JP2019042377A - 光干渉断層撮影装置、光干渉断層撮影装置の制御方法及びプログラム - Google Patents

Abstract

【課題】観察時の光学調整と撮影時の断層画像の取得とのそれぞれを精度良く行う光干渉断層撮影装置、光干渉断層撮影装置の制御方法及びプログラムを提供する。
【解決手段】光干渉断層撮影装置が、被検眼の２次元の走査範囲に対して測定光を走査する走査手段と、干渉光学系の光学調整時に前記測定光を主走査する方向と、記憶用の断層画像の取得時に測定光を主走査する方向とが異なるように、走査手段を制御する制御手段と、を有する。
【選択図】図４

Description

本発明は、光干渉断層撮影装置、光干渉断層撮影装置の制御方法及びプログラムに関する。

生体などの測定対象の断層像を非破壊、非侵襲で取得する方法として、光干渉断層撮像法（Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ、以下ＯＣＴという）が実用化されている。

ＯＣＴは、測定対象から反射した光と参照鏡から反射した光を干渉させ、その干渉光強度を解析することにより測定対象の断層画像を得るものである。このような光干渉断層撮影装置として、参照鏡の位置を変えることで測定対象の深さ情報を得るタイムドメインＯＣＴ、干渉光を分光し、深さ情報を周波数情報に置き換えて取得するスペクトラルドメインＯＣＴ（ＳＤ−ＯＣＴ：Ｓｐｅｃｔｒａｌ Ｄｏｍａｉｎ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）、先に波長を分光して出力する波長掃引光コヒーレンストモグラフィー（ＳＳ−ＯＣＴ：Ｓｗｅｐｔ Ｓｏｕｒｃｅ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）装置が知られている。なお、ＳＤ−ＯＣＴとＳＳ−ＯＣＴは総称して（ＦＤ−ＯＣＴ：Ｆｏｕｒｉｅｒ Ｄｏｍａｉｎ Ｏｐｔｉｃａｌ Ｃｏｈｅｒｅｎｃｅ Ｔｏｍｏｇｒａｐｈｙ）とも呼ばれる。

これらの光干渉断層撮影装置によって取得された断層画像は緑内障や網膜疾患といった疾病の診断を的確に行うのに有用であり、眼科における診断では欠かせないものとなっている。この光干渉断層撮影装置の撮影では様々なスキャンパターンがあり、撮影者の撮影したい部位等の意図に応じて適切なスキャンパターンを選択することが可能である。スキャンパターンの例として縦横十字のスキャンを行うクロススキャンや被検眼をＸＹ平面上でスキャンしＸＹＺの３次元断層データを取得する３Ｄスキャンなどがある。

この３Ｄスキャンにおいて光干渉断層撮影装置の観察から撮影までの流れを簡単に説明すると、まず観察では３Ｄスキャンを行うスキャン範囲に対して一部の範囲（ライン）のＯＣＴ観察像を取得し、そのＯＣＴ観察像を用いて自動の合焦調整や光路長調整が行われる。ここで観察時に一部の範囲のＯＣＴ観察像を取得し、スキャン範囲全域のＯＣＴ観察像を取得しない理由としては、観察では動画でＯＣＴを取得する必要があるので３Ｄスキャンを行うスキャン範囲全域のＯＣＴ観察像を取得すると計算コストが莫大にかかってしまうからである。このように観察による調整が終了すると撮影に移行し、撮影では３Ｄスキャンしたいスキャン範囲全域の断層画像を取得するといった流れとなっている。

ここで、このような光干渉断層撮影装置において、断層画像に対するフォーカス調整を適正に行うために、ＳＬＯユニットの合焦信号を利用してＯＣＴユニットの第１のオートフォーカスを行った後に、ＯＣＴユニットにより取得された断層画像に基づいてＯＣＴユニットの第２のオートフォーカスを行う技術が開示されている。このとき、特許文献１には、オートフォーカス用の断層画像を取得するための測定光を走査するスキャンパターンと、記憶用の断層画像を取得するための測定光を走査するスキャンパターンとが両方とも、同一形状（直線状）で同一方向に走査する同一のスキャンパターンであることが開示されている。

特開２００９−２９１２５２号公報

ここで、例えば、記憶用（撮影時）の断層画像として３次元の断層画像を取得するための測定光を走査するスキャンパターンが、３Ｄスキャンで、特に、スキャン範囲が長方形である場合を考える。この場合、従来の光干渉断層撮影装置のように、オートフォーカス等の光学調整用（観察時）の断層画像を取得するための測定光の主走査方向が、記憶用（撮影時）の断層画像を取得するための測定光の主走査方向と同一の方向であると、観察時の光学調整と撮影時の断層画像の取得とのいずれかで精度が低下してしまう可能性がある。

例えば、観察時と撮影時との両方の主走査方向が、長方形のスキャン範囲の横方向である場合が考えられる。この場合、主走査方向が縦方向である場合に比べて、主走査線の長さは短い。このため、眼底トラッキングや再スキャン機能を頻度良く実行できるため、記憶用（撮影時）の断層画像として３次元の断層画像を精度良く取得することができる。一方、観察時の断層画像のスキャン範囲が狭いため、オートフォーカス等の光学調整の精度が低下する可能性がある。逆に、観察時と撮影時との両方の主走査方向が、長方形のスキャン範囲の縦方向である場合が考えられる。この場合、主走査方向が横方向である場合に比べて、主走査線の長さは長い。このため、観察時の断層画像のスキャン範囲が広いため、オートフォーカス等の光学調整の精度が向上する。一方、眼底トラッキングや再スキャン機能を頻度良く実行できなくなるため、記憶用（撮影時）の断層画像として３次元の断層画像を精度良く取得できなくなる可能性がある。

本発明の目的の一つは、観察時の光学調整と撮影時の断層画像の取得とのそれぞれを精度良く行うことである。

本発明に係る光干渉断層撮影装置の一つは、
測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する戻り光との干渉光を用いて断層画像を取得する干渉光学系と、
前記被検眼の２次元の走査範囲に対して前記測定光を走査する走査手段と、
前記干渉光学系の光学調整時に前記測定光を主走査する方向と、記憶用の前記断層画像の取得時に前記測定光を主走査する方向とが異なるように、前記走査手段を制御する制御手段と、を有する。

本発明の一つによれば、観察時の光学調整と撮影時の断層画像の取得とのそれぞれを精度良く行うことができる。

光干渉断層撮影装置の構成図 データ取得部１００の構成 制御部１０１及び表示部１０２、入力部１０３の構成 表示部１０２に表示される画面表示（実施例１） スキャン範囲３９の短手方向をスキャンすることによって得られたＯＣＴ観察像（実施例１） ＯＣＴ観察像４９によって合焦調整および光路長調整が行われた後のスキャン範囲３９の長手方向をスキャンすることによって得られたＯＣＴ観察像（実施例１） スキャン範囲３９の長手方向をスキャンすることによって得られたＯＣＴ観察像（実施例１） ＯＣＴ観察像４３によって合焦調整および光路長調整が行われた後のスキャン範囲３９の短手方向をスキャンすることによって得られたＯＣＴ観察像（実施例１） スキャン範囲３９変更後の表示部１０２に表示される画面表示（実施例２） 表示部１０２に表示される画面表示（実施例３）

以下、添付の図面を参照して実施例を説明する。各図面に示される同一または同等の構成要素、部材、処理には、同一の符号を付するものとし、適宜重複した説明は省略する。また、各図面において説明上重要ではない構成要素、部材、処理の一部は省略して表示する場合がある。

（実施例１）
図１は本実施例による光干渉断層撮影装置の構成図である。光干渉断層撮影装置は、測定光を被検眼上で走査及び撮像することにより断層データを取得するデータ取得部１００と、観察および撮影時においてデータ取得部１００内の各種光源や各種アクチュエータ、各種センサを制御すると共にデータ取得部１００で取得された断層データから被検眼のＯＣＴ画像を生成する制御部１０１、制御部１０１で生成された被検眼のＯＣＴ画像を表示する表示部１０２、撮影者が制御部１０１への指示を行う為に用いられる入力部１０３から構成されている。まず、データ取得部１００の構成について説明する。図２はデータ取得部１００の構成を示したものである。被検眼Ｅｒに対向して対物レンズ１が設置され、その光軸上に第１ダイクロックミラー２および第２ダイクロイックミラー３が配置されている。これらのダイクロイックミラーによってＯＣＴ光学系（干渉光学系）の光路Ｌ１、被検眼Ｅｒの観察を行う為のＳＬＯ光学系と固視灯用の光路Ｌ２、および前眼部観察用の光路Ｌ３とに波長帯域ごとに分岐される。

ＳＬＯ光学系と固視灯用の光路Ｌ２はＳＬＯ走査手段４、レンズ５および６、ミラー７、第３ダイクロイックミラー８、フォトダイオード９、ＳＬＯ光源１０、固視灯１１を有している。ミラー７は、穴あきミラーや中空のミラーが蒸着されたプリズムであり、ＳＬＯ光源１０による照明光と、被検眼からの戻り光とを分離する。第３ダイクロイックミラー８はＳＬＯ光源１０および固視灯１１への光路へと波長帯域ごとに分離する。ＳＬＯ走査手段４は、ＳＬＯ光源１０と固視灯１１から発せられた光を被検眼Ｅｒ上で走査するものであり、Ｘ方向に走査するＸスキャナ、Ｙ方向に走査するＹスキャナから構成されている。本実施例では、Ｘスキャナは高速走査を行う必要があるためポリゴンミラーによって、Ｙスキャナはガルバノミラーによって構成されている。レンズ５は、ＳＬＯ光学系の合焦用の光学部材の一例であり、被検眼Ｅｒとデータ取得部１００とのＳＬＯ光学系および固視灯のフォーカス調整のため、不図示のモータによって駆動される。ＳＬＯ光源１０は７８０ｎｍ付近の波長の光を発生する。フォトダイオード９は、受光素子の一例であり、被検眼からの戻り光を検出する。固視灯１１は可視光を発生して被撮影者の固視を促すものである。ＳＬＯ光源１０から発せられた光は、第３ダイクロイックミラー８で反射され、ミラー７を通過し、レンズ６、５を通り、ＳＬＯ走査手段４によって、被検眼Ｅｒ上で走査される。被検眼Ｅｒからの戻り光は、投影光と同じ経路を戻ったのち、ミラー７によって反射され、フォトダイオード９へと導かれる。また、固視灯１１は、第３ダイクロイックミラー８、ミラー７を透過し、レンズ６、５を通り、ＳＬＯ走査手段４によって、被検眼Ｅｒ上で走査される。このとき、ＳＬＯ走査手段４の動きに合わせて固視灯１１を点滅させることによって、被検眼Ｅｒ上の任意の位置に任意の形状をつくり、被撮影者の固視を促す。

前眼部観察用の光路Ｌ３には、レンズ１２、スプリットプリズム１３、レンズ１４、前眼部観察用のＣＣＤ１５が配置されている。このＣＣＤ１５は、不図示の前眼部観察用光源の波長、具体的には９７０ｎｍ付近に感度を持つものである。スプリットプリズム１３は、被検眼Ｅｒの瞳孔と共役な位置に配置されており、被検眼Ｅｒとデータ取得部１００のＺ方向（前後方向）の距離を、前眼部のスプリット像として検出することができる。

被検眼Ｅｒの画像データを撮像する為のＯＣＴ光学系の光路Ｌ１には、ＸＹスキャナ１６、レンズ１７、１８が配置されている。ＸＹスキャナ１６はＯＣＴ光源２０からの光を被検眼上Ｅｒで走査するためのものである。ＸＹスキャナ１６は１枚のミラーとして図示してあるが、ＸＹ２軸方向の走査を行うガルバノミラーである。レンズ１７は、ＯＣＴ光学系の合焦用の光学部材の一例であり、ファイバー２１から出射するＯＣＴ光源２０からの光を、被検眼Ｅｒに合焦調整するためのものであり、不図示の駆動手段の一例であるモータによって駆動される。この合焦調整によって、被検眼Ｅｒからの戻り光は同時にファイバー２１の先端に、スポット状に結像されて入射されることとなる。更に、光カプラー１９、ＯＣＴ光源２０、光カプラー１９に接続され一体化している光ファイバー２１〜２４、レンズ２５、分散補償用ガラス２６、参照ミラー２７、分光器２８が配置されている。光ファイバー２２を介してＯＣＴ光源２０から出射された光は、測定光と、この測定光に対応する参照光とに、光カプラー１９にて分割される。測定光は光ファイバー２１、ＯＣＴ光学系の光路Ｌ１から対物レンズ１までを通じて被検眼Ｅｒに向けて出射される。この被検眼Ｅｒに向けて出射された測定光は被検眼に照射され、被検眼Ｅｒにて反射散乱し、同じ行路を通じて光カプラー１９に達する。一方、参照光は光ファイバー２３を通じてレンズ２５、分散補償用ガラス２６を通じて参照ミラー２７に向けて出射される。参照ミラー２７から反射した参照光は同じ光路を通じて光カプラー１９に達する。このようにして光カプラー１９に達した測定光と参照光は合波され干渉光となる。ここで、測定光の光路長と参照光の光路長がほぼ同一となったときに干渉を生じる。参照ミラー２７は、光路長差調整用の光学部材の一例であり、不図示の駆動手段の一例であるモータおよび駆動機構によって光軸方向に調整可能に保持され、被検眼Ｅｒによって変わる測定光の光路長に参照光の光路長を合わせることが可能である。なお、光路長差調整用の光学部材としては、測定光の光路長と参照光の光路長との光路長差を調整することが可能なものであれば何でも良く、例えば、測定光の光路長を調整する光学部材でも良い。干渉光は、光ファイバー２４を介して分光器２８に導かれる。分光器２８は、レンズ２９、３１、回折格子３０、干渉光を検出する検出手段の一例であるラインセンサ３２から構成される。光ファイバー２４から出射された干渉光はレンズ２９を介して平行光となった後、回折格子３０で分光され、レンズ３１によってラインセンサ３２に結像される。なお、本実施例では、干渉系としてマイケルソン干渉系を用いたが、マッハツェンダー干渉系を用いても良い。測定光と参照光との光量差に応じて、光量差が大きい場合にはマッハツェンダー干渉系を、光量差が比較的小さい場合にはマイケルソン干渉系を用いることが望ましい。

次に、制御部１０１及び表示部１０２、入力部１０３の構成について説明する。図３は、制御部１０１及び表示部１０２、入力部１０３の構成を示したものである。制御部１０１は、装置制御部３３、記憶部３４から構成されている。装置制御部３３は、前述で説明したデータ取得部１００内の観察および撮影時に駆動される各種光源や各種アクチュエータ、各種センサと接続されており、観察および撮影時にこれからのデバイスを制御する。更に装置制御部３３は、制御部１０１内の記憶部３４および入力部１０３と接続されている。加えて装置制御部３３はラインセンサ３２から得られる干渉データをフーリエ変換し、得られるデータを輝度或いは濃度情報に変換することによって被検眼の深さ方向（Ｚ方向）の画像を取得する。このようなスキャン方式をＡスキャン、得られる断層画像をＡスキャン画像と呼ぶ。このＡスキャンを被検眼Ｅｒの所定の横断方向にＸＹスキャナ１６にて走査することによって複数のＡスキャン画像を取得することができる。例えばＸ方向に走査すればＸＺ面における断層画像が得られ、Ｙ方向に走査すればＹＺ面における断層画像が得られる。このように被検眼Ｅｒを所定の横断方向に走査する方式をＢスキャン、得られる断層画像をＢスキャン画像と呼ぶ。更にＢスキャンのＸＺ面或いはＹＺ面に対し、それに直行する方向に走査する方式をＣスキャンと呼び、得られるＸＹＺの３次元断層データをＣスキャンデータと呼ぶ。

記憶部３４は、装置制御部３３と接続されており、装置制御部３３から得られたＳＬＯ観察像及び２次元或いは３次元の断層データを記憶する。表示部１０２は、装置制御部３３と接続し、装置制御部３３で得られたＳＬＯ観察像及び２次元或いは３次元の断層データを表示すると共に、記憶部３４に記憶された過去のＳＬＯ観察像及び断層データを表示する。入力部１０３は、制御部１０１内の装置制御部３３と接続され、キーボードやマウス、タッチパネル等から構成されている。

以上説明したデータ取得部１００、制御部１０１、表示部１０２、入力部１０３から構成される光干渉断層撮影装置において観察から撮影までを説明する。まず観察について図４を用いて説明する。図４は観察時に表示部１０２に表示される画面表示例である。

まず撮影者はスキャンモードの選択を行う。撮影者は入力部１０３を用い図４中に表示されたスキャンモード選択部４４にて所望のスキャンモードを選択できるようになっている。撮影者がスキャンモードを選択すると撮影時に実行されるスキャンモードがスキャンモード表示部４５に表示されるようになっている。

ここでスキャンモードについて説明する。スキャンモードとは撮影時のスキャンパターンやスキャン範囲などが設定されているものである。更にスキャンパターンとは撮影時に被検眼をスキャンする軌跡のことであり、例えば被検眼のＸＹ平面上の一点を中心として縦横十字のスキャンを行うクロススキャンや被検眼をＸＹ平面上でスキャンしＸＹＺの３次元断層データからなるＣスキャンデータを取得する３Ｄスキャンなどがある。更にスキャン範囲とは撮影時のデータ取得範囲を示し、例えばクロススキャン時に被検眼のＸＹ平面上の縦横十字の長さや３Ｄスキャン時に被検眼のＸＹ平面の縦横長さである。なお、本実施例では、スキャンパターンが３Ｄスキャンで且つスキャン範囲が被検眼のＸＹ平面上で正方形ではなく長方形の場合を想定しているため、そのようなスキャンモードが設定されていることとする。

撮影者は対物レンズ１の正面に被検眼Ｅｒを位置させ、入力部１０３を用いて表示部１０２に表示されたＳｔａｒｔボタン４６を押下することにより観察が開始される。すると装置制御部３３は不図示の前眼部観察用光源および前眼部観察用のＣＣＤ１５を駆動させ前眼部観察像３６を動画（連続画像）として表示部１０２に表示させる。

同時に装置制御部３３はＳＬＯ光源１０、ＳＬＯ走査手段４、フォトダイオード９を駆動させ、被検眼ＥｒをＸ方向、Ｙ方向に走査しフォトダイオート９から得られる複数のデータからＳＬＯ観察像３８を動画（連続画像）として生成し、表示部１０２に表示させる。更にＳＬＯ走査手段４の動きに合わせて固視灯１１を点滅させることによって被撮影者が固視できるようになる。

なお、ＳＬＯ観察像３８中には、被検眼ＥｒのＸＹ平面上で撮影時に取得されるスキャン範囲３９（２次元の走査範囲）が重畳して表示されている。このスキャン範囲は被検眼ＥｒのＸＹ平面上でＸ方向Ｌ１、Ｙ方向Ｌ２の長さである。さらにＳＬＯ観察像３８中に重畳されている実線４０は撮影時のスキャンパターンの主走査方向を示し、一方、点線４１は観察時のスキャンパターンの主走査方向を示している。つまり、撮影時（記憶用の断層画像の取得時）のスキャンパターンの主走査方向は、実線４０に示すように長方形のスキャン範囲３９の短手方向であり、また、副走査方向は長方形のスキャン範囲３９の長手方向である。一方、観察時（干渉光学系の光学調整時）のスキャンパターンの主走査方向は、点線４１に示すように長方形のスキャン範囲３９の長手方向である。このとき、点線４１は、２次元の走査範囲の中央付近を通り且つ長手方向に沿った１ラインであり、測定光はこの１ラインに対して繰り返し走査される。なお、長手方向に沿った１ラインとは、２次元の走査範囲の長辺と平行である必要はなく、例えば、短手方向に対する角度が長辺と平行な線から２次元の走査範囲の対角線までの範囲の１ラインであれば良い。また、１ラインである必要はなく、光学調整を適切に行うことが可能な時間内であれば何本でも良い。また、中央付近とは、２次元の走査範囲の中心である必要はない。ここで、点線４１に対して測定光が走査するスキャンパターンは、２次元の走査範囲の長手方向に対して光学調整の状態を評価可能なスキャンパターンの一例である。

ＳＬＯ観察像３８が表示１０２に表示されると同時に装置制御部３３はＯＣＴ光源２０、ＸＹスキャナ１６、ラインセンサ３２を駆動させ、ラインセンサ３２から得られる干渉データをフーリエ変換し輝度或いは濃度情報に変換することによってＯＣＴ観察像４３を動画（連続画像）として表示部１０２に表示させる。ここで表示部１０２に表示されるＯＣＴ観察像４３は長方形のスキャン範囲３９内の長手方向に沿った１ラインをスキャンしたＹＺ面のＯＣＴ観察像（Ｂスキャン）である。このＹＺ面のＯＣＴ観察像のスキャンの長さはＬ２であり、スキャン範囲３９内の短手方向の中心を通るようになっている。このようにして表示部１０２に前眼部観察像３６、ＳＬＯ観察像３８、ＯＣＴ観察像４３が表示されると、撮影者は前眼部観察像３６を見ながら被検眼Ｅｒとデータ取得部１００とのＸＹＺ方向の位置合わせを図示なきジョイスティックを用いて行う。ＸＹ方向の位置合わせは、前眼部観察像３６の瞳孔中心が前眼部観察像の表示される画面の中心に位置するようにする。Ｚ方向の位置合わせでは、Ｚ方向の位置合わせが適切でない場合点線３７に沿って前眼部観察像３６がスプリットされるので、スプリットされないように位置合わせする。

このようにして被検眼Ｅｒとデータ取得部１００とのＸＹＺ方向の位置合わせが完了すると、次に撮影者は入力部１０３を用いて表示部１０２に表示されたＡｄｊｕｓｔボタン４７を押下する。Ａｄｊｕｓｔボタン４７が押下されると、装置制御部３３はＳＬＯ観察像３８を用いてＳＬＯ光学系の自動の合焦調整を行う。具体的には、装置制御部３３は不図示の駆動手段の一例であるモータを用いてレンズ５の位置を少しずつ変えながらＳＬＯ観察像３８を取得していき、ＳＬＯ観察像３８の輝度値の総和が評価値として算出される。この評価値が最大となるレンズ５の位置が被検眼ＥｒとＳＬＯ光学系とが合焦された状態となるため、探索完了後に装置制御部３３はレンズ５をその位置に移動させることで合焦調整を完了させる。なお、本実施例では、ＳＬＯ光学系の合焦用の光学部材の一例であるレンズ５の合焦状態の評価値は、ＳＬＯ観察像３８の輝度値の総和としたが、ＳＬＯ観察像３８のエッジ成分の総和や輝度値の最大値等であってもよい。また、この合焦状態の評価値は、受光素子の一例であるフォトダイオード９の出力の積算値等であっても良いし、また、それ以外を評価値としてもよい。

次に、装置制御部３３はＳＬＯ光学系のレンズ５の合焦位置に基づいてＯＣＴ光学系のレンズ１７を移動させることにより被検眼ＥｒとＯＣＴ光学系との粗の合焦調整を完了させる。例えば、ＳＬＯ光学系のレンズ５の合焦位置が−５Ｄの位置であればレンズ１７も−５Ｄの位置に移動させる。なお、被検眼ＥｒとＯＣＴ光学系との精密な合焦調整については後述する。

次に、装置制御部３３は、不図示の駆動手段の一例であるモータを用いて参照ミラー２７を移動させることにより光路長調整を自動で行う。光路長調整とは、測定光の光路長と参照光の光路長とを合わせる調整である。具体的には、装置制御部３３は、参照ミラー２７を光軸方向に移動させながらＯＣＴ観察像４３を取得していき、ＯＣＴ観察像４３のＺ方向における輝度値の重心位置が評価値として算出される。ＯＣＴ観察像４３のＺ方向における輝度値の重心位置が図４中の矢印４２に位置するように、装置制御部３３は参照ミラー２７を移動させることによって光路長調整を完了させる。以上により撮影者がＳＬＯ観察像３８とＯＣＴ観察像４３とを観察できるようになる。なお、光路長の調整状態の評価値は、これ以外にも、ＯＣＴ観察像４３から抽出された所定層の深さ方向の位置と、ＯＣＴ観察像４３を表示するフレーム内の所定位置との位置ずれ量であっても良い。また、光路長の調整状態の評価値は、干渉光を検出する検出手段の一例であるラインセンサ３２の出力の積算値等であっても良い。すなわち、干渉光に関する情報（例えば、検出手段から出力される干渉信号や、ＯＣＴ観察像の強度）を用いて、光路長差調整用の光学部材の一例である参照ミラー２７による光路長差の調整状態の評価値が取得される。なお、光路長の調整状態とは、測定光の光路長と参照光の光路長との光路長差の調整状態の一例である。

次に、装置制御部３３は、ＯＣＴ観察像４３を用いて被検眼ＥｒとＯＣＴ光学系との精密な合焦調整を行う。具体的には、装置制御部３３はレンズ１７を前述の粗の合焦調整位置を中心とした所定範囲内で少しずつ移動させながら、ＯＣＴ観察像４３を取得していき、ＯＣＴ観察像４３の輝度値の総和が評価値として算出される。この評価値が最大となるように装置制御部３３はレンズ１７を移動させることによって精密な合焦調整を完了させる。なお、本実施例では、ＯＣＴ光学系の合焦用の光学部材の一例であるレンズ１７の精密な合焦状態の評価値は、ＯＣＴ観察像４３の輝度値の総和としたが、ＯＣＴ観察像４３の輝度値の最大値等であっても良い。また、この合焦状態の評価値は、干渉光を検出する検出手段の一例であるラインセンサ３２の出力の積算値等であっても良いし、また、それ以外を評価値としてもよい。すなわち、干渉光に関する情報（例えば、検出手段から出力される干渉信号や、ＯＣＴ観察像の強度）を用いて、ＯＣＴ光学系の合焦用の光学部材の一例であるレンズ１７の合焦状態の評価値が取得される。

次に、撮影者は入力部１０３を用いてスキャン範囲３９の走査位置を変更し、所望の走査位置を設定する。例えばスキャン範囲３９の走査位置を黄斑中心にする、あるいは乳頭中心にするなど、撮影者が撮影したい走査位置を設定することができる。

以上により観察の説明が完了したので、次に撮影について説明する。撮影は撮影者が入力部１０３を用いて表示部１０２に表示されたＣａｐｔｕｒｅボタン４８を押下することにより実行される。装置制御部３３はＯＣＴ光源２０、ＸＹスキャナ１６、ラインセンサ３２を駆動させスキャン範囲３９におけるＸＹＺの３次元干渉データを取得する。この時、実線４０の方向が主走査方向であり、この方向は長方形のスキャン範囲３９の短手方向である。一方撮影時のスキャンパターンの副走査方向は長方形のスキャン範囲３９の長手方向である。取得された３次元干渉データはフーリエ変換され輝度或いは濃度情報に変換され、３次元の断層データとなり記憶部３４に記憶されると共に表示部１０２に表示される。

このように本実施例の特徴は、撮影時のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の短手方向とし、一方で観察時の合焦調整や光路長調整で用いられるＯＣＴ観察像のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の長手方向とすることである。以下にその効果について説明する。説明では撮影と観察で其々分けて効果を説明する。

まず撮影時のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の短手方向とする効果について説明する。撮影時に行われる眼底トラッキング（追尾）機能や、撮影時に眼底トラッキングが間に合わず撮影失敗した箇所を再度スキャンする再スキャン機能は、とある位置の主走査（Ｂスキャン）が終了し、次の位置の主走査（Ｂスキャン）を行う迄の間に行われる。したがって撮影時のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の短手方向とした場合、撮影時のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の長手方向とした場合に比べて、主走査する時間を短くすることが可能であり、撮影時に頻度よく眼底トラッキング（追尾）や再スキャン機能を実行できるという効果があるからである。

次に観察時の合焦調整や光路長調整で用いられるＯＣＴ観察像のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の長手方向とすることによって得られる効果を図５から図８を用いて説明する。

効果を説明するにあたり本実施例ではない場合を比較例として挙げる。まずは比較例から説明する。比較例については、観察時の合焦調整や光路長調整で用いられるＯＣＴ観察像のスキャンパターンの主走査方向は長方形のスキャン範囲の短手方向となる。図５は、比較例の観察時の合焦調整や光路長調整で用いられるＯＣＴ観察像４９である。このＯＣＴ観察像４９は長方形のスキャン範囲の短手方向に沿った１ラインをＸＺ面でスキャンし、スキャン範囲３９内の長手方向の中心を通るようになっている。なおＯＣＴ観察像４９のスキャンの長さはＬ１である。このＯＣＴ観察像４９を用いて合焦調整や光路長調整を行うと、長方形のスキャン範囲の短手方向の範囲については合焦調整や光路長調整が適切に行われるが、一方で長方形のスキャン範囲の長手方向においては合焦調整や光路長調整が適切に行なわれていないといった状況が発生する。例えば、長方形のスキャン範囲の短手方向をスキャンすることによって得られたＯＣＴ観察像４９を用いて光路長調整が行われた時に、長方形のスキャン範囲の長手方向に沿ったＹＺ面の１ラインのＯＣＴ観察像がどのようになっているかについて示すと図６のようになる。なお、図６のＯＣＴ観察像５０のスキャンの長さはＬ２でありスキャン範囲３９内の短手方向の中心を通るようになっている。この図６をみるとＯＣＴ観察像５０に折り返しが発生していることが分かる。

光路長調整はＯＣＴ観察像４９が図４中の矢印４２に位置するように参照ミラー２７を移動させることによって行われるため、長方形のスキャン範囲の短手方向のＬ１迄の範囲においては光路長調整が最適化されることから、ＯＣＴ観察像４９に折り返しが発生しないようになっているが、一方でこのスキャン範囲の長手方向においては光路長調整が最適化されていないため長方形のスキャン範囲の長手方向に沿ったＹＺ面のＯＣＴ観察像５０を見ると折り返しが発生してしまうのである。これはＯＣＴ観察像５０のみならず撮影時に取得される３次元の断層データにおいても同様で長方形のスキャン範囲の長手方向の端部において折り返しが発生することとなる。

合焦調整においても同様でＯＣＴ観察像４９が用いて合焦調整が行われたことにより長方形のスキャン範囲の短手方向Ｌ１迄の範囲においてはレンズ１７が適切な位置に位置することにより最適化されるが、一方で長方形のスキャン範囲の長手方向においては合焦調整が最適化されていないのでＯＣＴ観察像５０の端部において画像輝度が暗くなるといった現象が生じる場合がでてくる。もちろんＯＣＴ観察像５０のみならず撮影時に取得される３次元の断層データにおいても同様に長方形のスキャン範囲の長手方向の端部において画像輝度が暗くなるといった現象が発生することとなる。

次に、観察時の合焦調整や光路長調整で用いられるＯＣＴ観察像のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の長手方向とすることによって得られる本実施例の効果について説明する。図７は、本実施例に関する観察時の合焦調整や光路長調整で用いられるＯＣＴ観察像５１を示したものである。なお、図７のＯＣＴ観察像５１は図４中のＯＣＴ観察像４３と同じである。このＯＣＴ観察像５１は長方形のスキャン範囲の長手方向に沿った１ラインをＹＺ面でスキャンし、スキャン範囲３９内の短手方向の中心を通るようになっている。なおＯＣＴ観察像５１のスキャンの長さはＬ２である。このＯＣＴ観察像５１を用いて合焦調整や光路長調整を行うと、長方形のスキャン範囲の長手方向の範囲において合焦調整や光路長調整が適切に行われる。例えば、長方形のスキャン範囲の長手方向をスキャンすることによって得られたＯＣＴ観察像５１を用いて光路長調整が行われた時に、長方形のスキャン範囲の短手方向に沿ったＸＺ面の１ラインのＯＣＴ観察像がどのようになっているかについて示すと図８のようになる。この図８のＯＣＴ観察像５２のスキャンの長さはＬ１でありスキャン範囲３９内の長手方向の中心を通るようになっている。この図９をみるとＯＣＴ観察像５２に折り返しが発生していないことが分かる。

光路長調整はＯＣＴ観察像５１が図４中の矢印４２に位置するように参照ミラー２７を移動させることによって行われるため、それよりスキャン範囲の短い範囲のＯＣＴ観察像５２にも折り返しは発生しないようになる。結果として撮影時に取得される３次元の断層データにおいて長方形のスキャン範囲全体で折り返しが発生しないようになる。

これは合焦調整においても同様で長方形のスキャン範囲のＬ２迄の範囲においてレンズ１７が適切な位置に位置することにより最適化されているため、それよりスキャン範囲の短いＯＣＴ観察像５２において合焦調整が不適により画像の画像輝度が暗くなるということは発生しない。結果として撮影時に取得される３次元の断層データにおいても長方形のスキャン範囲全体で合焦調整が不適により画像の画像輝度が暗くなるということは発生しないようになっている。

まとめると、本実施例のように撮影時のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の短手方向とすることで、撮影時に主走査する時間が短くなるため頻度よく眼底トラッキング（追尾）や再スキャン機能を実行でき、撮影時の成功率をあげることができる。また観察時には合焦調整や光路長調整で用いられるＯＣＴ観察像のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の長手方向とすることで、スキャン範囲の長手方向の情報（ＯＣＴ観察像）を用いた、言い換えるとスキャン範囲の長手方向の端部までも考慮した光路長調整や合焦調整が可能となる。結果として撮影された３次元の断層データのスキャン範囲全体、特にスキャン範囲の長手方向の端部で断層データの画像輝度が暗い、あるいは折り返しが発生するといった状況は発生しなくなり、撮影の取り直しを防止し撮影時の成功率をあげることができる。

なお、本実施例では、長方形のスキャン範囲が被検眼ＥｒのＸＹ平面上で縦長の場合について説明したが、長方形のスキャン範囲が被検眼ＥｒのＸＹ平面上で横長の場合であっても適用することができる。長方形のスキャン範囲が被検眼ＥｒのＸＹ平面上で横長の場合、撮影時のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の短手方向である縦方向で行い、観察時には合焦調整や光路長調整で用いられるＯＣＴ観察像のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の長手方向である横方向で行うようにすればよい。また、本実施例では、スキャン範囲が長方形である場合について説明したが、仮にスキャン範囲が正方形の場合には撮影時、観察時共にスキャンパターンの主走査方向を横方向で行うようにするとよい。理由としては縦方向でスキャンパターンの主走査を行ってしまうと被検眼Ｅｒの睫毛にかかりやすくなるからである。また、本実施例では、ＯＣＴ観察像４３は長方形のスキャン範囲３９内の長手方向に沿った１ラインをスキャンし且つ長方形のスキャン範囲３９内の短手方向の中心を通るようにしたが、必ずしも長方形のスキャン範囲３９内の短手方向の中心を通るようにする必要はない。スキャン範囲の長手方向の情報（ＯＣＴ観察像）を用いて、スキャン範囲の長手方向の端部までも考慮した光路長調整や合焦調整が行われればよいので、ＯＣＴ観察像のスキャンパターンの主走査方向が長方形のスキャン範囲の長手方向であるということが重要となる。また、本実施例では、ＯＣＴ観察像４３のスキャンの長さをスキャン範囲の長手方向の長さのＬ２とし、そのＯＣＴ観察像４３を用いて合焦調整や光路長調整を行ったが、必ずしもＯＣＴ観察像４３のスキャンの長さがスキャン範囲の長手方向の長さと同じ長さである必要はない。スキャン範囲の長手方向の情報（ＯＣＴ観察像）を用いて、スキャン範囲の長手方向の端部までも考慮した光路長調整や合焦調整が行われればよいので、スキャン範囲の長手方向の長さに対してそれに近いスキャンの長さを有するＯＣＴ観察像により合焦調整や光路長調整が行われれば同様の効果を得ることができる。また、本実施例では、光路長調整や合焦調整で用いられたＯＣＴ観察像４３は長方形のスキャン範囲３９内の長手方向に沿った１ラインであったが、必ずしも１ラインである必要はない。スキャン範囲３９内の長手方向に沿った複数ラインのＯＣＴ観察像を用いると、光路長調整や合焦調整をより高精度で行うことができる。ただしＯＣＴ観察像を複数ラインで取得すると、ＯＣＴ観察像は動画像であることが求められるのでフーリエ変換や輝度或いは濃度情報への変換による計算負荷が装置制御部３３にかかる。装置制御部３３の計算能力によってはＯＣＴ観察像を複数ラインで取得するようにしてもよい。また、本実施例では、ＳＤ−ＯＣＴを例に説明したが、タイムドメインＯＣＴやＳＳ−ＯＣＴであってもよい。また、本実施例では、３次元の断層データを取得する場合を例に説明したが、同一箇所を複数回繰り返し撮影し、同一箇所間の断層データの変動を可視化するＯＣＴａｎｇｉｏｇｒａｐｈｙ（ＯＣＴアンギオグラフィー）の撮影においても、３次元で断層データを取得するという点は変わらないため、本実施例の内容を適用することができる。ここで、同一箇所間の断層データの変動は、同一箇所間の断層データの差分値や脱相関値（１から相関値を引いた値）を用いることにより、モーションコントラスト情報として算出される。また、本実施例では、観察時にＯＣＴ観察像を用いて行われる調整として合焦調整および光路長調整を例に説明したが、ＯＣＴ観察像を用いて行われる調整であれば、別の調整項目であっても、本実施例の内容を適用することができる。また、本実施例では、データ取得部１００と制御部１０１、表示部１０２は別個に配置して説明するが、一つの筐体に納められた構成でもよい。また、上記実施例における制御部１０１はパーソナルコンピュータによって実現されてもよい。

（実施例２）
実施例２の構成は図１から図４に示す構成と同一の構成である。実施例１では観察のはじめにスキャンモード（３Ｄスキャンで且つスキャン範囲は縦長）が設定され、観察中にスキャン範囲の変更は行われず撮影まで至った。これに対して、実施例２では、観察の途中でスキャン範囲が変更される場合を想定している。観察から撮影までの流れを以下で説明する。

まず、観察について説明する。撮影者は図４をみながらスキャンモードの選択を行う。ここでは実施例１同様にスキャンパターンが３Ｄスキャンで且つスキャン範囲が被検眼ＥｒのＸＹ平面上で正方形ではなく縦長の長方形のスキャンモードが選択されている。次に、撮影者は対物レンズ１の正面に被検眼Ｅｒを位置させ、入力部１０３を用いて表示部１０２に表示されたＳｔａｒｔボタン４６を押下することにより観察を開始し、表示部１０２に前眼部観察像３６、ＳＬＯ観察像３８、ＯＣＴ観察像４３が表示されると、前眼部観察像３６を見ながら被検眼Ｅｒとデータ取得部１００とのＸＹＺ方向の位置合わせを図示なきジョイスティックを用いて行う。次に、撮影者が入力部１０３を用いて表示部１０２に表示されたＡｄｊｕｓｔボタン４７を押下すると、装置制御部３３はＳＬＯ光学系の自動の合焦調整を行い、続いてＯＣＴ観察像４３を用いた光路長調整、合焦調整を自動で行う。この光路長調整や合焦調整で用いられるＯＣＴ観察像４３は実施例１と同様で点線４１の方向が主走査方向であり、長方形のスキャン範囲３９内の長手方向に沿った１ラインをスキャンしたＹＺ面のＯＣＴ観察像（Ｂスキャン）である。なおＹＺ面のＯＣＴ観察像のスキャンの長さはＬ２であり、このＹＺ面のＯＣＴ観察像（Ｂスキャン）はスキャン範囲３９内の短手方向の中心を通るようになっている。これまでの観察の流れは、実施例１と同様であるが、実施例２では次に撮影者がスキャン範囲の変更を行う。

このスキャン範囲の変更は撮影者が表示部１０２に表示される図４を見ながら、入力部１０３を操作しＳＬＯ観察像３８中に重畳されているスキャン範囲３９の大きさを変更する。実施例２では、スキャン範囲３９が図４の縦長のスキャン範囲から図９の横長のスキャン範囲に変更され、変更後のスキャン範囲は被検眼ＥｒのＸＹ平面上でＸ方向Ｌ３、Ｙ方向Ｌ４の長さである。このようにスキャン範囲３９の大きさが変更されると、装置制御部３３は、まず変更後のスキャン範囲３９の長手方向、短手方向がどの方向であるかを検出（特定）する。この検出の具体的な方法としては、Ｘ方向の長さであるＬ３とＹ方向の長さであるＬ４の差分を計算し、差分の正負によってスキャン範囲３９の長手方向、短手方向がどの方向であるかを検出する。なお、この検出は、スキャン範囲３９の長手方向、短手方向がどの方向であるかを検出できれば別の手法であってもよい。

すると装置制御部３３は変更後のスキャン範囲の３９の長手方向がＸ方向、短手方向はＹ方向であると検出できるので、次に、装置制御部３３は、検出結果に基づいて撮影時および観察時のスキャンパターンの主走査方向の変更（決定）を行う。すなわち、走査範囲の長手方向及び短手方向を特定する特定手段の出力に基づいて、干渉光学系の光学調整時に測定光を主走査する方向と、記憶用の前記断層画像の取得時に測定光を主走査する方向とを走査手段に設定する。まず、撮影時のスキャンパターンの主走査方向の変更について説明すると、装置制御部３３はＸＹスキャナ１６を制御し、撮影時のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の短手方向のＹ方向に変更する。なお、変更前の撮影時のスキャンパターンの主走査方向は長方形のスキャン範囲の短手方向のＸ方向となっている。次に、観察時のスキャンパターンの主走査方向の変更について説明する。装置制御部３３は、ＸＹスキャナ１６を制御し、観察時のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の長手方向のＸ方向に変更する。なお、変更前の観察時のスキャンパターンの主走査方向は、長方形のスキャン範囲の短手方向のＹ方向となっている。次に、表示部１０２に表示される図１０において、装置制御部３３はＳＬＯ観察像３８中に重畳されている撮影時のスキャンパターンの主走査方向を示す実線および観察時のスキャンパターンの主走査方向を示す点線の方向を変更する。具体的には、スキャン範囲３９の変更前は実線４０であったが、変更後は実線５３に変更される。また、変更前は点線４１であったが、変更後は点線５４に変更される。

このように撮影者によって変更されたスキャン範囲３９の大きさに基づいて装置制御部３３がＸＹスキャナ１６を制御し、観察時および撮影時のスキャンパターンの主走査方向の変更を完了すると、表示部１０２に動画（連続画像）として表示されるＯＣＴ観察像４３もそれに同期して変更される。ＯＣＴ観察像には、スキャン範囲変更前はＯＣＴ観察像４３が示されていたが、変更後は点線５４の方向が主走査方向となり、ＸＺ面のＯＣＴ観察像５５（Ｂスキャン）が示されるようになる。なお、このＸＺ面のＯＣＴ観察像５５のスキャンの長さはＬ３である。

このようにＯＣＴ観察像４３がＯＣＴ観察像５５へと表示の変更がされると、撮影者は入力部１０３を用いて表示部１０２に表示されたＡｄｊｕｓｔボタン４７を再度押下する。この時点で被検眼Ｅｒとデータ取得部１００との光路長調整および合焦調整は、スキャン範囲３９変更前のＯＣＴ観察像４３を用いて調整された状態であるため、スキャン範囲変更後のＯＣＴ観察像５５を用いて再度光路長調整および合焦調整を行う。

なお、実施例１では、Ａｄｊｕｓｔボタン４７が押下されるとＳＬＯ観察像３８を用いてＳＬＯ光学系の自動の合焦調整もされていたが、この時点ではすでにＳＬＯ光学系の合焦調整はされているので省略してもよい。ＯＣＴ観察像を用いた光路長調整および合焦調整方法は実施例１の説明の通りであるので省略する。

次に、撮影者によりスキャン範囲３９の走査位置が入力部１０３を用いて変更されることで、所望の走査位置の設定が完了すると観察が終了される。このようにして観察が終了すると撮影者が入力部１０３を用いて表示部１０２に表示されたＣａｐｔｕｒｅボタン４８を押下することにより実行される。装置制御部３３はスキャン範囲３９におけるＸＹＺの３次元干渉データを取得する。この時、撮影時のスキャンパターンは実線５３の方向が主走査方向であり、長方形のスキャン範囲３９の短手方向である。一方撮影時のスキャンパターンの副走査方向は長方形のスキャン範囲３９の長手方向である。取得された３次元干渉データはフーリエ変換され輝度或いは濃度情報に変換され、３次元の断層データとなり記憶部３４に記憶されると共に表示部１０２に表示される。

このように観察時に、撮影時のスキャン範囲３９の変更が行われると、スキャン範囲３９の長手方向、短手方向がどの方向であるかの検出が行われる。検出後は検出結果に基づいて観察時および撮影時のスキャンパターンの主走査方向の変更が行われる。このようにすることにより撮影者は観察中いつでもスキャン範囲３９の変更を行うことができ、その変更結果に基づいて装置制御部３３による観察時および撮影時のスキャンパターンの主走査方向の変更が自動で行われるので使い勝手が良い。

（実施例３）
実施例３の構成は、図１から図３に示す構成と同一の構成である。実施例１と実施例３とで異なる点は、実施例１では長方形のスキャン範囲の長手方向に主走査することでＯＣＴ観察像４３が得られ、そのＯＣＴ観察像４３が合焦調整や光路長調整が用いられていた。実施例３では長方形のスキャン範囲の短手方向に複数ラインを主走査することで複数のＯＣＴ観察像を得て、その複数のＯＣＴ観察像を用いて合焦調整や光路長調整を行う場合について示す。それを具体的に説明するために図１０を用いて説明する。図１０は観察時に表示部１０２に表示される画面表示例である。観察から撮影までの流れを以下で説明する。

まず、観察について説明する。撮影者は図１０をみながらスキャンモードの選択を行う。ここでは実施例１同様にスキャンパターンが３Ｄスキャンで且つスキャン範囲が被検眼ＥｒのＸＹ平面上で正方形ではなく縦長の長方形のスキャンモードが選択されている。次に、撮影者は対物レンズ１の正面に被検眼Ｅｒを位置させ、入力部１０３を用いて表示部１０２に表示されたＳｔａｒｔボタン４６を押下することにより観察を開始し、表示部１０２に前眼部観察像３６、ＳＬＯ観察像３８が表示される。ＳＬＯ観察像３８中には被検眼ＥｒのＸＹ平面上で撮影時に取得されるスキャン範囲３９が重畳して表示されている。このスキャン範囲は実施例１同様に被検眼ＥｒのＸＹ平面上でＸ方向Ｌ１、Ｙ方向Ｌ２の長さである。さらにＳＬＯ観察像３８中に重畳されている実線４０は撮影時のスキャンパターンの主走査方向を示し、一方、点線５６、５７、５８は観察時にＯＣＴ観察像を取得するためのスキャン位置を示している。撮影時のスキャンパターンの主走査方向は、実施例１同様に、長方形のスキャン範囲３９の短手方向であり、一方で副走査方向は長方形のスキャン範囲３９の長手方向である。一方観察時のＯＣＴ観察像のスキャン位置は点線５６、５７、５８でスキャンの主走査方向は長方形のスキャン範囲３９の短手方向である。ここで、点線５６、５７、５８は、走査範囲の２つの短辺と中央とを含む少なくとも３つの位置の一例である。また、点線５６、５７、５８に対して測定光が走査するスキャンパターンは、２次元の走査範囲の長手方向に対して光学調整の状態を評価可能なスキャンパターンの一例である。

装置制御部３３は、ＯＣＴ光源２０、ＸＹスキャナ１６、ラインセンサ３２を駆動させ、点線５６、５７、５８を走査しラインセンサ３２から得られる干渉データをフーリエ変換し輝度或いは濃度情報に変換することによってＯＣＴ観察像５９、６０、６１を動画（連続画像）として表示部１０２に表示させる。点線５６の走査によってＯＣＴ観察像５９が得られ、点線５７の走査によってＯＣＴ観察像６０、点線５８の走査によってＯＣＴ観察像６１が得られる。なおこのＯＣＴ観察像５９、６０、６１のスキャンの長さは其々Ｌ１である。

このように前眼部観察像３６、ＳＬＯ観察像３８、ＯＣＴ観察像５９、６０、６１が表示されると、前眼部観察像３６を見ながら被検眼Ｅｒとデータ取得部１００とのＸＹＺ方向の位置合わせを図示なきジョイスティックを用いて行う。

次に、撮影者が入力部１０３を用いて表示部１０２に表示されたＡｄｊｕｓｔボタン４７を押下すると、装置制御部３３はＳＬＯ光学系の自動の合焦調整を行い、続いてＯＣＴ観察像５９、６０、６１を用いた光路長調整、合焦調整を自動で行う。

実施例１では、ＯＣＴ観察像のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲３９の長手方向で取得することによってＯＣＴ観察像４３が得られ、そのＯＣＴ観察像４３が光路長調整や合焦調整に用いられていたが、実施例３ではＯＣＴ観察像のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲３９の短手方向で複数位置取得することによってＯＣＴ観察像５９、６０、６１が得られ、そのＯＣＴ観察像５９、６０、６１が光路長調整や合焦調整に用いられる。

まず、光路長調整では装置制御部３３は参照ミラー２７を光軸方向に移動させながらＯＣＴ観察像５９、６０、６１を取得していき、ＯＣＴ観察像５９、６０、６１毎にＺ方向における輝度値の重心位置を評価する。ＯＣＴ観察像５９、６０、６１のＺ方向における輝度値の重心位置の平均値が図１０中の矢印４２に位置するように装置制御部３３は参照ミラー２７を移動させることによって光路長調整を完了させる。次に、合焦調整では装置制御部３３はＳＬＯ光学系の自動の合焦調整で調整されたレンズ１７の位置を中心とした所定範囲内でレンズ１７を少しずつ移動させながら、ＯＣＴ観察像５９、６０、６１を取得していき、ＯＣＴ観察像５９、６０、６１の輝度値の総和を評価する。ＯＣＴ観察像５９、６０、６１の輝度値の総和が最大となるように装置制御部３３はレンズ１７を移動させることによって精密な合焦調整を完了させる。次に、撮影者によりスキャン範囲３９の走査位置が入力部１０３を用いて変更されることで、所望の走査位置の設定が完了すると観察が終了される。

このようにして観察が終了すると撮影者が入力部１０３を用いて表示部１０２に表示されたＣａｐｔｕｒｅボタン４８を押下することにより実行される。装置制御部３３はスキャン範囲３９におけるＸＹＺの３次元干渉データを取得する。この時、撮影時のスキャンパターンは実線５３の方向が主走査方向であり、長方形のスキャン範囲３９の短手方向である。一方撮影時のスキャンパターンの副走査方向は長方形のスキャン範囲３９の長手方向である。取得された３次元干渉データはフーリエ変換され輝度或いは濃度情報に変換され、３次元の断層データとなり記憶部３４に記憶されると共に表示部１０２に表示される。

実施例３による効果を説明する。まず撮影時においては、撮影時のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の短手方向とすることで、撮影時に主走査する時間が短くなるため頻度よく撮影時に眼底トラッキング（追尾）や再スキャン機能を実行できるため撮影時の成功率をあげることができる。これは実施例１と同様である。

次に、観察時において説明する。本実施例の特徴は、実施例１でも述べたように長方形のスキャン範囲の長手方向の情報（ＯＣＴ観察像）を用いてスキャン範囲の長手方向の端部までも考慮した光路長調整や合焦調整を行うことである。実施例３ではＯＣＴ観察像のスキャンパターンの主走査方向を長方形のスキャン範囲の短手方向とした点で実施例１とは異なるものの、そのＯＣＴ観察像を長方形のスキャン範囲の長手方向をカバーする複数位置（実施例３では３か所）で取得することで長方形のスキャン範囲の長手方向の情報を得ることができる。その情報を用いて光路長調整や合焦調整を行うことが可能となるので、結果として実施例１と同等の効果を得ることができる。

（その他の実施例）
また、本発明は、以下の処理を実行することによっても実現される。即ち、上述した実施例の機能を実現するソフトウェア（プログラム）を、ネットワーク又は各種記憶媒体を介してシステム或いは装置に供給し、そのシステム或いは装置のコンピュータ（またはＣＰＵやＭＰＵ等）がプログラムを読み出して実行する処理である。

Claims (16)

1. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する戻り光との干渉光を用いて断層画像を取得する干渉光学系と、
   前記被検眼の２次元の走査範囲に対して前記測定光を走査する走査手段と、
   前記干渉光学系の光学調整時に前記測定光を主走査する方向と、記憶用の前記断層画像の取得時に前記測定光を主走査する方向とが異なるように、前記走査手段を制御する制御手段と、
   を有することを特徴とする光干渉断層撮影装置。
2. 前記制御手段は、前記干渉光学系の光学調整時には前記走査範囲の長手方向に前記測定光を主走査するように、記憶用の前記断層画像の取得時には前記走査範囲の短手方向に前記測定光を主走査するように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の光干渉断層撮影装置。
3. 前記制御手段は、前記干渉光学系の光学調整時には前記走査範囲の中央付近を通り且つ前記長手方向に沿った１ラインに対して前記測定光を繰り返し走査するように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項２に記載の光干渉断層撮影装置。
4. 前記走査範囲の長手方向及び短手方向に基づいて、前記干渉光学系の光学調整時に前記測定光を主走査する方向と、記憶用の前記断層画像の取得時に前記測定光を主走査する方向とを決定する決定手段と、
   前記制御手段は、前記測定光を前記決定された方向に主走査するように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項１に記載の光干渉断層撮影装置。
5. 前記走査範囲の長手方向及び短手方向を特定する特定手段と、
   前記特定手段の出力に基づいて、前記干渉光学系の光学調整時に前記測定光を主走査する方向と、記憶用の前記断層画像の取得時に前記測定光を主走査する方向とを前記走査手段に設定する設定手段と、
   を更に有することを特徴とする請求項１に記載の光干渉断層撮影装置
6. 前記設定手段は、前記干渉光学系の光学調整時に前記測定光を主走査する方向が前記長手方向になるように、記憶用の前記断層画像の取得時に前記測定光を主走査する方向が前記短手方向になるように、前記走査手段に設定することを特徴とする請求項５に記載の光干渉断層撮影装置。
7. 前記制御手段は、前記走査範囲が長方形である場合には、前記干渉光学系の光学調整時には前記走査範囲の長手方向に前記測定光を主走査するように、記憶用の前記断層画像の取得時には前記走査範囲の短手方向に前記測定光を主走査するように、前記走査手段が正方形である場合には、前記干渉光学系の光学調整時及び記憶用の前記断層画像の取得時には前記走査範囲の同一の方向となるように、前記走査手段を制御することを特徴とする請求項１乃至６のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
8. 前記干渉光学系に配置された合焦用の光学部材と、
   前記干渉光学系の光学調整時において、前記合焦用の光学部材が駆動されながら前記測定光を繰り返し走査されることにより得られる前記干渉光に関する情報を用いて、前記合焦用の光学部材の合焦状態の評価値を取得する取得手段と、
   を更に有することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
9. 前記干渉光学系に配置され、前記測定光の光路長と前記参照光の光路長との光路長差を調整する光路長差調整用の光学部材を更に有し、
   前記干渉光学系の光学調整時において、前記光路長差調整用の光学部材が駆動されながら前記測定光が繰り返し走査されることにより得られる前記干渉光に関する情報を用いて、前記光路長差の調整状態の評価値を取得する取得手段と、
   を更に有することを特徴とする請求項１乃至７のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
10. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する戻り光との干渉光を用いて断層画像を取得する干渉光学系と、
    前記被検眼の２次元の走査範囲に対して前記測定光を走査する走査手段と、
    前記干渉光学系の光学調整時には前記走査範囲の長手方向に対して光学調整の状態を評価可能なスキャンパターンで前記測定光を走査するように、前記走査手段を制御する制御手段と、
    前記干渉光学系の光学調整時において、前記干渉光学系に配置された光学部材が駆動されながら前記測定光が繰り返し走査されることにより得られる前記干渉光に関する情報を用いて、前記光学部材の調整状態の評価値を取得する取得手段と、
    を有することを特徴とする光干渉断層撮影装置。
11. 前記スキャンパターンは、前記干渉光学系の光学調整時には前記走査範囲の中央付近を通り且つ前記長手方向に沿った１ラインに対して前記測定光を繰り返し走査するパターンであることを特徴とする請求項１０に記載の光干渉断層撮影装置。
12. 前記スキャンパターンは、前記干渉光学系の光学調整時には前記走査範囲の２つの短辺と中央とを含む少なくとも３つの位置で前記走査範囲の短手方向に前記測定光を繰り返し走査するパターンであることを特徴とする請求項１０に記載の光干渉断層撮影装置。
13. 前記走査範囲の同一箇所に対して前記測定光が複数回繰り返し走査されている間における前記干渉光に関する情報を用いて、前記走査範囲のモーションコントラスト情報を算出する算出手段を更に有することを特徴とする請求項１乃至１２のいずれか１項に記載の光干渉断層撮影装置。
14. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する戻り光との干渉光を用いて断層画像を取得する干渉光学系と、
    前記被検眼の２次元の走査範囲に対して前記測定光を走査する走査手段と、
    を有する光干渉断層撮影装置の制御方法であって、
    前記干渉光学系の光学調整時に前記測定光を主走査する方向と、記憶用の前記断層画像の取得時に前記測定光を主走査する方向とが異なるように、前記走査手段を制御する工程を有することを特徴とする光干渉断層撮影装置の制御方法。
15. 測定光を照射した被検眼からの戻り光と前記測定光に対応する戻り光との干渉光を用いて断層画像を取得する干渉光学系と、
    前記被検眼の２次元の走査範囲に対して前記測定光を走査する走査手段と、
    を有する光干渉断層撮影装置の制御方法であって、
    前記干渉光学系の光学調整時には前記走査範囲の長手方向に対して光学調整の状態を評価可能なスキャンパターンで前記測定光を走査するように、前記走査手段を制御する工程と、
    前記干渉光学系の光学調整時において、前記干渉光学系に配置された光学部材が駆動されながら前記測定光が繰り返し走査されることにより得られる前記干渉光に関する情報を用いて、前記光学部材の調整状態の評価値を取得する工程と、
    を有することを特徴とする光干渉断層撮影装置の制御方法。
16. 請求項１４または１５に記載の光干渉断層撮影装置の制御方法の各工程をコンピュータに実行させることを特徴とするプログラム。

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