JP2018166259A - 弾性波素子 - Google Patents

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剛 仲井
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祐介 森本
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Abstract

【課題】高い周波数特性を有する弾性波素子を提供する。【解決手段】弾性波素子1は、基板3と、基板3の下面に配置された、基板3に比べて熱伝導率の高い材料からなる支持基板31と、基板3の上面3aに配置された、弾性波を励起するIDT電極5と、外部回路に電気的に接続されるパッド9と、IDT電極5またはパッド9の少なくとも一方に電気的に接続された配線8と、基板3を厚み方向に貫通する、基板3に比べて熱伝導率の高い材料からなる、少なくとも1つの中間部20と、を備える。【選択図】図2

Description

本発明は、弾性波素子に関するものである。
圧電基板と、圧電基板の主面上に配置された励振電極とを有する弾性波素子が知られている。このような弾性波素子は、例えば、分波器の受信フィルタ(Rxフィルタ)または送信フィルタ(Txフィルタ)に利用されている。
このような弾性波素子は温度変化により周波数特性が変化してしまうことがあった。そこで、これを解決する技術として、温度補償された圧電基板を用いる技術がある(例えば、特許文献1等を参照)。
特開2007−214902号公報
近年、さらに温度変化による周波数特性の変動を抑制した弾性波素子が求められている。本開示はかかる実情に鑑みてなされたものであって、その目的は、周波数特性の変化が少ない弾性波素子を提供することにある。
本開示の一実施形態に係る弾性波素子は、基板と、支持基板と、IDT電極と、パッドと、配線と、中間部とを備える。支持基板は、前記基板の下面に配置され、前記基板に比べて熱伝導率の高い材料からなる。IDT電極は、前記基板の上面に配置され、弾性波を励起する。パッドは、前記基板の上面に配置され、外部回路に電気的に接続される。配線は、前記基板の上面に配置され、前記IDT電極または前記パッドの少なくとも一方に電気的に接続されている。中間部は、前記基板を厚み方向に貫通し、前記基板に比べて熱伝導率の高い材料からなる。
本開示の弾性波素子によれば、周波数特性を安定化させることができ、信頼性の高い弾性波素子を提供することができる。
本発明の一実施形態に係る弾性波素子の構成を示す平面図である。 図1の弾性波素子において、II−II線で切断したときの断面に相当する断面図である。 図1の弾性波素子の変形例の構成を示す断面図である。 図1の弾性波素子の変形例の構成を示す平面図である。 図1の弾性波素子の変形例の構成を示す断面図である。
以下、本開示の実施形態に係る弾性波素子について図面を参照して詳細に説明する。なお、以下の説明では、弾性波素子として、複数の電極指からなる櫛歯状電極を少なくとも1対備えるIDT電極を有する弾性表面波(SAW:Surface Acoustic Wave)素子を中心に説明する。なお、以下の説明で用いられる図は模式的なものであり、図面上の寸法比率等は現実のものとは必ずしも一致していない。
弾性波素子(以下、SAW素子ともいう)は、いずれの方向が上方または下方とされてもよいものであるが、以下では、便宜的に、直交座標系xyzを定義するとともに、z方向の正側を上方として、上面、下面等の用語を用いるものとする。
(SAW素子の構成の概要)
図1は、本開示の一実施形態に係るSAW素子1の構成を示す平面図である。図2は図1のII−II線における断面図である。
SAW素子1は、図1に示すように、基板3と、基板3の下面に設けられる支持基板31とで構成される複合基板に電極群が配置されてなる。すなわち、基板3の上面3aに、励振(IDT:InterDigital Transducer)電極5、IDT電極5に信号の入出力を行なうための配線8、および外部回路から信号が入出力されるパッド9が配置されている。また、SAW素子1は、この他にも、上面3aを覆う保護層を有していてもよい。
基板3は、タンタル酸リチウム(LiTaO)結晶からなる圧電性を有する単結晶の基板によって構成されている。より具体的には、基板3は、36°〜48°Y−XカットのLiTaOによって構成されている。基板3の平面形状および各種寸法は適宜に設定されてよい。一例として、基板3の厚み(z方向)は、例えば0.5μm以上50μm以下である。
基板3の下面には、基板3よりも熱伝導率が高い材料からなる支持基板31が貼り合わされている。また、基板3の温度変化による変形を抑制できるように、支持基板31を基板3に比べて線膨張係数の小さい材料で構成してもよい。このような材料として、例えばシリコン、石英、炭化ケイ素、窒化ケイ素、窒化アルミニウム、炭素系材料等を例示することができる。基板3の厚みが薄い場合には寄生容量を小さくするために絶縁性材料を用いてもよい。
支持基板31の厚みは、基板3を支持できる厚みであればよく、例えば基板3の厚み以上であって0.1mm〜0.6mm程度としてもよい。
基板3と支持基板31とは、中性子ビームやイオンビーム、プラズマ等を照射して活性化した表面同士を接触させることで接合してもよいし、接合層や接着剤等を用いて接合したりしてもよい。
IDT電極5は、図1に示すように、一対の櫛歯電極で構成されている。櫛歯電極は、図1に示すように、互いに対向する2本のバスバーと、各バスバーから他のバスバー側へ延びる複数の電極指とを有している。そして、1対の櫛歯電極は、複数の電極指が互いに交差するように(噛み合うように)配置されている。なお、複数の電極指の間において各バスバーから他のバスバー側へ延びる複数のダミー電極指を備えていてもよい。
弾性波は、複数の電極指に直交する方向に伝搬する。従って、基板3の結晶方位を考慮した上で、2本のバスバーは、弾性波を伝搬させたい方向に交差する方向において互いに対向するように配置され、複数の電極指は、弾性波を伝搬させたい方向に対して直交する方向に延びるように形成される。
なお、弾性波の伝搬方向は複数の電極指の向き等によって設定されるが、本実施形態では便宜的に、弾性波の伝搬方向を基準として複数の電極指の向き等を説明することがある。
また、直交座標系xyzは、x軸が電極指に直交し(弾性波の伝搬方向に平行であり)、y軸が電極指に平行であり、z軸が基板3の上面3aに直交するように定義されているものとする。すなわち、直交座標系xyzは、基板3の外形ではなく、IDT電極5(弾性波の伝搬方向)を基準として定義されているものとする。
IDT電極5は、例えば金属材料によって形成されている。この金属材料としては、例えば、AlまたはAlを主成分とする合金(Al合金)が挙げられる。Al合金は、例えばAl−Cu合金である。なお、IDT電極5は、複数の金属層から構成されてもよい。IDT電極5の各種寸法は、SAW素子1に要求される電気特性等に応じて適宜に設定される。一例として、IDT電極5の厚み(z方向)は、例えば50nm以上400nm以下である。
IDT電極5は、基板3の上面3aに直接配置されていてもよいし、別の部材を介して基板3の上面3aに配置されていてもよい。別の部材としては、例えばTi、Cr、またはこれらの合金等を用いることができる。IDT電極5を別の部材を介して基板3の上面3aに配置する場合は、別の部材の厚みはIDT電極5の電気特性に殆ど影響を与えない程度の厚み(例えば、Tiの場合はIDT電極5の厚みの5%以下の厚み)に設定される。
IDT電極5によって基板3に電圧が印加されると、基板3の上面3a付近において上面3aに沿ってx方向に伝搬する弾性波が励起される。また、弾性波は、電極指と電極指の非配置領域(隣接する電極指間の長尺状の領域)との境界において反射する。そして、電極指のピッチPtを半波長とする定在波が形成される。定在波は、当該定在波と同一周波数の電気信号に変換され、電極指23によって取り出される。このようにして、SAW素子1は、共振子もしくはフィルタとして機能する。
図1には図示していないが、IDT電極5の弾性波の伝搬方向の両側において反射器を設けてもよい。反射器は、格子状に形成されている。すなわち、反射器は、弾性波の伝搬方向に交差する方向において互いに対向する反射器バスバーと、これらバスバー間において弾性波の伝搬方向に直交する方向に延びる複数の反射器電極指とを有している。
反射器は、例えば、IDT電極5と同一の材料によって形成されるとともに、IDT電極5と同等の厚みに形成されている。
配線8は、IDT電極5に信号を入出力するためのものであり、例えば、複数のIDT電極5の間を電気的に接続するようIDT電極5に接続されたり、後述のパッド9とIDT電極3との間を電気的に接続するようにパッド9およびIDT電極3の双方に接続されたりしてもよい。
このような配線8は、IDT電極5と同一の材料および同一の厚みとしてもよいが、電気抵抗を低減するために、IDT電極5に比べ厚みを厚くしてもよい。
パッド9は、外部回路との電気信号の入出力に用いられるものであり、図1に示す例では、平面視で基板3の外周に沿って配置されている。このようなパッド9は、IDT電極5と同一の材料および同一の厚みとしてもよいが、電気抵抗を低減するために、IDT電極5に比べ厚みを厚くしてもよい。また、基板3との接合強度を高めるためにAu−Ni層等を積層してもよい。
このような電極群を覆う保護層(図示せず)を設けてもよい。保護層は、例えば、IDT電極5,反射器,配線8を覆うとともに、上面3aのうちIDT電極5,反射器および配線8から露出する部分を覆っている。なお、パッド9の一部を覆っていてもよい。保護層の厚みは、例えば1nm以上50nm以下に設定される。
保護層は、絶縁性を有する材料からなり、腐食等からIDT電極5を保護することに寄与する。保護層11は、SiOなどの材料によって形成されており、IDT電極5をSiOで埋め込むことにより、SAW素子1の温度の変化による電気特性への影響を低減することができる。
ここで、図2に示すように、基板3は配線8およびパッド9が配置された領域の一部において貫通孔32を有する。そして、貫通孔32の内部には中間部20が位置している。なお、図1において、中間部20が配置されている場所を点線で示している。この例では、中間部20は、上面を配線8やパッド9に接触させるとともに、下面を支持基板31に接続させている。
中間部20は、基板3に比べ熱伝導率の高い材料からなり、例えば、Al,Cu,Ag,Au等が例示できる。これらの材料の複合材料であってもよい。また、導電性材料に限定されず、例えば、Si、SiC、AlN、SiNx、C、AlOx等を用いてもよい。
中間部20により、IDT電極3で生じた熱を、IDT電極3に電気的に接続された配線8を介して中間部20から熱容量の大きい支持基板31に放熱させることができる。これにより、IDT電極3の発熱によるマイグレーション等を抑制することができるので、信頼性の高く、周波数特性の安定したSAW素子1を提供することができる。特に短時間に生じるIDT電極3の発熱に対して有効である。
さらに、本開示の構成によれば、中間部20はパッド9の下にも設けられている。このため、IDT電極3近傍で生じた熱の放熱経路を、配線8の直下に設けた中間部20を介して、支持基板31を通り、パッド9直下の中間部20を介してパッド9まで導くことができる。このため、外部回路およびそれへの接続体を含めた熱容量の大きい放熱経路全体で放熱させることができるのでさらに信頼性を高め、周波数特性を安定化することができる。また、基板3の中ほどで発生する熱を基板3面方向で拡散することで面内の温度分布を緩和させることができ、これにより、SAW素子1の電気特性を安定化させることができる。
このような中間部20はIDT電極3をSAWの伝搬方向において延長させた仮想領域を避けて配置されている。このような配置にすることで、SAWの意図しない反射を抑制することができる。
また、中間部20は、例えば、送信フィルタを複数のIDT電極5で構成する場合には、送信端子に近い側に位置するIDT電極5等、大きな発熱が見込まれるIDT電極3に近い配線8を選択し、その直下に設けてもよい。
さらに、中間部20は、いずれのパッド9の直下に設けてもよいが、基準電位に接続されるパッド9に設けてもよい。その場合には、基準電位は一般的にSAW素子1が実装される側の回路基板において広面積の導体層を備えている場合が多い為、より放熱性を高めることができる。
このような中間部20は、例えば、IDT電極3等の電極群の形成に先立ち、基板3の一部を物理的もしくは化学的なエッチングにより除去して貫通孔32を形成した後に、この貫通孔32を埋めるように形成してもよい。
このような中間部20は、基板3よりも熱伝導率が大きければ放熱に貢献するが、基板3上の配線8と同等以上の熱伝導性を有していてもよい。具体的には下記の式の関係を満たしていればよい。
(中間部20の熱伝導率)×(中間部20のうち配線8またはパッド9に接する面積もしくは面方向において支持基板31に接する面積)/(基板3の厚み)≧(配線8の熱伝導率)×(配線8の厚み方向における断面積)/(配線8の中間部20に接する位置から最も近いパッド9までの長さ)
(変形例)
上述の例では、IDT電極5を保護する構成については特に限定されていないが、図3に示すSAW素子1Aのように、基板3の上面に配置され、基板3との間に空間を形成し、この空間内にIDT電極3を収容するような、保護カバー25を備えていてもよい。
保護カバー25は、例えば絶縁性の樹脂材料から形成される。樹脂材料としては、エポキシ系、アクリル系等を用いることができる。保護カバー25はIDT電極5を囲う枠体と、枠体の開口を塞ぐように枠体の上面に配置される蓋体とで構成してもよい。
図3に示す例では、SAW素子1Aは、パッド7上から保護カバー25を厚み方向に貫通する柱状電極26と、この柱状電極26上に配置された端子27とを備えている。
柱状電極26は、基板3の上面3aから保護カバー25の上面までを電気的に引き出すものであって、例えばCu等をメッキにより形成すればよい。このような柱状電極26は、本例のように、パッド9の直上を被覆するように保護カバー25が配置されている場合には、保護カバー25を貫通するように形成すればよいし、パッド9が保護カバー25の外側に露出するように保護カバー25が配置されている場合には、保護カバー25の外側面を伝うように配置されていてもよい。
端子27は、外部の回路基板等とSAW素子1Aとを電気的に接続するとともに実装するためのものであり、半田等で形成すればよい。このように、パッド9の直上に柱状電極26および端子27を形成することにより、基板3の外周よりも小さいサイズの領域内においてSAW素子1Aを実装することができる。
さらに、基板3の内側の領域で発生した熱の放熱経路として、中間部20から支持基板31への面方向の放熱経路に加え、柱状電極26、端子27を介した保護カバー25の厚み方向の放熱経路を設けることができ、その結果、不図示の回路基板にも放熱経路を拡張することができる。
なお、柱状電極26を設ける場合には、パッド9の直下に位置する中間部20は、平面視で柱状電極26とずらした位置(重複しない位置)に配置されている。このような位置関係とすることにより、柱状電極26および端子27の強度を保ちつつ、放熱性を高めることができる。
(変形例)
上述の例では、中間部20は、配線8やパッド9の直下にのみ設けられていたが、その限りではない。図4に示すSAW素子1Bのように、上部に配線8等がないところに第2中間部20aを設けてもよい。図4に示す例では、基板3の上面に、IDT電極5を複数個、ラダー型や多重モード型フィルタを構成するように互いに接続させることで、受信フィルタ51と送信フィルタ52とを構成する。受信フィルタ51はアンテナに接続されるパッド9ANTと受信端子に接続されるパッド9Rとの間にIDT電極5を有し、送信フィルタ52は9ANTと送信端子に接続されるパッド9Tとの間にIDT電極5を有する。そして、第2中間部20aは受信フィルタ51が配置された領域と、送信フィルタ52が配置された領域との間に形成されている。
このような配置とすることで、高温となる可能性のあるパッド9ANT近傍において効率的に放熱することができる。さらに、受信フィルタ51と送信フィルタ52との電気的なアイソレーションを高めることができる。
なお、上述の例では受信フィルタ51が配置された領域と、送信フィルタ52が配置された領域との間に第2中間部20aを設けた例を説明したが、中間部20を設けてもよい。その場合には、受信フィルタ51または送信フィルタ52を基準電位に接続するパッド9Gに電気的に接続する配線8を設け、その直下に中間部20を設けてもよい。
また、配線8のない部分から配線8またはパッド9の直下まで連続して設けられた中間部20としてもよい。言い換えると、中間部20は平面視で配線8またはパッド9の少なくとも一方と重なる領域と、重ならない領域との両方を備えていてもよい。
(変形例)
上述の説明では、中間部20の厚み方向における断面形状(貫通孔32の厚み方向における形状)は矩形状としていたがこの限りではない。例えば、台形状としてもよい。上面3a側の開口が小さく、下面側の開口が大きい場合には、面方向へのすみやかな放熱を可能とする。上面3a側の開口が大きく、下面側の開口が小さい場合には、上面3a近傍で発生した熱を効率的に中間部20の側に放熱することを可能とする。
(変形例)
上述の例では、いずれも外部回路との信号のやりとりを基板3の上面3aの側から行なう例について説明したが、この例には限定されない。例えば、図5に示すSAW素子1Cのように、基板3の下面の側からパッド9と外部回路とを電気的に接続してもよい。
図5において、SAW素子1Cは保護カバー25Cを備える。保護カバー25Cは、保護カバー25と同様に、基板3の上面3aとの間にIDT電極5を収容する振動空間を形成するものであるが、保護カバー25が樹脂材料で構成されているのに対して、保護カバー25CはSiからなる。
保護カバー25Cは、Siからなることより強度の高いものとなり、振動空間を安定して維持することができ、信頼性の高いSAW素子1Cを提供することができる。また、支持基板31と同一材料で構成する場合には、保護カバー25Cを含むSAW素子1C全体での熱履歴に対する基板3の変形を抑制することができ、温度特性に優れたSAW素子1Cを提供することができる。
さらに、SAW素子1Cによれば、パッド9から中間部20Cを介して、その下面に柱状電極26Cを備えている。柱状電極26Cは、支持基板31に設けられた貫通孔33の内部に位置し、パッド9を支持基板31の下面まで電気的に導出するよう連続的に設けられている。
柱状電極26Cを設けることで、中間部20Cに加え、柱状電極26Cによって熱容量の大きい支持基板31に放熱することができるので、より、周波数特性の優れたSAW素子1Cを提供することができる。さらに、平坦な支持基板31の下面側で外部の回路基板に実装することができるので、取扱いが容易なSAW素子1Cを提供することができる。
なお、中間部20Cは、パッド9の直下のみではなく、配線8の直下に設けてもよいし、配線8やパッド9の存在しない位置に設けてもよい。また、図5に示す例では、中間部20Cと柱状電極26Cとの側面はずれているが、ずれのない同一面としてもよい、さらに、図5の関係に限定されず、例えば中間部20Cを柱状電極26Cに比べ幅広としてもよい。
中間部20Cと柱状電極26Cとは同一材料で一体的に形成されていてもよい。同様に、直下に中間部20Cが位置する配線8やパッド9は、中間部20Cおよび柱状電極26Cは同一材料で一体的に形成されていてもよい。
3:基板,31:支持基板,5:IDT電極,9:パッド,8:配線,20:中間部

Claims (7)

  1. 基板と、
    該基板の下面に配置された、前記基板に比べて熱伝導率の高い材料からなる支持基板と、
    前記基板の上面に配置された、弾性波を励起するIDT電極と、
    前記基板の上面に配置された、外部回路に電気的に接続されるパッドと、
    前記基板の上面に配置された、前記IDT電極または前記パッドの少なくとも一方に電気的に接続された配線と、
    前記基板を厚み方向に貫通する、前記基板に比べて熱伝導率の高い材料からなる、少なくとも1つの中間部と、を備える弾性波素子。
  2. 少なくとも1つの前記中間部は、前記パッドまたは前記配線の直下に位置する、請求項1に記載の弾性波素子。
  3. 少なくとも1つの前記中間部は複数あり、前記パッドの直下と前記配線の直下にそれぞれ位置する、請求項1または2に記載の弾性波素子。
  4. 前記基板の上面に位置し、前記基板の前記上面との間に前記IDT電極を収容する空間を形成する保護カバーと、
    前記パッド上に位置し、前記保護カバーの上面まで導出された柱状電極とを備える、請求項3に記載の弾性波素子。
  5. 前記柱状電極と、前記中間部のうち前記柱状電極が電気的に接続された前記パッドの直下に位置する中間部とは、平面視でずれて位置している、請求項4に記載の弾性波素子。
  6. 前記中間部は、弾性波の伝搬方向において前記IDT電極と重ならないように位置している、請求項1乃至5のいずれかに記載の弾性波素子。
  7. 少なくとも1つの前記中間部は、前記パッドの直下に位置しており、
    この中間部と平面視で重なる位置に位置するとともにこれと電気的に接続され、前記支持基板を厚み方向に貫通する、柱状電極をそなえる、請求項1に記載の弾性波素子。
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