JP2001004504A - ガスサンプリング装置 - Google Patents

ガスサンプリング装置

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JP2001004504A
JP2001004504A JP2000165821A JP2000165821A JP2001004504A JP 2001004504 A JP2001004504 A JP 2001004504A JP 2000165821 A JP2000165821 A JP 2000165821A JP 2000165821 A JP2000165821 A JP 2000165821A JP 2001004504 A JP2001004504 A JP 2001004504A
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JP
Japan
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gas
exhaust gas
gas sampling
sampling
sampling device
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Application number
JP2000165821A
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English (en)
Inventor
Hideki Ohashi
秀樹 大橋
William Silvis
シルビス ウィリアム
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Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 排ガスを最低限希釈して採取しながらも排ガ
ス中に含まれる成分を精度よく測定することができるよ
うにした安価なガスサンプリング装置を提供すること。 【解決手段】 排ガス源2から排出される排ガスGを希
釈し、この希釈されたガスを定容量採取装置1によって
吸引するとともに、定容量採取装置1から分岐したガス
サンプリング流路7に吸引ポンプ9および流量制御装置
10を介してサンプルバッグ11を設けたガスサンプリ
ング装置において、前記サンプルバッグ11に至るまで
のガスサンプリング流路7を、それを通過するガスが凝
縮しない程度に加熱した。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、例えば自動車の
エンジンから排出される排ガス中に含まれる成分を定量
分析する際に用いられるガスサンプリング装置に関す
る。
【0002】
【従来の技術】自動車のエンジンから排出される排ガス
中に含まれる各種の成分を定量分析する場合、排ガスを
希釈エアーによって希釈し、この希釈された排ガスを、
定容量採取装置(Constant Volume S
ampler、以下、CVSという)によって吸引する
とともに、このCVSの上流側から分岐したガスサンプ
リング流路によって、前記希釈されたガスの一部をサン
プルガスとして採取するガスサンプリング装置が用いら
れ、この装置においては、燃焼によって生ずるガスに含
まれる水分の凝縮を避けるため、排ガスを最大かつ定流
量で希釈することが一般的に行われている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来のガスサンプリング装置では、必要以上に排ガスを希
釈してしまい、そのため、排ガス中に含まれる成分の濃
度が低下し、成分濃度を正確に測定することが困難にな
り、特に、低エミッション車についての排ガス中に含ま
れる成分濃度を精度よく測定することが困難であった。
【0004】そこで、例えば、特開平5−215652
号公報に示すように、ガスサンプリング流路に吸引ポン
プおよび流量制御装置を介してサンプルバッグを設け、
排ガスの流量に比例してサンプルガスをサンプリングす
ることが検討されているが、構成や制御が複雑であり、
高価になるといった問題がある。
【0005】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、排ガスを最低限希釈して採取しながらも排ガ
ス中に含まれる成分を精度よく測定することができるよ
うにした安価なガスサンプリング装置を提供することを
目的としている。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明では、排ガス源から排出される排ガスを希
釈し、この希釈されたガスを定容量採取装置によって吸
引するとともに、定容量採取装置から分岐したガスサン
プリング流路に吸引ポンプおよび流量制御装置を介して
サンプルバッグを設けたガスサンプリング装置におい
て、前記サンプルバッグに至るまでのガスサンプリング
流路を、それを通過するガスが凝縮しない程度に加熱す
るようにしている。
【0007】上記構成のガスサンプリング装置において
は、例えば、ガス採取口からサンプルバッグに至るまで
のガスサンプリング流路を約40℃に加熱する。このよ
うに加熱することにより、サンプリングされたサンプル
ガスの凝縮が回避され、したがって、排ガスを必要以上
に希釈しなくてよく、その結果、排ガス中の高濃度成分
は勿論のこと、低濃度成分を精度よく定量分析できる。
【0008】
【発明の実施の形態】この発明の実施の形態を、図面を
参照しながら説明する。図1は、この発明の一つの実施
の形態を示し、この図において、1はCVS装置で、そ
の上流側には排ガスGを発生する自動車のエンジン2が
接続され、下流側にはCVS1内を流れるガス流量(以
下、CVS流量という)を適宜設定する吸引用のブロア
3が設けられ、その下流は適宜の排気管(図示してな
い)に接続されている。そして、このCVS1の上流側
には、フィルタ4を備え、希釈用空気Aを導入する管路
5が接続されている。また、6はCVS流量を測定し、
総流量を求めるための流量測定部で、例えば、スムーズ
・アプローチ・オリフィス(以下、SAOという)であ
る。
【0009】そして、7はCVS1から分岐したガスサ
ンプリング流路で、そのガス採取口8をSAO6に近接
した上流側に有する。そして、このガスサンプリング流
路7には、その上流側から、吸引用のポンプ9、流量制
御装置としてのマスフローコントローラ(以下、MFC
という)10、サンプルバッグ11を備えている。
【0010】前記MFC10は、詳細には図示してない
が、流量測定部と流量制御部とを流路に臨むようにして
設けてなるもので、流量測定部によって検出された流量
と設定流量とを比較し、前者が大きいときは、流量制御
部のオリフィスを狭めるように弁体を動作させて流量を
制限し、逆に後者が大きいときは、オリフィスが広がる
ように弁体を動作させて流量を増大させるもので、例え
ば実公平4−49687号公報などにより公知である。
【0011】そして、前記ガスサンプリング流路7に
は、CVS1からサンプルバッグ11に至るまでの部分
が適宜の温度になるように加熱され、この実施例では、
流路の管の外周にヒータ12を巻設したり、ポンプ9、
MFC10、サンプルバッグ11を適宜の手法でそれぞ
れ加熱するなどして、ガスサンプリング流路7全体を加
熱ラインとしている。例えば、ガス採取口8からサンプ
ルバッグ11に至るまでのガスサンプリング流路7を約
40℃に加熱し、サンプルバッグ11を約30℃に加熱
する。また、この実施例では、CVS1のガス採取口8
を中心としてその上流側および下流側にもヒータ12’
が巻設されている。
【0012】13はCVS1の制御部で、前記SAO6
によって検出されるCVS流量や、希釈用空気Aの湿
度、測定対象車の燃料種、燃費などに応じてブロア3の
吸引量を設定したり、前記CVS流量や試験のフェイズ
に応じてMFC10の開度調整を行ったり、前記ガスサ
ンプリング流路7全体を加熱するためのヒータなどの温
度を検出し、その結果に基づいてガスサンプリング流路
7の所定部分が設定温度になるように制御するなど、C
VS1全体の制御を司る。
【0013】上記構成のガスサンプリング装置において
は、CVS1を流れる排ガスGと希釈用空気Aとの混合
ガスKGの流量は、MFC10の容量限度内において連
続的に任意に設定される。そして、MFC10には、S
AO6によって検出されたCVS流量値が制御部13を
介して入力されており、この流量値に一定の比率を乗じ
ることによって定められる値がMFC10に流量設定値
として与えられる。したがって、前記混合ガスKGの流
量の変動に対して対応することができ、混合ガスKGの
総量に比例したサンプルガスを常にガスサンプリング流
路7に流すことができ、混合ガスKGの流量に比例して
採取することができる。
【0014】そして、上記ガスサンプリング装置におい
ては、ガスサンプリング流路7の各部が、上述した温度
になるように加熱されているので、サンプリングされた
ガスが凝縮することがなく、さらに、サンプルバッグ1
1も上述した温度になるように加熱しているので、この
内部におけるサンプルガスの凝縮も防止される。
【0015】また、上記ガスサンプリング装置において
は、排ガスGを必要以上に希釈しなくてよく、その結
果、排ガスG中の高濃度成分は勿論のこと、低濃度成分
を精度よく定量分析できる。
【0016】この発明は、上述の実施例に限られるもの
ではなく、ガス採取口8をSAO6の下流側の近傍に設
けるようにしてもよい。そして、SAO6に代えてベン
チュリ管を用いてもよい。さらに、MFC10に代えて
他の流量制御装置を用いてもよい。
【0017】そして、排ガス源は前記自動車のエンジン
2に限られるものではなく、他のエンジンであってもよ
い。
【0018】
【発明の効果】以上説明したように、この発明において
は、ガスサンプリング流路を所定の温度になるように加
熱するようにしているので、サンプリングされたサンプ
ルガスの凝縮が回避され、したがって、排ガスを、測定
のための理論上最低限必要とされる希釈倍率以上に希釈
しなくてよく、したがって、排ガス中の高濃度成分は勿
論のこと、低濃度成分を精度よく定量分析できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係るサンプリング装置の一例を示す
構成図である。
【符号の説明】
1…定容量採取装置、2…排ガス源、7…ガスサンプリ
ング流路、9…ポンプ、10…流量制御装置、11…サ
ンプルバッグ、G…排ガス。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 排ガス源から排出される排ガスを希釈
    し、この希釈されたガスを定容量採取装置によって吸引
    するとともに、定容量採取装置から分岐したガスサンプ
    リング流路に吸引ポンプおよび流量制御装置を介してサ
    ンプルバッグを設けたガスサンプリング装置において、
    前記サンプルバッグに至るまでのガスサンプリング流路
    を、それを通過するガスが凝縮しない程度に加熱するこ
    とを特徴とするガスサンプリング装置。
JP2000165821A 2000-01-01 2000-06-02 ガスサンプリング装置 Pending JP2001004504A (ja)

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A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20031216