JP2018078145A - Cutting apparatus - Google Patents
Cutting apparatus Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018078145A JP2018078145A JP2016217282A JP2016217282A JP2018078145A JP 2018078145 A JP2018078145 A JP 2018078145A JP 2016217282 A JP2016217282 A JP 2016217282A JP 2016217282 A JP2016217282 A JP 2016217282A JP 2018078145 A JP2018078145 A JP 2018078145A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- unit
- workpiece
- cutting
- imaging
- machining
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 title claims abstract description 144
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims abstract description 94
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims abstract description 50
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000003754 machining Methods 0.000 claims description 58
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 18
- 239000008186 active pharmaceutical agent Substances 0.000 description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 11
- 238000000034 method Methods 0.000 description 11
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 10
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 8
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 7
- 230000006870 function Effects 0.000 description 6
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 5
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 4
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 4
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 3
- 239000002390 adhesive tape Substances 0.000 description 2
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 2
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 2
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 2
- HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N silicon carbide Chemical compound [Si+]#[C-] HBMJWWWQQXIZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910010271 silicon carbide Inorganic materials 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000009977 dual effect Effects 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Abstract
Description
本発明は、切削装置に関する。 The present invention relates to a cutting apparatus.
半導体ウエーハやサファイア基板、SiC(シリコンカーバイド)基板などからなる光デバイスウエーハや樹脂パッケージ基板、ガラス基板、セラミックス基板など、各種板状の被加工物を切削ブレードで切削する切削装置が知られている。 Cutting devices for cutting various plate-like workpieces such as optical device wafers made of semiconductor wafers, sapphire substrates, SiC (silicon carbide) substrates, resin package substrates, glass substrates, ceramic substrates, etc. with a cutting blade are known. .
切削装置は、被加工物に設定された分割予定ラインに沿って切削加工が行われているか否かを加工中に随時検出するカーフチェック機能を備えている。カーフチェック機能は、カメラで加工溝を撮像し、加工溝が所定の位置(キーパターンとの距離を基準に設定されている)に形成されているか否か、チッピングが所定以下か否かを判定する。切削装置は、カーフチェック機能において、加工溝のキーパターンとの距離及びチッピングが閾値を超えた場合、アラームで異常をオペレータに知らせる。 The cutting apparatus has a kerf check function that detects at any time during machining whether or not cutting is being performed along a scheduled division line set on the workpiece. The kerf check function captures an image of the machining groove with a camera and determines whether the machining groove is formed at a predetermined position (set based on the distance from the key pattern) and whether the chipping is below a predetermined value. To do. In the kerf check function, the cutting device notifies the operator of an abnormality with an alarm when the distance from the key pattern of the machining groove and chipping exceed a threshold value.
被加工物は、分割予定ラインに形成されたTEG等の影響で、場所によって加工溝の映り方が異なる。このために、切削装置は、機械的に同じ撮像条件で撮像しても加工溝を検出できない場合がある。そのために、照明条件を自動で調整する機能を備える切削装置が考案された(例えば、特許文献1参照)。 The workpiece is reflected differently depending on the location due to the influence of TEG and the like formed on the division line. For this reason, the cutting device may not be able to detect the machining groove even if it is mechanically imaged under the same imaging conditions. For this purpose, a cutting device having a function of automatically adjusting the illumination condition has been devised (see, for example, Patent Document 1).
しかしながら、特許文献1に示す切削装置は、分割予定ライン毎に、照明条件を調整するので、カーフチェックにかかる時間が長くなるという課題がある。また、特許文献1に示す切削装置は、分割予定ライン毎に、照明条件を調整するために、照明条件によって加工溝の映り方が異なってしまい、カーフチェック機能の実行時に加工溝が正確に検出できないという問題が生じる。
However, since the cutting apparatus shown in
本発明は、かかる問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、カーフチェックにかかる所要時間が長くなることを抑制しつつも正確に加工溝を検出することができる切削装置を提供することである。 The present invention has been made in view of such problems, and an object thereof is to provide a cutting apparatus capable of accurately detecting a machining groove while suppressing an increase in the time required for kerf check. That is.
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明の切削装置は、被加工物を保持面で保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持された被加工物に加工溝を形成する加工ユニットと、該チャックテーブルに保持された被加工物を撮像する撮像ユニットと、各構成要素を制御する制御ユニットと、を備え、表面に形成された複数の分割予定ラインによって区画された領域にデバイスを備える被加工物に該分割予定ラインに沿って加工溝を形成する切削装置であって、該制御ユニットは、該被加工物に形成されたキーパターンと、該キーパターンと形成する該加工溝との距離とを登録する加工条件登録部と、該加工ユニットで該加工溝を形成した被加工物を用い、該加工溝の検出に適した撮像すべき撮像位置情報を登録する撮像位置登録部と、該撮像ユニットで撮像された該加工溝の該キーパターンとの距離又は欠けを判定する判定部と、を備えることを特徴とする。 In order to solve the above-described problems and achieve the object, a cutting apparatus of the present invention forms a chuck table for holding a workpiece on a holding surface, and a machining groove in the workpiece held on the chuck table. A processing unit, an imaging unit that images the workpiece held on the chuck table, and a control unit that controls each component, and in a region partitioned by a plurality of division lines formed on the surface A cutting apparatus for forming a machining groove along a division line on a workpiece including a device, wherein the control unit includes a key pattern formed on the workpiece, and the machining formed with the key pattern. A processing condition registration unit for registering the distance to the groove, and a workpiece in which the processing groove is formed by the processing unit, and an image capturing position information to be imaged suitable for detection of the processing groove A location registration unit, characterized in that it and a determination unit for determining distance or chipping of the said key pattern of the imaged the machined groove in the imaging unit.
そこで、本願発明の切削装置は、カーフチェックにかかる所要時間が長くなることを抑制しつつも正確に加工溝を検出することができる、という効果を奏する。 Therefore, the cutting device of the present invention has an effect that the machining groove can be accurately detected while suppressing an increase in the time required for the kerf check.
本発明を実施するための形態(実施形態)につき、図面を参照しつつ詳細に説明する。以下の実施形態に記載した内容により本発明が限定されるものではない。また、以下に記載した構成要素には、当業者が容易に想定できるもの、実質的に同一のものが含まれる。さらに、以下に記載した構成は適宜組み合わせることが可能である。また、本発明の要旨を逸脱しない範囲で構成の種々の省略、置換又は変更を行うことができる。 DESCRIPTION OF EMBODIMENTS Embodiments (embodiments) for carrying out the present invention will be described in detail with reference to the drawings. The present invention is not limited by the contents described in the following embodiments. The constituent elements described below include those that can be easily assumed by those skilled in the art and those that are substantially the same. Furthermore, the structures described below can be combined as appropriate. Various omissions, substitutions, or changes in the configuration can be made without departing from the scope of the present invention.
〔実施形態1〕
本発明の実施形態1に係る切削装置を図面に基づいて説明する。図1は、実施形態1に係る切削装置の構成例を示す斜視図である。図2は、実施形態1に係る切削装置の加工対象の被加工物の平面図である。図3は、実施形態1に係る切削装置の撮像ユニットの構成を示す図である。
A cutting apparatus according to
実施形態1に係る切削装置1は、板状物である被加工物Wを切削(加工)する装置である。実施形態1では、被加工物Wは、シリコン、サファイア、ガリウムなどを母材とする円板状の半導体ウエーハや光デバイスウエーハである。被加工物Wは、図2に示すように、表面WSに形成された複数の分割予定ラインLによって格子状に区画された領域にデバイスDを備えている。被加工物Wの各デバイスDには、アライメントを行ったり分割予定ラインLを検出するためのキーパターンKPが形成されている。キーパターンKPは、各デバイスDの予め定められた所定位置に設けられている。実施形態1において、キーパターンKPは、十字形状に形成されているが、キーパターンKPの形状は、十字状に限定されない。また、実施形態1において、全てのデバイスDは、同じ位置にキーパターンKPが形成されているが、キーパターンKPの位置は、これに限定されない。
The
また、被加工物Wは、TEG(Test Element Group)100が設けられている。TEG100は、金属等で形成され、デバイスDの設計、製造上の問題を見つけ出すためのテストパターンである。TEG100は、被加工物Wの予め定められた所定位置の分割予定ラインLに設けられている。同一構造(例えば、同一製品や同一ロッド)の被加工物Wは、TEG100が設けられている位置が互いに等しい。異なる構造の被加工物Wは、TEG100が設けられている位置が互いに異なる。
The workpiece W is provided with a TEG (Test Element Group) 100. The TEG 100 is a test pattern that is formed of metal or the like and finds a problem in designing and manufacturing the device D. The TEG 100 is provided on the division planned line L at a predetermined position of the workpiece W. The workpieces W having the same structure (for example, the same product or the same rod) have the same position where the
実施形態1において、被加工物Wは、裏面WRに粘着テープTが貼着され、粘着テープTの外周に環状フレームFが貼着されることで、環状フレームFと一体となっている。実施形態1の被加工物Wは、半導体ウエーハや光デバイスウエーハであるが、ウエーハの他に、樹脂により封止されたデバイスを複数有した矩形状のパッケージ基板、セラミックス板、ガラス板等でも良い。 In the first embodiment, the workpiece W is integrated with the annular frame F by attaching the adhesive tape T to the back surface WR and attaching the annular frame F to the outer periphery of the adhesive tape T. The workpiece W of the first embodiment is a semiconductor wafer or an optical device wafer, but may be a rectangular package substrate having a plurality of devices sealed with a resin, a ceramic plate, a glass plate, or the like in addition to the wafer. .
図1に示された切削装置1は、被加工物Wを切削(加工)して、被加工物Wに分割予定ラインLに加工溝PD(図2に破線で示す)を形成して、被加工物Wを個々のデバイスDに分割する装置である。切削装置1は、図1に示すように、被加工物Wを保持面10aで吸引保持するチャックテーブル10と、チャックテーブル10に保持された被加工物Wに加工溝PDを形成する加工ユニットである切削ユニット20と、チャックテーブル10に保持された被加工物Wを撮像する撮像ユニット30と、制御ユニット60と、を備える。
The
また、切削装置1は、図1に示すように、チャックテーブル10を水平方向と平行なX軸方向に加工送りする図示しないX軸移動手段と、切削ユニット20を水平方向と平行でかつX軸方向に直交するY軸方向に割り出し送りするY軸移動手段と、切削ユニット20をX軸方向とY軸方向との双方と直交する鉛直方向に平行なZ軸方向に切り込み送りするZ軸移動手段と、被加工物Wを搬送する搬送ユニット80とを少なくとも備える。切削装置1は、図1に示すように、切削ユニット20を2つ備えた、即ち、2スピンドルのダイサ、いわゆるフェイシングデュアルタイプの切削装置である。
Further, as shown in FIG. 1, the
チャックテーブル10は、被加工物Wを保持する保持面10aが設けられかつポーラスセラミック等から形成された保持部11と、保持部11を囲繞したリング状の枠部12とを備えた円盤形状である。また、チャックテーブル10は、X軸移動手段によりX軸方向に移動自在で回転駆動源によりZ軸方向と平行な軸心回りに回転自在に設けられている。チャックテーブル10は、図示しない真空吸引源と接続され、真空吸引源により吸引されることで、被加工物Wを吸引、保持する。
The chuck table 10 has a disc shape having a
切削ユニット20は、チャックテーブル10に保持された被加工物Wを切削する切削ブレード21を装着する図示しないスピンドルを備えるものである。切削ユニット20は、それぞれ、チャックテーブル10に保持された被加工物Wに対して、Y軸移動手段によりY軸方向に移動自在に設けられ、かつ、Z軸移動手段によりZ軸方向に移動自在に設けられている。
The
一方の切削ユニット20は、図1に示すように、Y軸移動手段、Z軸移動手段などを介して、装置本体2から立設した一方の柱部3aに設けられている。他方の切削ユニット20は、図1に示すように、Y軸移動手段、Z軸移動手段などを介して、装置本体2から立設した他方の柱部3bに設けられている。なお、柱部3a,3bは、上端が水平梁3cにより連結されている。
As shown in FIG. 1, one
切削ユニット20は、Y軸移動手段及びZ軸移動手段により、チャックテーブル10の保持面10aの任意の位置に切削ブレード21を位置付け可能となっている。切削ブレード21は、略リング形状を有する極薄の切削砥石である。スピンドルは、切削ブレード21を回転させることで被加工物Wを切削する。スピンドルは、スピンドルハウジング内に収容され、スピンドルハウジングは、Z軸移動手段に支持されている。切削ユニット20のスピンドル及び切削ブレード21の軸心は、Y軸方向と平行に設定されている。切削ユニット20は、Y軸移動手段によりY軸方向に割り出し送りしながら、X軸移動手段によりチャックテーブル10がX軸方向に切削送りされることにより、被加工物Wを切削する。
The cutting
X軸移動手段は、チャックテーブル10をX軸方向に移動させることで、チャックテーブル10をX軸方向に加工送りする加工送り手段である。Y軸移動手段は、切削ユニット20をY軸方向に移動させることで、切削ユニット20を割り出し送りする割り出し送り手段である。Z軸移動手段は、切削ユニット20をZ軸方向に移動させることで、切削ユニット20を切り込み送りするものである。X軸移動手段、Y軸移動手段及びZ軸移動手段は、軸心回りに回転自在に設けられた周知のボールねじ、ボールねじを軸心回りに回転させる周知のパルスモータ及びチャックテーブル10又は切削ユニット20をX軸方向、Y軸方向又はZ軸方向に移動自在に支持する周知のガイドレールを備える。
The X-axis moving unit is a processing feeding unit that moves the chuck table 10 in the X-axis direction by moving the chuck table 10 in the X-axis direction. The Y-axis moving means is an index feeding means for indexing and feeding the cutting
撮像ユニット30は、一方の切削ユニット20と一体的に移動するように、一方の切削ユニット20に固定されている。撮像ユニット30は、チャックテーブル10に保持された被加工物Wの表面WSを撮像する。撮像ユニット30は、図3に示すように、光照明器31と、光学系32と、被加工物Wの表面WSを撮像するCCD(Charge Coupled Device)カメラ33とを備えている。
The
光照明器31は、例えば、ハロゲン光源やLEDからなり、光量が制御ユニット60によって調整される同軸照明31aを備える。同軸照明31aは、光学系32に向けて光を発する。光学系32は、ケース32aと、ケース32aの上方に配置されかつ光照明器31の同軸照明31aが発した光をZ軸方向と平行にチャックテーブル10に保持された被加工物Wに向けて反射するハーフミラー32bと、ケース32a内に設けられかつハーフミラー32bの下側に配設された対物レンズ32cとを備える。
The
CCDカメラ33は、ハーフミラー32bの上方に設けられ、かつ光照明器31の同軸照明31aからの光がハーフミラー32b及び対物レンズ32cを介して照明された被加工物Wをハーフミラー32bを通して撮像して、撮像して得た画像を制御ユニット60に出力する。CCDカメラ33は、画像として、被加工物Wと切削ブレード21との位置合わせを行なうアライメントを遂行するための画像を得る。
The CCD camera 33 is provided above the
なお、同軸照明31aが発しかつハーフミラー32bにより反射された光は、CCDカメラ33及び対物レンズ32cの光軸と同軸である。また、光照明器31は、ケース32aの下端でかつ対物レンズ32cの外周に設けられて、チャックテーブル10に保持された被加工物Wの表面WSに光を照射する斜光照明31bを備える。斜光照明31bの光量は、制御ユニット60によって調整される。本発明は、同軸照明31a及び斜光照明31bの光量は、例えば印加されることが許容される最大電圧が印加された時の光量を100%とし、電圧が印加されない時の光量を0%として示す。
The light emitted from the
また、切削装置1は、切削前後の被加工物Wを収容するカセット71が載置されかつカセット71をZ軸方向に移動させるカセットエレベータ70と、切削後の被加工物Wを洗浄する洗浄装置90と、カセット71に被加工物Wを出し入れする図示しない搬出入手段と、被加工物Wを搬送する搬送ユニット80とを備える。搬送ユニット80は、被加工物Wを搬出入手段とチャックテーブル10との間で搬送する第1の搬送ユニット81と、被加工物Wをチャックテーブル10と洗浄装置90との間で搬送する第2の搬送ユニット82とを備える。
Further, the
制御ユニット60は、上述した構成要素をそれぞれ制御して、被加工物Wに対する加工動作を切削装置1に実施させるものである。なお、制御ユニット60は、コンピュータである。制御ユニット60は、加工動作の状態や画像などを表示する液晶表示装置などにより構成される表示装置91及びオペレータが加工内容情報などを登録する際に用いる入力装置92と接続されている。入力装置92は、表示装置91に設けられたタッチパネルと、キーボード等の外部入力装置とのうち少なくとも一つにより構成される。
The
制御ユニット60は、撮像ユニット30のCCDカメラ33が撮像して得た画像を、表示装置91に出力し、表示装置91に表示させる。制御ユニット60は、被加工物Wの切削前に被加工物Wと切削ブレード21との位置合わせを行なうアライメントを遂行し、被加工物Wの切削中に分割予定ラインLに実際に形成された加工溝PDの位置及び加工溝PDの幅方向の両縁に形成されるチッピングの大きさを許容できるか否かの判定を行うカーフチェックを遂行する。
The
制御ユニット60は、図1に示すように、加工条件登録部61と、撮像位置登録部62と、判定部63とを備える。
As shown in FIG. 1, the
加工条件登録部61は、図4に一例を示す加工条件PCを登録するものである。図4は、実施形態1に係る切削装置の加工条件登録部が登録する加工条件の一例を示す図である。図5は、図4に示された加工条件のキーパターンと分割予定ラインとの距離の一例を示す平面図である。
The machining
加工条件PCは、少なくとも、被加工物Wに形成されたキーパターンKPと、分割予定ラインLに形成する加工溝PDとの距離DSを含んでいる。キーパターンKPと形成する加工溝PDとの距離DSは、図5に示すように、アライメントを遂行する際に撮像するキーパターンKPの位置(座標情報ともいう)と形成する加工溝PDの幅方向の中心CとのY軸方向の距離DSである。なお、本発明でいう位置(座標情報)とは、被加工物Wの予め設定された基準位置からのX軸方向及びY軸方向の座標を示している。また、実施形態1において、加工条件PCは、被加工物Wの大きさSZ、加工送り速度PS、スピンドルの回転数RS、Y軸方向の割り出し送りする間隔FIを含んでいるが、本発明は、図4に示す加工条件PCに限定されない。また、実施形態1において、全てのデバイスDの同じ位置にキーパターンKPが形成されて、全ての分割予定ラインLのキーパターンKPと形成する加工溝PDとの距離DSが等しいので、加工条件PCは、距離DSを一つのみ含むが、全ての分割予定ラインLのキーパターンKPと形成する加工溝PDとの距離DSが等しくない場合には、少なくともキーパターンKPの形成された位置が異なる分割予定ラインL毎に距離DSを記憶しても良い。 The machining condition PC includes at least a distance DS between the key pattern KP formed on the workpiece W and the machining groove PD formed on the planned division line L. As shown in FIG. 5, the distance DS between the key pattern KP and the processing groove PD to be formed is the position (also referred to as coordinate information) of the key pattern KP to be imaged when performing alignment and the width direction of the processing groove PD to be formed. This is a distance DS in the Y-axis direction from the center C. In addition, the position (coordinate information) referred to in the present invention indicates coordinates in the X-axis direction and the Y-axis direction from the preset reference position of the workpiece W. Further, in the first embodiment, the machining condition PC includes the size SZ of the workpiece W, the machining feed speed PS, the rotation speed RS of the spindle, and the interval FI for indexing and feeding in the Y-axis direction. It is not limited to the processing conditions PC shown in FIG. Further, in the first embodiment, the key pattern KP is formed at the same position of all the devices D, and the distance DS between the key pattern KP of all the planned division lines L and the processing groove PD to be formed is equal. Includes only one distance DS, but if the distances DS between the key patterns KP of all the planned division lines L and the processed grooves PD to be formed are not equal, at least the positions where the key patterns KP are formed are different. The distance DS may be stored for each scheduled line L.
撮像位置登録部62は、切削ユニット20で実際に分割予定ラインLに加工溝PDを形成した図6に示す被加工物Wを用いて、カーフチェックを遂行する際に撮像ユニット30に撮像させる図7に示す撮像位置情報IPを登録するものである。図6は、実施形態1に係る切削装置の切削ユニットが実際に分割予定ラインに加工溝を形成した被加工物の一例を示す平面図である。図7は、実施形態1に係る切削装置の撮像位置登録部が登録する撮像位置情報の一例を示す図である。
The imaging
撮像位置情報IPは、撮像ユニット30が撮像して得た画像から加工溝PDの検出に適した撮像すべき図6に示す撮像位置ILの位置を示す情報である。撮像位置ILは、実施形態1において、加工溝PDが形成された分割予定ラインLを撮像可能となるTEG100が形成されていない位置である。撮像位置情報IPは、各分割予定ラインLと、各分割予定ラインLの撮像位置ILの位置とを1対1で対応付けている。
The imaging position information IP is information indicating the position of the imaging position IL shown in FIG. 6 to be imaged suitable for detection of the processing groove PD from the image obtained by the
判定部63は、被加工物Wの切削中にカーフチェックを遂行する際に、撮像ユニット30で撮像位置ILを撮像して得た画像から撮像ユニット30で撮像された撮像位置ILの加工溝PDの幅方向の中心CAのキーパターンKPとの図8に示す距離DSA又は欠けであるチッピングの大きさが許容できるか否かを判定するものである。図8は、実施形態1に係る切削装置の撮像ユニットがカーフチェックを遂行する際に撮像して得た画像の一例を示す図である。
When performing the kerf check during the cutting of the workpiece W, the
判定部63は、撮像ユニット30で撮像位置を撮像して得た画像からキーパターンKPからの加工溝PDの中心CAまでの距離DSAを算出する。判定部63は、加工条件登録部61が登録した距離DSと、撮像ユニット30で撮像位置を撮像して得た画像から算出した距離DSAとの差が予め定められた閾値以下であると、撮像位置IPの加工溝PDのキーパターンKPからの距離DSAが許容できると判定し、閾値を超えると許容できないと判定する。
The
判定部63は、加工溝PDの幅方向の両縁からのチッピングの図8に示す突出量EQが予め定められた閾値以下であると、撮像位置の加工溝PDに形成されたチッピングの大きさが許容できると判定し、閾値を超えると許容できないと判定する。判定部63は、加工溝PDのキーパターンKPからの距離DSAとチッピングの大きさの双方が許容できると判定した場合には、被加工物Wの切削を引き続き実行する。判定部63は、加工溝PDのキーパターンKPからの距離DSAとチッピングの大きさの少なくとも一方が許容できないと判定した場合には、表示装置91にエラーメッセージを表示し、切削加工を停止する。オペレータは、表示装置91にエラーメッセージが表示された場合には、切削ブレード21を交換する。
The
次に、切削装置1を用いた切削方法の流れを図面に基いて説明する。図9は、実施形態1に係る切削装置を用いた切削方法の流れを示すフローチャートである。
Next, the flow of the cutting method using the
切削装置1を用いた切削方法は、まず、オペレータが同一構造の被加工物Wを環状フレームFと一体として、カセット71内に収容し、切削装置1のカセットエレベータ70に載置する。切削装置1を用いた切削方法は、図9に示すように、加工条件登録ステップST1と、基準被加工物切削ステップST2と、撮像位置登録ステップST3と、切削ステップST4とを備える。
In the cutting method using the
加工条件登録ステップST1は、オペレータがカセット71をカセットエレベータ70に設置した後に、入力装置92を操作して制御ユニット60の加工条件登録部61に加工条件PCを登録するステップである。加工条件登録ステップST1では、オペレータが入力装置92を操作して、図4に示す一例を示す加工条件PCを制御ユニット60に登録する。加工条件登録ステップST1は、オペレータがアライメントを遂行する際に撮像するキーパターンKPの位置と、分割予定ラインLに形成する加工溝PDとの距離DSを登録する。加工条件登録ステップST1において、加工条件PCの登録が完了すると、基準被加工物切削ステップST2に進む。
The machining condition registration step ST1 is a step in which, after the operator installs the
基準被加工物切削ステップST2は、切削装置1がカセット71内に収容された複数の被加工物Wのうちの任意の一つの被加工物Wの全ての分割予定ラインLに加工溝PDを形成するステップである。
In the reference workpiece cutting step ST <b> 2, the
基準被加工物切削ステップST2では、オペレータが入力装置92を操作して、一つの被加工物に対する切削動作の開始指示を入力すると、制御ユニット60が実行する。基準被加工物切削ステップST2では、制御ユニット60が、カセット71から切削加工前の被加工物Wを1枚取り出し、搬出入手段及び搬送ユニット80により取り出した被加工物Wをチャックテーブル10の保持面10aに載置し、チャックテーブル10の保持面10aに吸引保持する。
In the standard workpiece cutting step ST2, when the operator operates the
次に、制御ユニット60は、X軸移動手段によりチャックテーブル10を一方の切削ユニット20の下方に向かって移動して、一方の切削ユニット20に取り付けられた撮像ユニット30の下方にチャックテーブル10に保持された被加工物Wを位置付け、撮像ユニット30に撮像させて互いに直交する分割予定ラインLのうちの一方のアライメントを遂行する。制御ユニット60は、アライメントを遂行する際に、予め設定された分割予定ラインLに対応付けられたキーパターンKPを撮像ユニット30に撮像させ、X軸方向に被加工物Wを移動させて、他のキーパターンKPを撮像ユニット30に撮像させる。
Next, the
制御ユニット60は、分割予定ラインLがX軸方向と平行になるようにチャックテーブル10を軸心回りに回転させ、キーパターンKPから加工条件PCに登録された距離DSに切削ブレード21が位置するように、被加工物Wと切削ブレード21との位置合わせを行う。そして、制御ユニット60は、回転駆動源に被加工物Wを軸心回りに90度回転して、互いに直交する分割予定ラインLのうちの他方のアライメントを一方と同様に遂行する。そして、制御ユニット60は、加工条件に基づいて、X軸移動手段とY軸移動手段とZ軸移動手段と回転駆動源により、切削ブレード21と被加工物Wとを分割予定ラインLに沿って相対的に移動させて、切削ブレード21により分割予定ラインLに加工溝PDを形成する。
The
制御ユニット60は、すべての分割予定ラインLに加工溝PDを形成して、被加工物Wを個々のデバイスDに分割すると、切削装置1の切削動作を停止し、撮像位置登録ステップST3に進む。
When the
撮像位置登録ステップST3は、オペレータが入力装置92を操作して制御ユニット60の撮像位置登録部62に図7に一例を示す撮像位置情報IPを登録するステップである。図10は、図9に示された切削方法の撮像位置登録ステップの流れを示すフローチャートである。
The imaging position registration step ST3 is a step in which the operator operates the
まず、撮像位置登録ステップST3では、オペレータが、入力装置92を操作して、撮像ユニット30に被加工物Wの外縁を少なくとも三か所撮像させる。すると、制御ユニット60は、チャックテーブル10に対する被加工物Wの基準位置(被加工物Wの中心の座標情報)を算出し、記憶する(ステップST31)。
First, in the imaging position registration step ST3, the operator operates the
撮像位置登録ステップST3は、オペレータが入力装置92を操作して、撮像ユニット30が撮像している画像を表示装置91に表示させ、オペレータが入力装置92を操作して、撮像ユニット30とチャックテーブル10に保持された全ての分割予定ラインLに加工溝PDが形成された被加工物Wとを相対的に移動させる。オペレータが、入力装置92を操作して、各分割予定ラインLのTEG100が形成されていない箇所を撮像位置ILとして制御ユニット60に座標情報を登録し、制御ユニット60が、各分割予定ラインLに対応付けて、撮像位置ILの座標情報を撮像位置情報IPとして記憶する(ステップST32)。全ての分割予定ラインLに対応付けて撮像位置ILの座標情報を記憶すると、切削ステップST4に進む。
In the imaging position registration step ST3, the operator operates the
切削ステップST4は、カセット71内に収容された被加工物Wにカーフチェックを遂行しながら順に全ての分割予定ラインLに加工溝PDを形成するステップである。
The cutting step ST4 is a step of forming the machining grooves PD in all the division lines L in order while performing a kerf check on the workpiece W accommodated in the
切削ステップST4では、制御ユニット60が、カセット71から切削加工前の被加工物Wを1枚取り出し、搬出入手段及び搬送ユニット80により取り出した被加工物Wをチャックテーブル10の保持面10aに載置し、チャックテーブル10の保持面10aに吸引保持する。
In the cutting step ST4, the
そして、制御ユニット60は、X軸移動手段によりチャックテーブル10を一方の切削ユニット20の下方に向かって移動して、一方の切削ユニット20に取り付けられた撮像ユニット30の下方にチャックテーブル10に保持された被加工物Wを位置付け、撮像ユニット30に被加工物Wの外縁の少なくとも三か所を撮像させて、被加工物Wの基準位置のチャックテーブル10に対する位置を算出して、撮像位置登録ステップST3で登録した撮像位置ILを新たに保持した被加工物Wに対応する補正処理を行う。これにより、撮像位置登録ステップST3で使用した被加工物Wと新たに保持した被加工物Wとが同じ位置でカーフチェックが遂行される。
Then, the
切削ステップST4では、制御ユニット60は、基準被加工物切削ステップST2と同様にアライメントを遂行し、加工条件PCに基づいて、X軸移動手段とY軸移動手段とZ軸移動手段と回転駆動源により、切削ブレード21と被加工物Wとを分割予定ラインLに沿って相対的に移動させて、切削ブレード21により分割予定ラインLを加工溝PDを形成する。
In the cutting step ST4, the
制御ユニット60は、予め定められた所定数の分割予定ラインLに加工溝PDを形成しつつ(全分割予定ラインLでカーフチェックをする事はほぼ無いため。基本的には5ライン毎とか、10ライン毎などのタイミングでカーフチェックを実施する。しかし、実施形態1は、任意のタイミングでカーフチェックを実施しても良いように、予め全ての分割予定ラインLの撮像位置ILを登録しておく。)、加工溝PDを形成したばかりの分割予定ラインLに対応付けられた撮像位置ILを撮像ユニット30に撮像させて、カーフチェックを遂行する。制御ユニット60は、すべての分割予定ラインLに加工溝PDを形成して、被加工物Wを個々のデバイスDに分割すると、チャックテーブル10を切削ユニット20の下方から退避させた後、チャックテーブル10の吸引保持を解除する。そして、制御ユニット60が、搬送ユニット80を用いて切削加工済みの被加工物Wを洗浄装置90に搬送し、洗浄装置90で洗浄した後、洗浄済みの被加工物Wをカセット71内に収容する。制御ユニット60は、切削前の被加工物Wを再度、チャックテーブル10上に載置し、前述の工程を繰り返して、カセット71内の全ての被加工物Wを個々のデバイスDに分割する。
The
前述した制御ユニット60は、CPU(central processing unit)のようなマイクロプロセッサを有する演算処理装置と、ROM(read only memory)又はRAM(random access memory)のようなメモリを有する記憶装置と、入出力インターフェース装置とを有する。制御ユニット60の演算処理装置は、記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムに従って演算処理を実施して、切削装置1を制御するための制御信号を、入出力インターフェース装置を介して切削装置1の上述した構成要素に出力する。また、制御ユニット60の加工条件登録部61と撮像位置登録部62と判定部63の機能は、演算処理装置が記憶装置に記憶されているコンピュータプログラムを実行し、必要な情報を記憶装置に記憶することにより実現される。
The
実施形態1に係る切削装置1は、基準被加工物切削ステップST2で加工溝PDを形成した基準となる被加工物Wを用いて、カーフチェック可能な撮像位置ILを登録しておき、撮像位置情報IPに基づいて、次の被加工物Wの加工中のカーフチェックを遂行する。また、切削装置1は、撮像位置ILを加工溝PDの検出が容易なTEG100が設けられていない位置としているので、カーフチェックを遂行する際に、加工溝PDを検出できないという事がないという効果を奏する。
The
また、実施形態1に係る切削装置1は、撮像位置ILを加工溝PDの検出が容易なTEG100が設けられていない位置としているので、カーフチェックの際に照明条件を調整する必要が生じないので、カーフチェックにかかる所要時間が長くなることを抑制することができる。その結果、実施形態1に係る切削装置1は、カーフチェックにかかる所要時間が長くなることを抑制しつつも正確に加工溝PDを検出することができる、という効果を奏する。
In the
〔実施形態2〕
本発明の実施形態2に係る切削装置を図面に基いて説明する。図11は、実施形態2に係る切削装置の撮像位置登録部が登録する撮像位置情報の一例を示す図である。
[Embodiment 2]
A cutting apparatus according to
実施形態2に係る切削装置1は、撮像位置登録部62が登録する撮像位置情報IP−2が実施形態1と異なること以外、実施形態1と同じである。
The
実施形態2に係る切削装置1の撮像位置登録部62が登録する撮像位置情報IP−2は、図11に示すように、分割予定ラインLと、撮像位置ILとに加え、同軸照明31aの光量、斜光照明31bの光量及びカーフチェックの2値画像の白黒反転の有無とを対応付けている。実施形態2に係る切削装置1の制御ユニット60は、図11に示す撮像位置情報IP−2に基いて、各分割予定ラインLのカーフチェックを遂行する。
As shown in FIG. 11, the imaging position information IP-2 registered by the imaging
実施形態2に係る切削装置1は、実施形態1と同様に、基準被加工物切削ステップST2で加工溝PDを形成した基準となる被加工物Wを用いて、カーフチェック可能な撮像位置ILを登録しておくので、カーフチェックを遂行する際に、加工溝PDを検出できないという事がないという効果を奏する。また、実施形態2に係る切削装置1は、撮像位置情報IP−2が、分割予定ラインLと撮像位置ILとに加え、同軸照明31aの光量、斜光照明31bの光量及びカーフチェックの2値画像の白黒反転の有無とを対応付けているので、加工溝PDを検出し易い条件を撮像位置情報IP−2に登録しておくことができる。
Similarly to the first embodiment, the
なお、本発明は、上記実施形態に限定されるものではない。即ち、本発明の骨子を逸脱しない範囲で種々変形して実施することができる。 The present invention is not limited to the above embodiment. That is, various modifications can be made without departing from the scope of the present invention.
1 切削装置
10 チャックテーブル
10a 保持面
20 切削ユニット(加工ユニット)
30 撮像ユニット
60 制御ユニット
61 加工条件登録部
62 撮像位置登録部
63 判定部
W 被加工物
WS 表面
L 分割予定ライン
D デバイス
PD 加工溝
KP キーパターン
DS,DSA 距離
IP 撮像位置情報
DESCRIPTION OF
30
Claims (1)
該制御ユニットは、
該被加工物に形成されたキーパターンと、該キーパターンと形成する該加工溝との距離とを登録する加工条件登録部と、
該加工ユニットで該加工溝を形成した被加工物を用い、該加工溝の検出に適した撮像すべき撮像位置情報を登録する撮像位置登録部と、
該撮像ユニットで撮像された該加工溝の該キーパターンとの距離又は欠けを判定する判定部と、を備える切削装置。 A chuck table that holds a workpiece on a holding surface, a machining unit that forms a machining groove in the workpiece held on the chuck table, an imaging unit that images the workpiece held on the chuck table, And a control unit that controls each component, and a cutting apparatus that forms a machining groove along the scheduled division line in a workpiece including a device in a region defined by a plurality of scheduled division lines formed on the surface. Because
The control unit is
A processing condition registration unit for registering a key pattern formed on the workpiece and a distance between the key pattern and the processing groove to be formed;
An imaging position registering unit for registering imaging position information to be imaged suitable for detection of the processing groove, using the workpiece in which the processing groove is formed in the processing unit;
A cutting device comprising: a determination unit that determines a distance or a chip of the machining groove imaged by the imaging unit.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016217282A JP2018078145A (en) | 2016-11-07 | 2016-11-07 | Cutting apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016217282A JP2018078145A (en) | 2016-11-07 | 2016-11-07 | Cutting apparatus |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018078145A true JP2018078145A (en) | 2018-05-17 |
Family
ID=62149401
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016217282A Pending JP2018078145A (en) | 2016-11-07 | 2016-11-07 | Cutting apparatus |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2018078145A (en) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019206074A (en) * | 2018-05-29 | 2019-12-05 | Tdk株式会社 | Preliminary working apparatus, working apparatus and worked condition detection device |
JP2020068347A (en) * | 2018-10-26 | 2020-04-30 | 株式会社ディスコ | Processing device |
JP2020098831A (en) * | 2018-12-17 | 2020-06-25 | 株式会社ディスコ | Division method for workpiece |
JP2020109816A (en) * | 2019-01-07 | 2020-07-16 | 株式会社ディスコ | Diagnostic method |
JP2020136541A (en) * | 2019-02-21 | 2020-08-31 | 株式会社ディスコ | Processing apparatus |
WO2020179702A1 (en) * | 2019-03-01 | 2020-09-10 | 京セラ株式会社 | Semiconductor device and production method for semiconductor device |
JP2020183012A (en) * | 2019-05-08 | 2020-11-12 | 株式会社東京精密 | Blade diagnosis method, device and dicing device |
JP2021068777A (en) * | 2019-10-21 | 2021-04-30 | 株式会社ディスコ | Detection method of street position of workpiece |
-
2016
- 2016-11-07 JP JP2016217282A patent/JP2018078145A/en active Pending
Cited By (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2019206074A (en) * | 2018-05-29 | 2019-12-05 | Tdk株式会社 | Preliminary working apparatus, working apparatus and worked condition detection device |
JP7353798B2 (en) | 2018-05-29 | 2023-10-02 | Tdk株式会社 | Pre-processing equipment, processing equipment and processing state detection equipment |
JP7185486B2 (en) | 2018-10-26 | 2022-12-07 | 株式会社ディスコ | processing equipment |
JP2020068347A (en) * | 2018-10-26 | 2020-04-30 | 株式会社ディスコ | Processing device |
JP2020098831A (en) * | 2018-12-17 | 2020-06-25 | 株式会社ディスコ | Division method for workpiece |
JP2020109816A (en) * | 2019-01-07 | 2020-07-16 | 株式会社ディスコ | Diagnostic method |
JP7271181B2 (en) | 2019-01-07 | 2023-05-11 | 株式会社ディスコ | diagnostic method |
JP2020136541A (en) * | 2019-02-21 | 2020-08-31 | 株式会社ディスコ | Processing apparatus |
JP7232076B2 (en) | 2019-02-21 | 2023-03-02 | 株式会社ディスコ | processing equipment |
KR20210115031A (en) * | 2019-03-01 | 2021-09-24 | 교세라 가부시키가이샤 | Semiconductor device and method of manufacturing semiconductor device |
CN113544818A (en) * | 2019-03-01 | 2021-10-22 | 京瓷株式会社 | Semiconductor device and method for manufacturing semiconductor device |
WO2020179702A1 (en) * | 2019-03-01 | 2020-09-10 | 京セラ株式会社 | Semiconductor device and production method for semiconductor device |
KR102622892B1 (en) * | 2019-03-01 | 2024-01-10 | 교세라 가부시키가이샤 | Semiconductor devices and methods of manufacturing semiconductor devices |
JP2020183012A (en) * | 2019-05-08 | 2020-11-12 | 株式会社東京精密 | Blade diagnosis method, device and dicing device |
JP2021068777A (en) * | 2019-10-21 | 2021-04-30 | 株式会社ディスコ | Detection method of street position of workpiece |
JP7368177B2 (en) | 2019-10-21 | 2023-10-24 | 株式会社ディスコ | How to detect the street position of the workpiece |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2018078145A (en) | Cutting apparatus | |
JP6465722B2 (en) | Processing equipment | |
JP2019040919A (en) | Cutting machine and method for detecting groove | |
US10658218B2 (en) | Cutting method of workpiece | |
KR20200087703A (en) | Method of cutting workpiece | |
JP3222205U (en) | Processing unit | |
JP2012151225A (en) | Method for measuring cut groove | |
JP6415349B2 (en) | Wafer alignment method | |
US11462439B2 (en) | Wafer processing method | |
JP7300938B2 (en) | Kerf recognition method | |
JP7242144B2 (en) | processing equipment | |
JP7191473B2 (en) | KEY PATTERN DETECTION METHOD AND DEVICE | |
JP7157631B2 (en) | processing equipment | |
JP2021030329A (en) | Cutting method and cutting device | |
JP2020098831A (en) | Division method for workpiece | |
JP7349260B2 (en) | processing equipment | |
JP7368138B2 (en) | processing equipment | |
JP2018113417A (en) | Cutting device | |
JP7430451B2 (en) | cutting equipment | |
JP2019014000A (en) | Setup method for cutting blade | |
JP2018129372A (en) | Dicing device and dicing method | |
KR20230171386A (en) | Processing apparatus | |
KR20210012906A (en) | Processing method | |
JP2016127118A (en) | Processing device | |
JP2022082167A (en) | Cutting device |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20190920 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20200626 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20200721 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20210209 |