JP2019086367A - X線検査装置およびx線検査方法 - Google Patents
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Abstract
Description
前記小袋を抽出するための所定の閾値で前記透過画像を2値化した2値化画像から所定の塊の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像S1を生成し、予め設定された前記小袋の大きさのマスク領域S2を前記小袋画像上に設定して前記小袋からの粉粒物の漏れ不良を判定する信号処理部6を備えたことを特徴とする。
前記信号処理部6は、前記2値化画像から所定の塊の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像S1を生成する画像形成手段12と、
前記小袋画像の重心を算出する重心算出手段13と、
前記マスク領域S2を前記重心算出手段が算出した重心位置に対応させて前記小袋画像上に設定するマスク領域設定手段15と、
前記マスク領域から外れる位置に前記小袋画像による塊が存在するか否かにより前記小袋Wbからの粉粒物Wcの漏れ不良を判定する漏れ不良判定手段16とを備えたことを特徴とする。
前記信号処理部6は、前記マスク領域S2から外れる位置に存在する前記小袋画像S1の塊の数に応じて前記小袋Wbからの粉粒物Wcの漏れ不良を判定することを特徴とする。
前記信号処理部6は、前記小袋画像S1の傾きを算出する傾き算出手段14を備え、
前記マスク領域設定手段15は、前記傾き算出手段が算出した傾きに対応させて前記マスク領域S2を前記小袋画像上に設定することを特徴とする。
前記小袋を抽出するための所定の閾値で前記透過画像を2値化するステップと、
前記2値化した2値画像から所定の塊の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像S1を生成するステップと、
予め設定された前記小袋の大きさのマスク領域S2を前記小袋画像上に設定して前記小袋からの粉粒物の漏れ不良を判定するステップとを含むことを特徴とする。
本発明に係るX線検査装置は、例えば搬送ラインの一部に組み込まれ、一定間隔おきに順次搬送されてくる被検査物(物品)に対し、包装材に包まれた小袋からの粉粒物(粉、粒)の漏れによる収容不良の有無を検査するものである。
図1に示すように、本実施の形態のX線検査装置1は、上記機能を実現するため、搬送装置2、X線発生器3、X線検出器4、設定入力部5、信号処理部6、表示部7を含んで概略構成される。
そして、上記のように構成されるX線検査装置1を用いて被検査物Wの漏れ不良の有無を判定するX線検査方法について図2のフローチャートおよび図3、図4を用いて説明する。
2 搬送装置
2a 搬送ベルト
3 X線発生器
4 X線検出器
5 設定入力部
6 信号処理部
7 表示部
11 記憶手段
12 画像形成手段
13 重心算出手段
14 傾き算出手段
15 マスク領域設定手段
16 漏れ不良判定手段
W 被検査物
Wa 包装材
Wb 小袋
Wc 粉粒物
S1 小袋画像
S2 マスク領域
P1,P2,P3,P4 頂点
C 円(楕円)
L1 長軸
L2 短軸
G1,G2 重心
θ 傾き
Claims (5)
- 粉粒物(Wc)が収容された小袋(Wb)を包装材(Wa)で包んだ被検査物(W)を所定間隔おきに搬送しながらX線を照射し、前記被検査物を透過するX線の透過画像を用いて前記被検査物を検査するX線検査装置(1)であって、
前記小袋を抽出するための所定の閾値で前記透過画像を2値化した2値化画像から所定の塊の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像(S1)を生成し、予め設定された前記小袋の大きさのマスク領域(S2)を前記小袋画像上に設定して前記小袋からの粉粒物の漏れ不良を判定する信号処理部(6)を備えたことを特徴とするX線検査装置。 - 前記信号処理部(6)は、前記2値化画像から所定の塊の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像(S1)を生成する画像形成手段(12)と、
前記小袋画像の重心を算出する重心算出手段(13)と、
前記マスク領域(S2)を前記重心算出手段が算出した重心位置に対応させて前記小袋画像上に設定するマスク領域設定手段(15)と、
前記マスク領域から外れる位置に前記小袋画像による塊が存在するか否かにより前記小袋(Wb)からの粉粒物(Wc)の漏れ不良を判定する漏れ不良判定手段(16)とを備えたことを特徴とする請求項1記載のX線検査装置。 - 前記信号処理部(6)は、前記マスク領域(S2)から外れる位置に存在する前記小袋画像(S1)の塊の数に応じて前記小袋(Wb)からの粉粒物(Wc)の漏れ不良を判定することを特徴とする請求項1又は2記載のX線検査装置。
- 前記信号処理部(6)は、前記小袋画像(S1)の傾きを算出する傾き算出手段(14)を備え、
前記マスク領域設定手段(15)は、前記傾き算出手段が算出した傾きに対応させて前記マスク領域(S2)を前記小袋画像上に設定することを特徴とする請求項2又は3記載のX線検査装置。 - 粉粒物(Wc)が収容された小袋(Wb)を包装材(Wa)で包んだ被検査物(W)を所定間隔おきに搬送しながらX線を照射し、前記被検査物を透過するX線の透過画像を用いて前記被検査物を検査するX線検査方法であって、
前記小袋を抽出するための所定の閾値で前記透過画像を2値化するステップと、
前記2値化した2値画像から所定の塊の大きさ以下の小さい塊を除去した小袋画像(S1)を生成するステップと、
予め設定された前記小袋の大きさのマスク領域(S2)を前記小袋画像上に設定して前記小袋からの粉粒物の漏れ不良を判定するステップとを含むことを特徴とするX線検査方法。
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