JP2018207099A5 - - Google Patents
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Claims (10)
- 可撓性基板層と、アクリルポリオール、アルキレン尿素−グリオキサール樹脂および酸触媒の架橋混合物を含む層とを含み、前記アクリルポリオールは、約300から約1500のOH当量、及び約−20℃から約90℃のガラス転移点を有することを特徴とする、メモリセル。
- 前記アルキレン尿素−グリオキサール樹脂のアルキレン部分が1〜約18個の炭素原子を含む、請求項1に記載のメモリセル。
- 前記アルキレン尿素−グリオキサール樹脂のアルキレン部分が、エチレン、プロピレンおよびブチレンからなる群から選択される、請求項1に記載のメモリセル。
- 前記アクリルポリオール、前記アルキレン尿素−グリオキサール樹脂および前記酸触媒の前記架橋混合物を含む前記層は、前記可撓性基板上のコーティングとして存在する、請求項1に記載のメモリセル。
- 前記アクリルポリオール、前記アルキレン尿素−グリオキサール樹脂および前記酸触媒の架橋混合物と接続する第1の電極と、前記第1の電極と接続する強誘電体メモリ層と、前記強誘電体メモリ層と接続する第2の電極と、前記第2の電極と接続するポリマーバッファー層と、前記バッファー層と接続する保護ポリマー層と、前記可撓性基板の上に並べられたスペーサーとをさらに含み、前記強誘電体層が、ポリフッ化ビニリデンとトリフルオロエチレンのコポリマー、ポリ(フッ化ビニリデンおよびトリフルオロエチレン)のコポリマーおよびポリフッ化ビニリデンとトリフルオロエチレンのコポリマーで構成され、前記可撓性基板が、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリテトラフルオロエチレン、ポリスチレン、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリ塩化ビニル、ポリ(塩化ビニリデン)、ポリ(メタクリル酸メチル)、ポリ(酢酸ビニル)、ポリカーボネート、ポリクロロトリフルオロエチレン、およびこれらの混合物からなる群から選択される、請求項4に記載のメモリセル。
- 可撓性基板層と、接着層と、前記接着層と接続する第1の電極と、前記第1の電極と強誘電体メモリ層に接続している第2の電極との間に配置される強誘電体メモリ層と、前記第2の電極と接続するバッファー層と、前記バッファー層と接続する保護層とをこの順に含み、前記接着層は、アクリルポリオール、アルキレン尿素−グリオキサール樹脂および酸触媒の架橋混合物で構成される、メモリセル。
- 前記アルキレン尿素−グリオキサール樹脂が、エチレン尿素−グリオキサール樹脂、ブチル化エチレン尿素−グリオキサール樹脂、エチル化エチレン尿素−グリオキサール、およびエチル化4,5−ジヒドロキシエチレン尿素グリオキサールからなる群から選択される、請求項6に記載のメモリセル。
- 複数のメモリセルを含み、各メモリセルが、可撓性基板層と、接着層と、前記接着層と接続する第1の電極と、前記第1の電極と接続する強誘電体メモリ層と、前記強誘電体メモリ層と接続する第2の電極と、前記第2の電極と接続するバッファー層と、前記バッファー層と接続する保護層とを含み、前記接着層は、アクリルポリオール、エチレン尿素−グリオキサール樹脂、ブチル化エチレン尿素−グリオキサール樹脂またはこれらの混合物、酸触媒の架橋混合物で構成される、メモリデバイス。
- 全固形分を基準として、存在するアクリルポリオールの量が約50重量%〜約95重量%であり、アルキレン尿素−グリオキサール樹脂の量が、約5重量%〜約50重量%であり、酸触媒が、約0.5重量%〜約5重量%存在し、第1の電極が金属で構成され、第2の電極が金属で構成され、強誘電体メモリ層が、ポリフッ化ビニリデンとトリフルオロエチレンのコポリマー、ポリ(フッ化ビニリデンおよびトリフルオロエチレン)のコポリマーおよびポリフッ化ビニリデンとトリフルオロエチレンのコポリマーで構成され、前記可撓性基板が、ポリエチレンテレフタレート、ポリエチレンナフタレート、ポリテトラフルオロエチレン、ポリスチレン、ポリプロピレン、ポリエチレン、ポリ塩化ビニル、ポリ(塩化ビニリデン)、ポリ(メタクリル酸メチル)、ポリ(酢酸ビニル)、ポリカーボネート、ポリクロロトリフルオロエチレン、およびこれらの混合物からなる群から選択される、請求項9に記載のメモリデバイス。
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