JP2019056654A - 振動検出装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】振動検出装置の検出精度の経時変化を低減する。
【解決手段】測定対象部Sの振動を検出するセンサプローブ2は、測定対象部Sに接触し、測定対象物Sの振動が伝わる接触子4と、接触子4の振動を電気信号に変換する第1圧電素子25a及び第2圧電素子25bとを備え、接触子4は、本体41と、測定対象物Sと接触する転動体42と、転動体42を本体41に対して転動可能に支持するホルダ43とを有する。
【選択図】図3

Description

ここに開示された技術は、振動検出装置に関する。
従来より、測定対象物の振動を検出する振動検出装置が知られている。例えば、特許文献1には、先端部を測定対象物に接触させ、測定対象物の振動を圧電素子によって検出する振動プローブが開示されている。
特開2001−324389号公報
このような接触型の振動検出装置においては、測定対象物への接触及び振動の検出を繰り返すうちに、振動検出装置における測定対象物への接触部が摩耗してしまう。接触部が摩耗すると、振動の検出精度が変化する虞がある。
ここに開示された技術は、かかる点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、振動検出装置の検出精度の経時変化を低減することにある。
ここに開示された振動検出装置は、測定対象部に接触し、測定対象物の振動が伝わる接触子と、前記接触子の振動を電気信号に変換する圧電素子とを備え、前記接触子は、本体と、測定対象物と接触する転動体と、前記転動体を前記本体に対して転動可能に支持する支持部とを有する。
ここに開示された振動検出装置によれば、検出精度の経時変化を低減することができる。
図1は、センサ装置の概略構成を示す図である。 図2は、センサプローブの部分的な縦断面図である。 図3は、接触子の先端部の縦断面図である。 図4は、測定対象物に接触した状態のセンサプローブを示す縦断面図である。 図5は、測定対象物に接触した接触子の縦断面図である。
以下、例示的な実施形態を図面に基づいて詳細に説明する。
〈センサ装置の構成〉
図1は、センサ装置100の概略構成を示す図である。センサ装置100は、測定対象物に接触した状態で測定対象物の物理量を検出する、いわゆる接触タイプのセンサ装置である。例えば、測定対象物は、スチームトラップあり、物理量は、スチームトラップの振動及び温度である。
図1に示すように、センサ装置100は、測定対象物の振動及び温度を検出するセンサプローブ2と、センサプローブ2の検出結果を処理する装置本体7とを備えている。センサプローブ2と装置本体7とは、ケーブル14によって接続されている。センサ装置100は、ポータブルな装置である。ユーザは、センサ装置100、又は、センサプローブ2を持ち運びながら測定対象物の振動及び温度を検出する。
〈センサプローブの構成〉
図2は、センサプローブ2の部分的な縦断面図である。センサプローブ2は、図1に示すケーシング10と、測定対象物の振動を検出(測定)する振動検出機構20と、測定対象物の温度を検出(測定)する温度検出機構30とを備えている。振動検出機構20及び温度検出機構30は、ケーシング10に収容されている。センサプローブ2は、振動検出装置の一例である。
ケーシング10は、図1に示すように、本体チューブ11と、本体チューブ11の一端部に取り付けられたフロントキャップ12と、本体チューブ11の他端部に取り付けられたリアキャップ13とを有している。本体チューブ11は、軸Xの方向に延びる概ね円筒状に形成されている。フロントキャップ12は、先細の筒状に形成されている。フロントキャップ12の先端部12aは、最も細くなっていると共に開口が形成されている。リアキャップ13は、概ね円筒状に形成されている。リアキャップ13には、ケーブル14が接続されている。
振動検出機構20は、図2に示すように、フロントキャップ12に収容されている。振動検出機構20は、測定対象物に接触し、測定対象物の振動が伝わる接触子4と、ホルダ22と、接触子4の振動を電気信号に変換する第1圧電素子25a及び第2圧電素子25bと、第1電極板26a及び第2電極板26bと、ウエイト27と、皿バネ28と、キャップ29とを備えている。
接触子4は、細長い棒状の部材である。接触子4は、軸心が軸Xと一致するように配置されている。接触子4の先端(下端)は、フロントキャップ12の先端部12aから下方に突出している。センサプローブ2で測定対象物の振動及び温度を検出する際に、接触子4は、測定対象物に接触する。接触子4は、測定対象物の振動を第1圧電素子25a及び第2圧電素子25に伝える。
ホルダ22は、内側の金属製ホルダ23と、該金属製ホルダ23を収容する外側の樹脂製ホルダ24とを含んでいる。金属製ホルダ23および樹脂製ホルダ24は、何れも、略円筒状に形成され、軸心が軸Xと一致するように配置されている。
金属製ホルダ23は、上方に開放されている一方、金属製ホルダ23の下部には底壁23aが設けられている。底壁23aには、挿入孔23bが形成されている。挿入孔23bには接触子4が挿入され、金属製ホルダ23から下方に接触子4が突出している。接触子4の上端部は、底壁23aに係止しており、接触子4が金属製ホルダ23から抜け落ちないようになっている。
金属製ホルダ23内においては、下方から順に、第1圧電素子25a、第1電極板26a、第2圧電素子25b、第2電極板26b、ウエイト27、皿バネ28及びキャップ29が互いに接した状態で配置されている。第1圧電素子25aは、接触子4の上端に接している。
尚、第1電極板26a及び第2電極板26bには、2本の信号線(図示省略)が接続されている。2本の信号線は、本体チューブ11に収容された回路基板(図示省略)にも接続されている。
キャップ29は、皿バネ28の上に2つ配置されている。キャップ29は、外周面に雄ネジが形成された円板状の部材である。金属製ホルダ23の上端部の内周面には、雌ネジが形成されている。キャップ29は、金属製ホルダ23の上端部に螺合される。キャップ29は、その締め付け力によって皿バネ28を下方に押圧し、皿バネ28は、その付勢力によってウエイト27を介して第1圧電素子25a及び第2圧電素子25b等を接触子4に押し付ける。
こうして、第1圧電素子25a及び第2圧電素子25bがウエイト27及び皿バネ28等によって接触子4に所定の力(初期押付け力)で押し付けられる。これにより、測定対象物以外の振動や力が外乱として第1圧電素子25a及び第2圧電素子25bに作用しても、その外乱を吸収することができ、外乱による影響を低減することができる。
樹脂製ホルダ24は、上方に開放されている一方、樹脂製ホルダ24の下部には底壁24aが設けられている。底壁24aには、挿入孔24bが形成されている。樹脂製ホルダ24には、金属製23が圧入されている。挿入孔24bには接触子4が挿入され、樹脂製ホルダ24から下方に接触子4が突出している。
ホルダ22は、フロントキャップ12の上部に収容され、ホルダ22から下方に突出する接触子4は、フロントキャップ12の下部に収容される。
フロントキャップ12内において、ホルダ22の上方にはコイルバネ15が配置されている。ホルダ22は、コイルバネ15によって下方に付勢されている。フロントキャップ12の上端部の内周面には、溝12bが形成され、該溝12bにスナップリング16がはめ込まれている。コイルバネ15の一端は、スナップリング16に支持されている。コイルバネ15の他端は、樹脂製ホルダ24の上端面に接している。コイルバネ15は、樹脂製ホルダ24(ホルダ22)を下方へ付勢し、樹脂製ホルダ24をフロントキャップ12内の段差12cに押しつけている。この状態において、接触子4の先端部は、フロントキャップ12の先端部12aから少し突出している。
温度検出機構30は、図2に示すように、フロントキャップ12に収容されている。温度検出機構30は、接触板31(伝熱板)と、保持部材32とを備えている。接触板31は、中央に開口を有する略環状の板部材である。保持部材32は、中央に貫通孔33を有する略円筒状に形成され、フロントキャップ12の先端部12aに挿入されている。接触板31は、保持部材32の先端に保持されている。
保持部材32には、貫通孔33以外に、熱電対を配置するための2つの配置孔34,35がそれぞれ軸方向に延びるように形成されている。配置孔34,35のそれぞれに、熱電対(図示省略)が配置される。各熱電対の一端は、接触板31に接続され、他端は、本体チューブ11に収容された回路基板(図示省略)に接続されている。
フロントキャップ12内において、保持部材32の上方には、コイルバネ17が配置されている。コイルバネ17の一端は、ホルダ22(樹脂製ホルダ24)に保持されている。コイルバネ17の他端は、保持部材32に接している。コイルバネ17は、保持部材32を下方へ付勢しており、これにより、接触板31は、フロントキャップ12の先端部12aよりも下方に少し突出している。つまり、フロントキャップ12の先端部12aからは、接触板31が突出しており、接触板31から接触子4がさらに突出している。センサプローブ2が測定対象物の振動及び温度を検出する際に、接触板31は、測定対象物に接触する。
図示は省略するが、本体チューブ11に収容された回路基板には、フィルタと増幅器とA/D変換部とが設けられている。フィルタは、例えば、バンドパスフィルタであって、振動検出機構20のために設けられている。フィルタは、振動検出機構20の出力信号のうち、所定の周波数帯域以外の周波数成分をカットする。所定の周波数帯域は、測定対象物に生じ得る振動に応じて設定されている。増幅器は、振動検出機構20のフィルタ処理後の出力信号及び温度検出機構30の出力信号を増幅する。A/D変換部は、増幅器により増幅された信号をデジタル信号に変換する。増幅器及びA/D変換部は、振動検出機構20と温度検出機構30とで別々に設けられていてもよい。こうして、デジタル変換された信号は、ケーブル14を介して装置本体7へ送信される。
装置本体7は、ケーブル14を介して送られてきた信号を処理する。例えば、装置本体7は、振動検出機構20の信号をFFT(Fast Fourier Transform)、即ち、高速フーリエ変換する。装置本体7は、FFTにより求められた各周波数成分のパワースペクトル(又は振幅スペクトル)から、測定対象物の振動の大きさを示す指標(以下、「振動レベル」と称する)を求める。また、装置本体7は、温度検出機構30の信号から測定対象物の温度を求める。装置本体7は、求めた振動レベル及び温度をディスプレイに表示する。また、装置本体7は、求めた振動レベル及び温度を保存してもよい。このとき、装置本体7は、振動レベル及び温度を検出時刻と共に保存してもよい。さらに、装置本体7は、求めた振動レベル及び温度に基づいて、測定対象物、即ち、スチームトラップの状態を判定してもよい。スチームトラップの蒸気漏れが発生していない場合には、振動レベルが低く、スチームトラップの蒸気漏れが発生すると、振動レベルは高くなる。スチームトラップの温度は、ドレンが適切に流通している場合には、蒸気圧力の飽和温度に近い値となる一方、ドレンが滞留していると低下してしまう。すなわち、装置本体7は、振動レベルに基づいてスチームトラップの蒸気漏れの有無を判定し、温度に基づいてドレンの滞留の有無を判定してもよい。
〈接触子の詳細構成〉
続いて、接触子4の先端部の詳細な構成について説明する。図3は、接触子4の先端部の縦断面図である。
接触子4は、軸Xに沿って延びる棒状の本体41と、球状に形成され、測定対象物と接触する転動体42と、転動体42を本体41に対して転動可能に支持するホルダ43とを有している。ホルダ43は、支持部の一例である。
本体41の先端には、転動体42と面接触する球面状の凹部41aが形成されている。ホルダ43は、転動体42の直径よりも大きな内径を有する円筒状に形成されている。ホルダ43は、本体41の先端部において、本体41の外周面に形成された溝41bに係止されている。ホルダ43の先端には、転動体42の直径よりも小さな直径の開口43aが形成されている。ホルダ43は、その内部に転動体42を軸Xの方向に移動可能な状態で収容している。詳しくは、転動体42は、ホルダ43内において、本体41から離間して開口43aに嵌る位置(以下、「第1位置」という)と本体41と接触する位置(以下、「第2位置」という)との間で移動可能となっている。第1位置においては、転動体42の一部は、開口43aを介してホルダ43から突出しているい。
〈振動検出方法〉
このように構成されたセンサ装置100による測定対象物の振動及び温度の検出について説明する。図4は、測定対象物Sに接触した状態のセンサプローブ2を示す縦断面図である。
まず、振動検出機構20及び温度検出機構30の全体的な動きについて説明する。測定対象物Sの振動及び温度を検出する際には、ユーザは、センサプローブ2を把持し、センサプローブ2の先端を測定対象物Sに接触させる。センサプローブ2の通常状態、即ち、接触前の状態においては、図2に示すように、接触子4の先端及び接触板31がフロントキャップ12の先端部12aよりも下方に突出している。しかし、接触子4は、コイルバネ15の付勢力に抗してフロントキャップ12に対して上方へ移動可能であり、接触板31は、コイルバネ17の付勢力に抗してフロントキャップ12に対して上方へ移動可能である。そのため、フロントキャップ12の先端部12aが測定対象物Sに接触するときには、接触子4の先端及び接触板31は、フロントキャップ12の先端部12aと面一になって、測定対象物Sに接触している。
続いて、こうして接触子4の先端が測定対象物Sに接触する際の接触子4の詳細な動きについて説明する。図5は、測定対象物Sに接触した接触子4の縦断面図である。
センサプローブ2が測定対象物Sに接触する前の通常状態においては、例えば、リアキャップ13が上でフロントキャップ12が下になるようにセンサプローブ2が把持されている。この状態においては、転動体42は、自重により第1位置に位置し、本体41から離間している。このとき、転動体42は、ホルダ43の開口43aから突出している。ユーザがセンサプローブ2を測定対象物Sに接触させると、転動体42が測定対象物Sに接触する。ユーザがセンサプローブ2を測定対象物Sに押し付けることによって、転動体42は、第2位置の方へ相対的に移動し、最終的に本体41、詳しくは、凹部41aへ接触する。この状態において、測定対象物Sの振動が、転動体42及び本体41を介して第1圧電素子25a及び第2圧電素子25bに伝達するようになる。
ユーザがセンサプローブ2を測定対象物Sから離すと、転動体42は、自重により本体41から離れ、第1位置へ移動する。
このような検出を繰り返すと、転動体42は、本体41との接触及び離間(即ち、第1位置と第2位置との往復)を繰り返しながら、成り行きで転動する。これにより、転動体42における測定対象物Sとの接触点が適度に変更される。その結果、転動体42、即ち、接触子4の局所的な摩耗が防止される。その結果、センサプローブ2の検出精度の経時変化を低減することができる。
以上のように、測定対象部Sの振動を検出するセンサプローブ2(振動検出装置)は、測定対象部Sに接触し、測定対象物Sの振動が伝わる接触子4と、接触子4の振動を電気信号に変換する第1圧電素子25a及び第2圧電素子25b(圧電素子)とを備え、接触子4は、本体41と、測定対象物Sと接触する転動体42と、転動体42を本体41に対して転動可能に支持するホルダ43(支持部)とを有する。
この構成によれば、センサプローブ2の接触子4において、測定対象物Sと接触する部分は転動体42である。この転動体42は、接触子4の本体41に対して転動可能に支持されている。そのため、測定対象物Sの振動を検出すべく測定対象物Sへの接触子4の接触を繰り返すうちに、転動体42が成り行きで転動する。これにより、転動体42における測定対象物Sとの接触点が変更される。その結果、転動体42の局所的な摩耗が低減され、センサプローブ2の検出精度の経時変化を低減することができる。
また、転動体42は、測定対象物Sと接触していない状態においては本体41から離間している一方、測定対象物Sと接触して測定対象物Sの振動を検出する際には本体41と接触している。
この構成よれば、転動体42は、本体41と離間及び接触を繰り返すので、この間に成り行きで転動することができる。つまり、転動体42が本体41と常に接触している状態では、転動体42の転動が本体41により制限されることにもなり兼ねない。それに対して、転動体42は、本体41から離間し得るので、本体41に対して比較的自由に転動することができる。その結果、転動体42の転動が容易になる。
ホルダ43は、転動体42が本体41から離間する第1位置と転動体42が本体41と接触する第2位置との間で移動可能な状態で転動体42を支持しており、転動体42は、本体41から離間する第1位置に自重によって移動するように構成されている。
この構成によれば、転動体42を本体41から離間させたり、転動体42を本体41へ接触させたりするための特別な機構を設ける必要がない。つまり、転動体42は、測定対象物Sと接触していない状態においては自重によって自然と第1位置へ移動する。一方、転動体42を測定対象物Sへ押し付けることによって、転動体42は本体41へ接触する状態となる。
さらに、転動体42は、球状に形成されている。
この構成によれば、転動体42は、より自由に転動することができる。転動体42の形状としては、ローラなどの円柱も考えられる。円柱は、転動の軸が1つに限られるが、球の場合、転動の軸は無数に存在する。その結果、転動体42のより広範な部分が測定対象物Sと接触するようになるので、転動体42の局所的な摩耗がより低減される。
《その他の実施形態》
以上のように、本出願において開示する技術の例示として、前記実施形態を説明した。しかしながら、本開示における技術は、これに限定されず、適宜、変更、置き換え、付加、省略などを行った実施の形態にも適用可能である。また、前記実施形態で説明した各構成要素を組み合わせて、新たな実施の形態とすることも可能である。また、添付図面および詳細な説明に記載された構成要素の中には、課題解決のために必須な構成要素だけでなく、前記技術を例示するために、課題解決のためには必須でない構成要素も含まれ得る。そのため、それらの必須ではない構成要素が添付図面や詳細な説明に記載されていることをもって、直ちに、それらの必須ではない構成要素が必須であるとの認定をするべきではない。
前記実施形態について、以下のような構成としてもよい。
センサ装置100の構成は、前述の構成に限られない。例えば、センサ装置100では、センサプローブ2と装置本体7とが有線ではなく、無線で接続されていてもよい。また、センサプローブ2は、装置本体7と一体的に構成されていてもよい。つまり、センサプローブ2は、装置本体7の機能も有していてもよい。センサ装置100は、温度及び振動を検出しているが、温度検出機構30を有さず、振動のみを検出してもよい。
センサプローブ2の構成は、前述の構成に限られない。例えば、圧電素子の個数は、2つである必要はなく、1つ、又は3つ以上であってもよい。また、センサ2においてウエイト27及び皿バネ28等は必須ではなく、測定対象物の振動が接触子4を介して圧電素子に入力される構成であれば、任意の構成を採用し得る。また、センサプローブ2において回路基板が信号処理する内容も任意に設定することができる。
本体41は、棒状に限られない。本体41は、転動体42に伝わる測定対象物の振動を圧電素子に伝達できる限り、任意の形状に形成することができる。
転動体42は、転動可能な形状である限り、球状に限られない。例えば、転動体42は、ローラなどの円柱状であってもよい。
ホルダ43は、転動体42を本体41に対して転動可能に支持する限り、任意の構成とすることができる。ホルダ43は、その内部に転動体42を移動可能な状態で収容した状態で、本体41の先端部にネジ締結される構成であってもよい。また、前述の構成においては、軸Xの方向において、ホルダ43からの転動体42の最大突出量が第1位置と第2位置の距離よりも大きいので、ホルダ43は、本体41に対して移動する必要がない。しかし、ホルダ43からの転動体42の最大突出量が第1位置と第2位置の距離よりも小さい場合には、ホルダ43は、本体41に対して軸Xの方向へ移動可能に構成される。例えば、ホルダ43は、軸Xの方向に移動可能な状態で本体41に取り付けられ且つ、バネ等の付勢部材によって本体41から離れる方向に付勢される。図3の構成であれば、溝41bの軸Xの方向への幅が拡大され、この溝41bにホルダ43を下方に付勢するコイルバネが設けられる。これにより、ホルダ43は、本体41に対して軸Xの方向へ移動可能であり、且つ、本体41から離れる方向に付勢される。この構成によれば、センサプローブ2が測定対象物に接触していない状態においては、ホルダ43はコイルバネによって下方へ移動し、転動体42は自重により開口43aに嵌っている。センサプローブ2を接触対象物に接触させると、転動体42が本体41の方へ移動すると共に、ホルダ43も接触対象物に接触してコイルバネの付勢力に抗して上方へ移動する。つまり、転動体42の第1位置と第2位置との間の往復に合わせて、ホルダ43も軸Xの方向に移動する。
以上説明したように、ここに開示された技術は、振動検出装置について有用である。
2 センサプローブ(振動検出装置)
25a 第1圧電素子
25b 第2圧電素子
4 接触子
41 本体
42 転動体
43 ホルダ(支持部)

Claims (4)

  1. 測定対象部の振動を検出する振動検出装置であって、
    測定対象部に接触し、測定対象物の振動が伝わる接触子と、
    前記接触子の振動を電気信号に変換する圧電素子とを備え、
    前記接触子は、本体と、測定対象物と接触する転動体と、前記転動体を前記本体に対して転動可能に支持する支持部とを有する振動検出装置。
  2. 請求項1に記載の振動検出装置において、
    前記転動体は、測定対象物と接触していない状態においては前記本体から離間している一方、測定対象物と接触して測定対象物の振動を検出する際には前記本体と接触している振動検出装置。
  3. 請求項2に記載の振動検出装置において、
    前記支持部は、前記転動体が前記本体から離間する位置と前記転動体が前記本体と接触する位置との間で移動可能な状態で前記転動体を支持しており、
    前記転動体は、前記本体から離間する位置に自重によって移動するように構成されている振動検出装置。
  4. 請求項1乃至3の何れか1つに記載の振動検出装置において、
    前記転動体は、球状に形成されていることを特徴とする振動検出装置。
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