JP2019009388A - 紫外線発光素子 - Google Patents

紫外線発光素子 Download PDF

Info

Publication number
JP2019009388A
JP2019009388A JP2017126548A JP2017126548A JP2019009388A JP 2019009388 A JP2019009388 A JP 2019009388A JP 2017126548 A JP2017126548 A JP 2017126548A JP 2017126548 A JP2017126548 A JP 2017126548A JP 2019009388 A JP2019009388 A JP 2019009388A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
ultraviolet light
emitting element
light emitting
substrate
layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2017126548A
Other languages
English (en)
Other versions
JP6986697B2 (ja
Inventor
卓哉 美濃
Takuya Mino
卓哉 美濃
後藤 浩嗣
Koji Goto
浩嗣 後藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Original Assignee
Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd filed Critical Panasonic Intellectual Property Management Co Ltd
Priority to JP2017126548A priority Critical patent/JP6986697B2/ja
Publication of JP2019009388A publication Critical patent/JP2019009388A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP6986697B2 publication Critical patent/JP6986697B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Abstract

【課題】光出力の低下を抑制しつつ光出力のモニタリングが可能な紫外線発光素子を提供する。【解決手段】紫外線発光素子10では、積層体2は、n型半導体層4、活性層5及びp型半導体層6が基板1側からこの順に並んでいる。積層体2は、活性層5とp型半導体層6との積層構造7を第1半導体部71と第2半導体部72とに分離する溝23を有し、第1半導体部71の面積が第2半導体部72の面積よりも大きい。紫外線発光素子10は、第1半導体部71上に形成されている第1正電極81と、第2半導体部72上に形成されている第2正電極82と、n型半導体層4の活性層5側の表面41に設けられ、厚さ方向D1から見て第1正電極81に隣り合う第1負電極91と、n型半導体層4の活性層5側の表面41に設けられ、厚さ方向D1から見て第2正電極82に隣り合う第2負電極92と、を更に備える。【選択図】図1

Description

本発明は、一般に紫外線発光素子に関し、より詳細には紫外線を放射する紫外線発光素子に関する。
従来、基板と、発光部と、受光部と、を備える紫外線発光装置が提案されている(特許文献1)。ここにおいて、基板は、第1主面と、第1主面と対向する第2主面と、を有する。発光部は、基板の第1主面上に配置されて紫外光(紫外線)を発光する。
特許文献1に記載された紫外線発光装置では、発光部が発光する紫外光の一部が、基板の内部を透過し第2主面から外部へ出射する。また、発光部が発光する紫外光の他の一部が、基板の内部を透過し第2主面で反射して受光部に入射する。受光部は、受光した紫外光を光電変換して電気信号を出力する。このため、受光部は、基板の第1主面上であって、第2主面と基板外部の空間との界面で反射した紫外光が入射する位置に配置されている。
特開2015−70065号公報
特許文献1に記載の紫外線発光装置では、発光部が発光する紫外光の他の一部を基板の第2主面で反射して受光部に入射させる必要があるので、光出力が低下しやすい。
本発明の目的は、光出力の低下を抑制しつつ光出力のモニタリングが可能な紫外線発光素子を提供することにある。
本発明に係る一態様の紫外線発光素子は、基板と、積層体と、を備える。前記基板は、その厚さ方向において互いに反対側にある第1面及び第2面を有する。前記積層体は、前記基板の前記第1面上に設けられている。前記積層体では、n型半導体層、活性層及びp型半導体層が前記基板側からこの順に並んでいる。前記積層体は、前記積層体の前記基板とは反対側の表面に形成されて前記活性層と前記p型半導体層との積層構造を第1半導体部と第2半導体部とに分離する溝を有する。前記第1半導体部の面積が前記第2半導体部の面積よりも大きい。紫外線発光素子は、第1正電極と、第2正電極と、第1負電極と、第2負電極と、を更に備える。前記第1正電極は、前記第1半導体部上に形成されている。前記第2正電極は、前記第2半導体部上に形成されている。前記第1負電極は、前記n型半導体層の前記活性層側の表面に設けられ、前記厚さ方向から見て前記第1正電極に隣り合う。前記第2負電極は、前記n型半導体層の前記活性層側の前記表面に設けられ、前記厚さ方向から見て前記第2正電極に隣り合う。
本発明の紫外線発光素子は、光出力の低下を抑制しつつ光出力のモニタリングが可能となるという効果がある。
図1Aは、本発明の一実施形態に係る紫外線発光素子の平面図である。図1Bは、同上の紫外線発光素子を示し、図1AのX−X線断面図である。
下記の実施形態等において説明する図1A及び1Bは、模式的な図であり、図1A及び1B中の各構成要素の大きさや厚さそれぞれの比が、必ずしも実際の寸法比を反映しているとは限らない。
(実施形態)
以下では、本実施形態の紫外線発光素子10について、図1A及び1Bに基づいて説明する。
紫外線発光素子10は、UV−Cの波長域の紫外線を放射する発光素子である。「UV−Cの波長域」とは、例えば国際照明委員会(CIE)における紫外線の波長による分類によれば、100nm〜280nmである。
紫外線発光素子10は、基板1と、積層体2と、を備える。基板1は、その厚さ方向D1において互いに反対側にある第1面11及び第2面12を有する。積層体2は、基板1の第1面11上に設けられている。
積層体2では、基板1側からn型半導体層4、活性層5及びp型半導体層6が、この順に並んでいる。積層体2は、積層体2の基板1とは反対側の表面21に形成されている溝23を有する。溝23は、活性層5とp型半導体層6との積層構造7を第1半導体部71と第2半導体部72とに分離するように形成されている。ここにおいて、第1半導体部71及び第2半導体部72は、基板1の厚さ方向D1から見て、n型半導体層4の外周線よりも内側に位置している。基板1の厚さ方向D1から見て、n型半導体層4の大きさは、基板1の大きさと同じである。言い換えれば、紫外線発光素子10では、基板1の厚さ方向D1から見て、n型半導体層4の外周線と基板1の外周線とが重なる。
紫外線発光素子10は、p型半導体層6の表面61とn型半導体層4の表面41のうち積層構造7が積層されていない部位411との間に段差がある。第1半導体部71及び第2半導体部72の各々は、メサ構造(mesa structure)を有している。
また、紫外線発光素子10は、p型半導体層6に電気的に接続された第1正電極81及び第2正電極82と、n型半導体層4に電気的に接続された第1負電極91及び第2負電極92と、を更に備える。
紫外線発光素子10では、基板1の第2面12が、紫外線を出射させる光取り出し面を構成している。
紫外線発光素子10では、積層体2が、基板1とn型半導体層4との間に介在するバッファ層(buffer layer)3を更に備えている。また、紫外線発光素子10は、積層体2の一部を覆う保護膜を更に備える。
紫外線発光素子10は、LEDチップ(light emitting diode chip)である。紫外線発光素子10の平面視形状は、例えば、正方形状である。「紫外線発光素子10の平面視形状」とは、紫外線発光素子10の厚さ方向D1から見た紫外線発光素子10の外周形状である。紫外線発光素子10の平面視でのチップサイズ(chip size)は、例えば、400μm□(400μm×400μm)である。
紫外線発光素子10の各構成要素については、以下に、より詳細に説明する。
基板1は、積層体2を支持している。紫外線発光素子10では、活性層5の材料としてAlGaNが採用されており、基板1は、例えば、サファイア基板である。基板1の第1面11は、(0001)面(つまり、c面)からのオフ角が、例えば、0.31°である。ここにおいて、「オフ角」とは、(0001)面に対する第1面11の傾斜角である。したがって、オフ角が0°であれば、第1面11は、(0001)面である。基板1の厚さは、例えば、150μmである。基板1の外周形状は、正方形状である。
基板1の第1面11上に設けられている積層体2では、基板1側からバッファ層3、n型半導体層4、活性層5及びp型半導体層6が、この順に並んでいる。積層体2は、例えば、MOVPE法(metal organic vapor phase epitaxy)等を利用して形成されている。
本明細書において、後述する組成比は、EDX法(energy dispersive X-ray spectroscopy)による組成分析で求められる値である。組成比の相対的な大小関係を議論する上では、組成比は、EDX法に限らず、例えば、オージェ電子分光法(auger electron spectroscopy)による組成分析で求められる値でもよい。
活性層5は、UV−Cの波長域の紫外線を放射できるように構成されている。n型半導体層4とp型半導体層6との間にある活性層5は、注入された2種類のキャリア(電子、正孔)の再結合により紫外線を放射する。紫外線発光素子10の発光ピーク波長は、例えば、275nmである。ここでいう「発光ピーク波長」は、室温(27℃)での主発光ピーク波長である。また、「紫外線発光素子10の発光ピーク波長」は、活性層5から放射されて紫外線発光素子10から出射される紫外線の発光ピーク波長である。
活性層5では、基板1の厚さ方向D1において、複数(例えば、4つ)の障壁層と複数(例えば、4つ)の井戸層とが交互に並んでいる。これにより、活性層5は、多重量子井戸構造を有している。複数の井戸層の各々は、第1のAlGaN層により構成されている。複数の障壁層の各々は、第1のAlGaN層よりもAlの組成比が大きな第2のAlGaN層により構成されている。井戸層(第1のAlGaN層)は、例えば、厚さ2nmのAl0.45Ga0.55N層である。障壁層(第2のAlGaN層)は、例えば、厚さ10nmのAl0.60Ga0.40N層である。複数の井戸層の各々の厚さは、例えば、2nmである。複数の障壁層の各々の厚さは、例えば、10nmである。
バッファ層3は、例えば、AlN層である。バッファ層3は、n型半導体層4、活性層5及びp型半導体層6の結晶性の向上を目的として設けた層である。紫外線発光素子10では、バッファ層3のバンドギャップエネルギが、活性層5における複数の井戸層の各々のバンドギャップエネルギよりも大きい。バッファ層3は、基板1の第1面11の全面に形成されている。
n型半導体層4は、例えば、n型AlGaN層である。n型AlGaN層のAlの組成比は、活性層5で発光する紫外線のn型AlGaN層での吸収が抑制されるように設定されている。より詳細には、n型半導体層4は、例えば、n型Al0.60Ga0.40N層である。n型半導体層4の厚さは、例えば、2μmである。n型半導体層4は、バッファ層3の基板1とは反対側の表面の全面に形成されている。したがって、n型半導体層4の外周形状は、基板1の外周形状と同じである。
p型半導体層6は、例えば、p型AlGaN層と、p型GaN層と、を含む。p型半導体層6では、p型AlGaN層が活性層5に接している。また、p型半導体層6では、p型GaN層がp型AlGaN層の活性層5とは反対側に位置している。p型AlGaN層のAlの組成比は、n型半導体層4から活性層5に注入された電子がp型半導体層6側へ漏れるのを防ぐように設定されている。より詳細には、p型AlGaN層は、例えば、p型Al0.80Ga0.20N層である。p型AlGaN層の厚さは、例えば、50nmである。また、p型GaN層の厚さは、例えば200nmである。
紫外線発光素子10では、積層体2の基板1とは反対側の表面21に形成されている溝23によって、活性層5とp型半導体層6との積層構造7が、第1半導体部71と第2半導体部72とに分離されている。これにより、紫外線発光素子10は、活性層5のうち積層構造7の第1半導体部71の一部を構成する部分である第1機能部51と、積層構造7の第2半導体部72の一部を構成する部分である第2機能部52と、を有する。第1機能部51と第2機能部52との互いに対向する端面513、523の各々は、基板1の厚さ方向D1に沿って形成されている。紫外線発光素子10では、第1機能部51と第2機能部52との互いに対向する端面513、523同士が平行であるのが好ましい。ここにおいて、「平行」とは、厳密に平行である場合のみに限定されず、略平行(互いに対向する端面513、523同士のなす角度が例えば0°±10°)でもよい。
紫外線発光素子10は、上述のように、第1正電極81、第2正電極82、第1負電極91及び第2負電極92を備えている。紫外線発光素子10では、この紫外線発光素子10の厚さ方向の一面側に第1正電極81、第2正電極82、第1負電極91及び第2負電極92が配置されている。ここで、「紫外線発光素子10の厚さ方向の一面」とは、n型半導体層4の活性層5側の表面41において活性層5に覆われていない部位411及びp型半導体層6の表面61を含む。
第1正電極81は、活性層5とp型半導体層6との積層構造7の第1半導体部71上に形成されている。これにより、第1正電極81は、第1半導体部71においてp型半導体層6と電気的に接続されている。第2正電極82は、積層構造7の第2半導体部72上に形成されている。これにより、第2正電極82は、第2半導体部72においてp型半導体層6と電気的に接続されている。第1負電極91は、n型半導体層4の活性層5側の表面41のうち積層構造7が積層されていない部位411に設けられている。これにより、第1負電極91は、n型半導体層4と電気的に接続されている。第2負電極92は、n型半導体層4の活性層5側の表面41のうち積層構造7が積層されていない部位411に設けられている。これにより、第2負電極92は、n型半導体層4と電気的に接続されている。
紫外線発光素子10では、基板1の厚さ方向D1から見て、厚さ方向D1に直交する一の方向において、第1負電極91、第1正電極81、第2正電極82及び第2負電極92が、この順に並んでいる。したがって、第1負電極91は、基板1の厚さ方向D1から見て第1正電極81に隣り合っている。また、第2負電極92は、基板1の厚さ方向から見て第2正電極82に隣り合っている。
紫外線発光素子10では、第1正電極81と第1負電極91との間に電流を流すことにより、活性層5の第1機能部51から紫外線が放射される。紫外線発光素子10では、第1機能部51から放射されて基板1の第1面11に入射した紫外線が、基板1の第2面12から出射される。ここにおいて、紫外線発光素子10では、活性層5の第1機能部51の端面513から出射した紫外線が、活性層5の第2機能部52の端面523に入射し、第2機能部52において受光される(吸収される)。したがって、紫外線発光素子10では、例えば、第1機能部51から紫外線を発光させ、その紫外線の一部を第2機能部52で受光させることによって、第2正電極82と第2負電極92との間に発生する電流(光電流)により、紫外線発光素子10の光出力のモニタリングが可能である。要するに、紫外線発光素子10は、第1機能部51を発光部とし第2機能部52を受光部として動作させることが可能である。
紫外線発光素子10では、第1半導体部71の面積が第2半導体部72の面積よりも大きい。ここにおいて、第1半導体部71及び第2半導体部72の各々の面積は、基板1の厚さ方向D1から見た面積である。そして、紫外線発光素子10では、第1正電極81の面積が第2正電極82の面積よりも大きく、第1負電極91の面積が第2負電極92の面積よりも大きい。第1正電極81、第2正電極82、第1負電極91及び第2負電極92の各々の面積は、基板1の厚さ方向D1から見た面積である。
第1半導体部71の平面視形状は、基板1の外周線に沿った正方形のうちの2辺それぞれの中間部を内側に凹ませた形状である。ここにおいて、紫外線発光素子10では、基板1の厚さ方向D1から見て、第1半導体部71の外周線が、n型半導体層4の外周線に沿っていて、かつ、第2半導体部72と第1負電極91と第2負電極92とを避けるように曲がっている。これにより、紫外線発光素子10では、第1半導体部71の平面視形状を長方形とする場合と比べて、第1半導体部71の面積をより大きくすることが可能となる。
紫外線発光素子10では、保護膜を備えているのが好ましい。保護膜は、電気絶縁性を有する。保護膜の材料は、例えば、酸化シリコン等である。保護膜は、第1半導体部71の表面のうち第1正電極81に覆われていない部位及び側面と、第2半導体部72の表面のうち第2正電極82に覆われていない部位及び側面と、n型半導体層4の表面41において活性層5に覆われていない部位411のうち第1負電極91及び第2負電極92に覆われていない領域と、に跨って形成されているのが好ましい。
以上説明した本実施形態の紫外線発光素子10では、積層体2は、活性層5とp型半導体層6との積層構造7を第1半導体部71と第2半導体部72とに分離する溝23を有し、第1半導体部71の面積が第2半導体部72の面積よりも大きい。よって、紫外線発光素子10は、第1半導体部71と第2半導体部72とのうち相対的に面積の大きな第1半導体部71から側方へ放射された紫外線を、相対的に面積の小さな第2半導体部72で受光することができる。これにより、紫外線発光素子10では、第1半導体部71から基板1側へ放射された紫外線を基板1の第2面12で反射させる必要がないので、光出力の低下を抑制しつつ光出力のモニタリングが可能となる。
また、紫外線発光素子10では、上記の紫外線発光装置と比べて、チップサイズの小型化を図りながらも光出力の高出力化を図れる。また、紫外線発光素子10では、第1機能部51(発光部)の中心と、基板1の厚さ方向D1に沿った基板1の中心線に対する第1機能部51の交差点とを揃えてあるので、紫外線発光素子10の光軸が基板1の厚さ方向D1に沿った中心線に揃いやすい。これにより、紫外線発光素子10は、上記の紫外線発光装置と比べて、レンズ、反射部材等による配光制御の点で有利である。
以下では、紫外線発光素子10の製造方法の一例について簡単に説明する。
紫外線発光素子10の製造方法では、まず、複数の紫外線発光素子10それぞれの基板1の元になるウェハ(サファイアウェハ)を準備する。
紫外線発光素子10の製造方法では、ウェハを準備した後、ウェハの前処理を行ってから、ウェハをエピタキシャル成長装置に導入し、その後、ウェハの第1面上に積層体2をエピタキシャル成長法により積層する。ウェハの第1面は、基板1の第1面11に相当する表面である。エピタキシャル成長装置としてMOVPE装置を採用する場合、Alの原料ガスとしては、トリメチルアルミニウム(TMAl)を採用するのが好ましい。また、Gaの原料ガスとしては、トリメチルガリウム(TMGa)を採用するのが好ましい。Nの原料ガスとしては、NH3を採用するのが好ましい。n型導電性を付与する不純物であるSiの原料ガスとしては、テトラエチルシラン(TESi)を採用するのが好ましい。p型導電性に寄与する不純物であるMgの原料ガスとしては、ビスシクロペンタジエニルマグネシウム(Cp2Mg)を採用するのが好ましい。各原料ガスそれぞれのキャリアガスとしては、例えば、H2ガスを採用するのが好ましい。各原料ガスは、特に限定されず、例えば、Gaの原料ガスとしてトリエチルガリウム(TEGa)、Nの原料ガスとしてヒドラジン誘導体、Siの原料ガスとしてモノシラン(SiH4)を採用してもよい。積層体2の成長条件は、バッファ層3、n型半導体層4、活性層5及びp型半導体層6それぞれについて、基板温度、V/III比、各原料ガスの供給量、成長圧力等を適宜設定すればよい。「基板温度」とは、ウェハの温度を意味する。エピタキシャル成長装置としてMOVPE装置を採用する場合、「基板温度」は、例えば、ウェハを支持するサセプタ(susceptor)の温度を代用することができる。例えば、基板温度は、熱電対により測定したサセプタの温度を代用することができる。
紫外線発光素子10の製造方法では、ウェハの第1面上に積層体2を積層した後、積層体2が積層されているウェハをエピタキシャル成長装置から取り出す。以下では、少なくともウェハと積層体2とを備えた構造体を、エピタキシャルウェハと称する。
紫外線発光素子10の製造方法では、エピタキシャル成長装置から取り出したエピタキシャルウェハをアニール装置に導入し、p型半導体層のp型不純物を活性化するためのアニールを行う。アニールを行うためのアニール装置としては、例えば、ランプアニール装置、電気炉アニール装置等を採用することができる。p型不純物は、アクセプタ不純物を意味し、Mgである。
紫外線発光素子10の製造方法では、アニール装置からエピタキシャルウェハを取り出した後、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術等を利用して積層体2における活性層5とp型半導体層6との積層構造7をパターニングすることによって、溝23、第1半導体部71及び第2半導体部72を形成する。
紫外線発光素子10の製造方法では、溝23、第1半導体部71及び第2半導体部72を形成した後、上述の保護膜を形成する。保護膜は、CVD法(chemical vapor deposition)等の薄膜形成技術、フォトリソグラフィ技術及びエッチング技術を利用して形成することができる。
紫外線発光素子10の製造方法では、保護膜を形成した後、第1負電極91及び第2負電極92を形成し、その後、第1正電極81及び第2正電極82を形成する。
紫外線発光素子10の製造方法では、紫外線発光素子10が複数形成されたエピタキシャルウェハを得ることができる。
紫外線発光素子10の製造方法では、エピタキシャルウェハをダイシングソー(dicingsaw)などによって切断することで、1枚のエピタキシャルウェハから複数の紫外線発光素子10を得ることができる。紫外線発光素子10の製造方法では、エピタキシャルウェハを切断する前に、ウェハの厚さを基板1の所望の厚さとするようにウェハを第1面とは反対の第2面側から研磨することが好ましい。これにより、紫外線発光素子10の製造方法は、製造歩留りの向上を図ることが可能となる。
上述の紫外線発光素子10の製造方法によれば、第1半導体部71と第2半導体部72とを同じ構成とすることができる。ここにおいて、「同じ構成」とは、材料、組成比及び厚さが同じであることを意味する。また、上述の紫外線発光素子10の製造方法によれば、第1半導体部71における第1機能部51の端面513と第2半導体部72における第2機能部52の端面523との相対的な位置精度を向上させることができる。
上記の実施形態は、本発明の様々な実施形態の一つに過ぎない。上記の実施形態は、本発明の目的を達成できれば、設計等に応じて種々の変更が可能である。
例えば、紫外線発光素子10は、UV−Cの波長域の紫外線を放射するように構成される場合に限らず、例えば、UV−Bの波長域の紫外線を放射するように構成されていてもよい。「UV−Bの波長域」とは、例えば国際照明委員会における紫外線の波長による分類によれば、280nm〜315nmである。
また、紫外線発光素子10の平面視形状は、正方形状に限らず、例えば、長方形状等でもよい。
また、基板1の第1面11の(0001)面(c面)からのオフ角は、例えば、0°〜0.4°であるのが好ましく、0.1°〜0.31°であるのがより好ましく、0.21°〜0.31°であるのが更に好ましい。また、基板1の第1面11は、c面に限らず、例えば、m面、a面、R面等でもよい。また、基板1は、サファイア基板に限らず、例えば、単結晶AlN基板等でもよい。
また、n型半導体層4は、単層構造に限らず多層構造でもよい。例えば、n型半導体層4は、例えば、互いにAlの組成比の異なる複数のn型AlGaN層の積層構造でもよい。また、p型半導体層6におけるp型AlGaN層及びp型GaN層は、単層構造に限らず多層構造でもよい。例えば、p型AlGaN層は、互いにAlの組成比の異なる複数のp型AlGaN層の積層構造でもよい。また、p型GaN層は、互いにp型不純物の濃度の異なる複数のp型GaN層の積層構造でもよい。
また、活性層5は、多重量子井戸構造を有する例に限らず、例えば、単一量子井戸構造でもよいし、単層構造でもよい。また、活性層5の材料は、AlGaNに限らず、他の窒化物半導体材料でもよく、例えば、InAlGaN等でもよい。また、活性層5の材料は、窒化物半導体材料以外の材料でもよい。
また、紫外線発光素子10の使用例は、第1機能部51を発光部とし第2機能部52を受光部として動作させる例に限らない。例えば、紫外線発光素子10は、第1機能部51と第2機能部52との両方を発光部として動作させてもよいし、第2機能部52を発光部とし第1機能部51を受光部として動作させてもよい。
また、第1半導体部71、第2半導体部72、第1正電極81、第2正電極82、第1負電極91及び第2負電極92の平面視形状、レイアウト等は図1Aの例に限らず、適宜変更可能である。
また、第1正電極81及び第1負電極91の各々の数は、1つに限らず、複数でもよい。また、第1正電極81の数と第1負電極91の数とが異なっていてもよい。
また、第2正電極82及び第2負電極92の各々の数は、1つに限らず、複数でもよい。また、第2正電極82の数と第2負電極92の数とが異なっていてもよい。
また、紫外線発光素子10では、基板1の第2面12において活性層5からの紫外線を反射させる必要がないので、例えば、基板1の第2面12に、単層もしくは多層の誘電体膜からなるアンチリフレクションコート(anti-reflection coat)が設けられていてもよい。
また、紫外線発光素子10では、基板1の第2面12に、活性層5から放射された光の第2面12での反射を抑制する光取出し構造部を備えていてもよい。光取出し構造部としては、例えば、2次元周期構造を有した凹凸構造部が挙げられる。凹凸構造部は、例えば、例えば複数の四角錐状の凸部が2次元アレイ状に配列された構成である。2次元周期構造の周期は、活性層5で発光する紫外線の波長に応じて適宜決めればよい。
以上説明した実施形態等から明らかなように、第1の態様に係る紫外線発光素子(10)は、基板(1)と、積層体(2)と、を備える。基板(1)は、その厚さ方向(D1)において互いに反対側にある第1面(11)及び第2面(12)を有する。積層体(2)は、基板(1)の第1面(11)上に設けられている。積層体(2)では、n型半導体層(4)、活性層(5)及びp型半導体層(6)が基板(1)側からこの順に並んでいる。積層体(2)は、積層体(2)の基板(1)とは反対側の表面(21)に形成されて活性層(5)とp型半導体層(6)との積層構造(7)を第1半導体部(71)と第2半導体部(72)とに分離する溝(23)を有する。第1半導体部(71)の面積が第2半導体部(72)の面積よりも大きい。紫外線発光素子(10)は、第1正電極(81)と、第2正電極(82)と、第1負電極(91)と、第2負電極(92)と、を更に備える。第1正電極(81)は、第1半導体部(71)上に形成されている。第2正電極(82)は、第2半導体部(72)上に形成されている。第1負電極(91)は、n型半導体層(4)の活性層(5)側の表面(41)に設けられ、厚さ方向(D1)から見て第1正電極(81)に隣り合う。第2負電極(92)は、n型半導体層(4)の活性層(5)側の表面(41)に設けられ、厚さ方向(D1)から見て第2正電極(82)に隣り合う。
以上の構成により、紫外線発光素子(10)は、光出力の低下を抑制しつつ光出力のモニタリングが可能となる。
第2の態様に係る紫外線発光素子(10)では、第1の態様において、活性層(5)のうち第1半導体部(71)の一部を構成する部分である第1機能部(51)と第2半導体部(72)の一部を構成する部分である第2機能部(52)との互いに対向する端面(513、523)同士が平行である。これにより、紫外線発光素子(10)では、光出力のモニタリング精度の向上を図ることが可能となる。
第3の態様に係る紫外線発光素子(10)では、第1又は2の態様において、厚さ方向(D1)から見てn型半導体層(4)の大きさは、基板(1)の大きさと同じである。これにより、紫外線発光素子(10)では、光出力の低下をより抑制することが可能となる。
第4の態様に係る紫外線発光素子(10)では、第1乃至3の態様のいずれか一つにおいて、第1正電極(81)の面積が第2正電極(82)の面積よりも大きく、第1負電極(91)の面積が第2負電極(92)の面積よりも大きい。これにより、紫外線発光素子(10)では、光出力の低下をより抑制することが可能となる。
第5の態様に係る紫外線発光素子(10)では、第4の態様において、厚さ方向(D1)から見て第1半導体部(71)の外周線が、n型半導体層(4)の外周線に沿っていて、かつ、第2半導体部(72)と第1負電極(91)と第2負電極(92)とを避けるように曲がっている。これにより、紫外線発光素子(10)では、光出力の低下を更に抑制することが可能となる。
1 基板
2 積層体
21 表面
23 溝
11 第1面
12 第2面
4 n型半導体層
41 表面
5 活性層
51 第1機能部
513 端面
52 第2機能部
523 端面
6 p型半導体層
7 積層構造
71 第1半導体部
72 第2半導体部
81 第1正電極
82 第2正電極
91 第1負電極
92 第2負電極
10 紫外線発光素子
D1 厚さ方向

Claims (5)

  1. 厚さ方向において互いに反対側にある第1面及び第2面を有する基板と、
    前記基板の前記第1面上に設けられ、n型半導体層、活性層及びp型半導体層が前記基板側からこの順に並んでいる積層体と、を備え、
    前記積層体は、前記基板とは反対側の表面に形成されて前記活性層と前記p型半導体層との積層構造を第1半導体部と第2半導体部とに分離する溝を有し、
    前記第1半導体部の面積が前記第2半導体部の面積よりも大きく、
    前記第1半導体部上に形成されている第1正電極と、
    前記第2半導体部上に形成されている第2正電極と、
    前記n型半導体層の前記活性層側の表面に設けられ、前記厚さ方向から見て前記第1正電極に隣り合う第1負電極と、
    前記n型半導体層の前記活性層側の前記表面に設けられ、前記厚さ方向から見て前記第2正電極に隣り合う第2負電極と、を更に備える
    ことを特徴とする紫外線発光素子。
  2. 前記活性層のうち前記第1半導体部の一部を構成する部分である第1機能部と前記第2半導体部の一部を構成する部分である第2機能部との互いに対向する端面同士が平行である
    ことを特徴とする請求項1に記載の紫外線発光素子。
  3. 前記厚さ方向から見て前記n型半導体層の大きさは、前記基板の大きさと同じである
    ことを特徴とする請求項1又は2に記載の紫外線発光素子。
  4. 前記第1正電極の面積が前記第2正電極の面積よりも大きく、
    前記第1負電極の面積が前記第2負電極の面積よりも大きい
    ことを特徴とする請求項1乃至3のいずれか一項に記載の紫外線発光素子。
  5. 前記厚さ方向から見て前記第1半導体部の外周線が、前記n型半導体層の外周線に沿っていて、かつ、前記第2半導体部と前記第1負電極と前記第2負電極とを避けるように曲がっている
    ことを特徴とする請求項4に記載の紫外線発光素子。
JP2017126548A 2017-06-28 2017-06-28 紫外線発光素子 Active JP6986697B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017126548A JP6986697B2 (ja) 2017-06-28 2017-06-28 紫外線発光素子

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017126548A JP6986697B2 (ja) 2017-06-28 2017-06-28 紫外線発光素子

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2019009388A true JP2019009388A (ja) 2019-01-17
JP6986697B2 JP6986697B2 (ja) 2021-12-22

Family

ID=65029701

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017126548A Active JP6986697B2 (ja) 2017-06-28 2017-06-28 紫外線発光素子

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP6986697B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113314561A (zh) * 2021-05-27 2021-08-27 复旦大学 一种深紫外波段发光单片集成器件及制备方法

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5130762A (en) * 1990-11-20 1992-07-14 Amp Incorporated Integrated quantum well feedback structure
JP2006054352A (ja) * 2004-08-13 2006-02-23 Seiko Epson Corp 光源装置、プロジェクタ、電子機器
JP2011211189A (ja) * 2010-03-26 2011-10-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co Ltd 白色光、又は、カラー光を生成する光素子
JP2013058729A (ja) * 2011-09-07 2013-03-28 Lg Innotek Co Ltd 発光素子
JP2013535850A (ja) * 2010-08-18 2013-09-12 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング オプトエレクトロニクス半導体チップ、およびオプトエレクトロニクス半導体チップの製造方法
JP2015050461A (ja) * 2013-08-30 2015-03-16 エルジー イノテック カンパニー リミテッド 発光素子パッケージ及びそれを含む車両用照明装置
JP2015070065A (ja) * 2013-09-27 2015-04-13 旭化成株式会社 紫外光発光装置、流体濃度測定装置、透析装置及びオゾン濃度測定装置
JP2016506632A (ja) * 2012-12-27 2016-03-03 ジーイー・ライティング・ソルーションズ,エルエルシー 発光ダイオードチップ用のシステム及び方法
WO2018119340A2 (en) * 2016-12-22 2018-06-28 Lumileds Llc Light emitting diodes with sensor segment for operational feedback
JP2020503679A (ja) * 2016-12-22 2020-01-30 ルミレッズ リミテッド ライアビリティ カンパニー 動作フィードバックのためのセンサセグメントを備えた発光ダイオード

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5130762A (en) * 1990-11-20 1992-07-14 Amp Incorporated Integrated quantum well feedback structure
JP2006054352A (ja) * 2004-08-13 2006-02-23 Seiko Epson Corp 光源装置、プロジェクタ、電子機器
JP2011211189A (ja) * 2010-03-26 2011-10-20 Taiwan Semiconductor Manufacturing Co Ltd 白色光、又は、カラー光を生成する光素子
JP2013535850A (ja) * 2010-08-18 2013-09-12 オスラム オプト セミコンダクターズ ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング オプトエレクトロニクス半導体チップ、およびオプトエレクトロニクス半導体チップの製造方法
JP2013058729A (ja) * 2011-09-07 2013-03-28 Lg Innotek Co Ltd 発光素子
JP2016506632A (ja) * 2012-12-27 2016-03-03 ジーイー・ライティング・ソルーションズ,エルエルシー 発光ダイオードチップ用のシステム及び方法
JP2015050461A (ja) * 2013-08-30 2015-03-16 エルジー イノテック カンパニー リミテッド 発光素子パッケージ及びそれを含む車両用照明装置
JP2015070065A (ja) * 2013-09-27 2015-04-13 旭化成株式会社 紫外光発光装置、流体濃度測定装置、透析装置及びオゾン濃度測定装置
WO2018119340A2 (en) * 2016-12-22 2018-06-28 Lumileds Llc Light emitting diodes with sensor segment for operational feedback
JP2020503679A (ja) * 2016-12-22 2020-01-30 ルミレッズ リミテッド ライアビリティ カンパニー 動作フィードバックのためのセンサセグメントを備えた発光ダイオード

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
ZHENYU JIANG ET AL.: ""Bias-Enhanced Visible-Rejection of GaN Schottky Barrier Ultraviolet Photodetectors"", IEEE PHOTONICS TECHNOLOGY LETTERS, vol. 27, no. 9, JPN6021011476, 1 May 2015 (2015-05-01), pages 994 - 997, XP011578690, ISSN: 0004477540, DOI: 10.1109/LPT.2015.2399302 *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN113314561A (zh) * 2021-05-27 2021-08-27 复旦大学 一种深紫外波段发光单片集成器件及制备方法
CN113314561B (zh) * 2021-05-27 2023-05-09 复旦大学 一种深紫外波段发光单片集成器件及制备方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP6986697B2 (ja) 2021-12-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8124990B2 (en) Semiconductor light emitting device having an electron barrier layer between a plurality of active layers
WO2015151471A1 (ja) 紫外線発光素子及びそれを用いた電気機器
WO2011162180A1 (ja) 紫外半導体発光素子
US11749780B2 (en) Ultraviolet light emitting diode
WO2017134713A1 (ja) 紫外線発光素子
JP6117540B2 (ja) 発光素子パッケージ
JP7118447B2 (ja) 半導体素子
JP2009302314A (ja) GaN系半導体装置
KR101039880B1 (ko) 발광소자 및 발광소자 패키지
US9425355B2 (en) Semiconductor light emitting device
KR101747349B1 (ko) 반도체 발광소자
JP6986697B2 (ja) 紫外線発光素子
US10930813B2 (en) Semiconductor light-emitting array and method of manufacturing the same
TWI437731B (zh) 一種具有提升光取出率之半導體光電元件及其製造方法
US11942573B2 (en) Deep UV light emitting diode
KR101689164B1 (ko) 발광소자
US11367819B2 (en) Light-emitting device array and light-emitting apparatus including light-emitting device array
KR102250523B1 (ko) 발광소자 및 조명시스템
KR102584464B1 (ko) 반도체 소자
KR102643093B1 (ko) 반도체 소자 및 조명장치
JP2015043468A (ja) 紫外半導体発光素子
TW201511328A (zh) 發光二極體
JP6986698B2 (ja) 発光装置及びそれを備える光学分析システム
US20220149256A1 (en) Optoelectronic semiconductor device, optoelectronic semiconductor apparatus and method for manufacturing an optoelectronic semiconductor device
KR102592990B1 (ko) 반도체 소자 및 제조 방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20200420

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20210324

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20210406

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20210607

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20211019

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20211112

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 6986697

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151