JP2018505304A - 自立型cvd多結晶ダイアモンド膜を製造する装置および方法 - Google Patents
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Abstract
Description
本発明は、ダイアモンド膜のマイクロ波プラズマ化学蒸着成長のための方法および装置に関する。
多結晶ダイアモンド膜は、長い間、その光学的特性の独特の組合せのため認識されてきた。
Claims (20)
- マイクロ波プラズマアシスト化学蒸着によって多結晶ダイアモンド膜を成長させるためのマイクロ波プラズマ反応器であって、
電気伝導性材料製の共振チャンバと、
前記共振チャンバにマイクロ波を送り込むように結合された、マイクロ波発生器と、
共振チャンバ内部空間の一部を成し、前記共振チャンバの残りの部分からガス不透過性誘電体窓によって分離されている、プラズマチャンバと、
前記プラズマチャンバ内にプロセスガスおよび冷却ガスを供給し、前記プラズマチャンバからガス状副生物を除去し、前記プラズマチャンバを前記共振チャンバの前記残りの部分よりも低いガス圧に維持するための、ガス制御システムと、
前記プラズマチャンバの底部に配設された、電気伝導性かつ冷却式の基板ホルダと、
前記基板ホルダとは反対側の前記基板の上面上にダイアモンド膜を成長させるための、電気伝導性基板と
を備え、前記基板が、前記プラズマチャンバ内に前記基板ホルダと平行に配設され、前記基板が、前記基板ホルダから、高さdを有する間隙によって離隔され、前記基板が、前記基板ホルダから電気的に絶縁され、前記ガス制御システムが、前記プロセスガスを前記プラズマチャンバ内に前記誘電体窓と前記基板との間で供給するように適合され、前記ガス制御システムが、前記冷却ガスを前記間隙内に供給するように適合される、マイクロ波プラズマ反応器。 - 前記基板の1または複数の温度を測定するために位置付けられた、1つまたは複数の高温計と、
前記1つまたは複数の高温計によって測定された前記基板の温度に基づいて、次の、
(1)前記共振チャンバに送出されるマイクロ波電力のエネルギー、
(2)前記プラズマチャンバの内側の圧力、
(3)前記プラズマチャンバに入る前記プロセスガスの流量、
(4)前記プロセスガスを形成するガスの混合物、
(5)前記プロセスガスを形成する前記ガスの組成百分率、
(6)前記冷却ガスの流量、
(7)前記冷却ガスを形成するガスの混合物、および
(8)前記冷却ガスを形成する前記ガスの組成百分率、
のうちの2つ以上を制御するように動作可能な、プロセス制御システムと
をさらに含む、請求項1に記載の反応器。 - 前記基板が、前記基板ホルダから、電気非伝導性スペーサによって離隔される、請求項1に記載の反応器。
- 各スペーサの端部が、円盤、長方形もしくは正方形、または三角形の形状を有する、請求項3に記載の反応器。
- 最小で3つのスペーサがある、請求項3に記載の反応器。
- 各スペーサの、前記基板ホルダに面する前記基板の底面と接触する面積が、前記基板の前記底面の総表面積の0.01%未満である、請求項3に記載の反応器。
- 前記スペーサの、前記基板ホルダに面する前記基板の底面と接触する総面積が、前記基板の前記底面の総表面積の1%未満である、請求項3に記載の反応器。
- 前記スペーサが分配され、その上で、前記基板ホルダと基板との間の前記間隙内を流れる冷却ガスが1未満のレイノルズ数を有し、したがって前記冷却ガス流が層流となる、請求項3に記載の反応器。
- 前記スペーサが、800℃のときに1×105オームcmを上回る電気抵抗率を有する材料製である、請求項3に記載の反応器。
- 前記スペーサがセラミック製である、請求項3に記載の反応器。
- 前記スペーサが酸化アルミニウム(Al2O3)製である、請求項10に記載の反応器。
- 前記スペーサが次の、酸化物、炭化物、および窒化物、のうちの少なくとも1つの群に属する材料製である、請求項3に記載の反応器。
- 前記スペーサが次の、
1〜50W/mK、
10〜40W/mK、または
25〜35W/mK、
のうちの1つの間の熱伝導率を有する、請求項3に記載の反応器。 - 次の、
各スペーサが、前記基板の半径の50〜80%の間に位置付けられること、
前記スペーサが、前記基板の単一半径の円周に沿って分配されること、および
前記基板の中心と、前記基板と前記基板ホルダとの間にある各スペーサの位置との間で、前記間隙を通って流れる前記冷却ガスのレイノルズ数が次の、1未満、または0.1未満、または0.01未満、のうちの1つであること、
のうちの少なくとも1つである、請求項3に記載の反応器。 - 前記基板と前記基板ホルダとの間の前記間隙の前記高さdが、次の、基板直径の0.001%から1%の間、または基板直径の0.02%から0.5%の間、のうちの1つである、請求項1に記載の反応器。
- 請求項1に記載のプラズマ反応器内でダイアモンド膜を成長させる方法であって、
(a)前記基板と前記基板ホルダとの間の前記間隙内に、前記冷却ガスを提供すること、
(b)前記プラズマチャンバ内に、前記プロセスガスを提供すること、
(c)前記共振チャンバに十分なエネルギーのマイクロ波を供給し、それによって、前記プロセスガスが前記プラズマチャンバ内にプラズマを形成し、前記プラズマが、前記基板の上面を750℃から1200℃の間の平均温度に加熱すること、および
(d)前記プラズマチャンバ内に前記プラズマが存在する状態で、前記基板の前記上面にわたる、かつ/または前記プラズマに応答して前記基板の前記上面上に成長しつつある前記ダイアモンド膜の成長表面にわたる温度分布を、前記温度分布が前記温度分布の最高温度と前記温度分布の最低温度との間の所定の温度差未満となるように、能動的に制御すること
を含む、方法。 - 成長させたままのダイアモンド膜が、次の、
10%未満、5%未満、または1%未満の全厚さ変動(TTV)、および
0から100nm/cmの間、0から80nm/cmの間、0から60nm/cmの間、0から40nm/cmの間、0から20nm/cmの間、0から10nm/cmの間、または0から5nm/cmの間の複屈折、
のうちの少なくとも1つを有するように、前記温度分布が制御される、請求項16に記載の方法。 - 前記温度分布を能動的に制御することが、次の、
(1)前記共振チャンバに送出されるマイクロ波電力のエネルギー、
(2)前記プラズマチャンバの内側の圧力、
(3)前記プラズマチャンバに入る前記プロセスガスの流量、
(4)前記プロセスガスを形成するガスのタイプ、
(5)前記プロセスガスを形成する前記ガスの組成百分率、
(6)前記冷却ガスの流量、
(7)前記冷却ガスを形成するガスのタイプ、および
(8)前記冷却ガスを形成するガスの組成百分率、
のうちの少なくとも2つを制御することを含む、請求項16に記載の方法。 - 次の、
前記温度分布が、前記基板の前記上面の中心と縁部との間で、または前記成長しつつあるダイアモンド膜の前記成長表面の中心と縁部との間で、またはその両方で測定されること、ならびに
前記温度分布の前記最高温度と前記最低温度との間の前記所定の温度差が、前記基板の前記上面の前記中心および前記縁部で、または前記成長しつつあるダイアモンド膜の前記成長表面の前記中心と前記縁部との間で、またはその両方で測定されること、
のうちの少なくとも1つである、請求項16に記載の方法。 - 前記温度分布の前記最高温度と前記最低温度との間の前記所定の温度差が、10℃未満、5℃未満、または1℃未満である、請求項16に記載の方法。
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