JP2012151225A - Method for measuring cut groove - Google Patents

Method for measuring cut groove Download PDF

Info

Publication number
JP2012151225A
JP2012151225A JP2011007835A JP2011007835A JP2012151225A JP 2012151225 A JP2012151225 A JP 2012151225A JP 2011007835 A JP2011007835 A JP 2011007835A JP 2011007835 A JP2011007835 A JP 2011007835A JP 2012151225 A JP2012151225 A JP 2012151225A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
cutting
groove
street
workpiece
imaging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2011007835A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Koichi Makino
香一 牧野
Atsushi Komatsu
淳 小松
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Disco Corp
Original Assignee
Disco Abrasive Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Disco Abrasive Systems Ltd filed Critical Disco Abrasive Systems Ltd
Priority to JP2011007835A priority Critical patent/JP2012151225A/en
Publication of JP2012151225A publication Critical patent/JP2012151225A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Constituent Portions Of Griding Lathes, Driving, Sensing And Control (AREA)
  • Dicing (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To avoid the problem in which an image of a measurement groove being formed in a workpiece to detect the amount of displacement of a cutting blade cannot be sometimes taken by imaging means.SOLUTION: A range of imaging of a measurement groove G3 by second imaging means 46B is set as a location where an arbitrary street 2 elongated in an indexing direction is a reference line L and which is shifted by a distance a little longer than the integral multiple of an interval between the streets 2 in a working direction from the reference line L. Thus, an image of the measurement groove G3 can be taken as in such a manner that the image to be taken is obtained as a similar image when the measurement groove G3 is formed on any street 2.

Description

本発明は、半導体ウェーハ等のワークに対して、第1の切削ブレードによって第1の切削溝を形成し、次いで第2の切削ブレードによって第1の切削溝に第2の切削溝を形成するといったように1本のストリートに2段階にわたって切削溝を形成して切削加工するにあたり、第1の切削溝と第2の切削溝の位置をそれぞれ計測する切削溝の計測方法に関する。   In the present invention, for a workpiece such as a semiconductor wafer, a first cutting groove is formed by a first cutting blade, and then a second cutting groove is formed in the first cutting groove by a second cutting blade. Thus, the present invention relates to a cutting groove measuring method for measuring the positions of a first cutting groove and a second cutting groove when forming a cutting groove on one street in two stages.

半導体デバイス製造工程においては、半導体ウェーハ等の略円板状のワークの表面にICやLSI等による多数の電子回路を形成し、次いでワークの裏面を研削して所定の厚さに加工するなどの処理を施してから、電子回路が形成されたデバイス領域をストリートと呼ばれる分割予定ラインに沿って切削ブレードによって切断してワークを分割し、1枚のワークから多数のデバイスを得ている。   In the semiconductor device manufacturing process, a large number of electronic circuits such as IC and LSI are formed on the surface of a substantially disk-shaped workpiece such as a semiconductor wafer, and then the back surface of the workpiece is ground to a predetermined thickness. After the processing, the device region in which the electronic circuit is formed is cut by a cutting blade along a planned division line called street to divide the work, and a large number of devices are obtained from one work.

この種のワークにおいて、例えば、比較的厚いものであったり、TEG(Test Element Group)等の異質の層が部分的に形成されたりしているものの場合には、1回の切削では切断が困難な場合がある。そのような場合には、厚さの異なる2種類の切削ブレードを用い、1本のストリートに対してはじめに厚い方の第1の切削ブレードでワークの厚さの途中まで第1の切削溝を形成し、次いで第1の切削溝の底部に沿って薄い方の第2の切削ブレードを切り込ませて第2の切削溝を形成することによりワークを切断する手法が採られている。   In this type of workpiece, for example, when it is relatively thick or has a heterogeneous layer partially formed such as TEG (Test Element Group), it is difficult to cut by one cutting. There are cases. In such a case, two types of cutting blades having different thicknesses are used, and the first cutting groove is formed to the middle of the workpiece thickness with the thicker first cutting blade first for one street. Then, a technique is employed in which the workpiece is cut by forming a second cutting groove by cutting a thin second cutting blade along the bottom of the first cutting groove.

切削ブレードによりワークを切削加工する切削装置にあっては、ストリートに沿って正確に切削溝を形成するために、撮像手段でワーク表面を撮像してストリートの位置を検出し、検出したストリートの位置に切削ブレードの切削ラインを一致させるアライメントが行われる。撮像手段は切削ブレードの切削ラインと一致する切削基準線を有しており、この切削基準線をストリートに一致させることにより切削ブレードの切削ラインがストリートと一致し、これによりアライメントがなされるようになっている。   In a cutting device that cuts a workpiece with a cutting blade, in order to accurately form a cutting groove along the street, the surface of the workpiece is detected by imaging the workpiece surface with an imaging means, and the detected street position is detected. Alignment is performed so that the cutting lines of the cutting blades coincide with each other. The imaging means has a cutting reference line that matches the cutting line of the cutting blade, and by matching this cutting reference line to the street, the cutting line of the cutting blade matches the street so that alignment is achieved. It has become.

ところが、切削ブレードにあっては、例えば切削ブレードを支持するスピンドルが稼働により発熱して熱膨張するなどの理由によって撮像手段の切削基準線に対する切削ブレードの位置がずれてしまう場合がある。こうなると撮像手段の切削基準線をストリートに合わせても切削ブレードがストリートからずれてしまい、ストリートに沿って正確に切削溝が形成されないことになる。このため、定期的に切削溝を撮像手段で撮像して撮像手段の切削基準線と切削溝とのずれを計測して切削ブレードの変位量を検出し、この変位量に応じて切削ブレードの位置を補正することが行われている。   However, in the case of a cutting blade, the position of the cutting blade with respect to the cutting reference line of the image pickup means may be displaced due to, for example, the reason that the spindle that supports the cutting blade generates heat and thermally expands due to operation. In this case, even if the cutting reference line of the imaging means is aligned with the street, the cutting blade is displaced from the street, and the cutting groove is not accurately formed along the street. Therefore, the cutting groove is periodically imaged by the imaging means, the displacement between the cutting reference line of the imaging means and the cutting groove is measured to detect the amount of displacement of the cutting blade, and the position of the cutting blade is determined according to the amount of displacement. It has been done to correct.

しかしながら、上記のようにストリートに第1の切削溝と第2の切削溝を形成してワークを切断する場合においては、第2の切削溝は第1の切削溝の中に形成されているので撮像手段で撮像しにくく、このため第2の切削ブレードの変位量を検出することが困難であった。そこで第1の切削溝を形成する前に、ワークの外周部に第2の切削ブレードによってストリートに沿う方向に計測溝を形成し、この計測溝を撮像することによって第2の切削ブレードの変位量の検出を可能とする計測方法が提案されている(特許文献1)。   However, when the workpiece is cut by forming the first cutting groove and the second cutting groove on the street as described above, the second cutting groove is formed in the first cutting groove. It is difficult to pick up an image with the image pickup means, and thus it is difficult to detect the displacement amount of the second cutting blade. Therefore, before forming the first cutting groove, a measurement groove is formed in the direction along the street by the second cutting blade on the outer periphery of the workpiece, and the displacement amount of the second cutting blade is obtained by imaging the measurement groove. A measurement method that enables detection of the above has been proposed (Patent Document 1).

特許第4377702号公報Japanese Patent No. 4377702

しかして、上記のようにワークの外周部に形成した計測溝を撮像手段で撮像する場合には、図9に示すように、ワーク1の外周縁1aから一定距離内周側の外周縁1aと同心円ライン1bを中心とする箇所を撮像範囲として、ストリート2に形成された計測溝G3を撮像するといった方法が採られる。このように外周縁1aを基準として撮像範囲を設定する方法では、図10に示すように、撮像される画像はどのストリート2に計測溝G3を形成したかによって異なっている。すなわち、撮像される画像はストリート2とストリート2間のデバイス領域3の一部であるが、画角内でのストリート2とデバイス領域3の位置や形状は、計測溝G3ごとに異なっている。   Thus, when the measurement groove formed on the outer peripheral portion of the workpiece as described above is imaged by the imaging means, as shown in FIG. 9, the outer peripheral edge 1a on the inner peripheral side from the outer peripheral edge 1a of the workpiece 1 is A method is used in which the measurement groove G3 formed in the street 2 is imaged with the location centered on the concentric circle line 1b as the imaging range. As described above, in the method of setting the imaging range based on the outer peripheral edge 1a as described above, the image to be captured differs depending on which street 2 the measurement groove G3 is formed on. That is, the captured image is a part of the device region 3 between the street 2 and the street 2, but the position and shape of the street 2 and the device region 3 within the angle of view are different for each measurement groove G3.

このように撮像される画像が異なっていると、撮像範囲によっては計測溝が明確に撮像されにくいといったことが起こる。このため、光量等の撮像のための設定の変更が必要となり、一定の設定では全ての箇所の撮像範囲を計測溝が明確に撮像されるように撮像することができない場合があった。   If the images captured in this way are different, the measurement groove may not be clearly captured depending on the imaging range. For this reason, it is necessary to change settings for imaging such as the amount of light, and with certain settings, it may not be possible to capture the imaging range of all locations so that the measurement grooves are clearly imaged.

本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであり、その主な技術的課題は、切削ブレードの変位量を検出するためにワークに形成する計測溝を撮像手段で撮像することができない場合があるという問題を回避することができる切削溝の計測方法を提供することにある。   The present invention has been made in view of the above circumstances, and its main technical problem is that the measurement groove formed in the workpiece in order to detect the amount of displacement of the cutting blade may not be imaged by the imaging means. An object of the present invention is to provide a cutting groove measuring method capable of avoiding the problem of being present.

本発明の切削溝の計測方法は、ワークを保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持されたワークに切削加工を施す第1の切削ブレードを備えた第1の切削手段と、該第1の切削手段によって切削された領域に更に切削加工を施す該第1の切削ブレードよりも細い第2の切削ブレードを備えた第2の切削手段と、切削すべき領域であるストリートを検出する撮像手段とを具備する切削装置を用い、前記撮像手段によって前記チャックテーブルに保持されたワークのストリートを検出する工程と、前記第1の切削手段によってワークのストリートに所定深さの第1の切削溝を形成する工程と、前記第2の切削手段によって前記第1の切削溝に沿って第2の切削溝を形成する工程と、を実施している際に、ワークに形成された該第1の切削溝と該第2の切削溝の位置を計測する計測方法であって、前記第1の切削溝の位置を計測する際には、ワークに形成された該第1の切削溝を前記撮像手段で撮像してストリートと該第1の切削溝との位置関係を計測し、前記第2の切削溝の位置を計測する際には、前記第1の切削溝を形成する前にワークのストリートに前記第2の切削手段によって計測溝を形成し、該計測溝の所定箇所を撮像する様に前記撮像手段を位置付けてストリートと該計測溝との位置関係を計測し、該計測溝の該所定箇所は、割り出し方向に延びる任意のストリートを基準線として、該基準線から加工方向に、ストリート間隔の整数倍にプラスアルファの距離移動した箇所であることを特徴とする。   The cutting groove measuring method of the present invention includes a chuck table for holding a workpiece, a first cutting means having a first cutting blade for cutting the workpiece held on the chuck table, and the first cutting means. A second cutting means having a second cutting blade that is narrower than the first cutting blade for further cutting the area cut by the cutting means; an imaging means for detecting a street that is an area to be cut; And detecting a street of the workpiece held on the chuck table by the imaging means, and forming a first cutting groove having a predetermined depth on the street of the workpiece by the first cutting means. And the step of forming the second cutting groove along the first cutting groove by the second cutting means, the first formed on the workpiece. A measuring method for measuring the position of a cutting groove and the second cutting groove, wherein when measuring the position of the first cutting groove, the first cutting groove formed on a workpiece is measured by the imaging means. And measuring the positional relationship between the street and the first cutting groove, and when measuring the position of the second cutting groove, before forming the first cutting groove, The measurement groove is formed by the second cutting means, the imaging means is positioned so as to image a predetermined location of the measurement groove, the positional relationship between the street and the measurement groove is measured, and the predetermined location of the measurement groove Is characterized in that an arbitrary street extending in the indexing direction is used as a reference line, and a place is moved from the reference line in the machining direction by a plus alpha distance to an integral multiple of the street interval.

本発明によれば、撮像手段による計測溝の撮像範囲を、割り出し方向に延びる任意のストリートを基準線として、該基準線から加工方向に、ストリート間隔の整数倍にプラスアルファの距離移動した箇所とすることにより、計測溝がどのストリートに形成されていても、撮像される画像は同じものとなる。ここで画像が同じとは、異なるストリートを撮像しても、画角の中でのストリートおよびストリートの周囲部分の、位置や形状、あるいは色彩等が同じ様に映る状態を言う。このため、光量等の撮像のための設定を一定とした状態で、どのストリートに形成した計測溝であっても撮像することができる。   According to the present invention, the imaging range of the measurement groove by the imaging means is set to a place where an arbitrary street extending in the indexing direction is set as a reference line, and a plus alpha distance is moved from the reference line to the machining direction by an integral multiple of the street interval. By doing so, the captured image is the same regardless of the street where the measurement groove is formed. Here, the same image means a state in which, even if different streets are captured, the position, shape, color, and the like of the street and the surrounding portion of the street are reflected in the same angle of view. For this reason, it is possible to image any measurement groove formed in any street in a state where the setting for imaging such as the amount of light is constant.

本発明におけるワークは特に限定はされないが、例えば、シリコン、ガリウムヒ素(GaAs)、シリコンカーバイド(SiC)等からなる半導体ウェーハ、チップ実装用としてウェーハの裏面に設けられるDAF(Die Attach Film)等の粘着部材、半導体製品のパッケージ、セラミック、ガラス、サファイア(Al)系の無機材料基板、液晶表示装置を制御駆動するLCDドライバ等の各種電子部品、ミクロンオーダーの加工位置精度が要求される各種加工材料等が挙げられる。 The workpiece in the present invention is not particularly limited. For example, a semiconductor wafer made of silicon, gallium arsenide (GaAs), silicon carbide (SiC), or the like, or a DAF (Die Attach Film) provided on the back surface of the wafer for chip mounting. Adhesive members, semiconductor product packages, ceramics, glass, sapphire (Al 2 O 3 ) inorganic material substrates, various electronic components such as LCD drivers for controlling and driving liquid crystal display devices, and micron-order processing position accuracy is required Various processing materials are mentioned.

本発明によれば、切削ブレードの変位量を検出するためにワークに形成する計測溝を撮像手段で撮像することができない場合があるという問題を回避することができる切削溝の計測方法が提供されるといった効果を奏する。   ADVANTAGE OF THE INVENTION According to this invention, the measuring method of the cutting groove which can avoid the problem that the measuring groove formed in a workpiece | work in order to detect the displacement amount of a cutting blade may not be imaged with an imaging means is provided. There is an effect such as.

本発明の一実施形態に係るワークを環状のフレームに粘着テープを介して支持してなるワークユニットの斜視図である。It is a perspective view of the work unit formed by supporting the work concerning one embodiment of the present invention on the annular frame via the adhesive tape. 一実施形態の切削装置の斜視図である。It is a perspective view of the cutting device of one embodiment. 同切削装置が備える第1のY軸移動手段と第2のY軸移動手段およびこれらY軸移動手段に設けられた第1の切削手段と第2の切削手段を示す正面図である。It is a front view which shows the 1st Y-axis moving means with which the same cutting apparatus is equipped, the 2nd Y-axis moving means, and the 1st cutting means and 2nd cutting means which were provided in these Y-axis moving means. 同切削装置によってワークに形成される切削溝の断面図であって、(a)第1の切削ブレードによって形成される第1の切削溝、(b)第2の切削ブレードによって第1の切削溝に第2の切削溝を形成した状態を示している。It is sectional drawing of the cutting groove formed in a workpiece | work by the cutting device, (a) The 1st cutting groove formed by the 1st cutting blade, (b) The 1st cutting groove by the 2nd cutting blade The state which formed the 2nd cutting groove in is shown. 同切削装置の第1の切削ブレードと第2の切削ブレードとによってワークに切削加工を施す形態の一例を示す断面図である。It is sectional drawing which shows an example of the form which cuts a workpiece | work with the 1st cutting blade and 2nd cutting blade of the cutting device. 切削ブレードの変位量を検出するにあたり撮像手段で切削溝を撮像した画像であって、(a)第1の切削ブレードによって形成された第1の切削溝を示す画像、(b)第2の切削ブレードによって形成された第2の切削溝を示す画像である。In detecting the amount of displacement of the cutting blade, it is an image obtained by imaging the cutting groove by the imaging means, (a) an image showing the first cutting groove formed by the first cutting blade, and (b) the second cutting. It is an image which shows the 2nd cutting groove formed with the braid | blade. 一実施形態に係る計測方法を示す図であって、第2の切削ブレードでストリートに形成した計測溝の撮像手段による撮像範囲を示している。It is a figure which shows the measuring method which concerns on one Embodiment, Comprising: The imaging range by the imaging means of the measurement groove | channel formed in the street with the 2nd cutting blade is shown. 図7で示した撮像範囲を個々に示す図である。It is a figure which shows the imaging range shown in FIG. 7 separately. 従来の計測溝の計測方法を示す図であって、第2の切削ブレードでストリートに形成した計測溝の撮像手段による撮像範囲を示している。It is a figure which shows the measuring method of the conventional measurement groove | channel, Comprising: The imaging range by the imaging means of the measurement groove | channel formed in the street with the 2nd cutting blade is shown. 図9で示した撮像範囲を個々に示す図である。It is a figure which shows the imaging range shown in FIG. 9 separately.

以下、図面を参照して本発明の一実施形態を説明する。
(1)ワーク
はじめに、図1に示す一実施形態のワーク1を説明する。ワーク1は円板状の半導体ウェーハ等であり、表面には、互いに直交する複数のストリート2によって区画された多数の矩形状のデバイス領域3が形成されている。各デバイス領域3の表面には、ICやLSI等の電子回路9(図5参照)が形成されている。ワーク1の周面の所定箇所には、半導体の結晶方位を示す直線状の切欠き(オリエンテーション・フラット)4が形成されている。
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings.
(1) Workpiece First, a work 1 according to an embodiment shown in FIG. 1 will be described. The workpiece 1 is a disk-shaped semiconductor wafer or the like, and a large number of rectangular device regions 3 partitioned by a plurality of streets 2 orthogonal to each other are formed on the surface. On the surface of each device region 3, an electronic circuit 9 (see FIG. 5) such as an IC or LSI is formed. A linear notch (orientation flat) 4 indicating the crystal orientation of the semiconductor is formed at a predetermined location on the peripheral surface of the workpiece 1.

ワーク1は、図2に示す切削装置10によりストリート2に沿って切断され、多数のデバイス領域3すなわちデバイスに分割される。ワーク1は、図1に示すように、環状のフレーム5の内側の開口部5aに粘着テープ6を介して同心状に一体に支持された状態で切削装置10に供給される。粘着テープ6は片面が粘着面とされたもので、その粘着面に、フレーム5と、ワーク1の裏面が貼り付けられる。フレーム5は、金属等の板材からなる剛性を有するものであり、フレーム5を支持することによってワーク1は搬送される。以下、フレーム5にワーク1が粘着テープ6を介して支持されたもの全体を、ワークユニット7と称する。   The workpiece 1 is cut along the street 2 by the cutting apparatus 10 shown in FIG. 2 and divided into a large number of device regions 3, that is, devices. As shown in FIG. 1, the workpiece 1 is supplied to the cutting device 10 in a state of being supported integrally and concentrically via an adhesive tape 6 in an opening 5 a inside the annular frame 5. The adhesive tape 6 has an adhesive surface on one side, and the frame 5 and the back surface of the work 1 are attached to the adhesive surface. The frame 5 has rigidity made of a plate material such as metal, and the work 1 is conveyed by supporting the frame 5. Hereinafter, the entire work 1 supported by the frame 5 via the adhesive tape 6 is referred to as a work unit 7.

(2)切削装置
続いて、図2に示す切削装置10について説明する。この切削装置10は、一対の切削手段(第1の切削手段40Aと第2の切削手段40B)を互いに対向配置した2軸対向型であり、チャックテーブル32に保持されたワークユニット7のワーク1が、各切削手段40A,40Bにより切削加工される。切削加工に関する動作は、制御手段70によって制御される。
(2) Cutting Device Next, the cutting device 10 shown in FIG. 2 will be described. The cutting apparatus 10 is a biaxially opposed type in which a pair of cutting means (first cutting means 40A and second cutting means 40B) are arranged to face each other, and the work 1 of the work unit 7 held by the chuck table 32 is used. Are cut by the cutting means 40A and 40B. Operations relating to the cutting are controlled by the control means 70.

(2−1)切削装置の構成
図2の符合11は基台であり、この基台11の上面には、チャックテーブル32をX方向に移動可能に支持するX軸移動手段20が設けられている。X軸移動手段20は、基台11上に固定されたX方向に延びる一対のX軸リニアガイド21と、これらX軸リニアガイド21に摺動可能に組み込まれたX軸可動ベース部22と、X軸リニアガイド21間に回転自在に配設され、X軸可動ベース部22に螺合して連結されたX方向に延びるボールねじ23と、ボールねじ23を回転させるモータ24とから構成されている。このX軸移動手段20によると、モータ24が作動するとボールねじ23が回転し、X軸可動ベース部22がボールねじ23の回転方向に応じた方向(X1方向またはX2方向)にX軸リニアガイド21上を移動するようになっている。
(2-1) Configuration of Cutting Device Reference numeral 11 in FIG. 2 is a base, and an X-axis moving means 20 that supports the chuck table 32 so as to be movable in the X direction is provided on the upper surface of the base 11. Yes. The X-axis moving means 20 includes a pair of X-axis linear guides 21 fixed on the base 11 and extending in the X direction, an X-axis movable base portion 22 slidably incorporated in these X-axis linear guides 21, A ball screw 23 that is rotatably disposed between the X-axis linear guides 21 and that is screwed to and coupled to the X-axis movable base portion 22 extends in the X direction, and a motor 24 that rotates the ball screw 23. Yes. According to this X-axis moving means 20, when the motor 24 is operated, the ball screw 23 rotates, and the X-axis movable base portion 22 moves in the direction corresponding to the rotation direction of the ball screw 23 (X1 direction or X2 direction). 21 is moved.

X軸可動ベース部22の上面には、保持手段30が設けられている。保持手段30は、X軸可動ベース部22に固定された円筒状のテーブル台31と、テーブル台31上に回転可能に支持された円板状のチャックテーブル32とから構成されている。チャックテーブル32は、空気を吸引して生じる負圧作用により、水平な上面の保持面32aに載置されるワーク1を吸着して保持する一般周知の真空チャック式のものである。保持面32aはワーク1と同等の直径を有しており、ワーク1は、保持面32aに粘着テープ6を介して同心状に載置されて吸着、保持される。   A holding means 30 is provided on the upper surface of the X-axis movable base portion 22. The holding means 30 includes a cylindrical table base 31 fixed to the X-axis movable base portion 22, and a disk-shaped chuck table 32 that is rotatably supported on the table base 31. The chuck table 32 is of a generally known vacuum chuck type that holds and holds the workpiece 1 placed on the holding surface 32a on the horizontal upper surface by a negative pressure effect generated by sucking air. The holding surface 32a has a diameter equivalent to that of the workpiece 1, and the workpiece 1 is placed concentrically on the holding surface 32a via the adhesive tape 6 and is sucked and held.

チャックテーブル32には、ワークユニット7のフレーム5を保持する複数のクランプ35が配設されている。チャックテーブル32は、テーブル台31の内部に設けられている図示せぬ回転駆動機構によって一方向、または両方向に回転させられる。そして保持手段30は、X軸移動手段20により、X方向の手前側(X1側)の搬入出位置と、奥側(X2側)の加工位置との間を往復移動させられる。   The chuck table 32 is provided with a plurality of clamps 35 for holding the frame 5 of the work unit 7. The chuck table 32 is rotated in one direction or both directions by a rotation drive mechanism (not shown) provided in the table base 31. The holding means 30 is reciprocated between the loading / unloading position on the near side (X1 side) in the X direction and the processing position on the far side (X2 side) by the X-axis moving means 20.

図2において基台11上のX2側には、加工位置をまたぐ門型コラム12が固定されている。門型コラム12は、加工位置の両側にY方向に並んで立設された一対の脚部12aと、これら脚部12aの上端部間に水平に架け渡された梁部12bとを有している。そして、梁部12bの前面(X1側の面)のY1側に、第1の切削手段40Aが第1のY軸移動手段50Aおよび第1のZ軸移動手段60Aを介してY方向およびZ方向に移動可能に設けられ、梁部12bの前面のY2側に、第2の切削手段40Bが第2のY軸移動手段50Bおよび第2のZ軸移動手段60Bを介してY方向およびZ方向に移動可能に設けられている。   In FIG. 2, a gate-type column 12 straddling the processing position is fixed to the X2 side on the base 11. The portal column 12 has a pair of leg portions 12a erected side by side in the Y direction on both sides of the machining position, and a beam portion 12b horizontally spanned between the upper end portions of the leg portions 12a. Yes. Then, on the Y1 side of the front surface (X1 side surface) of the beam portion 12b, the first cutting means 40A is in the Y direction and the Z direction via the first Y axis moving means 50A and the first Z axis moving means 60A. The second cutting means 40B is provided in the Y direction and the Z direction via the second Y axis moving means 50B and the second Z axis moving means 60B on the Y2 side of the front surface of the beam portion 12b. It is provided to be movable.

第1のY軸移動手段50Aと第2のY軸移動手段50Bは同一の構成であって、梁部12bに固定された上下一対のY方向に延びるY軸リニアガイド51を共通構成要素としており、このY軸リニアガイド51と、Y軸リニアガイド51に摺動可能に組み込まれたY軸可動ベース部52と、Y軸リニアガイド51間に回転自在に配設されたY方向に延びるボールねじ53と、ボールねじ53を回転させるモータ54(図2では第2のY軸移動手段50B側のものは不図示、図3参照)とから構成されている。ボールねじ53は、第1のY軸移動手段50A側のものと第2のY軸移動手段50B側のものが1本ずつ具備されており、一方のボールねじ53は第1のY軸移動手段50AのY軸可動ベース部52に螺合して連結され、他方のボールねじ53は第2のY軸移動手段50BのY軸可動ベース部52に螺合して連結されている。   The first Y-axis moving unit 50A and the second Y-axis moving unit 50B have the same configuration, and a pair of upper and lower Y-axis linear guides 51 fixed to the beam portion 12b are used as a common component. The Y-axis linear guide 51, the Y-axis movable base 52 slidably incorporated in the Y-axis linear guide 51, and a ball screw extending in the Y direction rotatably disposed between the Y-axis linear guides 51. 53 and a motor 54 for rotating the ball screw 53 (in FIG. 2, the second Y-axis moving means 50B side is not shown, see FIG. 3). One ball screw 53 is provided on the first Y-axis moving means 50A side and one on the second Y-axis moving means 50B side. One ball screw 53 is the first Y-axis moving means. The other ball screw 53 is screwed and connected to the Y-axis movable base portion 52 of the second Y-axis moving means 50B.

第1のY軸移動手段50Aおよび第2のY軸移動手段50BにおけるY軸可動ベース部52の前面に、第1のZ軸移動手段60Aおよび第2のZ軸移動手段60Bがそれぞれ設けられている。第1のZ軸移動手段60Aと第2のZ軸移動手段60Bは同一の構成であって、Y軸可動ベース部52に固定されたY方向に離間する一対のZ軸リニアガイド61と、これらZ軸リニアガイド61に摺動可能に組み込まれたZ軸可動ベース部62と、Z軸リニアガイド61間に回転自在に配設され、Z軸可動ベース部62に螺合して連結されたZ方向(鉛直方向)に延びるボールねじ63と、ボールねじ63を回転させるモータ64とから構成されている。   The first Z-axis moving unit 60A and the second Z-axis moving unit 60B are provided on the front surface of the Y-axis movable base 52 in the first Y-axis moving unit 50A and the second Y-axis moving unit 50B, respectively. Yes. The first Z-axis moving unit 60A and the second Z-axis moving unit 60B have the same configuration, and are a pair of Z-axis linear guides 61 that are fixed to the Y-axis movable base portion 52 and are separated in the Y direction, and these A Z-axis movable base 62 that is slidably incorporated in the Z-axis linear guide 61 and a Z-axis that is rotatably disposed between the Z-axis linear guide 61 and screwed to the Z-axis movable base 62. The ball screw 63 extends in the direction (vertical direction), and the motor 64 rotates the ball screw 63.

第1のZ軸移動手段60AのZ軸可動ベース部62の下端部に、第1の切削手段40Aが固定されており、第2のZ軸移動手段60BのZ軸可動ベース部62の下端部に、第2の切削手段40Bが固定されている。第1の切削手段40Aと第2の切削手段40Bは、それぞれ直方体状のスピンドルハウジング41を有している。図3に示すように、スピンドルハウジング41内には、スピンドルシャフト42およびスピンドルシャフト42を回転駆動するモータ43が収容されており、スピンドルハウジング41の先端開口から突出するスピンドルシャフト42の先端に、第1の切削手段40Aにおいては円板状の第1の切削ブレード44Aが取り付けられ、第2の切削手段40Bにおいては円板状の第2の切削ブレード44Bが取り付けられている。   The first cutting means 40A is fixed to the lower end of the Z-axis movable base 62 of the first Z-axis moving means 60A, and the lower end of the Z-axis movable base 62 of the second Z-axis moving means 60B. In addition, the second cutting means 40B is fixed. Each of the first cutting means 40A and the second cutting means 40B has a rectangular parallelepiped spindle housing 41. As shown in FIG. 3, a spindle shaft 42 and a motor 43 that rotationally drives the spindle shaft 42 are accommodated in the spindle housing 41, and the first end of the spindle shaft 42 protruding from the front end opening of the spindle housing 41 The disc-shaped first cutting blade 44A is attached to the first cutting means 40A, and the disc-shaped second cutting blade 44B is attached to the second cutting means 40B.

切削ブレード44A,44Bは厚さが異なっており、第1の切削ブレード44Aの方が第2の切削ブレード44Bよりも厚さが大きいものとなっている。第1の切削ブレード44Aの厚さは例えば40μm程度とされ、第2の切削ブレード44Bの厚さは例えば20μm程度とされる。   The cutting blades 44A and 44B have different thicknesses, and the thickness of the first cutting blade 44A is larger than that of the second cutting blade 44B. The thickness of the first cutting blade 44A is, for example, about 40 μm, and the thickness of the second cutting blade 44B is, for example, about 20 μm.

切削手段40A,40Bは、スピンドルシャフト42がY方向と平行、かつ互いに同軸的で、切削ブレード44A,44Bが取り付けられた先端どうしが向かい合う状態に、スピンドルハウジング41が第1のZ軸移動手段60Aおよび第2のZ軸移動手段60Bにおける各Z軸可動ベース部62の下端部にそれぞれ固定されている。図2に示すように、スピンドルハウジング41の先端には、ワーク1に切削水を供給する切削水供給ノズルを有し、かつ回転するワーク1で跳ね上げられる切削水の飛散を抑えるブレードカバー45が取り付けられている。   In the cutting means 40A and 40B, the spindle housing 41 is in the state in which the spindle shaft 42 is parallel to the Y direction and coaxial with each other, and the tips to which the cutting blades 44A and 44B are attached face each other. And fixed to the lower end of each Z-axis movable base 62 in the second Z-axis moving means 60B. As shown in FIG. 2, a blade cover 45 that has a cutting water supply nozzle that supplies cutting water to the workpiece 1 and suppresses the scattering of the cutting water splashed by the rotating workpiece 1 is provided at the tip of the spindle housing 41. It is attached.

第1のY軸移動手段50Aおよび第2のY軸移動手段50Bによると、それぞれのモータ54が作動するとボールねじ53が正逆いずれかの方向に回転し、Y軸可動ベース部52がボールねじ53の回転方向に応じた方向(Y1方向またはY2方向)にY軸リニアガイド51に沿って移動する。これにより、第1の切削手段40Aおよび第2の切削手段40Bが、互いに接近したり離間したりするようにY方向に沿って移動する。   According to the first Y-axis moving means 50A and the second Y-axis moving means 50B, when the respective motors 54 are operated, the ball screw 53 rotates in either the forward or reverse direction, and the Y-axis movable base portion 52 becomes the ball screw. It moves along the Y-axis linear guide 51 in a direction (Y1 direction or Y2 direction) according to the rotation direction of 53. Accordingly, the first cutting means 40A and the second cutting means 40B move along the Y direction so as to approach or separate from each other.

また、第1のZ軸移動手段60Aおよび第2のZ軸移動手段60Bによると、それぞれのモータ64が作動するとボールねじ63が正逆いずれかの方向に回転し、Z軸可動ベース部62がボールねじ53の回転方向に応じた方向(上方:Z1方向または下方:Z2方向)にZ軸リニアガイド61に沿って昇降する。これにより、第1の切削手段40Aおよび第2の切削手段40Bが、それぞれZ方向に沿って昇降する。   Also, according to the first Z-axis moving means 60A and the second Z-axis moving means 60B, when each motor 64 is operated, the ball screw 63 rotates in either the forward or reverse direction, and the Z-axis movable base 62 is The ball screw 53 moves up and down along the Z-axis linear guide 61 in a direction (upward: Z1 direction or downward: Z2 direction) according to the rotation direction of the ball screw 53. As a result, the first cutting means 40A and the second cutting means 40B move up and down along the Z direction, respectively.

図2に示すように、各切削手段40A,40Bにおいては、スピンドルハウジング41の前面(X1側の面)であってブレードカバー45に近接する位置に、チャックテーブル32に保持されたワーク1の表面を撮像する第1の撮像手段46Aおよび第2の撮像手段46Bがそれぞれ固定されている。これら撮像手段46A,46Bで撮像された撮像は制御手段70に供給され、制御手段70では各撮像手段46A,46Bで撮像された撮像に基づいて上記アライメントが行われる。   As shown in FIG. 2, in each of the cutting means 40 </ b> A and 40 </ b> B, the surface of the work 1 held by the chuck table 32 at a position close to the blade cover 45 on the front surface (X1 side surface) of the spindle housing 41. The first image pickup means 46A and the second image pickup means 46B for picking up images are respectively fixed. The images picked up by the image pickup means 46A and 46B are supplied to the control means 70, and the control means 70 performs the alignment based on the images picked up by the image pickup means 46A and 46B.

(2−2)切削装置による切削加工
次いで、制御手段70で制御される切削装置10の動作を説明する。
はじめに、X軸移動手段20のX軸可動ベース部22が図2でX1方向に移動して保持手段30が搬入出位置に位置付けられ、チャックテーブル32が真空運転される。そして保持手段30上に、オペレータによって、ワーク1を上側に配し、かつ粘着テープ6を下側に配したワークユニット7を運搬し、チャックテーブル32に粘着テープ6を介してワーク1を同心状に載置する。すると、ワーク1は粘着テープ6を介してチャックテーブル32の保持面32aに吸着、保持される。また、クランプ35によってフレーム5を保持し、保持手段30でワークユニット7が保持された状態とする。ワーク1は、一方向に延びるストリート2が加工方向のX方向と平行になるようにチャックテーブル32に保持される。
(2-2) Cutting by Cutting Device Next, the operation of the cutting device 10 controlled by the control means 70 will be described.
First, the X-axis movable base portion 22 of the X-axis moving means 20 moves in the X1 direction in FIG. 2, the holding means 30 is positioned at the carry-in / out position, and the chuck table 32 is operated in vacuum. Then, the work unit 7 having the work 1 placed on the upper side and the adhesive tape 6 placed on the lower side is transported on the holding means 30 by the operator, and the work 1 is concentrically arranged on the chuck table 32 via the adhesive tape 6. Placed on. Then, the work 1 is attracted and held on the holding surface 32 a of the chuck table 32 via the adhesive tape 6. Further, the frame 5 is held by the clamp 35, and the work unit 7 is held by the holding means 30. The workpiece 1 is held on the chuck table 32 so that the street 2 extending in one direction is parallel to the X direction of the machining direction.

次に、X軸可動ベース部22が図2においてX2方向に移動してワーク1が保持手段30ごと加工位置に搬送される。そしてこの加工位置において、ストリートの幅方向中央に各切削ブレード44A,44Bの切削ラインを一致させるアライメントがなされる。   Next, the X-axis movable base portion 22 moves in the X2 direction in FIG. 2, and the workpiece 1 is transported to the machining position together with the holding means 30. At this processing position, alignment is performed so that the cutting lines of the cutting blades 44A and 44B coincide with the center of the street in the width direction.

アライメントは、はじめにチャックテーブル32に対するワーク1の周方向の角度ずれを調べる。ワーク1の角度ずれは、切削手段40A,40Bのうちのいずれか一方の撮像手段46A(46B)の直下にワーク1を位置付けてワーク1の表面を撮像し、ワーク1におけるX方向に所定間隔をおいて設定された2つのアライメントスポット内のデバイス領域3を検出する。そしてこれら2つのデバイス領域3内の、該デバイス領域3に形成されている所定パターンの基準点のxy座標に基づき、ワーク1の角度ずれを検出する。角度ずれがあった場合はチャックテーブル32を回転させ、2つの所定パターンの基準点のy座標を一致させる。ここでは、y座標が一致した2つの所定パターンの基準点のxy座標を、アライメント基準座標として記憶しておく。   For alignment, first, the angular deviation in the circumferential direction of the workpiece 1 with respect to the chuck table 32 is examined. The angular deviation of the workpiece 1 is determined by positioning the workpiece 1 immediately below one of the imaging means 46A (46B) of the cutting means 40A and 40B, imaging the surface of the workpiece 1, and setting a predetermined interval in the X direction of the workpiece 1. The device region 3 in the two alignment spots set in the above is detected. Then, an angular deviation of the workpiece 1 is detected based on the xy coordinates of the reference points of a predetermined pattern formed in the device region 3 in the two device regions 3. If there is an angle shift, the chuck table 32 is rotated to match the y coordinates of the reference points of the two predetermined patterns. Here, the xy coordinates of the reference points of the two predetermined patterns whose y coordinates coincide with each other are stored as alignment reference coordinates.

次に、第1の切削手段40A側の第1の撮像手段46Aおよび第2の切削手段40B側の第2の撮像手段46Bによってワーク1の表面を撮像してストリート2の位置を検出する。以上でアライメントを終え、続いてアライメントにしたがって各切削手段40A,40BによりX方向に沿ったストリート2が順次切断される。   Next, the surface of the workpiece 1 is imaged by the first imaging unit 46A on the first cutting unit 40A side and the second imaging unit 46B on the second cutting unit 40B side, and the position of the street 2 is detected. The alignment is completed as described above. Subsequently, the streets 2 along the X direction are sequentially cut by the cutting means 40A and 40B according to the alignment.

ストリート2の切断は、X軸可動ベース部22をX方向に移動させることによりワーク1をX方向に移動させながら、各切削ブレード44A,44Bの下端の刃先をストリート2に切り込ませる加工送りによってなされる。また、切断するストリート2の選択は、予め把握しているストリート2の間隔分だけ切削手段40A,40BをY方向に移動させる割り出し送りによってなされる。   The cutting of the street 2 is performed by machining feed that cuts the cutting edge at the lower end of each of the cutting blades 44A and 44B into the street 2 while moving the workpiece 1 in the X direction by moving the X-axis movable base portion 22 in the X direction. Made. The selection of the street 2 to be cut is made by index feed that moves the cutting means 40A and 40B in the Y direction by the interval of the street 2 that is grasped in advance.

本実施形態では、1本のストリート2に対してはじめに厚さが大きい方の第1の切削ブレード44Aによって図4(a)に示すようにワーク1の厚さの途中まで第1の切削溝G1を形成し、次いで第1の切削溝G1の底部に沿って厚さが小さい方の第2の切削ブレード44Bを図4(b)に示すように粘着テープ6に達するまで切り込ませて第2の切削溝G2を形成することにより、ワーク1を切断する。このように1本のストリート2に対し2段階で切削溝を形成するには、例えば、図5に示すように、第1の切削ブレード44Aと第2の切削ブレード44Bとを、割り出し方向であるY方向にストリート2の複数本分の間隔をおいて配置し、ストリート2に対する切削加工と第1の切削ブレード44A側(Y1側)への割り出し送りを交互に行うことによって効率的に遂行することができる。   In the present embodiment, the first cutting groove G1 is halfway through the thickness of the workpiece 1 as shown in FIG. Then, the second cutting blade 44B having a smaller thickness is cut along the bottom of the first cutting groove G1 until it reaches the adhesive tape 6 as shown in FIG. The workpiece 1 is cut by forming the cutting groove G2. Thus, in order to form the cutting groove in two stages on one street 2, for example, as shown in FIG. 5, the first cutting blade 44A and the second cutting blade 44B are in the indexing direction. Efficiently performing by arranging a plurality of streets 2 at intervals in the Y direction, and alternately performing the cutting process on the streets 2 and the index feed to the first cutting blade 44A side (Y1 side). Can do.

X方向すなわち加工方向に延びる全てのストリート2に第1の切削溝G1と第2の切削溝G2とを形成して切断を終えたら、チャックテーブル32を90°回転させて割り出し方向と平行であったストリート2をX方向と平行にし、該ストリート2の全てに上記と同様に第1の切削ブレード44Aにより第1の切削溝G1を形成し、第1の切削溝G1に第2の切削ブレード44Bによって第2の切削溝G2を形成してストリート2を切断する。   After the first cutting groove G1 and the second cutting groove G2 are formed in all the streets 2 extending in the X direction, that is, in the machining direction, and the cutting is finished, the chuck table 32 is rotated by 90 ° to be parallel to the indexing direction. The street 2 is made parallel to the X direction, the first cutting groove G1 is formed on the entire street 2 by the first cutting blade 44A in the same manner as described above, and the second cutting blade 44B is formed in the first cutting groove G1. Thus, the second cutting groove G2 is formed and the street 2 is cut.

以上で全てのストリート2が切断されてワーク1が各デバイス領域3すなわちデバイスに分割される。ワーク1が分割された後は、保持手段30が搬入出位置に戻ってチャックテーブル32の真空運転が停止し、クランプ35によるフレーム5の保持が解除される。この後、オペレータによりワークユニット7がチャックテーブル32から取り上げられ、ワーク1は次の工程(例えば洗浄工程)に移される。   As described above, all the streets 2 are cut, and the work 1 is divided into each device region 3, that is, a device. After the workpiece 1 is divided, the holding means 30 returns to the loading / unloading position, the vacuum operation of the chuck table 32 is stopped, and the holding of the frame 5 by the clamp 35 is released. Thereafter, the work unit 7 is picked up from the chuck table 32 by the operator, and the work 1 is moved to the next process (for example, a cleaning process).

以上が切削装置10の1回の処理サイクルであり、このサイクルが連続して行われ、多数のワーク1がデバイスに分割される。ところで、複数のワーク1を連続して切削加工していくうちに、例えば各切削手段40A,40Bが発熱して熱膨張するなどの理由によって各切削ブレード44A,44Bの位置がそれぞれの撮像手段46A,46Bの切削基準線からずれてしまう場合がある。そこで、定期的に各切削ブレード44A,44Bの変位量を検出してこれら切削ブレード44A,44Bの位置を補正することを行う。   The above is one processing cycle of the cutting apparatus 10, and this cycle is performed continuously, and a large number of workpieces 1 are divided into devices. By the way, while cutting a plurality of workpieces 1 continuously, the positions of the cutting blades 44A and 44B are changed to the respective imaging means 46A for the reason that the cutting means 40A and 40B generate heat and thermally expand, for example. , 46B may deviate from the cutting reference line. Therefore, the displacement amounts of the cutting blades 44A and 44B are periodically detected to correct the positions of the cutting blades 44A and 44B.

(2−3)切削ブレードの位置補正
第1の切削ブレード44Aの変位量を検出するには、第1の切削ブレード44Aで形成した検出対象の第1の切削溝G1を形成した後、割り出し方向の位置を保持したまま、該検出対象の第1の切削溝G1の所定箇所を第1の撮像手段46Aで撮像する。制御手段70にはその撮像信号が供給され、制御手段70は撮像信号に基づき画像を形成する。図6(a)はこのときの画像の一例を示しており、同図で示す画像によると、第1の切削溝G1は第1の撮像手段46Aの切削基準線46aから割り出し方向のY1方向に距離S1だけずれており、したがって第1の切削ブレード44Aの切削基準線46aからの変位量はY1方向に距離S1であると検出される。
(2-3) Position correction of the cutting blade In order to detect the amount of displacement of the first cutting blade 44A, after forming the first cutting groove G1 to be detected formed by the first cutting blade 44A, the indexing direction The predetermined position of the first cutting groove G1 to be detected is imaged by the first imaging means 46A while maintaining the position. The image pickup signal is supplied to the control means 70, and the control means 70 forms an image based on the image pickup signal. FIG. 6A shows an example of the image at this time. According to the image shown in FIG. 6, the first cutting groove G1 extends from the cutting reference line 46a of the first imaging means 46A in the Y1 direction of the indexing direction. Therefore, the displacement amount of the first cutting blade 44A from the cutting reference line 46a is detected as the distance S1 in the Y1 direction.

次に、第2の切削ブレード44Bの変位量を検出するには、図7に示すように、まだ第1の切削溝G1が形成されていない任意のストリート2に、第2の切削ブレード44Bによって所定距離の計測溝G3を形成する。このように第1の切削溝G1を形成する前にストリート2に第2の切削手段40Bによって計測溝G3を形成したら、計測溝G3の所定箇所を撮像する様に第2の撮像手段46Bを位置付け、該所定箇所を撮像する。   Next, in order to detect the amount of displacement of the second cutting blade 44B, as shown in FIG. 7, the second cutting blade 44B is placed on an arbitrary street 2 where the first cutting groove G1 is not yet formed. A measurement groove G3 having a predetermined distance is formed. As described above, when the measurement groove G3 is formed on the street 2 by the second cutting means 40B before the first cutting groove G1 is formed, the second imaging means 46B is positioned so as to image a predetermined portion of the measurement groove G3. Then, the predetermined portion is imaged.

図7のF1,F2は、上記計測溝G3を第2の撮像手段46Bで撮像する上記所定箇所に対応した撮像範囲を示している。図7では、Y方向に並ぶ下側の2つの撮像範囲F1と上側の撮像範囲F2が2つずつ示されているが、これら撮像範囲F1,F2は、割り出し方向(図7でY方向)に延びる任意のストリート2を基準線Lとして、基準線Lから加工方向(図7でX方向)にストリート2の間隔の整数倍にプラスアルファの距離移動した箇所である。   F1 and F2 in FIG. 7 indicate an imaging range corresponding to the predetermined location in which the measurement groove G3 is imaged by the second imaging means 46B. In FIG. 7, two lower imaging ranges F1 and two upper imaging ranges F2 arranged in the Y direction are shown, but these imaging ranges F1 and F2 are in the indexing direction (Y direction in FIG. 7). An arbitrary street 2 that extends is defined as a reference line L, and is moved from the reference line L in the machining direction (X direction in FIG. 7) by a distance of plus alpha to an integral multiple of the interval of the streets 2.

図7では、下側の2つの撮像範囲F1は基準線Lから加工方向にストリート2の間隔の2倍+距離αの位置にあり、上側の2つの撮像範囲F2は基準線Lから加工方向にストリート2の間隔の3倍+距離αの位置にある。基準線Lは制御手段70で作成されるが、例えば上記のチャックテーブル32の角度ずれを調べる際に記憶したアライメント基準座標に基づいて作成することができる。図7では計測溝G3を複数(4つ)示しているが、これら計測溝G3は、第2の切削ブレード44Bの変位量を定期的に検出する際に1本ずつ形成されるものである。   In FIG. 7, the lower two imaging ranges F1 are at a position twice the distance of the street 2 + distance α in the processing direction from the reference line L, and the upper two imaging ranges F2 are in the processing direction from the reference line L. It is at a position of 3 times the interval of street 2 + distance α. The reference line L is created by the control means 70. For example, the reference line L can be created based on the alignment reference coordinates stored when the angle deviation of the chuck table 32 is examined. In FIG. 7, a plurality (four) of the measurement grooves G3 are shown, but these measurement grooves G3 are formed one by one when periodically detecting the amount of displacement of the second cutting blade 44B.

第2の撮像手段46Bにより計測溝G3が撮像されると、制御手段70にはその撮像信号が供給され、制御手段70はその撮像信号に基づき画像を形成する。図6(b)はこのときの画像の一例を示しており、同図で示す画像によると、計測溝G3は第2の撮像手段46Bの切削基準線46bから割り出し方向のY2方向に距離S2だけずれており、したがって第2の切削ブレード44Bの切削基準線Lからの変位量はY2方向に距離S2であると検出される。   When the measurement groove G3 is imaged by the second imaging unit 46B, the imaging signal is supplied to the control unit 70, and the control unit 70 forms an image based on the imaging signal. FIG. 6B shows an example of the image at this time. According to the image shown in FIG. 6, the measurement groove G3 is a distance S2 in the Y2 direction of the indexing direction from the cutting reference line 46b of the second imaging means 46B. Therefore, the displacement amount of the second cutting blade 44B from the cutting reference line L is detected as the distance S2 in the Y2 direction.

以上のようにして第1の切削ブレード44Aと第2の切削ブレード44Bの変位量が検出されたら、検出された変位量に応じて第1の切削ブレード44Aと第2の切削ブレード44Bの位置を、各撮像手段46A,46Bの切削基準線46a,46bにそれぞれ合うように補正する。第1の切削ブレード44Aの位置補正は、第1のY軸移動手段50Aにより第1の切削手段40Aを変位量だけ変位方向と逆方向に移動させることによりなされる。また、第2切削ブレード44Bの位置補正は、第2のY軸移動手段50Bにより第2の切削手段40Bを変位量だけ変位方向と逆方向に移動させることによりなされる。このようにして各切削ブレード44A,44Bの変位量を補正することにより、各切削ブレード44A,44Bの切削ラインはストリート2の中央に一致し、ストリート2が正常に切削加工されるようになる。   When the displacement amounts of the first cutting blade 44A and the second cutting blade 44B are detected as described above, the positions of the first cutting blade 44A and the second cutting blade 44B are determined according to the detected displacement amount. Then, correction is made so as to match the cutting reference lines 46a and 46b of the imaging means 46A and 46B, respectively. The position of the first cutting blade 44A is corrected by moving the first cutting means 40A by the amount of displacement in the direction opposite to the displacement direction by the first Y-axis moving means 50A. The position of the second cutting blade 44B is corrected by moving the second cutting means 40B by the amount of displacement in the direction opposite to the displacement direction by the second Y-axis moving means 50B. By correcting the displacement amount of each of the cutting blades 44A and 44B in this way, the cutting line of each of the cutting blades 44A and 44B coincides with the center of the street 2, and the street 2 is normally cut.

上記の本実施形態による第2の切削ブレード44Bの変位量を検出するために形成する計測溝G3を計測する方法によれば、第2の撮像手段46Bによる計測溝G3の撮像範囲F1,F2を、割り出し方向に延びる任意のストリート2を基準線Lとして、基準線Lから加工方向にストリート2の間隔の整数倍にプラスアルファの距離移動した箇所とすることにより、図8に示すように、計測溝G3がどのストリート2に形成されていても、撮像される画像は同じものとなる。ここで画像が同じとは、異なるストリート2を撮像しても、画角の中でのストリート2およびストリート2の周囲部分(例えば電子回路9)の、位置や形状、あるいは色彩等が同じ様に映る状態を言う。このため、光量等の撮像のための設定を一定とした状態で、どのストリート2に形成した計測溝G3であっても撮像することができる。したがって、第2の切削ブレード44Bの変位量を検出するためにワーク1に形成する計測溝G3を第2の撮像手段46Bで撮像することができないという不具合を回避することができる。   According to the method of measuring the measurement groove G3 formed in order to detect the displacement amount of the second cutting blade 44B according to the present embodiment, the imaging ranges F1 and F2 of the measurement groove G3 by the second imaging means 46B are set. As shown in FIG. 8, the measurement is performed by setting an arbitrary street 2 extending in the indexing direction as a reference line L and moving it from the reference line L by an integral multiple of the interval between the streets 2 in the processing direction to a plus alpha distance. Regardless of which street 2 the groove G3 is formed on, the captured image is the same. Here, the same image means that even if different streets 2 are imaged, the position, shape, color, etc. of street 2 and the surrounding area (for example, electronic circuit 9) in the angle of view are the same. Say the state of reflection. For this reason, it is possible to image any measurement groove G3 formed in any street 2 in a state where the setting for imaging such as the amount of light is constant. Therefore, it is possible to avoid the problem that the measurement groove G3 formed in the workpiece 1 in order to detect the displacement amount of the second cutting blade 44B cannot be imaged by the second imaging means 46B.

なお、上記実施形態では、割り出し方向に延びる任意のストリート2を基準線Lとし、この基準線Lから加工方向にストリート2の間隔の整数倍にプラスアルファの距離移動した箇所を計測溝G3の撮像範囲としているが、該撮像範囲としては、ストリート2に関係なく基準線Lから加工方向に一定距離離れた任意の箇所であってもよい。更には、基準線Lを設定せず、上記アライメント基準座標を基準位置とし、この基準位置から加工方向に一定距離離れた任意の箇所を計測溝G3の撮像範囲としてもよい。いずれの場合も撮像範囲の画像はストリート2が異なっていても同じようなものとなり、計測溝G3を撮像可能であるといった効果に変わりはない。   In the above-described embodiment, an arbitrary street 2 extending in the indexing direction is set as the reference line L, and an image of the measurement groove G3 is captured at a location moved from the reference line L by an integral multiple of the interval between the streets 2 in the processing direction. Although it is a range, the imaging range may be an arbitrary location that is a fixed distance away from the reference line L in the processing direction regardless of the street 2. Furthermore, without setting the reference line L, the alignment reference coordinate may be set as a reference position, and an arbitrary position away from the reference position in the processing direction by a certain distance may be set as the imaging range of the measurement groove G3. In either case, the image in the imaging range is the same even if the street 2 is different, and the effect that the measurement groove G3 can be imaged remains unchanged.

1…ワーク、2…ストリート、10…切削装置、32…チャックテーブル、40A…第1の切削手段、40B…第2の切削手段、44A…第1の切削ブレード、44B…第2の切削ブレード、46A…第1の撮像手段、46B…第2の撮像手段、G1…第1の切削溝、G2…第2の切削溝、G3…計測溝、L…基準線。   DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Work, 2 ... Street, 10 ... Cutting apparatus, 32 ... Chuck table, 40A ... 1st cutting means, 40B ... 2nd cutting means, 44A ... 1st cutting blade, 44B ... 2nd cutting blade, 46A ... first imaging means, 46B ... second imaging means, G1 ... first cutting groove, G2 ... second cutting groove, G3 ... measurement groove, L ... reference line.

Claims (1)

ワークを保持するチャックテーブルと、該チャックテーブルに保持されたワークに切削加工を施す第1の切削ブレードを備えた第1の切削手段と、該第1の切削手段によって切削された領域に更に切削加工を施す該第1の切削ブレードよりも細い第2の切削ブレードを備えた第2の切削手段と、切削すべき領域であるストリートを検出する撮像手段とを具備する切削装置を用い、
前記撮像手段によって前記チャックテーブルに保持されたワークのストリートを検出する工程と、前記第1の切削手段によってワークのストリートに所定深さの第1の切削溝を形成する工程と、前記第2の切削手段によって前記第1の切削溝に沿って第2の切削溝を形成する工程と、を実施している際に、ワークに形成された該第1の切削溝と該第2の切削溝の位置を計測する計測方法であって、
前記第1の切削溝の位置を計測する際には、ワークに形成された該第1の切削溝を前記撮像手段で撮像してストリートと該第1の切削溝との位置関係を計測し、
前記第2の切削溝の位置を計測する際には、前記第1の切削溝を形成する前にワークのストリートに前記第2の切削手段によって計測溝を形成し、該計測溝の所定箇所を撮像する様に前記撮像手段を位置付けてストリートと該計測溝との位置関係を計測し、
該計測溝の該所定箇所は、割り出し方向に延びる任意のストリートを基準線として、該基準線から加工方向に、ストリート間隔の整数倍にプラスアルファの距離移動した箇所であること
を特徴とする切削溝の計測方法。
A chuck table for holding the workpiece, a first cutting means having a first cutting blade for cutting the workpiece held on the chuck table, and further cutting the region cut by the first cutting means Using a cutting apparatus comprising: a second cutting means having a second cutting blade that is thinner than the first cutting blade to be processed; and an imaging means for detecting a street that is a region to be cut.
A step of detecting a street of the work held on the chuck table by the imaging means, a step of forming a first cutting groove of a predetermined depth in the street of the work by the first cutting means, and the second Forming a second cutting groove along the first cutting groove by a cutting means, and the first cutting groove and the second cutting groove formed on the workpiece. A measurement method for measuring a position,
When measuring the position of the first cutting groove, the first cutting groove formed on the workpiece is imaged by the imaging means, and the positional relationship between the street and the first cutting groove is measured.
When measuring the position of the second cutting groove, the measuring groove is formed by the second cutting means on the street of the work before the first cutting groove is formed, and a predetermined position of the measuring groove is defined. Position the imaging means to image and measure the positional relationship between the street and the measurement groove,
The predetermined part of the measurement groove is a part moved from the reference line in the machining direction by an integral multiple of the street interval plus an alpha distance from an arbitrary street extending in the indexing direction as a reference line. Groove measurement method.
JP2011007835A 2011-01-18 2011-01-18 Method for measuring cut groove Pending JP2012151225A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011007835A JP2012151225A (en) 2011-01-18 2011-01-18 Method for measuring cut groove

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011007835A JP2012151225A (en) 2011-01-18 2011-01-18 Method for measuring cut groove

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JP2012151225A true JP2012151225A (en) 2012-08-09

Family

ID=46793227

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2011007835A Pending JP2012151225A (en) 2011-01-18 2011-01-18 Method for measuring cut groove

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP2012151225A (en)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016032075A (en) * 2014-07-30 2016-03-07 株式会社ディスコ Wafer processing method
JP2017038028A (en) * 2015-08-14 2017-02-16 株式会社ディスコ Method for detecting positional deviation of cutting blade
DE102016226180A1 (en) 2015-12-24 2017-06-29 Disco Corporation Wafer processing method
US9870961B2 (en) 2015-12-28 2018-01-16 Disco Corporation Wafer processing method
US10668569B2 (en) * 2015-05-15 2020-06-02 Disco Corporation Laser processing apparatus
JP7462497B2 (en) 2020-07-10 2024-04-05 株式会社ディスコ Processing Equipment

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0569437A (en) * 1991-05-14 1993-03-23 Tokyo Seimitsu Co Ltd Grooving control device of dicing apparatus
JPH06326187A (en) * 1993-05-11 1994-11-25 Tokyo Seimitsu Co Ltd Controlling method for dicing processing and processing quality-control system
JPH09293695A (en) * 1996-04-24 1997-11-11 Sharp Corp Dicing device equipped with visual inspection function
JP2001129822A (en) * 1999-11-08 2001-05-15 Tokyo Seimitsu Co Ltd Dicing machine, method for checking its kerf, and kerf checking system

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0569437A (en) * 1991-05-14 1993-03-23 Tokyo Seimitsu Co Ltd Grooving control device of dicing apparatus
JPH06326187A (en) * 1993-05-11 1994-11-25 Tokyo Seimitsu Co Ltd Controlling method for dicing processing and processing quality-control system
JPH09293695A (en) * 1996-04-24 1997-11-11 Sharp Corp Dicing device equipped with visual inspection function
JP2001129822A (en) * 1999-11-08 2001-05-15 Tokyo Seimitsu Co Ltd Dicing machine, method for checking its kerf, and kerf checking system

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016032075A (en) * 2014-07-30 2016-03-07 株式会社ディスコ Wafer processing method
US10668569B2 (en) * 2015-05-15 2020-06-02 Disco Corporation Laser processing apparatus
JP2017038028A (en) * 2015-08-14 2017-02-16 株式会社ディスコ Method for detecting positional deviation of cutting blade
DE102016226180A1 (en) 2015-12-24 2017-06-29 Disco Corporation Wafer processing method
KR20170076554A (en) 2015-12-24 2017-07-04 가부시기가이샤 디스코 Method of machining wafer
CN106920775A (en) * 2015-12-24 2017-07-04 株式会社迪思科 The processing method of chip
US9779994B2 (en) 2015-12-24 2017-10-03 Disco Corporation Wafer processing method
TWI702642B (en) * 2015-12-24 2020-08-21 日商迪思科股份有限公司 Wafer processing method
CN106920775B (en) * 2015-12-24 2021-02-19 株式会社迪思科 Method for processing wafer
US9870961B2 (en) 2015-12-28 2018-01-16 Disco Corporation Wafer processing method
JP7462497B2 (en) 2020-07-10 2024-04-05 株式会社ディスコ Processing Equipment

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9396976B2 (en) Cutting apparatus
TWI648127B (en) Plate processing method
JP4916215B2 (en) Wafer cutting equipment
TWI657494B (en) Wafer processing method
KR102448222B1 (en) Laser machining method
JP2012028635A (en) Cutting method
JP5214332B2 (en) Wafer cutting method
JP6607639B2 (en) Wafer processing method
JP2012151225A (en) Method for measuring cut groove
US9047671B2 (en) Platelike workpiece with alignment mark
US20210210375A1 (en) Processing apparatus
KR102186214B1 (en) Center detection method for wafer in processing equipment
JP2018078145A (en) Cutting apparatus
JP5208644B2 (en) Processing method and processing apparatus
CN110370471B (en) Processing device
US11462439B2 (en) Wafer processing method
JP6498073B2 (en) Method for detecting misalignment of cutting blade
JP6037705B2 (en) Workpiece processing method
JP7300938B2 (en) Kerf recognition method
CN111489981A (en) Method and device for detecting key pattern
JP6689542B2 (en) Cutting equipment
JP5538015B2 (en) Method of determining machining movement amount correction value in machining apparatus
JP7368138B2 (en) processing equipment
TW201903865A (en) Processing method for sector-shaped wafer piece
JP6195484B2 (en) Wafer processing method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20131206

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20141112

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20141119

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20150311