JP2019062043A - Substrate processing device - Google Patents

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Abstract

To provide a substrate processing device capable of recovering predetermined process liquid subjected to substrate treatment in a predetermined recovery tank.SOLUTION: Disclosed is a substrate processing device for supplying process liquid onto a surface of a substrate 12 to perform substrate processing. This processing device includes: a rotor part for holding the substrate; a drive motor 35 for rotating the rotor part; a nozzle 23 for supplying process liquid onto the surface of the substrate 12; a ring body 21 which is relatively rotatably provided to the rotor part having a radius of rotation which is longer than that of the substrate 12 retained by the rotor part; and a ring body rotation mechanism enabling rotation of the ring body 21 at a rotational speed different from a rotational speed of the substrate 12.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、回転させた基板に処理液を供給して基板処理を行う基板処理装置に関する。   The present invention relates to a substrate processing apparatus that supplies a processing liquid to a rotated substrate to perform substrate processing.

半導体ウェーハやフォトマスク用ガラス基板の表面処理装置として、表面処理の均一性、再現性の向上の点から、基板を1枚ずつ処理する枚葉方式が広く採用されている。枚葉方式の基板処理装置では、水平に保持した基板をその中心軸周りに回転(スピン)させて、処理液を基板中央の表面に流し、遠心力で処理液を外周に向けて流れさせて基板全体の処理を進める。そして、所定の基板処理が終了すると、基板表面に残った液を洗い流すためのリンス処理が同様な方法で行われ、その後リンス液の供給停止後に基板を高速回転により乾燥させて処理が終了する。   As a surface treatment apparatus for semiconductor wafers and glass substrates for photomasks, a single-wafer method in which substrates are treated one by one is widely adopted from the viewpoint of improvement in uniformity and reproducibility of surface treatment. In a single wafer processing type substrate processing apparatus, a horizontally held substrate is rotated (spin) about its central axis to flow the processing solution on the surface of the center of the substrate and cause the processing solution to flow outward by centrifugal force. Advance the processing of the entire substrate. Then, when the predetermined substrate processing is completed, the rinse processing for washing away the liquid remaining on the substrate surface is performed in the same manner, and after stopping the supply of the rinse liquid, the substrate is dried by high speed rotation to finish the processing.

上記した枚葉方式の基板処理装置では、回転する基板の基板上を流れた処理液を、基板の外周端又は基板を回転させる回転体の外周端から遠心力により飛散させ、その後処理槽内の所定領域に集めて廃液にするか、又は再利用のために回収している。例えば、基板を回転させる回転体の周囲を囲むように、内側に廃液槽と外側に回収槽とを配置し、飛散した処理液を廃液とするときは内側の廃液槽に、回収するときは外側に位置する回収槽にそれぞれ集め、廃液との混入を防止した処理液の回収を行っている。   In the above-described single-wafer substrate processing apparatus, the processing solution having flowed on the substrate of the rotating substrate is scattered by centrifugal force from the outer peripheral end of the substrate or the outer peripheral end of the rotating body that rotates the substrate. It is collected in a predetermined area to be a waste solution, or recovered for reuse. For example, a waste liquid tank and a recovery tank are disposed on the inner side so as to surround the periphery of a rotating body that rotates the substrate, and the outer processing tank is used for collecting waste processing liquid as waste liquid. Are collected in the recovery tank located in the above, and recovery of the treatment liquid that prevents mixing with the waste liquid is performed.

また、基板を保持する回転体の周囲を取り囲むように同心円状に設け、天部を備えたフェンスを開閉式とする複数の回収槽を配置し、基板から飛散された処理液を所定の回収槽に回収させ、他の回収槽の天部を閉じた状態にして他の処理液の混入の防止を図る構造の基板処理装置が提案されている。(特許文献1参照)。   In addition, a plurality of recovery tanks are provided concentrically so as to surround the periphery of the rotating body that holds the substrate, and a fence provided with a top portion is opened and closed, and a predetermined recovery tank is provided for processing liquid scattered from the substrate. There has been proposed a substrate processing apparatus having a structure in which the top portion of another recovery tank is closed to prevent the mixing of other processing solutions. (See Patent Document 1).

特開2004−31400号公報Unexamined-Japanese-Patent No. 2004-31400

上記の基板処理装置では、基板の外周端や回転体の外周端から処理液を基板外の回収槽に飛散しにくい回転数の場合、つまり、基板の回転数が数十rpm程度の低回転数で基板処理を行うとき、回収目的の処理液の回収槽まで処理液が飛散されず、回収槽に処理液を回収することが困難である。   In the above-mentioned substrate processing apparatus, in the case of the number of rotations where it is difficult to scatter the processing solution from the outer peripheral end of the substrate or the outer peripheral end of the rotating body to the recovery tank outside the substrate, that is, the low rotational number of several tens of rpm When the substrate processing is performed, the processing liquid is not scattered to the collection tank of the processing liquid for collection, and it is difficult to collect the processing liquid in the collection tank.

本発明は、このような事情に鑑みてなされたもので、基板処理を行った所定の処理液を所定の回収槽に回収することが可能な基板処理装置の提供を目的とする。   The present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide a substrate processing apparatus capable of recovering a predetermined processing liquid subjected to substrate processing into a predetermined recovery tank.

上記課題を解決するために、本発明に係る基板処理装置は、基板の表面に処理液を供給して基板処理する基板処理装置において、前記基板を保持する回転体部と、前記回転体部を回転させる回転駆動部と、前記基板の表面に前記処理液を供給する処理液供給手段と、
前記回転体部により保持された前記基板の回転半径より大なる回転半径を有する、前記回転体部に相対に回転可能に設けられたリング体と、前記リング体を前記基板の回転速度と異なる回転速度での回転を可能とするリング体回転機構と、を有する構成である。
In order to solve the above problems, a substrate processing apparatus according to the present invention is a substrate processing apparatus that supplies a processing liquid to the surface of a substrate to process the substrate, and includes a rotating body portion that holds the substrate and the rotating body portion. A rotational drive unit to be rotated, and a processing liquid supply means for supplying the processing liquid to the surface of the substrate;
A ring body provided rotatably relative to the rotating body portion, the ring body having a rotation radius larger than the rotation radius of the substrate held by the rotating body portion, and rotation of the ring body different from the rotation speed of the substrate And a ring body rotation mechanism that enables rotation at a speed.

本発明に係る基板処理装置によれば、基板に供給した処理液を所定の回収槽に回収することが可能となる。   According to the substrate processing apparatus of the present invention, the processing liquid supplied to the substrate can be collected in a predetermined collection tank.

本発明の第1実施形態に係る基板処理装置の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the substrate processing apparatus concerning a 1st embodiment of the present invention. 図1に示す基板処理装置の可動液受け部を降下させた状態における基板処理装置の縦断面図である。It is a longitudinal cross-sectional view of the substrate processing apparatus in the state which made the movable liquid receiving part of the substrate processing apparatus shown in FIG. 1 fall. 図1に示す基板処理装置の平面図である。It is a top view of the substrate processing apparatus shown in FIG. 図1に示すリング体の斜視図である。It is a perspective view of the ring body shown in FIG. 図4Aに示すA部の拡大断面図である。It is an expanded sectional view of the A section shown to FIG. 4A. 図3に示すX−X断面図である。It is XX sectional drawing shown in FIG. 図1に示すリング体の回転数が基板の回転数より高いときの処理液の飛散状態を示す一部断面図である。FIG. 7 is a partial cross-sectional view showing the scattering state of the processing liquid when the number of rotations of the ring body shown in FIG. 1 is higher than the number of rotations of the substrate. 図1に示すリング体の回転数が基板の回転数より低いときの処理液の流出状態を示す一部断面図である。FIG. 7 is a partial cross-sectional view showing the outflow state of the processing liquid when the number of rotations of the ring body shown in FIG. 1 is lower than the number of rotations of the substrate. 本発明の第2実施形態に係る基板処理装置の断面図である。It is sectional drawing of the substrate processing apparatus which concerns on 2nd Embodiment of this invention. 図7に示す同期回転体と同期回転体停止ピンの断面説明図である。It is cross-sectional explanatory drawing of the synchronous rotary body and synchronous rotary body stop pin which are shown in FIG. 図8Aに示す同期回転体停止ピンが同期回転体に作動する状態の断面説明図である。It is cross-sectional explanatory drawing of the state which the synchronous rotary body stop pin shown to FIG. 8A operate | moves to a synchronous rotary body.

(第1の実施形態)
以下、本発明の第1の実施形態について図面を用いて説明する。
First Embodiment
Hereinafter, a first embodiment of the present invention will be described using the drawings.

本発明の第1の実施形態に係る基板処理装置の基本的な構造が図1〜図6に示される。以下、図1〜図6を参照して本発明の第1の実施形態に係る基板処理装置を説明する。   The basic structure of the substrate processing apparatus according to the first embodiment of the present invention is shown in FIGS. Hereinafter, a substrate processing apparatus according to a first embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 1 to 6.

図1に示すように、基板処理装置11は、主として、搬送ロボット(不図示)により搬送された半導体ウェーハなどの基板12を回転させるための円板形状の回転体13と、回転体13を覆うようにその上部に位置し、回転体13と共に回転する円板形状のカバー部15と、カバー部15の表面の外周付近に周方向60度間隔で設けられた6個のクランプピン25(図1では3個を図示)と、回転体13の外周端部上面に回転可能に設けられたリング体21と、回転体13の回転の動力源である駆動モータ35(回転駆動部)と、駆動モータ35の回転子34aの回転を回転体13及びカバー部15に伝動して回転させる円筒形状の動力伝動体36と、基板12の表面(図1では上面)に処理液(エッチング液、リンス液等)を供給するノズル23(23a、23b)と、リング体21の周囲に配置され、リング体21から飛散した処理液を受け止める可動液受け部22と、各部を制御する制御部100とを有する。さらに、基板12から処理液がリング体21に流入するように、リング体21の上面は、基板12の表面より下方位置にあり、リング体21の外周端は基板12の外周端よりも外側に位置するように設けられている。なお、リング体21の上面が基板12の表面と面一に設けられていても良い。   As shown in FIG. 1, the substrate processing apparatus 11 mainly covers a disk-shaped rotating body 13 for rotating a substrate 12 such as a semiconductor wafer transferred by a transfer robot (not shown) and the rotating body 13. As shown in FIG. 1, a disc-shaped cover portion 15 positioned at the upper part and rotating with the rotating body 13 and six clamp pins 25 provided at intervals of 60 degrees in the circumferential direction near the outer periphery of the surface of the cover portion 15 (3), the ring body 21 rotatably provided on the upper surface of the outer peripheral end of the rotary body 13, the drive motor 35 (rotation drive unit) which is a power source of the rotation of the rotary body 13, and the drive motor A cylindrical power transmission body 36 for transmitting the rotation of the rotor 34a of 35 to the rotary body 13 and the cover portion 15 and rotating the same, and a treatment liquid (etching liquid, rinse liquid, etc.) on the surface of the substrate 12 (upper surface in FIG. 1) To supply) With 23 (23a, 23b), arranged around the ring body 21, a movable liquid receiving portion 22 for receiving the treatment liquid scattered from the ring member 21, and a control unit 100 for controlling each section. Furthermore, the upper surface of the ring body 21 is located below the surface of the substrate 12 so that the processing liquid flows from the substrate 12 into the ring body 21, and the outer peripheral end of the ring body 21 is outside the outer peripheral end of the substrate 12 It is provided to be located. The upper surface of the ring body 21 may be provided flush with the surface of the substrate 12.

円筒形状の回転子34aは、基板処理装置11の下部に位置するベース板30に設けられた円形の通孔14を貫通して設けられている。ベース板30の下部には、回転子34aの周囲を覆うように円筒形状の固定子34bが設けられている。回転子34aと固定子34bは、回転体13を回転させる駆動モータ35の主要部を構成する。円筒形状の回転子34aの上端は、円筒形状の動力伝動体36の下端に接続され、そして動力伝動体36の上端は、回転体13及びカバー部15に接続されている。なお、回転体13及びカバー部15は、回転体部として構成される。駆動モータ35の回転子34aが動力伝動体36を通じて回転体13、カバー部15、そしてカバー部15上のクランプピン25により保持された基板12を回転させる構造となっている。駆動モータ35は、制御部100と電気的に接続されており、その駆動が制御部100により制御される。   The cylindrical rotor 34 a is provided through a circular through hole 14 provided in a base plate 30 located at the lower part of the substrate processing apparatus 11. At the lower part of the base plate 30, a cylindrical stator 34b is provided so as to cover the periphery of the rotor 34a. The rotor 34 a and the stator 34 b constitute a main part of a drive motor 35 that rotates the rotating body 13. The upper end of the cylindrical rotor 34 a is connected to the lower end of the cylindrical power transmission body 36, and the upper end of the power transmission body 36 is connected to the rotary body 13 and the cover portion 15. The rotating body 13 and the cover portion 15 are configured as a rotating body portion. The rotor 34 a of the drive motor 35 is configured to rotate the rotating body 13, the cover portion 15, and the substrate 12 held by the clamp pins 25 on the cover portion 15 through the power transmission body 36. The drive motor 35 is electrically connected to the control unit 100, and the drive thereof is controlled by the control unit 100.

回転子34a及び動力伝動体36の中空内部には、これらと同軸(軸A)となる非回転の保持筒37が設けられており、この保持筒37の上端部にはノズルヘッド38が設けられている。ノズルヘッド38には、基板12の裏面(図1では下面)に処理液等(エッチング液、リンス液等)を噴射するノズル24(24a、24b)が設けられており、他端は処理液供給部(不図示)に接続されている。中空の管体39は、その一端がノズルヘッド38を貫通して、ノズルヘッド38に形成される凹部の底部に接続され、他端を廃液タンク等(不図示)に向けて、保持筒37内を同軸(軸A)となる位置に配置されている。ノズル24は、基板12の裏面を薬液処理するために設けられており、ノズル24を使用する両面処理のときは、ノズル23とノズル24とで処理液供給手段を構成する。処理液供給手段による処理液の供給は、制御部100によって制御される。カバー部15の中央には、ノズル24(24a、24b)から基板12の裏面に向けて噴射される処理液を通過させるための開口部15aが形成されている。   In the hollow interior of the rotor 34a and the power transmission body 36, a non-rotating holding cylinder 37 coaxial with the same (axis A) is provided, and at the upper end of the holding cylinder 37, a nozzle head 38 is provided. ing. The nozzle head 38 is provided with a nozzle 24 (24a, 24b) for jetting a treatment liquid (etching solution, rinse liquid, etc.) on the back surface (bottom surface in FIG. 1) of the substrate 12; It is connected to a unit (not shown). One end of the hollow tubular body 39 penetrates the nozzle head 38 and is connected to the bottom of the recess formed in the nozzle head 38, and the other end is directed to a waste liquid tank or the like (not shown). Are arranged coaxially (axis A). The nozzle 24 is provided to process the back surface of the substrate 12 with a chemical solution, and in the case of double-sided processing using the nozzle 24, the nozzle 23 and the nozzle 24 constitute processing liquid supply means. The supply of the processing liquid by the processing liquid supply means is controlled by the control unit 100. At the center of the cover portion 15, an opening 15a is formed to allow the processing liquid jetted from the nozzles 24 (24a, 24b) to the back surface of the substrate 12 to pass.

回転体13の外周端周囲には、下方に向けた所定長さの側壁部13aが垂下して設けられており、この側壁部13aの下部の先端部は、回転体13の外周を囲むようにしてベース板30上に設けた廃液槽51内に挿入された位置にある。廃液槽51は、上部を開口とする環状に形成された容器である。廃液槽51の外周側となる仕切り壁51bは、内周側となる内壁51aより高く形成され、その先端は回転体13の外周端に近接した位置にある。廃液槽51の底部51cには、廃液槽51に流入した廃液を外部に流すための廃液配管53が接続されている。廃液槽51の外側には、上記した仕切り壁51bと、仕切り壁51bの外周側に位置する外壁52a、及び底部52cから成る、上部開口で環状に形成された回収槽52が設けられている。回収槽52の底部52bには、回収槽52に流入した回収液を回収するための回収配管55が接続されている。なお、本実施形態では、廃液槽51、回収槽52を各1個設けているが、回収槽を基板処理装置11の径方向に複数個設置することもできる。   A downwardly extending sidewall portion 13a having a predetermined length is provided so as to hang around the outer peripheral end of the rotating body 13, and the lower end portion of the sidewall portion 13a surrounds the outer periphery of the rotating body 13 so as to surround the base It is in the position inserted in the waste liquid tank 51 provided on the plate 30. The waste liquid tank 51 is a container formed in an annular shape having an upper portion as an opening. The partition wall 51 b on the outer peripheral side of the waste liquid tank 51 is formed higher than the inner wall 51 a on the inner peripheral side, and the tip thereof is in a position close to the outer peripheral end of the rotary body 13. To the bottom 51 c of the waste liquid tank 51, a waste liquid pipe 53 for connecting the waste liquid flowing into the waste liquid tank 51 to the outside is connected. On the outer side of the waste liquid tank 51, there is provided a collection tank 52 formed in an annular shape with an upper opening, which comprises the above-mentioned partition wall 51b, an outer wall 52a located on the outer peripheral side of the partition wall 51b, and a bottom 52c. A recovery pipe 55 for recovering the recovery liquid flowing into the recovery tank 52 is connected to the bottom 52 b of the recovery tank 52. In the present embodiment, although one waste liquid tank 51 and one collection tank 52 are provided, a plurality of collection tanks can be installed in the radial direction of the substrate processing apparatus 11.

回収槽52の上方には、昇降動作可能な環状の可動液受け部22が設けられている。可動液受け部22は、立設した周壁とその上が内側斜め上方に向けて傾斜する傾斜壁とから成る液受け部22a、液受け部の下が二重壁となる二重壁部22bとで形成されており、液受け部昇降駆動機構(不図示)により昇降動作が可能となっている。この液受け部昇降駆動機構は、制御部100により制御される。なお、飛散した処理液を回収槽52外に飛び散らないように、可動液受け部22は、上下昇降の各位置においても上記二重壁部22bの間に回収槽52の外壁52aが挿入した状態となっている。可動液受け部22は、上昇した位置では、回転する基板12から飛散した処理液を液受け部で受けて回収槽52に滴下させ(図1参照)、下降した位置では搬送ロボットのフォーク(不図示)との接触を避けて基板12の交換等が可能となるように上下位置が設定されている(図2参照)。なお、可動液受け部22が下降した位置は、可動液受け部22が回収槽52の開口を覆い、回収槽52への処理液流入を防止する状態となっている。   Above the recovery tank 52, an annular movable liquid receiver 22 capable of moving up and down is provided. The movable liquid receiving portion 22 has a liquid receiving portion 22a comprising a standing peripheral wall and an inclined wall whose upper side is inclined obliquely inward and upward, and a double wall portion 22b in which the lower portion of the liquid receiving portion is a double wall It is possible to move up and down by means of a liquid receiver elevating drive mechanism (not shown). The liquid receiving unit lifting and lowering drive mechanism is controlled by the control unit 100. In addition, the movable liquid receiving portion 22 has the outer wall 52a of the recovery tank 52 inserted between the double wall portions 22b at each position of vertical movement so that the scattered processing liquid is not splashed out of the recovery tank 52. It has become. The movable liquid receiver 22 receives the processing liquid splashed from the rotating substrate 12 at the raised position, and drops it in the recovery tank 52 (see FIG. 1), and the fork of the transport robot (not shown) at the lowered position. The upper and lower positions are set so that the substrate 12 can be exchanged and the like while avoiding contact with the illustration (see FIG. 2). In the position where the movable liquid receiver 22 is lowered, the movable liquid receiver 22 covers the opening of the recovery tank 52 to prevent the treatment liquid from flowing into the recovery tank 52.

カバー部15には、カバー部15内の外周側で周方向60度の間隔で6個の第1の円板部材である上円板18(図3参照)が回転可能に配置されている。上円板18の外周はリング体21の内側面の係合溝21aと係合し(図4B参照)、上円板18の中心部は円柱形状の連結軸である円板軸27(6個)を介して第2の円板部材である下円板61(図1では2個のみ図示する。)の中心部と同軸で一体に結合されている。円板軸27は、回転体13内の外周側に、周方向60度間隔で設けた円筒形状の支持筒部60(6個)により回転可能に位置決めされている(図2では2個のみ図示する。)。下円板61は、動力伝動体36の外周に同期回転体軸受け62を介して同期回転体63の外周端と係合している。   In the cover portion 15, six upper disk members 18 (see FIG. 3), which are first disk members, are rotatably disposed at intervals of 60 degrees in the circumferential direction on the outer peripheral side in the cover portion 15. The outer periphery of the upper disk 18 engages with the engagement groove 21a of the inner side surface of the ring body 21 (see FIG. 4B), and the central portion of the upper disk 18 is a disk shaft 27 (six And the second disk member (only two are shown in FIG. 1) coaxially and integrally coupled with the central portion of the lower disk 61 (only two are shown in FIG. 1). The disc shaft 27 is rotatably positioned on the outer peripheral side of the rotary body 13 by six cylindrical support cylinders 60 provided at intervals of 60 degrees in the circumferential direction (only two are shown in FIG. 2). ). The lower disc 61 is engaged with the outer peripheral end of the synchronous rotating body 63 via the synchronous rotating body bearing 62 on the outer periphery of the power transmission body 36.

同期回転体63は同期回転体軸受け62を介して、回転体13の回転軸である動力伝動体36に設けられている。これにより、回転体13が回転すると、係合する下円板61と連動した回転が可能となる。同期回転体63には、ベース板30上に設けた駆動モータ65の回転板65aと係合する凸部63aが設けられている。駆動モータ65の駆動により、同期回転体63が所定の回転数に回転される。駆動モータ65は、制御部100と電気的に接続され、その駆動が制御部100によって制御される。駆動モータ65の駆動により同期回転体63回転すると、同期回転体63と係合する下円板61を介して円板軸27及び上円板18が回転し、さらに後述する上円板27と係合するリング体21が回転する。駆動モータ65の回転方向は、リング体21が基板12の回転方向と同じ方向に回転するようになっている。さらに、駆動モータ65は変速可能でかつ正逆方向の回転も可能であり、基板12の回転方向と異なる方向にリング体21を所定の回転数で回転させることができる。なお、駆動モータ65が変速可能な回転駆動部に相当し、上円板18、円板軸27、下円板61及び同期回転体63で連動機構部を構成し、これら全体でリング体回転機構を構成する。   The synchronous rotary body 63 is provided to the power transmission body 36 which is a rotation shaft of the rotary body 13 via the synchronous rotary body bearing 62. Thereby, when the rotary body 13 rotates, the rotation interlocked with the lower disc 61 engaged becomes possible. The synchronous rotary body 63 is provided with a convex portion 63 a that engages with the rotary plate 65 a of the drive motor 65 provided on the base plate 30. By driving the drive motor 65, the synchronous rotary body 63 is rotated to a predetermined rotation number. The drive motor 65 is electrically connected to the control unit 100, and the drive thereof is controlled by the control unit 100. When the synchronous rotor 63 is rotated by driving the drive motor 65, the disc shaft 27 and the upper disc 18 are rotated via the lower disc 61 engaged with the synchronous rotor 63, and further engaged with the upper disc 27 described later. The mating ring body 21 rotates. The rotation direction of the drive motor 65 is such that the ring body 21 rotates in the same direction as the rotation direction of the substrate 12. Furthermore, the drive motor 65 can shift and rotate in the forward and reverse directions, and can rotate the ring body 21 at a predetermined rotational speed in a direction different from the rotation direction of the substrate 12. The drive motor 65 corresponds to a rotatable drive unit capable of shifting, and the upper disc 18, the disc shaft 27, the lower disc 61, and the synchronous rotor 63 constitute an interlocking mechanism, and the ring body rotating mechanism as a whole Configure

図1、図3、図4A及び図4Bに示すように、回転体13の上面の外周端部に回転可能に設けられた、断面が矩形状の環状部材であるリング体21は、基板12の回転軸と同軸(軸A)に設けられており、基板12の回転半径よりも大きな回転半径を有する。また、リング体21は、上面が平坦で、内側側面に沿って環状の係合溝21aが形成されており、この係合溝21aに上円板18(図3参照)が係合する。これにより、上円板18の回転(自転)が係合溝21aを介してリング体21を回転させることができる。したがって、制御部100によって駆動モータ65の回転数を制御することで、リング体21の回転数を制御することができるので、回転体13による基板12の回転数とは異なる回転数(基板12の回転数より高い又は低い回転数)でリング体21を回転させることができる。さらに、駆動モータの回転が正逆可能であることから、リング体21を基板12の回転と逆方向へ回転させることも可能である。また、本実施形態におけるリング体21は、外周側面に沿って複数のV字溝21bが形成されている。リング体21の外周面に液垂れした液滴をV字溝21bに集め、集まった液敵を大きな液滴としてリング体21の回転による遠心力で飛散させるためである。なお、処理液の性質(疎水性、親水性等)に応じて、リング体21の表面(側面、上面等)の形状を選択することで、処理液を回収槽52へ効果的に飛散させることができる。なお、複数のV字溝21を設ける以外に、リング体21の外周面に沿って庇形状の部材を設け、リング体21の外周面に液垂れした液滴をリング体21から飛散させるようにしても良い。   As shown in FIG. 1, FIG. 3, FIG. 4A and FIG. 4B, the ring body 21 which is an annular member having a rectangular cross section and rotatably provided at the outer peripheral end of the upper surface of the rotary body 13 It is provided coaxially with the rotation axis (axis A) and has a rotation radius larger than that of the substrate 12. The ring body 21 has a flat upper surface, and an annular engagement groove 21a is formed along the inner side surface, and the upper disc 18 (see FIG. 3) engages with the engagement groove 21a. Thereby, the rotation (rotation) of the upper disk 18 can rotate the ring body 21 via the engagement groove 21a. Therefore, by controlling the number of rotations of the drive motor 65 by the control unit 100, the number of rotations of the ring body 21 can be controlled, so the number of rotations of the substrate 12 different from the number of rotations The ring body 21 can be rotated at a rotation speed higher or lower than the rotation speed. Furthermore, since the rotation of the drive motor can be reversed, it is also possible to rotate the ring body 21 in the direction opposite to the rotation of the substrate 12. Further, in the ring body 21 in the present embodiment, a plurality of V-shaped grooves 21 b are formed along the outer peripheral side surface. This is because the droplets dropped on the outer peripheral surface of the ring body 21 are collected in the V-shaped groove 21b, and the collected liquid droplets are scattered as a large droplet by the centrifugal force due to the rotation of the ring body 21. In addition, depending on the properties (hydrophobicity, hydrophilicity, etc.) of the treatment liquid, the treatment liquid can be effectively scattered to the recovery tank 52 by selecting the shape of the surface (side surface, upper surface, etc.) of the ring body 21. Can. In addition to providing a plurality of V-shaped grooves 21, a wedge-shaped member is provided along the outer peripheral surface of the ring body 21 so that droplets dripped from the outer peripheral surface of the ring body 21 are scattered from the ring body 21. It is good.

次に、基板12の保持機構について基板処理装置11の断面を違う位置から見た図3、図5で説明する。カバー部15内の外周側には、周方向60度の間隔で配置された6個の上円板18のそれぞれの間に、6個の回転板17がカバー部15に対して回転可能に配置されている(図3参照)。回転板17には、回転板17の回転中心から偏心した位置にクランプピン25がそれぞれ設けられている。クランプピン25は、基板保持部として構成される。クランプピン25は、回転板17と、各回転板17の中心部の下に設けたピン回転体29と、ピン回転体29の下に設けた子歯車31とで一体に結合されている。各子歯車31は、回転体13と同軸(軸A)となるように設けられている親歯車32に噛合する。この親歯車32は、動力伝動体36の外周に親歯車軸受け41を介して設けられている。   Next, the holding mechanism of the substrate 12 will be described with reference to FIGS. 3 and 5 in which the cross section of the substrate processing apparatus 11 is viewed from different positions. The six rotary plates 17 are arranged rotatably with respect to the cover portion 15 between the six upper disks 18 arranged at intervals of 60 degrees in the circumferential direction on the outer peripheral side in the cover portion 15 (See Figure 3). Clamp pins 25 are provided on the rotary plate 17 at positions eccentric to the rotation center of the rotary plate 17, respectively. The clamp pin 25 is configured as a substrate holder. The clamp pin 25 is integrally coupled by the rotary plate 17, a pin rotary body 29 provided below the central portion of each rotary plate 17, and a slave gear 31 provided below the pin rotary body 29. Each slave gear 31 meshes with a parent gear 32 provided coaxially with the rotary body 13 (axis A). The parent gear 32 is provided on the outer periphery of the power transmission body 36 via a parent gear bearing 41.

上記親歯車32には付勢手段としてのクランプばね(捩じりコイルばね)42が装着されている。このクランプばね42は一端を回転体13に係合させ、他端を親歯車32に係合させることで、親歯車32を回転方向(反時計方向)に付勢している。それによって、子歯車31は時計方向に付勢されるから、この子歯車31の回転にピン回転体29及び回転板17が連動し、上記クランプピン25が回転体13の中心方向へ偏心回転して基板12の外周面に当接して保持(ロック状態)するようになる。このとき、基板12が基板回転軸Aを中心とする位置にセンタリングされるように設定されている。   A clamp spring (torsion coil spring) 42 as a biasing means is mounted on the parent gear 32. The clamp spring 42 has one end engaged with the rotary body 13 and the other end engaged with the parent gear 32 to bias the parent gear 32 in the rotational direction (counterclockwise direction). As a result, since the slave gear 31 is urged clockwise, the pin rotor 29 and the rotary plate 17 interlock with the rotation of the slave gear 31, and the clamp pin 25 eccentrically rotates in the central direction of the rotor 13. As a result, it abuts on the outer peripheral surface of the substrate 12 to be held (locked). At this time, the substrate 12 is set to be centered at a position centered on the substrate rotation axis A.

また、上記クランプピン25による基板12のロック状態を解除する場合には、チャック開放シリンダ43によって親歯車32の反時計方向への回転が阻止された状態で、駆動モータ35により回転体13をクランプばね42の付勢力に抗して反時計方向に回転させる。すなわち、回転体13を反時計方向へ角度θ(約20度程度)回転させると、親歯車32に噛合した各子歯車31は反時計方向に回転する。その結果、クランプピン25は基板12の外周面から離れる方向へ偏心回転するから、このクランプピン25の頭部による基板12の端部への接触による保持状態が解除されることになり、基板12はクランプピン25の肩部に載置された状態に置かれ、搬送ロボットによる基板12の取り出しが可能となる。なお、回転体13、クランクピン25、カバー部15、回転板17、ピン回転体29、子歯車31、親歯車32及びクランプバネ42は、基板保持手段を構成する。また、この基板保持手段は、回転体部内に構成される。   When the substrate 12 is released from the locked state by the clamp pin 25, the drive motor 35 clamps the rotating body 13 in a state where the counterclockwise rotation of the master gear 32 is blocked by the chuck release cylinder 43. It is turned counterclockwise against the biasing force of the spring 42. (About 20 degrees) in the counterclockwise direction, the respective sub gears 31 meshed with the parent gear 32 rotate in the counterclockwise direction. As a result, since the clamp pin 25 is eccentrically rotated in the direction away from the outer peripheral surface of the substrate 12, the holding state due to the contact of the head of the clamp pin 25 with the end of the substrate 12 is released. Are placed on the shoulders of the clamp pins 25 so that the substrate 12 can be taken out by the transfer robot. The rotor 13, crank pin 25, cover 15, rotor plate 17, pin rotor 29, child gear 31, parent gear 32, and clamp spring 42 constitute a substrate holding means. Further, the substrate holding means is configured in the rotating body portion.

リング体21は、回転体13の回転速度によらず、制御部100により駆動モータ65の回転速度及び回転方向を制御することで最適な回転速度に調整できる。制御部100は、各部を集中的に制御するマイクロコンピュータと、基板処理に関する基板処理情報や各種プログラムなどを記憶する記憶部を備えている。この制御部100は、基板処理情報や各種プログラムに基づいて駆動モータ35や駆動モータ65などを制御し、回転中の基板12に対し、処理液をノズル23、ノズル24から噴射して供給する基板処理の制御を行う。   The ring body 21 can be adjusted to an optimal rotational speed by controlling the rotational speed and rotational direction of the drive motor 65 by the control unit 100 regardless of the rotational speed of the rotary body 13. The control unit 100 includes a microcomputer that centrally controls each unit, and a storage unit that stores substrate processing information related to substrate processing, various programs, and the like. The control unit 100 controls the drive motor 35 and the drive motor 65 based on the substrate processing information and various programs, and supplies the processing liquid to the substrate 12 being rotated from the nozzles 23 and 24 to be supplied. Control the process.

次に、本実施形態に係る基板処理装置11を用いた基板12の処理の手順について以下に説明する。基板処理装置11では、使用する処理液として、ノズル23aから供給される処理液A(エッチング液:リン酸溶液)、ノズル23bから供給される処理液B(リンス液:純水)が用いられる。基板処理装置11の可動液受け部22を基板搬送ロボット(不図示)との接触を防止するために、液受け部昇降駆動機構(不図示)により所定位置まで降下させる(図2)。そして、外部装置である基板搬送ロボットにより未処理の基板12が基板処理装置11に搬入され、クランプピン25上に載置される。基板12が搬入された後、搬送ロボットが待機位置まで後退すると、基板12の回転による処理液の装置外への飛散防止のために、可動液受け部22が上昇位置に戻される(図1)。   Next, the procedure of processing the substrate 12 using the substrate processing apparatus 11 according to the present embodiment will be described below. In the substrate processing apparatus 11, the processing liquid A (etching liquid: phosphoric acid solution) supplied from the nozzle 23a and the processing liquid B (rinsing liquid: pure water) supplied from the nozzle 23b are used as the processing liquid to be used. The movable liquid receiver 22 of the substrate processing apparatus 11 is lowered to a predetermined position by a liquid receiver elevating drive mechanism (not shown) in order to prevent contact with the substrate transfer robot (not shown) (FIG. 2). Then, the unprocessed substrate 12 is carried into the substrate processing apparatus 11 by the substrate transfer robot, which is an external device, and placed on the clamp pin 25. After the substrate 12 is carried in, when the transport robot retracts to the standby position, the movable liquid receiving portion 22 is returned to the raised position to prevent the processing liquid from scattering out of the apparatus due to the rotation of the substrate 12 (FIG. 1) .

搬送ロボットにより基板12を基板処理装置11に供給する前は、クランプピン25はアンロック状態になっている。つまり、基板12の外周面よりも所定寸法径方向外方の離れた位置にある。クランプピン25がアンロック状態にあるとき、未処理の基板12が図示しない搬送ボットによってクランプピン25の肩部に載置される。基板12がクランプピン25に供給、配置されたなら、クランプピン25の上部先端にある頭部が基板12の外周面に当接する方向へ偏心回転し、基板12がクランプピン25によって保持される。   Before the substrate 12 is supplied to the substrate processing apparatus 11 by the transfer robot, the clamp pins 25 are in the unlocked state. That is, it is located at a position radially outward of the outer peripheral surface of the substrate 12 by a predetermined dimension. When the clamp pin 25 is in the unlocked state, the unprocessed substrate 12 is placed on the shoulder of the clamp pin 25 by the transfer bot not shown. When the substrate 12 is supplied to and disposed at the clamp pin 25, the head at the upper end of the clamp pin 25 is eccentrically rotated in the direction to abut the outer peripheral surface of the substrate 12 and the substrate 12 is held by the clamp pin 25.

待機位置にあった処理液Aを供給するノズル23aは、基板12の表面中心の上部に移動される。そして、基板12は、駆動モータ35により、エッチング液である処理液Aによる基板12への薬液処理に適した回転数(例えば、数十〜100rpm)で回転される。このとき、リング体21は、駆動モータ65の駆動により、基板12の回転方向と同じ方向に、基板12の回転数より高い回転数(例えば、500rpm)で回転される。基板12及びリング体21がそれぞれ回転されると、ノズル23aから回転される基板12の中心部に処理液Aが供給される。供給された処理液Aは、回転する基板12上を遠心力により基板12の中央部から周囲に拡散される。基板12の端部に到達した処理液Aは、基板12の端からカバー部15に流出し、さらにカバー部15の外周位置にあるリング体21に流出する。リング体21は、上記したように基板12の回転数よりも高い回転数で回転しているので、処理液Aには基板12上での遠心力よりも大きな遠心力が作用することになり、廃液槽51を越えて回収槽52へと飛散する(図6A)。また、ノズル23aより基板12の表面に処理液Aが供給させると同時に基板12の裏面にノズル24aによって処理液Aを供給される。基板12の裏面に供給された処理液Aは、カバー部15に流出し、さらに、カバー部15の外周位置にあるリング体21に流出し、リング体に21によって回収槽52に飛散する。これにより、基板12が低速回転数(例えば、数十〜100rpm)のときには、遠心力が小さいために、側壁部13aと仕切り壁51bとの間の廃液槽51に落下する処理液Aを、本実施形態では、リング体21を基板より高速で回転させることで、処理液Aを回収槽52に回収することが可能となる。   The nozzle 23a for supplying the processing solution A, which has been at the standby position, is moved to the upper part of the surface center of the substrate 12. Then, the substrate 12 is rotated by the drive motor 35 at a rotational speed (for example, several tens to 100 rpm) suitable for chemical treatment on the substrate 12 by the treatment liquid A which is an etching liquid. At this time, the ring body 21 is rotated by the driving of the drive motor 65 at a rotation number (for example, 500 rpm) higher than the rotation number of the substrate 12 in the same direction as the rotation direction of the substrate 12. When the substrate 12 and the ring body 21 are respectively rotated, the processing liquid A is supplied to the central portion of the substrate 12 which is rotated from the nozzle 23a. The supplied processing solution A is diffused from the central portion of the substrate 12 to the periphery by centrifugal force on the rotating substrate 12. The treatment liquid A having reached the end of the substrate 12 flows out from the end of the substrate 12 to the cover portion 15 and further flows out to the ring body 21 at the outer peripheral position of the cover portion 15. Since the ring body 21 is rotated at a rotation speed higher than the rotation speed of the substrate 12 as described above, a centrifugal force larger than the centrifugal force on the substrate 12 acts on the treatment liquid A, The waste liquid tank 51 is scattered to the collection tank 52 (FIG. 6A). Further, the processing liquid A is supplied to the front surface of the substrate 12 from the nozzle 23a and at the same time the processing liquid A is supplied to the back surface of the substrate 12 by the nozzle 24a. The processing solution A supplied to the back surface of the substrate 12 flows out to the cover portion 15 and further flows out to the ring body 21 at the outer peripheral position of the cover portion 15 and scatters into the collection tank 52 by the ring body 21. Thereby, when the substrate 12 has a low rotational speed (for example, several tens to 100 rpm), the processing liquid A falling into the waste liquid tank 51 between the side wall 13a and the partition wall 51b is reduced because the centrifugal force is small. In the embodiment, the processing liquid A can be collected in the collection tank 52 by rotating the ring body 21 at a higher speed than the substrate.

次に、処理液Aによる基板12の処理が終了すると、ノズル23a及びノズル24aから処理液Aの供給が停止され、ノズル23aを基板12の中央上部から待機位置へと退避させる。このとき、可動液受け部22が、回収槽52の開口を塞ぐ位置に降下する(図2に示す状態)。そして、ノズル23bを待機位置から基板12の中央上部へ移動させる。ノズル23b及びノズル24bからは、基板12の洗浄用のリンス液(純水)である処理液Bが供給される。処理液Bによる洗浄では、基板12の回転数は中速回転数(例えば、500rpm)に設定される。このとき、駆動モータ65を駆動させてリング体21を基板12の回転数よりも低速回転数(例えば、数十から100rpm)とする。基板12の端部に到達した処理液Bは、基板12の端から降下位置にある可動液受け部22を超えて不図示の可動液受け部22の外周に位置する廃液槽に飛散させることができる。また、基板12の端部から飛散する処理液Bの一部は、側壁部13aと仕切り壁部13の間を落下し、廃液槽51へ流れる。このとき、可動液受け部22が回収槽52の開口を塞ぐ位置に降下しているので、回収槽52へ処理液Bが流入することを防止できる。また、基板12の裏面に供給された処理液Bは、カバー部15からリング体21に流出する。リング体21の回転数は、基板12よりも低いため、カバー部15からリング体21に流出した処理液Bに働く遠心力は、カバー15上を流れている時よりも小さい。そのため、リング体21から飛散する処理液Bは、降下位置にある可動液受け部22を超えずに、側壁部13aと仕切り壁51bとの間を落下して廃液槽52に流入される(図6B)。これにより、前の処理で側壁部13aと仕切り壁51bに付着した処理液Aを処理液Bによって洗い流すことが可能となり、後述する乾燥処理における基板12の高速回転において、エッチング液である処理液Aのミストが飛散するのを抑えることができる。   Next, when the treatment of the substrate 12 with the treatment liquid A is completed, the supply of the treatment liquid A from the nozzles 23a and the nozzles 24a is stopped, and the nozzles 23a are retracted from the center upper portion of the substrate 12 to the standby position. At this time, the movable liquid receiver 22 is lowered to a position where the opening of the recovery tank 52 is closed (the state shown in FIG. 2). Then, the nozzle 23 b is moved from the standby position to the upper center of the substrate 12. The processing liquid B which is a rinse liquid (pure water) for cleaning the substrate 12 is supplied from the nozzles 23 b and the nozzles 24 b. In the cleaning with the processing solution B, the rotation speed of the substrate 12 is set to a medium rotation speed (for example, 500 rpm). At this time, the drive motor 65 is driven to set the ring body 21 to a rotational speed (for example, several tens to 100 rpm) lower than the rotational speed of the substrate 12. The processing liquid B that has reached the end of the substrate 12 may be scattered into the waste liquid tank located on the outer periphery of the movable liquid receiving portion 22 (not shown) beyond the movable liquid receiving portion 22 located at the lowered position from the end of the substrate 12 it can. Further, a part of the processing liquid B scattered from the end of the substrate 12 falls between the side wall 13 a and the partition wall 13 and flows to the waste liquid tank 51. At this time, since the movable liquid receiving portion 22 is lowered to a position where the opening of the recovery tank 52 is closed, it is possible to prevent the processing liquid B from flowing into the recovery tank 52. The treatment liquid B supplied to the back surface of the substrate 12 flows out of the cover portion 15 into the ring body 21. Since the rotation speed of the ring body 21 is lower than that of the substrate 12, the centrifugal force acting on the processing solution B that has flowed out of the cover portion 15 to the ring body 21 is smaller than when flowing over the cover 15. Therefore, the processing liquid B scattered from the ring body 21 flows between the side wall 13a and the partition wall 51b and flows into the waste liquid tank 52 without exceeding the movable liquid receiving portion 22 at the lowered position (see FIG. 6B). Thus, the processing solution A attached to the side wall portion 13a and the partition wall 51b in the previous processing can be washed away by the processing solution B, and the processing solution A as the etching solution at high speed rotation of the substrate 12 in the drying process described later. It is possible to suppress the mist from scattering.

次に、処理液Bによる基板12の洗浄処理が終了すると、ノズル23b及びノズル24bから処理液Bの供給が停止され、ノズル23bを基板12の中央上部から待機位置へと退避させる。そして、駆動モータ35、回転体13等により基板12を高速回転数(例えば、1000〜1500rpm)で回転させ、基板12上から処理液Bを飛散させて基板12を乾燥させる。このとき、処理液Bは、降下位置にある可動液受け部22を超えて不図示の可動液受け部22の外周に位置する廃液槽に飛散する。リング体21は、基板12と同じ所謂高速回転数にする。また、可動液受け部22は、回収槽52の開口を塞ぐ降下位置にあるので、処理液Bが回収槽52へ流入するのを防止できる。   Next, when the cleaning processing of the substrate 12 by the processing liquid B is completed, the supply of the processing liquid B from the nozzle 23 b and the nozzle 24 b is stopped, and the nozzle 23 b is retracted from the center upper portion of the substrate 12 to the standby position. Then, the substrate 12 is rotated at a high rotational speed (for example, 1000 to 1500 rpm) by the drive motor 35, the rotating body 13 or the like, and the processing liquid B is scattered from above the substrate 12 to dry the substrate 12. At this time, the treatment liquid B is scattered to the waste liquid tank located on the outer periphery of the movable liquid receiving portion 22 (not shown) beyond the movable liquid receiving portion 22 at the lowered position. The ring body 21 has the same so-called high speed rotation speed as the substrate 12. Further, since the movable liquid receiving portion 22 is at the lowered position closing the opening of the recovery tank 52, the processing liquid B can be prevented from flowing into the recovery tank 52.

所定時間経過後、乾燥処理が終了したならば、クランプピン25による基板12の保持(ロック)状態が解除される。基板12の保持状態が解除された後、搬送ロボット(不図示)により処理済みの基板12が外部へ搬送される。このとき、可動液受け部22は回収槽52の開口を塞ぐ下降位置にあるので、搬送ロボットとの接触を回避することができる。   After the predetermined time, when the drying process is completed, the holding (locking) state of the substrate 12 by the clamp pin 25 is released. After the holding state of the substrate 12 is released, the processed substrate 12 is transferred to the outside by the transfer robot (not shown). At this time, since the movable liquid receiving portion 22 is at the lowered position closing the opening of the recovery tank 52, contact with the transport robot can be avoided.

本実施形態においては、処理液による基板処理を低速回転数で行う場合、基板12の外周付近に設けたリング体21を基板12の回転数より高い回転数とすることで、基板12の端からリング体21に流入した処理液を低速回転する時よりも大きな遠心力で回収槽52へと飛散させることができる。すなわち、基板12の回転数と異なる回転数でリング体21を回転させることができるので、基板12は基板処理に最適な回転数を維持することができると共に、リング体21の回転数を処理液の回収、廃棄等に最適な回転数に設定することができ、処理済みの処理液を有効に再利用又は廃棄することができる。なお、リング体21の回転数、回転方向を処理液の回収、廃液に合せて任意に設定することができる。   In the present embodiment, when the substrate processing with the processing liquid is performed at a low rotational speed, the ring body 21 provided in the vicinity of the outer periphery of the substrate 12 has a rotational speed higher than the rotational speed of the substrate 12. The processing solution that has flowed into the ring body 21 can be scattered into the recovery tank 52 with a larger centrifugal force than when rotating at low speed. That is, since the ring body 21 can be rotated at a rotation number different from the rotation number of the substrate 12, the substrate 12 can maintain the optimum rotation number for substrate processing, and the rotation number of the ring body 21 It is possible to set the number of rotations optimum for the collection, disposal and the like of the above, and to effectively reuse or discard the treated processing solution. In addition, the number of rotations and the rotation direction of the ring body 21 can be arbitrarily set in accordance with the recovery of the processing liquid and the waste liquid.

(第2の実施形態)
次に、本発明の第2の実施形態に係る基板処理装置11aについて、図7〜図8Bを参照して説明する。第1の実施形態との相違点を中心に説明し、共通点については適宜簡略又は省略する。また、第1の実施形態と共通する構成要素については、共通の名称、符号を使用して説明する。
Second Embodiment
Next, a substrate processing apparatus 11a according to a second embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 7 to 8B. The differences from the first embodiment will be mainly described, and the common points will be simplified or omitted as appropriate. In addition, components common to the first embodiment will be described using common names and reference numerals.

本実施形態では、第1の実施形態における同期回転体63を回転させる駆動モータ65が配置されておらず、替わりにシリンダ75が設けられている点が特徴である(図7)。シリンダ75は、ベース板30上に設けられ、上部のシリンダロッド75aが伸長して上方に位置する同期回転体63に圧接し、その回転を停止させる機能を有する。このシリンダ75は、制御部100に電気的に接続されており、その駆動を制御部100によって制御される。図8Aに示すように、シリンダ75は、シリンダロッド75aが伸長する以前には、同期回転体63とは接触していない状態にある。同期回転体軸受け62は、低発塵性の滑り部材77を介して動力伝動体36に設けられている。この滑り部材77により、同期回転体軸受け62は上下方向に移動可能になっている。同期回転体63は、下円板61と係合しており、さらに動力伝動体36とは滑り部材77と同期回転体軸受け62を介して設けられると共に、低発塵性の接続部材76を間に介して接続されている。回転体13が回転すると、回転体13に位置決めされる円板軸27と下円板61、同期回転体63も、回転体13と共に回転する。   The present embodiment is characterized in that the drive motor 65 for rotating the synchronous rotating body 63 in the first embodiment is not disposed, and a cylinder 75 is provided instead (FIG. 7). The cylinder 75 is provided on the base plate 30, and has a function of pressing the synchronous rotary member 63 located on the upper side by extending the upper cylinder rod 75a and stopping its rotation. The cylinder 75 is electrically connected to the control unit 100, and the drive thereof is controlled by the control unit 100. As shown in FIG. 8A, the cylinder 75 is not in contact with the synchronous rotor 63 before the cylinder rod 75a extends. The synchronous rotor bearing 62 is provided on the power transmission 36 via a low dusting sliding member 77. The sliding member 77 allows the synchronous rotor bearing 62 to move up and down. The synchronous rotary body 63 is engaged with the lower disc 61, and further, the power transmission body 36 is provided via the sliding member 77 and the synchronous rotary body bearing 62, and the low dusting connection member 76 is interposed therebetween. Is connected via. When the rotary body 13 rotates, the disc shaft 27 and the lower disc 61 positioned on the rotary body 13 and the synchronous rotary body 63 also rotate together with the rotary body 13.

図8Bに示すように、シリンダ75のシリンダロッド75aを伸長させてその先端を同期回転体63に圧接させると、同期回転体63と動力伝動体36側の滑り板76との接合が離れ、同期回転体軸受け62によって回転可能となる。これにより、同期回転体63の回転は停止する。このとき、下円板61は、係合する同期回転体63の周りを回転しながら回転体13と共に回転する。このとき、下円板61は基板12と同じ方向に回転する。この下円板61が回転することで、上円板18も回転し、上円板18に係合するリング体21回転することなる。これにより、リング体21は下円板61の回転方向、つまり、基板の回転方向に回転されることになる。また、リング体21は、回転する回転体13の周りを回転するので、回転体13の回転数より高い回転数で回転することになる。   As shown in FIG. 8B, when the cylinder rod 75a of the cylinder 75 is extended and the tip end thereof is pressed against the synchronous rotating body 63, the joint between the synchronous rotating body 63 and the sliding plate 76 on the power transmission body 36 side is separated. The rotor bearing 62 enables rotation. Thereby, the rotation of the synchronous rotor 63 is stopped. At this time, the lower disc 61 rotates with the rotary body 13 while rotating around the engaging synchronous rotary body 63. At this time, the lower disc 61 rotates in the same direction as the substrate 12. As the lower disc 61 rotates, the upper disc 18 also rotates, and the ring body 21 engaged with the upper disc 18 rotates. As a result, the ring body 21 is rotated in the rotational direction of the lower disk 61, that is, in the rotational direction of the substrate. In addition, since the ring body 21 rotates around the rotating body 13 that rotates, the ring body 21 rotates at a rotational speed higher than that of the rotating body 13.

本実施形態では、第1実施形態のように、駆動モータ65を使用してリング体21の回転数、回転方向を自由に変化させることはできないものの、本実施形態では、シリンダ機構の使用により、リング体21を基板の回転数よりも高い回転数とすることができるので、基板12が低回転数のときに、処理液を飛散させて回収槽52に回収することができる。本実施形態では、シリンダ75がシリンダ機構部に相当し、上円板18、円板軸27、下円板61及び同期回転体63で連動機構部を構成し、これら全体でリング体回転機構を構成する。   In the present embodiment, as in the first embodiment, although it is not possible to freely change the rotational speed and rotational direction of the ring body 21 using the drive motor 65, in the present embodiment, by using a cylinder mechanism, Since the ring body 21 can be set to a rotation speed higher than the rotation speed of the substrate, the processing liquid can be scattered and collected in the collection tank 52 when the substrate 12 has a low rotation speed. In the present embodiment, the cylinder 75 corresponds to a cylinder mechanism, and the upper disc 18, the disc shaft 27, the lower disc 61, and the synchronous rotor 63 constitute an interlocking mechanism, and the ring body rotating mechanism Configure.

次に、本実施形態に係る基板処理装置11aを用いた基板12の処理の手順について以下に説明する。使用する処理液は、第1実施形態と同様、ノズル23a及びノズル24aから供給される処理液A(エッチング液:リン酸溶液)、ノズル23b及びノズル24bから供給される処理液B(リンス液:純水)が用いられる。   Next, the procedure of the process of the board | substrate 12 using the substrate processing apparatus 11a which concerns on this embodiment is demonstrated below. As in the first embodiment, the processing solution to be used is the processing solution A (etching solution: phosphoric acid solution) supplied from the nozzle 23a and the nozzle 24a, and the processing solution B (rinsing solution: supplied from the nozzle 23b and the nozzle 24b). Pure water) is used.

可動液受け部22が液受け部昇降駆動機構(不図示)により降下する。基板搬送ロボット(不図示)により未処理の基板12が基板処理装置11に搬入され、クランプピン25上に載置される。基板12が搬入された後、搬送ロボットが待機位置まで後退すると、基板12の回転による処理液の装置外への飛散防止のために、可動液受け部22が上昇位置に戻される。   The movable liquid receiver 22 is lowered by the liquid receiver elevating drive mechanism (not shown). The unprocessed substrate 12 is carried into the substrate processing apparatus 11 by a substrate transfer robot (not shown) and placed on the clamp pin 25. After the substrate 12 is carried in, when the transport robot retracts to the standby position, the movable liquid receiving portion 22 is returned to the raised position to prevent the processing liquid from scattering out of the apparatus due to the rotation of the substrate 12.

基板12がクランプピン25に配置された後、回転板17に設けられたクランプピン25の上部先端にある頭部が基板12の外周面に当接する方向へ偏心回転し、基板12がクランプピン25によって保持されることになる。   After the substrate 12 is disposed on the clamp pin 25, the head at the upper end of the clamp pin 25 provided on the rotary plate 17 is eccentrically rotated in a direction in which it abuts on the outer peripheral surface of the substrate 12. Will be held by

処理液Aを供給するノズル23aは、待機位置から基板12の表面中心の上部に移動される。そして、基板12は、駆動モータ35により、エッチング液である処理液Aによる基板12への薬液処理に適した回転数(例えば、数十〜100rpm)で回転される。このとき、シリンダ75のシリンダロッド75aを伸長させ、その先端を同期回転体63に当接させ、同期回転体63と動力伝動体36との接合を離すと、上述したように、リング体21は基板12の回転数よりも高い回転数で回転する。そして、ノズル23aから回転する基板12の中心部に処理液Aが供給される。供給された処理液Aは、回転する基板12上を遠心力により基板12の中央部から均等に周囲に拡散する。基板12の端部に到達した処理液Aは、基板12の端からカバー部15に流出し、さらにその外周位置にあるリング体21に流出する。リング体21は、上記したように基板12の回転数よりも高い回転数で回転しているので、処理液Aには基板12上での遠心力よりも大きな遠心力が作用することになり、殆どは廃液槽51を越えて外側に位置する回収槽52へと飛散する(図7A)。また、ノズル23aにより基板12の表面に処理液Aが供給させると同時に基板12の裏面にノズル24aによって処理液Aが供給される。基板12の裏面に供給された処理液Aは、カバー部15に流出し、さらに、カバー部15の外周位置にあるリング体21に流出し、リング体に21によって回収槽52に飛散する。これにより、基板12が低速回転数(例えば、数十〜100rpm)のときには、従来は遠心力が小さいために側壁部13aと仕切り壁51bとの間の廃液槽51に落下していた処理液Aを、本実施形態では、リング体21を基板より高速で回転させることで、処理液Aを回収槽52へ飛散することができるので、他の処理液と分離した回収が可能となる。   The nozzle 23a for supplying the processing solution A is moved from the standby position to the top of the surface center of the substrate 12. Then, the substrate 12 is rotated by the drive motor 35 at a rotational speed (for example, several tens to 100 rpm) suitable for chemical treatment on the substrate 12 by the treatment liquid A which is an etching liquid. At this time, when the cylinder rod 75a of the cylinder 75 is extended and the tip thereof is brought into contact with the synchronous rotating body 63 and the joint between the synchronous rotating body 63 and the power transmission body 36 is released, the ring body 21 The substrate rotates at a rotational speed higher than the rotational speed of the substrate 12. Then, the processing liquid A is supplied from the nozzle 23 a to the central portion of the rotating substrate 12. The supplied processing solution A spreads uniformly from the central portion of the substrate 12 around the rotating substrate 12 by centrifugal force. The treatment liquid A having reached the end of the substrate 12 flows out from the end of the substrate 12 to the cover portion 15 and further flows out to the ring body 21 at the outer peripheral position. Since the ring body 21 is rotated at a rotation speed higher than the rotation speed of the substrate 12 as described above, a centrifugal force larger than the centrifugal force on the substrate 12 acts on the treatment liquid A, Most are scattered over the waste liquid tank 51 to the recovery tank 52 located outside (FIG. 7A). In addition, the processing liquid A is supplied to the front surface of the substrate 12 by the nozzle 23 a and at the same time the processing liquid A is supplied to the back surface of the substrate 12 by the nozzle 24 a. The processing solution A supplied to the back surface of the substrate 12 flows out to the cover portion 15 and further flows out to the ring body 21 at the outer peripheral position of the cover portion 15 and scatters into the collection tank 52 by the ring body 21. Thereby, when the substrate 12 has a low rotational speed (for example, several tens to 100 rpm), the processing liquid A which has been dropped into the waste liquid tank 51 between the side wall 13a and the partition wall 51b because the centrifugal force is small conventionally. In the present embodiment, by rotating the ring body 21 at a speed higher than that of the substrate, the processing solution A can be scattered to the recovery tank 52, so recovery separate from other processing solutions is possible.

次に、処理液Aによる基板12の処理が終了すると、ノズル23a及びノズル24aから処理液Aの供給が停止され、ノズル23aが基板12の中央上部から待機位置へと退避し、さらに可動液受け部22が回収槽52の開口を塞ぐ位置に降下する。そして、ノズル23bを待機位置から基板12の中央上部へ移動させる。処理液Bによる基板12の洗浄を効果的に行うために、基板12の回転数は中速回転数(例えば、500rpm)に設定される。このとき、処理液Bは処理液Aを含むので、リング体21の回転数も基板12の回転数と同じ中速回転数に設定すべく、シリンダ75のシリンダロッド75aは伸長させず、後退位置とする(図8A)。そして、ノズル23b及びノズル24bから基板12の中央に処理液Bが供給され、遠心力により基板12の中央部から均等に周囲に拡散して基板洗浄を均一に行う。基板12の端部に到達した処理液Bは、基板12の端からカバー部15に流出し、さらにその外周位置にあるリング体21に流出する。リング体21が基板12の回転数と同じ中速回転数であるから、処理液Bは遠心力により可動液受け部22の上を越えて飛散するので、回収槽52へ処理液Bが流入することを防止できる。このとき、処理液Bは、降下位置にある可動液受け部22を超えて不図示の可動液受け部22の外周に位置する廃液槽に飛散し、処理液Bの一部は、側壁部13aと仕切り壁部13の間を落下し、廃液槽51へ流れる。   Next, when the processing of the substrate 12 by the processing liquid A is completed, the supply of the processing liquid A from the nozzles 23a and 24a is stopped, and the nozzle 23a retracts from the central upper portion of the substrate 12 to the standby position, and the movable liquid receiver is further received. The portion 22 descends to a position where the opening of the recovery tank 52 is closed. Then, the nozzle 23 b is moved from the standby position to the upper center of the substrate 12. In order to effectively clean the substrate 12 with the processing liquid B, the number of rotations of the substrate 12 is set to a medium rotation number (for example, 500 rpm). At this time, since the treatment liquid B contains the treatment liquid A, the cylinder rod 75a of the cylinder 75 is not extended so that the number of rotations of the ring body 21 is also set to the same number of medium rotations as the number of rotations of the substrate 12. And (Fig. 8A). Then, the processing solution B is supplied from the nozzle 23 b and the nozzle 24 b to the center of the substrate 12 and is diffused uniformly from the center of the substrate 12 by centrifugal force to uniformly clean the substrate. The processing solution B that has reached the end of the substrate 12 flows out from the end of the substrate 12 to the cover portion 15 and further flows out to the ring body 21 at the outer peripheral position. Since the ring body 21 has the same medium-speed rotational speed as the rotational speed of the substrate 12, the processing liquid B scatters over the movable liquid receiving portion 22 by centrifugal force, so the processing liquid B flows into the recovery tank 52. Can be prevented. At this time, the processing liquid B is scattered to the waste liquid tank located on the outer periphery of the movable liquid receiving portion 22 (not shown) beyond the movable liquid receiving portion 22 at the lowered position, and a part of the processing liquid B is the side wall portion 13a. And the partition wall 13 and flows to the waste liquid tank 51.

次に、処理液Bによる基板12の洗浄処理が終了すると、ノズル23b及びノズル24bは、処理液Bの供給が停止され待機位置へと退避する。このとき、可動液受け部22は、回収槽52の開口を塞ぐ位置に降下した状態に維持する。そして、ノズル23cを待機位置から基板12の中央上部へ移動させる。   Next, when the cleaning processing of the substrate 12 by the processing liquid B is completed, the supply of the processing liquid B is stopped and the nozzles 23 b and the nozzles 24 b are retracted to the standby position. At this time, the movable liquid receiver 22 is maintained in the state of being lowered to the position at which the opening of the recovery tank 52 is closed. Then, the nozzle 23 c is moved from the standby position to the upper center of the substrate 12.

そして、駆動モータ35、回転体13等により基板12を高速回転数(例えば、1000〜1500rpm)で回転させ、基板12上から処理液Bを飛散させて基板12を乾燥させる。リング体21は、基板12と同じ回転数とすべく、シリンダ75のシリンダロッド75aは伸長させず、後退位置とする。処理液Bは遠心力により飛散するが、可動液受け部22が回収槽52の開口を塞ぐ位置に降下しているので、回収槽52へ処理液Bの流入は防止される。このとき、処理液Bは、降下位置にある可動液受け部22を超えて不図示の可動液受け部22の外周に位置する廃液槽に飛散する。   Then, the substrate 12 is rotated at a high rotational speed (for example, 1000 to 1500 rpm) by the drive motor 35, the rotating body 13 or the like, and the processing liquid B is scattered from above the substrate 12 to dry the substrate 12. In order to make the ring body 21 have the same rotational speed as the base plate 12, the cylinder rod 75a of the cylinder 75 is not extended but is in the retracted position. The treatment liquid B scatters due to centrifugal force, but since the movable liquid receiver 22 is lowered to a position where the opening of the recovery tank 52 is closed, the inflow of the treatment liquid B into the recovery tank 52 is prevented. At this time, the treatment liquid B is scattered to the waste liquid tank located on the outer periphery of the movable liquid receiving portion 22 (not shown) beyond the movable liquid receiving portion 22 at the lowered position.

所定時間経過後、乾燥処理が終了したならば、回転体13の回転を停止し、クランプピン25による基板12の保持(ロック)状態が解除される。基板12の保持状態が解除された後、搬送ロボット(不図示)により処理済みの基板12が外部へ搬送される。   After the predetermined time has elapsed, when the drying process is completed, the rotation of the rotating body 13 is stopped, and the holding (locked) state of the substrate 12 by the clamp pin 25 is released. After the holding state of the substrate 12 is released, the processed substrate 12 is transferred to the outside by the transfer robot (not shown).

上記したように、本実施形態の基板処理装置11aでは、リング体21の回転数を基板12の回転数と同じ、又は高い回転数とすることが簡単な装置構成で行うことが可能となる。すなわち、基板12の回転数が低速回転のときに、リング体21を基板12の回転数よりも高い回転数とすることができるので、処理液を回転するリング体21の遠心力により回収槽52へ飛散させることが可能となる。また、本実施形態ではシリンダ機構を使用するので、駆動モータを使用した第1実施形態よりも構成を簡素にすることができる。   As described above, in the substrate processing apparatus 11a of the present embodiment, it is possible to make the number of rotations of the ring body 21 equal to or higher than the number of rotations of the substrate 12 with a simple device configuration. That is, when the rotation speed of the substrate 12 is a low speed rotation, the ring body 21 can be set to a rotation speed higher than the rotation speed of the substrate 12, so the centrifugal force of the ring body 21 rotating the processing liquid Can be scattered. In addition, since the cylinder mechanism is used in the present embodiment, the configuration can be simplified as compared with the first embodiment using the drive motor.

以上、本発明のいくつかの実施形態及び各部の変形例を説明したが、この実施形態や各部の変形例は、一例として提示したものであり、発明の範囲を限定することは意図していない。上述したこれら新規な実施形態は、その他の様々な形態で実施されることが可能であり、発明の要旨を逸脱しない範囲で、種々の省略、置き換え、変更を行うことができる。これら実施形態やその変形は、発明の範囲や要旨に含まれるとともに、特許請求の範囲に記載された発明に含まれる。   As mentioned above, although the modification of some embodiments and each part of the present invention was described, the modification of this embodiment or each part is shown as an example, and limiting the scope of the present invention is not intended. . These novel embodiments described above can be implemented in other various forms, and various omissions, substitutions, and modifications can be made without departing from the scope of the invention. These embodiments and modifications thereof are included in the scope and the gist of the invention, and are included in the invention described in the claims.

11、11a 基板処理装置
12 基板
13 回転体
15 カバー部
17 回転板
18 上円板
21 リング体
22 可動液受け部
23 ノズル
25 クランプピン
27 円板軸
29 ピン回転体
30 ベース板
31 子歯車
32 親歯車
33(33a〜33f) 支持筒部
34a 回転子
34b 固定子
35 駆動モータ
36 動力伝動体
41 親歯車軸受け
42 クランプバネ
43 チャック開放シリンダ
51 廃液槽
52 回収槽
53 廃液配管
55 回収配管
60 支持筒部
61 下円板
62 同期回転体軸受け
63 同期回転体
65 駆動モータ
75 リング体増速シリンダ
75a シリンダロッド
76 接続部材
11 and 11a Substrate processing apparatus 12 Substrate 13 Rotator 15 Cover 17 Rotor plate 18 Upper disc 21 Ring body 22 Ring body 22 Movable liquid receiver 23 Nozzle 25 Clamp pin 27 Disc axis 29 Pin rotor 30 Base plate 31 Child gear 32 Gear 33 (33a to 33f) Support cylinder 34a Rotor 34b Stator 35 Drive motor 36 Power transmission body 41 Parent gear bearing 42 Clamp spring 43 Chuck open cylinder 51 Waste tank 52 Collection tank 53 Waste piping 55 Collection piping 60 Support cylinder 61 lower disc 62 synchronous rotor bearing 63 synchronous rotor 65 drive motor 75 ring accelerating cylinder 75a cylinder rod 76 connecting member

Claims (7)

基板の表面に処理液を供給して基板処理する基板処理装置において、
前記基板を保持する回転体部と、
前記回転体部を回転させる回転駆動部と、
前記基板の表面に前記処理液を供給する処理液供給手段と、
前記回転体部により保持された前記基板の回転半径より大なる回転半径を有する、前記回転体部に相対に回転可能に設けられたリング体と、
前記リング体を前記基板の回転速度と異なる回転速度での回転を可能とするリング体回転機構と、を有する基板処理装置。
In a substrate processing apparatus that supplies a processing liquid to the surface of a substrate to process the substrate,
A rotating body unit that holds the substrate;
A rotation drive unit that rotates the rotating body unit;
Treatment liquid supply means for supplying the treatment liquid to the surface of the substrate;
A ring body rotatably provided relatively to the rotating body portion, having a radius of rotation larger than the radius of rotation of the substrate held by the rotating body portion;
And a ring body rotating mechanism capable of rotating the ring body at a rotational speed different from that of the substrate.
前記リング体は、平坦な上面を有する環状部材である請求項1に記載の基板処理装置。   The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the ring body is an annular member having a flat upper surface. 前記リング体は、外側面に複数の溝が形成される請求項1又は2に記載の基板処理装置。   The substrate processing apparatus according to claim 1, wherein the ring body has a plurality of grooves formed on an outer surface thereof. 前記リング体回転機構は、変速可能な回転駆動部と、前記回転駆動部と前記リング体とを連動させる連動機構部とを有する請求項1乃至3のいずれかに記載の基板処理装置。   The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein the ring body rotation mechanism includes a rotation drive portion capable of shifting, and an interlock mechanism portion interlocking the rotation drive portion and the ring body. 前記連動機構部は、前記回転体部に回転可能に装着され、前記リング体の内側面に形成される溝部に係合する第1の円板部材と、前記第1の円板部材と連結軸により同軸に連結される第2の円板部材と、前記第2の円板部材と係合する同期回転体とを有し、前記回転駆動部により前記同期回転体を回転させる請求項4に記載の基板処理装置。   The interlocking mechanism portion is rotatably mounted on the rotating body portion, and a first disc member engaged with a groove formed on an inner side surface of the ring body, the first disc member, and a connecting shaft 5. The disk drive according to claim 4, further comprising: a second disc member coaxially connected by the second disc member; and a synchronous rotor engaged with the second disc member, wherein the synchronous rotor is rotated by the rotation driving unit. Substrate processing equipment. 前記リング体回転機構は、伸縮するシリンダロッドを有するシリンダ機構部と、前記シリンダ機構部の前記シリンダロッドの伸長により回転が停止される連動機構部とを有し、
前記連動機構部は、前記回転体部に回転可能に装着され、前記リング体の内側面に形成される溝部に係合する第1の円板部材と、前記第1の円板部材と連結軸により同軸に連結される第2の円板部材と、前記第2の円板部材と係合する同期回転体とを有する請求項1乃至3のいずれかに記載の基板処理装置。
The ring body rotation mechanism has a cylinder mechanism portion having a cylinder rod that can expand and contract, and an interlock mechanism portion whose rotation is stopped by extension of the cylinder rod of the cylinder mechanism portion,
The interlocking mechanism portion is rotatably mounted on the rotating body portion, and a first disc member engaged with a groove formed on an inner side surface of the ring body, the first disc member, and a connecting shaft The substrate processing apparatus according to any one of claims 1 to 3, further comprising: a second disc member coaxially connected by the second disc member; and a synchronous rotating body engaged with the second disc member.
前記同期回転体は、前記回転体部の回転軸に軸受け部を介して設けられている請求項5又は6のいずれかに記載の基板処理装置。   The substrate processing apparatus according to claim 5, wherein the synchronous rotating body is provided on a rotating shaft of the rotating body portion via a bearing portion.
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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06310418A (en) * 1993-04-26 1994-11-04 Tokyo Electron Ltd Treating equipment
JPH10270408A (en) * 1997-01-22 1998-10-09 Tokyo Electron Ltd Cleaning method and cleaning apparatus
JP2015023138A (en) * 2013-07-18 2015-02-02 株式会社ディスコ Spinner cleaning apparatus
US20150037499A1 (en) * 2013-08-01 2015-02-05 Solid State Equipment Llc Apparatus for dual speed spin chuck
JP2019057680A (en) * 2017-09-22 2019-04-11 株式会社Screenホールディングス Substrate holding apparatus and substrate processing apparatus

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5208666B2 (en) 2008-10-10 2013-06-12 大日本スクリーン製造株式会社 Substrate processing equipment
JP6234736B2 (en) * 2013-08-30 2017-11-22 芝浦メカトロニクス株式会社 Spin processing device
DE102015220090B4 (en) 2015-01-14 2021-02-18 Siltronic Ag Method for dressing polishing cloths
JP6734666B2 (en) 2015-03-30 2020-08-05 芝浦メカトロニクス株式会社 Spin processing device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06310418A (en) * 1993-04-26 1994-11-04 Tokyo Electron Ltd Treating equipment
JPH10270408A (en) * 1997-01-22 1998-10-09 Tokyo Electron Ltd Cleaning method and cleaning apparatus
JP2015023138A (en) * 2013-07-18 2015-02-02 株式会社ディスコ Spinner cleaning apparatus
US20150037499A1 (en) * 2013-08-01 2015-02-05 Solid State Equipment Llc Apparatus for dual speed spin chuck
JP2019057680A (en) * 2017-09-22 2019-04-11 株式会社Screenホールディングス Substrate holding apparatus and substrate processing apparatus

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