JP2018200291A5 - - Google Patents
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Claims (4)
- ２つのひずみゲージを用いて金属対象物の温度を測定するための装置であって、
前記２つのひずみゲージは、前記金属対象物に貼り付けられ、
前記２つのひずみゲージを用いてホイートストンブリッジ回路が構成され、
前記２つのひずみゲージのうちの第１のひずみゲージの線膨張係数は、前記金属対象物の線膨張係数より大きく、
前記２つのひずみゲージのうちの第２のひずみゲージの線膨張係数は、前記金属対象物の線膨張係数より小さい、
装置。 - ４つのひずみゲージを用いて金属対象物の温度を測定するための装置であって、
前記４つのひずみゲージは、前記金属対象物に貼り付けられ、
前記４つのひずみゲージを用いてホイートストンブリッジ回路が構成され、
前記４つのひずみゲージのうちの第１および第３のひずみゲージの線膨張係数は、前記金属対象物の線膨張係数より大きく、
前記４つのひずみゲージのうちの第２および第４のひずみゲージの線膨張係数は、前記金属対象物の線膨張係数より小さい、
装置。 - ２つのひずみゲージを用いて金属対象物の温度を測定するための装置であって、
前記２つのひずみゲージは、前記金属対象物に貼り付けられ、
前記２つのひずみゲージのグリッド方向は、互いに一致しており、
前記２つのひずみゲージを用いてホイートストンブリッジ回路が構成され、
前記２つのひずみゲージのうちの第１のひずみゲージの線膨張係数は、前記金属対象物の線膨張係数より大きく、
前記２つのひずみゲージのうちの第２のひずみゲージの線膨張係数は、前記金属対象物の線膨張係数より小さい、
装置。 - ４つのひずみゲージを用いて金属対象物の温度を測定するための装置であって、
前記４つのひずみゲージは、前記金属対象物に貼り付けられ、
前記４つのひずみゲージのグリッド方向は、互いに一致しており、
前記４つのひずみゲージを用いてホイートストンブリッジ回路が構成され、
前記４つのひずみゲージのうちの第１および第３のひずみゲージの線膨張係数は、前記金属対象物の線膨張係数より大きく、
前記４つのひずみゲージのうちの第２および第４のひずみゲージの線膨張係数は、前記金属対象物の線膨張係数より小さい、
装置。
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