JP2004207644A - Electrostatic chuck and apparatus for manufacturing bonded substrate using it - Google Patents
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Abstract
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、液晶表示装置の製造工程で用いられる静電チャック及びこれを用いた貼合わせ基板製造装置に係り、特に1台で複数の種類の基板を貼合わせるにあたり好適な貼合わせ基板製造装置に関する発明である。
【0002】
【従来の技術】
液晶表示装置の製造工程で用いられる貼合わせ基板製造装置においては、近年の液晶表示装置の大型化に伴い、基板の保持装置として静電チャックを用いる方式が注目されている。
基板を吸着保持する機構として、真空吸着と静電気吸着を併用し、周囲の圧力に応じて切り替える方式が紹介されている。(特許文献1参照)
特許文献1に代表される従来の貼合わせ基板製造工程のうち、特に基板の位置合わせを行う工程、及び接着剤を硬化させる工程について以下に説明する。
【0003】
始めに基板の位置合わせを行う工程について説明する。
図2は、特許文献1に代表される従来の貼合わせ基板製造装置の概略の構成を示す側面図である。同図において、貼合わせ基板製造装置内には2枚の静電チャックが互いに対抗して配置されており、貼合わせる基板をそれぞれ1枚ずつ吸着保持している。ここで静電チャックはアルミナセラミックスの内部に電極を設けた構造からなっており、静電吸着力により基板を吸着保持することができる。
尚、以下より、上側に配置された静電チャックを第1の静電チャック、下側に配置された静電チャックを第2の静電チャックと記載する。
【0004】
両方の基板には位置合わせマークが複数箇所ずつ設けられており、第2の静電チャックには、前記位置合わせマークに対応する位置にマーク撮像用穴が設けられ、更にマーク撮像用穴の直下には撮像装置が配置されており、マーク撮像用穴を通して両基板の位置合わせマークを撮像し、2枚の基板の位置ずれを確認することが出来るようになっている。
【0005】
この後、第1の静電チャックを上側移動機構により下降させ、2枚の基板を貼合わせる。このとき、2枚の基板に位置ずれが発生しないよう、撮像装置により両基板の位置合わせマークのずれを撮像しながら第1の静電チャックを下降させて行く。位置ずれが発生した場合は、下側移動機構により、第2の静電チャックの水平方向の位置を調整し、位置ずれを解消する。
【0006】
次に、接着剤を硬化させる工程について説明する。
基板貼合わせ前の工程において、基板上で最終的に液晶パネルとなる部分の外周部には、接着剤が塗布されている。ここで使用される接着剤は、紫外線を照射して硬化させるタイプのものが一般的に用いられている。このため貼合わせた後の基板は、別に設けられた硬化装置へと搬送され、硬化装置内で紫外線が照射される。このとき、硬化装置へと搬送される際に基板の位置ずれが発生することを防止する目的で、貼合わせ基板製造装置内にて接着剤の仮固定が行われることが多い。即ち、基板貼合わせ前の接着剤を塗布する工程において、前記外周部の更に外側に仮固定用の接着剤を複数箇所スポット状に塗布しておく。前期塗布個所に対応する静電チャック上の位置には紫外線照射用穴が設けられているため、貼合わせ直後に前記塗布個所に前記紫外線照射用穴を通して紫外線を照射し、基板を仮固定することが出来る。
【0007】
また、本出願人は、先の出願において、緻密で耐摩耗性が期待できる誘電体層を静電チャックの基材上にエアロゾルデポジション法により成膜する発明に関して開示している。(特許文献2参照)
【0008】
【特許文献1】
特開2002−229044号公報
【特許文献2】
特開2001−60619号公報
【0009】
【発明が解決しようとする課題】
従来の貼合わせ基板製造装置において利用される静電チャックにおいては、位置合わせマーク撮像用の穴の位置は、基板上に設けられた位置合わせマークに合わせて配置される。さらに、基板を仮固定するための紫外線照射用の穴の位置は、基板の外形に合わせて配置される。
言い換えると、基板の形状が変更された場合、基板外周部付近に配置される位置合わせマークの場所を変更する必要があるため、これに応じて静電チャックに形成するマーク撮像用穴の位置も変更する必要がある。また、同様に紫外線照射用穴の位置も変更する必要がある。
しかしながら静電チャックは一般に高価であるため、基板形状に合わせて各穴位置の異なる静電チャックを交換し対応するのはコスト的に問題があった。
また、複数の種類の基板形状に対応するための方法として、あらかじめ静電チャックに各種基板形状に対応した穴を多数設けておくことも考えられるが、穴の数が増えすぎると、基板を貼合わせる際の圧力が基板に均等に働かなくなるため、液晶パネルの表示斑等、不具合の原因となってしまう。
即ち、従来の静電チャックを使った貼合わせ基板製造装置では、基板の形状変更に対して柔軟に対応できないという問題があった。
【0010】
本発明は、上記問題を解決するためになされたもので、本発明の目的は、基板の形状変更に伴う位置合わせマークの配置変更、及び紫外線照射部の位置変更に対して、静電チャックを交換することなく柔軟に対応できる静電チャック及びこれを用いた貼合わせ基板製造装置を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために請求項1は、誘電体からなるベース上に内部電極を形成し、前記内部電極を誘電体膜で覆い、前記誘電体膜の上面を被吸着物を載せる吸着面とした静電チャックにおいて、前記ベースの少なくとも一部及び前記誘電体膜が所定の波長域の光を透過することを特徴とする。
前記ベースの少なくとも一部及び前記誘電体膜を、例えば、波長域が0.38μm〜0.80μmの可視光や、波長域が0.25μm〜0.38μmの紫外線が透過するようにすれば、静電チャックにマーク撮像用穴を設けることなく、基板貼合わせ時の位置合わせマークを静電チャック外側から撮像することが可能となり、また、静電チャックに紫外線照射用穴を設けることなく、静電チャック外側から紫外線を接着剤に照射することが可能となる。
【0012】
上記目的を達成するために請求項2は、静電チャックを形成するベースが、ガラスであることとした。
上記構成とすることで、位置合わせマーク撮像のための可視光、及び接着剤硬化のための紫外線の両方に対してベースが透明となる。
【0013】
上記目的を達成するために請求項3は、静電チャックを形成する誘電体膜が、エアロゾルデポジション法により形成されたアルミナ膜であることとした。
上記構成とすることで、エアロゾルデポジション法よる半透明のアルミナ薄膜を静電チャックの誘電体膜として利用することが出来る。
【0014】
上記目的を達成するために請求項4は、前記内部電極が、透明電極であることとした。
上記構成とすることで、静電チャック全体が内部電極についても透明となるので、電極パターンを設計する際、位置合わせマーク撮像部及び紫外線照射部を避けて配置する必要がなくなるため、静電チャック全体で均等な静電吸着力を得ることが出来る。
【0015】
上記目的を達成するために請求項5は、第1及び第2の静電チャックを有し、前記第1及び第2の静電チャックの少なくともいずれか一方は請求項1から4のいずれかに記載の静電チャックであり、前記第1及び第2の静電チャックにそれぞれ第1及び第2の基板を静電吸着保持し、前記第1及び第2の基板に設けられた位置合わせマークを前記第1及び第2の静電チャックのいずれか一方に設けられた撮像装置によって撮像することで前記第1及び第2の基板を互いに位置合わせした後貼合わせる貼合わせ基板製造装置において、前記撮像装置は、前記第1及び第2の静電チャックに対して移動可能とすることとした。
上記構成とすることで、第1及び第2のガラス基板に形成された位置合わせマークの位置に撮像装置をあらかじめ移動させてから基板の貼合わせを行うことが出来るため、様々な形状の基板に対しても同一の静電チャックにより特許文献1に記載の方法にて基板貼合わせ時の位置合わせを行うことが可能となる。
【0016】
上記目的を達成するために請求項6は、第1及び第2の静電チャックを有し、前記第1及び第2の静電チャックの少なくともいずれか一方は請求項1から4のいずれかに記載の静電チャックであり、前記第1及び第2の静電チャックにそれぞれ第1及び第2の基板を静電吸着保持し互いに位置合わせした後貼合わせ、光硬化性の接着剤にて接着する貼合わせ基板製造装置において、接着剤を硬化させるための光照射口を複数個設け、前記光照射口より発した光を前記第1及び第2の静電チャックの少なくともいずれか一方を透過させて前記接着剤に対して部分的に照射し、前記接着剤を部分的に硬化させることとした。
上記構成とすることで、静電チャックに穴を設けることなく、静電チャック外側から紫外線を接着剤に照射して硬化させ、貼合わせた基板を仮固定することが可能となる。
【0017】
上記目的を達成するために請求項7は、前記光照射口の位置が、前記第1及び第2の静電チャックに対して移動可能であることとした。
上記構成とすることで、任意の位置に紫外線を照射することが可能となるため、静電チャックを変更することなく、様々な形状の基板に対して接着剤を部分的に硬化させ、第1及び第2のガラス基板を仮固定することが可能となる。
【0018】
上記目的を達成するために請求項8は、第1及び第2の静電チャックを有し、前記第1及び第2の静電チャックの少なくともいずれか一方は請求項1から4のいずれかに記載の静電チャックであり、前記第1及び第2の静電チャックにそれぞれ第1及び第2の基板を静電吸着保持し互いに位置合わせした後貼合わせ、光硬化性の接着剤にて接着する貼合わせ基板製造装置において、前記第1及び第2の静電チャックの少なくともいずれか一方を透過させて前記接着剤全体へ光を照射し、前記接着剤全体を硬化させることとした。
上記構成とすることで、貼合わせ装置内で接着剤全体の硬化まで完了させることが出来るので、次工程の硬化装置が不要となる。
【0019】
【発明の実施の形態】
以下、本件発明の好適な一実施の形態を、図面に基づいて説明する。
図1は本発明にかかる貼合わせ基板製造装置の概略の構成を示す側面図であり、図2は、図1における静電チャック1の構造を示す図である。同図において、静電チャック1は石英ガラスからなるベースの表面にITO膜からなる透明な内部電極9を形成した後、更に前記内部電極9を覆うようにエアロゾルデポジションにてアルミナ膜を形成し、前記アルミナ膜上を吸着面とした構造となっている。
【0020】
エアロゾルデポジション法によるアルミナ膜は、その厚さが10μm程度となるよう成膜されており、この厚さにおいてアルミナ膜は薄い白色の半透明膜となる。ここで、アルミナ膜は透明の度合いや吸着力の関係から5〜30μm、好ましくは5〜20μmの範囲がよい。また、アルミナ原料としては、アルミナ純度98%以上、好ましくは、99%以上にすると透明度の点でさらによい。
【0021】
このようして、石英ガラスからなるベースおよび内部電極9のITO膜が透明であるから、図1に示した静電チャック1は、波長が0.38μm〜0.80μmの可視光に対して全体で透明となっている。
このため、従来の図2に示したようなマーク撮像用穴7は不要となる。即ち、本発明にかかる図1においては、透明な第2の静電チャック1bを通して位置合わせマーク3を撮像することが出来るため、第2の静電チャック1bに従来のようなマーク撮像用穴7を設ける必要が無い。
【0022】
また、本実施例での石英ガラス、ITO膜、エアロゾルデポジション法によるアルミナ膜は、紫外線の波長域、約0.25μm〜0.38μm、好ましくは約0.30μm〜0.34μmに対しての透過率を50%以上とすることで、基板を接着するために塗布される接着剤を紫外線により硬化させることができる。
このため、マーク撮像用穴7と同様に、従来の図2に示したような紫外線照射用穴6も不要となる。即ち、本発明にかかる図1においては、透明な第2の静電チャック1bを通して接着剤10に対し紫外線を照射することができるため、第2の静電チャック1bに従来のような紫外線照射用穴6を設ける必要が無い。
【0023】
尚、本発明では所定の波長域の光に対して透明である静電チャック1を提供し、静電チャックが透明であることを積極的に利用する装置構成を提案することが目的であり、静電チャック1を構成する各種素材、及びその製法を上記の例に限定するものではない。例えば、ベースを本実施例のような石英ガラスではなく、石英やサファイヤにてベースを製作してもよい。
【0024】
以上に示したように、本発明にかかる貼合わせ基板製造装置に使用される静電チャック1には、従来のようなマーク撮像用穴7、及び紫外線照射用穴6を設ける必要が無くなる。このことは、単に静電チャック製造工程において各穴加工の工程を省略することが出来るだけではない。以下では、本構造とすることによって得られる利点を説明する。
【0025】
図3に示したのは、従来の貼合わせ基板製造装置に用いられる第2の静電チャック1bが基板2を静電吸着している様子を吸着面側から見た図である。これまでの説明で示したように、基板2上には位置合わせマーク3が設けられ、第2の静電チャック1b上には位置合わせマーク3と対応する位置にマーク撮像用穴7が設けられている。
【0026】
図4に示したのは、同じく従来の貼合わせ基板製造装置における第2の静電チャック1bであるが、図3とは異なる大きさの基板2を吸着している。この場合は、基板2に設けられた位置合わせマーク3の場所が図3と異なるために、図3に示した第2の静電チャック1bをそのまま利用することは出来ず、マーク撮像用穴7の位置が変更された第2の静電チャック1bを使用する必要がある。
尚、図3及び図4においては簡単のため、第2の静電チャック1bに設けられた紫外線照射用穴8、及び基板2に塗布された接着剤10は省略した。
【0027】
これに対し、図1に示した本発明にかかる貼合わせ基板製造装置においては静電チャック1全体が透明なので、基板2の形状に応じて位置合わせマーク3の場所が変更された場合でも、第2の静電チャック1bの下部に配置された撮像装置5を基板2の位置合わせマーク3に対応する位置へ移動させ、その後は第2の静電チャック1bと共に移動するようにしておけば、位置合わせマーク3を撮像し基板2の位置合わせを行うことが可能である。即ち、異なる形状の基板2でも、同一の静電チャック1により貼合わせることが可能となる。また、紫外線照射用穴8の配置についても図5及び図6に示したが、同様の効果が得られることは言うまでも無い。
【0028】
また、従来の貼合わせ基板製造装置における静電チャック1はマーク撮像用穴7及び紫外線照射用穴6を設ける必要があるため、図7に示したようにその内部電極9は各穴を避けるように配置しなければならなかった。静電チャック1の吸着力は、内部電極9の線幅、及び電極間距離に応じて変化するため、図7のように各穴を避けようと部分的に内部電極9の線幅、電極間距離が部分的に他部と異なる場合、静電吸着力の分布に斑が生じてしまう。その結果、例えば貼合わせ後の基板2をリフトピン押上にて静電チャック1から離脱させる際、均等に離脱せず、基板2を破損する可能性もある。
【0029】
これに対し、図1に示した本発明にかかる貼合わせ基板製造装置においては、静電チャック1全体が内部電極9も含めて透明なので、位置合わせマーク撮像部や紫外線照射部の位置を気にすることなく、図8に示したように均等な線幅及び電極間距離にて内部電極9を配置することが出来、結果、吸着面全体で均等な静電吸着力を得ることが出来る。
尚、本発明にかかる静電チャック1の内部電極9の形状は、電極幅及び電極間距離がそれぞれ1mm以下であるが、図7及び図8における内部電極9は簡単のために実際よりも内部電極の櫛歯本数を少なく描いたものである。
【0030】
本発明により、ベース、電極、誘電体が全て透明な静電チャックが提供された。透明な静電チャックの用途の一例として、貼合わせ基板製造装置において透明な静電チャックを搭載すること及びその利点を以上の実施例にて紹介したが、更に別の用途及び利点として考えられるものを以下に紹介する。
【0031】
例えば、波長が1μm〜30μmの赤外線に対して透明な素材にて静電チャックを製作し、ホットプレートとして利用するとよい。この場合、静電チャックを通して赤外線を搭載物に対して照射することで、従来のホットプレートと比較してより均一に搭載物を加熱することが可能となる。
【0032】
例えば、CVD成膜装置に搭載されるシリコンウェハ吸着用の静電チャックを可視光及び赤外線に対して、即ち波長が0.38μm〜30μmの光に対して透明な素材で作成するとよい。この場合、静電チャックを通してシリコンウェハ裏面を観察できるので、均等な伝熱の妨げとなる微小パーティクルの噛み込みを検出することが可能となる。また、静電チャック裏面より温度輻射光を観察する機構を配置すれば、シリコンウェハの面内温度分布を観察することも可能となる。
【0033】
【発明の効果】
本発明によれば、基板の形状変更に伴う位置合わせマークの配置変更、及び紫外線照射部の位置変更に対して、静電チャックを交換することなく柔軟に対応できる貼合わせ基板製造装置を提供することが可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にかかる貼合わせ基板製造装置の概略の構成を示す側面図である。
【図2】従来の貼合わせ基板製造装置の概略の構成を示す側面図である。
【図3】従来の貼合わせ基板製造装置に用いられる静電チャックが基板を静電吸着している様子を吸着面側から見た図である。
【図4】従来の貼合わせ基板製造装置に用いられる静電チャックが基板を静電吸着している様子を吸着面側から見た図である。
【図5】従来の貼合わせ基板製造装置に用いられる静電チャックが基板を静電吸着している様子を吸着面側から見た図である。
【図6】従来の貼合わせ基板製造装置に用いられる静電チャックが基板を静電吸着している様子を吸着面側から見た図である。
【図7】従来の貼合わせ基板製造装置に用いられる静電チャックの内部電極の配置を示した図である。
【図8】本発明にかかる貼合わせ基板製造装置に用いられる静電チャックの内部電極の配置を示した図である。
【図9】本発明にかかる貼合わせ基板製造装置に用いられる静電チャックを示した断面図である。
【符号の説明】
1…静電チャック
1a…第1の静電チャック
1b…第2の静電チャック
2…基板
3…位置合わせマーク
4…駆動装置
4a…上側駆動装置
4b…下側駆動装置
5…撮像装置
6…紫外線照射装置
7…マーク撮像用穴
8…紫外線照射用穴
9…内部電極
10…接着剤
11…光照射口
12…アルミナ膜
13…ベース[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an electrostatic chuck used in a manufacturing process of a liquid crystal display device and a bonded substrate manufacturing apparatus using the same, and particularly to a bonded substrate manufacturing apparatus suitable for bonding a plurality of types of substrates by one unit. It is an invention.
[0002]
[Prior art]
2. Description of the Related Art In a bonded substrate manufacturing apparatus used in a manufacturing process of a liquid crystal display device, a method using an electrostatic chuck as a substrate holding device has attracted attention with the recent increase in size of the liquid crystal display device.
As a mechanism for holding the substrate by suction, a method is introduced in which both vacuum suction and electrostatic suction are used and switching is performed according to the surrounding pressure. (See Patent Document 1)
Among the conventional bonded substrate manufacturing processes represented by
[0003]
First, a step of performing substrate alignment will be described.
FIG. 2 is a side view showing a schematic configuration of a conventional bonded substrate manufacturing apparatus represented by
Hereinafter, the upper electrostatic chuck is referred to as a first electrostatic chuck, and the lower electrostatic chuck is referred to as a second electrostatic chuck.
[0004]
A plurality of alignment marks are provided on each of the two substrates, and a mark imaging hole is provided on the second electrostatic chuck at a position corresponding to the alignment mark. Is provided with an image pickup device, which is capable of picking up an alignment mark of both substrates through a mark image pickup hole and confirming a positional shift between the two substrates.
[0005]
Thereafter, the first electrostatic chuck is lowered by the upper moving mechanism, and the two substrates are bonded. At this time, the first electrostatic chuck is lowered while imaging the displacement of the alignment marks on the two substrates by the imaging device so that the displacement between the two substrates does not occur. If a displacement occurs, the lower moving mechanism adjusts the horizontal position of the second electrostatic chuck to eliminate the displacement.
[0006]
Next, the step of curing the adhesive will be described.
In a process before bonding the substrates, an adhesive is applied to an outer peripheral portion of a portion that will eventually become a liquid crystal panel on the substrate. The adhesive used here is generally of the type that is cured by irradiating ultraviolet rays. For this reason, the bonded substrate is transported to a separately provided curing device, and irradiated with ultraviolet rays in the curing device. At this time, the adhesive is often temporarily fixed in the bonded substrate manufacturing apparatus for the purpose of preventing the substrate from being displaced when being transported to the curing device. That is, in the step of applying the adhesive before bonding the substrates, the adhesive for temporary fixing is applied in a spot shape at a plurality of spots further outside the outer peripheral portion. Since the ultraviolet irradiation holes are provided at the positions on the electrostatic chuck corresponding to the application place in the previous period, the substrate is temporarily fixed by irradiating ultraviolet rays to the application place immediately after bonding through the ultraviolet irradiation holes. Can be done.
[0007]
In addition, the present applicant has disclosed in a previous application an invention in which a dense dielectric layer which can be expected to have abrasion resistance is formed on a base material of an electrostatic chuck by an aerosol deposition method. (See Patent Document 2)
[0008]
[Patent Document 1]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 2002-229044 [Patent Document 2]
JP 2001-60619 A
[Problems to be solved by the invention]
In an electrostatic chuck used in a conventional bonded substrate manufacturing apparatus, the position of a hole for imaging a positioning mark is arranged in accordance with a positioning mark provided on a substrate. Further, the positions of the holes for ultraviolet irradiation for temporarily fixing the substrate are arranged in accordance with the outer shape of the substrate.
In other words, when the shape of the substrate is changed, it is necessary to change the position of the alignment mark disposed near the outer peripheral portion of the substrate, and accordingly, the position of the mark imaging hole formed in the electrostatic chuck is also changed. Need to change. Similarly, it is necessary to change the position of the ultraviolet irradiation hole.
However, since the electrostatic chuck is generally expensive, there is a problem in terms of cost in replacing the electrostatic chuck having different hole positions according to the substrate shape.
In addition, as a method for coping with a plurality of types of substrate shapes, it is conceivable to previously provide a large number of holes corresponding to various substrate shapes on the electrostatic chuck. Since the pressure at the time of matching does not work evenly on the substrate, it causes a problem such as a display unevenness of the liquid crystal panel.
In other words, the conventional bonded substrate manufacturing apparatus using the electrostatic chuck has a problem that it cannot flexibly cope with a change in the shape of the substrate.
[0010]
The present invention has been made in order to solve the above problems, and an object of the present invention is to provide an electrostatic chuck for changing the position of an alignment mark accompanying a change in the shape of a substrate and changing the position of an ultraviolet irradiation unit. An object of the present invention is to provide an electrostatic chuck that can flexibly respond without replacement, and a bonded substrate manufacturing apparatus using the same.
[0011]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a first aspect is to form an internal electrode on a base made of a dielectric, cover the internal electrode with a dielectric film, and set an upper surface of the dielectric film on an adsorption surface on which an object to be adsorbed is placed. In the electrostatic chuck described above, at least a part of the base and the dielectric film transmit light in a predetermined wavelength range.
If at least a part of the base and the dielectric film are made to transmit, for example, visible light having a wavelength range of 0.38 μm to 0.80 μm or ultraviolet light having a wavelength range of 0.25 μm to 0.38 μm, It is possible to image the alignment mark at the time of bonding the substrates from the outside of the electrostatic chuck without providing a hole for marking the mark on the electrostatic chuck. Ultraviolet rays can be applied to the adhesive from the outside of the electric chuck.
[0012]
In order to achieve the above object, a second aspect of the present invention is that the base forming the electrostatic chuck is glass.
With the above configuration, the base is transparent to both visible light for imaging the alignment mark and ultraviolet light for curing the adhesive.
[0013]
In order to achieve the above object, a third aspect is that the dielectric film forming the electrostatic chuck is an alumina film formed by an aerosol deposition method.
With the above configuration, a translucent alumina thin film formed by the aerosol deposition method can be used as a dielectric film of the electrostatic chuck.
[0014]
In order to achieve the above object, in
With the above configuration, the entire electrostatic chuck is also transparent with respect to the internal electrodes. Therefore, when designing an electrode pattern, it is not necessary to dispose the alignment mark imaging unit and the ultraviolet irradiation unit, so that the electrostatic chuck is not required. A uniform electrostatic attraction force can be obtained as a whole.
[0015]
In order to achieve the above object,
With the above structure, the substrates can be bonded after the imaging device has been moved to the position of the alignment mark formed on the first and second glass substrates in advance, so that substrates having various shapes can be bonded. Even when the same electrostatic chuck is used, the positioning at the time of bonding the substrates can be performed by the method described in
[0016]
In order to achieve the above object,
With the above configuration, it is possible to temporarily fix the bonded substrate by irradiating the adhesive with ultraviolet light from the outside of the electrostatic chuck and curing the adhesive without providing a hole in the electrostatic chuck.
[0017]
In order to achieve the above object, in
With the above configuration, it is possible to irradiate an ultraviolet ray to an arbitrary position. Therefore, the adhesive is partially cured on substrates of various shapes without changing the electrostatic chuck, and In addition, it is possible to temporarily fix the second glass substrate.
[0018]
In order to achieve the above object,
With the above configuration, it is possible to complete the curing of the entire adhesive in the laminating apparatus, so that a curing apparatus in the next step is not required.
[0019]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
FIG. 1 is a side view showing a schematic configuration of a bonded substrate manufacturing apparatus according to the present invention, and FIG. 2 is a view showing a structure of an
[0020]
The alumina film formed by the aerosol deposition method is formed so as to have a thickness of about 10 μm. At this thickness, the alumina film becomes a thin white translucent film. Here, the alumina film has a range of 5 to 30 μm, and preferably 5 to 20 μm, in consideration of the degree of transparency and adsorption power. The alumina raw material having an alumina purity of 98% or more, preferably 99% or more, is more preferable in terms of transparency.
[0021]
In this way, since the base made of quartz glass and the ITO film of the
Therefore, the conventional
[0022]
In addition, the quartz glass, the ITO film, and the alumina film formed by the aerosol deposition method in the present embodiment have a wavelength range of ultraviolet light of about 0.25 μm to 0.38 μm, preferably about 0.30 μm to 0.34 μm. By setting the transmittance to 50% or more, the adhesive applied to bond the substrate can be cured by ultraviolet rays.
Therefore, similarly to the
[0023]
It is an object of the present invention to provide an
[0024]
As described above, the
[0025]
FIG. 3 is a diagram showing a state where the second electrostatic chuck 1b used in the conventional bonded substrate manufacturing apparatus electrostatically attracts the
[0026]
FIG. 4 shows a second electrostatic chuck 1b of the conventional bonded substrate manufacturing apparatus, which also sucks a
3 and 4, for simplicity, the
[0027]
On the other hand, in the bonded substrate manufacturing apparatus according to the present invention shown in FIG. 1, since the entire
[0028]
Further, since the
[0029]
On the other hand, in the bonded substrate manufacturing apparatus according to the present invention shown in FIG. 1, since the entire
The shape of the
[0030]
According to the present invention, there has been provided an electrostatic chuck in which the base, the electrode, and the dielectric are all transparent. As an example of the use of the transparent electrostatic chuck, the mounting of the transparent electrostatic chuck in the bonded substrate manufacturing apparatus and the advantages thereof have been introduced in the above-described embodiments. Is introduced below.
[0031]
For example, an electrostatic chuck made of a material transparent to infrared rays having a wavelength of 1 μm to 30 μm may be manufactured and used as a hot plate. In this case, by irradiating the mounted object with infrared rays through the electrostatic chuck, the mounted object can be more uniformly heated as compared with a conventional hot plate.
[0032]
For example, an electrostatic chuck for adsorbing a silicon wafer mounted on a CVD film forming apparatus may be made of a material transparent to visible light and infrared light, that is, light having a wavelength of 0.38 μm to 30 μm. In this case, since the back surface of the silicon wafer can be observed through the electrostatic chuck, it is possible to detect biting of minute particles that hinder uniform heat transfer. In addition, if a mechanism for observing temperature radiation light from the back surface of the electrostatic chuck is provided, it becomes possible to observe the in-plane temperature distribution of the silicon wafer.
[0033]
【The invention's effect】
According to the present invention, there is provided a bonded substrate manufacturing apparatus capable of flexibly coping with a change in the position of an alignment mark and a change in the position of an ultraviolet irradiation unit due to a change in the shape of a substrate without exchanging an electrostatic chuck. It becomes possible.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a side view showing a schematic configuration of a bonded substrate manufacturing apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a side view showing a schematic configuration of a conventional bonded substrate manufacturing apparatus.
FIG. 3 is a diagram illustrating a state in which an electrostatic chuck used in a conventional bonded substrate manufacturing apparatus electrostatically suctions a substrate, as viewed from the suction surface side.
FIG. 4 is a diagram illustrating a state in which an electrostatic chuck used in a conventional bonded substrate manufacturing apparatus electrostatically attracts a substrate, as viewed from an attracting surface side.
FIG. 5 is a diagram illustrating a state in which an electrostatic chuck used in a conventional bonded substrate manufacturing apparatus electrostatically attracts a substrate, as viewed from an attracting surface side.
FIG. 6 is a diagram showing a state in which an electrostatic chuck used in a conventional bonded substrate manufacturing apparatus electrostatically attracts a substrate, as viewed from an attracting surface side.
FIG. 7 is a diagram showing an arrangement of internal electrodes of an electrostatic chuck used in a conventional bonded substrate manufacturing apparatus.
FIG. 8 is a diagram showing an arrangement of internal electrodes of an electrostatic chuck used in the bonded substrate manufacturing apparatus according to the present invention.
FIG. 9 is a cross-sectional view showing an electrostatic chuck used in the bonded substrate manufacturing apparatus according to the present invention.
[Explanation of symbols]
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