JP2018508074A5

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Info

Publication number: JP2018508074A5
Application number: JP2017545336A
Authority: JP
Filing date: 2016-02-24
Publication date: 2018-11-22
Anticipated expiration: 2036-02-24

Claims

方法であって、
体積内に投影するために光源から光ビームを供給すること、
前記光ビームに光パターンを適用するための１つ以上の所定の特性で前記光ビームを符号化すること、
前記光パターンで符号化された光ビームを前記体積内に投影すること、
前記体積で反射された前記光パターンの光を検出器で検出すること、
前記体積で反射された前記光パターンの検出光を解析すること、
前記体積内の物体によって反射された前記光パターンの検出光のコヒーレンス特性と、前記体積によって反射された前記光パターンの検出光のコヒーレンス特性との差を決定することによって前記物体によって反射された前記光パターンの検出光のコヒーレンス特性に従って前記体積内の物体を前記体積からセグメント化すること、
前記光源を調整して、前記物体によって反射された前記光パターンの検出光のコヒーレンス特性と同じコヒーレンス特性により前記体積内の他の物体を識別すること、
を備える方法。
前記光パターンが複数のストライプを含む、請求項１に記載の方法。
前記物体により反射された前記光パターンの検出光に基づいて前記物体の深さ情報を生成することをさらに備える請求項１に記載の方法。
前記物体を関心物体として識別することをさらに備える請求項１に記載の方法。
前記光パターンは、前記光ビームのプロファイルのコリメーション角、前記光ビームのプロファイルの強度、前記光ビームのプロファイルの均一性、前記光源のコヒーレンス、およびそれらの組み合わせからなる群から選択された光学特性を含む、請求項１に記載の方法。
前記体積内の物体は、前記物体によって反射された前記光パターンの検出光の幅に基づいてセグメント化される、請求項１に記載の方法。
前記体積内の物体は、前記物体によって反射された前記光パターンの検出光の強度プロファイルの変化に基づいてセグメント化される、請求項１に記載の方法。
前記検出光の強度プロファイルの変化は、前記物体によって反射された前記光パターンの光の局所的な均一プロファイルの変化を含む、請求項７に記載の方法。
前記検出光の強度プロファイルの変化は、前記物体によって反射された前記光パターンの光のスペックルの局所的な均一プロファイルの変化を含む、請求項７に記載の方法。
前記検出光の強度プロファイルの変化は、前記物体によって反射された前記光パターンの光の散光または迷光プロファイルの変化を含む、請求項７に記載の方法。
前記体積で反射された前記光パターンの光を検出器で検出することは、前記体積で反射された前記光パターンを偏光構造と追加の偏光構造に従って偏光して、前記体積で反射された光の複数の画像を生成することを含み、
前記体積内の物体を前記体積からセグメント化することは、
前記体積で反射され前記偏光構造を有する光の画像を、前記体積で反射され前記追加の偏光構造を有する光の画像から除去すること、
前記除去した画像から前記物体を抽出すること、
を含む、請求項１に記載の方法。
前記物体によって反射された前記光パターンの光の特徴を、前記体積内の追加の物体によって反射された前記光パターンの光の特徴と比較すること、
前記比較の結果に基づいて前記体積から前記追加の物体をセグメント化すること、
をさらに備える請求項１に記載の方法。
前記物体はユーザの顔であり、前記追加の物体は前記ユーザの手である、請求項１２に記載の方法。
装置であって、
光ビームを生成するように構成された光源と、
物体の物理的構造に応じて変化する所定の光学構造を前記光ビームに適用するように構成された少なくとも１つの光学素子と、
前記物体を含む体積で反射された前記光ビームの複数の画像を取得するように構成された検出器と、
前記物体を含む前記体積で反射された前記光ビームの前記所定の光学構造のコヒーレンス特性に対する、前記物体で反射された前記光ビームの前記所定の光学構造のコヒーレンス特性の少なくとも１つの差に基づいて、前記複数の画像から前記物体を抽出するとともに、前記光源を調整して、前記物体で反射された前記光ビームの前記所定の光学構造のコヒーレンス特性と同じコヒーレンス特性により前記体積内の他の物体を識別するように構成されたプロセッサと、
を備える装置。
前記光ビームに適用される前記所定の光学構造が光パターンを含む、請求項１４に記載の装置。
前記光ビームの前記所定の光学構造のコヒーレンス特性における差が、前記物体を含む体積で反射された前記所定の光学構造の幅に対する、前記物体で反射された前記所定の光学構造の幅の変化を含む、請求項１４に記載の装置。
前記光ビームの前記所定の光学構造のコヒーレンス特性における差が、前記物体を含む体積で反射された前記所定の光学構造のガウシアン断面強度プロファイルに対する、前記物体で反射された前記所定の光学構造のガウシアン断面強度プロファイルの変化を含む、請求項１４に記載の装置。
前記光ビームの前記所定の光学構造のコヒーレンス特性における差が、前記物体を含む体積で反射された前記所定の光学構造の局所的な均一プロファイルに対する、前記物体で反射された前記所定の光学構造の局所的な均一プロファイルの変化を含む、請求項１４に記載の装置。
前記光ビームの前記所定の光学構造のコヒーレンス特性における差が、前記物体を含む体積で反射された前記所定の光学構造のスペックルプロファイルに対する、前記物体で反射された前記所定の光学構造のスペックルプロファイルの変化を含む、請求項１４に記載の装置。
前記検出器の視野内に位置する偏光子をさらに備え、前記偏光子は、少なくとも２つの所定の偏光構造に従って、前記体積で反射された前記光ビームの光を偏光するように構成されている、請求項１５に記載の装置。
前記プロセッサは、偏光構造を有する前記物体の画像を、異なる偏光構造を有する前記物体の追加の画像から除去することによって、前記複数の画像から前記物体を抽出するようにさらに構成されている、請求項２０に記載の装置。