、第1分析装置20aを温調する温調機構とは別々であっても良いし、排ガス流路L1を温調する温度と第1分析装置20aを温調する温度とは互いに異なる温度であっても良い。
本実施形態の排ガス分析システム100は、図1に示すように、排ガス流路L1から分岐する分岐流路L2と、分岐流路L2に設けられて排ガスに含まれる粒子状物質を測定する第2分析装置20bと、第1分析装置20a及び第2分析装置20bからの出力を取得する情報処理装置40とをさらに具備している。
分岐流路L2は、排ガス流路L1における第2希釈器30bの下流であって、且つ、排ガス流路L1において温調機構10により温調される領域の上流から分岐しており、ここでは温調されることなく排ガスに含まれる揮発性成分の蒸発温度よりも低い温度(例えば室温)に保たれている。本実施形態では、分岐箇所Xから第1分析装置20aまでの排ガス流路L1を形成する配管径を、分岐箇所Xから第2分析装置20bまでの分岐流路L2を形成する配管径よりも大きくしてある。なお、より具体的な態様としては、例えば第1分析装置20aに流入する排ガスの質量流量と、第2分析装置20bに流入する排ガスの質量流量とが等しい場合であれば、分岐箇所Xから第1分析装置20aまでの排ガス流路L1の容積と、分岐箇所Xから第2分析装置20bまでの分岐流路L2の容積とが、各流路L1、L2の絶対温度に比例する構成が挙げられる。
第2分析装置20bは、排ガスに含まれる粒子状物質のうちの不揮発性成分と揮発性成分とを測定することで、トータル粒子状物質を測定するものであり、ここでは分岐流路L2を流れる排ガス中のトータル粒子状物質をリアルタイムで分析するものである。不揮発性成分としては、上述したように少なくともsootが含まれ、揮発性成分としては、少なくとも有機溶媒可溶性成分(SOF)や硫黄成分(サルフェート)が含まれる。第2分析装置20bは、第1分析装置20aと同じ分析原理のものであり、ここではDCSである。この第2分析装置20bは、排ガスに含まれる揮発性成分の蒸発温度よりも低い温度(例えば室温)に保たれている。
情報処理装置40は、CPU、メモリ、及びA/Dコンバータ等を具備したコンピュータであり、前記メモリの所定領域に格納されたプログラムに従ってCPUや周辺機器が協働することにより、図3に示すように、不揮発性成分算出部41、トータル粒子状物質算出部42、及び揮発性成分算出部43としての機能を発揮するように構成されている。
不揮発性成分算出部41は、第1分析装置20aからの出力を取得して不揮発性成分の質量濃度を算出するものであり、ここでは粒子状物質のうちの少なくともsootを含む不揮発性成分の質量濃度を連続的にリアルタイムで算出する。
トータル粒子状物質算出部42は、第2分析装置20bからの出力を取得して排ガスに含まれるトータル粒子状物質の質量濃度を算出するものであり、ここでは少なくともsoot、SOF、及びサルフェートを含む粒子状物質の質量濃度を連続的にリアルタイムで算出する。
揮発性成分算出部43は、不揮発性成分算出部41及びトータル粒子状物質算出部42の算出結果に基づいて揮発性成分の質量濃度を算出するものである。具体的にこの揮発性成分算出部43は、トータル粒子状物質算出部42により算出された質量濃度から不揮発性成分算出部41により算出された質量濃度を差し引くことで、少なくともSOF及びサルフェートを含む揮発性成分の質量濃度を連続的にリアルタイムで算出する。
このように構成された本実施形態に係る排ガス分析システム100によれば、温調機構10によって第1分析装置20aを揮発性成分の蒸発温度以上に温調しているので、第1分析装置20aに導かれた排ガスに含まれる揮発性成分は凝縮せずに気化したままとなる。これにより、第1分析装置20aを用いて例えばsoot等を含む不揮発性成分の質量濃度を精度良く算出することができる。
さらに、分岐流路L2や第2分析装置20bを揮発性成分の蒸発温度よりも低い所定温度に保っているので、第2分析装置20bを用いて少なくともsoot、SOF、及びサルフェートを含むトータル粒子状物質の質量濃度を算出することができる。これにより、第1分析装置20aによる算出結果と第2分析装置20bによる算出結果とを比較することで、排ガスに含まれる揮発性成分の分析が可能となる。従って、sootを測定するための分析装置とSOFを測定するための分析装置とをそれぞれ備えずとも、不揮発性成分と揮発性成分とをそれぞれ分析することができ、システムを大掛かりなものや高価なものにすることなく、排ガスに含まれる粒子状物質を精度良く分析することが可能となる。
そのうえ、このように不揮発性成分と揮発性成分との両方を分析することにより、不揮発性成分の分析結果からは例えば燃料の噴射の均一性を評価することができ、揮発性成分の分析結果からは例えば燃料の不完全燃焼の度合いを評価することができる。
また、分岐箇所Xから第1分析装置20aまでの排ガス流路L1を形成する配管径を、分岐箇所Xから第2分析装置20bまでの分岐流路L2を形成する配管径よりも大きくしているので、分岐箇所Xで分岐した排ガスを、第1分析装置20aと第2分析装置20bとにほぼ同時に到達させることができ、第1分析装置20aの分析結果と第2分析装置20bの分析結果との同期を図れる。これにより、不揮発性成分や揮発性成分やトータル粒子状物質の質量濃度等をリアルタイムに測定することができる。
さらに、排ガス流路L1に希釈器が設けられているので、排ガスに含まれる水分が排ガス流路L1内で凝縮してしまうことを防ぐことができ、分析精度を担保することができる。
なお、本発明は前記実施形態に限られるものではない。
例えば、第1分析装置20aの分析結果と第2分析装置20bの分析結果との同期を図る態様としては、分岐箇所Xから第1分析装置20aまでの排ガス流路L1を形成する配管を、分岐箇所Xから第2分析装置20bまでの分岐流路L2を形成する配管よりも長くしても良い。
また、分岐箇所Xから第1分析装置20aまでの排ガス流路L1と、分岐箇所Xから第2分析装置20bまでの分岐流路L2とに例えば臨界流量ベンチュリやマスフローコントローラなどを設けて、第1分析装置20aに流入する排ガス流量と、第2分析装置20bに流入する排ガス流量とを適宜制御して、分岐箇所Xで分岐した排ガスを、第1分析装置20aと第2分析装置20bとにほぼ同時に到達させるようにしても良い。
さらに、分岐箇所Xで分岐した排ガスが、第1分析装置20aと第2分析装置20bとに同時に到達しない場合は、揮発性成分算出部43が、例えばトータル粒子状物質算出部42が算出した質量濃度から、そのトータル粒子状物質算出部42による算出時刻よりも所定時間前に不揮発性成分算出部41が算出した質量濃度を差し引くことで、揮発性成分の質量濃度を算出するように構成されていても良い。
前記実施形態の温調機構10は、第1分析装置20aを直接加熱するものであったが、温調機構10としては、第1分析装置20aを直接加熱することなく、第1分析装置20aに接続された排ガス流路L1における分岐箇所Xよりも下流側を加熱することにより、その熱で第1分析装置を温調するように構成されていても良い。
また、第2分析装置20bは、前記実施形態では室温に保たれていたが、測定対象とする揮発性成分の蒸発温度よりも低い温度であれば加熱されていても良いし、冷却されていても良い。
第1分析装置20aや第2分析装置20bは、粒子状物質の質量濃度を算出するためのものに限らず、粒子状物質の数(PN)、質量、個数濃度など濃度に関連する値を算出するためのものであっても良い。
不揮発性成分算出部41やトータル粒子状物質算出部42としての機能は、情報処理装置に備えさせる必要はなく、第1分析装置20aが不揮発性成分算出部41を備えていても良いし、第2分析装置20bがトータル粒子状物質算出部42を備えていても良い。
ところで、第1分析装置20aにおける電流検出部21が電気信号を増幅するプリアンプ等の増幅器を備えている場合、この増幅器が加熱されるとノイズが発生してしまう。
そこで、かかる問題を解決するための一態様としては、プリアンプに熱が伝わらない程度に、プリアンプを電流検出部21の本体か離間させることが挙げられる。ただし、プリアンプと本体との離間距離が長くなると、これらを接続する導線が長くなり、導線にノイズが生じやすい。そこで、別の態様としては、プリアンプや、プリアンプと本体とを接続する導線を冷却するファンや放熱部材等の冷却手段を利用することが考えられる。
また、さらに別の態様としては、プリアンプを電流検出部21ごと加熱手段10により加熱されない場所に配置することが考えられる。
なお、上述した各態様において、必ずしもプリアンプに熱が全く伝わらないようにする必要はなく、分析精度を担保できる程度であれば多少の熱は伝わっても構わない。また、プリアンプを所定の温度に調整したい場合であれば、上述したファンの風量や温調機構10の熱量などを変更することで、プリアンプを前記所定の温度に温調しても良い。
第1分析装置20aや第2分析装置20bは、DCSに限らず、排ガスに含まれる粒子状物質のうち不揮発性成分を分析可能なものであれば良く、このようなものとしては凝縮粒子カウンタ(CPC)、電子式低圧インパクタ(ELPI)、走査型移動度パーティクルアナライザ(SMPS)等が挙げられる。
本発明に係る排ガス分析システムは、路上を走行する車両に搭載することができ、これにより路上実走行において内燃機関から排出される排ガスに含まれる不揮発性成分の粒子状物質や揮発性成分の粒子状物質やトータル粒子状物質を例えばリアルタイムで測定することができる。
その他、本発明は前記実施形態に限られず、その趣旨を逸脱しない範囲で種々の変形が可能であるのは言うまでもない。
100・・・排ガス分析システム
L1 ・・・排ガス流路
L2 ・・・分岐流路
10 ・・・温調機構
20a・・・第1分析装置
20b・・・第2分析装置
40 ・・・情報処理装置

Claims (12)

  1. 内燃機関の排ガスが導入される排ガス流路と、
    前記排ガス流路から分岐する分岐流路と、
    前記排ガス流路における前記分岐流路の分岐箇所よりも下流に設けられて、前記排ガスに含まれる粒子状物質を測定する第1分析装置と、
    前記分岐流路に設けられて前記排ガスに含まれる粒子状物質を測定する第2分析装置と、
    前記第1分析装置を前記第2分析装置よりも高い温度に温調する温調機構とを具備する排ガス分析システム。
  2. 前記第1分析装置と前記第2分析装置とが、互いに同じ分析原理を用いたものである請求項1記載の排ガス分析システム。
  3. 前記第1分析装置及び前記第2分析装置からの出力を取得するとともに、前記各分析装置の分析結果を比較して、排ガスに含まれる揮発性成分の粒子状物質の濃度又は濃度に関連する値を算出する情報処理装置をさらに具備する請求項1又は2記載の排ガス分析システム。
  4. 前記第1分析装置が、前記排ガス流路を流れる排ガスをリアルタイムに分析するものであり、
    前記第2分析装置が、前記分岐流路を流れる排ガスをリアルタイムに分析するものである請求項1乃至3のうち何れか一項に記載の排ガス分析システム。
  5. 前記第1分析装置及び前記第2分析装置が、拡散荷電法を用いて粒子状物質を測定するものである請求項1乃至4のうち何れか一項に記載の排ガス分析システム。
  6. 前記第1分析装置が、粒子状物質のうちの不揮発性成分を測定し、
    前記第2分析装置が、粒子状物質のうちの不揮発性成分及び揮発性成分を測定する請求項1乃至5のうち何れか一項に記載の排ガス分析システム。
  7. 前記第1分析装置が、少なくともsootを含む粒子状物質を測定し、
    前記第2分析装置が、少なくともsoot、SOF、及びサルフェートを含む粒子状物質を測定する請求項1乃至6のうち何れか一項に記載の排ガス分析システム。
  8. 前記第2分析装置により得られた少なくともsoot、SOF、及びサルフェートを含む粒子状物質の濃度から、前記第1分析装置により得られた少なくともsootを含む粒子状物質の濃度を差し引いて、少なくともSOF及びサルフェートを含む粒子状物質の濃度を算出する揮発性成分算出部を備える請求項7記載の排ガス分析システム。
  9. 前記分岐箇所から前記第1分析装置までの前記排ガス流路を形成する配管が、前記分岐箇所から前記第2分析装置までの前記分岐流路を形成する配管よりも、長い又は大径である請求項1乃至8のうち何れか一項に記載の排ガス分析システム。
  10. 前記温調機構により温調された前記第1分析装置の温度が、前記排ガスに含まれる揮発性成分の蒸発温度以上である請求項1乃至9のうち何れか一項に記載の排ガス分析システム。
  11. 前記排ガス流路における前記分岐箇所よりも上流側に希釈器が設けられている請求項1乃至10のうち何れか一項に記載の排ガス分析システム。
  12. 内燃機関の排ガスが導入される排ガス流路と、前記排ガス流路から分岐する分岐流路と、前記排ガス流路における前記分岐流路の分岐箇所よりも下流に設けられて、前記排ガスに含まれる粒子状物質を測定する第1分析装置と、前記分岐流路に設けられて前記排ガスに含まれる粒子状物質を測定する第2分析装置と、を具備する排ガス分析システムを用いた排ガス分析方法であって、
    前記第1分析装置を前記第2分析装置よりも高い温度に温調する排ガス分析方法。
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