JP2019060808A5 - - Google Patents

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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US20220130070A1 (en) 2019-06-07 2022-04-28 Mayekawa Mfg. Co., Ltd. Image processing device, image processing program, and image processing method
JP7437222B2 (ja) * 2020-04-22 2024-02-22 株式会社サキコーポレーション 検査装置
JP6955802B1 (ja) 2020-11-26 2021-10-27 日本装置開発株式会社 Ｘ線検査装置用の回転機構、ｘ線検査装置およびｘ線検査装置用の回転機構の調整方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE60022672T2 (de) * 1999-11-08 2006-06-29 Teradyne Inc., Boston Röntgentomographische bga ( ball grid array ) prüfungen
JP4537090B2 (ja) * 2004-02-19 2010-09-01 東芝Ｉｔコントロールシステム株式会社 トモシンセシス装置
JP4610590B2 (ja) * 2007-09-04 2011-01-12 名古屋電機工業株式会社 Ｘ線検査装置、ｘ線検査方法およびｘ線検査プログラム
JP5559551B2 (ja) * 2010-01-19 2014-07-23 株式会社サキコーポレーション 検査装置
JP5400704B2 (ja) * 2010-05-21 2014-01-29 株式会社日立製作所 配管検査装置および配管検査方法
JP6383707B2 (ja) * 2015-07-06 2018-08-29 名古屋電機工業株式会社 撮影画像のずれ補正装置、撮影画像のずれ補正方法および撮影画像のずれ補正プログラム

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