JP2018501515A - 走査顕微鏡 - Google Patents

走査顕微鏡 Download PDF

Info

Publication number
JP2018501515A
JP2018501515A JP2017533247A JP2017533247A JP2018501515A JP 2018501515 A JP2018501515 A JP 2018501515A JP 2017533247 A JP2017533247 A JP 2017533247A JP 2017533247 A JP2017533247 A JP 2017533247A JP 2018501515 A JP2018501515 A JP 2018501515A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
scanning
detection
image sensor
sample
illumination beam
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2017533247A
Other languages
English (en)
Inventor
フェリング ヨナス
フェリング ヨナス
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leica Microsystems CMS GmbH
Original Assignee
Leica Microsystems CMS GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leica Microsystems CMS GmbH filed Critical Leica Microsystems CMS GmbH
Publication of JP2018501515A publication Critical patent/JP2018501515A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/006Optical details of the image generation focusing arrangements; selection of the plane to be imaged
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036Scanning details, e.g. scanning stages
    • G02B21/0044Scanning details, e.g. scanning stages moving apertures, e.g. Nipkow disks, rotating lens arrays
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0064Optical details of the image generation multi-spectral or wavelength-selective arrangements, e.g. wavelength fan-out, chromatic profiling
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0076Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/008Details of detection or image processing, including general computer control
    • G02B21/0084Details of detection or image processing, including general computer control time-scale detection, e.g. strobed, ultra-fast, heterodyne detection
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/361Optical details, e.g. image relay to the camera or image sensor
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G02B21/367Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

本発明は、走査顕微鏡(100)に関する。当該走査顕微鏡は、照明ビーム(102)を試料(115)にフォーカシングする対物系(112)と、対物系(112)に前置されており、試料(115)全体にわたる走査運動においてフォーカシングされた照明ビーム(102)をガイドするために照明ビーム(102)を時間的に可変に偏向すべく位置調整可能な走査素子(104)と、対物系(112)により、フォーカシングされた照明ビーム(102)によって照明される試料(115)から出た検出ビーム(114)がフォーカシングされる画像センサ(122)とを備える。画像センサ(122)は制御部(126)によって個々に読み出し可能な複数のセンサ素子(124)を有しており、これら複数のセンサ素子を介して、検出ビーム(114)が、フォーカシングされた照明ビーム(102)の走査運動に対応する運動でガイドされる。さらに、検出ビーム(114)の種々のスペクトル成分を画像センサ(122)上で空間的に相互に分離する予め定められた分散作用を有する分散素子(120)が設けられている。制御部(126)は、走査素子(104)の時間的に可変の位置調整量を検出し、この位置調整量に依存して、分散素子(120)の予め定められた分散作用を考慮しつつ、画像センサ(122)のセンサ素子(124)に、検出ビーム(114)のスペクトル成分を対応させ、それぞれのスペクトル成分に対応するセンサ素子(124)を読み出す。

Description

本発明は、走査顕微鏡であって、照明ビームを対象物にフォーカシングする対物系と、対物系に前置されており、対物系全体にわたる走査運動においてフォーカシングされた照明ビームをガイドするために照明ビームを時間的に可変に偏向すべく位置調整可能な走査素子と、対物系によりまたは場合により対物系と他の光学系との組み合わせにより、フォーカシングされた照明ビームによって照明される対象物から出た検出ビームが結像もしくはフォーカシングされる画像センサとを備え、この画像センサが制御部によって個々に読み出し可能な複数のセンサ素子を有しており、これら複数のセンサ素子を介して、検出ビームが、フォーカシングされた照明ビームの走査運動に対応する運動でガイドされる、走査顕微鏡に関する。
走査顕微鏡検査では、少なくとも1つの照明ビームが対物系によって試料へフォーカシングされる。照明ビームを走査運動またはスキャン運動において試料の全体にわたってガイドするために、照明ビームが試料上で所望の走査運動を行うようにこれを偏向する走査素子(例えば1つもしくは複数の可動ミラー、AODすなわち音響光学偏光器およびこれに類似のもの)が対物系に前置されている。通常、走査素子は1つもしくは複数のミラーを含み、このミラーの傾動が、試料上での照明ビームによって形成される光点の水平方向運動に変換される。フォーカシングされた照明ビームは、点ごとに試料を走査する。この場合、試料から出た検出光は、全ての走査点について検出される。最終的に、検出された各検出信号が計算ユニットで結合されて、画像が形成される。
走査顕微鏡の分野では、共焦点顕微鏡が、特に好ましい顕微鏡検査方法である。当該顕微鏡検査方法の基礎となる動作方式を、以下で、図1に関連して説明する。図1では、全体として番号10を付された共焦点顕微鏡がきわめて概略的に示されている。
共焦点顕微鏡10は、照明ビーム12をダイクロイックビームスプリッタミラー14へ放射する、図1には示されていない光源を有する。ビームスプリッタミラー14は、照明ビーム12の波長を有する光を透過するように構成されている。したがって、照明ビーム12は、ビームスプリッタミラー14を透過し、走査ミラー16へ入射する。図1に双方向矢印で示されているように、走査ミラー16は傾動可能である。走査ミラー16の傾動により、照明ビーム12は、所望の走査運動にしたがって偏向される。
走査ミラー16で反射された後、照明ビーム12は、焦点距離f3の走査レンズ18および焦点距離f2のチューブレンズ20を通り、焦点距離f1の対物系22へ入射する。対物系22は照明ビーム12を最終的に試料24へフォーカシングする。走査ミラー16の傾動により、フォーカシングされた照明ビーム12が点ごとに試料24を走査する。
図1において番号26で表されている検出ビームは、フォーカシングされた照明ビーム12で照明された走査点から出て戻り、対物系22に達し、上述した光路を反対向きに走行した後、ビームスプリッタミラー14へ入射する。ビームスプリッタミラー14は、検出ビーム26の波長の光を反射するように構成されている。つまり、ビームスプリッタミラー14は検出ビーム26をレンズ28へ偏向し、このレンズ28が検出ビーム26を共焦点となるように配置されたホールアパーチャ30へフォーカシングする。ホールアパーチャ30により、検出ビーム26のうち、照明ビーム12が試料24上に形成した光点の外に位置する試料領域(試料24の領域)に由来する光の全てがフィルタリングによって除去される。ホールアパーチャ30を通過した光は最終的に画像センサ32に達し、この画像センサ32が制御部34によって読み出される。こうして、試料24から出た光を個々の全ての走査点について検出でき、このようにして形成された検出信号が結合されて、画像が形成される。
当該コンテクストにおける図1の共焦点顕微鏡10の重要な特徴は、試料24から出る検出ビーム26が走査ミラー16へ戻り、案内されることにより、この検出ビーム26が照明ビーム12と同様に走査ミラー16からの影響を受けることとされている。これにより、検出ビーム26が位置固定されて画像センサ32へ入射する一方、照明ビーム12が走査ミラー16の走査運動によって試料24上の走査運動を行うという状態がもたらされる。検出ビーム26は、走査ミラー16へ戻り、案内されることによって、画像センサ32上でもいわば定置に保持される。これに関連して、定置とは、検出ビーム26が画像センサ32へ入射する際、入射角は確かに変化しうる(図1の実施形態では当該入射角が定置である)が、光入射位置は変化しないことを意味する。
走査素子16へ戻り、案内されることにより検出ビーム26を画像センサ32上に上述した意味で定置に保持するという方式は、当該技術分野では「デスキャニング」とも称される。こうした「デスキャニング」を可能にするために、図1の共焦点顕微鏡では、図1において番号38で表されている対象面に対して光学的に共役な平面である平面36に、走査ミラー16が配置されている。さらに、図1には、中間像面40,42が示されている。中間像面40は平面36に光学的に対応し、対象面38に対して光学的に共役である。中間像面42は対象面38に光学的に対応し、平面36に対して光学的に共役である。
顕微鏡の多くの用途にとって、できるだけ連続的に可変のスペクトル検出を可能にすることが重要である。これは、検出光をできるだけ任意に波長にしたがって種々の検出チャネルに細分化して分割できることを意味する。これは、例えば、種々の色物質から誘起される検出信号をできるだけ良好に相互に分離するために必要である。同様に、試料中の種々の条件は、色物質の発光スペクトルにおける変化によって識別できる。当該変化が良好に分解されるスペクトル検出によって測定可能であれば、ユーザは試料中の種々の条件を再構成できる。
こうしたスペクトル検出は、図1に示されている形式の共焦点顕微鏡で比較的簡単に実現可能である。このため、図2に、スペクトル検出を可能にする変化形態の共焦点顕微鏡10が示されている。図2の変化形態では、光路で見てホールアパーチャ30の下流に分散素子44が設けられており、この分散素子44が検出ビーム26を種々のスペクトル成分へ分解して、これらの成分を画像センサ32へ供給する。画像センサ32は、制御部34によって個々に読み出し可能な複数のセンサ素子を有している。種々のスペクトル成分は、図2では、部分ビーム26−1〜26−7によって示されている。ホールアパーチャ30を通って分散素子44へ入射する検出ビーム26を集束させる集光レンズ46が、分散素子44に前置されて設けられている。
図2の変化形態は、共焦点顕微鏡10に適用されるデスキャニング方式を利用している。すなわち、検出ビーム26が定置のビームとしてホールアパーチャ30から出射されるので、検出ビーム26の種々のスペクトル成分は、分散素子44によって試料24にまさに結像されている走査点に関係なく、図2に示されている方式で空間的に相互に容易に分離可能となる。この場合、例えば、図2に示されていないアパーチャによって、関心スペクトル成分を検出ビーム26からフィルタリングによって正確に取り出し、画像センサ32に供給することもできる。
蛍光顕微鏡検査の分野、例えば図3に示されている形式の多光子励起顕微鏡などで適用されているようないわゆる「ノンデスキャン」方式では、異なった挙動が見られる。図3には、図示されていない光源によって照明ビーム52が傾動可能な走査ミラー54へ配向され、そこで反射されて、続いて焦点距離f3の走査レンズ56、焦点距離f2のチューブレンズ58およびダイクロイックビームスプリッタミラー60を通って、試料64へのフォーカシングのために、最終的に焦点距離f1の対物系62へ入射する、多光子励起顕微鏡50が示されている。検出ビーム66は、フォーカシングされた照明ビーム52で照明された試料64から出て戻り、対物系62に達し、ついでダイクロイックミラー60を通って、制御部70に結合された画像センサ68へ配向される。走査ミラー54は、像面74に対して光学的に共役な、試料64が配置された平面72に、配置されている。図3には別の平面76,78も示されている。平面76は、平面72に光学的に対応しかつ対象面74に対して光学的に共役な中間像面である。平面78は、対象面74に光学的に対応しかつ平面72に対して光学的に共役な中間像面である。
図1,図2の共焦点顕微鏡10とは異なり、多光子励起顕微鏡50では、検出ビーム66がダイクロイックビームスプリッタミラー60により走査ミラー54へ通じる光路から取り出されて直接に画像センサ70へ供給され、その後で走査ミラー54に達する。したがって、照明ビーム52が試料64上で走査運動を行う場合、画像センサ70での検出ビーム66の入射角も入射位置も変化してしまう。つまり、図2のスペクトル検出は、ノンデスキャン方式で動作する図3の共焦点顕微鏡50には適用できない。
本発明の課題は、冒頭に言及した形式の走査顕微鏡を発展させ、画像センサに入射する検出ビームの簡単確実なスペクトル検出を行えるようにすることである。
この課題は、本発明の請求項1の特徴を有する走査顕微鏡によって解決される。
本発明によれば、検出ビームの種々のスペクトル成分を画像センサ上で空間的に相互に分離する予め定められた分散作用を有する分散素子が、当該画像センサに前置されて設けられている。制御部は、検出ビームのスペクトル分解検出を可能にするために、走査素子の時間的に可変の位置調整量を検出し、この位置調整量に依存して、分散素子の予め定められた分散作用を考慮しつつ、画像センサのセンサ素子に、検出ビームの空間的に相互に分離されたスペクトル成分を対応させ、それぞれのスペクトル成分に対応するセンサ素子を読み出す。
本発明の解決手段は、分散素子を用いたスペクトル分離によって生じる検出ビームの空間分割と、走査素子によって行われる検出ビームの空間運動との分離を意図している。このために、制御部は、走査素子でまさに行われている位置調整の量、すなわち、例えば、1つもしくは複数のミラーから形成可能な、各走査素子をなすスキャンミラー装置の、1つもしくは複数の傾動角を検出する。また、制御部は、分散素子の予め既知の分散作用を考慮する。これら双方の情報、すなわち、走査素子の位置調整量と分散素子の分散作用とに基づいて、制御部は、いずれの時点においても、各センサ素子と画像センサに入射する検出ビームの種々のスペクトル成分との正確な対応づけを行うことができる。制御部が走査素子の時間変化する位置調整量を検出する方式は、いかなる限定も受けない。つまり、例えば、走査素子自体が相応の情報を例えば角度センサを介して直接に制御部へ出力することも可能である。また同様に、固有のセンサを設け、走査素子の実際の位置調整量を検出して制御部に伝送するように構成してもよい。分散素子の予め既知の分散作用については、スペクトル検出の際に分散作用を考慮するために、例えば、制御部がアクセスするメモリに格納しておくことができる。
好ましくは、分散素子は、試料が配置された平面に対して光学的に共役な平面に配置される。分散素子が配置される当該平面は、好ましくは、走査素子が配置される平面に対して光学的に等価である。「光学的に等価である」とは、この文脈では、走査素子の箇所での照明ビームの空間的変化が分散素子の箇所での検出ビームの相応の空間的変化に変換されるよう、上述した2つの平面が相互に光学的に対応することを意味する。例えば、走査素子の箇所での照明ビームの空間的変化がその入射位置の変化でなく、その入射角の変化である場合、このことは、分散素子の箇所での検出ビームについても当てはまる。つまり、検出ビームもその入射位置でなくその入射角を変化させる。上述した光学的な等価性がこうした意味で与えられている場合、分散素子での検出ビームの入射位置が変化しないので、分散素子の適切な実現が特に簡単となる。
好ましくは、走査素子は、第1の走査方向で、試料の全体にわたって照明ビームをガイドする。この場合、走査素子は、例えば、照明ビームを好ましくは直線状に第1の走査方向で試料の全体にわたって運動させるために、固定の軸線を中心として回転される個々のミラーである。
走査素子は、付加的に、第1の走査方向に対して垂直な第2の走査方向で、試料の全体にわたって照明ビームをガイドでき、ここで、第1の走査方向での照明ビームの運動は、第2の走査方向での照明ビームの運動より迅速である。当該構成では、走査素子は例えば別個の2つの走査ミラーを含み、そのうち第1のミラーは第1の走査方向での走査運動を生じさせ、第2のミラーは第2の走査方向での走査運動を生じさせる。また、双方の走査方向へ運動される唯一の走査ミラーを設けてもよい。照明ビームが試料上で他の走査方向よりも迅速に運動する走査方向を、以下では簡単に、迅速な走査方向と称する。相応に、他の走査方向を、緩慢な走査方向と称する。
好ましくは、分散素子の分散作用は、照明ビームが第1の走査方向で試料の全体にわたってガイドされる場合に、検出ビームのスペクトル成分が、画像センサ上で、画像センサの全体にわたって検出ビームがガイドされる方向に対して垂直な方向で空間的に相互に分離されるように、予め定められる。したがって、当該構成では、検出ビームが分散素子によってスペクトル分割される平面が緩慢な走査方向に対して平行となる。分散素子は、スペクトル分割によって、いわば、スペクトル情報が角度情報として符号化された「スペクトルセクタ」を形成する。すなわち、種々の波長の光成分が種々の出射角で分散素子を出ることにより、スペクトル情報が角度情報へ変換される。走査素子の走査角度の頂点が好ましくは対象面に対して光学的に共役な平面にあるので、緩慢な走査方向に関する走査角は、同時に、スペクトル分割の角度に重畳される。これは、当該実施形態において、上述したスペクトルセクタが緩慢な走査方向に関する走査角のぶんだけ往復傾動することを意味する。同時に、当該スペクトルセクタは、迅速な走査方向に関する走査角によっても往復傾動する。迅速な走査方向での傾動は、緩慢な走査方向での傾動に対して垂直に行われるので、緩慢な走査方向での傾動から分離される。
特に好ましい構成では、分散素子と画像センサとの間に検出光学系が配置され、この検出光学系は、走査素子が位置調整されるたびに、分散素子によってスペクトル分割された検出ビームを全体として画像センサへ集束させる。照明ビームの走査運動に対応するように画像センサ上で運動され、さらに分散素子によって空間的に分割される検出ビームの全体が画像センサに入射することがいずれの時点でも保証されているので、上述した方式で集束を行う検出光学系は、画像センサが過度に大きくならないことに寄与する。
一実施形態では、検出光学系は、分散素子を焦点面に配置したレンズである。こうした実施形態は、特に、画像センサが面状センサである場合に選択可能である。
検出光学系は、走査素子が位置調整されるたびに、スペクトル分割された検出ビームを設定されたラインに沿って画像センサへ集束させるように構成可能である。この場合、画像センサとして線状センサを用いることができる。
特に好ましい実施形態では、検出光学系は、交差配置された3つのシリンドリカルレンズを含み、そのうち中央のシリンドリカルレンズは第1の平面に位置する屈折作用断面を有し、他の2つのシリンドリカルレンズの屈折作用断面は、第1の平面に対して垂直な第2の平面に位置する。こうしたシリンドリカルレンズの配置を用いれば、スペクトル分割された検出ビームを、まさに行われている走査素子の位置調整に関係なく、線状センサ上に特に簡単に集束させることができる。
制御部は、少なくとも1つのスペクトル成分を選択し、選択されたこのスペクトル成分に対応するセンサ素子のみを読み出すように構成できる。これにより、特に効率的なスペクトル検出が可能となる。
分散素子は、例えば、プリズムもしくは格子である。ただし、この実施形態に限定されない。例えば、AOTFなどのような音響光学素子も分散素子として使用可能である。
本発明の解決手段は、有益なことに、あらゆるタイプの走査顕微鏡に適用可能であり、特に、ノンデスキャン方式、すなわち、検出ビームが走査素子に達する前に画像センサに結合される方式で動作する顕微鏡に適用可能である。
特に好ましい適用形態として、多光子励起顕微鏡検査への適用が挙げられる。ここでは、改善された信号雑音比を目的とした共焦点顕微鏡とは異なり、検出ビームを走査素子に戻した後にホールアパーチャを通してこれを案内することが放棄される。よって、多光子励起顕微鏡検査は強い散乱性の試料に適用されることが多い。このため、検出光が、中央の焦点領域に由来するようには見えなくなるほど強く散乱してしまうことがある。ただし、良好な検出信号を得るには、こうした光も画像センサに捕捉されるべきである。
また、本発明は、請求項15の特徴を有する、走査顕微鏡によって試料を結像する方法にも関する。
本発明を以下に図に即して詳細に説明する。
従来の共焦点顕微鏡を示す概略図である。 図1の共焦点顕微鏡をスペクトル検出のために変化させた形態を示す図である。 従来の多光子励起顕微鏡を示す概略図である。 本発明の走査顕微鏡の一実施形態を示す概略図である。 本発明の走査顕微鏡の種々の変更形態において使用可能な検出光学系を示す概略図である。 図5の検出光学系を他の断面で示す図である。
図4には、ノンデスキャン方式で動作する走査顕微鏡100がきわめて概略的な図で示されている。走査顕微鏡100では、図4に示されていない光源が照明ビーム102を走査ミラー104へ放射する。図4に双方向矢印で示されているように、走査ミラー104は、照明ビーム102を可変に偏向させるために傾動可能である。図4には、きわめて概略的にではあるが、第1の傾動位置が実線で、第2の傾動位置が破線で示されている。相応に、走査ミラー104の光路下流では、第1の傾動位置に対応する照明ビーム102が実線で、第2の傾動位置に対応する照明ビーム102が破線で示されている。
走査ミラー104で反射された照明ビームは、順次に、焦点距離f3の走査レンズ106、焦点距離f2のチューブレンズ108、ダイクロイックビームスプリッタミラー110、および、焦点距離f1の対物系112を通過し、この対物系112が照明ビーム102を試料115へフォーカシングする。走査ミラー104の2つの傾動位置に相応に、図4には、対物系112によってフォーカシングされる照明ビーム102のそれぞれが集束する2つの走査点が示されている。
検出ビーム114は、フォーカシングされた照明ビーム102によって照明される試料115から出て戻り、対物系112へ達し、続いてダイクロイックビームスプリッタミラー110に入射する。ダイクロイックビームスプリッタミラー110は、照明ビームまたは励起ビーム102の波長を有する光を透過し、検出ビームまたは蛍光ビーム114の波長を有する光を反射するように構成されている。したがって、検出ビーム114は、ダイクロイックビームスプリッタミラー110の箇所で、照明ビーム102の光路から出力される。なお、図4の検出ビーム114は、走査ミラー104の2つの傾動位置に相応に、実線と破線とで示されている。
ダイクロイックビームスプリッタミラー110で反射された後、検出ビーム114は2つのレンズ116,118を通過し、続いて画像センサ122に前置された分散素子120に入射する。画像センサ122は、制御部126によって個々に読み出し可能な複数のセンサ素子124を有する。
分散素子120は、走査ミラー104の位置する平面130に対して光学的に等価な中間像面128に配置されている。また、中間像面128は、図4に番号132で表された、試料115の位置する対象面に対して光学的に共役である。さらに、図4には、中間像面134,136,138も示されている。中間像面134は、平面130に対して光学的に等価でありかつ対象面132に対して光学的に共役である。中間像面136および中間像面138は、対象面132に対して光学的に等価でありかつ平面130に対して光学的に共役である。
分散素子120の位置する中間像面128は、走査ミラー104の位置する平面130に対して光学的に等価であるので、検出ビーム114は、走査ミラー104の傾動によって、分散素子120の箇所での入射位置ではなく、入射角のみを変化させる。分散素子120の箇所での検出ビーム114の空間的変化は、この場合、走査ミラー104の箇所での照明ビーム102の空間的変化に対応する。よって、検出ビーム114は、分散素子120の箇所で定置である。
分散素子120は、検出ビーム114が種々のスペクトル成分に分割されるようにする予め定められた分散作用を有する。各スペクトル成分は、図4の図示では、部分ビーム114−1〜114−7の形態で示されている。また、部分ビーム114−1〜114−7は、図4に示されている走査ミラー104の傾動位置の双方に対して、1つは実線で、もう1つは破線で示されている。
図4の図示からわかるように、部分ビーム114−1〜114−7は、スペクトル情報を角度情報として符号化した、いわばスペクトルセクタを形成している。当該角度情報は、種々の部分ビーム114−1〜114−7が分散素子120から出て画像センサ122の個々のセンサ素子124へ入射する際の角度によって与えられている。
図4の実施形態では、照明ビーム102が、試料115を相互に垂直な2つの方向で走査する。ここでは、一方の方向での走査が他方の方向での走査より迅速に行われる。2つの走査方向は、画像センサ122上の2つの対応する方向へ変換される。当該対応する方向を、簡明性のために、以下では走査方向とも称する。
図4の実施形態では、分散素子120は、自身が検出ビーム114をスペクトル分割する平面が緩慢な走査方向に対して平行に位置するように構成されている。この場合、図4に示されているスペクトル分割の平面は、図平面によって与えられている。したがって、走査ミラー104が緩慢な走査方向で運動される場合、分散素子120によって生じた、部分ビーム114−1〜140−7から成るスペクトルセクタは、図平面において運動する。また、走査ミラーが迅速な走査方向で運動される場合、部分ビーム114−1〜114−7から成るスペクトルセクタは、図4の図平面に対して垂直な、迅速な走査方向で傾動する。
検出ビーム114のスペクトル分解検出を可能にするために、制御部126は、走査ミラー104がまさに行っている傾動を検出し、ここから、分散素子120に設定されている分散作用を考慮して、検出ビーム114のうち、部分ビーム114−1〜114−7のいずれかの形態での観察スペクトル成分をまさに受信しているセンサ素子124を求める。制御部126は、検出ビーム114の観察スペクトル成分が検出されるそれぞれの時点で、当該センサ素子124を読み出す。
図5には、分散素子120と画像センサ122との間に配置された検出光学系140がきわめて概略的な図で示されている。当該検出光学系140は、図4の実施形態に補充可能である。
第1の実施形態では、検出光学系140は、焦点面144を有する集光レンズ142のみから形成されている。集光レンズ142は、検出ビーム114の各スペクトル成分に対応する各部分ビーム114−1〜114−7が垂直に画像センサ122に入射するよう、これらを画像センサ122へ集束する。図5の例では、照明ビーム102が試料115を緩慢な走査方向で走査する場合に、x−z平面で部分ビーム114−1〜114−7に分解された検出ビーム114がx方向へ運動される。これに対して、照明ビーム102が試料115を迅速な走査方向で走査する場合、検出ビーム114は画像センサ122上でy方向へ運動する。当該実施形態では、画像センサ122は、上述した検出ビーム114の運動により、好ましくは、個々のセンサ素子124がマトリクス状に行(x方向)および列(y方向)で配置された面状センサとして構成されている。定められた列(y方向)に配置されたセンサ素子124はそれぞれ同じスペクトル成分を受信するので、当該列のセンサ素子124から読み出される信号をスペクトル検出の際に統合することができる。
面状センサに代えて、線状センサも画像センサ122として使用可能である。この場合、検出光学系140は、各部分ビーム114−1〜114−7を個々のラインにフォーカシングするように構成される。このことは、例えば、3つのシリンドリカルレンズから成る装置によって実現可能である。当該実施形態についても、以下に、図5に即して説明する。レンズ142は、この場合、自身を通過する検出ビーム114をx−z平面でのみ屈折させるシリンドリカルレンズとして構成される。さらに、2つの別のシリンドリカルレンズ144,146が設けられており、そのうちレンズ144は中央のシリンドリカルレンズ142よりも光路上流に、レンズ146は光路下流に配置されている。シリンドリカルレンズ144,146は、中央のシリンドリカルレンズ142に対して垂直なシリンドリカル軸線を有するように配置されている。したがって、シリンドリカルレンズ144,146は、検出光学系140を通るy−z平面で切断した断面を示す図6の図示からわかるように、自身を通る検出ビーム114をy−z平面でのみ屈折させる。よって、図5,図6では、それぞれ破線で示されたレンズは、図平面に対して垂直に配向された軸線においてのみ作用する。レンズ間隔を適切に選択することにより、シリンドリカルレンズ142,144,146の交差配置によって生じる検出ビーム114がy方向で入射角のみを変化させて入射位置を変化させない構成を、達成可能である。これにより、線状センサの使用、すなわち、各時点で全光量を検出する単線の検出器の使用が可能となる。

Claims (15)

  1. 走査顕微鏡であって、
    照明ビーム(102)を試料(115)にフォーカシングする対物系(112)と、
    前記対物系(112)に前置されており、前記試料(115)全体にわたる走査運動においてフォーカシングされた前記照明ビーム(102)をガイドするために前記照明ビーム(102)を時間的に可変に偏向すべく位置調整可能な走査素子(104)と、
    前記対物系(112)により、フォーカシングされた前記照明ビーム(102)によって照明される前記試料(115)から出た検出ビーム(114)が結像される画像センサ(122)と
    を備え、
    前記画像センサ(122)は、制御部(126)によって個々に読み出し可能な複数のセンサ素子(124)を有しており、前記複数のセンサ素子(124)を介して、前記検出ビーム(114)が、フォーカシングされた前記照明ビーム(102)の走査運動に対応する運動でガイドされる走査顕微鏡において、
    前記検出ビーム(114)の種々のスペクトル成分を前記画像センサ(122)上で空間的に相互に分離する予め定められた分散作用を有する分散素子(120)が、前記画像センサ(122)に前置されて設けられており、
    前記制御部(126)は、前記検出ビーム(114)のスペクトル分解検出のために前記走査素子(104)の時間的に可変の位置調整量を検出し、前記位置調整量に依存して、前記分散素子(120)の予め定められた分散作用を考慮しつつ、前記画像センサ(122)の前記センサ素子(124)に、前記検出ビーム(114)の空間的に相互に分離されたスペクトル成分を対応させ、それぞれのスペクトル成分に対応する前記センサ素子(124)を読み出す、
    ことを特徴とする走査顕微鏡。
  2. 前記分散素子(120)は、前記試料(115)が配置された平面(132)に対して光学的に共役な平面(128)に配置されている、
    請求項1記載の走査顕微鏡。
  3. 前記分散素子(120)が配置された前記平面(128)は、前記走査素子(104)が配置された平面(130)に対して光学的に等価である、
    請求項2記載の走査顕微鏡。
  4. 前記走査素子(104)は、第1の走査方向で、前記試料(115)の全体にわたって、前記照明ビーム(102)をガイドする、
    請求項1から3までのいずれか1項記載の走査顕微鏡。
  5. 前記走査素子(104)は、付加的に、前記第1の走査方向に対して垂直な第2の走査方向で、前記試料(115)の全体にわたって、前記照明ビーム(102)をガイドし、
    前記第1の走査方向での前記照明ビーム(102)の運動は、前記第2の走査方向での前記照明ビームの運動より迅速である、
    請求項4記載の走査顕微鏡。
  6. 前記分散素子(120)の分散作用は、前記照明ビーム(102)が前記第1の走査方向で前記試料(115)の全体にわたってガイドされる場合に、前記検出ビーム(114)のスペクトル成分が、前記画像センサ(122)上で、前記画像センサ(122)の全体にわたって前記検出ビーム(114)がガイドされる方向に対して垂直な方向で空間的に相互に分離されるように、予め定められている、
    請求項4または5記載の走査顕微鏡。
  7. 前記分散素子(120)と前記画像センサ(122)との間に検出光学系(140)が配置されており、
    前記検出光学系(140)は、前記走査素子(104)が位置調整されるたびに、前記分散素子(120)によってスペクトル分割された前記検出ビーム(114)を全体として前記画像センサ(122)へ集束させる、
    請求項1から6までのいずれか1項記載の走査顕微鏡。
  8. 前記検出光学系(140)は、前記分散素子(120)を焦点面に配置したレンズである、
    請求項7記載の走査顕微鏡。
  9. 前記検出光学系(140)は、前記走査素子(104)が位置調整されるたびに、スペクトル分割された前記検出ビーム(114)を、設定されたラインに沿って前記画像センサ(122)へ集束させるように構成されている、
    請求項7または8記載の走査顕微鏡。
  10. 前記検出光学系(140)は、交差配置された3つのシリンドリカルレンズ(142,144,146)を含み、そのうち中央のシリンドリカルレンズ(142)は、第1の平面に位置する屈折作用断面を有し、他の2つのシリンドリカルレンズ(144,146)の屈折作用断面は、前記第1の平面に対して垂直な第2の平面に位置する、
    請求項9記載の走査顕微鏡。
  11. 前記制御部(126)は、少なくとも1つのスペクトル成分を選択し、前記選択されたスペクトル成分に対応するセンサ素子(124)のみを読み出す、
    請求項1から10までのいずれか1項記載の走査顕微鏡。
  12. 前記画像センサ(122)は、面状センサもしくは線状センサである、
    請求項1から11までのいずれか1項記載の走査顕微鏡。
  13. 前記分散素子(120)は、プリズムもしくは格子である、
    請求項1から12までのいずれか1項記載の走査顕微鏡。
  14. 前記検出ビーム(114)のスペクトル分解検出のために、ノンデスキャン方式で構成されている、
    請求項1から13までのいずれか1項記載の走査顕微鏡。
  15. 試料(115)を走査顕微鏡によって結像する方法であって、
    対物系(112)により、照明ビーム(102)を前記試料(115)にフォーカシングし、
    前記対物系(112)に前置された走査素子(104)を位置調整して前記照明ビーム(102)を時間的に可変に偏向させ、これにより前記試料(115)全体にわたる走査運動においてフォーカシングされた前記照明ビーム(102)をガイドし、
    前記対物系(112)により、フォーカシングされた前記照明ビーム(102)によって照明される前記試料(115)から出た検出ビーム(114)を画像センサ(122)へフォーカシングし、
    前記画像センサ(122)は、制御部(126)によって個々に読み出し可能な複数のセンサ素子(124)を有しており、前記複数のセンサ素子(124)を介して、前記検出ビーム(114)を、フォーカシングされた前記照明ビーム(102)の走査運動に対応する運動でガイドする方法において、
    前記画像センサ(122)での前記検出ビーム(114)の種々のスペクトル成分を、前記画像センサ(122)に前置された、予め定められた分散作用を有する分散素子(120)によって、空間的に相互に分離し、
    前記制御部(126)により、前記検出ビーム(114)のスペクトル分解検出のために前記走査素子(104)の時間的に可変の位置調整量を検出し、前記位置調整量に依存して、前記分散素子(120)の予め定められた分散作用を考慮しつつ、前記画像センサ(122)の前記センサ素子(124)に、前記検出ビーム(114)の空間的に相互に分離されたスペクトル成分を対応させ、それぞれのスペクトル成分に対応する前記センサ素子(124)を読み出す、ことを特徴とする方法。
JP2017533247A 2014-12-19 2015-12-21 走査顕微鏡 Pending JP2018501515A (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
LU92620 2014-12-19
LU92620A LU92620B1 (de) 2014-12-19 2014-12-19 Rastermikroskop
PCT/EP2015/080724 WO2016097399A1 (de) 2014-12-19 2015-12-21 Rastermikroskop

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2018501515A true JP2018501515A (ja) 2018-01-18

Family

ID=52440760

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2017533247A Pending JP2018501515A (ja) 2014-12-19 2015-12-21 走査顕微鏡

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10663707B2 (ja)
EP (1) EP3234680A1 (ja)
JP (1) JP2018501515A (ja)
LU (1) LU92620B1 (ja)
WO (1) WO2016097399A1 (ja)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
LU92620B1 (de) * 2014-12-19 2016-06-20 Leica Microsystems Rastermikroskop

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001066127A (ja) * 1999-08-26 2001-03-16 Sumitomo Osaka Cement Co Ltd 光学的表面検査機構及び光学的表面検査装置
JP2010271569A (ja) * 2009-05-22 2010-12-02 Olympus Corp 走査型顕微鏡装置
US20120257037A1 (en) * 2011-04-07 2012-10-11 Valerica Raicu High speed microscope with two-stage scanning for detection of rarities in samples

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6858852B2 (en) * 2000-08-08 2005-02-22 Carl Zeiss Jena Gmbh Method and apparatus for rapid change of fluorescence bands in the detection of dyes in fluorescence microscopy
DE10065784C2 (de) * 2000-12-30 2003-12-04 Leica Microsystems Verfahren zum Auffinden von Kontaktstellen zwischen Zellen in einer stimulierbaren mikroskopischen Probe bei einer Kalziummigration und Scanmikroskop zur Durchführung des Verfahrens
EP1620631B1 (en) * 2003-05-02 2007-07-11 Baker Hughes Incorporated Continuous data recorder for a downhole sample tank
US7609382B2 (en) * 2003-05-23 2009-10-27 General Dynamics Advanced Information System, Inc, System and method of detecting entangled photons
US7539308B2 (en) * 2003-05-23 2009-05-26 General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. Quantum steganography
US7304314B2 (en) * 2003-11-26 2007-12-04 General Dynamics Advanced Information Systems Inc. Quantum cross-ambiguity function generator
US7831048B2 (en) * 2003-12-17 2010-11-09 General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. Secure quantum key distribution using entangled photons
JP4414771B2 (ja) * 2004-01-08 2010-02-10 オリンパス株式会社 共焦点顕微分光装置
US7292342B2 (en) * 2004-01-30 2007-11-06 General Dynamics Advanced Information Systems Inc. Entangled photon fourier transform spectroscopy
US7408637B2 (en) * 2004-03-24 2008-08-05 General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. Entangled photon spectroscopy for stand-off detection and characterization
US7362420B2 (en) * 2004-03-24 2008-04-22 General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. Entangled-photons range finding system and method
JP4804727B2 (ja) * 2004-06-24 2011-11-02 オリンパス株式会社 光走査型共焦点顕微鏡
EP3203235A1 (en) * 2005-05-23 2017-08-09 Harald F. Hess Optical microscopy with phototransformable optical labels
US7706694B2 (en) * 2005-07-25 2010-04-27 General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. Processor for entangled complex signals
DE102008029458B4 (de) * 2008-06-20 2019-02-07 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zum Aufzeichnen von Impulssignalen
FI20096067A0 (fi) * 2009-10-15 2009-10-15 Valtion Teknillinen Raman-säteilyn mittaus
DE102009060793A1 (de) * 2009-12-22 2011-07-28 Carl Zeiss Microlmaging GmbH, 07745 Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten
DE102010007730B4 (de) * 2010-02-12 2021-08-26 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Vorrichtung zum Einstellen eines geeigneten Auswerteparameters für ein Fluoreszenzmikroskop
DE102010036709A1 (de) * 2010-07-28 2012-02-02 Leica Microsystems Cms Gmbh Einrichtung und Verfahren zur mikroskopischen Bildaufnahme einer Probenstruktur
JP2012208050A (ja) * 2011-03-30 2012-10-25 Tokyo Electron Ltd 測定装置及びプラズマ処理装置
DE102011017078B4 (de) * 2011-04-15 2019-01-31 Leica Microsystems Cms Gmbh Weitfeld-Mikroskop-Beleuchtungssystem, Verwendung desselben und Weitfeld-Beleuchtungsverfahren
DE102011055294B4 (de) * 2011-11-11 2013-11-07 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopische Einrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten in einer Probe
DE102011086230B4 (de) * 2011-11-11 2023-02-23 Leica Microsystems Cms Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung und Detektion in der RESOLFT-Mikroskopie
JP6257156B2 (ja) * 2013-03-04 2018-01-10 オリンパス株式会社 顕微鏡装置
DE102013102988A1 (de) * 2013-03-22 2014-09-25 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten
DE102013106895B4 (de) * 2013-07-01 2015-09-17 Leica Microsystems Cms Gmbh Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten
US9690086B2 (en) * 2013-11-20 2017-06-27 Leica Microsystems Cms Gmbh Wide-field microscope illumination system and wide-field illumination method
LU92620B1 (de) * 2014-12-19 2016-06-20 Leica Microsystems Rastermikroskop

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001066127A (ja) * 1999-08-26 2001-03-16 Sumitomo Osaka Cement Co Ltd 光学的表面検査機構及び光学的表面検査装置
JP2010271569A (ja) * 2009-05-22 2010-12-02 Olympus Corp 走査型顕微鏡装置
US20120257037A1 (en) * 2011-04-07 2012-10-11 Valerica Raicu High speed microscope with two-stage scanning for detection of rarities in samples

Also Published As

Publication number Publication date
US10663707B2 (en) 2020-05-26
US20170351071A1 (en) 2017-12-07
WO2016097399A1 (de) 2016-06-23
EP3234680A1 (de) 2017-10-25
LU92620B1 (de) 2016-06-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP6346615B2 (ja) 光学顕微鏡および顕微鏡観察方法
US8081309B2 (en) Optical microscope and spectrum measuring method
US7724363B2 (en) Device for multifocal confocal microscopic determination of spatial distribution and for multifocal fluctuation analysis of fluorescent molecules and structures with flexible spectral detection
US10295470B2 (en) Microspectroscope
US9671600B2 (en) Light microscope and microscopy method
JP5913964B2 (ja) 分光検出装置、及び、それを備えた共焦点顕微鏡
US10514533B2 (en) Method for creating a microscope image, microscopy device, and deflecting device
JP6096814B2 (ja) スペクトル検出を伴う光走査型顕微鏡
US9804029B2 (en) Microspectroscopy device
US11016277B2 (en) Method and device for examination of a sample
JP2003248175A (ja) 試料内で励起および/または後方散乱を経た光ビームの光学的捕捉のための配置
JP5032754B2 (ja) 光走査型顕微鏡およびそれの使用
JP2007506955A (ja) エバネッセント波照明を備えた走査顕微鏡
US20160054552A1 (en) Confocal laser scanning microscope
EP2828700A1 (en) Multi-color confocal microscope and imaging methods
US20140293037A1 (en) Optical microscope and method for examining a microscopic sample
JP7094225B2 (ja) 試料を検査する方法および顕微鏡
JP2018501515A (ja) 走査顕微鏡
US9389402B2 (en) Laser scanning microscope
JP2018194634A (ja) ライトフィールド顕微鏡
US9400376B2 (en) Z-axis optical focusing mechanism

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20170619

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20181221

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20190906

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20190917

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20191212

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20200114