JP2016006386A - 円環状回転体の表面形状データの補正方法、及び、円環状回転体の外観検査装置 - Google Patents
円環状回転体の表面形状データの補正方法、及び、円環状回転体の外観検査装置 Download PDFInfo
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 35
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims description 16
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 title 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 22
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 16
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 15
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 14
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 7
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 claims description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 20
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 2
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000012876 topography Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2518—Projection by scanning of the object
- G01B11/2522—Projection by scanning of the object the position of the object changing and being recorded
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/24—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
- G01B11/25—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object
- G01B11/2545—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures by projecting a pattern, e.g. one or more lines, moiré fringes on the object with one projection direction and several detection directions, e.g. stereo
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
- G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
- G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
- G01B21/045—Correction of measurements
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M17/00—Testing of vehicles
- G01M17/007—Wheeled or endless-tracked vehicles
- G01M17/02—Tyres
- G01M17/021—Tyre supporting devices, e.g. chucks
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- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M17/00—Testing of vehicles
- G01M17/007—Wheeled or endless-tracked vehicles
- G01M17/02—Tyres
- G01M17/022—Tyres the tyre co-operating with rotatable rolls
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M17/00—Testing of vehicles
- G01M17/007—Wheeled or endless-tracked vehicles
- G01M17/02—Tyres
- G01M17/027—Tyres using light, e.g. infrared, ultraviolet or holographic techniques
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
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- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9515—Objects of complex shape, e.g. examined with use of a surface follower device
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
【解決手段】円環状回転体表面の3次元形状データを補正する際に、円環状回転体の検出対象面に沿った基準線を設定してから、基準線を等角度で分割した基準等角分割点を設定し、次に、互いに隣接する基準等角分割点間の距離から基準線の周長を算出し、この周長を用いて、基準線上に基準線を等長に分割した複数の基準等長分割点を設定してから、基準等長分割点から円環状回転体の径方向に予め設定された距離だけ離れた位置に、円環状回転体の検出対象面のデータを補正するための補間点を設定した後、補正すべき3次元形状データを用いて補間点の3次元形状データを算出し、最後に、前記周長と前記距離とを用いて、前記補間点を、回転中心を中心とした前記周長と同じ周長を有する真円上に移動させるようにした。
【選択図】図8
Description
光切断法は、被検体を移動させながら被検体の検査対象面にスリット光を照射してスリット光の照射部を撮影し、撮影された画像の画素データから、被検体表面の3次元形状データを計測するもので、被検体がタイヤなどの円環状回転体である場合には、被検体を中心軸の周りに1回転させて計測することで、被検体の全周の表面形状を検出する(例えば、特許文献1参照)。
しかし、タイヤは厳密には真円ではなく、タイヤをリムに装着して内圧充填しなければ歪みが大きくなる。したがって、真円の仮定が必要な補正方法では、タイヤなどの外形が歪んでいる円環状回転体の3次元形状データを精度良く補正することが困難であった。
そこで、被検体がタイヤである場合には、タイヤをリムに装着して内圧充填し、タイヤが歪みにくい状態にして計測する必要がある。その結果、計測に時間がかかってしまうだけでなく、偏芯をなくすためには、被検体の中心軸と被検体を回転させたときの回転軸とを一致させる必要であった。
しかしながら、被検体の中心軸と回転軸とを一致させるためには、高精度のセンタリング機構などの設備が必要であった。
このように、等角度で計測されたデータを、円環状回転体表面の平面形状(基準線)に沿った等長に分割されたデータに変換し、これらの等長に分割されたデータを円環状回転体の周長が変わらないようにして真円に並べ直せば、円環状回転体表面の形状データを精度良く補正できる。
このような手順で補間点Rj,kを設定すれば、前記データ領域の3次元形状データを精度良く補間できるので、円環状回転体表面の形状データの補正精度が向上する。
タイヤの素材・構造から推定されるタイヤ自身の歪み方は限定的であり、「周長が変化する」ような歪み方はしない。したがって、請求項1または請求項2に記載の発明をタイヤに適用して、等角度で計測されたタイヤのサイドウォール部の表面形状データ(もしくはトレッド部の表面形状データ)を、等長に分割されたデータに変換し、これらの等長に分割されたデータを周長が変わらないようにして真円に並べ直すような補正を行えば、タイヤの表面の形状データを精度良く補正することができる。
また、タイヤをリムに装着して内圧充填しなくても、タイヤのサイドウォール部もしくはトレッド部の表面形状データを精度よく検出できるので、計測時間を大幅に短縮できる。
また、高精度のセンタリング機構を用いる必要がないので、設備を簡易化できる。
このような構成を採ることにより、精度の高い円環状回転体表面の形状データが得られるので、円環状回転体の外観検査を精度良く行うことができる。
また、円環状回転体をタイヤとすれば、タイヤの表面形状データを、高速に、かつ、低コストで計測できるタイヤ外観検査装置を得ることができる。
図1はタイヤの外観検査装置10の構成を示す図で、同図において、11は画像取得手段、12は回転テーブル、13は駆動用モータ、14はモータ制御手段、15は回転角検出手段、16は演算装置である。
回転テーブル12〜回転角検出手段15までの各手段が、被検体としてのタイヤTを回転させる回転手段を構成する。
演算装置16は、画像処理手段17、記憶手段18、判定手段19、及び、データ補正手段20を備える。
画像取得手段11は、投光手段11Aと撮影手段11Bとを備え、被検体としてのタイヤTの検出対象面の画像を取得する。
投光手段11Aは、回転テーブル12上に搭載されたタイヤTの検出対象面にスリット光(ライン光)を照射するもので、例えば、半導体レーザやハロゲンランプ等の単色もしくは白色の光源を備える。
撮影手段11Bは、平面状に配置された撮像素子と、タイヤTの表面で反射されたスリット光を撮像素子に集光するレンズを備え、スリット光の照射部の画像であるタイヤTのサイドウォール部面の稜線の画像(スリット像S)を、タイヤTが所定の回転角度(例えば、1°)回転する毎に撮影するもので、例えば、CCDカメラなどのエリアカメラが用いられる。
駆動用モータ13は、回転テーブル12に接続されて回転テーブル12を回転させる。
モータ制御手段14は、回転テーブル12を所定の回転速度(例えば、60rpm)で回転させるように、駆動用モータ13を駆動・制御する。
回転角検出手段15は、タイヤTの回転角度(実際には、回転テーブル12の回転角度)を検出するもので、例えば、ロータリーエンコーダーなどが用いられる。
なお、駆動用モータ13としてステッピングモータを用いて、回転テーブル12を所定角度ずつ回転させてもよい。この場合には、回転角検出手段15を省略しても良い。
画像処理手段17は、画像取得手段11で撮影したタイヤTのサイドウォール部表面の稜線の画像(スリット像S)を画像処理して、サイドウォール部表面の3次元形状データを算出する。具体的には、スリット像を構成する複数の画素のうち、光を受けて明るくなっている画素の重心座標を算出して、スリット像Sの各位置(計測点Pi,k)の2次元座標(xi,k,zi,k)を求め、この2次元座標(xi,k,zi,k)と回転角検出手段15で検出したタイヤTの回転角度θiとから、計測点Pi,kの3次元座標データを求める。
なお、添え字iは計測点Pi,kの周方向位置(回転角度θiであるときの計測点であること)表し、添え字kは、径方向位置(回転中心Oから数えてk番目の計測点であること)を表す。
このような操作を、スリット像毎(回転角度Δθ毎)に行うことで、図2に示すような、回転中心Oを通る、等角度の断面上点群データPi,kから成る、タイヤ1周分のサイドウォール部表面の3次元形状データを算出することができる。上記の回転角度Δθは、Δθ=2π/nと表せる。
ここで、θi=i・Δθ(i=1〜n)とし、θi方向にある計測点Pi,kの数をmiとすると、計測点Pi,kの総数はN=(m1+m2+……+mi+……+mn)となる。なお、サイドウォール部表面の3次元形状データは、通常、Pi,k=(ri,k,θi,zi,k)のように、円筒座標の形で表せる。
記憶手段18は、タイヤTの外観の良否判定の基準と成る標準タイヤ(良品タイヤ)のサイドウォール部表面の3次元形状データと、画像処理手段17で算出されたサイドウォール部表面の3次元形状データである計測点Pi,kの3次元座標データと、後述するデータ補正手段20で設定もしくは算出される基準線K、基準等角分割点Pi及び基準等長分割点Qjなどのデータを記憶する。
判定手段19は、データ補正手段20により補正されたサイドウォール部表面の3次元形状データと、予め記憶手段18に記憶されている標準タイヤのサイドウォール部表面の3次元形状データとを比較して、当該タイヤTの良否を判定する。
法線ベクトル算出手段25と、補間点ベクトル算出手段26とが、請求項1の補間点を設定する工程を実現するための手段に相当する。
図3に示すように、基準線設定手段21は、データ領域Dの形状に沿った閉曲線である基準線Kを設定し、等角分割点設定手段22は、基準線K上に複数の基準等角分割点Pi(i=1〜n)を設定する。
なお、データ領域Dとは、回転中心Oを通る、等角度の断面上点群データから成る領域、すなわち、画像処理手段17において3次元座標データを算出した領域で、リムラインK1とショルダーラインK2とに囲まれた領域である。また、データ領域Dの形状に沿った閉曲線とは、リムラインK1やショルダーラインK2などと相似な閉曲線を指す。
本例では、データ領域Dの内周であるリムラインK1を基準線Kとした。
基準等角分割点Pi(i=1〜n)は、回転中心Oを中心として等角度でn分割した基準線K上に設けられた点で、基準等角分割点Piの設定方法から明らかなように、回転中心Oと基準等角分割点Piとを結んだ線の延長方向には、データ領域Dを構成するmi,j個の計測点Pi,1〜Pi,mijが存在する(図2参照)。
等長分割点設定手段24は、図4に示すように、周長lを用いて、基準線K上に基準線Kを等長に分割した複数の基準等長分割点Qj(j=1〜n)を設定する。
具体的には、折れ線P1P2……Piの長さlP,iと折れ線Q1Q2……Qjの長さlQ,jとから 基準等長分割点Qjの位置を算出する。線分QkQk+1の長さはl/nなので、折れ線Q1Q2……Qjの長さは、lQ,j=(j−1)・(l/n)である。したがって、基準等長分割点Qjの位置は、Qjに隣接する2つの基準等角分割点Pi,Pi+1を、(lQ,j−lP,i):(lP,i+1−lQ,j)に内分する点として算出することができる。通常、基準等角分割点Pi,Pi+1間の距離ΔPiは、基準線Kの長さに比較して極めて短いので、基準等長分割点Qjは基準線K上の点と見做すことができる。
補間点ベクトル算出手段26は、図6(a)に示すように、回転中心Oを始点とし基準等長分割点Qjを終点とする分割点ベクトルOQjと、基準等長分割点Qjを始点とし単位法線ベクトルnjの方向を向き大きさが単位法線ベクトルの大きさに予め設定された距離hkを乗算したベクトルである方向ベクトルQjRj,kとの和(ベクトル和)から、回転中心を始点とする補間点ベクトルORj,kを求める。
距離hkは回転角度θiに依らない値で、例えば、3次元形状データを最大限有効活用するため、径方向の計測点Pi,k同士の間隔の最小値Δpminを用いて、hk=Δpmin・kとしたり、タイヤの良否判定の精度に必要なタイヤ径方向の解像度Δrminを用いて、hk=Δrmin・kとする方法が考えられる。
前述したように、回転中心Oと基準等角分割点Piとを結んだ線の延長方向には、データ領域Dを構成するmi個の計測点Pi,1〜Pi,mijが存在するので、i,kを適宜設定することで、補間点ベクトルORj,kの終点である補間点Rj,kを囲む計測点Pi,k,Pi,k+1,Pi+1,k,Pi+1,k+1から成る領域Gを設定することができる。
補間点データ算出手段27は、図6(b)に示すように、画像処理手段17で算出した計測点Pi,k,Pi,k+1,Pi+1,k,Pi+1,k+1の深さ方向のデータzi,k,zi,k+1,zi+1,k,zi+1,k+1を用いて、補間点Rj,kの深さ方向のデータZi,kを算出する。
具体的には、計測点Pi,k,Pi+1,kを通る円弧と計測点Pi,k+1,Pi+1,k+1を通る円弧と計測点Pi,k,Pi,k+1を通る直線と計測点Pi+1,k,Pi+1,k+1を通る直線とで囲まれた領域Gを、r−θ座標(極座標)系を用いることで、縦(r)がPi,k,Pi,k+1間の距離に等しく、横(θ)がPi,k,Pi+1,k間の距離に等しい長方形と考え、補間点Rj,kの深さ方向のデータZj,kをバイリニア補間により算出する。すなわち、r−θ座標(極座標)系において、Rj,kのθ座標がPi,k,Pi+1,kをa:b(a+b=1)に内分する点のθ座標に等しく、r座標がPi,k,Pi,k+1をc:d(c+d=1)に内分する点のr座標に等しいとして、以下の式を用いてZj,kを算出する。
[数1]
Zj,k=b・c・zi,k+a・c・zi+1,k+b・d・zi,k+1+a・d・zi+1,k+1
なお、バイリニア補間に代えて、バイキュービック法などの他の補間方法を用いて補間点Rj,kの深さ方向のデータZi,kを算出してもよい。
周長lを有する円C0の半径は、A=l/2πである。また、補間点Rj,kは、基準等長分割点Qjよりもタイヤ径方向外側にhkだけずれた点なので、補間点Rj,kの座標を、円筒座標で表すと、Rj,k=(Bk,θj,Zj,k)となる。ここで、Bkは、補間点Rj,kの移動先の円Ckの半径で、Bk=A+hkである。また、θjは、回転中心Oからの補間点Rj,kの回転角度で、θj=j・(2π/n)である(j=1〜n)。
まず、タイヤTのセッティングを行う(ステップS10)。具体的には、タイヤTを回転テーブル12に搭載し、駆動用モータ13により回転テーブル12を駆動して、タイヤTを初期位置(θi=0rad)まで回転させる。
次に、タイヤTを回転させながら、画像取得手段11にてタイヤTのサイドウォール部表面の画像(スリット像S)を撮影するとともに、回転角検出手段15にてタイヤTの回転角度θを検出(ステップS11)した後、画像処理手段17にて、撮影したスリット像SとタイヤTの回転角度θとから、サイドウォール部表面の3次元形状データを算出(ステップS12)する。
次に、データ補正手段20を用いて、算出された3次元形状データを補正する。
具体的には、図3に示すように、基準線設定手段21を用いて、データ領域Dの形状に沿った基準線Kを設定(ステップS13)した後、等角分割点設定手段22にて、基準線K上に基準等角分割点Pi(i=1〜n)を設定する(ステップS14)。基準等角分割点Piは、基準線Kを回転中心Oを中心として等角度でn分割したときの基準線K上の点である。
次に、周長算出手段23にて、基準等角分割点Pi,Pi+1間の距離ΔPiを用いて、基準線Kの周長lを算出(ステップS15)した後、等長分割点設定手段24にて、前記算出された周長lを用いて、基準線K上に基準等長分割点Qj,(j=1〜n)を設定する(ステップS16)。基準等長分割点Qj(j=1〜n)は、基準線Kを当該基準線Kに沿って等長に分割した点である。
補間点Rj,kは、基準等長分割点Qj,をタイヤ径方向に距離hkだけ移動させて得られる、データ領域D内の点で、具体的には、回転中心Oを始点とし基準等長分割点Qjを終点とする分割点ベクトルORj,kと、基準等長分割点Qjを始点とし方向が単位法線ベクトルnjの方向で大きさが距離hkである方向ベクトルQjRj,kとのベクトル和から求められる、補間点ベクトルORj,kの終点の位置である。
次に、補間点データ算出手段27にて、補間点Rj,kを取り囲む計測点Pi,k,Pi,k+1,Pi+1,k,Pi+1,k+1の深さ方向のデータから補間点Rj,kの深さ方向のデータZj,kを算出する(ステップS18)。
次に、補間点移動手段28にて、補間点Rj,kを、回転中心Oを中心とした、周長lを有する円C0と同心円である円上に移動させる(ステップS19)。
ステップS20及びステップS21に示すように、上記ステップS17及びステップS18の操作を角度方向及び径方向について繰り返すことにより、補間点Rj,kを全て、回転中心Oを中心とする円Ck上に配置することができる。
最後に、補正されたサイドウォール部表面の3次元形状データと、標準タイヤのサイドウォール部表面の3次元形状データとを比較して、当該タイヤTの良否を判定する(ステップS22)。
また、前記実施の形態では、基準等長分割点Qの個数n’を基準等角分割点Pの個数nと同じにしたが、n’<nであってもよいし、逆に、n’>nであってもよい。この場合には、基準等長分割点Qjは、隣接する基準等角分割点Pi,Pi+1の内分点とはならないが、基準等長分割点Qjの座標は、前記実施の形態と同様に、折れ線P1P2……Piの長さlP,iと、折れ線Q1Q2……Qjの長さlq,j=(j−1)・(l/n’)とを用いて、算出することができる。また、回転角度θiにおける補間点Rj,kの個数mj’を、mjよりも小さくしてもよい。但し、光切断法で検出した3次元形状データを有効に活用するためには、本実施の形態のように、n’≧n,mj’≧mjとすることが好ましい。
また、前記実施の形態では、被検体である円環状回転体をタイヤとしたが、本発明はこれに限るものではなく、シリコン樹脂製の鍋のフタや鍋本体のような円形状製品や、半円筒状の樹脂製品の表面(側面)の検査などの、円環状回転体の一部を構成する部材にも適用可能である。
11B 撮影手段、12 回転テーブル、13 駆動用モータ、14 モータ制御手段、15 回転角検出手段、16 演算装置、17 画像処理手段、18 記憶手段、
19 判定手段、20 データ補正手段、21 基準線設定手段、
22 等角分割点設定手段、23 周長算出手段、24 等長分割点設定手段、
25 法線ベクトル算出手段、26 補間点ベクトル算出手段、
27 補間点データ算出手段、28 補間点移動手段、T タイヤ。
Claims (5)
- 円環状回転体と撮影手段とを相対的に回転させながら撮影した前記円環状回転体表面の画像を用いて検出した前記円環状回転体表面の3次元形状データを補正する方法であって、
前記円環状回転体の中心軸に垂直な平面内に、前記円環状回転体の検出対象面に沿った閉曲線である基準線を設定する工程と、
前記基準線を前記回転の回転中心を中心として等角度で分割して、前記基準線上に複数の基準等角分割点を設定する工程と、
互いに隣接する基準等角分割点間の距離から前記基準線の1周の長さである周長を算出する工程と、
前記周長を用いて、前記基準線上に前記基準線を等長に分割した複数の基準等長分割点を設定する工程と、
前記基準等長分割点から前記円環状回転体の径方向に予め設定された距離だけ離れた位置に、前記円環状回転体の検出対象面のデータを補正するための補間点を設定する工程と、
前記3次元形状データを用いて前記補間点の3次元形状データを算出する工程と、
前記周長と前記距離とを用いて、前記補間点を、前記回転中心を中心とした前記周長と同じ周長を有する真円上に移動させる工程と、
を備えることを特徴とする円環状回転体の表面形状データの補正方法。 - 前記補間点を設定する工程では、
前記基準等長分割点における単位法線ベクトルを算出した後、
前記回転中心を始点とし前記基準等長分割点を終点とする分割点ベクトルと、前記基準等長分割点を始点とする、前記単位法線ベクトルの方向を向き大きさが前記単位法線ベクトルの大きさに前記予め設定された距離を乗算したベクトルである方向ベクトルとのベクトル和を求めてこれを補間点ベクトルとし、前記補間点ベクトルの始点を前記回転中心としたときの前記補間点ベクトルの終点を補間点とし、
前記補間点の3次元形状データを算出する工程では、
前記補間点の深さ方向のデータを前記3次元形状データを用いて算出することを特徴とする請求項1に記載の円環状回転体の表面形状データの補正方法。 - 前記円環状回転体がタイヤであり、前記3次元形状データが、光切断法により求められたタイヤのサイドウォール部もしくはトレッド部の表面形状データであることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の円環状回転体の表面形状データの補正方法。
- 円環状回転体の検査対象面にスリット光を照射する投光手段と前記スリット光の照射部を撮影する撮影手段とを備えた画像取得手段と、
前記円環状回転体と前記画像取得手段とを回転軸周りに相対的に回転させる回転手段と、
前記画像取得手段で撮影した前記円環状回転体表面の画像を画像処理して前記円環状回転体表面の3次元形状データを算出する画像処理手段と、
前記3次元形状データを補正するデータ補正手段とを備え、
前記データ補正手段が、
前記円環状回転体の中心軸に垂直な平面内に、前記円環状回転体の検出対象面の形状に沿った閉曲線である基準線を設定する基準線設定手段と、
前記基準線を前記回転の回転中心を中心として等角度で分割して、前記基準線上に複数の基準等角分割点を設定する等角分割点設定手段と、
互いに隣接する基準等角分割点間の距離から前記基準線の1周の長さである周長を算出する周長算出手段と、
前記周長を用いて、前記基準線上に前記基準線を等長に分割した複数の基準等長分割点を設定する等長分割点設定手段と、
前記基準等長分割点における単位法線ベクトルを算出する法線ベクトル算出手段と、
前記回転中心を始点とし前記基準等長分割点を終点とする分割点ベクトルと、前記基準等長分割点を始点とする、前記単位法線ベクトルの方向を向き大きさが前記単位法線ベクトルの大きさに予め設定された距離を乗算したベクトルである方向ベクトルとの和から、前記回転中心を始点とする補間点ベクトルを求める補間点ベクトル算出手段と、
前記補間点ベクトルの終点である補間点の深さ方向のデータを前記3次元形状データを用いて算出する補間点データ算出手段と、
前記周長と前記予め設定された距離とを用いて、前記補間点を、前記回転中心を中心とした前記周長と同じ周長を有する真円上に移動させる補間点移動手段と、
備える円環状回転体の外観検査装置。 - 前記円環状回転体がタイヤである請求項4に記載の円環状回転体の外観検査装置。
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014126888A JP6289283B2 (ja) | 2014-06-20 | 2014-06-20 | 円環状回転体の表面形状データの補正方法、及び、円環状回転体の外観検査装置 |
US15/320,531 US20170160079A1 (en) | 2014-06-20 | 2015-06-15 | Method for correcting surface shape data of annular rotating body and apparatus for inspecting appearance of annular rotating body |
PCT/JP2015/067191 WO2015194506A1 (ja) | 2014-06-20 | 2015-06-15 | 円環状回転体の表面形状データの補正方法、及び、円環状回転体の外観検査装置 |
CN201580033247.6A CN106415197B (zh) | 2014-06-20 | 2015-06-15 | 修正环形旋转体的表面形状数据的方法和检查环形旋转体的外观的装置 |
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Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014126888A JP6289283B2 (ja) | 2014-06-20 | 2014-06-20 | 円環状回転体の表面形状データの補正方法、及び、円環状回転体の外観検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2016006386A true JP2016006386A (ja) | 2016-01-14 |
JP6289283B2 JP6289283B2 (ja) | 2018-03-07 |
Family
ID=54935492
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014126888A Active JP6289283B2 (ja) | 2014-06-20 | 2014-06-20 | 円環状回転体の表面形状データの補正方法、及び、円環状回転体の外観検査装置 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20170160079A1 (ja) |
EP (1) | EP3171128B1 (ja) |
JP (1) | JP6289283B2 (ja) |
CN (1) | CN106415197B (ja) |
WO (1) | WO2015194506A1 (ja) |
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- 2015-06-15 WO PCT/JP2015/067191 patent/WO2015194506A1/ja active Application Filing
- 2015-06-15 CN CN201580033247.6A patent/CN106415197B/zh active Active
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CN106415197A (zh) | 2017-02-15 |
CN106415197B (zh) | 2019-09-06 |
EP3171128A1 (en) | 2017-05-24 |
EP3171128B1 (en) | 2019-05-22 |
JP6289283B2 (ja) | 2018-03-07 |
EP3171128A4 (en) | 2017-12-20 |
US20170160079A1 (en) | 2017-06-08 |
WO2015194506A1 (ja) | 2015-12-23 |
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