JP2019040905A - 半導体装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】一方の半導体チップからのアナログの出力信号を、他方の半導体チップ内の回路へ入力させるように構成されたものであって、ノイズの影響を防止する。【解決手段】半導体装置は、パッケージ4内に少なくとも2個の半導体チップ2、3を封止したものであって、一方の半導体チップ2は、アナログ信号を出力する出力回路5と、アナログ信号が出力されるパッド6とを有し、他方の半導体チップ3は、アナログ信号を入力する入力回路8と、アナログ信号が入力されるパッド9とを有し、パッケージ4に埋設されパッケージ4の外部のコンデンサに接続するためのリード端子12、30を備え、リード端子12、30に延長部31、41を設け、延長部31、41の一方の端部と半導体チップ2のパッド6との間をワイヤボンディングし、延長部31、41の他方の端部と半導体チップ3のパッド9との間をワイヤボンディングするように構成したものである。【選択図】図5

Description

本発明は、半導体装置に関する。
例えば2個の半導体チップを有するMCP(Multi Chip Package)において、一方のチップ内にあるアナログ回路(例えばオペアンプ等)の出力信号を、他方のチップ内の回路(例えばADコンバータ等)へ入力させる構成が考えられる。例えば、シャント抵抗に印加される電圧をオペアンプで増幅し、増幅した電圧をADコンバータによりデジタル値に変換し、その変換値を制御パラメータとしてマイコン内の演算に用いるといった使い方が考えられる。MCPにおいて、2個のチップの間を接続する方法としては、従来より、ワイヤボンディングにより接続する方法が知られている。
しかし、このように2個のチップ間をボンディングワイヤにより直接接続した場合、一方のチップから発生するノイズ(例えばクロックノイズ等)が他方のチップに伝搬し、回路が意図通り動作しない場合が生ずる。例えば、ノイズがADコンバータ、オペアンプ、コンパレータ等に入力されると、ノイズの影響を受けて回路が誤動作してしまうことがあった。
特開2003−163322号公報
本発明の目的は、一方の半導体チップからのアナログの出力信号を、他方の半導体チップ内の回路へ入力させるように構成されたものであって、ノイズの影響を防止することができる半導体装置を提供することにある。
請求項1の発明は、パッケージ4内に少なくとも2個の半導体チップ2、3を封止した半導体装置であって、一方の半導体チップ2は、アナログ信号を出力する出力回路5と前記アナログ信号が出力されるパッド6とを有し、他方の半導体チップ3は、アナログ信号を入力する入力回路8と、前記アナログ信号が入力されるパッド9とを有し、前記パッケージ4に埋設され、前記パッケージの外部のコンデンサに接続するためのリード端子12、30を備え、前記リード端子のうちの前記パッケージ内に埋設された部分に、前記一方の半導体チップから前記他方の半導体チップへ向けて延びる延長部(31、41)を設け、前記延長部の一方の端部と前記一方の半導体チップのパッドとの間をワイヤボンディングし、前記延長部の他方の端部と前記他方の半導体チップのパッドとの間をワイヤボンディングするように構成し、前記リード端子、前記延長部及び前記コンデンサを有するフィルタのゲインを最小にするように構成したものである。
比較例を示すものであって、MCPの要部の構成を模式的に示す図 フィルタの等価回路図 MCPの全体構成を示す図 第1実施形態を示すものであって、MCPの要部の構成を模式的に示す図 フィルタの等価回路図 MCPの全体構成を示す図 周波数特性を示す図 周波数特性を示す図 ワイヤボンディング位置を変更したMCPの要部の構成を模式的に示す図 周波数特性を示す図 ワイヤボンディング位置を変更したMCPの要部の構成を模式的に示す図 周波数特性を示す図 第2実施形態を示すものであって、MCPの要部の構成を模式的に示す図 周波数特性を示す図
(第1実施形態)
以下、第1実施形態について、図1ないし図12を参照して説明する。本実施形態のMCPを説明する前に、本実施形態のMCPを開発する前に先行して開発したMCP、以下、比較例のMCPと称すものについて説明する。
比較例のMCP1は、図1に示すように、2個の半導体チップ2、3と、これらチップ2、3をモールドするモールド樹脂(パッケージ)4と備えている。一方のチップ2には、例えばオペアンプ等のアナログ回路からなる信号出力回路5と、この信号出力回路5の出力端子5aが接続されたパッド6とが設けられている。尚、上記チップ2には、信号出力回路5の他に、図示しない種々の回路が設けられており、チップ2の上面の外周縁部には、図3に示すように、上記パッド6の他に多数のパッド7が設けられている。チップ2は、例えばアナログICで構成されている。
他方のチップ3には、例えばADコンバータ等からなる信号入力回路8と、この信号入力回路8の入力端子8aが接続されたパッド9とが設けられている。尚、上記チップ3には、信号入力回路8の他に、図示しない種々の回路が設けられており、チップ3の上面の外周縁部には、図3に示すように、上記パッド9の他に多数のパッド10が設けられている。チップ3は、例えばマイコンで構成されている。
また、リードフレーム11のリード端子12が、モールド樹脂4内に埋設されており、リード端子12の図1中の上半部は、モールド樹脂4から外方へ突出するように設けられている。この外方へ突出した部分にモールド樹脂4の外部のコンデンサ19が接続されるように構成されている。尚、この接続の具体的構成については、後述する。
リードフレーム11は、図3に示すように、矩形板状のアイランド13と、このアイランド13の外周囲に離間して配置された多数のリード端子14とを備えている。多数のリード端子14の中の1つが前記リード端子12であり、このリード端子12の長さ寸法は他のリード端子14の長さ寸法よりも少し長くなるように構成されている。各リード端子14は、その半部がモールド樹脂4内に埋設されており、残りの半部がモールド樹脂4から外方へ突出するように設けられている。そして、アイランド13は、モールド樹脂4内に埋設されており、その上面に2個のチップ2、3が載置固定されている。
また、図1及び図3に示すように、リード端子12と、チップ2のパッド6とをボンディングワイヤ15で接続している。更に、リード端子12と、チップ3のパッド9とをボンディングワイヤ16で接続している。尚、図3に示すように、リードフレーム11の他のリード端子14と、チップ2、3の他のパッド7、10とが、ボンディングワイヤ17で接続されている。また、図3に示すように、チップ2の左辺部のパッド7と、チップ3の右辺部のパッド10とがボンディングワイヤ18で接続されている。
更に、上記した構成のMCP1は、図示しないプリント配線基板の上に実装されている。そして、MCP1の上記リード端子12と、プリント配線基板の上に実装されたコンデンサ19の一方の端子19aとが、プリント配線基板に設けられた基板配線(即ち、導体パターン)20を介して接続されている。コンデンサ19の他方の端子19bは、プリント配線基板に設けられたグランドパターンに接続されている。即ち、リード端子12は、コンデンサ19に接続するためのリード端子である。尚、コンデンサ19は、ノイズ対策用のフィルタを構成するコンデンサである。
上記外付けのコンデンサ19の接続によるフィルタ効果によって、一方のチップ2から発生するノイズを除去することができる。外付けのコンデンサ19を接続する構成では、例えば数10pF〜数10μF程度の容量値の幅が広いコンデンサを接続することが可能となることから、様々の特性を有するフィルタを構成することができる。
ここで、上記した構成のフィルタの周波数特性について、調べてみる。まず、上記フィルタの等価回路を、図2に示す。この図2に示すように、チップ2の信号出力回路5の出力端子5aと、チップ3の信号入力回路8の入力端子8aとの間に、ボンディングワイヤ15、16の抵抗成分21とインダクタンス成分22とが直列に接続されている。尚、抵抗成分21の抵抗値をR1とし、インダクタンス成分22のインダクタンス値をL1とする。
また、信号入力回路8の入力端子8aと、コンデンサ19の一方の端子19aとの間に、リードフレーム11のリード端子12の抵抗成分23及びインダクタンス成分24の直列回路と、プリント配線基板の基板配線20の抵抗成分25及びインダクタンス成分26の直列回路とが直列に接続されている。尚、抵抗成分23の抵抗値をR2とし、インダクタンス成分24のインダクタンス値をL2とし、抵抗成分25の抵抗値をR3とし、インダクタンス成分26のインダクタンス値をL3とする。また、コンデンサ19の容量値をCとする。
上記した構成の等価回路において、チップ2の信号出力回路5の出力電圧Voutと、チップ3の信号入力回路8の入力電圧Vinは、次の2つの式で表される。
Figure 2019040905
フィルタの特性は、出力電圧Voutと入力電圧Vinの振幅比(ゲイン、GAIN)で定義されることから、GAINは、上記式(1)、式(2)に基づいて次の式で表される。
Figure 2019040905
基板配線20の抵抗成分25とリードフレーム11のリード端子12の抵抗成分23は、数mΩ程度であり、ボンディングワイヤ15、16の抵抗成分21が数100mΩであることと比較して無視できるほど小さい。このため、上記式(3)において、基板配線20の抵抗成分25の抵抗値R3及びリード端子12の抵抗成分23の抵抗値R2に対して、それぞれ0を代入すると、下記の式(4)が得られる。
Figure 2019040905
得られたゲインの対数を取ることにより、下記のデシベル値の式(5)が得られる。
Figure 2019040905
ここで、ボンディングワイヤ15、16の抵抗成分21の抵抗値R1を0.3Ω、ボンディングワイヤ15、16のインダクタンス成分22のインダクタンス値L1を3nH、リードフレーム11のリード端子12のインダクタンス成分24のインダクタンス値L2を0.3nH、基板配線20のインダクタンス成分26のインダクタンス値L3を1nH、コンデンサ19の容量値Cを1μFとする。そして、これらの値を、式(5)に代入すると、下記の式(6)、即ち、角周波数ωに依存する周波数特性の式(6)が得られる。
Figure 2019040905
さて、上記構成のフィルタは、前記式(5)の分母を大きくする、または、式(5)の分子を小さくすることにより、ゲインが小さくなることから、周波数特性が改善される。例えば、ボンディングワイヤを伸ばすことができたと仮定した場合、L1とR2が大きくなることから、式(5)の分母が大きくなり、ゲインを小さくすることができる。
しかし、チップ2、3とリードフレーム11のリード端子12との位置関係を大きく変更することは、困難であることから、ボンディングワイヤ15、16を伸ばすことは難しい。そこで、ボンディングワイヤ15、16ではなく、ボンディングワイヤ15、16が接続されたリードフレーム11のリード端子12を伸ばすことを考えて、第1実施形態を発明した。
図4ないし図12は、第1実施形態を示すものである。尚、前記比較例と同一構成には、同一符号を付している。第1実施形態では、図4に示すように、リード端子12に代わるリード端子30の図4中の下端部には、延長部31が横方向に延びるように設けられている。この延長部31の図4中の右端部と、チップ2のパッド6との間をボンディングワイヤ15で接続している。そして、リード端子30の図4中の下端部と、チップ3のパッド9との間をボンディングワイヤ16で接続している。
上記構成のフィルタの等価回路を、図5に示す。この図5に示すように、チップ2の信号出力回路5の出力端子5aと、チップ3の信号入力回路8の入力端子8aとの間に、ボンディングワイヤ15、16の抵抗成分21及びインダクタンス成分22の直列回路と、リードフレーム11のリード端子30の延長部31の抵抗成分32及びインダクタンス成分33の直列回路とが直列に接続されている。尚、抵抗成分21の抵抗値をR1とし、インダクタンス成分22のインダクタンス値をL1とし、抵抗成分32の抵抗値をR2とし、インダクタンス成分33のインダクタンス値をL2とする。この構成の場合、リード端子30の抵抗成分32及びインダクタンス成分33の直列回路が、第1実施形態にない構成であって、新たに生成された部分である。
そして、信号入力回路8の入力端子8aと、コンデンサ19の一方の端子19aとの間に、リードフレーム11のリード端子30の抵抗成分34及びインダクタンス成分35の直列回路と、プリント配線基板の基板配線20の抵抗成分25及びインダクタンス成分26の直列回路とが直列に接続されている。尚、抵抗成分34の抵抗値をR3とし、インダクタンス成分35のインダクタンス値をL3とし、抵抗成分25の抵抗値をR4とし、インダクタンス成分26のインダクタンス値をL4とする。
上記構成の等化回路において、チップ2の信号出力回路5の出力電圧Voutと、チップ3の信号入力回路8の入力電圧Vinは、次の2つの式で表される。
Figure 2019040905
この構成のゲインは、下記の式(9)で表される。
Figure 2019040905
基板配線20の抵抗成分25とリードフレーム11のリード端子30の抵抗成分32、34は、数mΩ程度であり、ボンディングワイヤ15、16の抵抗成分21が数100mΩであることと比較して無視できるほど小さい。このため、上記式(9)において、基板配線20の抵抗成分25の抵抗値R4及びリード端子30の抵抗成分32、34の抵抗値R2、R3に対して、それぞれ0を代入すると、下記の式(10)が得られる。
Figure 2019040905
得られたゲインの対数を取ることにより、下記のデシベル値の式(11)が得られる。
Figure 2019040905
ここで、ボンディングワイヤ15、16の抵抗成分21の抵抗値R1を0.3Ω、ボンディングワイヤ15、16のインダクタンス成分22のインダクタンス値L1を3nH、延長したリードフレーム11のリード端子30の延長部31のインダクタンス成分33のインダクタンス値L2を4nH、リードフレーム11のリード端子30のうちの基板配線20に繋がる部分のインダクタンス成分35のインダクタンス値L3を0.3nH、基板配線20のインダクタンス成分26のインダクタンス値L4を1nH、コンデンサの容量値Cを1μFとする。そして、これらの値を、前記式(11)に値を代入すると、下記の式(12)、即ち、角周波数ωに依存する周波数特性の式(12)が得られる。
Figure 2019040905
さて、角周波数ωとして、ω=2πfを、前記式(6)と上記式(12)に代入すると、図7に示すような周波数特性のグラフが得られる。図7においては、横軸を周波数fとし、縦軸をゲインとしている。図7において、実線P1は比較例(即ち、式(6))を示し、破線P2は第1実施形態(即ち、式(12))を示す。
第1実施形態は、比較例と比較して、20MHz以上の高周波領域において、ゲインが6dB程度低くなり、フィルタの効果が改善されていることがわかる。ゲインが6dB低下すると、ノイズの振幅を約半分に抑えることができる。そして、数十MHzの周波数は、ICのクロックとして頻繁に使用される周波数であるため、フィルタにより数十MHzのノイズの振幅が半分になれば、回路の誤動作を防ぐ点でかなり有効である。尚、上述した以外の第1実施形態の構成は、比較例の構成と同じ構成となっている。
さて、第1実施形態のフィルタ(即ち、式(12)で示すフィルタ)は、f≒4.45MHzの場合に、最もゲインが小さくなり、ノイズを抑える効果が高くなる。ICの動作クロックは、2の累乗であることが多く、4MHzのクロックは一般的によく用いられる。フィルタ特性は、コンデンサの定数(容量値)を変更することで調整できる。コンデンサを例えば1.2μFとすれば、4MHzに対するゲインを小さくすることができるが(図8参照)、市販されるコンデンサの容量の種類は限定されており、E6系列であれば1μFの次に大きいコンデンサは1.5μFである。コンデンサを1.5μFとした場合、フィルタ特性が悪化してしまう。尚、図8において、実線Q1はコンデンサが1μFの場合を示し、実線Q2はコンデンサが1.2μFの場合を示し、実線Q3はコンデンサが1.5μFの場合を示す。また、E12系列であれば1.2μFのコンデンサが存在するが、E6系列と比較して価格が高いというデメリットがある。
これに対して、第1実施形態においては、図9に示すように、チップ3のパッド9に接続されたボンディングワイヤ16を、リード端子30の延長部31に接続する位置、即ち、ボンディング位置を変更することにより、インダクタンス値L3が大きくなると共に、インダクタンス値L2が小さくなるように調整することができる。これにより、コンデンサを変えることなく、フィルタ特性を調整することができる。
具体的には、ボンディング位置を変更し、L2を3.7nH、L3を0.6nHとすることで、フィルタ特性は下記の式(13)で示すようになる。
Figure 2019040905
この式(13)で示すフィルタ特性のグラフは、図10に示すようになる。この図10によれば、コンデンサを変更することなく、ボンディング位置の変更によって周波数が4MHzにおけるフィルタ特性を高めることができることがわかる。尚、図10において、実線R1はボンディング位置を変更していない構成(図4参照)の特性を示す。実線R2は、ボンディング位置を変更した構成(図9参照)の特性を示す。
また、第1実施形態においては、図11に示すように、チップ2のパッド6に接続されたボンディングワイヤ15を、リード端子30の延長部31に接続する位置、即ち、ボンディング位置を変更した場合、ボンディングワイヤが長くなる。ボンディングワイヤはリード電極よりも細いことから、同じ長さの場合、一般的にボンディングワイヤのインダクタンス成分及び抵抗成分は、リード電極のインダクタンス成分及び抵抗成分よりも大きい。よって、ボンディングワイヤを長くすることにより、ボンディングワイヤとリード電極とを合わせたインダクタンス成分のインダクタンス値(L1+L2)と、抵抗成分の抵抗値R2が大きくなる。これにより、コンデンサを変えることなく、フィルタ特性を調整することができる。
具体的には、ボンディングワイヤのインダクタンス成分(L1)と抵抗成分(R1)を倍にし(即ち、L1=6nH、R1=0.6Ω)、リード電極のインダクタンス成分(L2)を半分(L2=2nH)にした場合、フィルタ特性は、下記の式(14)に示すようになる。
Figure 2019040905
この式(14)で示すフィルタ特性のグラフは、図12に示すようになる。この図12によれば、全体域において特性が改善することがわかる。尚、図12において、実線S1はボンディング位置を変更していない構成(図4参照)の特性を示す。実線S2は、ボンディング位置を変更した構成(図11参照)の特性を示す。
(第2実施形態)
図13及び図14は、第2実施形態を示すものである。尚、第1実施形態と同一構成には、同一符号を付している。第2実施形態では、図13に示すように、リード端子30の延長部31に代わる延長部41には、折れ曲がりの形状42が作り込まれている。これにより、インダクタンス成分のインダクタンス値L2が増えることから、前記式(11)の分母が大きくなり、フィルタの効果が改善される。仮にインダクタンス成分のインダクタンス値Lが2倍となった場合(L2=8nH)、フィルタ特性は下記の式(15)に示すようになる。
Figure 2019040905
この式(15)で示すフィルタ特性のグラフは、図14に示すようになる。この図14によれば、高周波域において特性が改善していることがわかる。尚、図14において、実線T1は第1実施形態(即ち、延長部31は真っ直ぐな形状である)の特性を示す。実線T2は第2実施形態(即ち、延長部41は折れ曲がりの形状42を有する)の特性を示す。尚、上述した以外の第2実施形態の構成は、第1実施形態の構成と同じ構成となっている。
本開示は、実施例に準拠して記述されたが、本開示は当該実施例や構造に限定されるものではないと理解される。本開示は、様々な変形例や均等範囲内の変形をも包含する。加えて、様々な組み合わせや形態、さらには、それらに一要素のみ、それ以上、あるいはそれ以下、を含む他の組み合わせや形態をも、本開示の範疇や思想範囲に入るものである。
図面中、1はMCP、2は半導体チップ、3は半導体チップ、4はモールド樹脂、5は信号出力回路、6はパッド、7はパッド、8は信号入力回路、9はパッド、10はパッド、11はリードフレーム、12はリード端子、15はボンディングワイヤ、16はボンディングワイヤ、19はコンデンサ、20は基板配線、21は抵抗成分、22はインダクタンス成分、23は抵抗成分、24はインダクタンス成分、25は抵抗成分、26はインダクタンス成分、30はリード端子、31は延長部、41は延長部である。

Claims (4)

  1. パッケージ(4)内に少なくとも2個の半導体チップ(2、3)を封止した半導体装置であって、
    一方の半導体チップ(2)は、アナログ信号を出力する出力回路(5)と、前記アナログ信号が出力されるパッド(6)とを有し、
    他方の半導体チップ(3)は、アナログ信号を入力する入力回路(8)と、前記アナログ信号が入力されるパッド(9)とを有し、
    前記パッケージに埋設され、前記パッケージの外部のコンデンサに接続するためのリード端子(12、30)を備え、
    前記リード端子のうちの前記パッケージ内に埋設された部分に、前記一方の半導体チップから前記他方の半導体チップへ向けて延びる延長部(31、41)を設け、
    前記延長部の一方の端部と前記一方の半導体チップのパッドとの間をワイヤボンディングし、前記延長部の他方の端部と前記他方の半導体チップのパッドとの間をワイヤボンディングするように構成し、
    前記リード端子、前記延長部及び前記コンデンサを有するフィルタのゲインが最小になるように構成された半導体装置。
  2. 前記出力回路の出力端子と入力回路の入力端子との間に、ボンディングワイヤの抵抗成分(21)及びインダクタンス成分(22)の直列回路と、リード端子の延長部の抵抗成分(32)及びインダクタンス成分(33)の直列回路とを直列に接続し、抵抗成分(21)の抵抗値をR1、インダクタンス成分(22)のインダクタンス値をL1、抵抗成分(32)の抵抗値をR2、インダクタンス成分(33)のインダクタンス値をL2とし、また、入力回路の入力端子とコンデンサの一方の端子との間に、リード端子の抵抗成分(34)及びインダクタンス成分(35)の直列回路と、プリント配線基板の基板配線(20)の抵抗成分(25)及びインダクタンス成分(26)の直列回路とを直列に接続し、抵抗成分(34)の抵抗値をR3、インダクタンス成分(35)のインダクタンス値をL3、抵抗成分(25)の抵抗値をR4、インダクタンス成分(26)のインダクタンス値をL4とし、前記コンデンサの容量値をCとした場合に、前記ゲインは、次の式
    Figure 2019040905
    で表されるように構成された請求項1記載の半導体装置。
  3. 前記延長部の一方の端部と前記一方の半導体チップのパッドとの間をワイヤボンディングし、前記延長部における前記他方の半導体チップのパッドとワイヤボンディングする位置を調整して、L3が大きくなると共に、L2が小さくなるように構成された請求項2記載の半導体装置。
  4. 前記延長部の他方の端部と前記他方の半導体チップのパッドとの間をワイヤボンディングし、前記延長部における前記一方の半導体チップのパッドとワイヤボンディングする位置を調整して、(L1+L2)とR2が大きくなるように構成された請求項2記載の半導体装置。
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