JP2019095948A - 携帯電子機器、プロセッサ制御方法およびプロセッサ制御プログラム - Google Patents

携帯電子機器、プロセッサ制御方法およびプロセッサ制御プログラム Download PDF

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Abstract

【課題】温度制御においてプロセッサのパフォーマンス低下を抑制する。【解決手段】携帯電子機器10は、クロック周波数を変更可能なプロセッサ12を含む制御部11と、温度センサ13と、制御部11および温度センサ13を内部に格納する筐体14と、筐体14の表面への接触を検出可能なタッチセンサ15とを有する。制御部11は、温度センサ13から温度の測定値16を取得し、タッチセンサ15が接触を検出していない場合、測定値16および熱伝達モデル17を用いて筐体14の表面温度の推定値19を算出し、タッチセンサ15が接触を検出した場合、測定値16および熱伝達モデル18を用いて推定値19を算出し、推定値19が閾値以上である場合、クロック周波数の上限を引き下げ、推定値19が閾値未満である場合、クロック周波数の上限を引き上げる。【選択図】図1

Description

本発明は携帯電子機器、プロセッサ制御方法およびプロセッサ制御プログラムに関する。
現在、スマートフォンやタブレット端末などの携帯電子機器が普及し、携帯電子機器の多機能化や高性能化が進んでいる。多機能化や高性能化に伴い、携帯電子機器が有するプロセッサの発熱量が増大している。一方、形状の制約から、携帯電子機器の冷却能力を向上させることは容易でない。そのため、プロセッサが長時間高負荷になると冷却が不十分となり、プロセッサから筐体表面に熱が伝達して表面温度が高くなることがある。
表面温度が閾値を超えた場合、プロセッサの動作周波数を制限することで表面温度を下げる方法が考えられる。ただし、形状の制約から、表面温度を直接測定するための温度センサを筐体表面付近に配置することが難しいことがある。そこで、携帯電子機器内部の基板などで測定した内部温度から表面温度を推定することが考えられる。
例えば、表面温度を推定する表面温度推定方法が提案されている。提案の表面温度推定方法は、基板上でプロセッサの近くに配置された温度センサから測定値を取得し、予め定義されたプロセッサと温度センサの間の熱伝達関数と、予め定義されたプロセッサと筐体表面の間の熱伝達関数とに基づいて表面温度を算出する。前者の熱伝達関数は、プロセッサから温度センサへの熱の伝達の過渡応答を示す熱時定数を含む。後者の熱伝達関数は、プロセッサから筐体表面への熱の伝達の過渡応答を示す熱時定数を含む。
特開2016−121985号公報
携帯電子機器の筐体表面には、手のひらや指などの人体が接触することがある。人体の熱伝達率は空気の熱伝達率よりも高く、人体の熱抵抗は空気の熱抵抗よりも低い。よって、筐体表面が人体に接している場合の表面温度は、筐体表面が空気のみに接している場合の表面温度よりも低くなることがある。しかし、上記の特許文献1に記載の表面温度推定方法は、筐体表面が空気のみに接していることを想定して表面温度を推定している。
このため、携帯電子機器の使用状況によっては、表面温度の推定値が実際の表面温度よりも高く算出され、プロセッサの動作周波数が過剰に制限される可能性がある。その結果、プロセッサのパフォーマンスが低下するという問題がある。
1つの側面では、本発明は、温度制御においてプロセッサのパフォーマンス低下を抑制する携帯電子機器、プロセッサ制御方法およびプロセッサ制御プログラムを提供することを目的とする。
1つの態様では、クロック周波数を変更可能なプロセッサを含む制御部と、温度センサと、制御部および温度センサを内部に格納する筐体と、筐体の表面への接触を検出可能なタッチセンサと、を有する携帯電子機器が提供される。制御部は、温度センサから温度の測定値を取得し、タッチセンサが接触を検出していない場合、測定値および第1の熱伝達モデルを用いて筐体の表面温度の推定値を算出し、タッチセンサが接触を検出した場合、測定値および第2の熱伝達モデルを用いて推定値を算出し、推定値が閾値以上である場合、クロック周波数の上限を引き下げ、推定値が閾値未満である場合、クロック周波数の上限を引き上げる。
また、1つの態様では、携帯電子機器が実行するプロセッサ制御方法が提供される。また、1つの態様では、携帯電子機器が有するコンピュータに実行させるプロセッサ制御プログラムが提供される。
1つの側面では、温度制御においてプロセッサのパフォーマンス低下を抑制できる。
第1の実施の形態の携帯電子機器を説明する図である。 携帯端末装置のハードウェア例を示すブロック図である。 携帯端末装置の部品の配置例を示す図である。 設計装置のハードウェア例を示すブロック図である。 第1の熱回路モデルの例を示す図である。 第2の熱回路モデルの例を示す図である。 熱源温度と表面温度の関係例を示すグラフである。 熱源エリアの例を示す図である。 携帯端末装置と設計装置の機能例を示すブロック図である。 基本パラメータテーブルの例を示す図である。 係数テーブルの例を示す図である。 遅延データテーブルの例を示す図である。 伝達関数決定の手順例を示すフローチャートである。 第2の実施の形態の熱源制御の手順例を示すフローチャートである。 第3の実施の形態の熱源制御の手順例を示すフローチャートである。 第4の実施の形態の熱源制御の手順例を示すフローチャートである。
以下、本実施の形態を図面を参照して説明する。
[第1の実施の形態]
第1の実施の形態を説明する。
図1は、第1の実施の形態の携帯電子機器を説明する図である。
第1の実施の形態の携帯電子機器10は、人間がその表面に触れることのある携帯可能な電子機器である。携帯電子機器10の例として、スマートフォン、携帯電話機、タブレット端末、ノート型コンピュータなどが挙げられる。携帯電子機器10は、現在の表面温度を推定し、表面温度が高い場合には表面温度が下がるようにプロセッサを制御する。
携帯電子機器10は、制御部11、温度センサ13、筐体14およびタッチセンサ15を有する。制御部11は、プロセッサ12を有する。プロセッサ12は、負荷に応じて、動作するクロック周波数(「動作周波数」や単に「周波数」と言うことがある)を変更可能である。制御部11は、プロセッサ12のクロック周波数の上限(「最大クロック周波数」、「最大動作周波数」、「最大周波数」などと言うことがある)を、物理的上限よりも低いクロック周波数に制限することがある。クロック周波数の上限は、1.0GHz,1.4GHz,1.8GHz,2.0GHzのように複数段階で変更可能である。
プロセッサ12は、例えば、CPU(Central Processing Unit)、DSP(Digital Signal Processor)、GPU(Graphics Processing Unit)などである。制御部11は、他のプロセッサを含んでもよく、ASIC(Application Specific Integrated Circuit)やFPGA(Field Programmable Gate Array)などの特定用途の電子回路を含んでもよい。制御部11は、プロセッサ12、他のプロセッサまたはその他の電子回路を用いて、プロセッサ12のクロック周波数を制御する。プロセッサ12または他のプロセッサを用いる場合、制御部11は、以下に説明する処理を記載したプロセッサ制御プログラムを実行してもよい。プロセッサ制御プログラムは、RAM(Random Access Memory)などの揮発性メモリまたはフラッシュメモリなどの不揮発性ストレージに記憶される。
温度センサ13は、温度センサ13が配置された位置における温度を測定するセンサデバイスである。温度センサ13は、例えば、サーミスタである。携帯電子機器10は、異なる位置に配置された、温度センサ13を含む複数の温度センサを有していてもよい。温度センサ13は、好ましくは、プロセッサ12の近くに配置される。
筐体14は、携帯電子機器10の外郭を形成する。筐体14は、制御部11および温度センサ13を内部に格納する。プロセッサ12および温度センサ13は、例えば、筐体14の内部にある共通の基板上に配置される。
タッチセンサ15は、筐体14の表面への接触を検出可能なセンサデバイスである。タッチセンサ15を「タッチパネル」と言うこともある。タッチセンサ15は、筐体14の表面に手のひらや指などの人体が接触しているか否か判定することを想定しており、例えば、筐体14の表面に配置される。タッチセンサ15は、例えば、携帯電子機器10のディスプレイが配置された前面とは反対の裏面に配置される。ただし、ディスプレイに対する接触を検出可能な前面のタッチセンサをタッチセンサ15として使用することも可能である。また、前面でも裏面でもない側面にタッチセンサ15を配置することも可能である。位置検出方法として、マトリクススイッチ方式、抵抗膜方式、表面弾性波方式、赤外線方式、電磁誘導方式、静電容量方式などが用いられる。
制御部11は、温度センサ13から温度の測定値16を取得する。また、制御部11は、タッチセンサ15が接触を検出しているか判定する。このとき、制御部11は、筐体14の表面のうち、プロセッサ12の位置に対応する特定の熱源エリアに限定して接触の有無を判定してもよい。熱源エリアは、プロセッサ12の上方のエリアなど、プロセッサ12からの熱の多くが到達する表面のエリアである。タッチセンサ15が熱源エリアに限定して配置されていてもよい。また、タッチセンサ15が熱源エリアを含む1つの面全体(例えば、裏面全体)に配置され、タッチセンサ15が検出した接触位置が熱源エリアに含まれるか否かを制御部11が判定するようにしてもよい。
制御部11は、タッチセンサ15が接触を検出していない場合、測定値16および熱伝達モデル17(第1の熱伝達モデル)を用いて、筐体14の表面温度の推定値19を算出する。一方、制御部11は、タッチセンサ15が接触を検出した場合、測定値16および熱伝達モデル18(第2の熱伝達モデル)を用いて推定値19を算出する。
熱伝達モデル17,18は、例えば、熱源であるプロセッサ12から温度センサ13への熱伝達の特性を示すパラメータ値と、プロセッサ12から筐体14の表面への熱伝達の特性を示すパラメータ値とに基づいて算出される関数である。例えば、熱伝達モデル17,18を示す情報が携帯電子機器10の記憶装置に記憶されている。熱伝達モデル17は筐体14に人体が接触していない場合を想定したモデルであり、熱伝達モデル18は筐体14に人体が接触している場合を想定したモデルである点で、両者は異なる。同一の測定値16から算出される推定値19は、熱伝達モデル18を用いる方が熱伝達モデル17を用いる場合よりも低くなることが期待される。
熱伝達モデル17,18は、例えば、携帯電子機器10以外の情報処理装置で算出される。算出された熱伝達モデル17,18は、携帯電子機器10の製造時に携帯電子機器10に組み込まれてもよいし、ネットワーク経由で携帯電子機器10に配信されてもよい。熱伝達モデル17,18はそれぞれ、プロセッサ12から筐体14の表面への熱伝達の特性を示す熱抵抗および熱時定数を用いて算出されてもよい。熱抵抗はプロセッサ12から筐体14の表面へ伝達する熱量に関係し、熱時定数はその伝達速度に関係する。通常、熱伝達モデル17の熱抵抗と熱伝達モデル18の熱抵抗は異なり、熱伝達モデル17の熱時定数と熱伝達モデル18の熱時定数は異なる。
制御部11は、算出した推定値19が閾値以上である場合、プロセッサ12のクロック周波数の上限を引き下げる。すなわち、制御部11は、プロセッサ12のクロック周波数の制限を強化してプロセッサ12の発熱を抑制する。ただし、クロック周波数の上限が既に物理的下限に到達している場合には現在のクロック周波数の上限を維持する。一方、制御部11は、算出した推定値19が閾値未満である場合、プロセッサ12のクロック周波数の上限を引き上げる。すなわち、制御部11は、プロセッサ12のクロック周波数の制限を緩和してプロセッサ12の発熱の増加を許容する。ただし、クロック周波数の上限が既に物理的上限に到達している場合には現在のクロック周波数の上限を維持する。
第1の実施の形態の携帯電子機器10によれば、筐体14の内部にある温度センサ13から測定値16が取得されると共に、タッチセンサ15が筐体14の表面への接触を検出したか否か判定される。接触を検出していない場合、測定値16と熱伝達モデル17を用いて推定値19が算出され、接触を検出した場合、測定値16と熱伝達モデル18を用いて推定値19が算出される。そして、推定値19が閾値以上である場合、プロセッサ12のクロック周波数の上限が引き下げられ、推定値19が閾値未満である場合、プロセッサ12のクロック周波数の上限が引き上げられる。
これにより、筐体14の表面に人体が接触している場合と接触していない場合とを区別して表面温度を推定することができ、推定値19の精度が向上する。よって、推定値19が実際の表面温度よりも高く算出されるリスクを低減でき、プロセッサ12のクロック周波数が過剰に制限されてしまうリスクを低減できる。その結果、温度制御においてプロセッサ12のパフォーマンスを向上させることができる。
[第2の実施の形態]
次に、第2の実施の形態を説明する。
図2は、携帯端末装置のハードウェア例を示すブロック図である。
第2の実施の形態の携帯端末装置100は、ユーザがその表面に触れることのある携帯型電子機器である。携帯端末装置100の例として、スマートフォン、携帯電話機、タブレット端末、ノート型コンピュータなどが挙げられる。携帯端末装置100は、第1の実施の形態の携帯電子機器10に対応する。
携帯端末装置100は、制御部111、RAM112、不揮発性メモリ113、無線インタフェース114、ディスプレイ115、カメラ116およびオーディオインタフェース117を有する。また、携帯端末装置100は、温度センサ118a,118b、タッチセンサ119a,119b、媒体リーダ121、バッテリ123および充電回路124を有する。なお、制御部111は、第1の実施の形態の制御部11に対応する。温度センサ118aは、第1の実施の形態の温度センサ13に対応する。タッチセンサ119bは、第1の実施の形態のタッチセンサ15に対応する。
制御部111は、携帯端末装置100を制御する。制御部111は、CPU111a,111b、DSP111cおよびGPU111dを有する。なお、CPU111aは、第1の実施の形態のプロセッサ12に対応する。
CPU111a,111bは、プログラムの命令を実行する演算回路を含むプロセッサである。CPU111a,111bは、不揮発性メモリ113に記憶されたプログラムやデータの少なくとも一部をRAM112にロードし、プログラムを実行する。CPU111a,111bは複数のCPUコアを有していてもよい。複数のCPUまたは複数のCPUコアを用いて、第2の実施の形態の処理を並列に実行することも可能である。
DSP111cは、デジタル信号を処理する。例えば、DSP111cは、無線インタフェース114から送信される送信信号や無線インタフェース114が受信する受信信号を処理する。また、例えば、DSP111cは、オーディオインタフェース117で再生する音声信号や入力される音声信号を処理する。GPU111dは、画像信号を処理する。例えば、GPU111dは、ディスプレイ115に表示する画像を生成する。
RAM112は、CPU111a,111bが実行するプログラムや演算に用いられるデータを一時的に記憶する揮発性の半導体メモリである。なお、携帯端末装置100は、RAM以外の種類のメモリを有してもよく、複数個のメモリを有してもよい。
不揮発性メモリ113は、OS(Operating System)やミドルウェアやアプリケーションソフトウェアなどのソフトウェアのプログラム、および、データを記憶する不揮発性の記憶装置である。プログラムには、携帯端末装置100の表面温度を推定するプログラムが含まれる。不揮発性メモリ113として、例えば、フラッシュメモリやSSD(Solid State Drive)などが用いられる。ただし、携帯端末装置100は、HDD(Hard Disk Drive)など他の種類の不揮発性の記憶装置を有してもよい。
無線インタフェース114は、無線リンクを介して基地局などの他の通信装置と通信する通信インタフェースである。ただし、携帯端末装置100は、有線ケーブルを介してスイッチやルータなどの他の通信装置と通信する有線インタフェースを有してもよい。
ディスプレイ115は、制御部111からの命令に従って画像を表示する。ディスプレイ115として、例えば、液晶ディスプレイ(LCD:Liquid Crystal Display)や有機EL(OEL:Organic Electro-Luminescence)ディスプレイなどが用いられる。
カメラ116は、静止画像または動画像を撮像する。オーディオインタフェース117は、音を再生するスピーカや音を入力するマイクロホンを有する。
温度センサ118a,118bは、その温度センサが配置された位置における温度を測定する。温度センサ118a,118bとして、例えば、サーミスタが用いられる。温度センサ118aは、CPU111aの近くに配置されている。温度センサ118bは、CPU111aなどの熱源から十分に離れた位置に配置されている。例えば、温度センサ118bは、バッテリ123の近くに配置されている。温度センサ118a,118bは、測定した温度を制御部111に通知する。
タッチセンサ119a,119bは、ユーザの手のひらや指などの人体の接触を検知するセンサデバイスである。タッチセンサ119a,119bをタッチパネルと言うこともある。タッチセンサ119aは、ディスプレイ115に重ねて配置されている。タッチセンサ119bは、ディスプレイ115が配置された前面とは反対の裏面に配置されている。タッチセンサ119a,119bは、指などが接触した位置を検出し、検出した位置を制御部111に通知する。位置検出方法として、例えば、マトリクススイッチ方式、抵抗膜方式、表面弾性波方式、赤外線方式、電磁誘導方式、静電容量方式などが用いられる。ただし、携帯端末装置100は、キーパッドなど他の入力装置を更に有してもよい。例えば、キーパッドは、1以上の入力キーを有する。キーパッドは、ユーザによる入力キーの押下を検出し、押下された入力キーを制御部111に通知する。
媒体リーダ121は、記録媒体122に記録されたプログラムやデータを読み取る読み取り装置である。記録媒体122として、例えば、フラッシュメモリ、フレキシブルディスク(FD:Flexible Disk)やHDDなどの磁気ディスク、CD(Compact Disc)やDVD(Digital Versatile Disc)などの光ディスク、光磁気ディスク(MO:Magneto-Optical disk)などが用いられる。媒体リーダ121は、記録媒体122から読み取ったプログラムやデータをRAM112または不揮発性メモリ113に保存する。
バッテリ123は、蓄電と放電を繰り返すことが可能な二次電池である。バッテリ123には、充電回路124によって電気エネルギーが蓄積される。バッテリ123は、蓄積した電気エネルギーを携帯端末装置100の構成部品に供給する。例えば、バッテリ123は、CPU111a,111bや無線インタフェース114に電気エネルギーを供給する。充電回路124は、携帯端末装置100の外部にある外部電源から電気エネルギーを取得し、電気エネルギーをバッテリ123に充電する。充電回路124による充電は、携帯端末装置100が外部電源に接続されたときに行われる。
図3は、携帯端末装置の部品の配置例を示す図である。
携帯端末装置100は、その外郭を形成する筐体101と、筐体101の内部に格納された基板102とを有する。筐体101は、第1の実施の形態の筐体14に対応する。携帯端末装置100の前面には、ディスプレイ115およびタッチセンサ119aが配置される。携帯端末装置100の背面には、タッチセンサ119bが配置される。
基板102の同一面上に、熱源としてのCPU111aおよび温度センサ118a,118bが配置される。温度センサ118aはCPU111aの近傍に配置され、温度センサ118bはCPU111aから十分に離れた位置に配置される。CPU111aおよび温度センサ118a,118bが配置される基板102の面は、携帯端末装置100の裏面側である。よって、筐体101の表面のうちCPU111aの発熱によって大きく温度が上昇する熱源エリアは、タッチセンサ119bが配置された裏面になる。
図4は、設計装置のハードウェア例を示すブロック図である。
第2の実施の形態の設計装置200は、携帯端末装置100の表面温度の推定に用いる推定式を生成する。設計装置200によって生成された推定式は、予め携帯端末装置100の不揮発性メモリ113に保存される。ただし、設計装置200または他の装置からネットワーク経由で携帯端末装置100に推定式が送信されてもよい。設計装置200は、ユーザによって操作されるクライアントコンピュータなどのクライアント装置でもよいし、サーバコンピュータなどのサーバ装置でもよい。設計装置200は、CPU211、RAM212、HDD213、画像信号処理部214、入力信号処理部215、媒体リーダ216および通信インタフェース217を有する。
CPU211は、プログラムの命令を実行する演算回路を含むプロセッサである。CPU211は、HDD213に記憶されたプログラムやデータの少なくとも一部をRAM212にロードし、プログラムを実行する。RAM212は、CPU211が実行するプログラムやCPU211が演算に用いるデータを一時的に記憶する揮発性の半導体メモリである。HDD213は、OSやミドルウェアやアプリケーションソフトウェアなどのソフトウェアのプログラム、および、データを記憶する不揮発性の記憶装置である。なお、設計装置200は、フラッシュメモリやSSDなどの他の種類の記憶装置を備えてもよい。
画像信号処理部214は、CPU211からの命令に従って、設計装置200に接続されたディスプレイ221に画像を出力する。入力信号処理部215は、設計装置200に接続された入力デバイス222から入力信号を取得し、CPU211に出力する。入力デバイス222としては、マウスやタッチパネルやタッチパッドなどのポインティングデバイス、キーボード、リモートコントローラ、ボタンスイッチなどを用いることができる。また、設計装置200に、複数の種類の入力デバイスが接続されていてもよい。
媒体リーダ216は、記録媒体223に記録されたプログラムやデータを読み取る読み取り装置である。記録媒体223として、例えば、フレキシブルディスクやHDDなどの磁気ディスク、CDやDVDなどの光ディスク、光磁気ディスク、半導体メモリなどが用いられる。媒体リーダ216は、例えば、記録媒体223から読み取ったプログラムやデータをRAM212またはHDD213に格納する。
通信インタフェース217は、ネットワーク224に接続され、ネットワーク224を介して他の装置と通信を行う。通信インタフェース217は、スイッチなどの通信装置とケーブルで接続される有線通信インタフェースでもよいし、基地局と無線リンクで接続される無線通信インタフェースでもよい。
次に、CPU111aから筐体表面への熱伝達を示すモデルを説明する。
図5は、第1の熱回路モデルの例を示す図である。
熱回路モデル30は、手のひらや指などの人体が筐体表面に接触していない場合、すなわち、空気のみが筐体表面に接触している場合を想定している。熱回路モデル30は、熱抵抗回路31,32、熱容量回路33およびグラウンド(GND)34,35を含む。筐体101の中には、CPU111aに相当する熱源と、熱源および筐体表面に接する伝熱媒体とが存在する。筐体101の外には空気が存在する。
熱源はグラウンド34に接続される。熱抵抗回路31は伝熱媒体の熱抵抗Rを示す回路である。熱抵抗回路31は熱源に接続される。熱容量回路33は伝熱媒体の熱容量Cを示す回路である。熱容量回路33は熱抵抗回路31およびグラウンドに接続される。熱抵抗回路32は空気の熱抵抗R2aを示す回路である。熱抵抗回路32は熱抵抗回路31、熱容量回路33およびグラウンド35に接続される。熱抵抗回路31,32および熱容量回路33に挟まれる位置が筐体表面に相当する。
熱回路モデル30では、熱源温度T、基準点温度TGaおよび表面温度Tsurが定義される。熱源温度TはCPU111aの温度である。基準点温度TGaは外気温である。グラウンド34,35は基準点温度TGaをもつ。表面温度Tsurは筐体101と空気との境界の温度である。熱抵抗回路31,32および熱容量回路33に挟まれる位置が表面温度Tsurをもつ。熱源とグラウンド34の間の温度差はT−TGaである。熱抵抗回路32の両端間の温度差はTsur−TGaである。熱抵抗Rが存在するため、表面温度Tsurは熱源温度Tよりも低い。また、熱容量Cが存在するため、表面温度Tsurの変化は熱源温度Tの変化に対して遅延する。
熱回路モデル30を仮定すると、Tsur−TGaとT−TGaは数式(1)のような関係をもつ。よって、表面温度Tsurは、熱源温度Tと基準点温度TGaから数式(2)のように算出される。熱伝達係数kGa=R2a/(R+R2a)は、表面温度Tsurの変化量を表し、熱源温度Tが変化してから十分に時間が経った後の定常状態に関係する。熱伝達係数を「k値」と言うことがある。熱時定数τGa=C2a/(R+R2a)は、表面温度Tsurの変化速度を表し、熱源温度Tが変化してから定常状態に至るまでの過渡応答に関係する。変数sはラプラス変換後の周波数領域の変数である。なお、以下の説明で時間領域の変数を変数tと表すことがある。
Figure 2019095948
Figure 2019095948
図6は、第2の熱回路モデルの例を示す図である。
熱回路モデル40は、手のひらや指などの人体が筐体表面に接触している場合を想定している。熱回路モデル40は、熱抵抗回路41,42、熱容量回路43およびグラウンド44,45を含む。熱抵抗回路41,42は、熱回路モデル30の熱抵抗回路31,32に対応する。熱容量回路43は、熱回路モデル30の熱容量回路33に対応する。グラウンド44,45は、熱回路モデル30のグラウンド34,35に対応する。
熱抵抗回路41は伝熱媒体の熱抵抗Rを示す。熱容量回路43は伝熱媒体の熱容量Cを示す。熱抵抗回路42は人体の熱抵抗R2fを示す。後述するようにR2a>R2fである。熱回路モデル40では、熱源温度T、基準点温度TGfおよび表面温度Tsurが定義される。基準点温度TGfは体温である。グラウンド44,45は基準点温度TGfをもつ。表面温度Tsurは筐体101と人体との境界の温度である。熱抵抗回路41,42および熱容量回路43に挟まれる位置が表面温度Tsurをもつ。熱源とグラウンド44の間の温度差はT−TGfである。熱抵抗回路42の両端間の温度差はTsur−TGfである。
熱回路モデル40を仮定すると、Tsur−TGfとT−TGfは数式(3)のような関係をもつ。よって、表面温度Tsurは、熱源温度Tと基準点温度TGfから数式(4)のように算出される。熱伝達係数kGf=R2f/(R+R2f)は、熱源温度Tが変化してから十分に時間が経った後の定常状態を表している。熱時定数τGf=C2f/(R+R2f)は、熱源温度Tが変化してから定常状態に至るまでの過渡応答を表している。
Figure 2019095948
Figure 2019095948
図7は、熱源温度と表面温度の関係例を示すグラフである。
手のひらや指などの人体は、皮膚層と筋肉層を含む。皮膚層は熱伝導率λf1=0.42[W/mK]、筋肉層は熱伝導率λf2=0.50[W/mK]である。熱伝導率λf1,λf2については、例えば、次の文献に記載されている。Paolo Bernardi, Marta Cavagnaro, Stefano Pisa and Emanuele Piuzzi, "Specific Absorption Rate and Temperature Increases in the Head of a Cellular-Phone User", IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. 48, No. 7, July 2000。また、皮膚層は厚さx=0.8×10−2[m]、筋肉層は厚さx=1.6×10−2[m]である。厚さx,xについては、例えば、次の文献に記載されている。Liang-Tseng Fan, Fu-Tong HSU and Ching-Lai Hwang, "A Review on Mathematical Models of the Human Thermal System", IEEE Transactions on Bio-medical Engineering, Vol. BME-18, No. 3, May 1971。
よって、人体の熱伝達率hは1/h=x/λf1+x/λf2の関係を満たし、熱伝達率h=19.6[W/mK]と算出される。一方、空気は熱伝導率λ=0.0257[W/mK]であり、熱伝達率h=7[W/mK]である。以上より、人体の熱伝達率hは空気の熱伝達率hの約3倍であり、人体の熱抵抗R2fは空気の熱抵抗R2aの約3分の1になる。従って、R2f=R2a/3と近似できる。
グラフ50は、定常状態における熱源温度Tと表面温度Tsurの関係を表す。直線51は、筐体101の外側が空気である場合、すなわち、熱回路モデル30の場合の熱源温度Tと表面温度Tsurの関係を表す。直線52は、筐体101の外側が人体である場合、すなわち、熱回路モデル40の場合の熱源温度Tと表面温度Tsurの関係を表す。
直線51はTsur=0.6(T−25)+25[℃]という数式で表される。ここでは、熱伝達係数kGa=R2a/(R+R2a)=0.6、外気温である基準点温度TGa=25[℃]と仮定している。定常状態であるため変数s=0である。直線52はTsur=0.33(T−32.3)+32.3[℃]という数式で表される。ここでは、熱伝達係数kGf=R2f/(R+R2f)=R2a÷3/(R+R2a÷3)=0.33、手の温度である基準点温度TGf=32.3[℃]としている。この条件下では熱源温度Tが44[℃]を超えると、ユーザが携帯端末装置100を手に持っている場合の表面温度Tsurが手に持っていないときの表面温度Tsurよりも低下する。
図8は、熱源エリアの例を示す図である。
CPU111aの発熱による表面温度の上昇は、筐体表面全体で均一に発生するわけではなく、CPU111aの位置に応じて局所的に発生する。このため、人体が筐体表面に接触したときの表面温度への影響も、その接触位置に応じて変わる。第2の実施の形態では、筐体表面のうちCPU111aの位置に応じた熱源エリア103を定義し、熱源エリア103に人体が接触した場合は表面温度が低下し、熱源エリア103の外に人体が接触した場合は表面温度が低下しないものとみなす。
ここで、CPU111aと筐体表面との間の伝熱媒体として、熱伝導率が等方性の材料を想定する。この場合、CPU111aの熱はCPU111aからの距離に比例した広さのエリアに広がる。第2の実施の形態では熱源エリア103を、その中心位置がCPU111aの中心位置の真上であり、その一辺の長さがCPU111aの一辺の長さに筐体101の厚さを加えた値であるエリアとして定義する。熱源エリア103は、熱源であるCPU111aの位置に応じて予め定義される。
次に、温度センサ118aで測定されるセンサ温度Tと温度センサ118bで測定される基準点温度Tから表面温度Tsurを推定する方法を説明する。
CPU111aの熱が基板102を介して温度センサ118aに伝達する。CPU111aから温度センサ118aには徐々に熱が伝達するため、温度センサ118aで測定されるセンサ温度Tには過渡応答が発生する。また、CPU111aの熱が筐体101の表面に伝達する。CPU111aから筐体101の表面には徐々に熱が伝達するため、筐体101の表面温度Tsurには過渡応答が発生する。
−TとT−Tの間には数式(5)の関係が成立する。伝達関数H(s)は、CPU111aの相対温度T−Tを温度センサ118aの相対温度T−Tに変換する周波数領域上の伝達関数である。伝達関数H(s)は、周波数領域の変数s、熱伝達係数kおよび熱時定数τを含む。熱伝達係数kは、CPU111aと温度センサ118aの間の熱伝達係数である。熱時定数τは、CPU111aと温度センサ118aの間の熱時定数である。熱伝達係数kおよび熱時定数τは設計装置200で決定される。なお、温度センサ118bは熱源から十分に離れているという前提のもと、温度センサ118bで測定される温度を基準点温度Tとみなしている。
Figure 2019095948
sur−TとT−Tの間には数式(6)の関係が成立する。伝達関数G(s)は、CPU111aの相対温度T−Tを筐体表面の相対温度Tsur−Tに変換する周波数領域上の伝達関数である。伝達関数G(s)は、周波数領域の変数s、熱伝達係数kおよび熱時定数τを含む。熱伝達係数kは、CPU111aと筐体表面の間の熱伝達係数である。熱時定数τは、CPU111aと筐体表面の間の熱時定数である。熱伝達係数kおよび熱時定数τは設計装置200で決定される。
Figure 2019095948
筐体101の表面温度Tsurは、数式(5)と数式(6)から数式(7)のように算出される。すなわち、表面温度Tsurはセンサ温度Tと基準点温度Tから推定される。ここで、伝達関数H(s)に含まれる熱伝達係数kおよび熱時定数τは、人体が熱源エリア103に接触しているか否かに依存しない。一方、伝達関数G(s)に含まれる熱伝達係数kおよび熱時定数τは、人体が熱源エリア103に接触しているか否かに依存する。人体が熱源エリア103に接触していない場合、熱伝達係数k=kGaであり、熱時定数τ=τGaである。人体が熱源エリア103に接触している場合、熱伝達係数k=kGfであり、熱時定数τ=τGfである。
Figure 2019095948
上記の数式(7)は周波数領域の計算を含む一方、実際に測定されるセンサ温度Tおよび基準点温度Tは離散的な時系列データである。そこで、時刻tの表面温度Tsur(t)は数式(8)のように算出される。数式(8)は、逆ラプラス変換を用いて数式(7)から変換された差分方程式であり、時間領域での計算を示す。ただし、数式(8)は、人体が熱源エリア103に接触していない場合に使用する差分方程式である。
Figure 2019095948
表面温度Tsur(t)の計算には、時刻tの温度センサ118aの相対温度T(t)−T(t)と、時刻tの基準点温度T(t)を用いる。更に、表面温度Tsur(t)の計算には、Δt時間前の温度センサ118aの相対温度T(t−Δt)−T(t−Δt)と、Δt時間前の筐体表面の相対温度Tsur(t−Δt)−T(t−Δt)を用いる。Δt時間前の温度センサ118aの相対温度とΔt時間前の筐体表面の相対温度は、前回測定時に保存しておいた遅延データである。Δtは表面温度Tsur(t)を算出する周期であり、例えばΔt=10[秒]に設定される。
人体が熱源エリア103に接触していない場合、時刻tの温度センサ118aの相対温度に対しては重みとして係数a0aが付与される。Δt時間前の温度センサ118aの相対温度に対しては重みとして係数a1aが付与される。Δt時間前の筐体表面の相対温度に対しては重みとして係数b1aが付与される。係数a0a,a1a,b1aは、熱伝達係数k,kGa、熱時定数τ,τGaおよび時間Δtを用いて数式(9)のように定義される。
Figure 2019095948
人体が熱源エリア103に接触している場合、時刻tの表面温度Tsur(t)は数式(10)のように算出される。時刻tの温度センサ118aの相対温度に対しては重みとして係数a0fが付与される。Δt時間前の温度センサ118aの相対温度に対しては重みとして係数a1fが付与される。Δt時間前の筐体表面の相対温度に対しては重みとして係数b1fが付与される。係数a0f,a1f,b1fは、熱伝達係数k,kGf、熱時定数τ,τGfおよび時間Δtを用いて数式(11)のように定義される。
Figure 2019095948
Figure 2019095948
次に、携帯端末装置100と設計装置200の機能について説明する。
図9は、携帯端末装置と設計装置の機能例を示すブロック図である。
携帯端末装置100は、係数記憶部131、遅延データ記憶部132、温度測定部133、表面温度推定部134および熱源制御部135を有する。係数記憶部131および遅延データ記憶部132は、例えば、RAM112または不揮発性メモリ113を用いて実装される。温度測定部133、表面温度推定部134および熱源制御部135は、例えば、CPU111aまたはCPU111bが実行するプログラムを用いて実装される。
係数記憶部131は、上記の数式(9)および数式(11)に示した係数を示す係数テーブルを記憶する。係数テーブルは、携帯端末装置100の製造時または出荷時に係数記憶部131に格納されてもよい。また、係数テーブルは、記録媒体122に格納されて携帯端末装置100に配布されてもよい。また、係数テーブルは、無線ネットワークを介してサーバ装置から携帯端末装置100に配布されてもよい。遅延データ記憶部132は、数式(8)および数式(10)の遅延データを示す遅延データテーブルを記憶する。
温度測定部133は、周期Δtで定期的に、温度センサ118aからセンサ温度Tを取得し、温度センサ118bから基準点温度Tを取得する。表面温度推定部134は、周期Δtで定期的に筐体101の表面温度Tsurを推定する。具体的には、表面温度推定部134は、温度測定部133から最新のセンサ温度Tと基準点温度Tを取得する。表面温度推定部134は、最新のセンサ温度Tおよび基準点温度Tと、係数記憶部131に記憶された係数と、遅延データ記憶部132に記憶された遅延データに基づいて、表面温度Tsurを算出する。表面温度推定部134は、算出した表面温度Tsurを用いて、遅延データ記憶部132に記憶された遅延データを更新する。
熱源制御部135は、表面温度推定部134が算出した表面温度Tsurに基づいて、熱源であるCPU111aを制御する。熱源制御部135は、算出された表面温度Tsurと所定の閾値とを比較する。閾値はユーザが携帯端末装置100に触れる際に許容できる温度であり予め設定される。表面温度Tsurが閾値以上である場合、CPU111aの最大周波数を1段階引き下げる。これにより、物理的上限にかかわらずクロック周波数の上限が当該最大周波数に設定され、高負荷時のCPU111aの発熱が減少する。一方、表面温度Tsurが閾値未満である場合、CPU111aの最大周波数を1段階引き上げる。これにより、CPU111aの演算能力が向上する。
設計装置200は、基本パラメータ記憶部231、係数記憶部232、温度データ取得部233および伝達関数生成部234を有する。基本パラメータ記憶部231および係数記憶部232は、例えば、RAM212またはHDD213を用いて実装される。温度データ取得部233および伝達関数生成部234は、例えば、CPU211が実行するプログラムを用いて実装される。
基本パラメータ記憶部231は、数式(9)および数式(11)の右辺に現れる基本パラメータを示す基本パラメータテーブルを記憶する。基本パラメータには、熱伝達係数k,kGa,kGfおよび熱時定数τ,τGa,τGfが含まれる。これらの基本パラメータは設計装置200によって決定される。係数記憶部232は、携帯端末装置100の係数記憶部131と同様の係数テーブルを記憶する。これらの係数は、数式(9)および数式(11)に従って基本パラメータから算出される。設計装置200は、係数テーブルを携帯端末装置100の不揮発性メモリ113に書き込んでもよい。また、設計装置200は、係数テーブルを記録媒体122に書き込んで配布してもよい。また、設計装置200は、係数テーブルをネットワーク224を介して送信してもよい。
ただし、設計装置200は、数式(9)および数式(11)の左辺の係数に代えて右辺の基本パラメータを携帯端末装置100に提供してもよい。その場合、携帯端末装置100は基本パラメータテーブルを記憶する。携帯端末装置100は、表面温度を推定する毎または表面温度を推定する前に、基本パラメータから係数を算出してもよい。また、携帯端末装置100は、基本パラメータから表面温度を直接推定してもよい。
温度データ取得部233は、携帯端末装置100の実機またはサンプル実装を用いて測定した温度データを取得する。温度データは、設計装置200のユーザによって設計装置200に対して入力されてもよい。また、温度データは、設計装置200に接続された携帯端末装置100や測定デバイスから直接取得してもよい。
伝達関数生成部234は、温度データ取得部233から取得した温度データを用いて、最小二乗法などのフィッティング方法により、伝達関数に表れる基本パラメータの値を決定する。伝達関数生成部234は、決定した基本パラメータの値を基本パラメータ記憶部231に格納する。そして、伝達関数生成部234は、基本パラメータの値から、数式(8)および数式(10)に表れる係数の値を算出する。伝達関数生成部234は、算出した係数の値を係数記憶部232に格納する。
図10は、基本パラメータテーブルの例を示す図である。
基本パラメータテーブル241は、基本パラメータ記憶部231に記憶される。基本パラメータテーブル241は、基本パラメータ毎にパラメータ名と値の組を記憶する。基本パラメータには、熱伝達係数k、熱時定数τ、熱伝達係数kGa、熱時定数τGa、熱伝達係数kGfおよび熱時定数τGfが含まれる。基本パラメータは以下のように決定する。
まず、筐体表面に人体が接触していない状態でCPU111aの負荷をステップ的に変化させ、各時刻の表面温度Tsur、熱源温度T、センサ温度Tおよび基準点温度Tを測定する。定常状態におけるセンサ温度T、熱源温度Tおよび基準点温度Tを用いて、T−T=k(T−T)から熱伝達係数kを決定する。また、定常状態における表面温度Tsur、熱源温度Tおよび基準点温度Tを用いて、Tsur−T=kGa(T−T)から熱伝達係数kGaを決定する。次に、過渡応答におけるセンサ温度T、熱源温度Tおよび基準点温度Tを用いて、L(T−T)=H(s)L(T−T)からH(s)の中の熱時定数τを決定する。L(・)はラプラス変換を示す。また、過渡応答における表面温度Tsur、熱源温度Tおよび基準点温度Tを用いて、L(Tsur−T)=G(s)L(T−T)からG(s)の中の熱時定数τGaを決定する。
次に、筐体表面に人体が接触している状態でCPU111aの負荷をステップ的に変化させ、各時刻の表面温度Tsur、熱源温度Tおよび基準点温度Tを測定する。定常状態における表面温度Tsur、熱源温度Tおよび基準点温度Tを用いて、Tsur−T=kGf(T−T)から熱伝達係数kGfを決定する。次に、過渡応答における表面温度Tsur、熱源温度Tおよび基準点温度Tを用いて、L(Tsur−T)=G(s)L(T−T)からG(s)の中の熱時定数τGfを決定する。
図11は、係数テーブルの例を示す図である。
係数テーブル242は、係数記憶部131,232に記憶される。係数テーブル242は、状況、係数名および値の項目を含む。状況の項目には「接触なし」または「接触あり」が登録される。係数名の項目には、「接触なし」について係数a0a,a1a,b1aが登録され、「接触あり」について係数a0f,a1f,b1fが登録される。係数a0a,a1a,b1aの値は、数式(9)に従って熱伝達係数k,kGaと熱時定数τ,τGaと時間Δtから算出される。係数a0f,a1f,b1fの値は、数式(11)に従って熱伝達係数k,kGfと熱時定数τ,τGfと時間Δtから算出される。
図12は、遅延データテーブルの例を示す図である。
遅延データテーブル141は、遅延データ記憶部132に記憶される。遅延データテーブル141は、データ名と値の組を記憶する。遅延データには、「相対センサ温度」と「相対表面温度」が含まれる。相対センサ温度は、Δt時間前に温度センサ118aで測定されたセンサ温度T(t−Δt)とΔt時間前に温度センサ118bで測定された基準点温度T(t−Δt)の差である。相対表面温度は、Δt時間前に推定された表面温度Tsur(t−Δt)とΔt時間前の基準点温度T(t−Δt)の差である。遅延データテーブル141の値はΔt時間周期で更新される。
次に、携帯端末装置100と設計装置200の処理手順を説明する。
図13は、伝達関数決定の手順例を示すフローチャートである。
(S10)伝達関数生成部234は、表面温度Tsurを推定する筐体表面の位置(推定点)の指定を、設計装置200のユーザから受け付ける。指定される推定点は、熱源エリア103内であって最も温度が高くなると考えられる位置である。
(S11)温度データ取得部233は、熱源エリア103に人体が接触していない状態でCPU111aの負荷を変化させながら測定された、熱源温度T、センサ温度T、基準点温度Tおよび表面温度Tsurの時系列データを取得する。
(S12)伝達関数生成部234は、センサ温度T、熱源温度Tおよび基準点温度Tの時系列データの中から定常状態のデータを抽出し、時間領域で最小自乗法などのフィッティングアルゴリズムを用いて熱伝達係数kを算出する。伝達関数生成部234は、算出した熱伝達係数kを基本パラメータテーブル241に登録する。
(S13)伝達関数生成部234は、表面温度Tsur、熱源温度Tおよび基準点温度Tの時系列データの中から定常状態のデータを抽出し、時間領域で最小自乗法などのフィッティングアルゴリズムを用いて熱伝達係数kGaを算出する。伝達関数生成部234は、算出した熱伝達係数kGaを基本パラメータテーブル241に登録する。
(S14)伝達関数生成部234は、センサ温度T、熱源温度Tおよび基準点温度Tの時系列データの中から過渡応答のデータを抽出し、周波数領域で最小自乗法などのフィッティングアルゴリズムを用いて熱時定数τを算出する。伝達関数生成部234は、算出した熱時定数τを基本パラメータテーブル241に登録する。
(S15)伝達関数生成部234は、表面温度Tsur、熱源温度Tおよび基準点温度Tの時系列データの中から過渡応答のデータを抽出し、周波数領域で最小自乗法などのフィッティングアルゴリズムを用いて熱時定数τGaを算出する。伝達関数生成部234は、算出した熱時定数τGaを基本パラメータテーブル241に登録する。
(S16)伝達関数生成部234は、熱伝達係数k,kGaおよび熱時定数τ,τGaから差分方程式の係数a0a,a1a,b1aを算出する。伝達関数生成部234は、算出した係数a0a,a1a,b1aを係数テーブル242に登録する。
(S17)温度データ取得部233は、熱源エリア103に人体が接触している状態でCPU111aの負荷を変化させながら測定された、熱源温度T、基準点温度Tおよび表面温度Tsurの時系列データを取得する。
(S18)伝達関数生成部234は、表面温度Tsur、熱源温度Tおよび基準点温度Tの時系列データの中から定常状態のデータを抽出し、時間領域で最小自乗法などのフィッティングアルゴリズムを用いて熱伝達係数kGfを算出する。伝達関数生成部234は、算出した熱伝達係数kGfを基本パラメータテーブル241に登録する。
(S19)伝達関数生成部234は、表面温度Tsur、熱源温度Tおよび基準点温度Tの時系列データの中から過渡応答のデータを抽出し、周波数領域で最小自乗法などのフィッティングアルゴリズムを用いて熱時定数τGfを算出する。伝達関数生成部234は、算出した熱時定数τGfを基本パラメータテーブル241に登録する。
(S20)伝達関数生成部234は、熱伝達係数k,kGfおよび熱時定数τ,τGfから差分方程式の係数a0f,a1f,b1fを算出する。伝達関数生成部234は、算出した係数a0f,a1f,b1fを係数テーブル242に登録する。
図14は、第2の実施の形態の熱源制御の手順例を示すフローチャートである。
(S30)表面温度推定部134は、タッチセンサ119bから接触通知を待つ。接触通知は、筐体101の裏面に人体などが接触しているときに発行される。接触通知には、タッチセンサ119bが検出した接触位置の座標が含まれる。表面温度推定部134は、例えば、熱源制御の処理を開始してから所定時間(例えば、1秒間)だけ接触通知を待つ。タッチセンサ119bから接触通知があった場合、表面温度推定部134は、接触位置が熱源エリア103に含まれるか判定する。熱源エリア103の座標は、例えば、携帯端末装置100の不揮発性メモリ113に予め登録されている。これにより、表面温度推定部134は熱源エリア103の接触の有無を判定する。
(S31)表面温度推定部134は、熱源エリア103への接触があるか判断する。熱源エリア103への接触がある場合、ステップS33に処理が進む。熱源エリア103への接触がない場合、すなわち、筐体101の裏面への接触が検出されていないかまたは接触位置が熱源エリア103の外である場合、ステップS32に処理が進む。
(S32)表面温度推定部134は、熱伝達係数k=kGa、熱時定数τ=τGaとみなし、係数テーブル242から接触なしの係数a0a,a1a,b1aを選択する。
(S33)表面温度推定部134は、熱伝達係数k=kGf、熱時定数τ=τGfとみなし、係数テーブル242から接触ありの係数a0f,a1f,b1fを選択する。
(S34)温度測定部133は、温度センサ118aからセンサ温度Tを取得し、温度センサ118bから基準点温度Tを取得する。なお、ステップS34の処理はステップS30〜S33の処理と並列に行ってもよい。
(S35)表面温度推定部134は、遅延データテーブル141から相対センサ温度と相対表面温度を読み出す。表面温度推定部134は、今回のセンサ温度Tおよび基準点温度Tと、読み出した遅延データと、ステップS32またはステップS33で選択した係数とを用いて、今回の表面温度Tsurを推定する。熱源エリア103の接触がない場合、数式(8)の差分方程式に従って表面温度Tsurを推定する。熱源エリア103の接触がある場合、数式(10)の差分方程式に従って表面温度Tsurを推定する。
(S36)表面温度推定部134は、今回のセンサ温度Tと基準点温度Tの差を今回の相対センサ温度として算出し、今回の表面温度Tsurと基準点温度Tの差を今回の相対表面温度として算出する。表面温度推定部134は、遅延データテーブル141に登録された前回の相対センサ温度および相対表面温度を今回の値に置換することで、遅延データテーブル141の遅延データを更新する。
(S37)熱源制御部135は、ステップS35で推定した表面温度Tsurと閾値Tmaxとを比較する。閾値Tmaxは、例えば、携帯端末装置100の不揮発性メモリ113に予め登録されている。熱源制御部135は、表面温度Tsurが閾値Tmax以上であるか判断する。表面温度Tsurが閾値Tmax以上である場合、ステップS38に処理が進む。表面温度Tsurが閾値Tmax未満である場合、ステップS39に処理が進む。
(S38)熱源制御部135は、CPU111aの最大周波数を1段階引き下げる。すなわち、CPU111aのクロック周波数の制限が強化される。これにより、高負荷時のCPU111aの発熱が減少する。ただし、そのときのCPU111aの演算能力は低下する。なお、CPU111aの最大周波数が既に物理的下限になっている場合、熱源制御部135はCPU111aの現在の最大周波数を維持する。
(S39)熱源制御部135は、CPU111aの最大周波数を1段階引き上げる。すなわち、CPU111aのクロック周波数の制限が緩和される。これにより、高負荷時のCPU111aの演算能力が向上する。ただし、そのときのCPU111aの発熱が増加する。なお、CPU111aの最大周波数が既に物理的上限になっている場合、熱源制御部135はCPU111aの現在の最大周波数を維持する。
(S40)表面温度推定部134は、Δt=10[秒]だけ待つ。Δt時間経過すると、再びステップS30〜S40の処理が実行される。
なお、ユーザが手袋をして携帯端末装置100を操作している場合や、携帯端末装置100にカバーを装着している場合など、ユーザの手が携帯端末装置100に直接触れておらず間接的に触れている場合がある。ユーザの手と携帯端末装置100との間に存在する物質は、人体よりも熱抵抗が高く空気よりも熱抵抗が低いことがある。例えば、手袋に使用される毛糸は空気を含むため、手袋の熱抵抗は人体の熱抵抗よりも高く空気の熱抵抗よりも低くなる。よって、ユーザが手袋をして携帯端末装置100に触れた場合の表面温度は、手袋をせずに携帯端末装置100に触れた場合の表面温度より高く、携帯端末装置100に触れていない場合の表面温度より低くなる。
そこで、ユーザの手が携帯端末装置100に直接触れていない場合には、表面温度の推定値が実際よりも低く算出されるリスクを抑えるため、ユーザの手が携帯端末装置100に触れていないとみなすようにしてもよい。例えば、タッチセンサ119bの感度(検出精度)を低く設定することで、ユーザの手と携帯端末装置100とが直接接触しておらず距離がある場合に接触を検出しないようにすることが考えられる。好ましくは、タッチセンサ119bは、ユーザが手袋をした手で携帯端末装置100を持っているときは接触を検出しないように設定される。また、好ましくは、タッチセンサ119bは、携帯端末装置100にカバーを装着した状態でユーザが携帯端末装置100を持っているとき(ユーザの手がカバーに接しているとき)は接触を検出しないように設定される。
第2の実施の形態の携帯端末装置100によれば、人体が熱源エリアに接触していない場合の熱伝達関数と人体が熱源エリアに接触している場合の熱伝達関数とが用意される。筐体裏面のタッチセンサを用いて熱源エリアの接触の有無が判定され、接触なしの場合には前者の熱伝達関数と2つの温度センサの測定値から表面温度が推定され、接触ありの場合には後者の熱伝達関数と2つの温度センサの測定値から表面温度が推定される。そして、推定した表面温度に基づいてCPUの最大周波数が変更される。
接触あり用の熱伝達関数の熱伝達係数(k値)は、接触なし用の熱伝達関数の熱伝達係数より小さくなるため、接触あり用の熱伝達関数から算出される表面温度は接触なし用の熱伝達関数から算出される表面温度より低くなる。これにより、人体が熱源エリアに接触することによる表面温度の低下を考慮して表面温度を推定することができ、推定精度が向上する。よって、表面温度の推定値が実際よりも高く算出されるリスクを低減でき、CPUのクロック周波数が過剰に制限されてしまうリスクを低減できる。その結果、CPUのパフォーマンスを向上させることができる。
[第3の実施の形態]
次に、第3の実施の形態を説明する。第2の実施の形態との違いを中心に説明し、第2の実施の形態と同様の内容については説明を省略することがある。
第3の実施の形態の携帯端末装置は、CPUに加えて充電回路も熱源となり得ることを考慮して、バッテリ充電の停止を優先することでCPUのクロック周波数の制限を緩和する。第3の実施の形態の携帯端末装置は、図2,3,8,9,11,12に示した第2の実施の形態の携帯端末装置100の構成と同様の構成によって実現できる。以下、図2,3,8,9,11,12と同様の符号を用いて第3の実施の形態を説明する。
図15は、第3の実施の形態の熱源制御の手順例を示すフローチャートである。
(S50)表面温度推定部134は、表面温度Tsurを推定する。ここでは、第2の実施の形態のステップS30〜S36と同様の処理が実行される。
(S51)充電回路124は、バッテリ充電率Pbattを測定する。熱源制御部135は、充電回路124からバッテリ充電率Pbattを取得する。
(S52)熱源制御部135は、推定された表面温度Tsurが閾値Tmax以上であるか判断する。表面温度Tsurが閾値Tmax以上である場合はステップS53に処理が進み、表面温度Tsurが閾値Tmax未満である場合はステップS57に処理が進む。
(S53)熱源制御部135は、バッテリ充電率Pbattが閾値以下であるか判断する。バッテリ充電率の閾値は予め設定されており、例えば、閾値=80%である。バッテリ充電率Pbattが閾値以下である場合はステップS56に処理が進み、バッテリ充電率Pbattが閾値を超える場合はステップS54に処理が進む。
(S54)熱源制御部135は、充電回路124によるバッテリ123への充電が停止中か判断する。バッテリ充電が停止中の場合はステップS56に処理が進み、バッテリ充電が実行中である場合はステップS55に処理が進む。
(S55)熱源制御部135は、バッテリ充電を停止させる。この場合、熱源制御部135は、CPU111aの最大周波数を引き下げなくてよい。
(S56)熱源制御部135は、CPU111aの最大周波数を1段階引き下げる。ただし、CPU111aの最大周波数が既に物理的下限になっている場合、熱源制御部135はCPU111aの現在の最大周波数を維持する。
(S57)熱源制御部135は、CPU111aの最大周波数を1段階引き上げる。ただし、CPU111aの最大周波数が既に物理的上限になっている場合、熱源制御部135はCPU111aの現在の最大周波数を維持する。
(S58)表面温度推定部134は、Δt=10[秒]だけ待つ。Δt時間経過すると、再びステップS50〜S58の処理が実行される。
第3の実施の形態の携帯端末装置によれば、第2の実施の形態と同様の効果が得られる。また、第3の実施の形態では、バッテリ充電の停止によって表面温度を低減できる可能性がある場合、バッテリ充電の停止が優先的に行われてCPUの最大周波数の引き下げが保留される。これにより、CPUのパフォーマンスを向上させることができる。
[第4の実施の形態]
次に、第4の実施の形態を説明する。第2の実施の形態との違いを中心に説明し、第2の実施の形態と同様の内容については説明を省略することがある。
第4の実施の形態の携帯端末装置は、推定した表面温度に応じてバッテリ充電の実行の有無を制御する。バッテリ充電の制御は、第2の実施の形態のクロック周波数の制御に代えて行ってもよいし、第2の実施の形態のクロック周波数の制御に加えて行ってもよい。第4の実施の形態の携帯端末装置は、図2,3,8,9,11,12に示した第2の実施の形態の携帯端末装置100の構成と同様の構成によって実現できる。以下、図2,3,8,9,11,12と同様の符号を用いて第4の実施の形態を説明する。
図16は、第4の実施の形態の熱源制御の手順例を示すフローチャートである。
(S60)表面温度推定部134は、表面温度Tsurを推定する。ここでは、第2の実施の形態のステップS30〜S36と同様の処理が実行される。
(S61)充電回路124は、バッテリ充電率Pbattを測定する。熱源制御部135は、充電回路124からバッテリ充電率Pbattを取得する。
(S62)熱源制御部135は、推定された表面温度Tsurが閾値Tmax以上であるか判断する。表面温度Tsurが閾値Tmax以上である場合はステップS64に処理が進み、表面温度Tsurが閾値Tmax未満である場合はステップS63に処理が進む。
(S63)熱源制御部135は、バッテリ充電率Pbattが閾値を超えるか判断する。バッテリ充電率の閾値は予め設定されており、例えば、閾値=80%である。バッテリ充電率Pbattが閾値を超える場合はステップS64に処理が進み、バッテリ充電率Pbattが閾値以下である場合はステップS65に処理が進む。
(S64)熱源制御部135は、充電回路124によるバッテリ123への充電を停止させる。ただし、既にバッテリ充電が停止中の場合はその状態を維持すればよい。
(S65)熱源制御部135は、充電回路124によるバッテリ123への充電を開始させる。ただし、既にバッテリ充電が実行中の場合はその状態を維持すればよい。
(S66)表面温度推定部134は、Δt=10[秒]だけ待つ。Δt時間経過すると、再びステップS60〜S66の処理が実行される。
第4の実施の形態の携帯端末装置によれば、表面温度の推定値が高い場合、熱源である充電回路124が停止して表面温度が低下する。また、充電回路124の停止を第2の実施の形態のクロック周波数の制限と併せて行った場合、表面温度を迅速に低下させることができる。この場合、CPUのクロック周波数を制限する時間を短縮することができ、CPUのパフォーマンスを向上させることができる。
10 携帯電子機器
11 制御部
12 プロセッサ
13 温度センサ
14 筐体
15 タッチセンサ
16 測定値
17,18 熱伝達モデル
19 推定値

Claims (7)

  1. クロック周波数を変更可能なプロセッサを含む制御部と、
    温度センサと、
    前記制御部および前記温度センサを内部に格納する筐体と、
    前記筐体の表面への接触を検出可能なタッチセンサと、
    を有し、前記制御部は、
    前記温度センサから温度の測定値を取得し、
    前記タッチセンサが接触を検出していない場合、前記測定値および第1の熱伝達モデルを用いて前記筐体の表面温度の推定値を算出し、前記タッチセンサが接触を検出した場合、前記測定値および第2の熱伝達モデルを用いて前記推定値を算出し、
    前記推定値が閾値以上である場合、前記クロック周波数の上限を引き下げ、前記推定値が前記閾値未満である場合、前記クロック周波数の上限を引き上げる、
    携帯電子機器。
  2. 前記第1の熱伝達モデルは、前記プロセッサから前記筐体の表面への熱伝達を示す第1の熱抵抗および第1の熱時定数を含み、前記第2の熱伝達モデルは、前記プロセッサから前記筐体の表面への熱伝達を示す第2の熱抵抗および第2の熱時定数を含み、
    前記第1の熱抵抗と前記第2の熱抵抗とは異なる値であり、前記第1の熱時定数と前記第2の熱時定数とは異なる値である、
    請求項1記載の携帯電子機器。
  3. 前記制御部は、前記タッチセンサが接触を検出したと判定するエリアを、前記筐体の表面のうち前記プロセッサの位置に対応する特定の熱源エリアに限定する、
    請求項1記載の携帯電子機器。
  4. 前記携帯電子機器は更に、充電可能なバッテリを有し、
    前記制御部は、前記推定値が前記閾値以上であり、前記バッテリの充電率が他の閾値を超えており、かつ、前記バッテリが充電中である場合、前記クロック周波数の上限の引き下げよりも優先して前記バッテリの充電を停止させる、
    請求項1記載の携帯電子機器。
  5. 前記携帯電子機器は更に、充電可能なバッテリを有し、
    前記制御部は、前記推定値が前記閾値以上である場合、前記バッテリの充電を制限する、
    請求項1記載の携帯電子機器。
  6. 携帯電子機器が実行するプロセッサ制御方法であって、
    前記携帯電子機器の筐体の内部に格納された温度センサから温度の測定値を取得し、
    前記筐体の表面への接触を検出可能なタッチセンサが接触を検出していない場合、前記測定値および第1の熱伝達モデルを用いて前記筐体の表面温度の推定値を算出し、前記タッチセンサが接触を検出した場合、前記測定値および第2の熱伝達モデルを用いて前記推定値を算出し、
    前記推定値が閾値以上である場合、前記筐体の内部に格納されたプロセッサのクロック周波数の上限を引き下げ、前記推定値が前記閾値未満である場合、前記クロック周波数の上限を引き上げる、
    プロセッサ制御方法。
  7. 携帯電子機器が有するコンピュータに、
    前記携帯電子機器の筐体の内部に格納された温度センサから温度の測定値を取得し、
    前記筐体の表面への接触を検出可能なタッチセンサが接触を検出していない場合、前記測定値および第1の熱伝達モデルを用いて前記筐体の表面温度の推定値を算出し、前記タッチセンサが接触を検出した場合、前記測定値および第2の熱伝達モデルを用いて前記推定値を算出し、
    前記推定値が閾値以上である場合、前記筐体の内部に格納されたプロセッサのクロック周波数の上限を引き下げ、前記推定値が前記閾値未満である場合、前記クロック周波数の上限を引き上げる、
    処理を実行させるプロセッサ制御プログラム。
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