JP2018532270A - Insulating layer manufacturing method and multilayer printed circuit board manufacturing method - Google Patents

Insulating layer manufacturing method and multilayer printed circuit board manufacturing method Download PDF

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Abstract

本発明は、コストおよび生産性面において効率性が向上しながら、均一で微細なパターンを実現でき、優秀な機械的物性を確保できる絶縁層の製造方法、および前記絶縁層の製造方法から得られる絶縁層を利用した多層印刷回路基板の製造方法に関する。The present invention is obtained from an insulating layer manufacturing method capable of realizing a uniform and fine pattern and ensuring excellent mechanical properties while improving efficiency in terms of cost and productivity, and the insulating layer manufacturing method. The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed circuit board using an insulating layer.

Description

[関連出願の相互参照]
本出願は、2016年8月9日付の韓国特許出願第10−2016−0101420号および2017年7月31日付の韓国特許出願第10−2017−0097282号に基づく優先権の利益を主張し、当該韓国特許出願の文献に開示された全ての内容は本明細書の一部として含まれる。
[Cross-reference of related applications]
This application claims the benefit of priority based on Korean Patent Application No. 10-2016-0101420 dated August 9, 2016 and Korean Patent Application No. 10-2017-0097282 dated July 31, 2017. All the contents disclosed in the Korean patent application literature are included as part of this specification.

本発明は、絶縁層の製造方法および多層印刷回路基板の製造方法に関する。より詳しくは、コストおよび生産性面において効率性が向上しながら、均一で微細なパターンを実現でき、優れた機械的物性を確保できる絶縁層の製造方法および前記絶縁層の製造方法から得られる絶縁層を利用した多層印刷回路基板の製造方法に関する。   The present invention relates to an insulating layer manufacturing method and a multilayer printed circuit board manufacturing method. In more detail, while improving efficiency in terms of cost and productivity, it is possible to realize a uniform and fine pattern and to ensure excellent mechanical properties, and an insulating layer obtained from the insulating layer manufacturing method The present invention relates to a method for manufacturing a multilayer printed circuit board using layers.

最近の電子機器は、ますます小型化、軽量化、高機能化している。このために、小型機器を中心としてビルドアップPCB(Build−up Printed Circuit Board)の応用分野が急速に拡大することによって、多層印刷回路基板の使用が急速に増えている。   Recent electronic devices are becoming smaller, lighter and more functional. For this reason, the use of multilayer printed circuit boards is rapidly increasing as the application field of build-up PCB (Build-up Printed Circuit Board) is rapidly expanding mainly in small devices.

多層印刷回路基板は、平面的配線から立体的な配線が可能であり、特に産業用電子分野では、IC(integrated circuit)、LSI(large scale integration)などの機能素子の集積度向上と共に電子機器の小型化、軽量化、高機能化、構造的な電気的機能統合、組立時間の短縮およびコスト節減などに有利な製品である。   Multi-layer printed circuit boards can be used in three-dimensional wiring from planar wiring. Especially in the industrial electronics field, the integration of functional elements such as integrated circuits (ICs) and large scale integrations (LSIs) has been improved. This product is advantageous for downsizing, weight reduction, high functionality, structural electrical function integration, assembly time reduction and cost saving.

このような応用領域に使用されるビルドアップPCBは、必ず各層間の連結のためにビアホール(via hole)を形成するが、ビアホールとは、多層印刷回路基板の層間電気的連結通路に当たるものであって、既存では機械的ドリル(Mechanical Drill)で加工したが、回路の微細化によってホールの口径が小さくなりながら、機械的ドリル加工による加工費の増加と微細ホール加工の限界によってレーザを利用した加工方式が代案として浮上してきた。   The build-up PCB used in such an application area always forms a via hole for connection between the layers, and the via hole corresponds to an interlayer electrical connection path of the multilayer printed circuit board. In addition, existing machining is performed with a mechanical drill, but the hole diameter is reduced due to miniaturization of the circuit, while machining using a laser is increased due to the increase in machining cost due to mechanical drilling and the limitations of fine hole machining. A method has emerged as an alternative.

しかし、レーザを利用した加工方式の場合、COまたはYAGレーザドリルを使用しているが、レーザドリルによってビアホールの大きさが決定されるため、例えば、COレーザドリルの場合、40μm以下の直径を有するビアホールを製造しにくいという限界がある。また、多数のビアホールを形成しなければならない場合、コスト負担が大きいという限界もある。 However, in the case of a processing method using a laser, a CO 2 or YAG laser drill is used. Since the size of a via hole is determined by the laser drill, for example, in the case of a CO 2 laser drill, a diameter of 40 μm or less. There is a limit that it is difficult to manufacture a via hole having a gap. In addition, when a large number of via holes must be formed, there is a limit that the cost burden is large.

そこで、上述したレーザ加工技術の代わりに、感光性絶縁材料を利用して低コストで微細な直径を有するビアホールを形成する方法が提案された。具体的に、前記感光性絶縁材料としては、感光性を利用して微細な開口パターンを形成できるソルダレジストといわれる感光性絶縁フィルムが挙げられる。   Therefore, a method for forming a via hole having a fine diameter at low cost using a photosensitive insulating material instead of the laser processing technique described above has been proposed. Specifically, examples of the photosensitive insulating material include a photosensitive insulating film called a solder resist capable of forming a fine opening pattern using photosensitivity.

このような感光性絶縁材料やソルダレジストは、パターン形成のために炭酸ナトリウム現像液を使用する場合と、異なる現像液を使用する場合に分かれる。異なる現像液を使用する場合、感光性絶縁材料やソルダレジストは環境的、コスト的な理由によって実際の工程上で適用が難しいという限界がある。   Such photosensitive insulating materials and solder resists are divided into a case where a sodium carbonate developer is used for pattern formation and a case where a different developer is used. In the case of using different developing solutions, there is a limit that the photosensitive insulating material and the solder resist are difficult to apply in an actual process for environmental and cost reasons.

反面、炭酸ナトリウム現像液を使用する場合、環境親和的であるという長所がある。この場合、感光性を付与するために多数のカルボン酸とアクリレート基を含む酸変性アクリレート樹脂を使用しているが、大部分のアクリレート基とカルボキシ基はエステル結合で連結されるので、所望の形に重合するために重合禁止剤などを含むようになり、紫外線照射によってラジカル反応を起こすために光開始剤なども含むようになる。   On the other hand, the use of a sodium carbonate developer has the advantage of being environmentally friendly. In this case, an acid-modified acrylate resin containing a large number of carboxylic acids and acrylate groups is used to impart photosensitivity, but most of the acrylate groups and carboxy groups are linked by ester bonds, so that the desired shape is obtained. In order to polymerize, a polymerization inhibitor or the like is included, and in order to cause a radical reaction by ultraviolet irradiation, a photoinitiator or the like is also included.

しかし、前記重合禁止剤または光開始剤などは高温条件で樹脂外部に拡散されつつ、半導体パッケージ工程中または完了後に、絶縁層や導電層との界面脱着を発生させることができる。また、樹脂内のエステル結合は、高い湿度で加水分解反応を起こし、樹脂の架橋密度を減少させて樹脂の吸湿率を上昇させる原因となり、このように吸湿率が高い場合、重合禁止剤または光開始剤などが高温条件で樹脂外部に拡散されて半導体パッケージ工程中または完了後に絶縁層や導電層との界面脱着を発生させることができ、HAST特性も悪くなるという限界があった。   However, the polymerization inhibitor or the photoinitiator is diffused to the outside of the resin under a high temperature condition, and can cause interface desorption with the insulating layer or the conductive layer during or after the semiconductor package process. In addition, the ester bond in the resin causes a hydrolysis reaction at high humidity, causing a decrease in the crosslinking density of the resin and increasing the moisture absorption rate of the resin. Initiators and the like are diffused to the outside of the resin under high temperature conditions, so that interface desorption with the insulating layer and the conductive layer can occur during or after the semiconductor package process, and the HAST characteristics are also deteriorated.

一方、電子機器の小型化に伴い、印刷回路基板も小型化で厚さが漸次薄くなっており、薄い厚さの基板にも作業するために、基板に使用される絶縁材料にも高い剛性が要求されている。   On the other hand, with the miniaturization of electronic equipment, printed circuit boards are also becoming smaller and thinner, and the thickness of the printed circuit board is gradually reduced, so that the insulation material used for the board also has high rigidity. It is requested.

感光性絶縁材料やソルダレジストの剛性を向上させるためには、樹脂中の無機フィラーの比率を増加させなければならないが、不透明な無機フィラーの場合には、光を通過させないという問題があり、透明な無機フィラーの場合も、光を散乱させて感光性を利用した開口パターンの形成が難しくなるという限界があった。   In order to improve the rigidity of the photosensitive insulating material and solder resist, the ratio of the inorganic filler in the resin must be increased. However, in the case of an opaque inorganic filler, there is a problem that light does not pass through, and transparent Even in the case of such an inorganic filler, there is a limit that it becomes difficult to form an opening pattern using light sensitivity by scattering light.

そこで、絶縁層や導電層との界面脱着を防止しながら、低廉なコストで均一で微細なパターンを実現でき、剛性に優れた絶縁層の製造方法の開発が要求されている。   Therefore, there is a demand for the development of a method for manufacturing an insulating layer having excellent rigidity that can realize a uniform and fine pattern at a low cost while preventing desorption from the interface with the insulating layer or the conductive layer.

本発明は、コストおよび生産性面において効率性が向上しながら、均一で微細なパターンを実現でき、優れた機械的物性を確保できる絶縁層の製造方法を提供するものである。   The present invention provides a method for manufacturing an insulating layer capable of realizing a uniform and fine pattern and ensuring excellent mechanical properties while improving efficiency in terms of cost and productivity.

また、本発明は、前記絶縁層の製造方法から得られる絶縁層を利用した多層印刷回路基板の製造方法を提供するものである。   Moreover, this invention provides the manufacturing method of the multilayer printed circuit board using the insulating layer obtained from the manufacturing method of the said insulating layer.

本明細書では、導体配線上にアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層を形成する段階;前記高分子樹脂層上に感光性樹脂層を形成する段階;前記感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像して感光性樹脂パターンを形成し、かつ前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層もアルカリ現像する段階;前記アルカリ現像以降、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階;および前記感光性樹脂パターンを剥離する段階を含む、絶縁層の製造方法が提供される。   In the present specification, a step of forming a polymer resin layer containing an alkali-soluble resin and a thermosetting binder on a conductor wiring; a step of forming a photosensitive resin layer on the polymer resin layer; A step of forming a photosensitive resin pattern by exposure and alkali development, and an alkali development of the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern; a step of thermosetting the polymer resin layer after the alkali development; and A method for manufacturing an insulating layer is provided, including a step of peeling the photosensitive resin pattern.

また、本明細書では、前記絶縁層の製造方法によって製造された絶縁層上にパターンが形成された金属基板を形成する段階を含む、多層印刷回路基板の製造方法が提供される。   The present specification also provides a method for manufacturing a multilayer printed circuit board, including a step of forming a metal substrate having a pattern formed on an insulating layer manufactured by the method for manufacturing an insulating layer.

以下、発明の具体的な実施形態による絶縁層の製造方法および多層印刷回路基板の製造方法についてより詳細に説明する。   Hereinafter, an insulating layer manufacturing method and a multilayer printed circuit board manufacturing method according to specific embodiments of the present invention will be described in more detail.

本明細書において、ハロゲン基の例としてはフッ素、塩素、臭素またはヨウ素がある。   In the present specification, examples of the halogen group include fluorine, chlorine, bromine or iodine.

本明細書において、前記アルキル基は直鎖または分枝鎖であってもよく、炭素数は特に限定されないが、1〜40が好ましい。一実施形態によれば、前記アルキル基の炭素数は1〜20である。また一つの実施形態によれば、前記アルキル基の炭素数は1〜10である。また一つの実施形態によれば、前記アルキル基の炭素数は1〜6である。アルキル基の具体的な例としてはメチル、エチル、プロピル、n−プロピル、イソプロピル、ブチル、n−ブチル、イソブチル、tert−ブチル、sec−ブチル、1−メチル−ブチル、1−エチル−ブチル、ペンチル、n−ペンチル、イソペンチル、ネオペンチル、tert−ペンチル、ヘキシル、n−ヘキシル、1−メチルペンチル、2−メチルペンチル、4−メチル−2−ペンチル、3,3−ジメチルブチル、2−エチルブチル、ヘプチル、n−ヘプチル、1−メチルヘキシル、シクロペンチルメチル、シクロヘキシルメチル、オクチル、n−オクチル、tert−オクチル、1−メチルヘプチル、2−エチルヘキシル、2−プロピルペンチル、n−ノニル、2,2−ジメチルヘプチル、1−エチル−プロピル、1,1−ジメチル−プロピル、イソヘキシル、2−メチルペンチル、4−メチルヘキシル,5−メチルヘキシルなどが挙げられるが、これらに限定されるものではない。   In the present specification, the alkyl group may be linear or branched, and the number of carbon atoms is not particularly limited, but 1 to 40 is preferable. According to one embodiment, the alkyl group has 1 to 20 carbon atoms. According to another embodiment, the alkyl group has 1 to 10 carbon atoms. According to another embodiment, the alkyl group has 1 to 6 carbon atoms. Specific examples of the alkyl group include methyl, ethyl, propyl, n-propyl, isopropyl, butyl, n-butyl, isobutyl, tert-butyl, sec-butyl, 1-methyl-butyl, 1-ethyl-butyl and pentyl. N-pentyl, isopentyl, neopentyl, tert-pentyl, hexyl, n-hexyl, 1-methylpentyl, 2-methylpentyl, 4-methyl-2-pentyl, 3,3-dimethylbutyl, 2-ethylbutyl, heptyl, n-heptyl, 1-methylhexyl, cyclopentylmethyl, cyclohexylmethyl, octyl, n-octyl, tert-octyl, 1-methylheptyl, 2-ethylhexyl, 2-propylpentyl, n-nonyl, 2,2-dimethylheptyl, 1-ethyl-propyl, 1,1-dimethyl- Propyl, isohexyl, 2-methylpentyl, 4-methylhexyl, 5-and methyl hexyl and the like, but is not limited thereto.

本明細書において、アリール基は特に限定されないが、炭素数6〜60が好ましく、単環式アリール基または多環式アリール基であってもよい。一実施形態によれば、前記アリール基の炭素数は6〜30である。一実施形態によれば、前記アリール基の炭素数は6〜20である。前記アリール基が単環式アリール基としてはフェニル基、ビフェニル基、ターフェニル基などが挙げられるが、これに限定されるものではない。前記多環式アリール基としてはナフチル基、アントラセニル基、フェナントリル基、ピレニル基、ペリレニル基、クリセニル基、フルオレニル基などが挙げられるが、これに限定されるものではない。   In the present specification, the aryl group is not particularly limited, but preferably has 6 to 60 carbon atoms, and may be a monocyclic aryl group or a polycyclic aryl group. According to one embodiment, the aryl group has 6 to 30 carbon atoms. According to one embodiment, the aryl group has 6 to 20 carbon atoms. Examples of the monocyclic aryl group as the aryl group include, but are not limited to, a phenyl group, a biphenyl group, and a terphenyl group. Examples of the polycyclic aryl group include, but are not limited to, naphthyl group, anthracenyl group, phenanthryl group, pyrenyl group, perylenyl group, chrycenyl group, and fluorenyl group.

発明の一実施形態によれば、導体配線上にアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層を形成する段階;前記高分子樹脂層上に感光性樹脂層を形成する段階;前記感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像して感光性樹脂パターンを形成し、かつ前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層もアルカリ現像する段階;前記アルカリ現像以降、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階;および前記感光性樹脂パターンを剥離する段階を含む、絶縁層の製造方法が提供され得る。   According to an embodiment of the invention, forming a polymer resin layer containing an alkali-soluble resin and a thermosetting binder on a conductor wiring; forming a photosensitive resin layer on the polymer resin layer; The photosensitive resin layer is exposed to light and alkali developed to form a photosensitive resin pattern, and the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern is alkali developed; after the alkali development, the polymer resin layer is thermally cured And a method of manufacturing the insulating layer, including the steps of peeling the photosensitive resin pattern.

本発明者らは、前記一実施形態の絶縁層の製造方法によれば、アルカリ可溶性を有する高分子樹脂層上に形成されたパターン化された感光性樹脂層がアルカリ現像液のマスクの役割を果たして、前記感光性樹脂層パターンによって露出した高分子樹脂層の部分はアルカリ現像を通して除去され、前記感光性樹脂層パターンによって露出しない高分子樹脂層の部分は、アルカリ現像液から保護されることを確認した。   According to the method for manufacturing an insulating layer of the one embodiment, the patterned photosensitive resin layer formed on the alkali-soluble polymer resin layer serves as a mask for an alkaline developer. The portion of the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin layer pattern is removed through alkali development, and the portion of the polymer resin layer not exposed by the photosensitive resin layer pattern is protected from the alkaline developer. confirmed.

これを利用して、レーザ加工工程に比べて、より均一で微細なパターンを低廉なコストで速やかに形成することができ、製造された最終絶縁層に優れた物性を実現できることを実験を通して確認して発明を完成した。   Using this, it was confirmed through experiments that a more uniform and fine pattern can be formed quickly and at a lower cost compared to the laser processing process, and that excellent physical properties can be realized in the manufactured final insulating layer. To complete the invention.

具体的に、前記感光性樹脂層には感光特性を利用して微細で均一なパターンが形成されることができ、前記感光性樹脂層に形成されたパターンを通して表面が露出した一部の高分子樹脂層だけがアルカリ現像液と選択的に接触しながら、従来のレーザを通した加工工程に比べて、微細で均一なパターンを形成することができる。   Specifically, a fine and uniform pattern can be formed on the photosensitive resin layer using photosensitive characteristics, and a part of the polymer whose surface is exposed through the pattern formed on the photosensitive resin layer. Only the resin layer is in selective contact with the alkaline developer, and a fine and uniform pattern can be formed as compared with a conventional laser processing step.

さらに、感光性樹脂層の現像を通したパターン形成と高分子樹脂層の現像を通したパターン形成は同時に行われることによって、感光性樹脂層に形成された微細パターンが高分子樹脂層にも同様に形成されることができ、パターン形成工程が容易で、かつ速かに行われて、大量生産に適用時に工程の効率性を向上させることができる。   Furthermore, the pattern formation through the development of the photosensitive resin layer and the pattern formation through the development of the polymer resin layer are performed at the same time, so that the fine pattern formed on the photosensitive resin layer is also applied to the polymer resin layer. The pattern forming process is easy and quick, and the efficiency of the process can be improved when applied to mass production.

また、パターンが形成された高分子樹脂層に対して、熱硬化を先に進行した以後、感光性樹脂層パターンに対する剥離を進行して、高分子樹脂層のパターンはそのまま維持しながら、感光性樹脂層に対する選択的な除去を容易に行うことができる。   In addition, after the thermosetting has proceeded with respect to the polymer resin layer on which the pattern is formed, the photosensitive resin layer pattern is peeled off, and the pattern of the polymer resin layer is maintained as it is. The selective removal with respect to the resin layer can be easily performed.

しかも、最終製造される絶縁層には、非感光性絶縁材料である熱硬化性樹脂の硬化物が含まれることによって、従来の感光性絶縁材料を通した絶縁層の製造時より光開始剤または重合禁止剤の含有量が非常に減少するか、または全く使用されないこともあった。これによって、光開始剤または重合禁止剤によって発生可能な絶縁層や導電層との界面脱着性が減少するなど、優れた機械的物性を有する絶縁層を製造することができる。また、非感光性絶縁材料が含まれて無機フィラーの透明な程度と関係なく多量の無機フィラー導入が可能であるため、多量の無機フィラーを導入しても絶縁層の感光性に影響を与えないこともある。   Moreover, the final manufactured insulating layer contains a cured product of a thermosetting resin that is a non-photosensitive insulating material, so that a photoinitiator or In some cases, the content of the polymerization inhibitor was greatly reduced or not used at all. This makes it possible to produce an insulating layer having excellent mechanical properties, such as an interface desorption property with an insulating layer or a conductive layer that can be generated by a photoinitiator or a polymerization inhibitor is reduced. In addition, since a non-photosensitive insulating material is included and a large amount of inorganic filler can be introduced regardless of the transparent degree of the inorganic filler, even if a large amount of inorganic filler is introduced, the photosensitivity of the insulating layer is not affected. Sometimes.

具体的に、前記絶縁層の製造方法は、導体配線上にアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層を形成する段階;前記高分子樹脂層上に感光性樹脂層を形成する段階;前記感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像して感光性樹脂パターンを形成し、かつ前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層もアルカリ現像する段階;前記アルカリ現像以降、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階;および前記感光性樹脂パターンを剥離する段階を含むことができる。   Specifically, the manufacturing method of the insulating layer includes a step of forming a polymer resin layer containing an alkali-soluble resin and a thermosetting binder on a conductor wiring; a step of forming a photosensitive resin layer on the polymer resin layer A step in which the photosensitive resin layer is exposed and alkali developed to form a photosensitive resin pattern, and the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern is also alkali developed; after the alkali development, the polymer resin layer Heat-curing; and peeling the photosensitive resin pattern.

以下、各段階別に具体的な内容を説明する。   Hereinafter, specific contents will be described for each stage.

導体配線上にアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層を形成する段階   Forming a polymer resin layer containing an alkali-soluble resin and a thermosetting binder on the conductor wiring;

前記高分子樹脂層は、アルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂組成物の乾燥を通して形成されたフィルムを意味する。   The polymer resin layer means a film formed through drying of a polymer resin composition containing an alkali-soluble resin and a thermosetting binder.

前記高分子樹脂層は単独で存在したり、回路基板、シート、多層プリント配線板などの半導体材料を含む基材上に形成された状態で存在することができ、前記高分子樹脂層を基材上に形成する方法の例は特に限定されないが、例えば、前記高分子樹脂組成物を基材上に直接コーティングしたり、キャリアフィルム上に高分子樹脂組成物を塗布した状態で、コーティングを行った後、キャリアフィルムを除去する方法などを使用することができる。   The polymer resin layer can be present alone or in a state where it is formed on a base material containing a semiconductor material such as a circuit board, a sheet, or a multilayer printed wiring board. Although the example of the method to form on is not specifically limited, For example, it coated in the state which coated the said polymeric resin composition directly on the base material, or apply | coated the polymeric resin composition on the carrier film Thereafter, a method of removing the carrier film or the like can be used.

前記高分子樹脂層は、アルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含むことができる。   The polymer resin layer may include an alkali-soluble resin and a thermosetting binder.

前記高分子樹脂層は、アルカリ可溶性樹脂100重量部に対して熱硬化性バインダー1〜150重量部、または10〜100重量部、または20〜50重量部を含むことができる。前記熱硬化性バインダーの含有量が多すぎると前記高分子樹脂層の現像性が落ちて、強度が低下することができる。反対に、熱硬化性バインダーの含有量が少なすぎると、前記高分子樹脂層が過度に現像されるだけでなく、コーティング時に均一性が低下することができる。   The polymer resin layer may include 1 to 150 parts by weight, 10 to 100 parts by weight, or 20 to 50 parts by weight of a thermosetting binder with respect to 100 parts by weight of the alkali-soluble resin. When there is too much content of the said thermosetting binder, the developability of the said polymeric resin layer will fall, and intensity | strength can fall. On the other hand, when the content of the thermosetting binder is too small, not only the polymer resin layer is excessively developed but also the uniformity during coating can be lowered.

前記熱硬化性バインダーは、熱硬化可能な作用基、オキセタニル基、環状エーテル基、環状チオエーテル基、シアノ基、マレイミド基およびベンゾオキサジン基からなる群より選択された1種以上の作用基およびエポキシ基を含むことができる。すなわち、前記熱硬化性バインダーはエポキシ基を必ず含み、エポキシ基以外に、オキセタニル基、環状エーテル基、環状チオエーテル基、シアノ(cyanide)基、マレイミド(maleimide)基、ベンゾオキサジン(benzoxazine)基、またはこれらの2種以上を混合して含むことができる。このような熱硬化性バインダーは、熱硬化によってアルカリ可溶性樹脂などと架橋結合を形成して、絶縁層の耐熱性または機械的物性を担保することができる。   The thermosetting binder includes at least one functional group selected from the group consisting of a thermosetting functional group, an oxetanyl group, a cyclic ether group, a cyclic thioether group, a cyano group, a maleimide group, and a benzoxazine group, and an epoxy group. Can be included. That is, the thermosetting binder necessarily includes an epoxy group, and besides the epoxy group, an oxetanyl group, a cyclic ether group, a cyclic thioether group, a cyanoide group, a maleimide group, a benzoxazine group, or Two or more of these may be mixed and included. Such a thermosetting binder can ensure the heat resistance or mechanical properties of the insulating layer by forming a cross-linking bond with an alkali-soluble resin or the like by thermosetting.

より具体的に、前記熱硬化性バインダーとしては、分子中に上述した作用基を2つ以上含む多官能性樹脂化合物を使用することができる。   More specifically, as the thermosetting binder, a multifunctional resin compound containing two or more functional groups described above in the molecule can be used.

前記多官能性樹脂化合物は、分子中に2個以上の環状エーテル基および/または環状チオエーテル基(以下、環状(チオ)エーテル基という)を含む樹脂を含んでもよい。   The polyfunctional resin compound may include a resin containing two or more cyclic ether groups and / or cyclic thioether groups (hereinafter referred to as cyclic (thio) ether groups) in the molecule.

前記分子中に2個以上の環状(チオ)エーテル基を含む熱硬化性バインダーは、分子中に3、4または5員環の環状エーテル基、または環状チオエーテル基のうちのいずれか一方または2種の基を少なくとも2個以上有する化合物を含んでもよい。   The thermosetting binder containing two or more cyclic (thio) ether groups in the molecule is either one or two of three, four or five-membered cyclic ether groups or cyclic thioether groups in the molecule. A compound having at least two groups may be included.

前記分子中に2個以上の環状チオエーテル基を有する化合物としては、例えば、ジャパンエポキシレジン社製のビスフェノールA型エピスルフィド樹脂YL7000などが挙げられる。   Examples of the compound having two or more cyclic thioether groups in the molecule include bisphenol A type episulfide resin YL7000 manufactured by Japan Epoxy Resins.

また、前記多官能性樹脂化合物は、分子中に少なくとも2個以上のエポキシ基を含む多官能エポキシ化合物、分子中に少なくとも2個以上のオキセタニル基を含む多官能オキセタン化合物、または分子中に2個以上のチオエーテル基を含むエピスルフィド樹脂、分子中に少なくとも2個以上のシアノ基を含む多官能シアネートエステル化合物、または分子中に少なくとも2個以上のベンゾオキサジン基を含む多官能ベンゾオキサジン化合物などを含んでもよい。   The polyfunctional resin compound is a polyfunctional epoxy compound containing at least two or more epoxy groups in the molecule, a polyfunctional oxetane compound containing at least two oxetanyl groups in the molecule, or two in the molecule. Including an episulfide resin containing the above thioether group, a polyfunctional cyanate ester compound containing at least two cyano groups in the molecule, or a polyfunctional benzoxazine compound containing at least two benzoxazine groups in the molecule Good.

前記多官能エポキシ化合物の具体的な例としては、例えば、ビスフェノールA型エポキシ樹脂、水素添加ビスフェノールA型エポキシ樹脂、臭素化ビスフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エポキシ樹脂、ビスフェノールS型エポキシ樹脂、ノボラック型エポキシ樹脂、フェノールノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型エポキシ樹脂、N−グリシジル型エポキシ樹脂、ビスフェノールAのノボラック型エポキシ樹脂、ビキシレノール型エポキシ樹脂、ビフェノール型エポキシ樹脂、キレート型エポキシ樹脂、グリオキサル型エポキシ樹脂、アミノ基含有エポキシ樹脂、ゴム変性エポキシ樹脂、ジシクロペンタジエンフェノリック型エポキシ樹脂、ジグリシジルフタレート樹脂、ヘテロサイクリックエポキシ樹脂、テトラグリシジルキシレノイルエタン樹脂、シリコン変性エポキシ樹脂、ε−カプロラクトン変性エポキシ樹脂などが挙げられる。また、難燃性付与のために、リンなどの原子がその構造中に導入されたものを使用してもよい。これらのエポキシ樹脂は熱硬化することにより、硬化被膜の密着性、はんだ耐熱性、無電解メッキ耐性などの特性を向上させる。   Specific examples of the polyfunctional epoxy compound include, for example, bisphenol A type epoxy resin, hydrogenated bisphenol A type epoxy resin, brominated bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, and novolak. Type epoxy resin, phenol novolac type epoxy resin, cresol novolac type epoxy resin, N-glycidyl type epoxy resin, bisphenol A novolac type epoxy resin, bixylenol type epoxy resin, biphenol type epoxy resin, chelate type epoxy resin, glyoxal type epoxy Resin, amino group-containing epoxy resin, rubber-modified epoxy resin, dicyclopentadiene phenolic epoxy resin, diglycidyl phthalate resin, heterocyclic epoxy resin, Tiger glycidyl xylenoyl yl ethane resins, silicone-modified epoxy resins, such as ε- caprolactone-modified epoxy resin. Moreover, you may use what introduced atoms, such as phosphorus, in the structure for flame retardance provision. These epoxy resins are thermally cured to improve properties such as adhesion of the cured film, solder heat resistance, and electroless plating resistance.

前記多官能オキセタン化合物としては、ビス[(3−メチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]エーテル、ビス[(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]エーテル、1,4−ビス[(3−メチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]ベンゼン、1,4−ビス[(3−エチル−3−オキセタニルメトキシ)メチル]ベンゼン、(3−メチル−3−オキセタニル)メチルアクリレート、(3−エチル−3−オキセタニル)メチルアクリレート、(3−メチル−3−オキセタニル)メチルメタクリレート、(3−エチル−3−オキセタニル)メチルメタクリレートやこれらのオリゴマーまたは共重合体などの多官能オキセタン類以外に、オキセタンアルコールとノボラック樹脂、ポリ(p−ヒドロキシスチレン)、カルド型ビスフェノール類、カリックスアレーン類、カリックスレゾルシンアレーン類、またはシルセスキオキサンなどのヒドロキシ基を有する樹脂とのエーテル化物などが挙げられる。その他の、オキセタン環を有する不飽和モノマーとアルキル(メト)アクリレートとの共重合体なども挙げられる。   Examples of the polyfunctional oxetane compound include bis [(3-methyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] ether, bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] ether, 1,4-bis [(3-methyl -3-Oxetanylmethoxy) methyl] benzene, 1,4-bis [(3-ethyl-3-oxetanylmethoxy) methyl] benzene, (3-methyl-3-oxetanyl) methyl acrylate, (3-ethyl-3-oxetanyl) In addition to polyfunctional oxetanes such as methyl acrylate, (3-methyl-3-oxetanyl) methyl methacrylate, (3-ethyl-3-oxetanyl) methyl methacrylate and oligomers or copolymers thereof, oxetane alcohol and novolak resin, Poly (p-hydroxystyrene), cardo bisphenol , Calixarenes, calix resorcin arenes, or the like ethers of a resin having a hydroxy group such as silsesquioxane and the like. Other examples include a copolymer of an unsaturated monomer having an oxetane ring and an alkyl (meth) acrylate.

前記多官能シアネートエステル化合物の例としては、ビスフェノールA型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールE型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールF型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールS型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールM型シアネートエステル樹脂、ノボラック型シアネートエステル樹脂、フェノールノボラック型シアネートエステル樹脂、クレゾールノボラック型シアネートエステル樹脂、ビスフェノールAのノボラック型シアネートエステル樹脂、ビフェノール型シアネートエステル樹脂やこれらのオリゴマーまたは共重合体などが挙げられる。   Examples of the polyfunctional cyanate ester compound include bisphenol A type cyanate ester resin, bisphenol E type cyanate ester resin, bisphenol F type cyanate ester resin, bisphenol S type cyanate ester resin, bisphenol M type cyanate ester resin, and novolak type cyanate ester. Examples thereof include resins, phenol novolac-type cyanate ester resins, cresol novolac-type cyanate ester resins, bisphenol A novolac-type cyanate ester resins, biphenol-type cyanate ester resins and oligomers or copolymers thereof.

前記多官能マレイミド化合物の例としては、4,4’−ジフェニルメタンビスマレイミド(4,4’−diphenylmethane bismaleimide)、フェニルメタンビスマレイミド(phenylmethane bismaleimide)、m−フェニルメタンビスマレイミド(m−phenylmethane bismaleimide)、ビスフェノールAジフェニルエーテルビスマレイミド(bisphenol A diphenylether bismaleimide)、3,3’−ジメチル−5,5’−ジエチル−4,4’−ジフェニルメタンビスマレイミド(3,3’−dimethyl−5,5’−diethyl−4,4’−diphenylmethane bismaleimide)、4−メチル−1,3−フェニレンビスマレイミド(4−methyl−1,3−phenylene bismaleimide)、1,6’−ビスマレイミド−(2,2,4−トリメチル)ヘキサン(1,6’−bismaleimide−(2,2,4−trimethyl)hexane)などが挙げられる。   Examples of the polyfunctional maleimide compound include 4,4'-diphenylmethane bismaleimide (4,4'-diphenylmethane bismaleimide), phenylmethane bismaleimide, m-phenylmethane bismaleimide, and m-phenylmethane bismaleimide. Bisphenol A diphenyl ether bismaleimide, 3,3′-dimethyl-5,5′-diethyl-4,4′-diphenylmethane bismaleimide (3,3′-dimethyl-5,5′-diethyl-4) , 4'-diphenylmethane bismaleimide), 4 Methyl-1,3-phenylenebismaleimide (4-methyl-1,3-phenylene bismaleimide), 1,6′-bismaleimide- (2,2,4-trimethyl) hexane (1,6′-bismaleimide- (2 , 2,4-trimethyl) hexane) and the like.

前記多官能ベンゾオキサジン化合物の例としては、ビスフェノールA型ベンゾオキサジン樹脂、ビスフェノールF型ベンゾオキサジン樹脂、フェノールフタレイン型ベンゾオキサジン樹脂、チオジフェノール型ベンゾオキサジン樹脂、ジシクロペンタジエン型ベンゾオキサジン樹脂、3,3’−(メチレン−1,4−ジフェニレン)ビス(3,4−ジヒドロ−2H−1,3−ベンゾオキサジン(3,3’−(methylene−1,4−diphenylene)bis(3,4−dihydro−2H−1,3−benzoxazine)樹脂などが挙げられる。   Examples of the polyfunctional benzoxazine compound include bisphenol A type benzoxazine resin, bisphenol F type benzoxazine resin, phenolphthalein type benzoxazine resin, thiodiphenol type benzoxazine resin, dicyclopentadiene type benzoxazine resin, 3 , 3 ′-(methylene-1,4-diphenylene) bis (3,4-dihydro-2H-1,3-benzoxazine (3,3 ′-(methylene-1,4-diphenylene) bis (3,4) dihydro-2H-1,3-benzoxazine) resin and the like.

前記多官能性樹脂化合物のより具体的な例としては、国都化学(株)製のYDCN−500−80P、ロンザジャパン(株)製のフェノールノボラック型シアネートエステル樹脂PT−30S、大和化成工業(株)製のフェニルメタン型マレイミド樹脂BMI−2300、四国化成工業(株)製のP−d型ベンゾオキサジン樹脂などが挙げられる。   More specific examples of the polyfunctional resin compound include YDCN-500-80P manufactured by Kokuto Chemical Co., Ltd., phenol novolak-type cyanate ester resin PT-30S manufactured by Lonza Japan Co., Ltd., Daiwa Kasei Kogyo Co., Ltd. And phenylmethane type maleimide resin BMI-2300 manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd. and Pd type benzoxazine resin.

一方、前記アルカリ可溶性樹脂は酸性作用基;およびアミノ基で置換された環状イミド作用基をそれぞれ少なくとも1つ以上、または2つ以上含むことができる。前記酸性作用基の例は特に限定されないが、例えば、カルボキシ基またはフェノール基を含むことができる。前記アルカリ可溶性樹脂は、酸性作用基を少なくとも1つ以上、または2つ以上含んで前記高分子樹脂層がより高いアルカリ現像性を示すようにし、高分子樹脂層の現像速度を調節できる。   Meanwhile, the alkali-soluble resin may include at least one or two or more cyclic imide functional groups each substituted with an amino group; and an amino group. Although the example of the said acidic functional group is not specifically limited, For example, a carboxy group or a phenol group can be included. The alkali-soluble resin contains at least one or two or more acidic functional groups so that the polymer resin layer exhibits higher alkali developability, and the development speed of the polymer resin layer can be adjusted.

前記アミノ基で置換された環状イミド作用基は、作用基構造内にアミノ基と環状イミド基を含んでおり、少なくとも1つ以上、または2つ以上含まれることができる。前記アルカリ可溶性樹脂が前記アミノ基で置換された環状イミド作用基を少なくとも1つ以上、または2つ以上含有することによって、前記アルカリ可溶性樹脂は、アミノ基に含まれている活性水素が多数存在する構造を有するようになり、熱硬化時に熱硬化性バインダーとの反応性が向上しながら硬化密度を高めて、耐熱信頼性および機械的性質を高めることができる。   The cyclic imide functional group substituted with the amino group includes an amino group and a cyclic imide group in the functional group structure, and may be included in at least one or two or more. When the alkali-soluble resin contains at least one or two or more cyclic imide functional groups substituted with the amino group, the alkali-soluble resin has a large number of active hydrogens contained in the amino group. It has a structure and can improve the heat density and mechanical properties by increasing the curing density while improving the reactivity with the thermosetting binder during thermosetting.

また、前記環状イミド作用基がアルカリ可溶性樹脂内に多数存在することによって、環状イミド作用基に含まれているカルボニル基と3級アミン基によって極性が高くなって、前記アルカリ可溶性樹脂の界面接着力を高めることができる。これによって、前記アルカリ可溶性樹脂が含まれている高分子樹脂層は、上部に積層される金属層との界面接着力が高くなることができ、具体的に、金属層上部に積層されたキャリアフィルムと金属層との間の界面接着力より高い接着力を有することができるので、後述するように、キャリアフィルムと金属層との間の物理的剥離が可能になる。   Further, since a large number of the cyclic imide functional groups are present in the alkali-soluble resin, the polarity is increased by the carbonyl group and the tertiary amine group contained in the cyclic imide functional group, and the interfacial adhesive force of the alkali-soluble resin is increased. Can be increased. As a result, the polymer resin layer containing the alkali-soluble resin can increase the interfacial adhesive force with the metal layer laminated on the upper part, specifically, the carrier film laminated on the metal layer upper part. As described later, physical peeling between the carrier film and the metal layer becomes possible.

より具体的に、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基は、下記の化学式1で表される作用基を含むことができる。   More specifically, the cyclic imide functional group substituted with the amino group may include a functional group represented by the following chemical formula 1.

Figure 2018532270
Figure 2018532270

前記化学式1において、Rは炭素数1〜10、または1〜5、または1〜3のアルキレン基またはアルケニル基であり、“”は結合点を意味する。前記アルキレン基は、アルカン(alkane)から由来する2価の作用基であって、例えば、直鎖型、分枝型または環状のメチレン基、エチレン基、プロピレン基、イソブチレン基、sec−ブチレン基、tert−ブチレン基、ペンチレン基、へキシレン基などが挙げられる。前記アルキレン基に含まれている一つ以上の水素原子は異なる置換基で置換されていてもよく、前記置換基の例としては炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数2〜10のアルキニル基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数2〜12のヘテロアリール基、炭素数6〜12のアリールアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、アミノ基、アミジノ基、ニトロ基、アミド基、カルボニル基、ヒドロキシ基、スルホニル基、カルバメート基、炭素数1〜10のアルコキシ基などが挙げられる。 In Chemical Formula 1, R 1 is an alkylene group or alkenyl group having 1 to 10 carbon atoms, 1 to 5 carbon atoms, or 1 to 3 carbon atoms, and “ * ” means a point of attachment. The alkylene group is a divalent functional group derived from alkane, for example, a linear, branched or cyclic methylene group, ethylene group, propylene group, isobutylene group, sec-butylene group, Examples thereof include a tert-butylene group, a pentylene group, and a hexylene group. One or more hydrogen atoms contained in the alkylene group may be substituted with different substituents. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms and an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms. , Alkynyl group having 2 to 10 carbon atoms, aryl group having 6 to 12 carbon atoms, heteroaryl group having 2 to 12 carbon atoms, arylalkyl group having 6 to 12 carbon atoms, halogen atom, cyano group, amino group, amidino group , A nitro group, an amide group, a carbonyl group, a hydroxy group, a sulfonyl group, a carbamate group, an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms, and the like.

前記「置換」という用語は、化合物内の水素原子の代わりに、他の作用基が結合することを意味し、置換される位置は、水素原子の置換される位置すなわち、置換基が置換可能な位置であれば限定はなく、2つ以上置換される場合、2つ以上の置換基は、互いに同一または異なっていてもよい。   The term “substituted” means that another functional group is bonded in place of a hydrogen atom in a compound, and the substituted position is a position where a hydrogen atom is substituted, that is, the substituent can be substituted. There is no limitation as long as it is a position, and when two or more substituents are substituted, the two or more substituents may be the same or different from each other.

前記アルケニル基は、上述したアルキレン基の中間や末端に炭素−炭素二重結合を1個以上含有していることを意味し、例えば、エチレン、プロピレン、ブチレン、へキシレン、アセチレンなどが挙げられる。前記アルケニル基のうちの一つ以上の水素原子は、前記アルキレン基の場合と同様の置換基で置換可能である。   The alkenyl group means that one or more carbon-carbon double bonds are contained in the middle or terminal of the above-described alkylene group, and examples thereof include ethylene, propylene, butylene, hexylene, and acetylene. One or more hydrogen atoms in the alkenyl group can be substituted with the same substituent as in the alkylene group.

好ましくは、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基は、下記の化学式2で表される作用基でありうる。   Preferably, the cyclic imide functional group substituted with the amino group may be a functional group represented by the following chemical formula 2.

Figure 2018532270
Figure 2018532270

前記化学式2において、“”は結合点を意味する。 In Chemical Formula 2, “ * ” means a point of attachment.

前記アルカリ可溶性樹脂は前述のように、酸性作用基と共にアミノ基で置換された環状イミド作用基を含み、具体的に、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基の少なくとも一つの末端に酸性作用基が結合することができる。この時、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基と酸性作用基は置換もしくは非置換のアルキレン基または置換もしくは非置換のアリーレン基を媒介として結合でき、例えば、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基に含まれているアミノ基の末端に置換もしくは非置換のアルキレン基または置換もしくは非置換のアリーレン基を媒介として酸性作用基が結合でき、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基に含まれているイミド作用基の末端に置換もしくは非置換のアルキレン基または置換もしくは非置換のアリーレン基を媒介として酸性作用基が結合することができる。   As described above, the alkali-soluble resin includes a cyclic imide functional group substituted with an amino group together with an acidic functional group. Specifically, the alkali-soluble resin has an acidic function on at least one terminal of the cyclic imide functional group substituted with the amino group. Groups can be attached. At this time, the cyclic imide functional group substituted with the amino group and the acidic functional group can be bonded via a substituted or unsubstituted alkylene group or a substituted or unsubstituted arylene group, for example, a cyclic group substituted with the amino group. An acidic functional group can be bonded to the terminal of the amino group contained in the imide functional group via a substituted or unsubstituted alkylene group or a substituted or unsubstituted arylene group, and the cyclic imide functional group substituted with the amino group An acidic functional group can be bonded to the terminal of the contained imide functional group via a substituted or unsubstituted alkylene group or a substituted or unsubstituted arylene group.

より具体的に、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基に含まれているアミノ基の末端とは、前記化学式1でアミノ基に含まれている窒素原子を意味し、前記アミノ基で置換された環状イミド作用基に含まれているイミド作用基の末端とは、前記化学式1で環状イミド作用基に含まれている窒素原子を意味する。   More specifically, the terminal of the amino group contained in the cyclic imide functional group substituted with the amino group means a nitrogen atom contained in the amino group in the chemical formula 1, and is substituted with the amino group. The term “end of the imide functional group contained in the cyclic imide functional group” means a nitrogen atom contained in the cyclic imide functional group in Chemical Formula 1.

前記アルキレン基は、アルカン(alkane)から由来する2価の作用基であって、例えば、直鎖型、分枝型または環状のメチレン基、エチレン基、プロピレン基、イソブチレン基、sec−ブチレン基、tert−ブチレン基、ペンチレン基、へキシレン基などが挙げられる。前記アルキレン基に含まれている一つ以上の水素原子は異なる置換基で置換されていてもよく、前記置換基の例としては炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数2〜10のアルキニル基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数2〜12のヘテロアリール基、炭素数6〜12のアリールアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、アミノ基、アミジノ基、ニトロ基、アミド基、カルボニル基、ヒドロキシ基、スルホニル基、カルバメート基、炭素数1〜10のアルコキシ基などが挙げられる。   The alkylene group is a divalent functional group derived from alkane, for example, a linear, branched or cyclic methylene group, ethylene group, propylene group, isobutylene group, sec-butylene group, Examples thereof include a tert-butylene group, a pentylene group, and a hexylene group. One or more hydrogen atoms contained in the alkylene group may be substituted with different substituents. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms and an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms. , Alkynyl group having 2 to 10 carbon atoms, aryl group having 6 to 12 carbon atoms, heteroaryl group having 2 to 12 carbon atoms, arylalkyl group having 6 to 12 carbon atoms, halogen atom, cyano group, amino group, amidino group , A nitro group, an amide group, a carbonyl group, a hydroxy group, a sulfonyl group, a carbamate group, an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms, and the like.

前記アリーレン基は、アレーン(arene)から由来する2価の作用基であって、例えば、環状のフェニル基、ナフチル基などが挙げられる。前記アリーレン基に含まれている一つ以上の水素原子は異なる置換基で置換されていてもよく、前記置換基の例としては炭素数1〜10のアルキル基、炭素数2〜10のアルケニル基、炭素数2〜10のアルキニル基、炭素数6〜12のアリール基、炭素数2〜12のヘテロアリール基、炭素数6〜12のアリールアルキル基、ハロゲン原子、シアノ基、アミノ基、アミジノ基、ニトロ基、アミド基、カルボニル基、ヒドロキシ基、スルホニル基、カルバメート基、炭素数1〜10のアルコキシ基などが挙げられる。   The arylene group is a divalent functional group derived from arene, and examples thereof include a cyclic phenyl group and a naphthyl group. One or more hydrogen atoms contained in the arylene group may be substituted with different substituents. Examples of the substituent include an alkyl group having 1 to 10 carbon atoms and an alkenyl group having 2 to 10 carbon atoms. , Alkynyl group having 2 to 10 carbon atoms, aryl group having 6 to 12 carbon atoms, heteroaryl group having 2 to 12 carbon atoms, arylalkyl group having 6 to 12 carbon atoms, halogen atom, cyano group, amino group, amidino group , A nitro group, an amide group, a carbonyl group, a hydroxy group, a sulfonyl group, a carbamate group, an alkoxy group having 1 to 10 carbon atoms, and the like.

前記アルカリ可溶性樹脂を製造する方法の例は特に限定されないが、例えば、環状不飽和イミド化合物;およびアミン化合物の反応を通して製造されることができる。この時、前記環状不飽和イミド化合物;およびアミン化合物のうちの少なくとも一つ以上は末端に置換された酸性作用基を含むことができる。すなわち、前記環状不飽和イミド化合物、アミン化合物、またはこれら2種の化合物いずれも末端に酸性作用基が置換されることができる。前記酸性作用基に対する内容は、上述した通りである。   Although the example of the method of manufacturing the said alkali-soluble resin is not specifically limited, For example, it can manufacture through reaction of a cyclic unsaturated imide compound; and an amine compound. At this time, at least one of the cyclic unsaturated imide compound and the amine compound may include an acidic functional group substituted at a terminal. That is, the cyclic unsaturated imide compound, the amine compound, or any of these two compounds can be substituted with an acidic functional group at the terminal. The contents for the acidic functional group are as described above.

前記環状イミド化合物は、上述した環状イミド作用基を含む化合物であり、前記環状不飽和イミド化合物は、環状イミド化合物内に不飽和結合、すなわち、二重結合または三重結合を少なくとも1つ以上含む化合物を意味する。   The cyclic imide compound is a compound containing the above-mentioned cyclic imide functional group, and the cyclic unsaturated imide compound is a compound containing at least one unsaturated bond, that is, at least one double bond or triple bond in the cyclic imide compound. Means.

前記アルカリ可溶性樹脂は、前記アミン化合物に含まれているアミノ基と、環状不飽和イミド化合物に含まれている二重結合または三重結合の反応を通して製造されることができる。   The alkali-soluble resin can be produced through a reaction between an amino group contained in the amine compound and a double bond or triple bond contained in the cyclic unsaturated imide compound.

前記環状不飽和イミド化合物およびアミン化合物を反応させる重量比率の例は特に限定されないが、例えば、前記環状不飽和イミド化合物100重量部に対して、前記アミン化合物を10〜80重量部、または30〜60重量部で混合して反応させることができる。   Although the example of the weight ratio with which the said cyclic unsaturated imide compound and an amine compound are made to react is not specifically limited, For example, the said amine compound is 10-80 weight part with respect to 100 weight part of the said cyclic unsaturated imide compound, or 30- It can be made to react by mixing at 60 parts by weight.

前記環状不飽和イミド化合物の例としては、N−置換マレイミド化合物が挙げられる。N−置換とは、マレイミド化合物に含まれている窒素原子に結合した水素原子の代わりに、作用基が結合したことを意味し、前記N−置換マレイミド化合物は、N−置換されたマレイミド化合物の個数により、単官能N−置換マレイミド化合物と多官能N−置換マレイミド化合物に分類される。   Examples of the cyclic unsaturated imide compound include N-substituted maleimide compounds. N-substituted means that a functional group is bonded instead of a hydrogen atom bonded to a nitrogen atom contained in the maleimide compound, and the N-substituted maleimide compound is an N-substituted maleimide compound. According to the number, it is classified into a monofunctional N-substituted maleimide compound and a polyfunctional N-substituted maleimide compound.

前記単官能N−置換マレイミド化合物は、一つのマレイミド化合物に含まれている窒素原子に作用基が置換された化合物であり、前記多官能N−置換マレイミド化合物は、2つ以上のマレイミド化合物それぞれに含まれている窒素原子が作用基を媒介として結合した化合物である。   The monofunctional N-substituted maleimide compound is a compound in which an active group is substituted on a nitrogen atom contained in one maleimide compound, and the polyfunctional N-substituted maleimide compound is added to each of two or more maleimide compounds. It is a compound in which the contained nitrogen atom is bonded through a functional group.

前記単官能N−置換マレイミド化合物において、前記マレイミド化合物に含まれている窒素原子に置換される作用基は、公知の多様な脂肪族、脂環族または芳香族作用基を制限なく含むことができ、前記窒素原子に置換される作用基は、脂肪族、脂環族または芳香族作用基に酸性作用基が置換された作用基を含むこともできる。前記酸性作用基に対する内容は、上述した通りである。   In the monofunctional N-substituted maleimide compound, the functional group substituted by the nitrogen atom contained in the maleimide compound can include various known aliphatic, alicyclic or aromatic functional groups without limitation. The functional group substituted by the nitrogen atom may also include a functional group in which an acidic functional group is substituted for an aliphatic, alicyclic or aromatic functional group. The contents for the acidic functional group are as described above.

前記単官能N−置換マレイミド化合物の具体的な例としては、o−メチルフェニルマレイミド、p−ヒドロキシフェニルマレイミド、p−カルボキシフェニルマレイミド、またはドデシルマレイミドなどが挙げられる。   Specific examples of the monofunctional N-substituted maleimide compound include o-methylphenylmaleimide, p-hydroxyphenylmaleimide, p-carboxyphenylmaleimide, and dodecylmaleimide.

前記多官能N−置換マレイミド化合物において、2つ以上のマレイミド化合物それぞれに含まれている窒素原子間の結合を媒介する作用基は、公知の多様な脂肪族、脂環族または芳香族作用基を制限なく含むことができ、具体的な例としては、4,4’−ジフェニルメタン(diphenylmethane)作用基などを使用することができる。前記窒素原子に置換される作用基は、脂肪族、脂環族または芳香族作用基に酸性作用基が置換された作用基を含むこともできる。前記酸性作用基に対する内容は、上述した通りである。   In the polyfunctional N-substituted maleimide compound, the functional group that mediates the bond between nitrogen atoms contained in each of the two or more maleimide compounds may be a variety of known aliphatic, alicyclic, or aromatic functional groups. As a specific example, a 4,4′-diphenylmethane functional group or the like can be used. The functional group substituted with the nitrogen atom may include a functional group in which an acidic functional group is substituted for an aliphatic, alicyclic or aromatic functional group. The contents for the acidic functional group are as described above.

前記多官能N−置換マレイミド化合物の具体的な例としては、4,4’−ジフェニルメタンビスマレイミド(大和化成工業(株)製のBMI−1000、BMI−1100など)、フェニルメタンビスマレイミド、m−フェニレンメタンビスマレイミド、ビスフェノールAジフェニルエーテルビスマレイミド、3,3’−ジメチル−5,5’−ジエチル−4,4’−ジフェニルメタンビスマレイミド、4−メチル−1,3−フェニレンビスマレイミド、1,6’−ビスマレイミド−(2,2,4−トリメチル)ヘキサンなどが挙げられる。   Specific examples of the polyfunctional N-substituted maleimide compound include 4,4′-diphenylmethane bismaleimide (BMI-1000, BMI-1100, etc. manufactured by Daiwa Kasei Kogyo Co., Ltd.), phenylmethane bismaleimide, m- Phenylenemethane bismaleimide, bisphenol A diphenyl ether bismaleimide, 3,3′-dimethyl-5,5′-diethyl-4,4′-diphenylmethane bismaleimide, 4-methyl-1,3-phenylenebismaleimide, 1,6 ′ -Bismaleimide- (2,2,4-trimethyl) hexane and the like.

前記アミン化合物は、分子構造内にアミノ基(−NH)を少なくとも1つ以上含む1級アミン化合物を使用することができ、より好ましくは、アミノ基で置換されたカルボン酸化合物、2つ以上のアミノ基を含む多官能アミン化合物またはこれらの混合物を使用することができる。 As the amine compound, a primary amine compound having at least one amino group (—NH 2 ) in the molecular structure can be used, and more preferably, a carboxylic acid compound substituted with an amino group, two or more. A polyfunctional amine compound containing any amino group or a mixture thereof can be used.

前記アミノ基で置換されたカルボン酸化合物において、カルボン酸化合物は、分子中にカルボン酸(−COOH)作用基を含む化合物であって、カルボン酸作用基と結合した炭化水素の種類により、脂肪族、脂環族または芳香族カルボン酸を全て含むことができる。前記アミノ基で置換されたカルボン酸化合物を通して前記アルカリ可溶性樹脂内に酸性作用基のカルボン酸作用基が多数含まれながら、前記アルカリ可溶性樹脂の現像性が向上することができる。   In the carboxylic acid compound substituted with the amino group, the carboxylic acid compound is a compound containing a carboxylic acid (—COOH) functional group in the molecule, and is aliphatic depending on the type of hydrocarbon bonded to the carboxylic acid functional group. All of the alicyclic or aromatic carboxylic acids can be included. The development property of the alkali-soluble resin can be improved while a large number of carboxylic acid functional groups of the acidic functional group are contained in the alkali-soluble resin through the carboxylic acid compound substituted with the amino group.

前記「置換」という用語は、化合物内の水素原子の代わりに、他の作用基が結合することを意味し、前記カルボン酸化合物にアミノ基が置換される位置は、水素原子が置換される位置であれば限定はなく、置換されるアミノ基の個数は1つ以上であってもよい。   The term “substituted” means that another functional group is bonded instead of a hydrogen atom in the compound, and the position where the amino group is substituted in the carboxylic acid compound is the position where the hydrogen atom is substituted. As long as it is not limited, the number of substituted amino groups may be one or more.

前記アミノ基で置換されたカルボン酸化合物の具体的な例としては、タンパク質の原料として知られた約20種のα−アミノ酸、4−アミノブタン酸,5−アミノペンタン酸、6−アミノヘキサン酸、7−アミノヘプタン酸、8−アミノオクタン酸、4−アミノベンゾ酸、4−アミノフェニル酢酸、4−アミノシクロヘキサンカルボン酸などが挙げられる。   Specific examples of the carboxylic acid compound substituted with the amino group include about 20 kinds of α-amino acids, 4-aminobutanoic acid, 5-aminopentanoic acid, 6-aminohexanoic acid known as protein raw materials, Examples include 7-aminoheptanoic acid, 8-aminooctanoic acid, 4-aminobenzoic acid, 4-aminophenylacetic acid, and 4-aminocyclohexanecarboxylic acid.

また、前記2つ以上のアミノ基を含む多官能アミン化合物は、分子中に2つ以上のアミノ基(−NH)を含む化合物であって、アミノ基と結合した炭化水素の種類により、脂肪族、脂環族または芳香族多官能アミンを全て含むことができる。前記2つ以上のアミノ基を含む多官能アミン化合物を通して前記アルカリ可溶性樹脂の可撓性、靭性、銅箔密着力などが向上することができる。 In addition, the polyfunctional amine compound containing two or more amino groups is a compound containing two or more amino groups (—NH 2 ) in the molecule, and depending on the type of hydrocarbon bonded to the amino group, All aromatic, alicyclic or aromatic polyfunctional amines can be included. The flexibility, toughness, copper foil adhesion, etc. of the alkali-soluble resin can be improved through the polyfunctional amine compound containing two or more amino groups.

前記2つ以上のアミノ基を含む多官能アミン化合物の具体的な例としては、1,3−シクロヘキサンジアミン、1,4−シクロヘキサンジアミン、1,3−ビス(アミノメチル)−シクロヘキサン、1,4−ビス(アミノメチル)−シクロヘキサン、ビス(アミノメチル)−ノルボルネン、オクタヒドロ−4,7−メタノインデン−1(2),5(6)−ジメタンアミン、4,4’−メチレンビス(シクロヘキシルアミン)、4,4’−メチレンビス(2−メチルシクロヘキシルアミン)、イソホロンジアミン、1,3−フェニレンジアミン、1,4−フェニレンジアミン、2,5−ジメチル−1,4−フェニレンジアミン、2,3,5,6−テトラメチル−1,4−フェニレンジアミン、2,4,5,6−テトラフルオロ−1,3−フェニレンジアミン、2,3,5,6−テトラフルオロ−1,4−フェニレンジアミン、4,6−ジアミノレゾシノール、2,5−ジアミノ−1,4−ベンゼンジチオール、3−アミノベンジルアミン、4−アミノベンジルアミン、m−キシレンジアミン、p−キシレンジアミン、1,5−ジアミノナフタレン、2,7−ジアミノフルオレン、2,6−ジアミノアントラキノン、m−トリジン、o−トリジン、3,3’,5,5’−テトラメチルベンジジン(TMB)、o−ジアニシジン、4,4’−メチレンビス(2−クロロアニリン)、3,3’−ジアミノベンジジン、2,2’−ビス(トリフルオロメチル)−ベンジジン、4,4’−ジアミノオクタフルオロビフェニル、4,4’−ジアミノ−p−ターフェニル、3,3’−ジアミノジフェニルメタン、3,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノジフェニルメタン、4,4’−ジアミノ−3,3’−ジメチルジフェニルメタン、4,4’−メチレンビス(2−エチル−6−メチルアニリン)、4,4’−メチレンビス(2,6−ジエチルアニリン)、3,3’−ジアミノベンゾフェノン、4,4’−ジアミノベンゾフェノン、4,4’−エチレンジアニリン、4,4’−ジアミノ−2,2’−ジメチルビベンジル、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)プロパン、2,2’−ビス(3−アミノフェニル)−ヘキサフルオロプロパン、2,2’−ビス(4−アミノフェニル)−ヘキサフルオロプロパン、2,2’−ビス(3−アミノ−4−メチルフェニル)−ヘキサフルオロプロパン、2,2’−ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシフェニル)−ヘキサフルオロプロパン、α,α’−ビス(4−アミノフェニル)−1,4−ジイソプロピルベンゼン、1,3−ビス[2−(4−アミノフェニル)−2−プロピル]ベンゼン、1,1’−ビス(4−アミノフェニル)−シクロヘキサン、9,9’−ビス(4−アミノフェニル)−フルオレン、9,9’−ビス(4−アミノ−3−クロロフェニル)フルオレン、9,9’−ビス(4−アミノ−3−フルオロフェニル)フルオレン、9,9’−ビス(4−アミノ−3−メチルフェニル)フルオレン、3,4’−ジアミノジフェニルエテール、4,4’−ジアミノジフェニルエテール、1,3−ビス(3−アミノフェノキシ)−ベンゼン、1,3−ビス(4−アミノフェノキシ)−ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノフェノキシ)−ベンゼン、1,4−ビス(4−アミノ−2−トリフルオロメチルフェノキシ)−ベンゼン、4,4’−ビス(4−アミノフェノキシ)−ビフェニル、2,2’−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)−フェニル]プロパン、2,2’−ビス[4−(4−アミノフェノキシ)−フェニル]ヘキサフルオロプロパン、ビス(2−アミノフェニル)スルフィド、ビス(4−アミノフェニル)スルフィド、ビス(3−アミノフェニル)スルホン、ビス(4−アミノフェニル)スルホン、ビス(3−アミノ−4−ヒドロキシ)スルホン、ビス[4−(3−アミノフェノキシ)−フェニル]スルホン、ビス[4−(4−アミノフェノキシ)−フェニル]スルホン、o−トリジンスルホン、3,6−ジアミノカルバゾール、1,3,5−トリス(4−アミノフェニル)−ベンゼン、1,3−ビス(3−アミノプロピル)−テトラメチルジシロキサン、4,4’−ジアミノベンズアニリド、2−(3−アミノフェニル)−5−アミノベンズイミダゾール、2−(4−アミノフェニル)−5−アミノベンゾオキサゾール、1−(4−アミノフェニル)−2,3−ジヒドロ−1,3,3−トリメチル−1H−インデン−5−アミン、4,6−ジアミノレゾルシノール、2,3,5,6−ピリジンテトラアミン、信越シリコーンのシロキサン構造を含む多官能アミン(PAM−E、KF−8010、X−22−161A、X−22−161B、KF−8012,KF−8008、X−22−1660B−3,X−22−9409),ダウコーニングのシロキサン構造を含む多官能アミン(Dow Corning3055)、ポリエーテル構造を含む多官能アミン(Huntsman社、BASF社)などが挙げられる。   Specific examples of the polyfunctional amine compound containing two or more amino groups include 1,3-cyclohexanediamine, 1,4-cyclohexanediamine, 1,3-bis (aminomethyl) -cyclohexane, 1,4 -Bis (aminomethyl) -cyclohexane, bis (aminomethyl) -norbornene, octahydro-4,7-methanoindene-1 (2), 5 (6) -dimethanamine, 4,4'-methylenebis (cyclohexylamine), 4, 4'-methylenebis (2-methylcyclohexylamine), isophoronediamine, 1,3-phenylenediamine, 1,4-phenylenediamine, 2,5-dimethyl-1,4-phenylenediamine, 2,3,5,6- Tetramethyl-1,4-phenylenediamine, 2,4,5,6-tetrafluoro-1,3-pheny Diamine, 2,3,5,6-tetrafluoro-1,4-phenylenediamine, 4,6-diaminoresinol, 2,5-diamino-1,4-benzenedithiol, 3-aminobenzylamine, 4- Aminobenzylamine, m-xylenediamine, p-xylenediamine, 1,5-diaminonaphthalene, 2,7-diaminofluorene, 2,6-diaminoanthraquinone, m-tolidine, o-tolidine, 3,3 ', 5 5'-tetramethylbenzidine (TMB), o-dianisidine, 4,4'-methylenebis (2-chloroaniline), 3,3'-diaminobenzidine, 2,2'-bis (trifluoromethyl) -benzidine, 4 , 4′-diaminooctafluorobiphenyl, 4,4′-diamino-p-terphenyl, 3,3′-diaminodiphe Rumethane, 3,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diaminodiphenylmethane, 4,4'-diamino-3,3'-dimethyldiphenylmethane, 4,4'-methylenebis (2-ethyl-6-methylaniline), 4,4′-methylenebis (2,6-diethylaniline), 3,3′-diaminobenzophenone, 4,4′-diaminobenzophenone, 4,4′-ethylenedianiline, 4,4′-diamino-2,2 '-Dimethylbibenzyl, 2,2'-bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) propane, 2,2'-bis (3-aminophenyl) -hexafluoropropane, 2,2'-bis (4- Aminophenyl) -hexafluoropropane, 2,2′-bis (3-amino-4-methylphenyl) -hexafluoropropane, 2,2′- Bis (3-amino-4-hydroxyphenyl) -hexafluoropropane, α, α′-bis (4-aminophenyl) -1,4-diisopropylbenzene, 1,3-bis [2- (4-aminophenyl) -2-propyl] benzene, 1,1′-bis (4-aminophenyl) -cyclohexane, 9,9′-bis (4-aminophenyl) -fluorene, 9,9′-bis (4-amino-3- Chlorophenyl) fluorene, 9,9′-bis (4-amino-3-fluorophenyl) fluorene, 9,9′-bis (4-amino-3-methylphenyl) fluorene, 3,4′-diaminodiphenyl ether, 4,4′-diaminodiphenyl ether, 1,3-bis (3-aminophenoxy) -benzene, 1,3-bis (4-aminophenoxy) -benzene, 1,4- (4-aminophenoxy) -benzene, 1,4-bis (4-amino-2-trifluoromethylphenoxy) -benzene, 4,4′-bis (4-aminophenoxy) -biphenyl, 2,2′- Bis [4- (4-aminophenoxy) -phenyl] propane, 2,2′-bis [4- (4-aminophenoxy) -phenyl] hexafluoropropane, bis (2-aminophenyl) sulfide, bis (4- Aminophenyl) sulfide, bis (3-aminophenyl) sulfone, bis (4-aminophenyl) sulfone, bis (3-amino-4-hydroxy) sulfone, bis [4- (3-aminophenoxy) -phenyl] sulfone, Bis [4- (4-aminophenoxy) -phenyl] sulfone, o-tolidinesulfone, 3,6-diaminocarbazole, 1,3,5- Tris (4-aminophenyl) -benzene, 1,3-bis (3-aminopropyl) -tetramethyldisiloxane, 4,4′-diaminobenzanilide, 2- (3-aminophenyl) -5-aminobenzimidazole 2- (4-aminophenyl) -5-aminobenzoxazole, 1- (4-aminophenyl) -2,3-dihydro-1,3,3-trimethyl-1H-indene-5-amine, 4,6 -Diaminoresorcinol, 2,3,5,6-pyridinetetraamine, polyfunctional amine containing siloxane structure of Shin-Etsu silicone (PAM-E, KF-8010, X-22-161A, X-22-161B, KF-8012) , KF-8008, X-22-1660B-3, X-22-9409), a polyfunctional amine containing Dow Corning siloxane structure Dow Corning3055), polyfunctional amine containing polyether structure (Huntsman Corporation, BASF Corporation).

また、前記アルカリ可溶性樹脂は、下記の化学式3で表される反復単位;および下記の化学式4で表される反復単位をそれぞれ少なくとも1つ以上含むことができる。   The alkali-soluble resin may include at least one repeating unit represented by the following chemical formula 3; and at least one repeating unit represented by the following chemical formula 4.

Figure 2018532270
Figure 2018532270

前記化学式3において、Rは直接結合、炭素数1〜20のアルキレン基、炭素数1〜20のアルケニル基、または炭素数6〜20のアリーレン基であり、“”は結合点を意味し、 In Formula 3, R 2 is a direct bond, an alkylene group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 1 to 20 carbon atoms, or an arylene group having 6 to 20 carbon atoms, and “ * ” means a bonding point. ,

Figure 2018532270
Figure 2018532270

前記化学式4において、Rは直接結合、炭素数1〜20のアルキレン基、炭素数1〜20のアルケニル基、または炭素数6〜20のアリーレン基であり、Rは−H、−OH、−NR、ハロゲン、または炭素数1〜20のアルキル基であり、前記RおよびRは、それぞれ独立に、水素、炭素数1〜20のアルキル基、または炭素数6〜20のアリール基であってもよく、“”は結合点を意味する。 In Formula 4, R 3 is a direct bond, an alkylene group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 1 to 20 carbon atoms, or an arylene group having 6 to 20 carbon atoms, and R 4 is —H, —OH, -NR 5 R 6, halogen, or an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, wherein R 5 and R 6 are each independently hydrogen, alkyl group having 1 to 20 carbon atoms or 6 to 20 carbon atoms, It may be an aryl group, and “ * ” means a point of attachment.

好ましくは、前記化学式3において、Rはフェニレンであり、前記化学式4において、Rはフェニレンであり、Rは−OHであってもよい。 Preferably, in Chemical Formula 3, R 2 may be phenylene, and in Chemical Formula 4, R 3 may be phenylene and R 4 may be —OH.

一方、前記アルカリ可溶性樹脂は、前記化学式3で表される反復単位;および前記化学式4で表される反復単位以外に、追加でビニル系反復単位をさらに含むことができる。前記ビニル系反復単位は、分子中に少なくとも1つ以上のビニル基を含むビニル系単量体の単独重合体に含まれる反復単位であって、前記ビニル系単量体の例は特に限定されるものではなく、例えば、エチレン、プロピレン、イソブチレン、ブタジエン、スチレン、アクリル酸、メタアクリル酸、無水マレイン酸、またはマレイミドなどが挙げられる。   Meanwhile, the alkali-soluble resin may further include a vinyl-based repeating unit in addition to the repeating unit represented by Chemical Formula 3; and the repeating unit represented by Chemical Formula 4. The vinyl repeating unit is a repeating unit contained in a homopolymer of a vinyl monomer containing at least one vinyl group in the molecule, and examples of the vinyl monomer are particularly limited. Examples thereof include ethylene, propylene, isobutylene, butadiene, styrene, acrylic acid, methacrylic acid, maleic anhydride, and maleimide.

上述した化学式3で表される反復単位;および化学式3で表される反復単位を、それぞれ少なくとも1つ以上含むアルカリ可溶性樹脂は、下記の化学式5で表される反復単位を含む重合体、下記の化学式6で表されるアミン、および下記の化学式7で表されるアミンの反応で製造されることができる。   The alkali-soluble resin containing at least one repeating unit represented by Chemical Formula 3 and at least one repeating unit represented by Chemical Formula 3 is a polymer containing a repeating unit represented by Chemical Formula 5 below, It can be produced by the reaction of an amine represented by Chemical Formula 6 and an amine represented by Chemical Formula 7 below.

Figure 2018532270
Figure 2018532270

前記化学式5乃至7において、R〜Rは前記化学式3、4で上述した内容と同様であり、“”は結合点を意味する。 In the chemical formulas 5 to 7, R 2 to R 4 are the same as those described above in the chemical formulas 3 and 4, and “ * ” means a bonding point.

前記化学式5で表される反復単位を含む重合体の具体的な例は特に限定されないが、例えば、Cray valley社のSMA、Polyscope社のXiran、Solenis社のScripset、Kuraray社のIsobam、Chevron Phillips Chemical社のPolyanhydride resin、Lindau Chemicals社のMaldeneなどが挙げられる。   Specific examples of the polymer including the repeating unit represented by Formula 5 are not particularly limited. For example, SMA from Cray valley, Xiran from Polyscope, Scripes from Solenis, Isobam from Kuraray, and Chevron Phillips Chemical Polyhydride resin of the company, Maldene of Lindau Chemicals, and the like.

また、上述した化学式3で表される反復単位;および化学式3で表される反復単位を、それぞれ少なくとも1つ以上含むアルカリ可溶性樹脂は、下記の化学式8で表される化合物および下記の化学式9で表される化合物の反応で製造されることができる。   Further, the alkali-soluble resin containing at least one repeating unit represented by Chemical Formula 3; and at least one repeating unit represented by Chemical Formula 3 is represented by the following compound represented by Chemical Formula 8 and Chemical Formula 9 below. It can be produced by the reaction of the compound represented.

Figure 2018532270
Figure 2018532270

前記化学式8乃至9において、R〜Rは前記化学式3および4で上述した内容と同様である。 In the chemical formulas 8 to 9, R 2 to R 4 are the same as those described above in the chemical formulas 3 and 4.

また、前記アルカリ可溶性樹脂は、分子中にカルボキシ基またはフェノール基を含有している公知慣用のカルボキシ基含有樹脂またはフェノール基含有樹脂を使用することができる。好ましくは、前記カルボキシ基含有樹脂または前記カルボキシ基含有樹脂にフェノール基含有樹脂を混合して使用することができる。   The alkali-soluble resin may be a known and commonly used carboxy group-containing resin or phenol group-containing resin containing a carboxy group or a phenol group in the molecule. Preferably, a phenol group-containing resin can be mixed with the carboxy group-containing resin or the carboxy group-containing resin.

前記カルボキシ基含有樹脂の例としては、以下に列記する(1)乃至(7)の樹脂が挙げられる。   Examples of the carboxy group-containing resin include the resins (1) to (7) listed below.

(1)多官能エポキシ樹脂に飽和または不飽和モノカルボキシ基を反応させた後、多塩基酸無水物を反応させて得られるカルボキシ基含有樹脂、
(2)2官能エポキシ樹脂に2官能フェノール、および(または)ジカルボキシ基を反応させた後、多塩基酸無水物を反応させて得られるカルボキシ基含有樹脂、
(3)多官能フェノール樹脂に分子中に1個のエポキシ基を有する化合物を反応させた後、多塩基酸無水物を反応させて得られるカルボキシ基含有樹脂、
(4)分子中に2個以上のアルコール性水酸基を有する化合物に多塩基酸無水物を反応させて得られるカルボキシ基含有樹脂、
(5)ジアミン(diamine)とジアンヒドリド(dianhydride)を反応させたポリアミック酸樹脂またはポリアミック酸樹脂の共重合体樹脂、
(6)アクリル酸を反応させたポリアクリル酸樹脂またはポリアクリル酸樹脂の共重合体、
(7)マレイン酸無水物を反応させたポリマレイン酸無水物樹脂およびポリマレイン酸無水物樹脂共重合体の無水物を弱酸、ジアミン、イミダゾール(imidazole)、ジメチルスルホキシド(dimethyl sulfoxide)で開環させて製造した樹脂などが挙げられるが、これらに限定されるものではない。
(1) A carboxy group-containing resin obtained by reacting a polyfunctional epoxy resin with a saturated or unsaturated monocarboxy group and then reacting with a polybasic acid anhydride,
(2) a carboxy group-containing resin obtained by reacting a bifunctional epoxy resin with a bifunctional phenol and / or a dicarboxy group and then reacting with a polybasic acid anhydride,
(3) A carboxy group-containing resin obtained by reacting a polyfunctional phenol resin with a compound having one epoxy group in the molecule and then reacting with a polybasic acid anhydride,
(4) a carboxy group-containing resin obtained by reacting a polybasic acid anhydride with a compound having two or more alcoholic hydroxyl groups in the molecule;
(5) A polyamic acid resin obtained by reacting diamine and dianhydride or a copolymer resin of polyamic acid resin,
(6) A polyacrylic acid resin reacted with acrylic acid or a copolymer of polyacrylic acid resin,
(7) Manufactured by ring-opening polymaleic anhydride resin and maleic anhydride resin copolymer anhydride reacted with maleic anhydride with weak acid, diamine, imidazole, dimethyl sulfoxide However, it is not limited to these.

前記カルボキシ基含有樹脂のより具体的な例としては、日本化薬(株)製のCCR−1291H、SHIN−A T&C製のSHA−1216CA60、Lubrizol社製のNoverite K−700、またはこれらの2種以上の混合物などが挙げられる。   More specific examples of the carboxy group-containing resin include CCR-1291H manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd., SHA-1216CA60 manufactured by SHIN-A T & C, Novelite K-700 manufactured by Lubrizol, or two of these. The above mixture etc. are mentioned.

前記フェノール基含有樹脂の例は特に限定されないが、例えば、フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹脂、ビスフェノールF(BPF)ノボラック樹脂などのボラック樹脂、または4,4’−(1−(4−(2−(4−ヒドロキシフェニル)プロパン−2−イル)フェニル)エタン−1,1−ジイル)ジフェノール[4,4’−(1−(4−(2−(4−Hydroxyphenyl)propan−2−yl)phenyl)ethane−1,1−diyl)diphenol]などのビスフェノールA系樹脂をそれぞれ単独で、または混合して使用することができる。   Examples of the phenol group-containing resin are not particularly limited. For example, a phenolic novolac resin, a cresol novolac resin, a borac resin such as bisphenol F (BPF) novolac resin, or 4,4 ′-(1- (4- (2- (4-Hydroxyphenyl) propan-2-yl) phenyl) ethane-1,1-diyl) diphenol [4,4 ′-(1- (4- (2- (4-hydroxyphenyl) propan-2-yl) Bisphenol A resins such as phenyl) ether-1,1-diyl) diphenol] can be used alone or in combination.

前記アルカリ可溶性樹脂は、KOH滴定によって求められる酸価(acid value)が50mg KOH/g乃至250mg KOH/g、または70mg KOH/g乃至200mg KOH/gであることができる。前記アルカリ可溶性樹脂の酸価を測定する方法の例は特に限定されないが、例えば、次のような方法を使用することができる。ベース溶媒(base solution)として0.1Nの濃度のKOH溶液(溶媒:メタノール)を準備し、標識子(indicator)としては、アルファ−ナフトールベンゼイン(alpha−naphtholbenzein)(pH:0.8〜8.2 yellow、10.0 blue green)を準備した。次いで、試料のアルカリ可溶性樹脂約1〜2gを採取してジメチルフォルムアルデヒド(DMF)溶媒50gに溶かした後、標識子を添加した後、ベース溶媒で滴定した。滴定完了時点で使用されたベース溶媒の量で酸価(acid value)をmg KOH/gの単位で求めた。   The alkali-soluble resin may have an acid value determined by KOH titration of 50 mg KOH / g to 250 mg KOH / g, or 70 mg KOH / g to 200 mg KOH / g. Although the example of the method of measuring the acid value of the said alkali-soluble resin is not specifically limited, For example, the following methods can be used. A 0.1N concentration KOH solution (solvent: methanol) was prepared as a base solution, and alpha-naphtholbenzene (pH: 0.8-8) was used as an indicator. .2 yellow, 10.0 blue green). Next, about 1 to 2 g of an alkali-soluble resin as a sample was collected and dissolved in 50 g of a dimethylformaldehyde (DMF) solvent, and after adding a label, it was titrated with a base solvent. The acid value was determined in units of mg KOH / g by the amount of base solvent used at the completion of the titration.

前記アルカリ可溶性樹脂の酸価が50mg KOH/g未満に減少しすぎると、前記アルカリ可溶性樹脂の現像性が低くなって現像工程を進行しにくいこともある。また、前記アルカリ可溶性樹脂の酸価が250mg KOH/gを超過して増加しすぎると、極性の増大によって他の樹脂との相分離が発生することができる。   If the acid value of the alkali-soluble resin is too low to be less than 50 mg KOH / g, the developability of the alkali-soluble resin may be lowered and the development process may be difficult to proceed. If the acid value of the alkali-soluble resin exceeds 250 mg KOH / g and increases too much, phase separation from other resins may occur due to the increase in polarity.

前記高分子樹脂層は、熱硬化触媒、無機フィラー、レベリング剤、分散剤、離型剤および金属密着力増進剤からなる群より選択された1種以上の添加剤をさらに含むことができる。   The polymer resin layer may further include one or more additives selected from the group consisting of a thermosetting catalyst, an inorganic filler, a leveling agent, a dispersant, a release agent, and a metal adhesion promoter.

前記熱硬化性触媒は、熱硬化性バインダーの熱硬化を促進させる役割を果たす。前記熱硬化性触媒としては、例えばイミダゾール、2−メチルイミダゾール、2−エチルイミダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、2−フェニルイミダゾール、4−フェニルイミダゾール、1−シアノエチル−2−フェニルイミダゾール、1−(2−シアノエチル)−2−エチル−4−メチルイミダゾールなどのイミダゾール誘導体;ジシアンジアミド、ベンジルジメチルアミン、4−(ジメチルアミノ)−N,N−ジメチルベンジルアミン、4−メトキシ−N,N−ジメチルベンジルアミン、4−メチル−N,N−ジメチルベンジルアミンなどのアミン化合物;アジピン酸ジヒドラジド、セバシン酸ジヒドラジドなどのヒドラジン化合物;トリフェニルホスフィンなどのリン化合物などが挙げられる。また、市販されているものとしては、例えば、四国化成工業(株)製の2MZ−A、2MZ−OK、2PHZ、2P4BHZ、2P4MHZ(全てイミダゾール系化合物の商品名)、サンアプロ社製のU−CAT3503N、UCAT3502T(全てジメチルアミンのブロックイソシアネート化合物の商品名)、DBU、DBN、U−CATS A102、U−CAT5002(全て二環式アミジン化合物およびその塩)などが挙げられる。特にこれらに限定されるものではなく、エポキシ樹脂やオキセタン化合物の熱硬化触媒、またはエポキシ基および/またはオキセタニル基とカルボキシ基の反応を促進するものであってもよく、単独でまたは2種以上を混合して使用することもできる。また、グアナミン、アセトグアナミン、ペンゾグアナミン、メラミン、2,4−ジアミノ−6−メタクリロイルオキシエチル−S−トリアジン、2−ビニル−4,6−ジアミノ−S−トリアジン、2−ビニル−4,6−ジアミノ−S−トリアジン−イソシアヌル酸付加物、2,4−ジアミノ−6−メタクリロイルオキシエチル−S−トリアジン−イソシアヌル酸付加物などのS−トリアジン誘導体を用いることもでき、好ましくは、これら密着性付与剤としても機能する化合物を前記熱硬化性触媒と併用することができる。   The thermosetting catalyst plays a role of promoting thermosetting of the thermosetting binder. Examples of the thermosetting catalyst include imidazole, 2-methylimidazole, 2-ethylimidazole, 2-ethyl-4-methylimidazole, 2-phenylimidazole, 4-phenylimidazole, 1-cyanoethyl-2-phenylimidazole, 1 Imidazole derivatives such as-(2-cyanoethyl) -2-ethyl-4-methylimidazole; dicyandiamide, benzyldimethylamine, 4- (dimethylamino) -N, N-dimethylbenzylamine, 4-methoxy-N, N-dimethyl Examples include amine compounds such as benzylamine and 4-methyl-N, N-dimethylbenzylamine; hydrazine compounds such as adipic acid dihydrazide and sebacic acid dihydrazide; and phosphorus compounds such as triphenylphosphine. Examples of commercially available products include 2MZ-A, 2MZ-OK, 2PHZ, 2P4BHZ, 2P4MHZ (all trade names of imidazole compounds) manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd., and U-CAT3503N manufactured by San Apro. UCAT3502T (all trade names of blocked isocyanate compounds of dimethylamine), DBU, DBN, U-CATS A102, U-CAT5002 (all bicyclic amidine compounds and salts thereof), and the like. It is not particularly limited to these, and may be a thermosetting catalyst for an epoxy resin or an oxetane compound, or a catalyst that promotes a reaction between an epoxy group and / or an oxetanyl group and a carboxy group. It can also be used by mixing. Also, guanamine, acetoguanamine, benzoguanamine, melamine, 2,4-diamino-6-methacryloyloxyethyl-S-triazine, 2-vinyl-4,6-diamino-S-triazine, 2-vinyl-4,6 S-triazine derivatives such as -diamino-S-triazine-isocyanuric acid adduct and 2,4-diamino-6-methacryloyloxyethyl-S-triazine-isocyanuric acid adduct can also be used. A compound that also functions as an imparting agent can be used in combination with the thermosetting catalyst.

前記無機フィラーの例としては、シリカ、硫酸バリウム、チタン酸バリウム、タルク、クレー、炭酸マグネシウム、炭酸カルシウム、酸化アルミニウム、水酸化アルミニウム、マイカまたはこれらの2種以上の混合物が挙げられる。   Examples of the inorganic filler include silica, barium sulfate, barium titanate, talc, clay, magnesium carbonate, calcium carbonate, aluminum oxide, aluminum hydroxide, mica, or a mixture of two or more thereof.

前記無機フィラーの含有量の例は特に限定されないが、前記高分子樹脂層の高い剛性を達成するために、高分子樹脂層内に含まれているすべての樹脂成分100重量部に対して、前記無機フィラーを100重量部以上、または100〜600重量部、または150〜500重量部、または200〜500重量部で添加することができる。   An example of the content of the inorganic filler is not particularly limited, but in order to achieve high rigidity of the polymer resin layer, with respect to 100 parts by weight of all the resin components contained in the polymer resin layer, The inorganic filler can be added at 100 parts by weight or more, or 100 to 600 parts by weight, or 150 to 500 parts by weight, or 200 to 500 parts by weight.

前記離型剤の例としては、低分子量ポリプロピレン、低分子量ポリエチレンなどのポリアルキレンワックス、エステルワックス、カルナバ(carnauba)ワックス、パラフィンワックスなどが挙げられる。   Examples of the release agent include polyalkylene waxes such as low molecular weight polypropylene and low molecular weight polyethylene, ester waxes, carnauba waxes, and paraffin waxes.

前記金属密着力増進剤は、金属素材の表面変質や透明性に問題が発生しない物質、例えば、シランカップリング剤または有機金属カップリング剤などを使用することができる。   As the metal adhesion promoter, a substance that does not cause a problem in surface modification or transparency of a metal material, for example, a silane coupling agent or an organometallic coupling agent can be used.

前記レベリング剤は、フィルムコーティング時に表面のポッピングやクレーターを除去する役割を果たし、例えば、BYK−Chemie GmbHのBYK−380N、BYK−307、BYK−378、BYK−350などを使用することができる。   The leveling agent serves to remove surface popping and craters during film coating. For example, BYK-Chemie GmbH's BYK-380N, BYK-307, BYK-378, and BYK-350 can be used.

また、前記高分子樹脂層は、相分離を誘発できる分子量5000以上の樹脂またはエラストマーをさらに含むことができる。これによって、前記高分子樹脂層の硬化物の粗化処理が可能になる。前記分子量5000以上の樹脂またはエラストマーの分子量測定方法の例は特に限定されるものではなく、例えば、GPC法によって測定したポリスチレン換算重量平均分子量を意味する。前記GPC法によって測定したポリスチレン換算の重量平均分子量を測定する過程では、通常公知の分析装置と示差屈折検出器(Refractive Index Detector)などの検出器および分析用カラムを用いることができ、通常適用される温度条件、溶媒、流量(flow rate)を適用することができる。前記測定条件の具体的な例として、30℃の温度、クロロホルム溶媒(Chloroform)および1mL/minの流量(flow rate)が挙げられる。   The polymer resin layer may further include a resin or elastomer having a molecular weight of 5000 or more that can induce phase separation. This makes it possible to roughen the cured product of the polymer resin layer. The example of the molecular weight measuring method of the resin or elastomer having a molecular weight of 5000 or more is not particularly limited, and means, for example, a polystyrene-equivalent weight average molecular weight measured by GPC method. In the process of measuring the polystyrene-equivalent weight average molecular weight measured by the GPC method, a commonly known analyzer and a detector such as a differential refractive index detector (Refractive Index Detector) and an analytical column can be used. Temperature conditions, solvent, flow rate can be applied. Specific examples of the measurement conditions include a temperature of 30 ° C., a chloroform solvent (Chloroform), and a flow rate of 1 mL / min.

また、前記高分子樹脂層は、前記高分子樹脂層に光硬化性性質を付与するために、光反応性不飽和基を含む熱硬化性バインダーまたは光反応性不飽和基を含むアルカリ可溶性樹脂と光開始剤をさらに含むことができる。前記光反応性不飽和基を含む熱硬化性バインダー、光反応性不飽和基を含むアルカリ可溶性樹脂および光開始剤の具体的な例は特に限定されず、光硬化性樹脂組成物の関連技術分野で使用される多様な化合物を制限なく使用することができる。   The polymer resin layer includes a thermosetting binder containing a photoreactive unsaturated group or an alkali-soluble resin containing a photoreactive unsaturated group in order to impart photocurable properties to the polymer resin layer. A photoinitiator can further be included. Specific examples of the thermosetting binder containing the photoreactive unsaturated group, the alkali-soluble resin containing the photoreactive unsaturated group, and the photoinitiator are not particularly limited, and the related technical field of the photocurable resin composition The various compounds used in can be used without limitation.

前記高分子樹脂層に含まれている光開始剤の含有量が全体高分子樹脂層の重量対比0.01重量%以下でありうる。前記高分子樹脂層に含まれている光開始剤の含有量が、全体高分子樹脂層の重量対比0.01重量%以下ということは、前記高分子樹脂層に含まれている光開始剤の含有量が非常に微小であったり、光開始剤を全く含まないことを意味する。したがって、光開始剤によって発生可能な絶縁層や導電層との界面脱着性が減少するため、絶縁層の接着性および耐久性が向上できる。   The content of the photoinitiator contained in the polymer resin layer may be 0.01% by weight or less with respect to the weight of the whole polymer resin layer. The content of the photoinitiator contained in the polymer resin layer is 0.01% by weight or less with respect to the weight of the whole polymer resin layer, which means that the photoinitiator contained in the polymer resin layer is It means that the content is very small or does not contain any photoinitiator. Therefore, the interface desorption property with the insulating layer and the conductive layer that can be generated by the photoinitiator is reduced, so that the adhesiveness and durability of the insulating layer can be improved.

高分子樹脂層上に感光性樹脂層を形成する段階   Forming a photosensitive resin layer on the polymer resin layer;

前記感光性樹脂層は光の作用によって分子構造に変化が起こり、物性変化が発生する高分子を含み、例えば、感光性ドライフィルムレジスト(DFR)、または液状レジストなどが挙げられる。   The photosensitive resin layer contains a polymer that changes its molecular structure due to the action of light and changes its physical properties. Examples thereof include a photosensitive dry film resist (DFR) and a liquid resist.

前記感光性樹脂層は、感光性およびアルカリ可溶性を示すことができる。そのため、前記感光性樹脂層に光を照射する露光工程によって分子構造の変形が行われ、アルカリ性の現像液を接触させる現像工程によって樹脂層がエッチングまたは除去されることができる。   The photosensitive resin layer can exhibit photosensitivity and alkali solubility. Therefore, the molecular structure is deformed by the exposure process of irradiating the photosensitive resin layer with light, and the resin layer can be etched or removed by the development process in which an alkaline developer is brought into contact.

前記感光性樹脂層を高分子樹脂層上に形成する方法の例が特に限定されないが、例えば、感光性ドライフィルムレジストのようなフィルム形状の感光性樹脂を高分子樹脂層上に積層させる方法、またはスプレーやディッピング方法で感光性樹脂組成物を高分子樹脂層上にコーティングし、圧着する方法などを使用することができる。   An example of a method for forming the photosensitive resin layer on the polymer resin layer is not particularly limited.For example, a method of laminating a film-shaped photosensitive resin such as a photosensitive dry film resist on the polymer resin layer, Alternatively, a method in which the photosensitive resin composition is coated on the polymer resin layer by spraying or dipping and then pressure-bonded can be used.

前記高分子樹脂層の厚さは、1μm乃至500μm、または3μm乃至500μm、または3μm乃至200μm、または1μm乃至60μm、または5μm乃至30μmであることができる。前記高分子樹脂層上に形成された感光性樹脂層の厚さは、1μm乃至500μm、または3μm乃至500μm、または3μm乃至200μm、または1μm乃至60μm、または5μm乃至30μmであることができる。前記感光性樹脂層の厚さが増加しすぎると、前記高分子樹脂層の解像度が減少することができる。   The polymer resin layer may have a thickness of 1 μm to 500 μm, 3 μm to 500 μm, 3 μm to 200 μm, 1 μm to 60 μm, or 5 μm to 30 μm. The thickness of the photosensitive resin layer formed on the polymer resin layer may be 1 μm to 500 μm, 3 μm to 500 μm, 3 μm to 200 μm, 1 μm to 60 μm, or 5 μm to 30 μm. If the thickness of the photosensitive resin layer increases too much, the resolution of the polymer resin layer can be reduced.

感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像して感光性樹脂パターンを形成し、かつ前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層もアルカリ現像する段階   The photosensitive resin layer is exposed and alkali developed to form a photosensitive resin pattern, and the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern is also alkali developed.

前記感光性樹脂層は、感光性およびアルカリ可溶性を示すことができる。そのため、前記感光性樹脂層に光を照射する露光工程によって分子構造の変形が行われ、アルカリ性の現像液を接触させる現像工程によって樹脂層がエッチングまたは除去されることができる。   The photosensitive resin layer can exhibit photosensitivity and alkali solubility. Therefore, the molecular structure is deformed by the exposure process of irradiating the photosensitive resin layer with light, and the resin layer can be etched or removed by the development process in which an alkaline developer is brought into contact.

したがって、前記感光性樹脂層に対して選択的に一部分を露光させた後、アルカリ現像するようになると、露光された部分は現像されず、露光されていない部分だけが選択的にエッチング、除去されることができる。このように、露光によってアルカリ現像されず、そのまま残っている感光性樹脂層の一部分を感光性樹脂パターンという。   Therefore, when the photosensitive resin layer is selectively exposed to a portion and then developed with alkali, the exposed portion is not developed, and only the unexposed portion is selectively etched and removed. Can. Thus, a part of the photosensitive resin layer which is not alkali-developed by exposure and remains as it is is called a photosensitive resin pattern.

すなわち、前記感光性樹脂層を露光する方法は、例えば、前記感光性樹脂層上に所定のパターンの形成されたフォトマスクを接触し紫外線を照射したり、マスクに含まれている所定のパターンをプロジェクション対物レンズを通してイメージングした後、紫外線を照射したり、レーザダイオード(Laser Diode)を光源に使用して直接イメージングした後、紫外線を照射するなどの方式などを通して選択的に露光することができる。この時、紫外線照射条件の例としては、5mJ/cm乃至600mJ/cmの光量で照射することが挙げられる。 That is, the method for exposing the photosensitive resin layer is, for example, contacting a photomask having a predetermined pattern formed on the photosensitive resin layer and irradiating ultraviolet rays, or applying a predetermined pattern included in the mask. After imaging through the projection objective lens, it can be selectively exposed through a method such as irradiation with ultraviolet rays or direct imaging using a laser diode as a light source and irradiation with ultraviolet rays. In this case, examples of ultraviolet irradiation conditions include irradiating light quantity of 5 mJ / cm 2 to 600 mJ / cm 2.

また、前記感光性樹脂層に対する露光以降アルカリ現像する方法の例としては、アルカリ現像液を処理する方法が挙げられる。前記アルカリ現像液の例は特に限定されないが、例えば、水酸化カリウム、水酸化ナトリウム、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム、燐酸ナトリウム、ケイ酸ナトリウム、アンモニア、テトラメチルアンモニウムヒドロキシド、アミン類などのアルカリ水溶液の濃度と温度を調節して用いることができ、商品として販売するアルカリ現像液も使用可能である。前記アルカリ現像液の具体的な使用量は、特に制限されないが、前記感光性樹脂パターンを損傷しない濃度と温度で調節が必要であり、例えば、25℃乃至35℃の炭酸ナトリウム0.5乃至3%水溶液を使用することができる。   Moreover, the method of processing an alkali developing solution is mentioned as an example of the method of carrying out alkali development after exposure with respect to the said photosensitive resin layer. Examples of the alkali developer are not particularly limited. For example, an alkaline aqueous solution such as potassium hydroxide, sodium hydroxide, sodium carbonate, potassium carbonate, sodium phosphate, sodium silicate, ammonia, tetramethylammonium hydroxide, and amines can be used. The concentration and temperature can be adjusted and used, and an alkaline developer sold as a product can also be used. The specific amount of the alkali developer used is not particularly limited, but it is necessary to adjust the concentration and temperature so as not to damage the photosensitive resin pattern. For example, sodium carbonate 0.5 to 3 at 25 ° C. to 35 ° C. % Aqueous solution can be used.

前記感光性樹脂パターンが除去される比率が全体感光性樹脂パターンの重量対比0.01重量%以下でありうる。前記感光性樹脂パターンが除去される比率が、全体感光性樹脂パターンの重量対比0.01重量%以下ということは、前記感光性樹脂パターンが除去される比率が非常に微小であったり、感光性樹脂パターンが全く除去されないことを意味する。   A ratio at which the photosensitive resin pattern is removed may be 0.01% by weight or less based on the weight of the entire photosensitive resin pattern. The ratio at which the photosensitive resin pattern is removed is 0.01% by weight or less with respect to the weight of the entire photosensitive resin pattern. This means that the ratio at which the photosensitive resin pattern is removed is very small or photosensitive. It means that the resin pattern is not removed at all.

そのため、前記絶縁層の製造方法は、感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像して感光性樹脂パターンを形成し、かつ前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像することができる。前述のように、前記感光性樹脂層は感光性を利用して微細で均一なパターンが形成されることができ、前記感光性樹脂層に形成されたパターンを通して露出した一部の高分子樹脂層の表面だけがアルカリ現像液と選択的に接触する過程を通して従来のレーザを通したエッチング工程を代替しながらも、これと同等水準以上の精密度およびより高い工程経済性を確保できる。   Therefore, in the method for producing the insulating layer, the photosensitive resin layer can be exposed and alkali developed to form a photosensitive resin pattern, and the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern can be alkali developed. As described above, the photosensitive resin layer may have a fine and uniform pattern using photosensitivity, and a portion of the polymer resin layer exposed through the pattern formed on the photosensitive resin layer. While substituting the conventional laser-etching process through a process in which only the surface of the substrate is in selective contact with the alkaline developer, it is possible to ensure a precision equal to or higher than this and a higher process economy.

すなわち、前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階で、前記感光性樹脂パターンは、アルカリ現像液によって除去されない特性上、そのまま残ってレジストマスクに用いられ、感光性樹脂パターンの開口部を通してアルカリ現像液が感光性樹脂層の下部に位置した高分子樹脂層に接触することができる。この時、前記高分子樹脂層は、アルカリ可溶性樹脂を含むことによって、アルカリ現像液によって溶解するアルカリ可溶性を有しているので、前記高分子樹脂層でアルカリ現像液が接触した部位は溶解されて、除去されることができる。   That is, at the stage of alkali development of the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern, the photosensitive resin pattern remains as it is and is used as a resist mask due to the property that it is not removed by an alkaline developer. Through the opening, the alkaline developer can contact the polymer resin layer located under the photosensitive resin layer. At this time, since the polymer resin layer contains an alkali-soluble resin, the polymer resin layer has an alkali-solubility that is dissolved by an alkali developer. Therefore, a portion of the polymer resin layer in contact with the alkali developer is dissolved. Can be removed.

したがって、前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層とは、表面が感光性樹脂パターンと接触しない高分子樹脂層の部分を意味し、前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階は、感光性樹脂パターンの形成時に使用されたアルカリ現像液が感光性樹脂パターンを通過して下部の高分子樹脂層と接触する段階を含むことができる。   Accordingly, the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern means a portion of the polymer resin layer whose surface does not contact the photosensitive resin pattern, and the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern is alkalinized. The developing step may include a step in which the alkaline developer used in forming the photosensitive resin pattern passes through the photosensitive resin pattern and comes into contact with the lower polymer resin layer.

前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する段階によって、下記の図1のように前記高分子樹脂層には、感光性樹脂パターンと同一形状の高分子樹脂パターンが形成されることができる。感光性樹脂パターンのように、アルカリ現像されず、そのまま残っている高分子樹脂層の一部分を高分子樹脂パターンといえる。   Through the step of alkali developing the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern, a polymer resin pattern having the same shape as the photosensitive resin pattern is formed on the polymer resin layer as shown in FIG. be able to. A part of the polymer resin layer that remains as it is without being alkali-developed like the photosensitive resin pattern can be said to be a polymer resin pattern.

このように、感光性樹脂層の現像を通したパターン形成と高分子樹脂層の現像を通したパターン形成が一つのアルカリ現像液で同時に行われることによって、迅速に大量生産が可能であるため、工程の効率性を向上させることができ、感光性樹脂層に形成された微細パターンと同一形状の微細パターンを高分子樹脂層に化学的な方法で容易に導入することができる。   As described above, since pattern formation through development of the photosensitive resin layer and pattern formation through development of the polymer resin layer are simultaneously performed with one alkali developer, rapid mass production is possible. The efficiency of the process can be improved, and a fine pattern having the same shape as the fine pattern formed on the photosensitive resin layer can be easily introduced into the polymer resin layer by a chemical method.

一方、前記感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像して感光性樹脂パターンを形成し、かつ前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層もアルカリ現像する段階以降に、前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層全体重量を基準に0.1重量%乃至85重量%、または0.1重量%乃至50重量%、または0.1重量%乃至10重量%が残留することができる。これは、高分子樹脂層に含まれているアルカリ可溶性樹脂がアルカリ現像液によって除去されたが、アルカリ現像性が殆どない熱硬化性バインダーまたは無機フィラーなどが除去されずに残留するためである。   Meanwhile, the photosensitive resin layer is exposed and alkali developed to form a photosensitive resin pattern, and the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern is exposed by the photosensitive resin pattern after the step of alkali developing. Based on the total weight of the polymer resin layer, 0.1 wt% to 85 wt%, or 0.1 wt% to 50 wt%, or 0.1 wt% to 10 wt% can remain. This is because the alkali-soluble resin contained in the polymer resin layer is removed by the alkali developer, but the thermosetting binder or the inorganic filler having almost no alkali developability remains without being removed.

特に、前記無機フィラーと熱硬化性バインダーが残留する程度を調節するために、アルカリ可溶性樹脂対比熱硬化性バインダーおよび無機フィラーの重量比率、無機フィラー表面の酸性作用基比率などを調節することができ、好ましくは、アルカリ可溶性樹脂100重量部対比熱硬化性バインダーを20重量部乃至100重量部、無機フィラーを100重量部乃至600重量部で添加することができ、無機フィラー表面の酸価(acid value)は、0mgKOH/g乃至5mgKOH/g、または0.01mgKOH/g乃至5mgKOH/gでありうる。前記酸価に関する内容は、前記アルカリ可溶性樹脂の酸価を測定する方法と同様である。   In particular, in order to adjust the degree to which the inorganic filler and the thermosetting binder remain, the weight ratio of the alkali-soluble resin to the thermosetting binder and the inorganic filler, the acidic functional group ratio on the surface of the inorganic filler, and the like can be adjusted. Preferably, 20 parts by weight to 100 parts by weight of the thermosetting binder and 100 parts by weight to 600 parts by weight of the inorganic thermosetting resin can be added to 100 parts by weight of the alkali-soluble resin, and the acid value (acid value) on the surface of the inorganic filler can be added. ) May be from 0 mgKOH / g to 5 mgKOH / g, or from 0.01 mgKOH / g to 5 mgKOH / g. The contents relating to the acid value are the same as the method for measuring the acid value of the alkali-soluble resin.

このように、前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層をアルカリ現像する工程で、一部の高分子樹脂層が現像されずに残留することによって、続く感光性樹脂パターンの除去工程時に目標とする高分子樹脂パターンが除去される代わりに、残留する高分子樹脂層が除去されながら、高分子樹脂パターンの除去によるビアホールの拡張を防止することができる。   In this way, in the step of alkali developing the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern, a part of the polymer resin layer remains undeveloped, so that the target in the subsequent photosensitive resin pattern removal step Instead of removing the polymer resin pattern, the expansion of the via hole due to the removal of the polymer resin pattern can be prevented while the remaining polymer resin layer is removed.

前記アルカリ現像以降、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階   After the alkali development, a step of thermosetting the polymer resin layer

また、前記絶縁層の製造方法は、前記アルカリ現像以降、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階を含むことができる。前記高分子樹脂層を熱硬化する段階を含むことによって、以降の感光性樹脂パターンの剥離工程時に高分子樹脂層の損傷を最少化できる。   The method for manufacturing the insulating layer may include a step of thermosetting the polymer resin layer after the alkali development. By including the step of thermosetting the polymer resin layer, damage to the polymer resin layer can be minimized during the subsequent photosensitive resin pattern peeling process.

この時、具体的な熱硬化条件が限定されるものではなく、感光性樹脂パターンの剥離方法により、好ましい条件を調節して進行することができる。例えば、フォトレジスト剥離液を処理して感光性樹脂パターンを剥離する場合、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階は、60〜150℃の温度で5分乃至2時間進行することができる。前記高分子樹脂層の熱硬化温度が低すぎるか、熱硬化時間が短くなると剥離液によって高分子樹脂パターンが損傷されることができ、前記高分子樹脂層の熱硬化温度が高かったり、熱硬化時間が長くなったりすると剥離液による感光性樹脂パターンの除去が難しくなることがある。   At this time, the specific thermosetting conditions are not limited, and the process can be carried out by adjusting preferable conditions by the method of peeling the photosensitive resin pattern. For example, when the photosensitive resin pattern is peeled by treating a photoresist stripping solution, the step of thermosetting the polymer resin layer may proceed at a temperature of 60 to 150 ° C. for 5 minutes to 2 hours. When the thermosetting temperature of the polymer resin layer is too low or the thermosetting time is shortened, the polymer resin pattern can be damaged by the peeling solution, and the thermosetting temperature of the polymer resin layer is high, If the time is long, it may be difficult to remove the photosensitive resin pattern with the stripping solution.

また他の例として、デスミア(desmear)工程によってレジストマスクを剥離する場合、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階は、150〜230℃の温度で1時間〜4時間進行することができる。   As another example, when the resist mask is removed by a desmear process, the step of thermally curing the polymer resin layer may proceed at a temperature of 150 to 230 ° C. for 1 to 4 hours.

前記感光性樹脂パターンを剥離する段階   Peeling off the photosensitive resin pattern

前記絶縁層の製造方法は、前記熱硬化以降、感光性樹脂パターンを剥離する段階を含むことができる。前記感光性樹脂パターンの除去時、下部の高分子樹脂層はできる限り除去しないながら、感光性樹脂層だけを除去できる方法を使用することが好ましい。また、開口パターンの形態を調節したり開口パターンの底面に残る高分子樹脂層の残渣を除去するために、高分子樹脂層の一部が除去されることもできる。   The method for manufacturing the insulating layer may include a step of peeling the photosensitive resin pattern after the thermosetting. When removing the photosensitive resin pattern, it is preferable to use a method that can remove only the photosensitive resin layer while removing the lower polymer resin layer as much as possible. Further, in order to adjust the shape of the opening pattern or to remove the residue of the polymer resin layer remaining on the bottom surface of the opening pattern, a part of the polymer resin layer may be removed.

すなわち、前記感光性樹脂パターンを剥離する段階で、高分子樹脂層が除去される比率が全体高分子樹脂層の重量対比10重量%以下、または1重量%以下、または0.01重量%以下でありうる。前記高分子樹脂層が除去される比率が、全体高分子樹脂層の重量対比0.01重量%以下ということは、前記高分子樹脂層が除去される比率が非常に微小であったり、高分子樹脂層が全く除去されないことを意味する。   That is, in the step of peeling the photosensitive resin pattern, the ratio of removing the polymer resin layer is 10% by weight or less, or 1% by weight or less, or 0.01% by weight or less with respect to the weight of the whole polymer resin layer. It is possible. The ratio at which the polymer resin layer is removed is 0.01% by weight or less with respect to the weight of the entire polymer resin layer. It means that the resin layer is not removed at all.

前記感光性樹脂パターンの剥離方法の具体的な例としては、フォトレジスト剥離液を処理したり、デスミア(desmear)工程またはプラズマエッチングなどを行うことができ、前記の方法を混用することもできる。   As a specific example of the method for peeling off the photosensitive resin pattern, a photoresist stripping solution can be processed, a desmear process, plasma etching, or the like can be performed.

フォトレジスト剥離液を利用した剥離方法の例は特に限定されないが、例えば、水酸化カリウム、水酸化ナトリウムなどのアルカリ水溶液の濃度と温度を調節して用いることができ、アトテック(Atotech)社のResistrip製品群、オーケム(Orchem)社製のORC−731、ORC−723K、ORC−740、SLF−6000など商用で販売されている製品も使用可能である。前記フォトレジスト剥離液の具体的な使用量は特に限定されないが、下部の高分子樹脂層パターンを損傷しない濃度および温度への調節が必要であり、例えば、25℃乃至60℃の水酸化ナトリウム1乃至5%水溶液を使用することができる。   An example of a stripping method using a photoresist stripping solution is not particularly limited. For example, it can be used by adjusting the concentration and temperature of an alkaline aqueous solution such as potassium hydroxide or sodium hydroxide, and Atotech Resistrip. Commercially available products such as ORC-731, ORC-723K, ORC-740, and SLF-6000 manufactured by Orchem can also be used. The specific amount of the photoresist stripping solution is not particularly limited, but it is necessary to adjust the concentration and temperature so as not to damage the lower polymer resin layer pattern. For example, sodium hydroxide 1 at 25 ° C. to 60 ° C. A 5% aqueous solution can be used.

デスミア工程を利用した剥離方法の例が特に限定されるものではなく、例えば、アトテック(Atotech)社のデスミア工程薬品として、Securiganth E、Securiganth HP、Securiganth BLG、Securiganth MV SWELLER、Securiganth SAP SWELLERなどのスウェラー薬品、Securiganth P500、Securiganth MV ETCH P、Securiganth SAP ETCH Pなどの過マンガン酸薬品、Securiganth E Reduction Cleaner、Securiganth HP Reduction Cleaner、Securiganth BLG Reduction Cleaner、Securiganth MV Reduction Cleaner、Securiganth SAP Reduction Cleanerなどの還元剤薬品や、オーケム(Orchem)社のデスミア工程薬品として、ORC−310A、ORC−315A、ORC−315H、ORC−312などのスウェラー薬品、ORC−340Bなどの過マンガン酸薬品、ORC−370、ORC−372などの還元剤薬品のような商業用販売製品を各工程条件に合わせて使用することができる。   The example of the peeling method using a desmear process is not specifically limited, For example, as a desmear process chemical | medical agent of Atotech, Securiganth E, Securigan HP, Securiganth BLG, Securigan MV SWELLER, SecurSweth WelSWE Chemicals, Securiganth P500, Securigan MV ETCHP, Permanganate Chemicals such as Securiganth SAP ETCHP, Securiganth E Reduction Cleaner, Securigan HP Redaction Cleaner, Securgan HP Redaction Cleaner Reducing agent chemicals such as uriganth MV Reduction Cleaner, Securiganth SAP Reduction Cleaner, and desmear process chemicals of Orchem, such as SWC 40 ORC such as ORC-310A, ORC-315A, ORC-315H, ORC-312, Commercially available products such as permanganic acid chemicals such as ORC-370, ORC-372 and other reducing agent chemicals can be used for each process condition.

一方、発明の他の実施形態によれば、前記一実施形態で製造された絶縁層上にパターンが形成された金属基板を形成する段階を含む、多層印刷回路基板の製造方法が提供され得る。   Meanwhile, according to another embodiment of the invention, there may be provided a method for manufacturing a multilayer printed circuit board, including a step of forming a metal substrate having a pattern formed on the insulating layer manufactured in the one embodiment.

本発明者らは、前記一実施形態で製造された絶縁層が一定の開口パターンを含むことによって、前記絶縁層上に金属基板をさらに積層する過程で、前記開口パターンの内部が金属で満たされることによって、絶縁層を基準に上部と下部に位置した金属基板が互いに連結されて、多層印刷回路基板を製造できることを確認し、発明を完成した。   The inventors of the present invention include that the insulating layer manufactured in the embodiment includes a certain opening pattern, so that the inside of the opening pattern is filled with metal in the process of further laminating a metal substrate on the insulating layer. As a result, it was confirmed that the metal substrates positioned at the upper part and the lower part with respect to the insulating layer were connected to each other to manufacture a multilayer printed circuit board, and the invention was completed.

前記絶縁層は、多層印刷回路基板の層間絶縁材料として用いることができ、アルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーの熱硬化物を含むことができる。前記アルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーに関する内容は、前記一実施形態で上述した内容を含む。   The insulating layer can be used as an interlayer insulating material for a multilayer printed circuit board, and can include an alkali-soluble resin and a thermoset of a thermosetting binder. The content regarding the alkali-soluble resin and the thermosetting binder includes the content described above in the embodiment.

前記絶縁層上にパターンが形成された金属基板を形成する段階は、当業界でSemi Additive Process(SAP)と知られている微細回路パターンの形成工程であって、前記SAP工程は、絶縁層上に何もない状態で微細回路パターンを形成することを意味する。   The step of forming a metal substrate having a pattern formed on the insulating layer is a micro circuit pattern forming process known as Semi Additive Process (SAP) in the industry, wherein the SAP process is performed on the insulating layer. This means that a fine circuit pattern is formed in a state in which there is nothing.

より具体的には、前記絶縁層上にパターンが形成された金属基板を形成する段階は、例えば、前記絶縁層上に金属薄膜を形成する段階;前記金属薄膜上にパターンが形成された感光性樹脂層を形成する段階;前記感光性樹脂層パターンによって露出した金属薄膜上に金属を蒸着させる段階;および前記感光性樹脂層を除去し、露出した金属薄膜を除去する段階を含むことができる。   More specifically, the step of forming a metal substrate having a pattern formed on the insulating layer includes, for example, a step of forming a metal thin film on the insulating layer; and a photosensitivity having a pattern formed on the metal thin film. Forming a resin layer; depositing a metal on the metal thin film exposed by the photosensitive resin layer pattern; and removing the photosensitive resin layer and removing the exposed metal thin film.

前記絶縁層上に金属薄膜を形成する段階で、金属薄膜の形成方法の例としては、乾式蒸着工程または湿式蒸着工程が挙げられ、具体的な前記乾式蒸着工程の例としては、真空蒸着、イオンプレーティング、スパッタリング方法などが挙げられる。   In the step of forming the metal thin film on the insulating layer, examples of the method of forming the metal thin film include a dry deposition process or a wet deposition process. Specific examples of the dry deposition process include vacuum deposition and ion deposition. Examples thereof include plating and sputtering methods.

一方、具体的な前記湿式蒸着工程の例としては、多様な金属の無電解メッキなどが挙げられ、無電解銅メッキが一般的に使用されており、蒸着前または以後に粗化処理工程をさらに含むことができる。   On the other hand, specific examples of the wet deposition process include electroless plating of various metals, and electroless copper plating is generally used, and a roughening treatment process is further performed before or after deposition. Can be included.

前記粗化処理工程においても、条件により乾式および湿式方法があり、前記乾式方法の例としては、真空、常圧、気体別プラズマ処理、気体別エキシマ(Excimer)UV処理などが挙げられ、前記湿式方法の例としては、デスミア処理を使用することができる。このような粗化処理工程を通して、前記金属薄膜の表面粗さを高めて、金属薄膜上に蒸着される金属との密着力を向上させることができる。   Also in the roughening treatment step, there are dry and wet methods depending on conditions. Examples of the dry method include vacuum, normal pressure, plasma treatment by gas, and excimer UV treatment by gas. As an example of the method, desmear treatment can be used. Through such a roughening treatment step, the surface roughness of the metal thin film can be increased to improve the adhesion with the metal deposited on the metal thin film.

また、前記絶縁層上に金属薄膜を形成する段階は、前記金属薄膜を蒸着する前に、前記絶縁層上に表面処理層を形成する段階をさらに含むことができる。これによって、前記金属薄膜と絶縁層との間の接着力が向上することができる。   In addition, forming the metal thin film on the insulating layer may further include forming a surface treatment layer on the insulating layer before depositing the metal thin film. Thereby, the adhesive force between the metal thin film and the insulating layer can be improved.

具体的に、前記絶縁層上に表面処理層を形成する方法の一例を挙げると、イオン補助反応法、イオンビーム処理法、プラズマ処理法のうちの少なくともいずれか一つを使用することができる。プラズマ処理法は、常圧プラズマ処理法、DCプラズマ処理法、RFプラズマ処理法のうちのいずれか一つを含むことができる。前記表面処理工程の結果、前記絶縁層の表面に反応性作用基を含む表面処理層が形成されることができる。前記絶縁層上に表面処理層を形成する方法の他の例としては、前記絶縁層表面に50nm乃至300nm厚さのクロム(Cr)、チタニウム(Ti)金属を蒸着する方法が挙げられる。   Specifically, as an example of a method for forming a surface treatment layer on the insulating layer, at least one of an ion-assisted reaction method, an ion beam treatment method, and a plasma treatment method can be used. The plasma processing method may include any one of a normal pressure plasma processing method, a DC plasma processing method, and an RF plasma processing method. As a result of the surface treatment step, a surface treatment layer containing a reactive functional group can be formed on the surface of the insulating layer. As another example of the method of forming the surface treatment layer on the insulating layer, a method of vapor-depositing chromium (Cr) or titanium (Ti) metal having a thickness of 50 nm to 300 nm on the surface of the insulating layer can be given.

一方、前記金属薄膜上にパターンが形成された感光性樹脂層を形成する段階は、前記金属薄膜上に形成された感光性樹脂層を露光および現像する段階を含むことができる。前記感光性樹脂層と露光および現像に対する内容は、前記一実施形態で上述した内容を含むことができる。   Meanwhile, forming the photosensitive resin layer having the pattern formed on the metal thin film may include exposing and developing the photosensitive resin layer formed on the metal thin film. The contents for the photosensitive resin layer and exposure and development may include the contents described above in the embodiment.

前記感光性樹脂層パターンによって露出した金属薄膜上に金属を蒸着させる段階で、前記感光性樹脂層パターンによって露出した金属薄膜とは、表面で感光性樹脂層と接触しない金属薄膜部分を意味する。前記蒸着される金属は銅を使用することができ、前記蒸着方法の例は特に限定されず、公知の多様な物理的または化学的蒸着方法を制限なく使用でき、汎用の一例としては、電解銅メッキ方法を使用することができる。   The metal thin film exposed by the photosensitive resin layer pattern in the step of depositing a metal on the metal thin film exposed by the photosensitive resin layer pattern means a metal thin film portion that does not contact the photosensitive resin layer on the surface. The metal to be vapor-deposited can use copper, examples of the vapor deposition method are not particularly limited, and various known physical or chemical vapor deposition methods can be used without limitation. A plating method can be used.

前記感光性樹脂層を除去し、露出した金属薄膜を除去する段階で、前記感光性樹脂層の除去方法の例としては、フォトレジスト剥離液を用いることができ、前記感光性樹脂層の除去によって露出する金属薄膜の除去方法の例としては、エッチング液を使用することができる。   In the step of removing the photosensitive resin layer and removing the exposed metal thin film, as an example of the method for removing the photosensitive resin layer, a photoresist stripping solution can be used, and by removing the photosensitive resin layer, As an example of the method for removing the exposed metal thin film, an etching solution can be used.

前記多層印刷回路基板の製造方法によって製造された多層印刷回路基板は、再びビルドアップ材料として用いることができ、例えば、前記多層印刷回路基板上に前記一実施形態の絶縁層の製造方法により絶縁層を形成する第1工程と、前記絶縁層上に前記他の実施形態の多層印刷回路基板の製造方法により金属基板を形成する第2工程とを繰り返して行うことができる。   The multilayer printed circuit board manufactured by the multilayer printed circuit board manufacturing method can be used again as a build-up material. For example, the insulating layer is formed on the multilayer printed circuit board by the insulating layer manufacturing method of the embodiment. The first step of forming the metal substrate and the second step of forming the metal substrate on the insulating layer by the multilayer printed circuit board manufacturing method of the other embodiment can be performed repeatedly.

そのため、前記多層印刷回路基板の製造方法によって製造される多層印刷回路基板に含まれている積層された層数も特に限定されず、使用目的、用途により、例えば、1層以上、または1乃至20層を有することができる。   Therefore, the number of stacked layers included in the multilayer printed circuit board manufactured by the method for manufacturing a multilayer printed circuit board is not particularly limited, and may be, for example, one or more layers, or 1 to 20 depending on the purpose of use and application. Can have layers.

本発明によれば、コストおよび生産性面において効率性が向上しながら、均一で微細なパターンを実現でき、優れた機械的物性を確保できる絶縁層の製造方法および前記絶縁層の製造方法から得られる絶縁層を利用した多層印刷回路基板の製造方法が提供されることができる。   According to the present invention, while improving efficiency in terms of cost and productivity, a uniform and fine pattern can be realized, and excellent mechanical properties can be secured, and the insulating layer manufacturing method and the insulating layer manufacturing method can be obtained. A method for manufacturing a multilayer printed circuit board using an insulating layer may be provided.

実施例1の絶縁層の製造工程を概略的に示した図である。FIG. 3 is a diagram schematically showing a manufacturing process of an insulating layer of Example 1. 実施例2の多層印刷回路基板の製造工程を概略的に示した図である。FIG. 10 is a diagram schematically illustrating a manufacturing process of a multilayer printed circuit board according to Example 2.

本発明を下記の実施例でより詳しく説明する。ただし、下記の実施例は本発明を例示するものに過ぎず、本発明の内容がこれらの実施例によって限定されるのではない。   The invention is explained in more detail in the following examples. However, the following examples are merely illustrative of the present invention, and the content of the present invention is not limited by these examples.

<製造例:アルカリ可溶性樹脂の製造>
製造例1
製造温度計、攪拌装置、還流冷却管、水分定量器が装着された加熱および冷却可能な容積2リットルの反応容器に、溶媒としてジメチルホルムアミド(Dimethylformamide、DMF)632g、N−置換マレイミド化合物として、BMI−1100(大和化成工業(株)製)358g、アミン化合物として、4−アミノフェニル酢酸151gを混合し、85℃で24時間攪拌して、固形分含有量50%のアルカリ可溶性樹脂溶液を製造した。
<Production example: Production of alkali-soluble resin>
Production Example 1
In a reaction vessel having a volume of 2 liters that can be heated and cooled, equipped with a production thermometer, a stirrer, a reflux condenser, and a moisture meter, 632 g of dimethylformamide (DMF) as a solvent, BMI as an N-substituted maleimide compound -1100 (manufactured by Daiwa Kasei Kogyo Co., Ltd.), 151 g of 4-aminophenylacetic acid as an amine compound were mixed and stirred at 85 ° C. for 24 hours to produce an alkali-soluble resin solution having a solid content of 50%. .

製造例2
製造温度計、攪拌装置、還流冷却管、水分定量器が装着された加熱および冷却可能な容積2リットルの反応容器に、溶媒としてジメチルホルムアミド(Dimethylformamide、DMF)632g、N−置換マレイミド化合物として、p−カルボキシフェニルマレイミド434g、アミン化合物として、4,4’−ジアミノジフェニルメタン198gを混合し、85℃で24時間攪拌して、固形分含有量50%のアルカリ可溶性樹脂溶液を製造した。
Production Example 2
In a reaction vessel having a volume of 2 liters that can be heated and cooled, equipped with a production thermometer, a stirrer, a reflux condenser, and a moisture meter, 632 g of dimethylformamide (DMF) as a solvent, p as an N-substituted maleimide compound -Carboxyphenylmaleimide (434 g) and 4,4′-diaminodiphenylmethane (198 g) as an amine compound were mixed and stirred at 85 ° C. for 24 hours to prepare an alkali-soluble resin solution having a solid content of 50%.

製造例3
製造温度計、攪拌装置、還流冷却管、水分定量器が装着された加熱および冷却可能な容積2リットルの反応容器に、溶媒としてジメチルアセトアミド(Dimethylacetamide、DMAc)543gを入れて、Cray Valley社製のSMA1000 350g、4−アミノ安息香酸(4−aminobenzoic acid、PABA)144g、4−アミノフェノール(4−aminophenol、PAP)49gを投入した後、混合した。窒素雰囲気下で反応器の温度を80℃とし、24時間持続して酸無水物とアニリン誘導体が反応してアミック酸を形成した後、反応器の温度を150℃とし、24時間持続してイミド化反応を進行して、固形分50%のアルカリ可溶性樹脂溶液を製造した。
Production Example 3
543 g of dimethylacetamide (DMAc) as a solvent was placed in a reaction vessel having a volume of 2 liters that can be heated and cooled, equipped with a production thermometer, a stirrer, a reflux condenser, and a moisture meter, and manufactured by Cray Valley. 350 g of SMA1000, 144 g of 4-aminobenzoic acid (PABA) and 49 g of 4-aminophenol (4-aminophenol, PAP) were added and mixed. Under a nitrogen atmosphere, the temperature of the reactor was set at 80 ° C., and the acid anhydride and the aniline derivative reacted to form an amic acid for 24 hours. After that, the temperature of the reactor was set at 150 ° C. and the temperature was maintained for 24 hours. The alkali-soluble resin solution having a solid content of 50% was produced by proceeding with the conversion reaction.

製造例4
製造温度計、攪拌装置、還流冷却管、水分定量器が装着された加熱および冷却可能な容積2リットルの反応容器に、溶媒としてメチルエチルケトン(Methylethylketone、MEK)516gを入れて、p−カルボキシフェニルマレイミド(p−carboxyphenylmaleimide)228g、p−ヒドロキシフェニルマレイミド(p−hydroxyphenylmaleimide)85g、スチレン(styrene)203g、アゾビスイソブチロニトリル(AIBN)0.12gを投入した後、混合した。窒素雰囲気下で反応器の温度を70℃に徐々に上げた後、24時間持続して固形分50%のアルカリ可溶性樹脂溶液を製造した。
Production Example 4
Methylethylketone (MEK) 516 g was placed in a 2 liter reaction vessel equipped with a production thermometer, a stirrer, a reflux condenser, and a moisture meter and capable of heating and cooling, and p-carboxyphenylmaleimide (MEK) was added. 228 g of p-carbophenylmaleimide), 85 g of p-hydroxyphenylmaleimide (p-hydroxyphenylmaleimide), 203 g of styrene, and 0.12 g of azobisisobutyronitrile (AIBN) were added and mixed. After gradually raising the temperature of the reactor to 70 ° C. under a nitrogen atmosphere, an alkali-soluble resin solution having a solid content of 50% was produced for 24 hours.

<実施例>
<実施例1:絶縁層の製造>
下記図1の内容を参照すれば、前記製造例1で合成したアルカリ可溶性樹脂16g、熱硬化性バインダーとして、MY−510(Huntsman社製)5g、無機フィラーとして、SC2050 MTO(固形分70%、Adamatech社製)35gを混合した高分子樹脂組成物をPETフィルムに塗布し乾燥させて、15μm厚さの高分子樹脂層1を製造した。そして、銅回線2が銅箔積層板3に形成された回路基板上に、前記高分子樹脂層1を85℃で真空ラミネートし、前記PETフィルムを除去した。前記高分子樹脂層1上に15μm厚さの感光性ドライフィルムレジスト(KL1015;コーロンインダストリー(株)製)4を110℃でラミネートした。
<Example>
<Example 1: Production of insulating layer>
Referring to the contents of FIG. 1 below, 16 g of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 1, 5 g of MY-510 (manufactured by Huntsman) as a thermosetting binder, SC2050 MTO (solid content 70%, A polymer resin composition mixed with 35 g (manufactured by Adamatech) was applied to a PET film and dried to produce a polymer resin layer 1 having a thickness of 15 μm. Then, the polymer resin layer 1 was vacuum laminated at 85 ° C. on the circuit board on which the copper line 2 was formed on the copper foil laminate 3, and the PET film was removed. A photosensitive dry film resist (KL1015; manufactured by Kolon Industry Co., Ltd.) 4 having a thickness of 15 μm was laminated on the polymer resin layer 1 at 110 ° C.

前記感光性ドライフィルムレジスト4上に直径が30μmの円形のネガ型フォトマスクを接触させ、紫外線を照射(25mJ/cmの光量)した後、30℃、1%炭酸ナトリウム現像液を通して前記感光性ドライフィルムレジスト4と高分子樹脂層1を順次現像した。 A circular negative photomask having a diameter of 30 μm is brought into contact with the photosensitive dry film resist 4 and irradiated with ultraviolet rays (light amount of 25 mJ / cm 2 ). The dry film resist 4 and the polymer resin layer 1 were sequentially developed.

この時、前記パターンが形成された感光性ドライフィルムレジスト4が前記高分子樹脂層1の保護層として作用して、高分子樹脂層1にも感光性ドライフィルムレジスト4と同じパターンが形成されながら、ビアホール5を形成した。この時、前記ビアホール5の内部には高分子樹脂層1に由来する白い残渣が残っていた。   At this time, the photosensitive dry film resist 4 on which the pattern is formed functions as a protective layer of the polymer resin layer 1, and the same pattern as the photosensitive dry film resist 4 is formed on the polymer resin layer 1. A via hole 5 was formed. At this time, a white residue derived from the polymer resin layer 1 remained in the via hole 5.

以降、100℃の温度で1時間熱硬化させた後、50℃温度の3%水酸化ナトリウムレジスト剥離液を使用して残渣と感光性ドライフィルムレジスト4を除去し、200℃の温度で1時間熱硬化させる過程をさらに進行して、下記表1のビアホールの直径を有する絶縁層を製造した。   Thereafter, after thermosetting at a temperature of 100 ° C. for 1 hour, the residue and the photosensitive dry film resist 4 are removed using a 3% sodium hydroxide resist stripping solution at a temperature of 50 ° C., and then at a temperature of 200 ° C. for 1 hour. The process of thermosetting was further advanced to manufacture an insulating layer having a via hole diameter shown in Table 1 below.

<実施例2:多層印刷回路基板の製造>
下記図2の内容を参照すれば、前記実施例1で製造された絶縁層7の上面とビアホール5の側面にアルゴンと酸素の混合ガスを蒸着装備で供給しながら、スパッタリング法を通してチタニウム(Ti)金属を50nm、銅(Cu)金属を0.5μm厚さに蒸着してシード層(seed layer)8を形成した。
<Example 2: Production of multilayer printed circuit board>
Referring to the contents of FIG. 2 below, titanium (Ti) is formed through a sputtering method while supplying a mixed gas of argon and oxygen to the upper surface of the insulating layer 7 and the side surface of the via hole 5 manufactured in Example 1 by vapor deposition equipment. A seed layer 8 was formed by evaporating metal to a thickness of 50 nm and copper (Cu) metal to a thickness of 0.5 μm.

以降、前記シード層8上に感光性樹脂層を露光および現像して、感光性樹脂パターン9を形成した。そして、電解メッキを通して前記シード層8上に銅からなる金属基板10を形成した。次いで、感光性樹脂剥離液を使用して前記感光性樹脂パターン9を除去し、これによって露出したシード層8をエッチングを通して除去して、多層印刷回路基板を製造した。   Thereafter, the photosensitive resin layer was exposed and developed on the seed layer 8 to form a photosensitive resin pattern 9. Then, a metal substrate 10 made of copper was formed on the seed layer 8 through electrolytic plating. Subsequently, the photosensitive resin pattern 9 was removed using a photosensitive resin stripping solution, and the exposed seed layer 8 was removed by etching, thereby manufacturing a multilayer printed circuit board.

<実施例3:絶縁層の製造>
前記高分子樹脂層の製造時、製造例3で合成したアルカリ可溶性樹脂16g、熱硬化性バインダーとしてMY−510(Huntsman社製)6g、無機フィラーとしてSC2050 MTO(固形分70%、Adamatech社製)35gを混合した高分子樹脂組成物を使用したことを除いては、前記実施例1と同様の方法で下記表1のビアホールの直径を有する絶縁層を製造した。
<Example 3: Production of insulating layer>
During production of the polymer resin layer, 16 g of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 3, 6 g of MY-510 (manufactured by Huntsman) as a thermosetting binder, and SC2050 MTO (manufactured by Adamate) as an inorganic filler. An insulating layer having a via hole diameter shown in Table 1 below was produced in the same manner as in Example 1 except that a polymer resin composition mixed with 35 g was used.

<実施例4:多層印刷回路基板の製造>
前記実施例1で製造された絶縁層の代わりに、前記実施例3で製造された絶縁層を使用したことを除いては、前記実施例2と同様な方法で多層印刷回路基板を製造した。
<Example 4: Production of multilayer printed circuit board>
A multilayer printed circuit board was manufactured in the same manner as in Example 2 except that the insulating layer manufactured in Example 3 was used instead of the insulating layer manufactured in Example 1.

<実施例5:絶縁層の製造>
前記高分子樹脂層の製造時、製造例1で合成したアルカリ可溶性樹脂16g、熱硬化性バインダーとしてMY−510(Huntsman社製)5g、無機フィラーとしてSC2050 MTO(固形分70%、Adamatech社製)43gを混合した高分子樹脂組成物を使用したことを除いては、前記実施例1と同様の方法で下記表1のビアホールの直径を有する絶縁層を製造した。
<Example 5: Production of insulating layer>
At the time of production of the polymer resin layer, 16 g of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 1, 5 g of MY-510 (manufactured by Huntsman) as a thermosetting binder, SC2050 MTO (manufactured by Adamate Co., Ltd.) as an inorganic filler An insulating layer having a via hole diameter shown in Table 1 below was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the polymer resin composition mixed with 43 g was used.

<実施例6:絶縁層の製造>
前記高分子樹脂層の製造時、製造例2で合成したアルカリ可溶性樹脂16g、熱硬化性バインダーとしてMY−510(Huntsman社製)5g、無機フィラーとしてSC2050 MTO(固形分70%、Adamatech社製)43gを混合した高分子樹脂組成物を使用したことを除いては、前記実施例1と同様の方法で下記表1のビアホールの直径を有する絶縁層を製造した。
<Example 6: Production of insulating layer>
During production of the polymer resin layer, 16 g of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 2, 5 g of MY-510 (manufactured by Huntsman) as a thermosetting binder, and SC2050 MTO (manufactured by Adamate) as an inorganic filler An insulating layer having a via hole diameter shown in Table 1 below was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the polymer resin composition mixed with 43 g was used.

<実施例7:絶縁層の製造>
前記高分子樹脂層の製造時、製造例3で合成したアルカリ可溶性樹脂16g、熱硬化性バインダーとしてMY−510(Huntsman社製)5g、無機フィラーとしてSC2050 MTO(固形分70%、Adamatech社製)43gを混合した高分子樹脂組成物を使用したことを除いては、前記実施例1と同様の方法で下記表1のビアホールの直径を有する絶縁層を製造した。
<Example 7: Production of insulating layer>
During the production of the polymer resin layer, 16 g of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 3, 5 g of MY-510 (manufactured by Huntsman) as a thermosetting binder, and SC2050 MTO (manufactured by Adamate Co., Ltd.) as an inorganic filler An insulating layer having a via hole diameter shown in Table 1 below was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the polymer resin composition mixed with 43 g was used.

<実施例8:絶縁層の製造>
前記高分子樹脂層の製造時、製造例4で合成したアルカリ可溶性樹脂16g、熱硬化性バインダーとしてMY−510(Huntsman社製)5g、無機フィラーとしてSC2050 MTO(固形分70%、Adamatech社製)43gを混合した高分子樹脂組成物を使用したことを除いては、前記実施例1と同様の方法で下記表1のビアホールの直径を有する絶縁層を製造した。
<Example 8: Production of insulating layer>
During production of the polymer resin layer, 16 g of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 4, 5 g of MY-510 (manufactured by Huntsman) as a thermosetting binder, and SC2050 MTO (manufactured by Adamate) as the inorganic filler. An insulating layer having a via hole diameter shown in Table 1 below was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the polymer resin composition mixed with 43 g was used.

<比較例>
<比較例1:絶縁層の製造>
前記実施例1のように、前記製造例1で合成したアルカリ可溶性樹脂16g、熱硬化性バインダーとしてMY−510(Huntsman社製)5g、無機フィラーとしてSC2050 MTO(固形分70%、Adamatech社製)35gを混合した高分子樹脂組成物をPETフィルムに塗布し乾燥させて、15μm厚さの高分子樹脂層1を製造した。そして、銅回線2が銅箔積層板3に形成された回路基板上に前記高分子樹脂層1を85℃で真空ラミネートし、前記PETフィルムを除去した。
<Comparative example>
<Comparative Example 1: Production of insulating layer>
As in Example 1, 16 g of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 1, 5 g of MY-510 (manufactured by Huntsman) as a thermosetting binder, and SC2050 MTO (manufactured by Adamate) as an inorganic filler. The polymer resin composition mixed with 35 g was applied to a PET film and dried to produce a polymer resin layer 1 having a thickness of 15 μm. Then, the polymer resin layer 1 was vacuum laminated at 85 ° C. on the circuit board on which the copper line 2 was formed on the copper foil laminate 3, and the PET film was removed.

以降、前記高分子樹脂層を200℃の温度で1時間熱硬化させた後、COレーザドリルを利用してエッチングして、下記表1のビアホールの直径を有する絶縁層を製造した。 Thereafter, the polymer resin layer was thermally cured at a temperature of 200 ° C. for 1 hour and then etched using a CO 2 laser drill to produce an insulating layer having a via hole diameter shown in Table 1 below.

<比較例2:絶縁層の製造>
酸変性アクリレート樹脂としてCCR−1291H(日本化薬(株)製)30g、多官能アクリレートモノマーとしてTMPTA(ETNIS社製)5g、光開始剤としてIrgacure TPO−L(BASF社製)2g、多官能エポキシとしてYDCN−500−8P(国都化学(株)製)6g、熱硬化触媒として2E4MZ(四国化成工業(株)製)0.2gを混合した感光性樹脂組成物を回路基板上に塗布し乾燥して感光性樹脂層を製造した。
<Comparative Example 2: Production of insulating layer>
30 g of CCR-1291H (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) as the acid-modified acrylate resin, 5 g of TMPTA (manufactured by ETNIS) as the polyfunctional acrylate monomer, 2 g of Irgacure TPO-L (manufactured by BASF) as the photoinitiator, polyfunctional epoxy A photosensitive resin composition in which 6 g of YDCN-500-8P (manufactured by Kokuto Chemical Co., Ltd.) and 0.2 g of 2E4MZ (manufactured by Shikoku Kasei Kogyo Co., Ltd.) as a thermosetting catalyst was mixed was applied onto a circuit board and dried. Thus, a photosensitive resin layer was produced.

前記感光性樹脂層上に直径が30μmの円形のネガ型フォトマスクを接触させ、紫外線を照射(400mJ/cmの光量)した後、30℃、1%炭酸ナトリウム現像液を通して現像して、絶縁層を製造した。 A circular negative photomask having a diameter of 30 μm is brought into contact with the photosensitive resin layer, irradiated with ultraviolet rays (amount of light of 400 mJ / cm 2 ), and then developed through a 1% sodium carbonate developer at 30 ° C. A layer was produced.

<比較例3:多層印刷回路基板の製造>
実施例1で製造された絶縁層の代わりに、比較例2で製造された絶縁層を使用したことを除いては、前記実施例2と同様に多層印刷回路基板を製造した。
<Comparative Example 3: Production of multilayer printed circuit board>
A multilayer printed circuit board was manufactured in the same manner as in Example 2 except that the insulating layer manufactured in Comparative Example 2 was used instead of the insulating layer manufactured in Example 1.

<比較例4:絶縁層の製造>
前記実施例5のように、製造例1で合成したアルカリ可溶性樹脂16g、熱硬化性バインダーとしてMY−510(Huntsman社製)6g、無機フィラーとしてSC2050 MTO(固形分70%、Adamatech社製)43gを混合した高分子樹脂組成物をPETフィルムに塗布し乾燥させて、15μm厚さの高分子樹脂層1を製造した。そして、銅回線2が銅箔積層板3に形成された回路基板上に前記高分子樹脂層1を85℃で真空ラミネートし、前記PETフィルムを除去した。
<Comparative Example 4: Production of insulating layer>
As in Example 5, 16 g of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 1, 6 g of MY-510 (manufactured by Huntsman) as a thermosetting binder, and 43 g of SC2050 MTO (solid content 70%, manufactured by Adamatech) as an inorganic filler The polymer resin composition mixed with was applied to a PET film and dried to produce a polymer resin layer 1 having a thickness of 15 μm. Then, the polymer resin layer 1 was vacuum laminated at 85 ° C. on the circuit board on which the copper line 2 was formed on the copper foil laminate 3, and the PET film was removed.

以降、前記高分子樹脂層を200℃の温度で1時間熱硬化させた後、COレーザドリルを利用してエッチングして、下記表1のビアホールの直径を有する絶縁層を製造した。 Thereafter, the polymer resin layer was thermally cured at a temperature of 200 ° C. for 1 hour and then etched using a CO 2 laser drill to produce an insulating layer having a via hole diameter shown in Table 1 below.

<比較例5:絶縁層の製造>
前記実施例7のように、製造例3で合成したアルカリ可溶性樹脂16g、熱硬化性バインダーとしてMY−510(Huntsman社製)5g、無機フィラーとしてSC2050 MTO(固形分70%、Adamatech社製)43gを混合した高分子樹脂組成物をPETフィルムに塗布し乾燥させて、15μm厚さの高分子樹脂層1を製造した。そして、銅回線2が銅箔積層板3に形成された回路基板上に前記高分子樹脂層1を85℃で真空ラミネートし、前記PETフィルムを除去した。
<Comparative Example 5: Production of insulating layer>
As in Example 7, 16 g of the alkali-soluble resin synthesized in Production Example 3, 5 g of MY-510 (manufactured by Huntsman) as a thermosetting binder, 43 g of SC2050 MTO (solid content 70%, manufactured by Adamatech) as an inorganic filler The polymer resin composition mixed with was applied to a PET film and dried to produce a polymer resin layer 1 having a thickness of 15 μm. Then, the polymer resin layer 1 was vacuum laminated at 85 ° C. on the circuit board on which the copper line 2 was formed on the copper foil laminate 3, and the PET film was removed.

以降、前記高分子樹脂層を200℃の温度で1時間熱硬化させた後、COレーザドリルを利用してエッチングして、下記表1のビアホールの直径を有する絶縁層を製造した。 Thereafter, the polymer resin layer was thermally cured at a temperature of 200 ° C. for 1 hour and then etched using a CO 2 laser drill to produce an insulating layer having a via hole diameter shown in Table 1 below.

<比較例6:絶縁層の製造>
酸変性アクリレート樹脂としてCCR−1291H(日本化薬(株)製)30g、多官能アクリレートモノマーとしてTMPTA(ETNIS社製)5g、光開始剤としてIrgacure TPO−L(BASF社製)2g、多官能エポキシとしてYDCN−500−8P(国都化学(株)製)6g、熱硬化触媒として2E4MZ(四国化成工業(株)製)0.2g、無機フィラーとしてSC2050 MTO(固形分70%、Adamatech社製)49gを混合した感光性樹脂組成物を回路基板上に塗布し乾燥して感光性樹脂層を製造した。
<Comparative Example 6: Production of insulating layer>
30 g of CCR-1291H (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) as the acid-modified acrylate resin, 5 g of TMPTA (manufactured by ETNIS) as the polyfunctional acrylate monomer, 2 g of Irgacure TPO-L (manufactured by BASF) as the photoinitiator, polyfunctional epoxy YDCN-500-8P (manufactured by Kokuto Chemical Co., Ltd.) 6 g, thermosetting catalyst 2E4MZ (manufactured by Shikoku Chemicals Co., Ltd.) 0.2 g, inorganic filler SC2050 MTO (solid content 70%, manufactured by Adamatech) 49 g The photosensitive resin composition mixed with was applied onto a circuit board and dried to produce a photosensitive resin layer.

前記感光性樹脂層上に直径が30μmの円形のネガ型フォトマスクを接触させ、紫外線を照射(400mJ/cmの光量)した後、30℃、1%炭酸ナトリウム現像液を通して現像して、絶縁層を製造した。 A circular negative photomask having a diameter of 30 μm is brought into contact with the photosensitive resin layer, irradiated with ultraviolet rays (amount of light of 400 mJ / cm 2 ), and then developed through a 1% sodium carbonate developer at 30 ° C. A layer was produced.

<実験例:実施例および比較例で得られた絶縁層の物性測定>
前記実施例および比較例で得られた絶縁層の物性を下記方法で測定し、その結果を表1に示した。
<Experimental example: Measurement of physical properties of insulating layers obtained in Examples and Comparative Examples>
The physical properties of the insulating layers obtained in the examples and comparative examples were measured by the following methods, and the results are shown in Table 1.

1.ビアホールの直径
前記実施例1、3、5−8および比較例1、2、4、5、6で得られた絶縁層に対して、光学顕微鏡を通して上段開口面(ビアホール)の直径を測定した。
1. Diameter of Via Hole The diameter of the upper opening surface (via hole) was measured through an optical microscope for the insulating layers obtained in Examples 1, 3, 5-8 and Comparative Examples 1, 2, 4, 5, and 6.

2.吸湿による金属密着力
前記実施例2、4および比較例3で得られた多層印刷回路基板に対して、135℃、85%吸湿状態で48時間放置させた後、IPC−TM−650基準により、金属の剥離強度を測定して、これより金属密着力を求めた。
2. Metal adhesion due to moisture absorption The multilayer printed circuit boards obtained in Examples 2 and 4 and Comparative Example 3 were allowed to stand at 135 ° C. and 85% moisture absorption for 48 hours, and then according to the IPC-TM-650 standard. The metal peel strength was measured, and the metal adhesion strength was determined from this.

3.HAST(Highly Accelerated Temp & Humidity Stress Test)特性
前記実施例2、4および比較例3で得られた多層印刷回路基板に対して、JESD22−A101基準により、HAST特性を確認した。具体的に、幅、間隔、厚さがそれぞれ50μm、50μm、12μmの試片回路基板に対して、3Vの電圧を印加し、168時間放置した後、以下の基準下に試片回路基板の外観上の異常の有無を確認した。
OK:被膜外観に異常が観察されない
NG:被膜に水泡または剥がれが観察される
3. HAST (Highly Accelerated Temp & Humidity Stress Test) Characteristics HAST characteristics were confirmed for the multilayer printed circuit boards obtained in Examples 2 and 4 and Comparative Example 3 according to JESD22-A101 standards. Specifically, a voltage of 3 V is applied to a specimen circuit board having a width, interval, and thickness of 50 μm, 50 μm, and 12 μm, respectively, and the specimen circuit board is left for 168 hours. The above abnormality was confirmed.
OK: No abnormality is observed in the coating appearance NG: Water bubbles or peeling is observed in the coating

Figure 2018532270
Figure 2018532270

前記表1に示されているように、熱硬化樹脂層にCOレーザドリルを利用したエッチングを通してビアホールを形成した比較例1、4、5の絶縁層の場合、ビアホールの直径が62μmまたは60μmに示した反面、実施例1、3、5−8で製造された絶縁層に含まれているビアホールの直径は46μm以下に減少して、前記実施例の場合より微細なパターンが実現可能であることを確認できた。 As shown in Table 1, in the case of the insulating layers of Comparative Examples 1, 4, and 5 in which the via hole is formed in the thermosetting resin layer by etching using a CO 2 laser drill, the diameter of the via hole is 62 μm or 60 μm. On the other hand, the diameter of the via hole included in the insulating layer manufactured in Examples 1, 3, and 5-8 is reduced to 46 μm or less, and a finer pattern can be realized than in the case of the above example. Was confirmed.

一方、比較例6で製造された絶縁層では、無機フィラーと樹脂との屈折率差によって光が散乱されて、感光性樹脂層の露光、現像によって微細ビアホールが形成されなくて、微細パターンが実現不可能であることが確認された。   On the other hand, in the insulating layer manufactured in Comparative Example 6, light is scattered due to the refractive index difference between the inorganic filler and the resin, and a fine via hole is not formed by exposure and development of the photosensitive resin layer, thereby realizing a fine pattern. It was confirmed that it was impossible.

また、光開始剤を含む比較例2の樹脂組成物の露光、現像を通して製造された比較例3の多層印刷回路基板の場合、金属密着力が0kgf/cmに測定されて、絶縁層と導電層との間の界面脱着が発生したことを確認でき、HAST特性も不良であった。   Further, in the case of the multilayer printed circuit board of Comparative Example 3 manufactured through exposure and development of the resin composition of Comparative Example 2 containing a photoinitiator, the metal adhesion was measured to 0 kgf / cm, and the insulating layer and the conductive layer It was confirmed that interfacial desorption occurred between and the HAST characteristics.

反面、前記光開始剤なしに熱硬化を通して製造された実施例2の多層印刷回路基板の場合には、金属密着力が0.3kgf/cmに高く測定されて、絶縁層と導電層との間の界面接合が維持されており、優れたHAST特性を示すことが確認できた。   On the other hand, in the case of the multilayer printed circuit board of Example 2 manufactured through thermosetting without the photoinitiator, the metal adhesion force is measured as high as 0.3 kgf / cm, and the gap between the insulating layer and the conductive layer is measured. It was confirmed that the interfacial bonding was maintained and excellent HAST characteristics were exhibited.

付け加えて、実施例1、3で得られた絶縁層と、実施例5、7で得られた絶縁層とを比較すると、樹脂成分100重量部対比無機フィラー含有量が200重量部以上に過剰の無機フィラーが添加された実施例5、7で得られた絶縁層の場合、樹脂成分100重量部対比無機フィラー含有量が200重量部未満である実施例1で得られた絶縁層に比べて、より微細なビアホールの直径を確保できることを確認した。   In addition, when the insulating layers obtained in Examples 1 and 3 were compared with the insulating layers obtained in Examples 5 and 7, the resin component 100 parts by weight was more than 200 parts by weight. In the case of the insulating layers obtained in Examples 5 and 7 to which an inorganic filler was added, compared to the insulating layer obtained in Example 1 in which the content of the inorganic filler relative to 100 parts by weight of the resin component is less than 200 parts by weight, It was confirmed that a finer via hole diameter could be secured.

これは、実施例5乃至8のように樹脂対比無機フィラー含有量を高める場合、絶縁層形成のためのアルカリ現像時に無機フィラーが除去されずに残留して、十分な残渣が形成され、残渣によって以降のレジスト剥離時にビアホールの直径拡張が抑制されることによるものと把握される。   This is because when the content of the inorganic filler relative to the resin is increased as in Examples 5 to 8, the inorganic filler remains without being removed during alkali development for forming the insulating layer, and a sufficient residue is formed. It is understood that this is due to the suppression of via hole diameter expansion during subsequent resist stripping.

1:高分子樹脂層
2:銅回線
3:銅箔積層板
4:感光性ドライフィルムレジスト(DFR)
5:ビアホール
6:金属層
7:絶縁層
8:シード層
9:感光性樹脂パターン
10:金属基板
<1>乃至<6>:工程の進行順序
1: Polymer resin layer 2: Copper line 3: Copper foil laminate 4: Photosensitive dry film resist (DFR)
5: Via hole 6: Metal layer 7: Insulating layer 8: Seed layer 9: Photosensitive resin pattern 10: Metal substrate
<1> to <6>: Process progress order

Claims (20)

導体配線上にアルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーを含む高分子樹脂層を形成する段階;
前記高分子樹脂層上に感光性樹脂層を形成する段階;
前記感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像して感光性樹脂パターンを形成し、かつ前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層もアルカリ現像する段階;
前記アルカリ現像以降、前記高分子樹脂層を熱硬化する段階;および
前記感光性樹脂パターンを剥離する段階を含む、絶縁層の製造方法。
Forming a polymer resin layer containing an alkali-soluble resin and a thermosetting binder on the conductor wiring;
Forming a photosensitive resin layer on the polymer resin layer;
Exposure and alkali development of the photosensitive resin layer to form a photosensitive resin pattern, and the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern is alkali-developed;
A method for producing an insulating layer, comprising: a step of thermally curing the polymer resin layer after the alkali development; and a step of peeling the photosensitive resin pattern.
前記アルカリ可溶性樹脂は、酸性作用基;およびアミノ基で置換された環状イミド作用基をそれぞれ少なくとも1つ以上含む、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。   The method for producing an insulating layer according to claim 1, wherein the alkali-soluble resin includes at least one acidic functional group; and at least one cyclic imide functional group substituted with an amino group. 前記アミノ基で置換された環状イミド作用基は、下記の化学式1で表される作用基を含む、請求項2に記載の絶縁層の製造方法:
Figure 2018532270
前記化学式1において、Rは炭素数1〜10のアルキレン基またはアルケニル基であり、“”は結合点を意味する。
The method for producing an insulating layer according to claim 2, wherein the cyclic imide functional group substituted with the amino group includes a functional group represented by the following chemical formula 1:
Figure 2018532270
In the chemical formula 1, R 1 is an alkylene group or alkenyl group having 1 to 10 carbon atoms, and “ * ” means a point of attachment.
前記アルカリ可溶性樹脂は、環状不飽和イミド化合物;およびアミン化合物の反応を通して製造され、前記環状不飽和イミド化合物とアミン化合物のうちの少なくとも一つ以上は末端に置換された酸性作用基を含む、請求項2に記載の絶縁層の製造方法。   The alkali-soluble resin is produced through a reaction of a cyclic unsaturated imide compound; and an amine compound, and at least one of the cyclic unsaturated imide compound and the amine compound includes an acidic functional group substituted at a terminal. Item 3. A method for producing an insulating layer according to Item 2. 前記アミン化合物は、アミノ基で置換されたカルボン酸化合物、および2つ以上のアミノ基を含む多官能アミン化合物からなる群より選択された1種以上を含む、請求項4に記載の絶縁層の製造方法。   5. The insulating layer according to claim 4, wherein the amine compound includes one or more selected from the group consisting of a carboxylic acid compound substituted with an amino group, and a polyfunctional amine compound containing two or more amino groups. Production method. 前記アルカリ可溶性樹脂は、下記の化学式3で表示される反復単位;および下記の化学式4で表される反復単位をそれぞれ少なくとも1つ以上含む、請求項1に記載の絶縁層の製造方法:
Figure 2018532270
前記化学式3において、Rは直接結合、炭素数1〜20のアルキレン基、炭素数1〜20のアルケニル基、または炭素数6〜20のアリーレン基であり、“”は結合点を意味し、
Figure 2018532270
前記化学式4において、Rは直接結合、炭素数1〜20のアルキレン基、炭素数1〜20のアルケニル基、または炭素数6〜20のアリーレン基であり、
は−H、−OH、−NR、ハロゲン、または炭素数1〜20のアルキル基であり、
前記RおよびRはそれぞれ独立に、水素、炭素数1〜20のアルキル基、または炭素数6〜20のアリール基であってもよく、
”は結合点を意味する。
The method for producing an insulating layer according to claim 1, wherein the alkali-soluble resin includes at least one repeating unit represented by the following chemical formula 3; and at least one repeating unit represented by the following chemical formula 4:
Figure 2018532270
In Formula 3, R 2 is a direct bond, an alkylene group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 1 to 20 carbon atoms, or an arylene group having 6 to 20 carbon atoms, and “ * ” means a bonding point. ,
Figure 2018532270
In Formula 4, R 3 is a direct bond, an alkylene group having 1 to 20 carbon atoms, an alkenyl group having 1 to 20 carbon atoms, or an arylene group having 6 to 20 carbon atoms,
R 4 is —H, —OH, —NR 5 R 6 , halogen, or an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms;
R 5 and R 6 may be independently hydrogen, an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms, or an aryl group having 6 to 20 carbon atoms,
* ” Means a point of attachment.
前記アルカリ可溶性樹脂は、下記の化学式5で表される反復単位を含む重合体、下記の化学式6で表示されるアミン、および下記の化学式7で表されるアミンの反応で製造される、請求項6に記載の絶縁層の製造方法:
Figure 2018532270
前記化学式5乃至7において、R〜Rは請求項6で定義した通りであり、“”は結合点を意味する。
The alkali-soluble resin is produced by a reaction of a polymer containing a repeating unit represented by the following chemical formula 5, an amine represented by the following chemical formula 6, and an amine represented by the following chemical formula 7. The manufacturing method of the insulating layer as described in 6:
Figure 2018532270
In the chemical formulas 5 to 7, R 2 to R 4 are as defined in claim 6 and “ * ” means a point of attachment.
前記アルカリ可溶性樹脂は、下記の化学式8で表される化合物、および下記の化学式9で表される化合物の反応で製造される、請求項6に記載の絶縁層の製造方法:
Figure 2018532270
前記化学式8乃至9において、R〜Rは請求項6で定義した通りである。
The method for producing an insulating layer according to claim 6, wherein the alkali-soluble resin is produced by a reaction of a compound represented by the following chemical formula 8 and a compound represented by the following chemical formula 9:
Figure 2018532270
In the chemical formulas 8 to 9, R 2 to R 4 are as defined in claim 6.
前記アルカリ可溶性樹脂は、KOH滴定によって求められる酸価(acid value)が50mgKOH/g乃至250mgKOH/gである、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。   2. The method for manufacturing an insulating layer according to claim 1, wherein the alkali-soluble resin has an acid value determined by KOH titration of 50 mgKOH / g to 250 mgKOH / g. 前記高分子樹脂層は、アルカリ可溶性樹脂100重量部に対して、熱硬化性バインダー1重量部乃至150重量部を含む、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。   The method for producing an insulating layer according to claim 1, wherein the polymer resin layer includes 1 part by weight to 150 parts by weight of a thermosetting binder with respect to 100 parts by weight of the alkali-soluble resin. 前記熱硬化性バインダーは、オキセタニル基、環状エーテル基、環状チオエーテル基、シアノ基、マレイミド基およびベンゾオキサジン基からなる群より選択された1種以上の作用基およびエポキシ基を含む、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。   The thermosetting binder comprises at least one functional group selected from the group consisting of an oxetanyl group, a cyclic ether group, a cyclic thioether group, a cyano group, a maleimide group, and a benzoxazine group, and an epoxy group. The manufacturing method of the insulating layer of description. 前記高分子樹脂層に含まれている光開始剤の含有量が、全体高分子樹脂層の重量対比0.01重量%以下である、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。   The method for producing an insulating layer according to claim 1, wherein the content of the photoinitiator contained in the polymer resin layer is 0.01% by weight or less with respect to the weight of the entire polymer resin layer. 前記感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像して感光性樹脂パターンを形成し、かつ前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層もアルカリ現像する段階で、
前記感光性樹脂パターンが除去される比率が、全体感光性樹脂パターン重量対比0.01重量%以下である、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。
The photosensitive resin layer is exposed and alkali developed to form a photosensitive resin pattern, and the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern is also alkali developed,
The method for manufacturing an insulating layer according to claim 1, wherein a ratio at which the photosensitive resin pattern is removed is 0.01% by weight or less with respect to a weight of the entire photosensitive resin pattern.
前記感光性樹脂層を露光およびアルカリ現像して感光性樹脂パターンを形成し、かつ前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層もアルカリ現像する段階以降に、
前記感光性樹脂パターンによって露出した高分子樹脂層の全体重量を基準に0.1重量%乃至85重量%が残留する、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。
After the photosensitive resin layer is exposed and alkali developed to form a photosensitive resin pattern, and the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern is also alkali developed,
The method for manufacturing an insulating layer according to claim 1, wherein 0.1 wt% to 85 wt% remains based on the total weight of the polymer resin layer exposed by the photosensitive resin pattern.
前記感光性樹脂パターンを剥離する段階で、
高分子樹脂層が除去される比率が、全体高分子樹脂層の重量対比10重量%以下である、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。
In the step of peeling the photosensitive resin pattern,
The method for producing an insulating layer according to claim 1, wherein a ratio at which the polymer resin layer is removed is 10% by weight or less based on the weight of the entire polymer resin layer.
前記高分子樹脂層は、アルカリ可溶性樹脂と熱硬化性バインダーの重量合計100重量部に対して、無機フィラーを100重量部以上含む、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。   The said polymeric resin layer is a manufacturing method of the insulating layer of Claim 1 containing 100 weight part or more of inorganic fillers with respect to 100 weight part of total weight of alkali-soluble resin and a thermosetting binder. 前記高分子樹脂層または感光性樹脂層の厚さは1μm乃至500μmである、請求項1に記載の絶縁層の製造方法。   The method for manufacturing an insulating layer according to claim 1, wherein the polymer resin layer or the photosensitive resin layer has a thickness of 1 μm to 500 μm. 請求項1乃至17のいずれか一項に記載の方法によって製造された絶縁層上にパターンが形成された金属基板を形成する段階を含む、多層印刷回路基板の製造方法。   A method for manufacturing a multilayer printed circuit board, comprising: forming a metal substrate having a pattern formed on an insulating layer manufactured by the method according to claim 1. 前記絶縁層は、アルカリ可溶性樹脂および熱硬化性バインダーの熱硬化物を含む、請求項18に記載の多層印刷回路基板の製造方法。   The method for manufacturing a multilayer printed circuit board according to claim 18, wherein the insulating layer includes a thermosetting product of an alkali-soluble resin and a thermosetting binder. 前記絶縁層上にパターンが形成された金属基板を形成する段階は、
前記絶縁層上に金属箔膜を形成する段階;
前記金属箔膜上にパターンが形成された感光性樹脂層を形成する段階;および
前記感光性樹脂層パターンによって露出した金属箔膜上に金属を蒸着させる段階;および
前記感光性樹脂層を除去し、露出した金属箔膜を除去する段階を含む、請求項18に記載の多層印刷回路基板の製造方法。
Forming a metal substrate having a pattern formed on the insulating layer;
Forming a metal foil film on the insulating layer;
Forming a photosensitive resin layer having a pattern formed on the metal foil film; and depositing a metal on the metal foil film exposed by the photosensitive resin layer pattern; and removing the photosensitive resin layer. The method of manufacturing a multilayer printed circuit board according to claim 18, comprising removing the exposed metal foil film.
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