JP2018183931A - Resin molding apparatus, and method for manufacturing resin molding - Google Patents
Resin molding apparatus, and method for manufacturing resin molding Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018183931A JP2018183931A JP2017087132A JP2017087132A JP2018183931A JP 2018183931 A JP2018183931 A JP 2018183931A JP 2017087132 A JP2017087132 A JP 2017087132A JP 2017087132 A JP2017087132 A JP 2017087132A JP 2018183931 A JP2018183931 A JP 2018183931A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- mold
- light
- molding
- resin molding
- resin
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000465 moulding Methods 0.000 title claims abstract description 467
- 229920005989 resin Polymers 0.000 title claims abstract description 254
- 239000011347 resin Substances 0.000 title claims abstract description 254
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 40
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 34
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 163
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 33
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 claims description 43
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 38
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 16
- 239000000758 substrate Substances 0.000 abstract description 282
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 24
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 18
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 17
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 12
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 12
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 10
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 9
- 238000007493 shaping process Methods 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 4
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 description 3
- 238000000748 compression moulding Methods 0.000 description 3
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 3
- 238000007789 sealing Methods 0.000 description 3
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 238000001721 transfer moulding Methods 0.000 description 2
- 239000004642 Polyimide Substances 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- 239000008187 granular material Substances 0.000 description 1
- 239000002075 main ingredient Substances 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 239000009719 polyimide resin Substances 0.000 description 1
- 239000000843 powder Substances 0.000 description 1
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 1
- -1 sheet Substances 0.000 description 1
- 229920002050 silicone resin Polymers 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 230000009466 transformation Effects 0.000 description 1
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C43/00—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
- B29C43/02—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles
- B29C43/18—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles incorporating preformed parts or layers, e.g. compression moulding around inserts or for coating articles
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C43/00—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
- B29C43/32—Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
- B29C43/58—Measuring, controlling or regulating
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/50—Assembly of semiconductor devices using processes or apparatus not provided for in a single one of the subgroups H01L21/06 - H01L21/326, e.g. sealing of a cap to a base of a container
- H01L21/56—Encapsulations, e.g. encapsulation layers, coatings
- H01L21/565—Moulds
- H01L21/566—Release layers for moulds, e.g. release layers, layers against residue during moulding
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C43/00—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
- B29C43/02—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles
- B29C43/18—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles incorporating preformed parts or layers, e.g. compression moulding around inserts or for coating articles
- B29C2043/181—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles incorporating preformed parts or layers, e.g. compression moulding around inserts or for coating articles encapsulated
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C43/00—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
- B29C43/32—Component parts, details or accessories; Auxiliary operations
- B29C43/58—Measuring, controlling or regulating
- B29C2043/585—Measuring, controlling or regulating detecting defects, e.g. foreign matter between the moulds, inaccurate position, breakage
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Moulds For Moulding Plastics Or The Like (AREA)
- Casting Or Compression Moulding Of Plastics Or The Like (AREA)
Abstract
Description
本発明は、樹脂成形対象物を樹脂成形する樹脂成形装置及び樹脂成形品の製造方法に関する。 The present invention relates to a resin molding apparatus for resin molding a resin molding object and a method for manufacturing a resin molded product.
従来技術として、例えば、特許文献1には、被成形品(5)の供給部(8)と、被成形品(5)を支持するプレート治具(10)の供給部(20)と、被成形品(5)に設けられた位置決め用の識別部を検知して被成形品(5)をプレート治具(10)の所定位置に装着する装着部(30)と、被成形品(5)が装着されたプレート治具(10)を樹脂モールド金型(50、51)に位置決めする位置決め手段が設けられ、プレート治具(10)とともに被成形品(5)をクランプして樹脂モールドする樹脂モールド金型(50、51)が装着されたプレス装置(40)と、樹脂モールド金型(50、51)により樹脂成形された成形品(62)の収納部(60)と、被成形品(5)、成形品(62)およびプレート治具(10)を、被成形品(5)の供給部(8)、プレート治具(10)の供給部(20)、装着部(30)、プレス装置(40)および成形品(62)の収納部(60)に給排する給排機構(70,72)とを備えている樹脂モールド装置が開示されている。
As a conventional technique, for example,
さらに、特許文献1には、位置決め手段として、例えば、その図6に示されるように、下型44に設けられた位置決めピン45に、プレート治具10を当接させることが記載されている(段落[0023]参照)。
Further,
特許文献1には、位置決めピン45にプレート治具10を当接させる位置決めにおいて、適切に位置決めが行なわれているか否かを確認することは記載されていない。すると、成形後の成形品から位置決めに起因する成形不良が判明することになる。
本発明は上記の課題を解決するもので、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる樹脂成形装置及び樹脂成形品の製造方法を提供することを目的とする。 The present invention solves the above-described problems, and an object thereof is to provide a resin molding apparatus and a method for manufacturing a resin molded product that can suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
上記の課題を解決するために、本発明に係る樹脂成形装置は、互いに対向して配置される第1型及び第2型を有する成形型と、第1型及び第2型のいずれか一方の型の型面に樹脂成形対象物を供給する供給機構と、型面において樹脂成形対象物をガイド部材に位置決めする位置決め機構と、成形型を型締めする型締機構と、照射光を発する発光素子と、供給機構に設けられ照射光を受光可能な第1受光素子と、樹脂成形対象物の位置決めに関して判断する判断部とを備え、一方の型は、発光素子からの照射光を通過させる第1出射用通過孔が設けられ、判断部は、第1出射用通過孔を通過した照射光に対する第1受光素子による検知に基づいて、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。 In order to solve the above-described problems, a resin molding apparatus according to the present invention includes a molding die having a first die and a second die arranged to face each other, and one of the first die and the second die. Supply mechanism for supplying resin molding object to mold surface of mold, positioning mechanism for positioning resin molding object on guide surface on guide member, mold clamping mechanism for clamping mold, and light emitting element for emitting irradiation light A first light receiving element that is provided in the supply mechanism and can receive the irradiation light, and a determination unit that determines the positioning of the resin molding target, wherein one of the molds allows the irradiation light from the light emitting element to pass therethrough. An exit passage hole is provided, and the determination unit determines whether the resin molding object is normally positioned on the guide member based on detection by the first light receiving element with respect to the irradiation light that has passed through the first exit passage hole. Judging.
上記の課題を解決するために、本発明に係る樹脂成形品の製造方法は、互いに対向して配置される第1型及び第2型を有する成形型のいずれか一方の型の型面に樹脂成形対象物を供給機構によって供給する供給工程と、型面において樹脂成形対象物をガイド部材に位置決めする位置決め工程と、一方の型に設けられた第1出射用通過孔を通過する照射光を発光素子から発する照射工程と、供給機構に設けられた第1受光素子が第1出射用通過孔を通過した照射光に関して検知する検知工程と、検知工程での検知に基づいて、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する判断工程と、判断工程において、樹脂成形対象物が正常に位置決めされていると判断した場合は成形型を型締めして樹脂成形する樹脂成形工程とを含む。 In order to solve the above-described problems, a method for producing a resin molded product according to the present invention includes a resin on a mold surface of one of a mold having a first mold and a second mold disposed to face each other. A supply step of supplying the molding object by the supply mechanism, a positioning step of positioning the resin molding object on the guide member on the mold surface, and emitting irradiation light that passes through the first emission passage hole provided in one mold Based on the irradiation process emitted from the element, the detection process in which the first light receiving element provided in the supply mechanism detects the irradiation light that has passed through the first emission passage hole, and the detection in the detection process, A determination process for determining whether or not the guide member is normally positioned, and a resin molding that performs resin molding by clamping the mold when it is determined in the determination process that the resin molding object is normally positioned. Process Including the.
本発明によれば、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this invention, generation | occurrence | production of the molding defect resulting from positioning can be suppressed.
以下、本発明に係る実施形態について、図面を参照して説明する。本出願書類におけるいずれの図についても、わかりやすくするために、適宜省略し又は誇張して模式的に描かれている。同一の構成要素については、同一の符号を付して説明を適宜省略する。なお、本出願書類において、「樹脂成形」とは、成形型により樹脂を成形することを意味し、成形型により封止樹脂部を成形する「樹脂封止」を含む概念の表現である。また、「樹脂成形品」とは、少なくとも樹脂成形された樹脂部分を含む製品を意味し。後述するような基板に装着された半導体チップが成形型により樹脂成形されて樹脂封止された形態の封止済基板を含む概念の表現である。 Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described with reference to the drawings. Any figure in the present application document is schematically omitted or exaggerated as appropriate for easy understanding. About the same component, the same code | symbol is attached | subjected and description is abbreviate | omitted suitably. In the present application documents, “resin molding” means that a resin is molded by a molding die, and is an expression of a concept including “resin sealing” in which a sealing resin portion is molded by a molding die. Further, “resin molded product” means a product including at least a resin-molded resin portion. It is an expression of a concept including a sealed substrate in a form in which a semiconductor chip mounted on a substrate as described later is resin-molded by a molding die and resin-sealed.
〔実施形態1〕
(樹脂成形ユニットの構成)
図1を参照して、本発明に係る樹脂成形装置において用いられる樹脂成形ユニットの構成を説明する。図1に示される樹脂成形ユニット1は、例えば、圧縮成形法又はトランスファ成形法を使用した樹脂成形ユニットである。樹脂成形ユニット1は基盤2を有する。基盤2の四隅において、4本の保持部材であるタイバー3が固定される。上方に向かって伸びる4本のタイバー3の上部に、基盤2に対向する固定プラテン4が固定される。基盤2と固定プラテン4との間において、基盤2と固定プラテン4のそれぞれに対向する可動プラテン5が、4本のタイバー3にはめ込まれる。基盤2の上には、可動プラテン5を昇降させる型締機構6が設けられる。型締機構6は、可動プラテン5を昇降させて成形型の型開きと型締めとを行う。型締機構6は、駆動源7と伝達部材8との組合せで構成される。例えば、型締機構6として、サーボモータとボールねじとの組合せ、油圧シリンダとロッドとの組合せなどが使用される。型締め機構としてトグルリンク機構を使用することもできる。
(Configuration of resin molding unit)
With reference to FIG. 1, the structure of the resin molding unit used in the resin molding apparatus according to the present invention will be described. A
固定プラテン4の下面には上型9が固定される。上型9の真下には、上型9に対向して下型10が設けられる。下型10は、可動プラテン5の上面に固定される。上型9と下型10とは、併せて成形型11を構成する。上型9及び下型10には加熱手段であるヒータ(図示なし)が適宜設けられる。
An
上型9と下型10との間には、例えば、上型9の型面に樹脂成形対象物12を供給する供給機構13が配置される。樹脂成形対象物12としては、例えば、半導体チップが装着された基板、半導体チップが装着されたリードフレームなどが上型9の型面に供給される。この場合には、上型9の型面に樹脂成形対象物12を供給する場合を示すが、下型10の型面に樹脂成形対象物12を供給しても良い。
Between the
(樹脂成形品の製造方法)
図1〜2を参照して、樹脂成形装置(図14参照)に設けられた樹脂成形ユニット1において、例えば、樹脂成形対象物として基板に装着された半導体チップを樹脂成形して樹脂成形品を製造する方法の工程について説明する。
(Production method of resin molded products)
1 and 2, in a
図2(a)に示されるように、まず、樹脂成形装置において、上型9と下型10とを型開きする。次に、供給機構13を使用して、半導体チップ14が装着された基板である成形前基板15を、上型9と下型10との間に搬送する。この場合には、成形前基板15を上型9の型面に供給するので、半導体チップ14が装着された面を下側にして搬送する。次に、供給機構13を上昇させて成形前基板15を上型9の型面に供給する。
As shown in FIG. 2A, first, the
次に、後述するように、上型9の型面において、成形前基板15を位置決め機構によってガイド部材に位置決めする(図3(a)参照)。成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされているか否かを、供給機構13に設けられた受光素子(図3(b)、(c)参照)を用いて検証する。成形前基板15を上型9の型面に位置決めする動作、及び、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされているか否かを判断する動作は、後述する(図3〜6参照)。
Next, as will be described later, the
次に、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされていると判断した場合には、離型フィルム供給機構(図14参照)を使用して、下型10に設けられたキャビティ16に離型フィルム17を供給する。離型フィルム17として、フィルム供給リールから巻き取りリールまで連続して供給される長尺状の離型フィルム、又は、短冊状にカットされた離型フィルムのいずれかが使用される。あるいは、離型フィルムを使用しないことも可能である。
Next, when it is determined that the
次に、図2(b)に示されるように、例えば、樹脂供給機構としてディスペンサを使用し、樹脂材料として液状樹脂をキャビティ16に供給する場合を説明する。図2(b)に示されるディスペンサ18は、予め主剤と硬化剤とが混合された液状樹脂を使用する1液タイプのディスペンサである。主剤として、例えば、熱硬化性を有するシリコーン樹脂又はエポキシ樹脂が使用される。液状樹脂を供給する際に主剤と硬化剤とを混合して使用する2液混合タイプのディスペンサを使用しても良い。
Next, as shown in FIG. 2B, for example, a case where a dispenser is used as the resin supply mechanism and a liquid resin is supplied to the
次に、移動機構19によってディスペンサ18を上型9と下型10との間に移動させる。次に、ディスペンサ18の吐出口からキャビティ16に液状樹脂20を吐出する。このことによって、キャビティ16に液状樹脂20が供給される。この場合には、ディスペンサ18を使用して液状樹脂20をキャビティ16に供給した。これに限らず、樹脂材料として、粉末状、顆粒状、シート状、固形状の樹脂材料などを使用してキャビティに供給することができる。
Next, the
次に、図2(c)に示されるように、型締機構6(図1参照)を使用して可動プラテン5を上昇させる。このことによって、上型9と下型10とを型締めする。型締めすることによって、成形前基板15に装着された半導体チップ14を、キャビティ16に供給された液状樹脂20に浸漬させる。このとき、下型10に設けられたキャビティ底面部材(図示なし)を使用して、キャビティ16内の液状樹脂20に一定の樹脂圧力を加えることができる。
Next, as shown in FIG. 2C, the
なお、型締めする工程において、真空引き機構(図示なし)を使用してキャビティ16内を吸引しても良い。このことによって、キャビティ16内に残留する空気や液状樹脂20中に含まれる気泡などが成形型11の外部に排出される。加えて、キャビティ16内が一定の真空度に設定される。
In the mold clamping process, the inside of the
次に、下型10に設けられたヒータ(図示なし)を使用して、液状樹脂20を硬化させるために必要な時間だけ、液状樹脂20を加熱する。液状樹脂20を硬化させて硬化樹脂21を成形する。このことによって、成形前基板15に装着された半導体チップ14を、キャビティ16の形状に対応して成形された硬化樹脂21によって樹脂成形(樹脂封止)する。
Next, the
次に、図2(d)に示されるように、硬化樹脂21を成形した後に、型締機構6を使用して可動プラテン5を下降させる。このことによって、上型9と下型10とを型開きする。上型9の型面には樹脂成形された成形済基板である樹脂成形品22が固定されている。次に、樹脂成形品22を上型9から離型する。この段階において、樹脂成形(樹脂封止)が完了する。
Next, as shown in FIG. 2D, after the cured
(基板の位置決め検証機構)
図3を参照して、成形型11に供給された成形前基板15の位置決めを検証する位置決め検証機構について説明する。位置決め検証機構は発光素子と受光素子とを備え、発光素子が発した照射光を受光素子が検知するか否かによって、成形前基板15の位置決めを検証する。本実施形態では、固定プラテン4に発光素子を設け、供給機構13に受光素子を設けた場合について説明する。
(Board positioning verification mechanism)
A positioning verification mechanism that verifies the positioning of the
図3(a)に示されるように、上型9の型面(下面)には、例えば、成形前基板15をX方向に位置決めするための位置決め部材としてガイド部材23が設けられる。ガイド部材23として、例えば、ガイドピンなどのピン状の形状を有する部材が使用される。同様に、成形前基板15をY方向に位置決めするためのガイド部材24が、上型9の型面に設けられる。ガイド部材23及び24は、例えば、Y方向及びX方向に沿ってそれぞれ少なくとも2個設けられることが好ましい。この場合には、ピン状の形状を有する部材をガイド部材として使用した。ガイド部材として、X方向及びY方向に沿って伸びる直方体の形状を有する部材を使用しても良い。
As shown in FIG. 3A, a
上型9又は固定プラテン4には、例えば、成形前基板15の端面をガイド部材23及び24に押し当てて位置決めするための位置決め機構25及び26がそれぞれ設けられる。位置決め機構25によって成形前基板15がX方向に位置決めされる。同様に、位置決め機構26によって成形前基板15がY方向に位置決めされる。位置決め機構25、26によって、成形前基板15は上型9の型面に配置される。この場合には、位置決め機構25、26を上型9又は固定プラテン5に設ける構成とした。これに限らず、位置決め機構を供給機構13に設ける構成にしても良い。
The
本出願書類においては、図3(a)に示されるように、成形前基板15の長手方向がX方向に沿うようにして配置され、成形前基板15の短手方向がY方向に沿うようにして配置される場合を示す。以下、成形前基板15の長手方向に沿う端面を成形前基板15のX方向に沿う端面という。同様に、成形前基板15の短手方向に沿う端面を成形前基板15のY方向に沿う端面という。
In the present application document, as shown in FIG. 3A, the longitudinal direction of the
図3(a)、(b)に示されるように、例えば、成形前基板15のX方向及びY方向の位置決めを検証するための構成要素として、固定プラテン4の内部に発光素子27及び28が設けられる。発光素子27、28としては、例えば、発光ダイオード(LED)やレーザーダイオード(LD)等が使用される。発光素子27、28は耐熱性を有することが好ましい。上型9には、発光素子27及び28が発する照射光を通過させるための第1出射用通過孔29及び30がそれぞれ設けられる。なお、「出射用」とは、上型9側から外部の受光素子側に照射光を出射するとの意味合いである。
As shown in FIGS. 3A and 3B, for example,
図3(a)に示されるように、第1出射用通過孔29及び30は、成形前基板15がガイド部材23及び24に接触した状態において、成形前基板15が上型9の型面に配置される領域にそれぞれ設けられる。より詳しく述べると、成形前基板15がガイド部材23に接触した状態において、第1出射用通過孔29は、成形前基板15のY方向に沿う端面から内側の領域に対応するようにして上型9に設けられる。同様に、成形前基板15がガイド部材24に接触した状態において、第1出射用通過孔30は、成形前基板15のX方向に沿う端面から内側の領域に対応するようにして上型9に設けられる。
As shown in FIG. 3A, the first emission passage holes 29 and 30 are formed so that the
図3(b)、(c)に示されるように、供給機構13には、発光素子27及び28が発した照射光を検知するための第1受光素子31及び32がそれぞれ設けられる。第1受光素子31及び32は、成形前基板15のX方向及びY方向の位置決めを検証するための受光素子である。第1受光素子31、32としては、例えば、フォトダイオード(PD)等が使用される。成形前基板15がガイド部材23、24に位置決めされた状態において、平面視して第1受光素子31が発光素子27及び第1出射用通過孔29に重なり、第1受光素子32が発光素子28及び第1出射用通過孔30に重なるようにして設けられる。第1出射用通過孔29、30の径は、第1受光素子31、32が受光する光の強度に対応して任意に設定することができる。成形前基板15がガイド部材23及び24に位置決めされた状態において、発光素子27及び28が発した照射光を第1受光素子31及び32が検知するか否かによって、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされたか否かを検証する。例えば、第1出射用通過孔29、30の径を0.01〜0.1mm程度の大きさにすることにより、成形前基板15の位置決めに対する検証精度を向上することができる。
As shown in FIGS. 3B and 3C, the
なお、成形型11が型開きされた状態では、ガイド部材23、24は上型9の型面から突出している。成形型11が型締めされた状態では、ガイド部材23、24は下型10の型面に押し上げられて上型9の内部に収納されるように構成される。それには、例えば、ガイド部材23、24を、ばね等の弾性部材により支持する構成とすればよい。また、ガイド部材23、24を可動させず、下型10に設けられた開口穴(図示なし)に退避させるようにしても良い。
In the state where the
(基板の位置決め動作及び位置決め検証動作(樹脂成形品の製造方法))
図3〜4を参照して、成形型11に供給された成形前基板15の位置決め動作と、成形型11に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する動作とについて説明する。本実施形態においては、成形型11の上型9に成形前基板15を供給して位置決めする場合を示す。なお、ここの説明は、樹脂成形品の製造方法の説明も兼ねる。
(Substrate positioning operation and positioning verification operation (resin molded product manufacturing method))
With reference to FIGS. 3 to 4, the positioning operation of the
(基板の位置決め動作)
図3を参照して、成形前基板15を上型9の型面に位置決めする動作について説明する。まず、図3(b)に示されるように、成形前基板15を保持した供給機構13を上型9と下型10との間に移動させる。次に、供給機構13を上昇させ、供給機構13から上型9の型面に成形前基板15を受け渡す。
(Board positioning operation)
With reference to FIG. 3, the operation of positioning the
次に、例えば、上型9又は固定プラテン4に設けられた位置決め機構25及び26を使用して、成形前基板15の端面をそれぞれガイド部材23及び24に押し当てる。まず、図3(a)に示されるように、位置決め機構25を使用して成形前基板15のY方向に沿う端面を2個のガイド部材23に押し当てる。このことによって、成形前基板15のY方向に沿う端面が、上型9の型面に位置決めされる。次に、位置決め機構26を使用して成形前基板15のX方向に沿う端面を2個のガイド部材24に押し当てる。このことによって、成形前基板15のX方向に沿う端面が、上型9の型面に位置決めされる。
Next, for example, using the
位置決め機構25及び26を使用して成形前基板15をガイド部材23及び24に押し当てることによって、成形前基板15を上型9の型面に位置決めする。成形前基板15を位置決めした後に、吸着機構(図示なし)によって成形前基板15を吸着して上型9の型面に固定する。この状態で、成形前基板15の上型9への位置決めが完了する。
By positioning the
この場合には、上型9又は固定プラテン4に設けられた位置決め機構25及び26を使用して、成形前基板15のX方向及びY方向への位置決めをそれぞれ独立して行った。これに限らず、位置決め機構25及び26を連動させる構成にすることができる。このことによって、成形前基板15のX方向及びY方向への位置決めを同時に行うことができる。
In this case, the
(基板の位置決め検証動作)
図3〜4を参照して、上型9に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する動作ついて説明する。まず、図4(a)に示されるように、供給機構13によって成形前基板15を上型9の型面に供給する。次に、位置決め機構25、26を使用して成形前基板15を上型9の型面に位置決めする。この状態で、平面視して発光素子27、第1出射用通過孔29及び第1受光素子31は重なるようにして配置される。同様に、平面視して発光素子28、第1出射用通過孔30及び第1受光素子32は重なるようにして配置される。
(Board positioning verification operation)
The operation for verifying whether or not the
次に、図4(b)に示されるように、発光素子27及び28から照射光33を発する。発光素子27及び28から発せられた照射光33は、上型9に形成された第1出射用通過孔29及び30を通過して成形前基板15の基板側の面に到達する。
Next, as shown in FIG. 4B, the
成形前基板15が上型9に設けられたガイド部材23、24に正常に位置決めされている場合、例えば、図4(b)に示されるように、成形前基板15のY方向に沿う端面がガイド部材23に接触している場合には、ガイド部材23と成形前基板15のY方向に沿う端面との間には隙間が生じない。したがって、発光素子27が発した照射光33は成形前基板15によって遮断される。そのため、照射光33は供給機構13に設けられた第1受光素子31まで到達しない。したがって、第1受光素子31は照射光33を検知しない。
When the
同様に、成形前基板15のX方向に沿う端面がガイド部材24(図3(a)参照)に接触している場合には、ガイド部材24と成形前基板15のX方向に沿う端面との間には隙間が生じない。したがって、発光素子28(図3(a)参照)が発した照射光33は成形前基板15によって遮断される。そのため、照射光33は供給機構13に設けられた第1受光素子32(図3(c)参照)まで到達しない。したがって、第1受光素子32は照射光33を検知しない。
Similarly, when the end surface along the X direction of the
第1受光素子31及び32の双方が照射光33を検知しなかった場合には、樹脂成形装置の制御部に設けられた判断部(図14参照)が、X方向及びY方向に対して成形前基板15が正常に位置決めされていると判断する。第1受光素子31及び32の双方が照射光33を検知しなかった場合には、成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされていると判断し、次の工程である樹脂成形工程へ進める。
When both the first
成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされていない場合、例えば、図4(c)に示されるように、成形前基板15のY方向に沿う端面がガイド部材23に接触していない場合には、ガイド部材23と成形前基板15のY方向に沿う端面との間に隙間34が発生する。ガイド部材23と成形前基板15のY方向に沿う端面との間に隙間34が発生すると、発光素子27から発せられた照射光33がこの隙間34を通過する。この隙間34を通過した照射光33は第1受光素子31に到達する。このことによって、第1受光素子31は照射光33を検知する。第1受光素子31が照射光33を検知した場合には、判断部(図14参照)がX方向に対して成形前基板15が正常に位置決めされていないと判断する。したがって、判断部は次の工程へ進めることを停止する。そして、成形前基板15の位置決めをやり直す。
When the
同様に、成形前基板15のX方向に沿う端面がガイド部材24に接触していない場合には、ガイド部材24と成形前基板15のX方向に沿う端面との間に隙間が発生する。発光素子28から発せられた照射光33は、この隙間を通過して第1受光素子32に到達する。このことによって、第1受光素子32は照射光33を検知する。第1受光素子32が照射光33を検知した場合には、判断部がY方向に対して成形前基板15が正常に位置決めされていないと判断する。この場合にも、判断部が成形前基板15は正常に位置決めされていないと判断し、次の工程へ進めることを停止する。そして、成形前基板15の位置決めをやり直す。
Similarly, when the end surface along the X direction of the
成形前基板15が上型9の型面に位置決めされた状態において、第1受光素子31又は32のいずれか一方が照射光33を検知した場合には、判断部がX方向又はY方向のいずれかが正常に位置決めされていないと判断する。この場合には、次の工程へ進めることを停止して、成形前基板15の位置決めをやり直す。第1受光素子31及び32の双方が照射光33を検知しなかった場合には、判断部は成形前基板15が正常に位置決めされていると判断して、次の工程へ進める。したがって、第1受光素子31又は32が照射光33を検知するか否かによって、成形前基板15の位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。
In a state where the
なお、成形前基板15の位置決めに関して、理想的には、成形前基板15によって照射光33が完全に遮断された場合には、第1受光素子31、32は照射光33を検知しない。しかしながら、照射光33の一部が回折光として成形前基板15を回り込み第1受光素子31又は32に到達したり、外部のノイズ光が第1受光素子31又は32に到達する場合がある。したがって、第1受光素子31又は32が回折光又はノイズ光を検知する場合も考慮して、設定したしきい値(例えば、ある大きさの光強度)を超えた照射光を検知した場合には、第1受光素子31、32は照射光33を検知したと判断部が判断する。しきい値以下の照射光を検知した場合には、第1受光素子31、32は照射光33を検知しなかったと判断部が判断する。このようにして、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされているか否かを、判断部が判断する。一例としては、受光素子の電流値を測定し、光照射による光電流が生じることを利用して光検知を行う場合には、測定される電流値に対してしきい値を設定すればよい。このことは、他の実施形態においても同様であり、他の受光素子を用いた検知においても同様である。
Regarding the positioning of the
(ガイド部材の異常又は基板の変形を検証する機構及び動作(樹脂成形品の製造方法含む))
図5〜6を参照して、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか否か、及び、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生しているか否かの少なくとも一方を検証する機構及び動作について説明する。成形前基板の変形に関して、ここでは主に一例として反りについて説明するが、これ以外に皺又は折り目が発生するように基板が屈曲する場合についても、同様の機構を用いて同様の動作を行うことができる。成形前基板の変形には、少なくとも一部に樹脂を含む樹脂性基板において発生しやすい変形として、熱的影響により基板の一部が反るような変形も含まれる。なお、ここの説明は、樹脂成形品の製造方法の説明も兼ねる。
(Mechanism and operation for verifying abnormality of guide member or deformation of substrate (including manufacturing method of resin molded product))
Referring to FIGS. 5 to 6, whether or not the
図5に示されるように、ガイド部材23、24の異常又は成形前基板15の変形を検証する機構は、成形前基板15の端面がガイド部材23、24に接触している状態で、成形前基板15が配置された領域に対応して、発光素子27、28、第1出射用通過孔29、30及び第1受光素子31、32が設けられた位置と反対側の位置に、発光素子35、36、第2出射用通過孔37、38及び第2受光素子39、40がそれぞれ設けられる。したがって、成形前基板15がガイド部材23、24に位置決めされた状態において、平面視して第2受光素子39が発光素子35及び第2出射用通過孔37に重なり、第2受光素子40が発光素子36及び第2出射用通過孔38に重なるようにして、第2受光素子39及び40が供給機構13にそれぞれ設けられる。
As shown in FIG. 5, the mechanism for verifying the abnormality of the
図6を参照して、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか否か、又は、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生しているか否かを検証する動作について説明する。
With reference to FIG. 6, it is verified whether or not the
図6(a)は、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常及び成形前基板15の反り、屈曲等の変形がなく、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされている状態を示している。図6(a)に示されるように、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされている場合には、4個の発光素子27、28、35、36から発せられた照射光33はすべて成形前基板15によって遮断される。したがって、4個の受光素子(第1受光素子31、32及び第2受光素子39、40)はすべて照射光33を検知しない。
FIG. 6A shows that the
第1受光素子31及び32が照射光33を検知しないことによって、成形前基板15がガイド部材23及び24に正常に接触していると判断部が判断する。第2受光素子39及び40が照射光33を検知しないことによって、ガイド部材23及び24に磨耗又は欠け等の異常が発生していない、かつ、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生していないと判断部が判断する。このように、4個の受光素子31、32、39、40がすべて照射光33を検知しなかった場合には、判断部は何も異常がなく成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされていると判断し、次の工程へ進める。
When the first
第1受光素子31又は32が照射光33を検知した場合には、成形前基板15がガイド部材23又は24に正常に接触していないと判断部が判断し、次の工程へ進めることを停止する。そして、成形前基板15の位置決めをやり直す。
When the first
図6(b)は、ガイド部材23、24に磨耗又は欠け等の異常が発生している状態を示している。例えば、Y方向に配置されたガイド部材に磨耗又は欠けが発生している状態を示す。
FIG. 6B shows a state where the
図6(b)に示されるように、位置決め機構25(図3(b)参照)によって、成形前基板15の端部を磨耗又は欠けが発生しているガイド部材23Xに押し当てる。ガイド部材23Xは磨耗又は欠けが発生して通常より小さくなっているので、成形前基板15は正常な位置よりも+X方向側に押し出される。このことにより、第1出射用通過孔29は成形前基板15によって遮断されるが、第2出射用通過孔37の一部は成形前基板15によって遮断されなくなる。したがって、発光素子27から発せられた照射光33は、成形前基板15によって遮断されるが、発光素子35から発せられた照射光33は、成形前基板15を通過して第2受光素子39に到達する。このことによって第2受光素子39は照射光33を検知する。第2受光素子39が照射光33を検知した場合には、判断部がガイド部材23Xに磨耗又は欠け等の異常が発生している可能性があると判断する。したがって、判断部が次の工程へ進めることを停止する。そして、ガイド部材の異常について調査する。
As shown in FIG. 6B, the end portion of the
同様に、第2受光素子40(図5(a)参照)が照射光33を検知した場合には、判断部がガイド部材24に磨耗又は欠け等の異常が発生している可能性があると判断する。したがって、判断部が次の工程へ進めることを停止する。このように、第2受光素子39又は40のいずれかが照射光33を検知した場合には、ガイド部材23又は24に磨耗又は欠け等の異常が発生している可能性があると判断して次の工程へ進めることを停止する。このことにより、ガイド部材23又は24の異常に起因する成形不良の発生を抑制することができる。
Similarly, when the second light receiving element 40 (see FIG. 5A) detects the
図6(c)は、成形前基板15に変形の1種である反りが発生している状態を示している。例えば、成形前基板15が半導体チップ14を装着した側に反っている状態を示す。
FIG. 6C shows a state in which the warpage, which is one type of deformation, occurs in the
図6(c)に示されるように、位置決め機構25(図3(b)参照)によって、例えば、反りが発生している成形前基板15の端部をガイド部材23に押し当てる。成形前基板15は反りが発生しているので、成形前基板15のY方向に沿う両端部が上型9の型面から浮き上がった状態で、成形前基板15が上型9に配置される。このことにより、第1出射用通過孔29は成形前基板15によって遮断されるが、第2出射用通過孔37の一部は成形前基板15によって遮断されなくなる。したがって、発光素子27から発せられた照射光33は、成形前基板15によって遮断されるが、発光素子35から発せられた照射光33は、成形前基板15を通過して第2受光素子39に到達する。このことによって、第2受光素子39は照射光33を検知する。第2受光素子39が照射光33を検知した場合には、判断部が成形前基板15に反りが発生している可能性があると判断する。したがって、判断部が次の工程へ進めることを停止する。そして、成形前基板15の状態について調査する。
As shown in FIG. 6C, for example, the end portion of the
同様に、第2受光素子40(図5(a)参照)が照射光33を検知した場合には、判断部が成形前基板15に反りが発生している可能性があると判断する。したがって、判断部が次の工程へ進めることを停止する。このように、第2受光素子39又は40のいずれかが照射光33を検知した場合には、成形前基板15に反りが発生している可能性があると判断して次の工程へ進めることを停止する。このことにより、成形前基板15に反りが発生していることに起因する成形不良の発生を抑制することができる。
Similarly, when the second light receiving element 40 (see FIG. 5A) detects the
第2受光素子39又は40のいずれかが照射光33を検知した場合には、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか、又は、成形前基板15に反りが発生している可能性がある。これらの異常については原因を確認する必要があるが、いずれの場合でも、判断部が何らかの異常が発生している可能性があると判断して次の工程へ進めることを停止する。このことにより、成形前基板15の位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。
When either of the second
以上のように、供給機構13に設けられた4個の受光素子(第1受光素子31、32及び第2受光素子39、40)のいずれかが照射光33を検知した場合には、成形前基板15の位置決めに関して異常が発生していると判断することができる。第1受光素子31又は32が照射光33を検知した場合には、成形前基板15がガイド部材23又は24に正常に接触していないと判断する。第2受光素子39又は40が照射光33を検知した場合には、ガイド部材23又は24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか、あるいは、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生している可能性があると判断する。ここでは、第2受光素子39又は40が照射光33を検知した場合には、ガイド部材23又は24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生している可能性があるか、あるいはこれらガイド部材23又は24の異常と成形前基板15に変形との両方が発生している可能性があると判断することになる。これらの場合には、次の工程へ進めることを停止する。
As described above, when any of the four light receiving elements (the first
4個の受光素子31、32、39、40のすべてが照射光33を検知しなかった場合には、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常及び成形前基板15に反り、屈曲等の変形がなく、成形前基板15が上型9の型面に正常に位置決めされていると判断する。この場合には、次の工程へ進める。したがって、成形前基板15が正常に位置決めされていることを検証した状態で樹脂成形することができ、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。
When all of the four
上型9に設けられる4個の出射用通過孔(第1出射用通過孔29、30及び第2出射用通過孔37、38)の径は、4個の受光素子(第1受光素子31、32及び第2受光素子39、40)が受光する光の強度に対応して任意に設定することができる。これらの出射用通過孔の径が小さい場合には、樹脂材料や異物等によって出射用通過孔が塞がれることがある。したがって、4個の出射用通過孔に樹脂詰り等の異常が発生しているか否かを定期的に検証することが好ましい。例えば、成形前基板15を上型9に供給しない状態で、4個の発光素子27、28、35、36から照射光33をそれぞれ発する。4個の受光素子31、32、39、40のそれぞれが照射光33を検知した場合には、4個の出射用通過孔29、30、37、38のいずれにも樹脂詰り等の異常は発生していないと判断することができる。4個の受光素子31、32、39、40のいずれかが照射光33を検知しなかった場合には、照射光33を検知しなかった受光素子に対応する出射用通過孔に異常が発生していると判断することができる。このようにして、上型9に設けられる4個の出射用通過孔29、30、37、38の異常についても検証することができる。
The diameters of the four exit passage holes (the first exit passage holes 29 and 30 and the second exit passage holes 37 and 38) provided in the
なお、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか否か、又は、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生しているか否かを検証する機構を他の実施形態においても適用することができる。
Another implementation of a mechanism for verifying whether or not the
(作用効果)
本実施形態では、樹脂成形装置は、互いに対向して配置される第1型である上型9及び第2型である下型10を有する成形型11と、上型9及び下型10のいずれか一方の型である上型9又は下型10の型面に樹脂成形対象物である成形前基板15を供給する供給機構13と、型面において成形前基板15をガイド部材23、24に位置決めする位置決め機構25、26と、成形型11を型締めする型締機構6と、照射光33を発する発光素子27、28と、供給機構13に設けられ照射光33を受光可能な第1受光素子31、32と、成形前基板15の位置決めに関して判断する判断部とを備え、上型9は、発光素子27、28からの照射光33を通過させる第1出射用通過孔29、30が設けられ、判断部は、第1出射用通過孔29、30を通過した照射光33に対する第1受光素子31、32による検知に基づいて、成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされているか否かを判断する構成としている。
(Function and effect)
In the present embodiment, the resin molding apparatus includes a
本実施形態の樹脂成形品の製造方法は、互いに対向して配置される第1型である上型9及び第2型である下型10を有する成形型11のいずれか一方の型である上型9又は下型10の型面に樹脂成形対象物である成形前基板15を供給機構13によって供給する供給工程と、型面において成形前基板15をガイド部材23、24に位置決めする位置決め工程と、上型9に設けられた第1出射用通過孔29、30を通過する照射光33を発光素子27、28から発する照射工程と、供給機構13に設けられた第1受光素子31、32が第1出射用通過孔29、30を通過した照射光33に関して検知する検知工程と、検知工程での検知に基づいて、成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされているか否かを判断する判断工程と、判断工程において、成形前基板15が正常に位置決めされていると判断した場合は成形型11を型締めして樹脂成形する樹脂成形工程とを含む。
The method for producing a resin molded product according to the present embodiment is an upper mold that is one of a
この構成によれば、成形型11に供給された樹脂成形対象物である成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされていることを検証した状態で樹脂成形することができ、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。したがって、成形前基板15が正常に位置決めされていると判断した場合には、樹脂成形する。成形前基板15が正常に位置決めされていないと判断した場合には、樹脂成形を停止する。
According to this configuration, it is possible to perform resin molding in a state in which it is verified that the
より詳細には、本実施形態によれば、樹脂成形対象物である成形前基板15が成形型の上型9に設けられたガイド部材23、24に正常に位置決めされているか否かを検証するために、発光素子27、28と第1受光素子31、32とを設ける。成形前基板15をガイド部材23、24に接触させることによって上型9に位置決めする。成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされている場合には、成形前基板15の端面とガイド部材23、24との間に隙間が発生しない。このことにより、成形前基板15が発光素子27、28から発せられた照射光33を遮断する。したがって、第1受光素子31、32は照射光33を検知しない。第1受光素子31、32の双方が照射光33を検知しない場合には、成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされていると判断部が判断する。成形前基板15が正常に位置決めされていると判断した場合には、樹脂成形する。
More specifically, according to the present embodiment, it is verified whether or not the
成形前基板15がガイド部材23又は24に正常に位置決めされていない場合には、成形前基板15の端面とガイド部材23又は24との間に隙間が発生する。隙間が発生した場合には、発光素子27、28から発せられた照射光33が、この隙間を通過して第1受光素子31又は32に到達する。第1受光素子31又は32のいずれかが照射光33を検知した場合には、成形前基板15がガイド部材23又は24に正常に位置決めされていないと判断部が判断する。成形前基板15が正常に位置決めされていないと判断した場合には、樹脂成形を停止する。したがって、成形前基板15の位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。
When the
さらに、本実施形態によれば、ガイド部材23、24の異常又は成形前基板15の変形を検証するために、発光素子35、36、第2出射用通過孔37、38及び第2受光素子39、40をそれぞれ設ける。第2受光素子39又は40のいずれかが照射光33を検知した場合には、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか、又は、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生している可能性があると判断する。これらの場合には、次の工程へ進めることを停止して、ガイド部材23、24の異常又は成形前基板15の変形を調査する。このことにより、ガイド部材23、24の異常又は成形前基板15の変形に起因する成形不良の発生を抑制することができる。
Furthermore, according to the present embodiment, in order to verify abnormality of the
さらに、本実施形態によれば、成形前基板15を上型9に供給しない状態において、4個の発光素子27、28、35、36からそれぞれ照射光33を発する。4個の受光素子31、32、39、40のそれぞれが照射光33を検知した場合には、4個の出射用通過孔29、30、37、38のいずれにも樹脂詰まり等の異常は発生していないと判断する。受光素子31、32、39、40のいずれかが照射光33を検知しなかった場合には、照射光33を検知しなかった受光素子に対応する出射用通過孔に異常が発生していると判断する。この場合には、照射光33を検知しなかった受光素子に対応する出射用通過孔の詰り等を調査して清掃する。このことにより、出射用通過孔29、30、37、38の異常に起因する成形不良の発生を抑制することができる。
Furthermore, according to the present embodiment,
以上のように、本実施形態によれば、樹脂成形対象物である成形前基板15がガイド部材23、24に正常に接触していない場合、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生している場合、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生している場合、第1出射用通過孔29、30、第2出射用透過孔37、38に樹脂詰まり等が発生している場合など、位置決めに起因する異常が発生している場合には、次の工程へ進めることを停止する。これらのことにより、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。したがって、成形前基板15が正常に位置決めされていることを検証した状態で樹脂成形することができる。
As described above, according to the present embodiment, when the
本実施形態においては、成形前基板15を位置決めする手段として、上型9又は固定プラテン4に設けられた位置決め機構25、26を使用した。これに限らず、供給機構13に位置決め機構を設けても良い。供給機構13が成形前基板15を上型9の型面に受け渡した後に、供給機構13に設けられた位置決め機構を使用して成形前基板15をガイド部材23、24にそれぞれ押し当てる。このことによって、成形前基板15を上型9の型面に位置決めすることができる。供給機構13に位置決め機構を設けることにより、樹脂成形装置の構成をより簡略化することができる。
In this embodiment,
さらに、供給機構13自体を位置決め機構として使用することができる。供給機構13自体を位置決め機構として使用する場合には、成形前基板15を上型9の型面に受け渡すと共に、供給機構13を使用して成形前基板15をX方向及びY方向に移動させることによって成形前基板15の端面をガイド部材23及び24にそれぞれ押し当てる。このことにより、成形前基板15を上型9の型面に位置決めすることができる。供給機構13自体を位置決め機構として使用することにより、樹脂成形装置の構成をいっそう簡略化することができる。
Furthermore, the
〔実施形態2〕
図7を参照して、実施形態2において、上型9に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する機構について説明する。実施形態1との違いは、発光素子27を固定プラテン4の外部に設けたこと、及び、固定プラテン4に設けた導光部に照射光33を反射する光学部材を設けたことである。これ以外の構成及び動作については、実施形態1と同じなので説明を省略する。なお、以下の実施形態においては、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常がなく、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生していない場合について述べる。
[Embodiment 2]
With reference to FIG. 7, a mechanism for verifying whether or not the
図7(a)、(b)に示されるように、固定プラテン4には第1出射用通過孔29につながりX方向に沿って伸びる導光部41、及び、第1出射用通過孔30につながりY方向に沿って伸びる導光部42がそれぞれ設けられる。X方向に沿って伸びる導光部41の延長上に発光素子27が配置される。同様に、Y方向に沿って伸びる導光部42の延長上に発光素子28が配置される。
As shown in FIGS. 7A and 7B, the
図7(b)に示されるように、発光素子27から−X方向に向かって発せられた照射光33の進行方向を90度変える反射鏡43が導光部41に設けられる。反射鏡43によって進行方向を−Z方向に変えられた照射光33は、第1出射用通過孔29を通過して成形前基板15に到達する。同様に、発光素子30から−Y方向に向かって発せられた照射光33の進行方向を90度変える反射鏡44が導光部42に設けられる。反射鏡44によって進行方向を−Z方向に変えられた照射光33は、第1出射用通過孔30を通過して成形前基板15に到達する。
As shown in FIG. 7B, the
図7(c)に示されるように、供給機構13に設けられた第1受光素子31及び32の配置は実施形態1と同じである。成形前基板15の位置決めを検証する動作は実施形態1と同様である。したがって、本実施形態においても実施形態1と同様の効果を奏する。
As shown in FIG. 7C, the arrangement of the first
〔実施形態3〕
図8を参照して、実施形態3において、上型に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する機構及び動作について説明する。実施形態1との違いは、発光素子27、28を供給機構に設けたこと、及び、固定プラテンに設けた導光部に光学部材として2枚の反射鏡を設けたことである。この変更に伴い、上型、下型及び固定プラテンの構成が実施形態1〜2と異なる。
[Embodiment 3]
With reference to FIG. 8, a mechanism and operation for verifying whether or not the
(基板の位置決め検証機構)
図8を参照して、上型に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する機構について説明する。図8(b)、(c)に示されるように、成形前基板15のX方向の位置決めを検証するための構成要素である発光素子27及び第1受光素子31が供給機構45に設けられる。同様に、成形前基板15のY方向の位置決めを検証するための構成要素である発光素子28及び第1受光素子32が供給機構45に設けられる。
(Board positioning verification mechanism)
A mechanism for verifying whether or not the
図8(a)、(b)、(c)に示されるように、供給機構45に設けられた発光素子27及び28から発せられた照射光33を通過させるための入射用通過孔46及び47が、上型48にそれぞれ設けられる。平面視して発光素子27と入射用通過孔46とは重なるようにして配置される。同様に、平面視して発光素子28と入射用通過孔47とは重なるようにして配置される。なお、「入射用」とは、外部の発光素子27,28から上型48側の導光部50、51(後述)に照射光33を入射するとの意味合いである。
As shown in FIGS. 8A, 8 </ b> B, and 8 </ b> C, the incident through
固定プラテン49には、第1出射用通過孔29及び入射用通過孔46につながる導光部50がX方向に沿って設けられる。同様に、第1出射用通過孔30及び入射用通過孔47につながる導光部51がY方向に沿って設けられる。導光部50には、光学部材として照射光33の進行方向を90度変える反射鏡43a、43bがそれぞれ設けられる。同様に、導光部51には、光学部材として照射光33の進行方向を90度変える反射鏡44a、44bがそれぞれ設けられる。
The fixed
(基板の位置決め検証動作(樹脂成形品の製造方法))
図8を参照して、上型に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する動作について説明する。なお、ここの説明は、樹脂成形品の製造方法の説明も兼ねる。
(Substrate positioning verification operation (method for manufacturing resin molded products))
With reference to FIG. 8, the operation for verifying whether or not the
図8(b)に示されるように、発光素子27から+Z方向に向かって発せられた照射光33は、入射用通過孔46を通過して反射鏡43aに入射する。反射鏡43aに入射した照射光33は、反射鏡43aにより進行方向を90度変更され導光部50内を−X方向に進行して反射鏡43bに入射する。反射鏡43bに入射した照射光33は、反射鏡43bにより進行方向を90度変更され−Z方向に進行して第1出射用通過孔29を通過する。第1出射用通過孔29を通過した照射光33は、成形前基板15に到達する。
As shown in FIG. 8B, the
供給機構45に設けられた第1受光素子31が、発光素子27から発せられ入射用通過孔46、導光部50及び第1出射用通過孔29を順次通過した照射光33を検知するか否かによって、成形前基板15がX方向に正常に位置決めされているか否かを判断する。同様に、第2受光素子32が、発光素子28から発せられ入射用通過孔47、導光部51及び第1出射用通過孔30を順次通過した照射光33を検知するか否かによって、成形前基板15がY方向に正常に位置決めされているか否かを判断する。このようにして、成形前基板15の位置決めを検証することができる。この場合には、発光素子27、28及び第1受光素子31、32をすべて供給機構45に設けるので、それらの信号線を樹脂成形装置の制御部及び判断部に配線することが容易になる。作用効果については実施形態1と同様の効果を奏するので、説明を省略する。
Whether the first
〔実施形態4〕
図9を参照して、実施形態4において、上型48に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する機構について説明する。実施形態3との違いは、光学部材として反射鏡ではなく光ファイバーを使用することである。それ以外の構成及び動作は実施形態3と同じなので説明を省略する。
[Embodiment 4]
With reference to FIG. 9, a mechanism for verifying whether or not the
図9(a)、(b)に示されるように、固定プラテン49に設けられた導光部50、51には光ファイバー52、53がそれぞれ設けられる。光ファイバー52、53は耐熱性を有する光ファイバーであることが好ましい。光ファイバー52、53は、中心部のコアとその周囲を囲むクラッドとの2重構造を有する。耐熱性を保持するためにコア及びクラッドを石英ガラスで構成し、その周囲を耐熱性のポリイミドで被覆した光ファイバーを使用することが好ましい。
As shown in FIGS. 9A and 9B, the light guides 50 and 51 provided on the fixed
第1出射用通過孔29、30及び入射用通過孔46、47の径に対応して、光ファイバーが1本である単心光ファイバー、又は、単心光ファイバーを複数本束ねて被覆した光ファイバー束を使用することができる。さらに、光ファイバーの両端に光ファイバー用のレンズを組み込むことができる。レンズとして、コリメータレンズ、集光レンズ、非球面レンズなどが適切に使用される。図9においては、発光素子27、28から発せられた照射光33を受け入れる側に光ファイバー用のレンズ54をそれぞれ設けた場合を示す。光ファイバー52、53は伝送損失が小さく、配線の自由度が高いという特徴を有する。なお、光ファイバーとしては、耐熱性光ファイバーを用いることが好ましく、例えばポリイミド樹脂により被覆した石英製光ファイバーを用いることができる。
A single optical fiber having a single optical fiber or a bundle of optical fibers coated with a plurality of single optical fibers is used corresponding to the diameters of the first emission passage holes 29 and 30 and the incident passage holes 46 and 47. can do. Furthermore, optical fiber lenses can be incorporated at both ends of the optical fiber. As the lens, a collimator lens, a condensing lens, an aspherical lens, or the like is appropriately used. In FIG. 9, the case where the
成形前基板15の位置決めを検証する動作は実施形態1と同じであるので、説明を繰り返さない。本実施形態においても実施形態1と同様の効果を奏する。
Since the operation for verifying the positioning of the
〔実施形態5〕
図10を参照して、実施形態5において、上型48に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する機構について説明する。実施形態4との違いは、光ファイバーを上型48に設けられた導光部に設けたことである。それ以外の構成及び動作は実施形態4と同じなので説明を省略する。
[Embodiment 5]
With reference to FIG. 10, a mechanism for verifying whether or not the
図10(a)、(b)に示されるように、上型48に設けられた導光部55、56には実施形態4に示した光ファイバー52、53がそれぞれ設けられる。光ファイバー52、53は耐熱性を有する光ファイバーである。
As shown in FIGS. 10A and 10B, the
成形前基板15の位置決めを検証する動作は実施形態1と同じである。本実施形態においても実施形態1と同様の効果を奏する。
The operation of verifying the positioning of the
〔実施形態6〕
図11を参照して、実施形態6において、上型9に供給された成形前基板15がガイド部材23、24に正常に位置決めされているか否か、ガイド部材23、24に磨耗、欠け等の異常が発生しているか否か、又は、成形前基板15に反り、屈曲等の変形が発生しているか否かを同時に検証する機構について説明する。ここまで説明してきた実施形態との違いは、第1出射用通過孔29及び30を設ける位置が異なることである。
[Embodiment 6]
Referring to FIG. 11, in the sixth embodiment, whether or not the
図11(a)に示されるように、成形前基板15がガイド部材23及び24に接触した状態において、例えば、成形前基板15が上型9の型面に配置される領域における対角線上の角部に(図11においては右上と左下とに)、第1出射用通過孔29及び30がそれぞれ設けられる。第1出射用通過孔29及び30がこの位置に設けられた状態において、平面視して発光素子27及び第1受光素子31が第1出射用通過孔29に重なり、発光素子28及び第1受光素子32が第1出射用通過孔30に重なるようにして設けられる。
As shown in FIG. 11A, in the state where the
発光素子27及び28から発せられた照射光33を、第1受光素子31及び32の双方が検知しなかった場合には、成形前基板15の位置決め不良、ガイド部材23、24の異常、及び、成形前基板15の変形が発生していないと判断することができる。第1受光素子31又は32のいずれかが照射光33を検知した場合には、成形前基板15の位置決め不良、ガイド部材23、24の異常、又は、成形前基板15の変形のいずれかが発生して正常な位置決めがされていないと判断することができる。
If both the first
このような構成とすることにより、発光素子及び受光素子の数を増やすことなく、成形前基板15の位置決め不良、ガイド部材23、24の異常、及び、成形前基板15の変形を同時に検証することができる。したがって、樹脂成形装置において、位置決め機構のコストを抑制することができる。
By adopting such a configuration, it is possible to simultaneously verify the positioning failure of the
〔実施形態7〕
図12を参照して、実施形態7において、上型9に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する機構について説明する。実施形態1との違いは、成形前基板15のY方向及びX方向に沿う端部おいて、それぞれ2個の発光素子と2個の受光素子とを設けて成形前基板15の位置決めを検証することである。このことにより、X方向及びY方向だけでなくθ方向も含めて、成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証することができる。それ以外の構成については、実施形態1と同じなので説明を省略する。
[Embodiment 7]
With reference to FIG. 12, a mechanism for verifying whether or not the
(基板の位置決め検証機構)
図12を参照して、実施形態7において、上型9に供給された成形前基板15の位置決めを検証する機構について説明する。図12(a)に示されるように、実施形態1と同様に、上型9の型面には、成形前基板15をX方向に位置決めするガイド部材23、及び、成形前基板15をY方向に位置決めするガイド部材24がそれぞれ設けられる。
(Board positioning verification mechanism)
With reference to FIG. 12, a mechanism for verifying the positioning of the
図12(a)、(b)に示されるように、成形前基板15のX方向の位置決めを検証するために、固定プラテン4の内部に2個の発光素子27a、27bが設けられる。同様に、成形前基板15のY方向の位置決めを検証するために、固定プラテン4の内部に2個の発光素子28a、28bが設けられる。
As shown in FIGS. 12A and 12B, two
上型9には、発光素子27a及び27bが発する照射光を通過させるための第1出射用通過孔29a及び29bがそれぞれ設けられる。図12(a)に示されるように、第1出射用通過孔29a、29bは、成形前基板15がガイド部材23に接触した状態において、成形前基板15が上型9の型面に配置される領域にそれぞれ設けられる。第1出射用通過孔30a、30bは、成形前基板15がガイド部材24に接触した状態において、成形前基板15が上型9の型面に配置される領域にそれぞれ設けられる。
The
図12(c)に示されるように、供給機構13には、発光素子27a、27bが発した照射光33を検知する第1受光素子31a、31bがそれぞれ設けられる。第1受光素子31a、31bは、成形前基板15のX方向の位置決めを検証する受光素子である。同様に、供給機構13には、発光素子28a、28bが発した照射光33を検知するための第1受光素子32a、32bがそれぞれ設けられる。第1受光素子32a、32bは、成形前基板15のY方向の位置決めを検証する受光素子である。
As shown in FIG. 12C, the
Y方向に沿って2個の第1受光素子31a、31bを設け、X方向に沿って2個の第1受光素子32a、32bを設けるので、X方向及びY方向だけでなくθ方向も含めて、成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証することができる。このことにより、いっそう精度良く成形前基板15の位置決めを検証することができる。
Since the two first
本実施形態においては、Y方向に沿って2個の第1受光素子31a、31b、X方向に沿って2個の第1受光素子32a、32bをそれぞれ設けた。これに限らず、Y方向に沿って2個の第1受光素子及びX方向に沿って1個の第1受光素子を設ける構成にしても良い。あるいは、X方向に沿って2個の第1受光素子及びY方向に沿って1個の第1受光素子を設ける構成にしても良い。これらの場合においても、X方向及びY方向だけでなくθ方向も含めて、成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証することができる。
In the present embodiment, two first
本実施形態における成形前基板15の位置決め検証動作は、基本的に実施形態1と同じであるので説明を繰り返さない。作用効果についても、実施形態1と同様の効果を奏する。また、ガイド部材の異常又は成形前基板15の変形を検証する機構についても実施形態1と同様にして検証することができる。
Since the positioning verification operation of the
〔実施形態8〕
図13を参照して、実施形態8において、上型9に供給された成形前基板15の位置決めを検証する機構について説明する。実施形態7との違いは、X方向及びY方向の位置決めを検証するためにそれぞれ1個の発光素子と2個の第1受光素子とを設けたことである。固定プラテン4内の導光部に設けた光ファイバーを介して発光素子が発した照射光33を2個の第1受光素子が受光する。それ以外の構成及び動作については、実施形態7と同じなので説明を省略する。
[Embodiment 8]
With reference to FIG. 13, a mechanism for verifying the positioning of the
図13(a)、(b)に示されるように、成形前基板15のX方向の位置決めを検証するために、固定プラテン4の内部にT字型の形状を有する導光部57が設けられる。T字型の導光部57には、光ファイバー58と光ファイバー58内を進行する光を分岐させる分岐部材59と分岐された光ファイバー58a、58bとが設けられる。発光素子27が発した照射光33は、光ファイバー58、分岐部材59を経由して、光ファイバー58a、58b、第1出射用通過孔29a、29bを順次通過して第1受光素子31a、31bによってそれぞれ検知される。
As shown in FIGS. 13A and 13B, in order to verify the positioning of the
同様に、成形前基板15のY方向の位置決めを検証するために、固定プラテン4の内部にT字型の形状を有する導光部60が設けられる。T字型の導光部60には、光ファイバー61と光ファイバー61内を進行する光を分岐させる分岐部材62と分岐された光ファイバー61a、61bとが設けられる。発光素子28が発した照射光33は、光ファイバー61、分岐部材62を経由して、光ファイバー61a、61b、第1出射用通過孔30a、30bを順次通過して第1受光素子32a、32bによってそれぞれ検知される。
Similarly, in order to verify the positioning of the
このような構成とすることにより、発光素子の数を削減して、X方向及びY方向だけでなくθ方向も含めて、成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証することができる。したがって、いっそう精度良く成形前基板15の位置決めを検証することができ、かつ位置決め機構のコストを抑制することができる。
By adopting such a configuration, it is possible to reduce the number of light emitting elements and verify whether or not the
ここでは、共通の発光素子28から発せられた照射光33を、2つの第1出射用通過孔30a、30bに分岐させるようにしたが、第1出射用通過孔と第2出射用通過孔とに分岐させることもできる。
Here, the
本実施形態においては、発光素子が発した照射光33を分岐させるために、光ファイバー及び分岐部材を使用する構成とした。これに限らず、発光素子から発せられた照射光を分岐させる光学部材を採用するのであれば特に限定しない。
In this embodiment, in order to branch the
〔実施形態9〕
(樹脂成形装置の構成)
本発明に係る樹脂成形装置の構成について、図14を参照して説明する。図14に示される樹脂成形装置は、例えば、圧縮成形法を使用した樹脂成形装置である。実施形態1に示したように、樹脂成形対象物として成形前基板15を使用し、樹脂材料として液状樹脂を使用する例を示す。
[Embodiment 9]
(Configuration of resin molding equipment)
The structure of the resin molding apparatus according to the present invention will be described with reference to FIG. The resin molding apparatus shown in FIG. 14 is, for example, a resin molding apparatus that uses a compression molding method. As shown in the first embodiment, an example in which a
樹脂成形装置63は、基板供給・収納モジュール64と、3つの成形モジュール65A、65B、65Cと、樹脂供給モジュール66とを、それぞれ構成要素として備える。構成要素である基板供給・収納モジュール64と、成形モジュール65A、65B、65Cと、樹脂供給モジュール66とは、それぞれ他の構成要素に対して、互いに着脱されることができ、かつ、交換されることができる。
The
基板供給・収納モジュール64には、成形前基板15を供給する成形前基板供給部67と、成形済基板である樹脂成形品22を収納する成形済基板収納部68と、成形前基板15及び樹脂成形品22を受け渡しする基板載置部69と、成形前基板15を成形型11に供給する供給機構13とが設けられる。この場合には、例えば、実施形態1に示された供給機構13(図3(b)、(c)参照)が設けられる。供給機構13には、成形前基板15の位置決めを検証するための第1受光素子31、32が設けられる。本実施形態では、実施形態1で説明した位置決め検証機構を示すが、他の実施形態で説明した位置決め検証機構を採用しても良い。
The substrate supply /
各成形モジュール65A、65B、65Cには、図1に示した樹脂成形ユニット1がそれぞれ設けられる。樹脂成形ユニット1には、昇降可能な下型10と、下型10に対向して配置された上型9(図3(a)、(b)参照)とが設けられる。上型9と下型10とは併せて成形型11(図2参照)を構成する。各成形モジュール65A、65B、65Cは、上型9と下型10とを型締め及び型開きする型締機構6を有する(図の二点鎖線で示される部分)。液状樹脂20(図2(b)参照)が供給され硬化する空間であるキャビティ16が下型10に設けられる。下型10には、長尺状の離型フィルム(図2(a)参照)を供給する離型フィルム供給機構70が設けられる。なお、ここでは、下型10にキャビティ16が設けられた構成について説明するが、キャビティは上型に設けられても良いし、上型と下型との両方に設けられても良い。
Each
樹脂供給モジュール66には、成形型11に液状樹脂20を供給するディスペンサ18とディスペンサ18を移動させる移動機構19とが設けられる。ディスペンサ18は先端部に液状樹脂を吐出する樹脂吐出部を備える。
The
樹脂供給モジュール66には、判断部71を有する制御部72が設けられる。判断部71は、供給機構13に設けられた第1受光素子31、32が照射光33を検知するか否かによって、成形前基板15が成形型11に正常に位置決めされているか否かを判断する。さらに、判断部71は、ガイド部材に異常が発生しているか否か、又は、成形前基板15に変形が発生しているか否かも判断する。制御部72は、成形前基板15及び樹脂成形品22の搬送、成形前基板15の位置決め、液状樹脂20の供給、成形型11の加熱、成形型11の開閉などを制御する。言い換えれば、制御部72は、基板供給・収納モジュール64、成形モジュール65A、65B、65C、樹脂供給モジュール66における各動作の制御を行う。
The
制御部72が配置される位置はどこでも良く、基板供給・収納モジュール64、成形モジュール65A、65B、65C、樹脂供給モジュール66のうちの少なくとも一つに配置することもできるし、各モジュールの外部に配置することもできる。また、制御部72は、制御対象となる動作に応じて、少なくとも一部を分離させた複数の制御部として構成することもできる。判断部71も制御部の構成に対応して設けることができる。
The
樹脂成形装置63の動作については、図2で示した樹脂成形品の製造方法において概略を説明しているので、ここでは繰り返さない。
Since the outline of the operation of the
本実施形態においては、基板供給・収納モジュール64と樹脂供給モジュール66との間に、3個の成形モジュール65A、65B、65CをX方向に並べて装着した。基板供給・収納モジュール64と樹脂供給モジュール66とを1つのモジュールにして、そのモジュールに1個の成形モジュール65AをX方向に並べて装着してもよい。さらに、その成形モジュール65Aに他の成形モジュール65Bを装着してもよい。これらのことによって、生産形態又は生産量に対応して、成形モジュール65A、65B、・・・を増減することができる。したがって、樹脂成形装置63の構成を最適にすることができるので、生産性の向上を図ることができる。
In the present embodiment, three
各実施形態においては、成形型の上型に成形前基板15を供給し、供給機構に設けられた受光素子が照射光33を検知することによって上型に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証した。これに限らず、成形型の下型に成形前基板15を供給し、下型の型面に位置決めする場合においても、本発明を適用することができる。この場合においても各実施形態で示した同様の効果を奏する。
In each embodiment, the
各実施形態においては、圧縮成形法を使用した樹脂成形装置の成形型において、上型に供給された成形前基板15が正常に位置決めされているか否かを検証する場合を示した。これに限らず、トランスファ成形法を使用した樹脂成形装置の成形型においても、本発明を適用することができる。
In each embodiment, the case where it is verified whether or not the
各実施形態においては、樹脂成形対象物として半導体チップ14が装着された成形前基板15を使用した例を示した。成形前基板としては、ガラスエポキシ基板、セラミック基板、樹脂基板、金属基板等の一般的な基板及びリードフレームなどを使用することができる。さらには、樹脂成形対象物として、特許文献1に記載されたようなプレート治具に
装着された構成とすることもできる。
In each embodiment, the example which used the board |
各実施形態においては、半導体チップを樹脂成形する際に使用される樹脂成形装置及び樹脂成形品の製造方法を説明した。樹脂成形する対象はIC、トランジスタなどの半導体チップでもよく、半導体を用いない非半導体チップでもよく、半導体チップと非半導体チップとが混在するチップ群でもよい。ガラスエポキシ基板、セラミック基板、リードフレームなどの基板に装着された1個又は複数個のチップを硬化樹脂によって樹脂成形する際に本発明を適用することができる。 In each embodiment, the resin molding apparatus used when resin-molding a semiconductor chip and the manufacturing method of a resin molded product were demonstrated. The target of resin molding may be a semiconductor chip such as an IC or a transistor, a non-semiconductor chip that does not use a semiconductor, or a chip group in which semiconductor chips and non-semiconductor chips are mixed. The present invention can be applied when one or a plurality of chips mounted on a substrate such as a glass epoxy substrate, a ceramic substrate, or a lead frame is molded with a cured resin.
以上のように、上記実施形態の樹脂成形装置では、互いに対向して配置される第1型及び第2型を有する成形型と、第1型及び第2型のいずれか一方の型の型面に樹脂成形対象物を供給する供給機構と、型面において樹脂成形対象物をガイド部材に位置決めする位置決め機構と、成形型を型締めする型締機構と、照射光を発する発光素子と、供給機構に設けられ照射光を受光可能な第1受光素子と、樹脂成形対象物の位置決めに関して判断する判断部とを備え、一方の型は、発光素子からの照射光を通過させる第1出射用通過孔が設けられ、判断部は、第1出射用通過孔を通過した照射光に対する第1受光素子による検知に基づいて、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する構成としている。 As described above, in the resin molding apparatus according to the above-described embodiment, the mold surface of the mold having one of the first mold and the second mold, and the mold surface of one of the first mold and the second mold, which are arranged to face each other. A supply mechanism for supplying a resin molding object to the mold, a positioning mechanism for positioning the resin molding object on the guide surface on the guide member, a mold clamping mechanism for clamping the mold, a light emitting element for emitting irradiation light, and a supply mechanism Provided with a first light receiving element capable of receiving the irradiation light and a determination unit for determining the positioning of the resin molding target, and one of the molds has a first emission passage hole through which the irradiation light from the light emitting element passes. The determination unit determines whether the resin molding object is normally positioned on the guide member based on detection by the first light receiving element with respect to the irradiation light that has passed through the first emission passage hole. It is said.
この構成によれば、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされていることを検証した状態で樹脂成形することができる。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this configuration, it is possible to perform resin molding in a state where it is verified that the resin molding object is normally positioned on the guide member. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形装置では、判断部は、第1受光素子が照射光を検知しない場合は樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされていると判断し、第1受光素子が照射光を検知した場合は樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされていないと判断する構成としている。 Furthermore, in the resin molding apparatus of the above embodiment, the determination unit determines that the resin molding object is normally positioned on the guide member when the first light receiving element does not detect the irradiation light, and the first light receiving element is When the irradiation light is detected, it is determined that the resin molding object is not normally positioned on the guide member.
この構成によれば、第1受光素子が照射光を検知するか否かによって、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this configuration, whether or not the resin molding object is normally positioned on the guide member is determined based on whether or not the first light receiving element detects the irradiation light. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形装置では、樹脂成形対象物がガイド部材に接触した状態において、ガイド部材側の樹脂成形対象物が配置される領域に第1出射用通過孔が設けられる構成としている。 Furthermore, in the resin molding apparatus of the said embodiment, it is set as the structure by which the 1st output passage hole is provided in the area | region where the resin molding target object by the side of a guide member is arrange | positioned in the state which the resin molding target object contacted the guide member. .
この構成によれば、第1出射用通過孔を通過した照射光を第1受光素子が検知するか否かによって、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this configuration, whether or not the resin molding object is normally positioned on the guide member is determined based on whether or not the first light receiving element detects the irradiation light that has passed through the first emission passage hole. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形装置では、一方の型又は一方の型が取り付けられたプラテンに発光素子から発せられた照射光を第1出射用通過孔に導くための導光部が設けられ、導光部において照射光を通過させる光学部材が設けられる構成としている。 Furthermore, in the resin molding apparatus of the above embodiment, a light guide unit is provided for guiding the irradiation light emitted from the light emitting element to the first emission passage hole on one plate or the platen to which the one plate is attached, An optical member that allows irradiation light to pass therethrough is provided in the light guide section.
この構成によれば、導光部に光学部材を設けることによって、発光素子から発せられた照射光を第1通過孔に導くことができる。 According to this configuration, by providing the optical member in the light guide portion, it is possible to guide the irradiation light emitted from the light emitting element to the first passage hole.
さらに、上記実施形態の樹脂成形装置では、光学部材は光ファイバー、反射鏡、プリズムのいずれかを含む構成としている。 Furthermore, in the resin molding apparatus according to the above embodiment, the optical member includes any one of an optical fiber, a reflecting mirror, and a prism.
この構成によれば、光ファイバー、反射鏡、プリズムのいずれかを使用することによって、照射光を第1出射用通過孔に導くことができる。 According to this configuration, the irradiation light can be guided to the first emission passage hole by using any one of the optical fiber, the reflecting mirror, and the prism.
さらに、上記実施形態の樹脂成形装置では、発光素子は供給機構に設けられ、一方の型は、発光素子から発せられた照射光を通過させて導光部に導く入射用通過孔が設けられる構成としている。 Furthermore, in the resin molding apparatus according to the above-described embodiment, the light emitting element is provided in the supply mechanism, and one mold is provided with an incident through hole that allows the irradiation light emitted from the light emitting element to pass therethrough and guide the light to the light guide unit. It is said.
この構成によれば、供給機構に設けられた発光素子から発せられた照射光を、入射用通過孔及び光学部材を経由して第1出射用通過孔に導くことができる。 According to this structure, the irradiation light emitted from the light emitting element provided in the supply mechanism can be guided to the first emission passage hole via the incidence passage hole and the optical member.
さらに、上記実施形態の樹脂成形装置では、樹脂成形対象物がガイド部材に接触した状態において、ガイド部材の反対側の樹脂成形対象物が配置される領域に発光素子又は別の発光素子から発せられた照射光を通過させる第2出射用通過孔が設けられ、供給機構に照射光を受光可能な第2受光素子が設けられる構成としている。 Further, in the resin molding apparatus of the above embodiment, the light emitting element or another light emitting element emits the resin molding object on the side opposite to the guide member in a state where the resin molding object is in contact with the guide member. The second emission passage hole through which the irradiated light passes is provided, and the second light receiving element capable of receiving the irradiated light is provided in the supply mechanism.
この構成によれば、第2受光素子がガイド部材の反対側に設けられた第2出射用通過孔を通過した照射光を検知するか否かによって、ガイド部材の異常及び樹脂成形対象物に変形が発生しているか否かの少なくとも一方を判断することができる。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this configuration, the second light receiving element is deformed into an abnormality of the guide member and a resin molding object depending on whether or not the irradiation light that has passed through the second emission passage hole provided on the opposite side of the guide member is detected. Whether at least one of the above has occurred can be determined. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
上記実施形態の樹脂成形品の製造方法は、互いに対向して配置される第1型及び第2型を有する成形型のいずれか一方の型の型面に樹脂成形対象物を供給機構によって供給する供給工程と、型面において樹脂成形対象物をガイド部材に位置決めする位置決め工程と、一方の型に設けられた第1出射用通過孔を通過する照射光を発光素子から発する照射工程と、供給機構に設けられた第1受光素子が第1出射用通過孔を通過した照射光に関して検知する検知工程と、検知工程での検知に基づいて、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する判断工程と、判断工程において、樹脂成形対象物が正常に位置決めされていると判断した場合は成形型を型締めして樹脂成形する樹脂成形工程とを含む。 In the method of manufacturing a resin molded product according to the above-described embodiment, the resin molding object is supplied to the mold surface of one of the molds having the first mold and the second mold that are arranged to face each other by the supply mechanism. A supplying step, a positioning step of positioning the resin molding object on the guide member on the mold surface, an irradiation step of emitting the irradiation light from the light emitting element that passes through the first emission passage hole provided in one of the molds, and a supply mechanism Based on the detection process in which the first light receiving element provided in the sensor detects the irradiation light that has passed through the first emission passage hole, and whether the resin molding object is normally positioned on the guide member based on the detection in the detection process A determination step of determining whether or not, and a resin molding step of clamping the mold and resin molding when it is determined in the determination step that the resin molding object is normally positioned.
この方法によれば、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされていることを検証した状態で樹脂成形することができる。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this method, it is possible to perform resin molding in a state in which it is verified that the resin molding object is normally positioned on the guide member. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形品の製造方法では、判断工程は、検知工程において第1受光素子が照射光を検知しない場合は樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされていると判断し、検知工程において第1受光素子が照射光を検知した場合は樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされていないと判断する。 Furthermore, in the method for manufacturing a resin molded product according to the above embodiment, the determination step determines that the resin molding object is normally positioned on the guide member when the first light receiving element does not detect the irradiation light in the detection step. In the detection step, when the first light receiving element detects the irradiation light, it is determined that the resin molding object is not normally positioned on the guide member.
この方法によれば、第1受光素子が照射光を検知するか否かによって、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this method, whether or not the resin molding object is normally positioned on the guide member is determined based on whether or not the first light receiving element detects the irradiation light. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形品の製造方法では、検知工程は、樹脂成形対象物がガイド部材に接触した状態において、ガイド部材側の樹脂成形対象物が配置される領域に設けられた第1出射用通過孔を通過した照射光に関して検知する。 Furthermore, in the method for manufacturing a resin molded product according to the above-described embodiment, the detection step is a first step provided in a region where the resin molding object on the guide member side is arranged in a state where the resin molding object is in contact with the guide member. Detecting the irradiation light that has passed through the exit passage hole.
この方法によれば、第1出射用通過孔を通過した照射光を第1受光素子が検知するか否かによって、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this method, whether or not the resin molding object is normally positioned on the guide member is determined based on whether or not the first light receiving element detects the irradiation light that has passed through the first emission passage hole. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形品の製造方法では、照射工程は、一方の型又は一方の型が取り付けられたプラテンに設けられた導光部に向かって照射光を発し、検知工程は、導光部を経由して第1出射用通過孔を通過した照射光に関して検知する。 Furthermore, in the method of manufacturing a resin molded product according to the above embodiment, the irradiation step emits irradiation light toward the light guide portion provided on one mold or the platen to which the one mold is attached. Detection is performed with respect to irradiation light that has passed through the first emission passage hole via the light portion.
この方法によれば、導光部を経由して第1出射用通過孔を通過した照射光を第1受光素子が検知するか否かによって、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this method, the resin molding object is normally positioned on the guide member depending on whether or not the first light receiving element detects the irradiation light that has passed through the first emission passage hole via the light guide portion. Determine whether or not. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形品の製造方法では、発光素子は供給機構に設けられ、照射光は、発光素子から一方の型に設けられた入射用通過孔、導光部、第1出射用通過孔を順次経由して第1受光素子によって検知される。 Furthermore, in the method of manufacturing a resin molded product according to the above embodiment, the light emitting element is provided in the supply mechanism, and the irradiation light is provided from the light emitting element to one of the molds, the incident passage hole, the light guide unit, and the first emission The light is detected by the first light receiving element via the passage holes in order.
この方法によれば、供給機構に設けられた発光素子が発し、入射用通過孔、導光部、第1出射用通過孔を順次通過した照射光を第1受光素子が検知するか否かによって、樹脂成形対象物がガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する。したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。 According to this method, whether or not the first light receiving element detects the irradiation light emitted from the light emitting element provided in the supply mechanism and sequentially passing through the incident passage hole, the light guide unit, and the first emission passage hole. Then, it is determined whether or not the resin molding object is normally positioned on the guide member. Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
さらに、上記実施形態の樹脂成形品の製造方法では、検知工程は、樹脂成形対象物がガイド部材に接触した状態において、さらに、ガイド部材の反対側の樹脂成形対象物が配置される領域に設けられた第2出射用通過孔を通過した発光素子又は別の発光素子から発せられた照射光に関して第2受光素子が検知する工程を含み、判断工程は、検知工程における第2受光素子による検知に基づいて、ガイド部材の異常及び樹脂成形対象物の変形の少なくとも一方に関して判断する。 Furthermore, in the method for manufacturing a resin molded product according to the above-described embodiment, the detection step is further provided in a region where the resin molding object on the opposite side of the guide member is arranged in a state where the resin molding object is in contact with the guide member. The second light receiving element detects the light emitted from the light emitting element that has passed through the second emission passage hole or another light emitting element, and the determination step includes detection by the second light receiving element in the detection step. Based on this, at least one of the abnormality of the guide member and the deformation of the resin molding object is determined.
この方法によれば、第2受光素子がガイド部材の反対側に設けられた第2出射用通過孔を通過した照射光を検知するか否かによって、ガイド部材の異常及び樹脂成形対象物に変形が発生しているか否かの少なくとも一方を判断することができる。
したがって、位置決めに起因する成形不良の発生を抑制することができる。
According to this method, depending on whether or not the second light receiving element detects the irradiation light that has passed through the second emission passage hole provided on the opposite side of the guide member, the guide member is deformed and the resin molding object is deformed. Whether at least one of the above has occurred can be determined.
Therefore, it is possible to suppress the occurrence of molding defects due to positioning.
本発明は、上述した各実施形態に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で、必要に応じて、任意にかつ適宜に組み合わせ、変更し、又は選択して採用できるものである。 The present invention is not limited to each of the above-described embodiments, and can be arbitrarily combined, modified, or selected and adopted as necessary without departing from the spirit of the present invention. It is.
1 樹脂成形ユニット
2 基盤
3 タイバー
4、49 固定プラテン(プラテン)
5 可動プラテン(プラテン)
6 型締機構
7 起動源
8 伝達部材
9、48 上型(第1型、第2型、一方の型)
10 下型(第2型、第1型、一方の型)
11 成形型
12 樹脂成形対象物
13 供給機構
14 半導体チップ
15 成形前基板(樹脂成形対象物)
16 キャビティ
17 離型フィルム
18 ディスペンサ
19 駆動機構
20 液状樹脂
21 硬化樹脂
22 樹脂成形品
23、23X、24 ガイド部材
25、26 位置決め機構
27、27a、27b、28、28a、28b、35、36 発光素子
29、29a、29b、30、30a、30b 第1出射用通過孔
31、31a、31b、32、32a、32b 第1受光素子
33 照射光
34 隙間
37、38 第2出射用通過孔
39、40 第2受光素子
41、42、50、51、55、56、57、60 導光部
43、43a、43b、44、44a、44b 反射鏡(光学部材)
45 供給機構
46、47 入射用通過孔
52、53、58、58a、58b、61、61a、61b 光ファイバー(光学部材)
54 光ファイバー用のレンズ(光学部材)
59、62 分岐部材(光学部材)
63 樹脂成形装置
64 基板供給・収納モジュール
65A、65B、65C 成形モジュール
66 樹脂供給モジュール
67 成形前基板供給部
68 樹脂成形品収納部
69 基板載置部
70 離型フィルム供給機構
71 判断部
72 制御部
1
5 Movable platen (platen)
6
10 Lower mold (second mold, first mold, one mold)
11
16
45
54 Optical fiber lenses (optical members)
59, 62 Branch member (optical member)
63
Claims (13)
前記第1型及び前記第2型のいずれか一方の型の型面に樹脂成形対象物を供給する供給機構と、
前記型面において前記樹脂成形対象物をガイド部材に位置決めする位置決め機構と、
前記成形型を型締めする型締機構と、
照射光を発する発光素子と、
前記供給機構に設けられ前記照射光を受光可能な第1受光素子と、
前記樹脂成形対象物の位置決めに関して判断する判断部とを備え、
前記一方の型は、前記発光素子からの前記照射光を通過させる第1出射用通過孔が設けられ、
前記判断部は、前記第1出射用通過孔を通過した前記照射光に対する前記第1受光素子による検知に基づいて、前記樹脂成形対象物が前記ガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する樹脂成形装置。 A mold having a first mold and a second mold disposed opposite to each other;
A supply mechanism for supplying a resin molding object to a mold surface of one of the first mold and the second mold;
A positioning mechanism for positioning the resin molding object on the guide member on the mold surface;
A mold clamping mechanism for clamping the mold;
A light emitting element that emits irradiation light;
A first light receiving element provided in the supply mechanism and capable of receiving the irradiation light;
A determination unit for determining the positioning of the resin molding object,
The one mold is provided with a first emission passage hole through which the irradiation light from the light emitting element passes.
The determination unit determines whether the resin molding object is normally positioned on the guide member based on detection by the first light receiving element with respect to the irradiation light that has passed through the first emission passage hole. Resin molding equipment.
前記導光部において前記照射光を通過させる光学部材が設けられる請求項1から3のいずれか1項に記載の樹脂成形装置。 A light guide portion is provided for guiding the irradiation light emitted from the light emitting element to the first emission passage hole on the one mold or the platen to which the one mold is attached;
The resin molding apparatus according to any one of claims 1 to 3, wherein an optical member that allows the irradiation light to pass through is provided in the light guide portion.
前記一方の型は、前記発光素子から発せられた前記照射光を通過させて前記導光部に導く入射用通過孔が設けられる請求項4又は5に記載の樹脂成形装置。 The light emitting element is provided in the supply mechanism,
The resin molding apparatus according to claim 4, wherein the one mold is provided with an incident passage hole that allows the irradiation light emitted from the light emitting element to pass therethrough and guides the irradiation light to the light guide unit.
前記供給機構に前記第2出射用通過孔を通過した前記照射光を受光可能な第2受光素子が設けられる請求項1から6のいずれか1項に記載の樹脂成形装置。 In a state where the resin molding object is in contact with the guide member, irradiation light emitted from the light emitting element or another light emitting element is passed through a region where the resin molding object on the opposite side of the guide member is disposed. A second exit passage hole is provided in the one mold,
The resin molding apparatus according to claim 1, wherein the supply mechanism is provided with a second light receiving element capable of receiving the irradiation light that has passed through the second emission passage hole.
前記型面において前記樹脂成形対象物をガイド部材に位置決めする位置決め工程と、
前記一方の型に設けられた第1出射用通過孔を通過する照射光を発光素子から発する照射工程と、
前記供給機構に設けられた第1受光素子が前記第1出射用通過孔を通過した前記照射光に関して検知する検知工程と、
前記検知工程での検知に基づいて、前記樹脂成形対象物が前記ガイド部材に正常に位置決めされているか否かを判断する判断工程と、
前記判断工程において、前記樹脂成形対象物が正常に位置決めされていると判断した場合は前記成形型を型締めして樹脂成形する樹脂成形工程とを含む樹脂成形品の製造方法。 A supply step of supplying a resin molding object to a mold surface of any one of the molds having a first mold and a second mold disposed to face each other by a supply mechanism;
A positioning step of positioning the resin molding object on a guide member on the mold surface;
An irradiation step of emitting, from the light emitting element, irradiation light that passes through a first emission passage hole provided in the one mold;
A detection step in which a first light receiving element provided in the supply mechanism detects the irradiation light that has passed through the first emission passage hole;
A determination step of determining whether or not the resin molding object is normally positioned on the guide member, based on detection in the detection step;
A resin molded product manufacturing method comprising: a resin molding step in which, in the determination step, it is determined that the resin molding object is normally positioned, the mold is clamped and resin molding is performed.
前記検知工程では、前記導光部を経由して前記第1出射用通過孔を通過した前記照射光に関して検知する請求項7から9のいずれか1項に記載の樹脂成形品の製造方法。 In the irradiation step, the irradiation light is emitted toward a light guide provided on the platen to which the one mold or the one mold is attached,
The method for manufacturing a resin molded product according to any one of claims 7 to 9, wherein in the detection step, the irradiation light that has passed through the first emission passage hole via the light guide portion is detected.
前記照射光は、前記発光素子から前記一方の型に設けられた入射用通過孔、前記導光部、前記第1出射用通過孔を順次経由して前記第1受光素子によって検知される請求項10に記載の樹脂成形品の製造方法。 The light emitting element is provided in the supply mechanism,
The irradiation light is detected by the first light receiving element sequentially from the light emitting element through an incident passage hole, the light guide unit, and the first emission passage hole provided in the one mold. 10. A method for producing a resin molded product according to 10.
前記判断工程では、前記検知工程における前記第2受光素子による検知に基づいて、前記ガイド部材の異常及び前記樹脂成形対象物の変形の少なくとも一方に関して判断する請求項8から12のいずれか1項に記載の樹脂成形品の製造方法。 In the detection step, in a state where the resin molding object is in contact with the guide member, a second emission passage hole provided in a region where the resin molding object on the opposite side of the guide member is further disposed. The second light receiving element detects the irradiation light emitted from the light emitting element or another light emitting element that has passed,
The determination step according to any one of claims 8 to 12, wherein a determination is made regarding at least one of an abnormality of the guide member and a deformation of the resin molding target based on detection by the second light receiving element in the detection step. The manufacturing method of the resin molded product of description.
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017087132A JP6894285B2 (en) | 2017-04-26 | 2017-04-26 | Resin molding equipment and manufacturing method of resin molded products |
CN201810048558.5A CN108789988B (en) | 2017-04-26 | 2018-01-18 | Resin molding apparatus and method for manufacturing resin molded product |
TW107105777A TWI704043B (en) | 2017-04-26 | 2018-02-21 | Resin molding device and manufacturing method of resin molded product |
KR1020180026809A KR102153058B1 (en) | 2017-04-26 | 2018-03-07 | Molding apparatus and manufacturing method of resin molded article |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017087132A JP6894285B2 (en) | 2017-04-26 | 2017-04-26 | Resin molding equipment and manufacturing method of resin molded products |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018183931A true JP2018183931A (en) | 2018-11-22 |
JP2018183931A5 JP2018183931A5 (en) | 2020-03-26 |
JP6894285B2 JP6894285B2 (en) | 2021-06-30 |
Family
ID=64094603
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2017087132A Active JP6894285B2 (en) | 2017-04-26 | 2017-04-26 | Resin molding equipment and manufacturing method of resin molded products |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6894285B2 (en) |
KR (1) | KR102153058B1 (en) |
CN (1) | CN108789988B (en) |
TW (1) | TWI704043B (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP7203778B2 (en) * | 2020-01-21 | 2023-01-13 | Towa株式会社 | RESIN MOLDING APPARATUS AND RESIN MOLDED PRODUCT MANUFACTURING METHOD |
JP2022037315A (en) | 2020-08-25 | 2022-03-09 | Towa株式会社 | Resin molding equipment and method for manufacturing resin molded product |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH034017U (en) * | 1989-05-31 | 1991-01-16 | ||
JPH05109797A (en) * | 1991-10-14 | 1993-04-30 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor resin sealing device |
JPH1086188A (en) * | 1996-09-18 | 1998-04-07 | Sony Corp | Mold assembly for ic package |
JP2004259816A (en) * | 2003-02-25 | 2004-09-16 | Apic Yamada Corp | Work loading device and resin sealing device |
JP2008044175A (en) * | 2006-08-11 | 2008-02-28 | Apic Yamada Corp | Mold apparatus |
JP2008132730A (en) * | 2006-11-29 | 2008-06-12 | Apic Yamada Corp | Method and apparatus for resin molding |
Family Cites Families (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3398032B2 (en) | 1997-12-10 | 2003-04-21 | 河西工業株式会社 | Sheet material positioning method and positioning device |
JP2005154201A (en) * | 2003-11-26 | 2005-06-16 | Sumitomo Heavy Ind Ltd | Mold assembly, press apparatus, handling apparatus and method, and positioning method |
JP4290177B2 (en) * | 2005-06-08 | 2009-07-01 | キヤノン株式会社 | Mold, alignment method, pattern forming apparatus, pattern transfer apparatus, and chip manufacturing method |
CN101604124B (en) * | 2005-06-08 | 2011-07-27 | 佳能株式会社 | Mold, pattern forming method, and pattern forming apparatus |
CN101037013A (en) | 2006-03-15 | 2007-09-19 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | Mould device |
TW201040009A (en) * | 2009-05-08 | 2010-11-16 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Method for making optical element and imprinting mold |
JP6294680B2 (en) * | 2014-01-24 | 2018-03-14 | キヤノン株式会社 | Imprint apparatus and article manufacturing method |
JP2015154201A (en) * | 2014-02-13 | 2015-08-24 | キヤノン株式会社 | Image processing system, control method for the same, and program |
JP6566706B2 (en) | 2015-04-29 | 2019-08-28 | Towa株式会社 | Article manufacturing apparatus and method |
-
2017
- 2017-04-26 JP JP2017087132A patent/JP6894285B2/en active Active
-
2018
- 2018-01-18 CN CN201810048558.5A patent/CN108789988B/en active Active
- 2018-02-21 TW TW107105777A patent/TWI704043B/en active
- 2018-03-07 KR KR1020180026809A patent/KR102153058B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH034017U (en) * | 1989-05-31 | 1991-01-16 | ||
JPH05109797A (en) * | 1991-10-14 | 1993-04-30 | Mitsubishi Electric Corp | Semiconductor resin sealing device |
JPH1086188A (en) * | 1996-09-18 | 1998-04-07 | Sony Corp | Mold assembly for ic package |
JP2004259816A (en) * | 2003-02-25 | 2004-09-16 | Apic Yamada Corp | Work loading device and resin sealing device |
JP2008044175A (en) * | 2006-08-11 | 2008-02-28 | Apic Yamada Corp | Mold apparatus |
JP2008132730A (en) * | 2006-11-29 | 2008-06-12 | Apic Yamada Corp | Method and apparatus for resin molding |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6894285B2 (en) | 2021-06-30 |
KR102153058B1 (en) | 2020-09-07 |
KR20180120074A (en) | 2018-11-05 |
CN108789988A (en) | 2018-11-13 |
TWI704043B (en) | 2020-09-11 |
TW201838783A (en) | 2018-11-01 |
CN108789988B (en) | 2021-01-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR101165029B1 (en) | Apparatus for heating chip, flip chip bonder having the same and method for bonding flip chip using the same | |
KR101937360B1 (en) | Laser reflow apparatus | |
KR101475953B1 (en) | bonding device | |
JP4235623B2 (en) | Resin sealing device | |
JP2005305954A5 (en) | ||
KR102153058B1 (en) | Molding apparatus and manufacturing method of resin molded article | |
KR101777905B1 (en) | Imprint apparatus, and method of manufacturing article | |
JP2019130832A (en) | Injection molding method and molding device | |
KR20190008822A (en) | Laser reflow apparatus | |
JP2007237740A (en) | Photoelectron component, and method for manufacturing photoelectron component | |
KR100784390B1 (en) | Apparatus and method of fabricating semiconductor package | |
JP2003152260A (en) | Semiconductor laser device, optical pickup device using the same, and method and device for manufacturing semiconductor laser device | |
JP2009088321A (en) | Bonding device | |
JP3986196B2 (en) | Manufacturing method of optical semiconductor device | |
PH12019000190A1 (en) | Resin modling apparatus and method for manufacturing resin molded product | |
KR101678986B1 (en) | Glass forming apparatus and glass forming method using laser beam | |
KR102174930B1 (en) | Laser pressure head module of laser reflow equipment | |
JP2018138374A (en) | Resin molding apparatus, resin molding method, and manufacturing method of resin molded article | |
JP5621147B2 (en) | Resin molding equipment | |
US6853778B2 (en) | Optical module with alignment waveguide | |
JP2019130834A (en) | Injection molding method and molding device | |
Keränen et al. | Injection moulding integration of a red VCSEL illuminator module for a hologram reader sensor | |
US20220059377A1 (en) | Inspection device, resin molding apparatus, and method of manufacturing resin molded product | |
KR20100000568A (en) | Preheating apparatus for resin molding system | |
JP2006523012A (en) | Method and apparatus for securing a chip in a housing |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20200217 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20200217 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20210107 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210126 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210303 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20210406 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20210421 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20210525 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20210603 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6894285 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |