JP2018067274A5 - - Google Patents

Claims (10)

1. 特許価値評価の対象とする複数個の特許を母集団とし、この母集団を記憶する母集団記憶部と、
   この母集団に属する各特許に関する公報等による公表情報を評価項目とし、この評価項目を記憶する評価項目記憶部と、
   前記母集団記憶部及び前記評価項目記憶部に記憶された情報を読み出し、前記母集団に属する各特許について、その評価項目の内容に応じて決定された確率変数Ｘ_ａｂ（ａ番目の特許についてのｂ番目の評価項目）としたとき、この確率変数Ｘ_ａｂを各特許について連乗演算して、ａ番目の特許についての特許基準価値を、全評価項目数をｈとして、Π（全評価項目）Ｘ_ａ＝Ｘ_ａ１×Ｘ_ａ２×・・・×Ｘ_ａｂ×・・・×Ｘ_ａｈとして求めると共に、ｍを母集団の技術分野の特性に合わせて設定された格差パラメータとしたとき、Ｙ_ａｂ＝log（X_ａｂ ^ｍ）を演算して、確率変数Ｘ_ａｂをＹ_ａｂに変換し、各評価項目についてのＹ_ａｂの平均Ｅ（Ｙ_ｂ）及び分散Ｖ（Ｙ_ｂ）を演算する平均及び分散演算部と、
   前記平均Ｅ（Ｙ_ｂ）が０、前記分散Ｖ（Ｙ_ｂ）が１となるように確率変数Ｙ_ａｂを基準値化し、得られた評価項目基準値を、各特許について合算し、評価項目基準値合計Σ（全評価項目）Ｙ_ａ＝Ｙ_ａ１＋Ｙ_ａ２＋・・・＋Ｙ_ａｂ＋・・・Ｙ_ａｈを、全ての特許について演算する基準値合計演算部と、
   基準値化される前の確率変数Ｙ_ａｂの平均Ｅ（Ｙ_ｂ）及び分散Ｖ（Ｙ_ｂ）と前記評価項目基準値合計Σ（全評価項目）Ｙを記憶する確率変数記憶部と、
   このΣ（全評価項目）Ｙが正規分布から外れる度合いを計算し、前記評価項目のうち、１又は複数個の評価項目を外して再度Σ（全評価項目）Ｙを演算し、Σ（全評価項目）Ｙが正規分布から外れる度合いが最小になるようにする最適化演算部と、
   正規分布に近似される評価項目基準値合計に基づいて、Π（全評価項目）Ｘ＝｛exp（Σ（全評価項目）Y）｝^１／ｍにより、各特許についての特許基準価値を演算する特許基準価値演算部と、
   前記特許基準価値を記憶する特許基準価値記憶部と、
   を備えたことを特徴とする特許価値評価装置。
2. 正規分布に近似される評価項目基準値合計に基づいて、特許力偏差値＝５０＋（Σ（全評価項目）Ｙ）×１０／ｈ^０．５により、各特許についての特許力偏差値を演算する特許力偏差値演算部と、
   前記特許力偏差値を記憶する特許力偏差値記憶部と、
   を有することを特徴とする請求項１に記載の特許価値評価装置。
3. 特許価値評価の対象とする複数個の特許を母集団とし、この母集団を記憶する母集団記憶部と、
   この母集団に属する各特許に関する公報等による公表情報を評価項目とし、この評価項目を記憶する評価項目記憶部と、
   前記母集団記憶部及び前記評価項目記憶部に記憶された情報を読み出し、前記母集団に属する各特許について、その評価項目の内容に応じて決定された確率変数Ｘ_ａｂ（ａ番目の特許についてのｂ番目の評価項目）としたとき、この確率変数Ｘ_ａｂを各特許について連乗演算して、ａ番目の特許についての特許基準価値を、全評価項目数をｈとして、Π（全評価項目）Ｘ_ａ＝Ｘ_ａ１×Ｘ_ａ２×・・・×Ｘ_ａｂ×・・・×Ｘ_ａｈとして求めると共に、ｍを母集団の技術分野の特性に合わせて設定された格差パラメータとしたとき、Ｙ_ａｂ＝log（X_ａｂ ^ｍ）を演算して、確率変数Ｘ_ａｂをＹ_ａｂに変換し、各評価項目についてのＹ_ａｂの平均Ｅ（Ｙ_ｂ）及び分散Ｖ（Ｙ_ｂ）を演算する平均及び分散演算部と、
   前記平均Ｅ（Ｙ_ｂ）が０、前記分散Ｖ（Ｙ_ｂ）が１となるように確率変数Ｙ_ａｂを基準値化し、得られた評価項目基準値を、各特許について合算し、評価項目基準値合計Σ（全評価項目）Ｙ_ａ＝Ｙ_ａ１＋Ｙ_ａ２＋・・・＋Ｙ_ａｂ＋・・・Ｙ_ａｈを、全ての特許について演算する基準値合計演算部と、
   基準値化される前の確率変数Ｙ_ａｂの平均Ｅ（Ｙ_ｂ）及び分散Ｖ（Ｙ_ｂ）と前記評価項目基準値合計Σ（全評価項目）Ｙを記憶する確率変数記憶部と、
   このΣ（全評価項目）Ｙが正規分布から外れる度合いを計算し、前記評価項目のうち、１又は複数個の評価項目を外して再度Σ（全評価項目）Ｙを演算し、Σ（全評価項目）Ｙが正規分布から外れる度合いが最小になるようにする最適化演算部と、
   正規分布に近似される評価項目基準値合計に基づいて、特許力偏差値＝５０＋（Σ（全評価項目）Ｙ）×１０／ｈ^０．５により、各特許についての特許力偏差値を演算する特許力偏差値演算部と、
   前記特許力偏差値を記憶する特許力偏差値記憶部と、
   を備えたことを特徴とする特許価値評価装置。
4. 前記格差パラメータｍを入力して、演算に使用する格差パラメータｍを変更することができる格差入力処理部を有することを特徴とする請求項１乃至３のいずれか１項に記載の特許価値評価装置。
5. 前記特許基準価値をもとに特許価値を分析するために、前記特許基準価値をグラフ化するグラフ描画部を有することを特徴とする請求項１に記載の特許価値評価装置。
6. 前記特許力偏差値をもとに特許価値を分析するために、前記特許力偏差値をグラフ化するグラフ描画部を有することを特徴とする請求項３に記載の特許価値評価装置。
7. 前記グラフ描画部は、前記特許基準価値を経時的にグラフ化することを特徴とする請求項５に記載の特許価値評価装置。
8. 特許価値評価の対象とする複数個の特許を母集団とし、この母集団に属する各特許に関する公報等による公表情報を評価項目とし、
   前記母集団に属する各特許について、その評価項目の内容を確率変数Ｘ_ａｂ（ａ番目の特許についてのｂ番目の評価項目）としたとき、この確率変数Ｘ_ａｂを各特許について連乗演算して、ａ番目の特許についての特許基準価値を、全評価項目数をｈとして、Π（全評価項目）Ｘ_ａ＝Ｘ_ａ１×Ｘ_ａ２×・・・×Ｘ_ａｂ×・・・×Ｘ_ａｈとして求めると共に、ｍを母集団の技術分野の特性に合わせて設定された格差パラメータとしたとき、Ｙ_ａｂ＝log（X_ａｂ ^ｍ）を演算して、確率変数Ｘ_ａｂをＹ_ａｂに変換し、各評価項目についてのＹ_ａｂの平均Ｅ（Ｙ_ｂ）及び分散Ｖ（Ｙ_ｂ）を演算し、
   前記平均Ｅ（Ｙ_ｂ）が０、前記分散Ｖ（Ｙ_ｂ）が１となるように確率変数Ｙ_ａｂを基準値化し、得られた評価項目基準値を、各特許について合算し、評価項目基準値合計Σ（全評価項目）Ｙ_ａ＝Ｙ_ａ１＋Ｙ_ａ２＋・・・＋Ｙ_ａｂ＋・・・Ｙ_ａｈを、全ての特許について演算し、
   このΣ（全評価項目）Ｙが正規分布から外れる度合いを計算し、前記評価項目のうち、１又は複数個の評価項目を外して再度Σ（全評価項目）Ｙを演算し、Σ（全評価項目）Ｙが正規分布から外れる度合いが最小になるようにする最適化し、
   正規分布に近似される評価項目基準値合計に基づいて、特許基準価値及び／又は特許力偏差値を演算することを特徴とする特許価値評価方法。
9. 前記特許基準価値及び／又は特許力偏差値を経時的にグラフ化することを特徴とする請求項８に記載の特許価値評価方法。
10. 前記特許基準価値及び／又は前記特許力偏差値を、特許情報の書誌的事項及びキーワードと組み合わせて情報解析を行うことを特徴とする請求項８又は９に記載の特許価値評価方法。