JP2018501515A - 走査顕微鏡 - Google Patents
走査顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018501515A JP2018501515A JP2017533247A JP2017533247A JP2018501515A JP 2018501515 A JP2018501515 A JP 2018501515A JP 2017533247 A JP2017533247 A JP 2017533247A JP 2017533247 A JP2017533247 A JP 2017533247A JP 2018501515 A JP2018501515 A JP 2018501515A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scanning
- detection
- image sensor
- sample
- illumination beam
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 0 *CC1CC*CC1 Chemical compound *CC1CC*CC1 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/006—Optical details of the image generation focusing arrangements; selection of the plane to be imaged
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0036—Scanning details, e.g. scanning stages
- G02B21/0044—Scanning details, e.g. scanning stages moving apertures, e.g. Nipkow disks, rotating lens arrays
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0064—Optical details of the image generation multi-spectral or wavelength-selective arrangements, e.g. wavelength fan-out, chromatic profiling
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/0052—Optical details of the image generation
- G02B21/0076—Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/002—Scanning microscopes
- G02B21/0024—Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
- G02B21/008—Details of detection or image processing, including general computer control
- G02B21/0084—Details of detection or image processing, including general computer control time-scale detection, e.g. strobed, ultra-fast, heterodyne detection
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/361—Optical details, e.g. image relay to the camera or image sensor
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
- G02B21/367—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Abstract
Description
Claims (15)
- 走査顕微鏡であって、
照明ビーム(102)を試料(115)にフォーカシングする対物系(112)と、
前記対物系(112)に前置されており、前記試料(115)全体にわたる走査運動においてフォーカシングされた前記照明ビーム(102)をガイドするために前記照明ビーム(102)を時間的に可変に偏向すべく位置調整可能な走査素子(104)と、
前記対物系(112)により、フォーカシングされた前記照明ビーム(102)によって照明される前記試料(115)から出た検出ビーム(114)が結像される画像センサ(122)と
を備え、
前記画像センサ(122)は、制御部(126)によって個々に読み出し可能な複数のセンサ素子(124)を有しており、前記複数のセンサ素子(124)を介して、前記検出ビーム(114)が、フォーカシングされた前記照明ビーム(102)の走査運動に対応する運動でガイドされる走査顕微鏡において、
前記検出ビーム(114)の種々のスペクトル成分を前記画像センサ(122)上で空間的に相互に分離する予め定められた分散作用を有する分散素子(120)が、前記画像センサ(122)に前置されて設けられており、
前記制御部(126)は、前記検出ビーム(114)のスペクトル分解検出のために前記走査素子(104)の時間的に可変の位置調整量を検出し、前記位置調整量に依存して、前記分散素子(120)の予め定められた分散作用を考慮しつつ、前記画像センサ(122)の前記センサ素子(124)に、前記検出ビーム(114)の空間的に相互に分離されたスペクトル成分を対応させ、それぞれのスペクトル成分に対応する前記センサ素子(124)を読み出す、
ことを特徴とする走査顕微鏡。 - 前記分散素子(120)は、前記試料(115)が配置された平面(132)に対して光学的に共役な平面(128)に配置されている、
請求項1記載の走査顕微鏡。 - 前記分散素子(120)が配置された前記平面(128)は、前記走査素子(104)が配置された平面(130)に対して光学的に等価である、
請求項2記載の走査顕微鏡。 - 前記走査素子(104)は、第1の走査方向で、前記試料(115)の全体にわたって、前記照明ビーム(102)をガイドする、
請求項1から3までのいずれか1項記載の走査顕微鏡。 - 前記走査素子(104)は、付加的に、前記第1の走査方向に対して垂直な第2の走査方向で、前記試料(115)の全体にわたって、前記照明ビーム(102)をガイドし、
前記第1の走査方向での前記照明ビーム(102)の運動は、前記第2の走査方向での前記照明ビームの運動より迅速である、
請求項4記載の走査顕微鏡。 - 前記分散素子(120)の分散作用は、前記照明ビーム(102)が前記第1の走査方向で前記試料(115)の全体にわたってガイドされる場合に、前記検出ビーム(114)のスペクトル成分が、前記画像センサ(122)上で、前記画像センサ(122)の全体にわたって前記検出ビーム(114)がガイドされる方向に対して垂直な方向で空間的に相互に分離されるように、予め定められている、
請求項4または5記載の走査顕微鏡。 - 前記分散素子(120)と前記画像センサ(122)との間に検出光学系(140)が配置されており、
前記検出光学系(140)は、前記走査素子(104)が位置調整されるたびに、前記分散素子(120)によってスペクトル分割された前記検出ビーム(114)を全体として前記画像センサ(122)へ集束させる、
請求項1から6までのいずれか1項記載の走査顕微鏡。 - 前記検出光学系(140)は、前記分散素子(120)を焦点面に配置したレンズである、
請求項7記載の走査顕微鏡。 - 前記検出光学系(140)は、前記走査素子(104)が位置調整されるたびに、スペクトル分割された前記検出ビーム(114)を、設定されたラインに沿って前記画像センサ(122)へ集束させるように構成されている、
請求項7または8記載の走査顕微鏡。 - 前記検出光学系(140)は、交差配置された3つのシリンドリカルレンズ(142,144,146)を含み、そのうち中央のシリンドリカルレンズ(142)は、第1の平面に位置する屈折作用断面を有し、他の2つのシリンドリカルレンズ(144,146)の屈折作用断面は、前記第1の平面に対して垂直な第2の平面に位置する、
請求項9記載の走査顕微鏡。 - 前記制御部(126)は、少なくとも1つのスペクトル成分を選択し、前記選択されたスペクトル成分に対応するセンサ素子(124)のみを読み出す、
請求項1から10までのいずれか1項記載の走査顕微鏡。 - 前記画像センサ(122)は、面状センサもしくは線状センサである、
請求項1から11までのいずれか1項記載の走査顕微鏡。 - 前記分散素子(120)は、プリズムもしくは格子である、
請求項1から12までのいずれか1項記載の走査顕微鏡。 - 前記検出ビーム(114)のスペクトル分解検出のために、ノンデスキャン方式で構成されている、
請求項1から13までのいずれか1項記載の走査顕微鏡。 - 試料(115)を走査顕微鏡によって結像する方法であって、
対物系(112)により、照明ビーム(102)を前記試料(115)にフォーカシングし、
前記対物系(112)に前置された走査素子(104)を位置調整して前記照明ビーム(102)を時間的に可変に偏向させ、これにより前記試料(115)全体にわたる走査運動においてフォーカシングされた前記照明ビーム(102)をガイドし、
前記対物系(112)により、フォーカシングされた前記照明ビーム(102)によって照明される前記試料(115)から出た検出ビーム(114)を画像センサ(122)へフォーカシングし、
前記画像センサ(122)は、制御部(126)によって個々に読み出し可能な複数のセンサ素子(124)を有しており、前記複数のセンサ素子(124)を介して、前記検出ビーム(114)を、フォーカシングされた前記照明ビーム(102)の走査運動に対応する運動でガイドする方法において、
前記画像センサ(122)での前記検出ビーム(114)の種々のスペクトル成分を、前記画像センサ(122)に前置された、予め定められた分散作用を有する分散素子(120)によって、空間的に相互に分離し、
前記制御部(126)により、前記検出ビーム(114)のスペクトル分解検出のために前記走査素子(104)の時間的に可変の位置調整量を検出し、前記位置調整量に依存して、前記分散素子(120)の予め定められた分散作用を考慮しつつ、前記画像センサ(122)の前記センサ素子(124)に、前記検出ビーム(114)の空間的に相互に分離されたスペクトル成分を対応させ、それぞれのスペクトル成分に対応する前記センサ素子(124)を読み出す、ことを特徴とする方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
LU92620 | 2014-12-19 | ||
LU92620A LU92620B1 (de) | 2014-12-19 | 2014-12-19 | Rastermikroskop |
PCT/EP2015/080724 WO2016097399A1 (de) | 2014-12-19 | 2015-12-21 | Rastermikroskop |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018501515A true JP2018501515A (ja) | 2018-01-18 |
Family
ID=52440760
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017533247A Pending JP2018501515A (ja) | 2014-12-19 | 2015-12-21 | 走査顕微鏡 |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10663707B2 (ja) |
EP (1) | EP3234680A1 (ja) |
JP (1) | JP2018501515A (ja) |
LU (1) | LU92620B1 (ja) |
WO (1) | WO2016097399A1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
LU92620B1 (de) * | 2014-12-19 | 2016-06-20 | Leica Microsystems | Rastermikroskop |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001066127A (ja) * | 1999-08-26 | 2001-03-16 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光学的表面検査機構及び光学的表面検査装置 |
JP2010271569A (ja) * | 2009-05-22 | 2010-12-02 | Olympus Corp | 走査型顕微鏡装置 |
US20120257037A1 (en) * | 2011-04-07 | 2012-10-11 | Valerica Raicu | High speed microscope with two-stage scanning for detection of rarities in samples |
Family Cites Families (28)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6858852B2 (en) * | 2000-08-08 | 2005-02-22 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Method and apparatus for rapid change of fluorescence bands in the detection of dyes in fluorescence microscopy |
DE10065784C2 (de) * | 2000-12-30 | 2003-12-04 | Leica Microsystems | Verfahren zum Auffinden von Kontaktstellen zwischen Zellen in einer stimulierbaren mikroskopischen Probe bei einer Kalziummigration und Scanmikroskop zur Durchführung des Verfahrens |
EP1620631B1 (en) * | 2003-05-02 | 2007-07-11 | Baker Hughes Incorporated | Continuous data recorder for a downhole sample tank |
US7609382B2 (en) * | 2003-05-23 | 2009-10-27 | General Dynamics Advanced Information System, Inc, | System and method of detecting entangled photons |
US7539308B2 (en) * | 2003-05-23 | 2009-05-26 | General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. | Quantum steganography |
US7304314B2 (en) * | 2003-11-26 | 2007-12-04 | General Dynamics Advanced Information Systems Inc. | Quantum cross-ambiguity function generator |
US7831048B2 (en) * | 2003-12-17 | 2010-11-09 | General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. | Secure quantum key distribution using entangled photons |
JP4414771B2 (ja) * | 2004-01-08 | 2010-02-10 | オリンパス株式会社 | 共焦点顕微分光装置 |
US7292342B2 (en) * | 2004-01-30 | 2007-11-06 | General Dynamics Advanced Information Systems Inc. | Entangled photon fourier transform spectroscopy |
US7408637B2 (en) * | 2004-03-24 | 2008-08-05 | General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. | Entangled photon spectroscopy for stand-off detection and characterization |
US7362420B2 (en) * | 2004-03-24 | 2008-04-22 | General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. | Entangled-photons range finding system and method |
JP4804727B2 (ja) * | 2004-06-24 | 2011-11-02 | オリンパス株式会社 | 光走査型共焦点顕微鏡 |
EP3203235A1 (en) * | 2005-05-23 | 2017-08-09 | Harald F. Hess | Optical microscopy with phototransformable optical labels |
US7706694B2 (en) * | 2005-07-25 | 2010-04-27 | General Dynamics Advanced Information Systems, Inc. | Processor for entangled complex signals |
DE102008029458B4 (de) * | 2008-06-20 | 2019-02-07 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren zum Aufzeichnen von Impulssignalen |
FI20096067A0 (fi) * | 2009-10-15 | 2009-10-15 | Valtion Teknillinen | Raman-säteilyn mittaus |
DE102009060793A1 (de) * | 2009-12-22 | 2011-07-28 | Carl Zeiss Microlmaging GmbH, 07745 | Hochauflösendes Mikroskop und Verfahren zur zwei- oder dreidimensionalen Positionsbestimmung von Objekten |
DE102010007730B4 (de) * | 2010-02-12 | 2021-08-26 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Einstellen eines geeigneten Auswerteparameters für ein Fluoreszenzmikroskop |
DE102010036709A1 (de) * | 2010-07-28 | 2012-02-02 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Einrichtung und Verfahren zur mikroskopischen Bildaufnahme einer Probenstruktur |
JP2012208050A (ja) * | 2011-03-30 | 2012-10-25 | Tokyo Electron Ltd | 測定装置及びプラズマ処理装置 |
DE102011017078B4 (de) * | 2011-04-15 | 2019-01-31 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Weitfeld-Mikroskop-Beleuchtungssystem, Verwendung desselben und Weitfeld-Beleuchtungsverfahren |
DE102011055294B4 (de) * | 2011-11-11 | 2013-11-07 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Mikroskopische Einrichtung und Verfahren zur dreidimensionalen Lokalisierung von punktförmigen Objekten in einer Probe |
DE102011086230B4 (de) * | 2011-11-11 | 2023-02-23 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung und Detektion in der RESOLFT-Mikroskopie |
JP6257156B2 (ja) * | 2013-03-04 | 2018-01-10 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡装置 |
DE102013102988A1 (de) * | 2013-03-22 | 2014-09-25 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten |
DE102013106895B4 (de) * | 2013-07-01 | 2015-09-17 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Lichtmikroskopisches Verfahren zur Lokalisierung von Punktobjekten |
US9690086B2 (en) * | 2013-11-20 | 2017-06-27 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Wide-field microscope illumination system and wide-field illumination method |
LU92620B1 (de) * | 2014-12-19 | 2016-06-20 | Leica Microsystems | Rastermikroskop |
-
2014
- 2014-12-19 LU LU92620A patent/LU92620B1/xx active
-
2015
- 2015-12-21 WO PCT/EP2015/080724 patent/WO2016097399A1/de active Application Filing
- 2015-12-21 EP EP15817826.9A patent/EP3234680A1/de not_active Withdrawn
- 2015-12-21 US US15/536,675 patent/US10663707B2/en active Active
- 2015-12-21 JP JP2017533247A patent/JP2018501515A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001066127A (ja) * | 1999-08-26 | 2001-03-16 | Sumitomo Osaka Cement Co Ltd | 光学的表面検査機構及び光学的表面検査装置 |
JP2010271569A (ja) * | 2009-05-22 | 2010-12-02 | Olympus Corp | 走査型顕微鏡装置 |
US20120257037A1 (en) * | 2011-04-07 | 2012-10-11 | Valerica Raicu | High speed microscope with two-stage scanning for detection of rarities in samples |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US10663707B2 (en) | 2020-05-26 |
US20170351071A1 (en) | 2017-12-07 |
WO2016097399A1 (de) | 2016-06-23 |
EP3234680A1 (de) | 2017-10-25 |
LU92620B1 (de) | 2016-06-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP6346615B2 (ja) | 光学顕微鏡および顕微鏡観察方法 | |
US8081309B2 (en) | Optical microscope and spectrum measuring method | |
US7724363B2 (en) | Device for multifocal confocal microscopic determination of spatial distribution and for multifocal fluctuation analysis of fluorescent molecules and structures with flexible spectral detection | |
US10295470B2 (en) | Microspectroscope | |
US9671600B2 (en) | Light microscope and microscopy method | |
JP5913964B2 (ja) | 分光検出装置、及び、それを備えた共焦点顕微鏡 | |
US10514533B2 (en) | Method for creating a microscope image, microscopy device, and deflecting device | |
JP6096814B2 (ja) | スペクトル検出を伴う光走査型顕微鏡 | |
US9804029B2 (en) | Microspectroscopy device | |
US11016277B2 (en) | Method and device for examination of a sample | |
JP2003248175A (ja) | 試料内で励起および/または後方散乱を経た光ビームの光学的捕捉のための配置 | |
JP5032754B2 (ja) | 光走査型顕微鏡およびそれの使用 | |
JP2007506955A (ja) | エバネッセント波照明を備えた走査顕微鏡 | |
US20160054552A1 (en) | Confocal laser scanning microscope | |
EP2828700A1 (en) | Multi-color confocal microscope and imaging methods | |
US20140293037A1 (en) | Optical microscope and method for examining a microscopic sample | |
JP7094225B2 (ja) | 試料を検査する方法および顕微鏡 | |
JP2018501515A (ja) | 走査顕微鏡 | |
US9389402B2 (en) | Laser scanning microscope | |
JP2018194634A (ja) | ライトフィールド顕微鏡 | |
US9400376B2 (en) | Z-axis optical focusing mechanism |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20170619 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20181221 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20190906 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20190917 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20191212 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20200114 |