JP2018182047A - Frame unit and laser processing method of workpiece - Google Patents

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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a frame unit which can be used in place of an adhesive tape to reduce cost required for processing a workpiece.SOLUTION: The frame unit for use in holding a workpiece includes: an annular frame having an opening in which the workpiece is accommodated; an electrode sheet covering a part of the opening of the frame and including an electrode layer including positive and negative electrodes; and a power supply unit to which a battery for supplying power to the electrode is mounted and which controls power supply from the battery to the electrode and attracts and hold the workpiece with a force of static electricity.SELECTED DRAWING: Figure 1

Description

本発明は、被加工物を保持するために用いられるフレームユニット、及びこのフレームユニットを用いる被加工物のレーザー加工方法に関する。   The present invention relates to a frame unit used to hold a workpiece, and a method of laser processing a workpiece using the frame unit.

半導体ウェーハや光デバイスウェーハ、パッケージ基板等を複数のチップへと分割する際には、まず、これらの被加工物をチャックテーブル等で保持する。その後、被加工物に設定された分割予定ライン(ストリート)に沿ってレーザービームを照射したり、回転させた環状の切削ブレードを切り込ませたりすることで、被加工物を複数のチップへと分割できる(例えば、特許文献1参照)。   When dividing a semiconductor wafer, an optical device wafer, a package substrate and the like into a plurality of chips, first, these workpieces are held by a chuck table or the like. Thereafter, the work piece is cut into a plurality of chips by irradiating a laser beam along a planned dividing line (street) set for the work piece or cutting the rotated annular cutting blade. It can be divided (see, for example, Patent Document 1).

このような方法で被加工物を分割する前には、被加工物よりも径の大きい粘着テープ(ダイシングテープ)の中央部分を被加工物に貼り付け、また、この粘着テープの外周部分に被加工物を囲む環状のフレームを固定する。これにより、チャックテーブルに対して被加工物が直に触れて傷つくのを防止できる。更に、被加工物を分割して得られるチップの分散を防いで、容易に搬送できるようになる(例えば、特許文献2参照)。   Before dividing the workpiece by such a method, a central portion of a pressure-sensitive adhesive tape (dicing tape) having a larger diameter than the workpiece is attached to the workpiece, and the outer peripheral portion of the adhesive tape is Secure an annular frame surrounding the workpiece. Thereby, it is possible to prevent the workpiece from being directly touched and damaged by the chuck table. Furthermore, the dispersion of the chips obtained by dividing the workpiece can be prevented, and the chips can be easily transported (see, for example, Patent Document 2).

特開2012−84720号公報JP 2012-84720 A 特開平9−27543号公報Japanese Patent Application Laid-Open No. 9-27543

ところが、上述の方法では、使用後の粘着テープを再利用できないので、被加工物の加工に要する費用が高くなり易い。特に、粘着材が被加工物に残留し難い高性能な粘着テープは価格も高いので、そのような粘着テープを用いると、被加工物の加工に要する費用も高くなる。   However, in the above-described method, since the used adhesive tape can not be reused, the cost required for processing the workpiece tends to be high. In particular, since a high-performance pressure-sensitive adhesive tape in which the pressure-sensitive adhesive does not easily remain on the workpiece is expensive, using such a pressure-sensitive adhesive tape also increases the cost required to process the workpiece.

本発明はかかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、粘着テープの代わりに用いることで被加工物の加工に要する費用を低く抑えられるフレームユニット、及びこのフレームユニットを用いる被加工物のレーザー加工方法を提供することである。   The present invention has been made in view of such problems, and the object of the present invention is to use a frame unit that can reduce the cost required for processing a workpiece by using it instead of the adhesive tape, and this frame unit It is providing the laser processing method of the to-be-processed object to be used.

本発明の一態様によれば、被加工物を保持する際に用いられるフレームユニットであって、該被加工物が収容される開口を備える環状のフレームと、該フレームの該開口の一部を覆い、正負の電極を含む電極層を備える電極シートと、該電極に給電する電池が装着され、該電池から該電極への給電を制御する給電ユニットと、を有し、該被加工物を静電気の力で吸着して保持するフレームユニットが提供される。   According to one aspect of the present invention, there is provided a frame unit for use in holding a workpiece, the frame unit comprising an annular frame having an opening for receiving the workpiece, and a part of the opening of the frame. An electrode sheet provided with an electrode layer including a cover and positive and negative electrodes; and a power supply unit mounted with a battery for supplying power to the electrode and controlling power supply from the battery to the electrode; A frame unit is provided which absorbs and holds by force of

本発明の一態様において、該電極層は、正負の電極を互い違いに整列させてなる一対の櫛歯電極を備えることがある。また、該電極シートは、外周部が該フレームに固定される樹脂シートに設けられていても良い。更に、該電極シートは、該被加工物に対して透過性を有する波長のレーザービームを透過させるように構成され、該電極シートを介して該被加工物に該レーザービームを照射する際にこのフレームユニットが用いられても良い。   In one aspect of the present invention, the electrode layer may include a pair of interdigital electrodes in which positive and negative electrodes are alternately aligned. The electrode sheet may be provided on a resin sheet whose outer peripheral portion is fixed to the frame. Furthermore, the electrode sheet is configured to transmit a laser beam of a wavelength having transparency to the work, and the work piece is irradiated with the laser beam through the electrode sheet. A frame unit may be used.

本発明の別の一態様によれば、上述したフレームユニットを用いる被加工物の加工方法であって、該フレームユニットの該電極シートに該被加工物を載せ、該電極に給電して該被加工物を静電気の力で吸着する吸着ステップと、第1面と該第1面とは反対側の第2面とを有し該被加工物に対して透過性を有する波長の該レーザービームを透過させる板状の支持テーブルの該第1面側で、該被加工物を吸着した該フレームユニットの該電極シート側を支持するフレームユニット支持ステップと、該支持テーブルの該第2面側から、該支持テーブル及び該電極シートを介して該被加工物に該レーザービームを照射し、該被加工物の内部を改質して改質層を形成するレーザー加工ステップと、該レーザー加工ステップを実施した後に、該支持テーブルから該フレームユニットを取り外すフレームユニット取り外しステップと、該フレームユニット取り外しステップの後に、該電極への給電を調整して、該被加工物を該フレームユニットの該電極シートから剥離する剥離ステップと、を備える被加工物のレーザー加工方法が提供される。   According to another aspect of the present invention, there is provided a method of processing a workpiece using the above-described frame unit, comprising placing the workpiece on the electrode sheet of the frame unit and supplying power to the electrode to perform the workpiece. An adsorption step of adsorbing the workpiece by electrostatic force, a laser beam of a wavelength having a first surface and a second surface opposite to the first surface and having transparency to the workpiece; A frame unit supporting step for supporting the electrode sheet side of the frame unit having the workpiece adsorbed thereon on the first surface side of the plate-like support table to be transmitted; and from the second surface side of the support table A laser processing step of irradiating the workpiece with the laser beam through the support table and the electrode sheet to reform the inside of the workpiece to form a modified layer; and performing the laser processing step After the support Removing the frame unit from the frame unit, and separating the power supply to the electrode after the frame unit removal step to separate the workpiece from the electrode sheet of the frame unit. A laser processing method of a workpiece provided is provided.

本発明の一態様に係るフレームユニットは、環状のフレームと、正負の電極を含む電極層を備える電極シートと、電極に給電する電池が装着され、電池から電極への給電を制御する給電ユニットと、を有し、被加工物を静電気の力で吸着して保持するので、粘着材を使用する粘着テープとは異なり、繰り返し使用できる。よって、このフレームユニットを粘着テープの代わりに用いることで、被加工物の加工に要する費用を低く抑えられる。   A frame unit according to one aspect of the present invention includes an electrode sheet including an annular frame, an electrode layer including positive and negative electrodes, and a battery unit mounted with a battery for supplying power to the electrode, and controlling power supply from the battery to the electrode And, because the work piece is adsorbed and held by the force of static electricity, it can be used repeatedly, unlike the pressure-sensitive adhesive tape using a pressure-sensitive adhesive material. Therefore, by using this frame unit instead of the adhesive tape, the cost required for processing the workpiece can be kept low.

フレームユニットの構成例を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structural example of a frame unit typically. フレームユニットの構成例を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows the structural example of a flame | frame unit typically. フレームユニットの一部を模式的に示す平面図である。It is a top view which shows a part of frame unit typically. フレームユニットの一部を模式的に示す断面図である。It is sectional drawing which shows a part of flame | frame unit typically. 吸着ステップについて説明するための斜視図である。It is a perspective view for demonstrating an adsorption | suction step. レーザー加工装置の構成例を模式的に示す斜視図である。It is a perspective view which shows the structural example of a laser processing apparatus typically. フレームユニット支持ステップ及びレーザー加工ステップについて説明するための断面図である。It is sectional drawing for demonstrating a frame unit support step and a laser processing step. 図8(A)及び図8(B)は、剥離ステップについて説明するための斜視図である。8 (A) and 8 (B) are perspective views for explaining the peeling step.

添付図面を参照して、本発明の一態様に係る実施形態について説明する。図1は、本実施形態に係るフレームユニット2の構成例を模式的に示す斜視図であり、図2は、フレームユニット2の構成例を模式的に示す断面図である。   Embodiments according to one aspect of the present invention will be described with reference to the attached drawings. FIG. 1 is a perspective view schematically showing a configuration example of a frame unit 2 according to the present embodiment, and FIG. 2 is a cross-sectional view schematically showing a configuration example of the frame unit 2.

図1及び図2に示すように、フレームユニット2は、アルミニウム等の材料でなる環状のフレーム4を備えている。フレーム4の中央部分には、このフレーム4を第1面4aから第2面4bに貫通する開口4cが形成されている。開口4cの形状は、例えば、第1面4a側(又は第2面4b側)から見て概ね円形である。なお、フレーム4の材質、形状、大きさ等に特段の制限はない。   As shown in FIGS. 1 and 2, the frame unit 2 includes an annular frame 4 made of a material such as aluminum. An opening 4 c is formed in the central portion of the frame 4 so as to penetrate the frame 4 from the first surface 4 a to the second surface 4 b. The shape of the opening 4c is, for example, substantially circular as viewed from the first surface 4a side (or the second surface 4b side). There is no particular limitation on the material, shape, size and the like of the frame 4.

フレーム4の第2面4bには、ポリエチレン(PE)やポリエチレンテレフタラート(PET)等の材料でなるフィルム状のベースシート(樹脂シート)6が、開口4cを覆うように固定されている。具体的には、円形のベースシート6の第1面6a側の外周部分が、フレーム4の第2面4bに貼付されている。   A film-like base sheet (resin sheet) 6 made of a material such as polyethylene (PE) or polyethylene terephthalate (PET) is fixed to the second surface 4 b of the frame 4 so as to cover the opening 4 c. Specifically, the outer peripheral portion of the circular base sheet 6 on the first surface 6 a side is attached to the second surface 4 b of the frame 4.

ベースシート6は、被加工物11(図5等参照)を保護できる程度の柔軟性と、後述する静電気の力を阻害しない程度の絶縁性とを有している。ただし、ベースシート6の材質、形状、厚さ、大きさ等に特段の制限はない。被加工物11は、このベースシート6の第1面6a側で保持される。一方で、ベースシート6の第2面6b側の中央部分には、電極シート8が設けられている。   The base sheet 6 has flexibility to such an extent that the workpiece 11 (see FIG. 5 and the like) can be protected, and insulation to such an extent that the force of static electricity described later is not impeded. However, the material, shape, thickness, size and the like of the base sheet 6 are not particularly limited. The workpiece 11 is held on the side of the first surface 6 a of the base sheet 6. On the other hand, an electrode sheet 8 is provided at a central portion of the base sheet 6 on the second surface 6 b side.

図3は、電極シート8の構成例を模式的に示す平面図であり、図4は、電極シート8の構成例を模式的に示す断面図である。電極シート8は、例えば、ベースシート6と同様の材料で概ね円形に形成された支持シート10を含んでいる。支持シート10の直径は、開口4cの直径よりも小さく、被加工物11の直径よりも大きい。ただし、支持シート10の材質、形状、厚さ、大きさ等に特段の制限はない。   FIG. 3 is a plan view schematically showing a configuration example of the electrode sheet 8, and FIG. 4 is a cross-sectional view schematically showing a configuration example of the electrode sheet 8. The electrode sheet 8 includes, for example, a support sheet 10 formed in a substantially circular shape from the same material as the base sheet 6. The diameter of the support sheet 10 is smaller than the diameter of the opening 4 c and larger than the diameter of the workpiece 11. However, the material, shape, thickness, size, etc. of the support sheet 10 are not particularly limited.

支持シート10の一方の面(例えば、ベースシート6側の面)には、電極層12が配置されている。この電極層12は、例えば、導電性の材料で支持シート10の一方の面に形成された導電材層を、正の電極パターン(電極)12aと負の電極パターン(電極)12bとに分離することで得られる。導電材層を形成する導電性の材料としては、例えば、酸化インジウムスズ(Indium Tin Oxide:ITO)等の可視域で透明な材料を挙げることができる。   An electrode layer 12 is disposed on one surface of the support sheet 10 (for example, the surface on the base sheet 6 side). The electrode layer 12 is made of, for example, a conductive material and separates the conductive material layer formed on one surface of the support sheet 10 into a positive electrode pattern (electrode) 12a and a negative electrode pattern (electrode) 12b. It is obtained by As a conductive material which forms a conductive material layer, a transparent material can be mentioned in a visible region, such as indium tin oxide (Indium Tin Oxide: ITO), for example.

この場合には、例えば、任意の分離予定ラインに沿ってレーザービームを照射し、アブレーションさせる方法で、導電材層を正の電極パターン12aと負の電極パターン12bとに分離すると良い。つまり、導電材層に吸収され易い波長のレーザービームを分離予定ラインに沿って照射し、この導電材層が除去された絶縁領域12cを形成する。   In this case, for example, the conductive material layer may be separated into the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b by a method of irradiating a laser beam along an arbitrary line to be separated for ablation. That is, the laser beam of the wavelength which is easy to be absorbed by the conductive material layer is irradiated along the separation scheduled line, and the insulating region 12c from which the conductive material layer is removed is formed.

これにより、絶縁領域12cによって分離された正の電極パターン12aと負の電極パターン12bとが得られる。この方法では、導電材層の分離予定ラインに沿ってレーザービームを照射するだけで良いので、マスクを用いるエッチング等の方法に比べて加工に要する時間を短縮し易い。   Thereby, the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b separated by the insulating region 12c are obtained. In this method, it is only necessary to irradiate the laser beam along the planned separation line of the conductive material layer, so the time required for processing can be easily shortened as compared with the method such as etching using a mask.

もちろん、エッチング等の方法で導電材層を正の電極パターン12aと負の電極パターン12bとに分離しても良い。また、スクリーン印刷やインクジェット等の方法で、正の電極パターン12aと負の電極パターン12bとに分離された状態の電極層12を形成することもできる。   Of course, the conductive material layer may be separated into the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b by a method such as etching. Alternatively, the electrode layer 12 in a state of being separated into the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b can be formed by a method such as screen printing or ink jet.

正の電極パターン12a及び負の電極パターン12bの形状は、例えば、正の電極と負の電極とを互い違いに整列させてなる一対の櫛歯状にすると良い。このような櫛歯状の電極(櫛歯電極)では、正の電極と負の電極とが高い密度で配置されるので、例えば、電極と被加工物11との間で作用するグラジエント力等と呼ばれる静電気の力も強くなる。つまり、被加工物11を強い力で保持できるようになる。   The shapes of the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b may be, for example, a pair of comb teeth formed by alternately arranging a positive electrode and a negative electrode. In such a comb-like electrode (comb-teeth electrode), the positive electrode and the negative electrode are arranged at a high density, so, for example, a gradient force acting between the electrode and the workpiece 11 The force of static electricity that is called also becomes strong. That is, the workpiece 11 can be held with a strong force.

ただし、正の電極パターン12a及び負の電極パターン12bの形状等に特段の制限はない。例えば、正の電極パターン12a及び負の電極パターン12bを円等で構成しても良い。なお、図3に示すような絶縁領域12cをレーザービームによるアブレーションで形成する際には、一筆書きの要領でレーザービームを照射すると、加工に要する時間を更に短縮できる。   However, the shapes and the like of the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b are not particularly limited. For example, the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b may be formed in a circle or the like. When forming the insulating region 12c as shown in FIG. 3 by ablation with a laser beam, the time required for processing can be further shortened by irradiating the laser beam in the manner of single writing.

このように構成される電極シート8は、例えば、接着力のあるカバーシート14によって、電極層12側がベースシート6の第2面6b側に密着するように配置される。これにより、支持シート10側を第2面6b側に密着させる場合に比べて、電極層12から発生する電界を第1面6a側の被加工物11に効率よく作用させることができる。   The electrode sheet 8 configured in this manner is disposed, for example, in close contact with the second surface 6 b side of the base sheet 6 by the cover sheet 14 having adhesive strength. Thereby, the electric field generated from the electrode layer 12 can be efficiently applied to the workpiece 11 on the first surface 6 a side as compared with the case where the support sheet 10 is in close contact with the second surface 6 b.

カバーシート14は、例えば、ベースシート6と同様の材料で形成される円形の基材シートと、基材シートの一方の面に設けられる糊層(接着材層)とを含む。ここで、カバーシート14(基材シート)の直径は、電極シート8(支持シート10)の直径よりも大きい。ただし、カバーシート14の材質、形状、厚さ、大きさ、構造等に特段の制限はない。   The cover sheet 14 includes, for example, a circular base sheet formed of the same material as the base sheet 6 and a glue layer (adhesive layer) provided on one side of the base sheet. Here, the diameter of the cover sheet 14 (base sheet) is larger than the diameter of the electrode sheet 8 (support sheet 10). However, the material, shape, thickness, size, structure, etc. of the cover sheet 14 are not particularly limited.

なお、本実施形態では、酸化インジウムスズ等の可視域で透明な材料を用いて電極層12を形成するが、電極層12の材質は、フレームユニット2の用途等に応じて変更される。例えば、電極層12を介して被加工物11にレーザービームを照射するのであれば、このレーザービームを透過させる材料で電極層12を形成する必要がある。この場合には、ベースシート6や支持シート10、カバーシート14にも、レーザービームを透過させる材料が用いられる。   In the present embodiment, the electrode layer 12 is formed using a transparent material in the visible range, such as indium tin oxide, but the material of the electrode layer 12 is changed according to the application of the frame unit 2 or the like. For example, if the workpiece 11 is irradiated with a laser beam through the electrode layer 12, the electrode layer 12 needs to be formed of a material that transmits the laser beam. In this case, a material that transmits the laser beam is also used for the base sheet 6, the support sheet 10, and the cover sheet 14.

一方で、電極層12を介さず被加工物11にレーザービームを照射する場合や、環状の切削ブレードを被加工物11に切り込ませる場合等には、必ずしも透明な材料を用いて電極層12を形成しなくて良い。この場合には、ベースシート6や支持シート10、カバーシート14にも、透明な材料を用いる必要はない。   On the other hand, in the case of irradiating the workpiece 11 with a laser beam without interposing the electrode layer 12, or in the case of cutting an annular cutting blade into the workpiece 11, the electrode layer 12 is necessarily made of a transparent material. You do not have to form In this case, it is not necessary to use a transparent material for the base sheet 6, the support sheet 10 and the cover sheet 14.

ベースシート6の第2面6b側には、正の電極パターン12aに接続される第1配線16aと、負の電極パターン12bに接続される第2配線16bとが配置されている。図1に示すように、フレーム4の第1面4a側には、給電ユニット18が設けられており、第1配線16a及び第2配線16bは、例えば、フレーム4を回り込むようにして給電ユニット18に接続される。   On the second surface 6b side of the base sheet 6, a first wiring 16a connected to the positive electrode pattern 12a and a second wiring 16b connected to the negative electrode pattern 12b are disposed. As shown in FIG. 1, the feed unit 18 is provided on the first surface 4 a side of the frame 4, and the first wire 16 a and the second wire 16 b pass around the frame 4, for example. Connected to

給電ユニット18は、上述した正の電極パターン12a及び負の電極パターン12bへの給電に使用される電池20を収容するための電池ホルダ18aを備えている。また、電池ホルダ18aに隣接する位置には、正の電極パターン12a及び負の電極パターン12bへの給電と非給電とを切り替えるためのスイッチ18bが設けられている。   The feeding unit 18 includes a battery holder 18a for housing the battery 20 used for feeding the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b described above. Further, at a position adjacent to the battery holder 18a, a switch 18b for switching between feeding and non-feeding to the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b is provided.

例えば、スイッチ18bを導通状態(オン状態)にすると、電池ホルダ18aに収容されている電池20の電力が、第1配線16a及び第2配線16bを介して正の電極パターン12a及び負の電極パターン12bへと供給される。一方で、スイッチ18bを非導通状態(オフ状態)にすると、正の電極パターン12a及び負の電極パターン12bへの給電は停止する。   For example, when the switch 18b is turned on (on state), the power of the battery 20 stored in the battery holder 18a is positive and negative electrode patterns 12a and negative electrode patterns via the first wiring 16a and the second wiring 16b. It is supplied to 12b. On the other hand, when the switch 18b is turned off (off state), power supply to the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b is stopped.

なお、本実施形態では、給電ユニット18をフレーム4の第1面4a側に配置しているが、給電ユニット18の配置等に特段の制限はない。少なくとも、この給電ユニット18は、フレームユニット2を使用(例えば、支持)する際に邪魔にならない位置に配置されていれば良い。例えば、フレーム4の開口4c内に給電ユニット18を配置することもできる。また、電池20は、ボタン型電池(コイン型電池)のような一次電池でも良いし、充電により繰り返し使用可能な2次電池でも良い。   In the present embodiment, the feed unit 18 is disposed on the first surface 4 a side of the frame 4, but the arrangement of the feed unit 18 is not particularly limited. At least, the power supply unit 18 may be disposed at a position where it does not get in the way when using (e.g., supporting) the frame unit 2. For example, the feed unit 18 can be disposed in the opening 4 c of the frame 4. The battery 20 may be a primary battery such as a button battery (coin battery) or a secondary battery that can be repeatedly used by charging.

次に、上述のようなフレームユニット2を用いる被加工物のレーザー加工方法について説明する。本実施形態に係る被加工物のレーザー加工方法では、まず、被加工物11をフレームユニット2で吸着する吸着ステップを行う。図5は、吸着ステップについて説明するための斜視図である。   Next, a laser processing method of a workpiece using the above-described frame unit 2 will be described. In the laser processing method of a workpiece according to the present embodiment, first, an adsorption step of adsorbing the workpiece 11 by the frame unit 2 is performed. FIG. 5 is a perspective view for explaining the adsorption step.

本実施形態で加工される被加工物11は、例えば、シリコン(Si)等の材料でなる円盤状のウェーハである。この被加工物11の表面11a側は、格子状に設定された分割予定ライン(ストリート)13で複数の領域に区画されており、各領域には、IC(Integrated Circuit)、MEMS(Micro Electro Mechanical Systems)等のデバイス15が形成されている。   The workpiece 11 processed in the present embodiment is, for example, a disk-shaped wafer made of a material such as silicon (Si). The surface 11a side of the workpiece 11 is divided into a plurality of areas by planned dividing lines (streets) 13 set in a grid shape, and in each area, IC (Integrated Circuit), MEMS (Micro Electro Mechanical) Systems 15 etc. are formed.

なお、本実施形態では、シリコン等の材料でなる円盤状のウェーハを被加工物11としているが、被加工物11の材質、形状、構造、大きさ等に制限はない。他の半導体、セラミックス、樹脂、金属等の材料でなる被加工物11を用いることもできる。同様に、デバイス15の種類、数量、形状、構造、大きさ、配置等にも制限はない。   In the present embodiment, a disk-shaped wafer made of a material such as silicon is used as the workpiece 11, but the material, shape, structure, size, etc. of the workpiece 11 are not limited. It is also possible to use a workpiece 11 made of another semiconductor, ceramic, resin, metal or the like. Similarly, there is no limitation on the type, quantity, shape, structure, size, arrangement, etc. of the devices 15.

吸着ステップでは、まず、被加工物11の裏面11b側とベースシート6の第1面6a側とが接触するように、被加工物11をベースシート6に載せる。より具体的には、被加工物11をベースシート6の電極シート8に対応する領域(中央部分)に載せる。次に、給電ユニット18のスイッチ18bを導通状態にして、電池20の電力を正の電極パターン12aと負の電極パターン12bとに供給する。   In the suction step, first, the workpiece 11 is placed on the base sheet 6 so that the back surface 11 b side of the workpiece 11 and the first surface 6 a side of the base sheet 6 are in contact with each other. More specifically, the workpiece 11 is placed on a region (central portion) corresponding to the electrode sheet 8 of the base sheet 6. Next, the switch 18b of the feeding unit 18 is made conductive to supply the power of the battery 20 to the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b.

これにより、正の電極パターン12a及び負の電極パターン12bの周りに電界が発生し、その効果として、被加工物11と電極層12との間に静電気の力が作用する。この静電気の力により、被加工物11は、フレームユニット2に吸着、保持される。なお、被加工物11と電極層12との間に作用する静電気の力には、クーロン力、ジョンソン・ラーベック力、グラジエント力等がある。   As a result, an electric field is generated around the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b, and as a result, an electrostatic force acts between the workpiece 11 and the electrode layer 12. The workpiece 11 is attracted and held by the frame unit 2 by the force of this static electricity. The electrostatic force acting between the workpiece 11 and the electrode layer 12 includes Coulomb force, Johnson-Rahbeck force, gradient force and the like.

吸着ステップの後には、被加工物11を吸着した状態のフレームユニット2を支持するフレームユニット支持ステップを行う。図6は、フレームユニット支持ステップ等で使用されるレーザー加工装置102の構成例を模式的に示す斜視図であり、図7は、フレームユニット支持ステップ等について説明するための断面図である。なお、図6及び図7では、レーザー加工装置102の一部の構成要素を機能ブロック等で示している。   After the adsorption step, a frame unit supporting step for supporting the frame unit 2 in a state where the workpiece 11 is adsorbed is performed. FIG. 6 is a perspective view schematically showing a configuration example of the laser processing apparatus 102 used in the frame unit support step and the like, and FIG. 7 is a cross-sectional view for explaining the frame unit support step and the like. 6 and 7 show some components of the laser processing apparatus 102 by functional blocks or the like.

図6に示すように、レーザー加工装置102は、各構成要素を支持する基台104を備えている。基台104の後端部には、Z軸方向(鉛直方向)に延びる支持構造106が設けられている。支持構造106から離れた基台4の前方の角部には、上方に突き出た突出部104aが設けられている。   As shown in FIG. 6, the laser processing apparatus 102 includes a base 104 that supports each component. At the rear end of the base 104, a support structure 106 extending in the Z-axis direction (vertical direction) is provided. An upwardly projecting protrusion 104 a is provided at the front corner of the base 4 remote from the support structure 106.

突出部104aの内部には空間が形成されており、この空間には、昇降機構(不図示)によって昇降するカセットエレベータ108が設けられている。カセットエレベータ108の上面には、複数の被加工物11を収容するためのカセット110が載せられる。なお、被加工物11は、上述した吸着ステップの後に、フレームユニット2に吸着、保持された状態でカセット110に収容される。   A space is formed in the inside of the projecting portion 104a, and in this space, a cassette elevator 108 which is moved up and down by an elevating mechanism (not shown) is provided. On the upper surface of the cassette elevator 108, a cassette 110 for storing a plurality of workpieces 11 is placed. The workpiece 11 is accommodated in the cassette 110 in a state of being adsorbed and held by the frame unit 2 after the above-described adsorption step.

突出部104aに隣接する位置には、被加工物11を保持するフレームユニット2の大まかな位置を調整するための位置調整ユニット112が配置されている。位置調整ユニット112は、例えば、Y軸方向(割り出し送り方向)に平行な状態を維持しながら接近、離隔される一対のガイドレールを含む。各ガイドレールは、フレーム23を支持する支持面と、支持面に垂直な側面とを有している。   A position adjustment unit 112 for adjusting the rough position of the frame unit 2 holding the workpiece 11 is disposed at a position adjacent to the protrusion 104 a. The position adjustment unit 112 includes, for example, a pair of guide rails that are approached and separated while maintaining a parallel state in the Y-axis direction (indexing feed direction). Each guide rail has a support surface for supporting the frame 23 and a side surface perpendicular to the support surface.

例えば、カセット110から搬出されたフレームユニット2を位置調整ユニット112のガイドレールに乗せ、このガイドレールによってフレームユニット2をX軸方向(加工送り方向)に挟み込むことで、フレームユニット2を所定の位置に合わせることができる。位置調整ユニット112の近傍には、フレームユニット2(被加工物11)を搬送するための搬送ユニット114が配置されている。搬送ユニット114は、フレームユニット2中のフレーム4を吸着する吸着パッド116を備えている。   For example, the frame unit 2 taken out of the cassette 110 is placed on the guide rails of the position adjustment unit 112, and the frame unit 2 is held in the X-axis direction (processing feed direction) by the guide rails. Can be adjusted to In the vicinity of the position adjustment unit 112, a transport unit 114 for transporting the frame unit 2 (workpiece 11) is disposed. The transport unit 114 includes a suction pad 116 for suctioning the frame 4 in the frame unit 2.

基台4の中央には、移動機構(加工送り機構、割り出し送り機構)118が設けられている。移動機構118は、基台4の上面に配置されY軸方向に平行な一対のY軸ガイドレール120を備えている。Y軸ガイドレール120には、Y軸移動テーブル122がスライド可能に取り付けられている。   At the center of the base 4, a moving mechanism (processing feed mechanism, indexing feed mechanism) 118 is provided. The moving mechanism 118 includes a pair of Y-axis guide rails 120 disposed on the upper surface of the base 4 and parallel to the Y-axis direction. A Y-axis moving table 122 is slidably attached to the Y-axis guide rail 120.

Y軸移動テーブル122の裏面側(下面側)には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、Y軸ガイドレール120に平行なY軸ボールネジ124が螺合されている。Y軸ボールネジ124の一端部には、Y軸パルスモータ126が連結されている。Y軸パルスモータ126でY軸ボールネジ124を回転させれば、Y軸移動テーブル122は、Y軸ガイドレール120に沿ってY軸方向に移動する。   A nut portion (not shown) is provided on the back surface side (lower surface side) of the Y-axis movement table 122, and a Y-axis ball screw 124 parallel to the Y-axis guide rail 120 is screwed into this nut portion. There is. A Y-axis pulse motor 126 is connected to one end of the Y-axis ball screw 124. When the Y-axis ball screw 124 is rotated by the Y-axis pulse motor 126, the Y-axis moving table 122 moves in the Y-axis direction along the Y-axis guide rail 120.

Y軸移動テーブル122の表面(上面)には、X軸方向に平行な一対のX軸ガイドレール128が設けられている。X軸ガイドレール128には、X軸移動テーブル130がスライド可能に取り付けられている。   A pair of X-axis guide rails 128 parallel to the X-axis direction are provided on the surface (upper surface) of the Y-axis moving table 122. An X-axis moving table 130 is slidably attached to the X-axis guide rail 128.

X軸移動テーブル130の裏面側(下面側)には、ナット部(不図示)が設けられており、このナット部には、X軸ガイドレール128に平行なX軸ボールネジ132が螺合されている。X軸ボールネジ132の一端部には、X軸パルスモータ134が連結されている。X軸パルスモータ134でX軸ボールネジ132を回転させれば、X軸移動テーブル130は、X軸ガイドレール128に沿ってX軸方向に移動する。   A nut portion (not shown) is provided on the back surface side (lower surface side) of the X-axis movement table 130, and an X-axis ball screw 132 parallel to the X-axis guide rail 128 is screwed into this nut portion. There is. An X-axis pulse motor 134 is connected to one end of the X-axis ball screw 132. When the X-axis ball screw 132 is rotated by the X-axis pulse motor 134, the X-axis moving table 130 moves in the X-axis direction along the X-axis guide rail 128.

X軸移動テーブル130の表面側(上面側)には、テーブルベース136が設けられている。テーブルベース136の上部には、フレームユニット2を支持するためのテーブルユニット138が配置されている。このテーブルユニット138は、テーブルベース136を介してモータ等の回転駆動源(不図示)に連結されており、Z軸方向(鉛直方向)に概ね平行な回転軸の周りに回転する。   A table base 136 is provided on the front surface side (upper surface side) of the X-axis moving table 130. A table unit 138 for supporting the frame unit 2 is disposed on the top of the table base 136. The table unit 138 is connected to a rotational drive source (not shown) such as a motor via a table base 136, and rotates around a rotational axis substantially parallel to the Z-axis direction (vertical direction).

また、テーブルユニット138及びテーブルベース136は、上述した移動機構118によってX軸方向及びY軸方向に移動する(加工送り、割り出し送り)。テーブルユニット138の詳細については、後述する。   Further, the table unit 138 and the table base 136 are moved in the X-axis direction and the Y-axis direction by the moving mechanism 118 described above (processing feed, index feed). Details of the table unit 138 will be described later.

支持構造106には、前方(テーブルユニット138側)に突出する支持アーム106aが設けられており、この支持アーム106aの先端部には、下方に向けてレーザービームを照射するためのレーザー照射ユニット140が配置されている。また、レーザー照射ユニット140に隣接する位置には、被加工物11等を撮像するための撮像ユニット(カメラ)142が設けられている。   The support structure 106 is provided with a support arm 106a projecting forward (toward the table unit 138), and a laser irradiation unit 140 for irradiating the laser beam downward at the tip of the support arm 106a. Is arranged. Further, at a position adjacent to the laser irradiation unit 140, an imaging unit (camera) 142 for imaging the workpiece 11 or the like is provided.

レーザー照射ユニット140は、被加工物11に対して透過性を有する波長のレーザービームをパルス発振するレーザー発振器(不図示)を備えている。例えば、被加工物11がシリコン等の半導体材料でなるウェーハの場合には、Nd:YAG等のレーザー媒質を用いて波長が1000nm以上(例えば、1064nm)のレーザービームをパルス発振するレーザー発振器等を用いると良い。   The laser irradiation unit 140 includes a laser oscillator (not shown) that pulse-oscillates a laser beam of a wavelength having transparency to the workpiece 11. For example, when the workpiece 11 is a wafer made of a semiconductor material such as silicon, a laser oscillator or the like that pulse-oscillates a laser beam having a wavelength of 1000 nm or more (for example, 1064 nm) using a laser medium such as Nd: YAG It is good to use.

また、レーザー照射ユニット140は、レーザー発振器からパルス発振されたレーザービームを集光する集光器を備えており、フレームユニット2を介してテーブルユニット138に支持される被加工物11の内部にこのレーザービームを照射、集光する。例えば、レーザー照射ユニット140でレーザービームを照射しながら、テーブルユニット138をX軸方向に移動させることで、被加工物11の内部をX軸方向に沿って改質できる。   The laser irradiation unit 140 also includes a condenser for condensing the laser beam pulse-oscillated from the laser oscillator, and the inside of the workpiece 11 supported by the table unit 138 via the frame unit 2 Irradiate and collect a laser beam. For example, by moving the table unit 138 in the X-axis direction while irradiating the laser beam by the laser irradiation unit 140, the inside of the workpiece 11 can be reformed along the X-axis direction.

被加工物11を加工した後には、例えば、搬送ユニット114によってフレームユニット2をカセット110に再び収容する。カセットエレベータ108、位置調整ユニット112、搬送ユニット114、移動機構118、テーブルユニット138、レーザー照射ユニット140、撮像ユニット142等の構成要素は、それぞれ、制御ユニット144に接続されている。   After processing the workpiece 11, for example, the frame unit 2 is accommodated again in the cassette 110 by the transport unit 114. The components such as the cassette elevator 108, the position adjustment unit 112, the transport unit 114, the moving mechanism 118, the table unit 138, the laser irradiation unit 140, and the imaging unit 142 are connected to the control unit 144.

この制御ユニット144は、被加工物11の加工に必要な一連の工程に合わせて、上述した各構成要素を制御する。また、制御ユニット144には、ユーザインタフェースとなるタッチパネル式のモニタ146が接続されている。   The control unit 144 controls the above-described components in accordance with a series of steps required for processing the workpiece 11. In addition, a touch panel monitor 146 serving as a user interface is connected to the control unit 144.

図7に示すように、テーブルユニット138は、例えば、底壁138aと、底壁138aの外周部分に設けられた側壁138bと、側壁138bの上端に接続された天井壁138cと、を有する箱状に形成されている。側壁138bの一部には、開口が形成されており、被加工物11を吸着した状態のフレームユニット2は、この開口を通じてテーブルユニット138の内部へと搬入される。   As shown in FIG. 7, the table unit 138 has, for example, a box shape having a bottom wall 138a, a side wall 138b provided on an outer peripheral portion of the bottom wall 138a, and a ceiling wall 138c connected to an upper end of the side wall 138b. Is formed. An opening is formed in a part of the side wall 138b, and the frame unit 2 in a state where the workpiece 11 is adsorbed is carried into the inside of the table unit 138 through the opening.

天井壁138cの中央部分には、天井壁138cを上下に貫通する円形の開口が形成されている。この開口には、レーザー照射ユニット140から放射されるレーザービームを透過させる材料で形成された板状の支持部材(支持テーブル)138dが嵌め込まれている。   The central portion of the ceiling wall 138c is formed with a circular opening penetrating the ceiling wall 138c up and down. A plate-like support member (support table) 138d formed of a material that transmits the laser beam emitted from the laser irradiation unit 140 is fitted in the opening.

すなわち、支持部材138dは、被加工物11に対して透過性を有する波長のレーザービームを透過させる。なお、図7では、説明の便宜上、支持部材138dのハッチングを省略している。この支持部材138d(開口)の直径は、被加工物11の直径よりも大きい。そのため、支持部材138dによって被加工物11の全面を支持できる。   That is, the support member 138 d transmits a laser beam of a wavelength having transparency to the workpiece 11. In FIG. 7, hatching of the support member 138 d is omitted for convenience of the description. The diameter of the support member 138 d (opening) is larger than the diameter of the workpiece 11. Therefore, the entire surface of the workpiece 11 can be supported by the support member 138d.

天井壁138cの下面側には、フレームユニット2のフレーム4を固定するためのクランプ138eが設けられている。また、このクランプ138eに近接する天井壁138cの下面には、吸引路138fの一端側が開口している。吸引路138fの他端側は、バルブ148等を介して吸引源150に接続されている。   A clamp 138 e for fixing the frame 4 of the frame unit 2 is provided on the lower surface side of the ceiling wall 138 c. Further, one end side of the suction path 138f is open on the lower surface of the ceiling wall 138c adjacent to the clamp 138e. The other end side of the suction path 138 f is connected to the suction source 150 via a valve 148 or the like.

フレームユニット支持ステップでは、まず、被加工物11を吸着した状態のフレームユニット2をカセット110から搬出し、テーブルユニット138内に搬入する。具体的には、支持部材138dの下面(第1面)にベースシート6の第2面6b側(電極シート8側、カバーシート14側)が密着するようにフレーム4をクランプ138eで固定する。   In the frame unit supporting step, first, the frame unit 2 in a state where the workpiece 11 is adsorbed is carried out from the cassette 110 and carried into the table unit 138. Specifically, the frame 4 is fixed by a clamp 138e such that the second surface 6b side (electrode sheet 8 side, cover sheet 14 side) of the base sheet 6 is in close contact with the lower surface (first surface) of the support member 138d.

そして、この状態でバルブ148を開き、吸引源150の負圧を作用させる。これにより、フレームユニット2を支持部材138dの下面側で支持できる。このように、被加工物11は、表面11a側が下方に露出した状態でフレームユニット2を介してテーブルユニット138に保持される。   Then, in this state, the valve 148 is opened to apply negative pressure to the suction source 150. Thus, the frame unit 2 can be supported on the lower surface side of the support member 138d. Thus, the workpiece 11 is held by the table unit 138 via the frame unit 2 in a state where the surface 11 a side is exposed downward.

フレームユニット支持ステップの後には、支持部材138dの上面(第2面)側からレーザービームを照射して被加工物11を加工するレーザー加工ステップを行う。レーザー加工ステップは、引き続きレーザー加工装置102を用いて行われる。具体的には、まず、テーブルユニット138を回転させて、加工の対象となる分割予定ライン13の伸長する方向をレーザー加工装置12のX軸方向に合わせる。   After the frame unit supporting step, a laser processing step of processing the workpiece 11 by irradiating a laser beam from the upper surface (second surface) side of the support member 138d is performed. The laser processing step is subsequently performed using the laser processing apparatus 102. Specifically, first, the table unit 138 is rotated to align the extending direction of the planned dividing line 13 to be processed with the X-axis direction of the laser processing apparatus 12.

次に、テーブルユニット138を移動させて、例えば、対象となる分割予定ライン13の延長線上にレーザー照射ユニット140の位置を合わせる。そして、図7に示すように、レーザー照射ユニット140から被加工物11に向けてレーザービーム152を照射しながら、テーブルユニット138をX軸方向に移動させる。   Next, the table unit 138 is moved, for example, to align the position of the laser irradiation unit 140 on the extension of the target dividing line 13. Then, as shown in FIG. 7, the table unit 138 is moved in the X-axis direction while irradiating the laser beam 152 from the laser irradiation unit 140 toward the workpiece 11.

ここで、レーザービーム152の照射条件(加工条件)は、被加工物11の内部を多光子吸収によって改質できる範囲で調整される。具体的には、例えば、レーザービーム152を被加工物11の内部に集光させる。他の条件は、例えば、次の通りである。
レーザービームの波長:1000nm以上
レーザービームの出力:1W
レーザービームの繰り返し周波数:80kHz
テーブルユニット138の移動速度:800nm/s
Here, the irradiation condition (processing condition) of the laser beam 152 is adjusted in a range where the inside of the workpiece 11 can be modified by multiphoton absorption. Specifically, for example, the laser beam 152 is focused on the inside of the workpiece 11. Other conditions are, for example, as follows.
Laser beam wavelength: 1000 nm or more Laser beam output: 1 W
Laser beam repetition frequency: 80 kHz
Movement speed of table unit 138: 800 nm / s

上述のように、テーブルユニット138の支持部材138dは、レーザービーム152を透過させる材料で形成されている。また、フレームユニット2のベースシート6、支持シート10、電極層12、及びカバーシート14も、レーザービーム152を透過させる材料で形成されている。   As described above, the support member 138 d of the table unit 138 is formed of a material that transmits the laser beam 152. The base sheet 6 of the frame unit 2, the support sheet 10, the electrode layer 12, and the cover sheet 14 are also formed of a material that transmits the laser beam 152.

よって、支持部材138d及びフレームユニット2を介してレーザービーム152を被加工物11の内部に照射し、分割予定ライン13に沿う改質層17を形成できる。このような動作を繰り返し、例えば、全ての分割予定ライン13に沿って改質層17が形成されると、レーザー加工ステップは終了する。   Therefore, the laser beam 152 can be irradiated to the inside of the workpiece 11 through the support member 138 d and the frame unit 2 to form the modified layer 17 along the dividing lines 13. Such operation is repeated, for example, when the modified layer 17 is formed along all the dividing lines 13, the laser processing step ends.

レーザー加工ステップの後には、テーブルユニット138(支持部材138d)からフレームユニット2を取り外すフレームユニット取り外しステップを行う。具体的には、まず、バルブ148を閉じて、吸引源150の負圧を遮断する。そして、搬送ユニット114等でフレームユニット2をテーブルユニット138から搬出する。搬出されたフレームユニット2は、カセット110に再び収容される。   After the laser processing step, a frame unit removing step is performed to remove the frame unit 2 from the table unit 138 (support member 138d). Specifically, first, the valve 148 is closed to shut off the negative pressure of the suction source 150. Then, the frame unit 2 is unloaded from the table unit 138 by the transport unit 114 or the like. The carried out frame unit 2 is accommodated in the cassette 110 again.

フレームユニット取り外しステップの後には、被加工物11をフレームユニット2のベースシート6(電極シート8)から剥離する剥離ステップを行う。図8(A)及び図8(B)は、剥離ステップについて説明するための斜視図である。この剥離ステップでは、例えば、加工後の被加工物11を保持するフレームユニット2をカセット110から取り出し、図8(A)に示すように、被加工物11の表面11a側に粘着テープ21の表面21a側を貼付する。   After the frame unit removing step, a peeling step of peeling the workpiece 11 from the base sheet 6 (electrode sheet 8) of the frame unit 2 is performed. 8 (A) and 8 (B) are perspective views for explaining the peeling step. In this peeling step, for example, the frame unit 2 holding the processed object 11 is removed from the cassette 110, and the surface of the adhesive tape 21 is placed on the surface 11a side of the object 11, as shown in FIG. Stick the 21a side.

次に、給電ユニット18のスイッチ18bを非導通状態にして、正の電極パターン12a及び負の電極パターン12bへの給電を停止させる。これにより、被加工物11と電極層12との間に作用する静電気の力が弱まり、又は失われる。この状態で、例えば、粘着テープ21の裏面21b側が下方を向くようにフレームユニット2を上下に反転させることで、図8(B)に示すように、被加工物11をベースシート6(電極シート8)から剥離できる。   Next, the switch 18b of the feed unit 18 is brought out of conduction to stop the feed to the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b. As a result, the electrostatic force acting between the workpiece 11 and the electrode layer 12 is weakened or lost. In this state, for example, by inverting the frame unit 2 up and down so that the back surface 21b side of the adhesive tape 21 is directed downward, as shown in FIG. 8B, the workpiece 11 is a base sheet 6 (electrode sheet It can peel from 8).

以上のように、本実施形態に係るフレームユニット2は、環状のフレーム4と、正の電極パターン(電極)12aと負の電極パターン(電極)12bとを含む電極層12を備える電極シート8と、正の電極パターン12a及び負の電極パターン12bに給電する電池20が装着され、電池20から正の電極パターン12a及び負の電極パターン12bへの給電を制御する給電ユニット18と、を有し、被加工物11を静電気の力で吸着して保持するので、粘着材を使用する粘着テープとは異なり、繰り返し使用できる。よって、このフレームユニットを粘着テープの代わりに用いることで、被加工物11の加工に要する費用を低く抑えられる。   As described above, the frame unit 2 according to the present embodiment includes the ring-shaped frame 4 and the electrode sheet 8 including the electrode layer 12 including the positive electrode pattern (electrode) 12 a and the negative electrode pattern (electrode) 12 b. A battery 20 for feeding the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b, and a feeding unit 18 for controlling the feeding of the positive electrode pattern 12a and the negative electrode pattern 12b from the battery 20; Since the workpiece 11 is adsorbed and held by the force of static electricity, it can be used repeatedly unlike the pressure-sensitive adhesive tape using the pressure-sensitive adhesive material. Therefore, the cost required for processing the workpiece 11 can be reduced by using this frame unit instead of the adhesive tape.

なお、本発明は、上記実施形態等の記載に制限されず種々変更して実施可能である。例えば、上記実施形態では、被加工物11の内部に改質層17を形成する場合について説明しているが、電極層12を介さず被加工物11にレーザービームを照射する場合や、環状の切削ブレードを被加工物11に切り込ませる場合等にも、本実施形態のフレームユニット2を使用できる。   The present invention is not limited to the above-described embodiment and the like, and can be implemented with various modifications. For example, although the above embodiment describes the case where the modified layer 17 is formed inside the workpiece 11, the case where the workpiece 11 is irradiated with the laser beam without the electrode layer 12 or the ring The frame unit 2 of this embodiment can also be used when cutting the cutting blade into the workpiece 11 or the like.

その他、上記実施形態に係る構造、方法等は、本発明の目的の範囲を逸脱しない限りにおいて適宜変更して実施できる。   In addition, the structure, method, and the like according to the above-described embodiment can be appropriately modified and implemented without departing from the scope of the object of the present invention.

2 フレームユニット
4 フレーム
4a 第1面
4b 第2面
4c 開口
6 ベースシート(樹脂シート)
6a 第1面
6b 第2面
8 電極シート
10 支持シート
12 電極層
12a 正の電極パターン(電極)
12b 負の電極パターン(電極)
12c 絶縁領域
14 カバーシート
16a 第1配線
16b 第2配線
18 給電ユニット
18a 電池ホルダ
18b スイッチ
20 電池
102 レーザー加工装置
104 基台
104a 突出部
106 支持構造
106a 支持アーム
108 カセットエレベータ
110 カセット
112 位置調整ユニット
114 搬送ユニット
116 吸着パッド
118 移動機構(加工送り機構、割り出し送り機構)
120 Y軸ガイドレール
122 Y軸移動テーブル
124 Y軸ボールネジ
126 Y軸パルスモータ
128 X軸ガイドレール
130 X軸移動テーブル
132 X軸ボールネジ
134 X軸パルスモータ
136 テーブルベース
138 テーブルユニット
138a 底壁
138b 側壁
138c 天井壁
138d 支持部材(支持テーブル)
138e クランプ
138f 吸引路
140 レーザー照射ユニット
142 撮像ユニット(カメラ)
144 制御ユニット
146 モニタ
148 バルブ
150 吸引源
152 レーザービーム
11 被加工物
11a 表面
11b 裏面
13 分割予定ライン(ストリート)
15 デバイス
17 改質層
21 粘着テープ
21a 表面
21b 裏面
2 frame unit 4 frame 4a first side 4b second side 4c opening 6 base sheet (resin sheet)
6a 1st surface 6b 2nd surface 8 electrode sheet 10 support sheet 12 electrode layer 12a positive electrode pattern (electrode)
12b Negative electrode pattern (electrode)
12c Insulating Region 14 Cover Sheet 16a First Wiring 16b Second Wiring 18 Feeding Unit 18a Battery Holder 18b Switch 20 Battery 102 Laser Processing Device 104 Base 104a Projection 106 Support Structure 106a Support Arm 108 Cassette Elevator 110 Cassette 112 Position Adjustment Unit 114 Transport unit 116 Suction pad 118 Movement mechanism (processing feed mechanism, indexing feed mechanism)
120 Y-axis guide rail 122 Y-axis moving table 124 Y-axis ball screw 126 Y-axis pulse motor 128 X-axis guide rail 130 X-axis moving table 132 X-axis ball screw 134 X-axis pulse motor 136 Table base 138 Table unit 138a Bottom wall 138b Side wall 138c Ceiling wall 138d support member (support table)
138e clamp 138f suction path 140 laser irradiation unit 142 imaging unit (camera)
144 control unit 146 monitor 148 valve 150 suction source 152 laser beam 11 workpiece 11a front surface 11b back surface 13 division scheduled line (street)
15 Device 17 Modified Layer 21 Adhesive Tape 21a Front 21b Back

Claims (5)

被加工物を保持する際に用いられるフレームユニットであって、
該被加工物が収容される開口を備える環状のフレームと、
該フレームの該開口の一部を覆い、正負の電極を含む電極層を備える電極シートと、
該電極に給電する電池が装着され、該電池から該電極への給電を制御する給電ユニットと、を有し、
該被加工物を静電気の力で吸着して保持することを特徴とするフレームユニット。
A frame unit used to hold a workpiece,
An annular frame comprising an opening in which the workpiece is accommodated;
An electrode sheet covering a part of the opening of the frame and comprising an electrode layer including positive and negative electrodes;
And a power supply unit mounted with a battery for supplying power to the electrode and controlling power supply from the battery to the electrode;
A frame unit characterized by adsorbing and holding the work by electrostatic force.
該電極層は、正負の電極を互い違いに整列させてなる一対の櫛歯電極を備えることを特徴とする請求項1に記載のフレームユニット。   The frame unit according to claim 1, wherein the electrode layer includes a pair of comb-like electrodes in which positive and negative electrodes are alternately aligned. 該電極シートは、外周部が該フレームに固定される樹脂シートに設けられていることを特徴とする請求項1又は請求項2に記載のフレームユニット。   The frame unit according to claim 1 or 2, wherein the electrode sheet is provided on a resin sheet whose outer peripheral portion is fixed to the frame. 該電極シートは、該被加工物に対して透過性を有する波長のレーザービームを透過させるように構成され、
該電極シートを介して該被加工物に該レーザービームを照射する際に用いられることを特徴とする請求項1から請求項3のいずれかに記載のフレームユニット。
The electrode sheet is configured to transmit a laser beam of a wavelength having transparency to the workpiece;
The frame unit according to any one of claims 1 to 3, which is used when irradiating the laser beam to the workpiece through the electrode sheet.
請求項4に記載のフレームユニットを用いる被加工物の加工方法であって、
該フレームユニットの該電極シートに該被加工物を載せ、該電極に給電して該被加工物を静電気の力で吸着する吸着ステップと、
第1面と該第1面とは反対側の第2面とを有し該被加工物に対して透過性を有する波長の該レーザービームを透過させる板状の支持テーブルの該第1面側で、該被加工物を吸着した該フレームユニットの該電極シート側を支持するフレームユニット支持ステップと、
該支持テーブルの該第2面側から、該支持テーブル及び該電極シートを介して該被加工物に該レーザービームを照射し、該被加工物の内部を改質して改質層を形成するレーザー加工ステップと、
該レーザー加工ステップを実施した後に、該支持テーブルから該フレームユニットを取り外すフレームユニット取り外しステップと、
該フレームユニット取り外しステップの後に、該電極への給電を調整して、該被加工物を該フレームユニットの該電極シートから剥離する剥離ステップと、を備えることを特徴とする被加工物のレーザー加工方法。
A method of processing a workpiece using the frame unit according to claim 4,
An adsorption step of mounting the workpiece on the electrode sheet of the frame unit and supplying power to the electrode to adsorb the workpiece by electrostatic force;
The first surface side of a plate-like support table having a first surface and a second surface opposite to the first surface and transmitting the laser beam of a wavelength having transparency to the workpiece And a frame unit supporting step of supporting the electrode sheet side of the frame unit which has adsorbed the workpiece.
The workpiece is irradiated with the laser beam from the second surface side of the support table through the support table and the electrode sheet to reform the inside of the workpiece to form a modified layer. Laser processing step,
Removing the frame unit from the support table after performing the laser processing step;
After the frame unit removing step, the step of adjusting power supply to the electrode to separate the workpiece from the electrode sheet of the frame unit; and laser processing the workpiece Method.
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