JP2018143446A - 光断層像撮影装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】測定光が良好に照射される光断層画像撮影装置を提供すること。
【解決手段】光断層画像撮影装置1は、測定光を偏向部71によって被検体の組織上で走査すると共に、参照光と、被検体の組織からの測定光の戻り光と、の干渉を検出器19によって検出するOCT光学系と、OCT光学系の一部に設けられており、測定光が組織上に照射される第1状態と、組織上へ照射される測定光の光量が第1状態に対して減光される第2状態と、に切換るシャッター25と、制御部30と、を備える。制御部30は、検出器19からの信号に基づくOCTデータの取込処理を行い、更に、1つのスキャンラインに対する走査が完了してから、該走査に基づくOCTデータの取込処理が完了するまでの期間を少なくとも含む第1期間は、シャッター25を第2状態に切換え、第1期間の経過後にシャッター25を第1状態に切換える。
【選択図】 図4
【解決手段】光断層画像撮影装置1は、測定光を偏向部71によって被検体の組織上で走査すると共に、参照光と、被検体の組織からの測定光の戻り光と、の干渉を検出器19によって検出するOCT光学系と、OCT光学系の一部に設けられており、測定光が組織上に照射される第1状態と、組織上へ照射される測定光の光量が第1状態に対して減光される第2状態と、に切換るシャッター25と、制御部30と、を備える。制御部30は、検出器19からの信号に基づくOCTデータの取込処理を行い、更に、1つのスキャンラインに対する走査が完了してから、該走査に基づくOCTデータの取込処理が完了するまでの期間を少なくとも含む第1期間は、シャッター25を第2状態に切換え、第1期間の経過後にシャッター25を第1状態に切換える。
【選択図】 図4
Description
本開示は、被検体の組織の断層画像を撮影する光断層像撮影装置に関する。
従来、被検体の所定部位における断層画像を撮影することができる装置として、光断層干渉計(Optical Coherence Tomography:OCT)を用いた装置が知られている。OCTでは、任意のスキャンラインにて被検体上で測定光を走査することによって、スキャンラインを切断面とする断面の情報(Bスキャンデータ)が、被検体からの戻り光に基づいて生成される。OCTにおいて、このような測定光の走査が、繰り返される場合がある。
Bスキャンデータの取込制御の時間、または、表示制御の時間等については、ハードウェアによる制約があり、被検体に対する測定光の走査が短時間で繰り返し行われたとしても、全ての走査に基づいてBスキャンデータを生成し、装置に取り込む、或いは、表示する、ことはできない場合があった。
このような場合であっても、光安全性の観点から許容される測定光の照射量は、各回の測定光の走査のうち、Bスキャンデータが取込まれない部分、又は、表示に用いられない部分、の走査において被検体へ照射される測定光の照射量についても考慮しなければならない。
本開示は、従来技術の問題点に鑑みてなされたものであり、測定光が良好に照射される光断層像撮影装置を提供することを目的とする。
本開示の第1の態様に係る光断層像撮影装置は、前記測定光を光スキャナによって被検体の組織上で走査すると共に、前記参照光と、被検体の組織からの前記測定光の戻り光と、の干渉を検出器によって検出するOCT光学系と、前記OCT光学系の一部に設けられており、測定光が前記組織上に照射される第1状態と、前記組織上へ照射される測定光の光量が第1状態に対して減光される第2状態と、に切換る光制限部と、前記検出器からの信号に基づくOCTデータの取込処理を行う画像処理手段と、1つのスキャンラインに対する走査が完了してから、該走査に基づくOCTデータの取込処理が完了するまでの期間を少なくとも含む第1期間は、前記光制限部を前記第2状態に切換え、前記第1期間の経過後に前記光制限部を前記第1状態に切換える、制御手段と、を有する。
本開示によれば、測定光が良好に照射されるという効果がある。
以下、本開示における1つの実施形態について、図面を参照して説明する。
<装置構成の説明>
まず、図1を参照して、本実施形態に係る光断層像撮影装置(以下、「撮影装置」と省略する)1の概略構成について説明する。撮影装置1は、被検体内の組織の2次元OCTデータ(例えば、断層画像(Bスキャン画像))を、被検体内に挿入されるプローブ2を利用して撮影する。
まず、図1を参照して、本実施形態に係る光断層像撮影装置(以下、「撮影装置」と省略する)1の概略構成について説明する。撮影装置1は、被検体内の組織の2次元OCTデータ(例えば、断層画像(Bスキャン画像))を、被検体内に挿入されるプローブ2を利用して撮影する。
以下、具体例として、撮影装置1は、眼科撮影装置であるものとする。即ち、被検眼Eの内部組織(例えば、網膜)の断層画像が、撮影装置1によって撮影される。しかし、本開示は、眼以外の被検体(例えば、内臓、耳等)の断層画像を撮影する装置にも適用できる。撮影装置1は、測定部10と制御部30を備える。
測定部10は、光断層干渉計(OCT:Optical Coherence Tomography)の構成(例えば、干渉光学系)を備える。本実施形態の測定部10は、測定光源11、エイミング光源12、カップラー13、カップラー14、参照光学系15、装着部16、ファイバ回転モータ18、検出器(受光素子)19および光路長変更ユニット20を備える。
測定光源11は、2次元OCTデータ(例えば、断層画像,および,断面方向のアンジオグラフィー等)を取得するための光を出射する。一例として、本実施形態の撮影装置1は、出射するレーザ光の波長を高速で変化させることが可能な測定光源11を備えることで、Swept−source OCT(SS−OCT)計測によって2次元OCTデータを取得する。本実施形態の測定光源11は、レーザ媒体、共振器、および波長選択フィルタ等によって構成される。波長選択フィルタとして、例えば、回折格子とポリゴンミラーの組み合わせ、または、ファブリー・ペローエタロンを用いたフィルタ等を採用できる。
エイミング光源12は、測定光の照射位置(つまり、2次元OCTデータの取得位置。)を示すための可視光であるエイミング光を出射する。
カップラー13は、測定光源11から出射された光と、エイミング光源12から出射されたエイミング光とを合波し、2つの光の光軸を一致させる。カップラー14は、カップラー13から入射された光を、測定光(試料光)と参照光に分割する。測定光は、装着部16に装着されたプローブ2に導光される。参照光は、参照光学系15に導光される。また、カップラー14は、被検眼Eによって反射された測定光(反射測定光)と、参照光学系15によって生成された参照光とを合成して干渉光を生成する。カップラー14は、生成した干渉光を検出器19に受光させる。
参照光学系15は、カップラー14から導光された参照光を再びカップラー14に戻す。参照光学系15は、反射光学系であってもよいし(特開2014−188276号公報)、透過光学系であってもよい(特開2010−220774号公報等)。
検出器19は、反射測定光と参照光の干渉状態を検出する。換言すると、検出器19は、カップラー14によって生成された干渉光の干渉信号を検出する。より詳細には、フーリエドメインOCTの場合には、干渉光のスペクトル強度が検出器19によって検出され、スペクトル強度データに対するフーリエ変換によって、所定範囲における深さプロファイル(Aスキャン信号)が取得される。また、走査位置毎に深さプロファイルを収集し、深さプロファイルを並べることで、2次元OCTデータ(例えば、Bスキャン画像 図5参照)が形成される。
前述したように、本実施形態の撮影装置1には、SS−OCTが採用されている。しかし、撮影装置1には、種々のOCTを採用できる。例えば、Spectral−domain OCT(SD−OCT)、Time−domain OCT(TD−OCT)等のいずれを撮影装置1に採用してもよい。SS−OCTを採用する場合、複数の受光素子を有する平衡検出器を検出器19として採用することが望ましい。平衡検出器を用いる場合、撮影装置1は、複数の受光素子からの干渉信号の差分を得て、干渉信号に含まれる不要なノイズを削減することができる。その結果、2次元OCTデータの品質が向上する。
装着部(例えばコネクタ)16には、プローブ2におけるファイバ4の後端部(基端部)が着脱可能に装着される。装着部16に対してプローブ2が装着されることによって、カップラー14によって分割された測定光の導光路(例えば、測定部10内のファイバ4)と、プローブ2とが接続される。
ファイバ回転モータ(以下、「モータ」と省略する)18は、ファイバ4が装着された装着部16を、ファイバ4の軸を中心として回転させることができる。つまり、モータ18は、装着部16を回転させることでファイバ4を回転させる。その結果として、本実施形態では、測定光およびエイミング光が走査される(詳細は後述する)。モータ18には、回転検出センサ18aが設けられている。回転検出センサ18aは、後端部におけるファイバ4の回転を1回転毎に検出すると共に、検出毎(つまり、1回転毎)に信号を制御部30へ出力する。回転検出センサ18aからの信号は、各々の2次元OCTデータ(例えば、Bスキャン画像)の生成開始のタイミングを決定するために利用される。つまり、ファイバ4の回転に伴って続けて出力される2回の信号の間に、1回の走査が行われる。
また、本実施形態の撮影装置1は、シャッター25を有してもよい。シャッター25は、測定光の光路上に配置される。シャッター25は、図示無きアクチュエータへの制御信号に応じて、測定光を通過させる状態と、測定光を遮光する状態と、に切換る。これによって、測定光が被検眼の組織上に照射される第1状態と、測定光が被検眼Eの組織上へ照射されない第2状態と、に切換えられる。
なお、第2状態は、組織上へ照射される測定光の光量が、第1状態に対して減光された状態であればよく、測定光が組織上に照射されない状態に限られるものでない。例えば、シャッターの代わりにフィルタを挿脱して、被検眼へ照射れる測定光の光量を調整してもよい。
なお、図1において、シャッター25は、測定光と、エイミング光と、の共通光路上に配置されているが、必ずしもこれに限られるものではなく、エイミング光の光路と独立に形成された光路上に、シャッター25が配置されていてもよい(例えば、図1における測定光源11とカップラー13との間の光路上等)。
ここで、図1および図2を参照して、装着部16に装着されるプローブ2について説明する。本実施形態のプローブ2は、プローブ本体3と、ファイバ4と、を備える。また、プローブ本体3は、ハンドピース5、およびニードル6を有する。
ファイバ4は、プローブ本体3に挿入されており,プローブ本体3の外部からのニードル6の先端部まで、測定部10のカップラー14から導かれた測定光とエイミング光を導光する。
ファイバ4は、図示無きトルクコイルによって被覆されている。トルクコイルは、トルク伝達部の一例であり、モータ18からのトルクをファイバ4に伝達する。これにより、ファイバ4がトルクコイルと共に回転される。本実施形態において、ファイバ4およびトルクコイル7は、ハンドピース5に対して自在に回転する。
ハンドピース5は、作業者(例えば、検者、術者等)によって把持される略筒状の部材である。ニードル6は、ハンドピース5の先端に設けられており、ハンドピース5の外径よりも小さい外径を有する。ニードル6の先端部は、被検体(例えば、被検眼E)の内部に挿入される。ファイバ4は、ハンドピース5の後端部に接続し、ニードル6の先端部まで延びている。プローブ2は、ファイバ4によって導光された測定光およびエイミング光を走査させながら、それぞれの光を先端部から出射することができる。
ここで、図2を参照して、プローブ2における先端部の構造を、より詳細に説明する。ニードル6の先端部には、遮光部材61、外筒66、保持部68、および偏向部71等が設けられている。
遮光部材61は、ファイバ4の先端側の周囲(特に、保持部68および偏向部71の周囲)を囲む。本実施形態では、遮光部材61の形状は、略筒状である。遮光部材61は、測定光およびエイミング光を遮光する材質によって形成されている。遮光部材61のうち、軸線方向において偏向部71が位置する部位の近傍には、測定光およびエイミング光の走査方向(軸周りの方向)に所定の幅を有する切欠き62(又は、開口)が形成されている。偏向部71から照射された光は、切欠き62の内側の領域63(以下、「透過領域63」という。)では外部に透過されるが、切欠き62が形成されていない領域64(以下、「遮光領域64」という。)では遮光部材61によって遮光される。
本実施形態では、遮光部材61の内側の面には粗面加工が施されている。つまり、遮光部材61の内側の面には、微細な多数の凹凸が形成されている。この場合、遮光領域64では、遮光部材61の内側の面に照射された光が散乱する。従って、遮光部材61の内側が光を散乱させにくい場合(例えば、内側の面に鏡面加工が施されている場合)に比べて、遮光領域64で反射された反射光が偏向部71に戻らない可能性が低下する。つまり、鏡面加工等が施されている場合には、偏向部71とは異なる方向に光が反射すると、偏向部71には反射光は入射しない。反射光が散乱すると、反射光は偏向部71に戻りやすい。よって、撮影装置1は、測定光が遮光領域64に照射されていることを検出する場合に、遮光領域64で反射された反射光を用いてより確実な検出を行うことができる。
なお、本実施形態の透過領域63の形状は略矩形であるが、透過領域63の大きさ、形状、数等を変更できることは言うまでもない。また、透過領域63と遮光領域64を形成するための具体的な方法も変更できる。例えば、測定光およびエイミング光を透過する材質と、遮光する材質とを組み合わせて遮光部材61を製造することで、透過領域63と遮光領域64を形成してもよい。
外筒66は、測定光およびエイミング光を透過する材質によって形成されており、遮光部材61の外側を閉塞する。従って、外筒66は、血液、硝子体の組織等が内側に侵入することを防止しつつ、透過領域63の内側と外側との間における光の透過を許容する。なお、外筒66は遮光部材61の内側に位置してもよい。
保持部68は、外形略円柱状の部材であり、遮光部材61に対して固定されている。保持部68の軸心部分には、ファイバ4を回転可能な状態で挿通する挿通孔69が形成されている。保持部68は、遮光部材61に対するファイバ4の軸の位置を一定にした状態で、ファイバ4を回転可能に保持する。
偏向部71は、ファイバ4の先端部に設けられている。偏向部71は、ファイバ4の先端部から出射された光を偏向させる。偏向部71によって偏向された光は、透過領域63を通過したときに被検体の組織に照射される。なお、本実施形態において、偏向部71によって偏向された光は、所定の距離で集光される。偏向部71は、例えば、ボールレンズであってもよいし、プリズムであってもよい。また、偏向部71は、組織で反射された反射測定光を受光し、ファイバ4に入射させる。本実施形態の偏向部71は、ファイバ4の軸方向に対して約70度の角度で光を偏向させるが、偏向の角度は適宜変更できる。なお、ファイバ4のうち、保持部68よりも後端側の部分の外周には、ファイバ4のねじれ等を抑制するためのシャフト73が設けられている。本実施形態では、モータ18が、ファイバ4と共に偏向部71を回転させ、これにより、測定光(およびエイミング光)が走査される。つまり、本実施形態における「光スキャナ」には、少なくともモータ18および偏向部71が含まれる。
なお、撮影装置1は、測定光のフォーカス調整を行うための光学系等の種々の構成を、測定部10またはプローブ2に備えてもよい。これらの詳細な説明は省略する。
次に、図1を参照して、装置の制御系を説明する。制御部30は、CPU(プロセッサ)31、RAM32、ROM33、および不揮発性メモリ34等を備える。CPU31は、撮影装置1、および周辺機器の制御を司る。RAM32は、各種情報を一時的に記憶する。ROM33には、各種プログラム、初期値等が記憶されている。不揮発性メモリ34は、電源の供給が遮断されても記憶内容を保持できる非一過性の記憶媒体である。例えば、ハードディスクドライブ、フラッシュROM、および、撮影装置1に着脱可能に装着されるUSBメモリ等を、不揮発性メモリ34として使用することができる。不揮発性メモリ34には、後述する装置の各部を制御するためのプログラムが記憶されている。また、不揮発性メモリ34には、撮影された断層画像等の各種情報が記憶される。
本実施形態では、測定部10に接続されたパーソナルコンピュータ(以下、「PC」という。)が制御部30として用いられる。しかし、PCを用いずに、測定部10と制御部30を1つのデバイスとして一体化させてもよい。また、制御部30は、複数の制御部(つまり、複数のプロセッサ)によって構成されてもよい。例えば、PCに設けられた第一制御部と、測定部10内に設けられた第二制御部とによって、撮影装置1の制御部30が構成されてもよい。この場合、例えば、PCの第一制御部は、PCに接続された操作部の操作に基づいて、撮影の開始および終了等を第二制御部に対して指示すればよい。第二制御部は、第一制御部からの指示に従って、測定光源11、エイミング光源12、モータ18等の動作を制御すればよい。また、干渉信号に基づく画像の生成処理等は、第一制御部および第二制御部のいずれで行ってもよい。
制御部30には、表示部41、操作部42、および手術顕微鏡46等の周辺機器が電気的に接続される。表示部41には、後述する断層画像等が表示される。表示部41は、PCのディスプレイであってもよいし、撮影装置1専用のディスプレイであってもよい。複数のディスプレイが併用されてもよい。操作部42は、各種操作指示を認識するためのデバイスである。操作部42には、例えば、マウス、ジョイスティック、キーボード、タッチパネル等の少なくともいずれかが用いられてもよい。これらは、作業者と離れた場所から作業を補助する補助者によって操作されてもよい。また、例えば、作業者からの操作指示が入力される操作部42として、プローブ2に図示無きスイッチが設けられたり、作業者からの声を認識する音声認識デバイスが設けられたり、作業者のジェスチャーを認識するデバイスが設けられたりしてもよい。
なお、本実施形態では、検出器19からの信号に基づいて断層画像を形成する画像形成部を、制御部30が兼用する。この場合、例えば、制御部30は、検出器19からの信号をフーリエ変換することで、深さプロファイル(Aスキャン)を取得し、走査位置毎に取得された深さプロファイルを並べることで、2次元OCTデータ(例えば、Bスキャン画像)を生成する。本実施形態において、プローブ2の軸周りに走査されるため、各々の深さプロファイルは、プローブ2の軸に原点が置かれる極座標によって表現されている。制御部30は、この極座標によって表現された被検体の2次元OCTデータを取得してもよい。また、2次元OCTデータは、極座標によって表現された断層画像データであってもよいし、直交座標によって表現された断層画像データであってもよい。極座標データから直交座標データへの変換手法については、例えば、本出願人による特開2015−104582号公報等を参照されたい。
手術顕微鏡46は、被検体(本実施形態では被検眼E)の内部を、手術中、診断中、またはこれらの訓練中に拡大表示(本実施形態では撮影して拡大表示)する。作業者は、手術顕微鏡46を覗き込みながら手術、診断、またはこれらの訓練(本実施形態では、これらをまとめて「作業」という。)を行う。また、本実施形態では、制御部30は、手術顕微鏡46によって撮影された画像を取得し、表示部41に表示させることができる。作業中において、作業者の補助者等は、表示部41に表示された画像を確認することで、作業状況等を確認することができる。なお、手術顕微鏡46を用いずに本開示を実現することも可能である。例えば、被検体の内部の画像を撮影するための観察光学系を、測定部10に設けてもよい。この場合、作業者は、観察光学系によって撮影された画像を確認しながら作業を行うことができる。また、作業者が肉眼でプローブ2の先端部近傍を注視する場合でも、本開示は適用できる。
<動作の説明>
次に、撮影装置1の動作について説明する。
次に、撮影装置1の動作について説明する。
<Bスキャン画像の取得>
制御部30は、測定光源11を点灯させて偏向部71から測定光を照射させると共に、モータ18を制御してファイバ4を一定速度で回転させる。これにより、測定光が被検眼E上で走査される。制御部30は、測定光の走査に伴って検出器19から出力される信号に基づいて、2次元OCTデータ(例えば、Bスキャン画像)を取得する。2次元OCTデータは、例えば、透過領域63の一端から他端までの間を測定光が走査した結果として検出器19から出力される信号に基づいて形成されてもよい。本実施形態では、ファイバ4の1回転毎に、回転検出センサ18aからの信号を得たタイミングを基準とする所定期間において、検出器19からの信号が収集され、収集された信号に基づいて2次元OCTデータが構築される。
制御部30は、測定光源11を点灯させて偏向部71から測定光を照射させると共に、モータ18を制御してファイバ4を一定速度で回転させる。これにより、測定光が被検眼E上で走査される。制御部30は、測定光の走査に伴って検出器19から出力される信号に基づいて、2次元OCTデータ(例えば、Bスキャン画像)を取得する。2次元OCTデータは、例えば、透過領域63の一端から他端までの間を測定光が走査した結果として検出器19から出力される信号に基づいて形成されてもよい。本実施形態では、ファイバ4の1回転毎に、回転検出センサ18aからの信号を得たタイミングを基準とする所定期間において、検出器19からの信号が収集され、収集された信号に基づいて2次元OCTデータが構築される。
ここで、図3に、上記構成の装置によって取得される2次元OCTデータの一例を示す。図3は、極座標によって表現された断層画像である。符号101は、遮光部材61の反射像を示し、符号105は、被検体(眼底)の像を示し、110は、内部反射像を示す。内部反射像110は、プローブ2の内部において、屈折率の異なる箇所での反射に基づく像である。例えば、ファイバ4と図示無きレンズとの融着面での反射によって内部反射像110が生じる場合がある。
撮影装置1は、測定光の走査に基づいて得られる断層画像を、ライブ画像として、表示部41へ表示させてもよい。ライブ画像は、被検眼Eの組織が略リアルタイムに撮影され、表示される。ライブ画像は、作業中における被検眼の状態を、断層画像に基づいて把握するうえで、有用である。なお、ライブ画像は、直近の一定回数(例えば、3回)の走査に基づく断層画像を加算することによって形成される加算画像であってもよい。
ところで、SS−OCTの場合、光源11における波長掃引の周期が、Aスキャンデータの取得周期となる。本実施形態では、測定光の振れ角は、プローブ2の透過領域63の幅に応じて一定である。故に、Aスキャンデータの取得周期に対してファイバ4の回転周期(つまり、1回あたりの走査時間)が長すぎると、被検眼上におけるAスキャンデータの取得ポイントが重なり合いやすくなる。
そこで、ファイバ4の回転周期(つまり、被検眼に対する測定光の走査の周期)は、Aスキャンデータの取得ポイントが互いに重なり合わない程度の範囲で、設定されてもよい。一例として、以下の説明では、ファイバ4が1秒当たり30回転で駆動される。つまり、測定光によって被検眼上が最大で30回走査可能となっている。なお、単位時間当たりのファイバ4の回転回数(換言すれば、走査回数)は、上記の通り、Aスキャンデータの取得周期との関係で適宜設定されればよく、必ずしも上記示した数値に限定されるものではない。
一方で、装置の制約により、各回の走査全てからBスキャンデータを得ることができない場合があり得る。また、ライブ画像を表示する場合には、各回の走査全てに基づいてBスキャンデータの取得処理を行ったり、表示処理を行ったりすると、それらの処理に時間を要し、リアルタイムな表示が困難になってしまう場合が考えられる。
つまり、Bスキャンデータの取込処理に要する時間、または、取込処理および表示処理に要する時間が、測定光の走査周期に対して長い場合があり得る。Bスキャンデータの取込処理に要する時間、または、取込処理および表示処理に要する時間は、撮影装置1におけるフレームグラバー、ビデオカード、および画像処理プロセッサの性能等に依存する(つまり、画像処理部の性能に依存する)。なお、本実施形態において、画像処理部は、制御部30の一部であるものとして説明する。但し、制御部30とは別体の電子回路が、画像処理部として設けられていてもよい。
なお、以下の説明において、撮影装置1では、Bスキャンデータの取込および表示が、1秒あたり10枚を上限として実行されるものとする。この場合、被検眼上で測定光が1秒当たり30回走査されたとしても、そのうち20回分については、Bスキャンデータの取込・表示に活用されない。
これに対し、本実施形態では、制御部30が、測定光の光路中に配置されたシャッター25を制御することによって、1フレーム分のBスキャンデータを得るための走査が完了してから、該走査に基づくBスキャンデータの取込処理、又は、表示処理が完了するまでの期間は少なくとも、シャッター25で測定光を遮光させる。そして、取込処理、又は、表示処理の完了後に、シャッター25の状態を切換え、被検眼上で測定光を走査させる。これにより、新たなBスキャンデータの取得・表示が開始される。
図4に示したタイミングチャートを用いて、上記制御動作を、より詳細に説明する。
図4(a)に示すように、本実施形態における撮影装置1では、Bスキャンデータの取込開始信号(取込トリガ信号)が、一定の時間間隔で出力される。より詳細には、ファイバ4の1回転毎に出力される。このような取込開始信号は、本実施形態では、回転検出センサ18aによる検出信号であってもよいし、検出信号の出力タイミングから、一定の時間差で出力される信号であってもよい。
図4(b)は、Bスキャンデータの取込処理が行われているか否かを示している。Bスキャンデータの取込開始信号が入力されたタイミングにおいて、Bスキャンデータの取込処理が行われていなければ、新たなBスキャンデータの取込処理が開始される。Bスキャンデータの取込処理中は、取込開始信号が入力されても、該取込開始信号に基づく新たな処理は開始されない。
図4(c)は、シャッター25における開閉状態を示している。本実施形態では、Bスキャンデータの取込処理の開始タイミング、および、完了タイミング、と同期して、シャッター25の開閉状態が切換る。即ち、Bスキャンデータの取込状態に応じて、シャッター25を測定光が通過する状態と、シャッター25で測定光が遮光される状態と、に切換わってもよい。
より具体的には、図4(c)では、Bスキャンデータの取込状態と、取込開始信号に基づいてシャッター25の開閉制御が行われる。
まず、Bスキャンデータの取込処理が行われておらず、予めシャッター25が開放されているものとする。この状態において入力される取込開始信号に基づいて、Bスキャンデータの取込処理が開始される。
Bスキャンデータの取込処理が実行中において、最初に入力される取込開始信号に基づいて、シャッター25の開閉状態を切換え、測定光を遮光させる(第1状態→第2状態)。結果、ファイバ4が回転しても、被検眼Eの組織上で測定光は走査されなくなる。
Bスキャンデータの取込処理の完了後、シャッター25の開閉状態が再度切換えられ、シャッター25が開放される。なお、シャッター25の開放動作のトリガは、取込処理の完了後に最初に入力される取込開始信号であってもよい。
以上のような動作によって、本実施形態の撮影装置1は、被検眼に対する測定光の照射時間が、Bスキャンデータの取込処理の能力に応じて制御される。例えば、図4のタイミングチャートに基づいて動作した場合、ファイバ4の3回転毎に1回転分だけ、測定光が走査されるので、光安全性の観点から許容される測定光の光量は、ファイバの3回転でそれぞれ測定光が照射される場合の約3倍まで高めることができる。つまり、被検眼Eに照射される測定光の光量を増大させやすく、結果として、OCTデータのS/N比を向上させやすくなる。
以上、実施形態に基づいて説明を行ったが、本開示は、必ずしも上記実施形態に限定されるものではなく、当業者の通常の知識に基づいて実施され得る種々の変容例を含むものである。
<光制限部の変形例>
例えば、上記実施形態では、光制限部の一例として、シャッター25が設けられた場合について説明した。即ち、OCT光学系(干渉光学系10)の一部に設けられており、測定光が被検体の組織上に照射される第1状態と、測定光が被検体の組織上へ照射されない第2状態と、に、シャッター25の開閉によって切換えられていた。しかし、これに限られるものでは無い。例えば、シャッター25の開閉の代わりに、測定光源11からの測定光照射のオン/オフを切り替えることで、第1状態と第2状態との切換を行ってもよい。即ち、測定光源11が光制限部を兼ねてもよい。また、光スキャナの動作を、詳細に制御可能であれば、光スキャナが光制限部を兼ねていてもよい。例えば、光スキャナが測定光を、被検眼に照射されない角度へ偏向することで、第2状態に設定する。
例えば、上記実施形態では、光制限部の一例として、シャッター25が設けられた場合について説明した。即ち、OCT光学系(干渉光学系10)の一部に設けられており、測定光が被検体の組織上に照射される第1状態と、測定光が被検体の組織上へ照射されない第2状態と、に、シャッター25の開閉によって切換えられていた。しかし、これに限られるものでは無い。例えば、シャッター25の開閉の代わりに、測定光源11からの測定光照射のオン/オフを切り替えることで、第1状態と第2状態との切換を行ってもよい。即ち、測定光源11が光制限部を兼ねてもよい。また、光スキャナの動作を、詳細に制御可能であれば、光スキャナが光制限部を兼ねていてもよい。例えば、光スキャナが測定光を、被検眼に照射されない角度へ偏向することで、第2状態に設定する。
<光スキャナの変形例>
例えば、上記実施形態では、偏向部71とモータ18(アクチュエータの一例)と、によって光スキャナが実現される場合を説明した。つまり、回転動作によって、1軸に関して常に一方向へ走査を行うものであるが、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、光スキャナが1軸に関して走査を行うものである場合において、1軸に関して往復走査を行ってもよい。この場合、例えば、光スキャナとして、1つのガルバノミラー、レゾナントスキャナ、MEMS、および、AOM(音響光学素子)、等の光を揺動させるものが適用されてもよい。また、光スキャナは、2軸に関して走査を行うものであってもよい。この場合、走査方向が互いに異なる複数の光スキャナが用いられてもよい。複数の光スキャナは、同種のデバイスであってもよいし、種類の異なるデバイスであってもよい。
例えば、上記実施形態では、偏向部71とモータ18(アクチュエータの一例)と、によって光スキャナが実現される場合を説明した。つまり、回転動作によって、1軸に関して常に一方向へ走査を行うものであるが、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、光スキャナが1軸に関して走査を行うものである場合において、1軸に関して往復走査を行ってもよい。この場合、例えば、光スキャナとして、1つのガルバノミラー、レゾナントスキャナ、MEMS、および、AOM(音響光学素子)、等の光を揺動させるものが適用されてもよい。また、光スキャナは、2軸に関して走査を行うものであってもよい。この場合、走査方向が互いに異なる複数の光スキャナが用いられてもよい。複数の光スキャナは、同種のデバイスであってもよいし、種類の異なるデバイスであってもよい。
<据え置き型装置への適用に関する変形例>
また、例えば、上記実施形態では、プローブ2(手持ち部の一例)を介して被検体に対する測定光の投受光を行う装置について説明したが、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、据え置き型の装置本体に設けられた光学系から、測定光が被検体へ直接照射される装置に対して、本開示の技術が適用されてもよい。
また、例えば、上記実施形態では、プローブ2(手持ち部の一例)を介して被検体に対する測定光の投受光を行う装置について説明したが、必ずしもこれに限られるものではない。例えば、据え置き型の装置本体に設けられた光学系から、測定光が被検体へ直接照射される装置に対して、本開示の技術が適用されてもよい。
1 光断層像撮影装置
10 測定部
18 モータ(光スキャナの一部)
19 検出器
25 シャッター
30 制御部
71 偏向部(光スキャナの一部)
E 被検眼
10 測定部
18 モータ(光スキャナの一部)
19 検出器
25 シャッター
30 制御部
71 偏向部(光スキャナの一部)
E 被検眼
Claims (7)
- 測定光を光スキャナによって被検体の組織上で走査すると共に、前記参照光と、被検体の組織からの前記測定光の戻り光と、の干渉を検出器によって検出するOCT光学系と、
前記OCT光学系の一部に設けられており、測定光が前記組織上に照射される第1状態と、前記組織上へ照射される測定光の光量が第1状態に対して減光される第2状態と、に切換る光制限部と、
前記検出器からの信号に基づくOCTデータの取込処理を行う画像処理手段と、
1つのスキャンラインに対する走査が完了してから、該走査に基づくOCTデータの取込処理が完了するまでの期間を少なくとも含む第1期間は、前記光制限部を前記第2状態に切換え、前記第1期間の経過後に前記光制限部を前記第1状態に切換える、制御手段と、
を有する光断層像撮影装置。 - 前記制御手段は、1つのスキャンラインに対して測定光を走査するための前記光スキャナの動作が、前記第1期間に対して短い第2期間で実行されるように、前記光スキャナを駆動制御する、請求項1記載の光断層像撮影装置。
- 前記制御手段は、前記光スキャナを周期的に駆動させ、且つ、前記光スキャナにおけるスキャンライン毎のスキャン周期に対し、前記第1期間が長い、請求項1又は2記載の光断層像撮影装置。
- 前記OCT光学系は、波長掃引光源を、前記測定光の光源として有する請求項1から3の何れかに記載の光断層像撮影装置。
- 前記画像処理手段は、前記取込処理によって取り込まれた前記OCTデータに基づくライブ画像をモニタへ表示させる表示処理を実行し、
前記制御手段は、1つのスキャンラインに対する走査が完了してから、該走査に基づくOCTデータの取込処理と前記表示処理と、が完了するまでの期間を前記第1期間として、前記光制限部の切換制御を行う、請求項1から4のいずれかに記載の光断層像撮影装置。 - 前記光制限部は、前記測定光の光路上に配置される光シャッターであって、前記制御手段は、前記光シャッターの開閉状態を、前記画像処理手段における処理状態に応じて制御する請求項1から5のいずれかに記載の光断層像撮影装置。
- 前記測定光の照射位置を示すためのエイミング光となる可視光を、前記光スキャナへ導くための光路が、前記OCT光学系における測定光の光路と一部共通しており、
前記光制限部は、前記可視光と前記測定光との共通光路上に配置される請求項1から6のいずれかに記載の光断層像撮影装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2017040954A JP2018143446A (ja) | 2017-03-03 | 2017-03-03 | 光断層像撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2017040954A JP2018143446A (ja) | 2017-03-03 | 2017-03-03 | 光断層像撮影装置 |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2018143446A true JP2018143446A (ja) | 2018-09-20 |
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ID=63589115
Family Applications (1)
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JP2017040954A Pending JP2018143446A (ja) | 2017-03-03 | 2017-03-03 | 光断層像撮影装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP2018143446A (ja) |
-
2017
- 2017-03-03 JP JP2017040954A patent/JP2018143446A/ja active Pending
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