JP2018066712A5 - - Google Patents
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Claims (20)
- 開口部が形成された筐体を有し、前記開口部を介して面の反射特性を計測する計測装置であって、
前記筐体内に設けられ、前記開口部を介して前記面を撮像する撮像部と、
前記撮像部により撮像される領域のうち一部における前記面からの反射光を検出する検出部と、
前記検出部による検出に基づいて前記一部における前記面の反射特性を得る処理部と、
前記撮像部により得られた前記領域の画像を表示する表示部と、
を含み、
前記表示部により表示される前記領域の画像は、前記領域における前記一部を示す情報を含むことを特徴とする計測装置。 - 前記表示部は、前記処理部で得られた前記反射特性を表示することを特徴とする請求項1に記載の計測装置。
- ユーザにより操作される入力部を含み、
前記処理部は、前記入力部により入力された信号に基づいて、前記反射特性を得ることを特徴とする請求項1又は2に記載の計測装置。 - ユーザにより操作される入力部を含み、
前記処理部は、前記入力部により入力された信号に基づいて、前記反射特性と、前記撮像部により得られた前記領域の画像とを選択的に前記表示部に表示させることを特徴とする請求項1乃至3のうちいずれか1項に記載の計測装置。 - 前記処理部は、前記表示部により表示された前記領域の画像と、前記反射特性とを対応付けて記憶することを特徴とする請求項1乃至4のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記検出部は、前記一部における前記面に光を照射して前記面からの反射光を検出し、
前記撮像部は、前記検出部により前記一部における前記面に光が照射されている状態で、前記領域に光を照射して前記領域を撮像することにより、前記情報を含む前記領域の画像を得ることを特徴とする請求項1乃至5のうちいずれか1項に記載の計測装置。 - 前記撮像部は、前記一部における前記面に前記検出部により照射される光の強度より小さい強度の光を前記領域に照射して前記領域を撮像することを特徴とする請求項6に記載の計測装置。
- 前記表示部により表示される前記領域の画像は、前記一部を示すマークを前記情報として含むことを特徴とする請求項1乃至7のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記マークは、前記一部の外形を示すマークを含むことを特徴とする請求項8に記載の計測装置。
- 前記表示部は、前記筐体に設けられたディスプレイを含むことを特徴とする請求項1乃至9のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- ユーザにより操作される入力部を含み、
前記表示部と前記入力部とは、前記筐体上において互いに隣接して設けられていることを特徴とする請求項1に記載の計測装置。 - ユーザにより操作される入力部と、
ユーザにより把持される把持部と、を含み、
前記入力部と前記把持部とは、前記筐体上において互いに隣接して設けられていることを特徴とする請求項1に記載の計測装置。 - 前記反射特性は、鏡面光沢度、ヘイズ、DOIおよび写像性のうち少なくとも1つを含むことを特徴とする請求項1乃至10のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記撮像部は、前記開口部を介して前記面の撮像領域に光を照射して前記撮像領域を撮像し、
前記検出部は、前記開口部を介して、前記撮像領域の一部である計測領域に光を照射して前記計測領域からの反射光を検出する、ことを特徴とする請求項1乃至13のうちいずれか1項に記載の計測装置。 - 前記表示部は、前記撮像部により得られた前記撮像領域の画像を表示し、
前記表示部により表示される前記撮像領域の画像は、前記撮像領域における前記計測領域の位置を示す情報を含む、ことを特徴とする請求項14に記載の計測装置。 - 前記面の反射特性は、前記筐体により前記計測領域が覆われた状態で計測される、ことを特徴とする請求項14又は15に記載の計測装置。
- 前記撮像領域は、前記計測領域を含み、前記計測領域より大きい、ことを特徴とする請求項14乃至16のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記表示部により表示される前記撮像領域の画像は、前記撮像領域のうち前記計測領域とそれ以外の部分とが視覚的に区別されるように生成された前記情報を含む、ことを特徴とする請求項14乃至17のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記撮像部は、前記検出部が前記反射光を検出している間、前記撮像領域への光の照射を中断する、ことを特徴とする請求項14乃至18のうちいずれか1項に記載の計測装置。
- 前記筐体は、ユーザにより把持された状態で前記面上を移動可能に構成されている、ことを特徴とする請求項1乃至19のうちいずれか1項に記載の計測装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016207260A JP6869002B2 (ja) | 2016-10-21 | 2016-10-21 | 計測装置 |
EP17195391.2A EP3312591B1 (en) | 2016-10-21 | 2017-10-09 | Measuring apparatus |
US15/785,753 US10634611B2 (en) | 2016-10-21 | 2017-10-17 | Measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016207260A JP6869002B2 (ja) | 2016-10-21 | 2016-10-21 | 計測装置 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2018066712A JP2018066712A (ja) | 2018-04-26 |
JP2018066712A5 true JP2018066712A5 (ja) | 2019-11-28 |
JP6869002B2 JP6869002B2 (ja) | 2021-05-12 |
Family
ID=60051400
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016207260A Active JP6869002B2 (ja) | 2016-10-21 | 2016-10-21 | 計測装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US10634611B2 (ja) |
EP (1) | EP3312591B1 (ja) |
JP (1) | JP6869002B2 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP6481188B1 (ja) * | 2018-06-20 | 2019-03-13 | スガ試験機株式会社 | 写像性測定器 |
US11195030B2 (en) | 2018-09-14 | 2021-12-07 | Honda Motor Co., Ltd. | Scene classification |
US11034357B2 (en) | 2018-09-14 | 2021-06-15 | Honda Motor Co., Ltd. | Scene classification prediction |
USD978685S1 (en) * | 2020-02-14 | 2023-02-21 | Proceq Ag | Housing for glossmeter |
USD962803S1 (en) * | 2020-03-13 | 2022-09-06 | Purdue Research Foundation | Food allergen detector |
JP2022187663A (ja) | 2021-06-08 | 2022-12-20 | 富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 | 表面検査装置及びプログラム |
JP2023045476A (ja) * | 2021-09-22 | 2023-04-03 | 富士フイルムビジネスイノベーション株式会社 | 表面検査装置及びプログラム |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5155558A (en) * | 1990-09-19 | 1992-10-13 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Method and apparatus for analyzing the appearance features of a surface |
JPH0771945A (ja) * | 1992-08-07 | 1995-03-17 | Kao Corp | 表面性状測定方法及びその装置 |
JPH09178564A (ja) * | 1995-12-21 | 1997-07-11 | Shimadzu Corp | 分光測定装置 |
DE69631475T2 (de) * | 1996-07-16 | 2005-01-13 | Perkin-Elmer Ltd., Beaconsfield | Kontrolle einer Mikroskopblende |
JP2001341288A (ja) * | 2000-05-30 | 2001-12-11 | Dainippon Printing Co Ltd | 印刷物の測色方法及び装置 |
US6826424B1 (en) * | 2000-12-19 | 2004-11-30 | Haishan Zeng | Methods and apparatus for fluorescence and reflectance imaging and spectroscopy and for contemporaneous measurements of electromagnetic radiation with multiple measuring devices |
JP3470268B2 (ja) * | 2001-07-17 | 2003-11-25 | 川崎重工業株式会社 | 目標抽出方法 |
DE102004034160A1 (de) * | 2004-07-15 | 2006-02-09 | Byk Gardner Gmbh | Vorrichtung zur Untersuchung optischer Oberflächeneigenschaften |
JP4797593B2 (ja) * | 2005-03-10 | 2011-10-19 | 富士ゼロックス株式会社 | 光沢測定装置及びプログラム |
JP2008151781A (ja) * | 2007-12-03 | 2008-07-03 | Olympus Corp | 画像表示装置及び画像表示方法 |
JP5638234B2 (ja) * | 2009-12-22 | 2014-12-10 | ショットモリテックス株式会社 | 透明感測定装置および透明感測定方法 |
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JP5989443B2 (ja) * | 2012-07-31 | 2016-09-07 | 公立大学法人公立はこだて未来大学 | 半導体集積回路および物体距離計測装置 |
JP6049215B2 (ja) * | 2014-01-16 | 2016-12-21 | 富士フイルム株式会社 | 光音響計測装置並びにそれに利用される信号処理装置および信号処理方法 |
JP6324114B2 (ja) | 2014-02-28 | 2018-05-16 | キヤノン株式会社 | 光学系および光沢計 |
JP6099023B2 (ja) * | 2014-05-29 | 2017-03-22 | パナソニックIpマネジメント株式会社 | プロジェクタシステム |
US10798373B2 (en) * | 2016-07-22 | 2020-10-06 | Sharp Kabushiki Kaisha | Display correction apparatus, program, and display correction system |
-
2016
- 2016-10-21 JP JP2016207260A patent/JP6869002B2/ja active Active
-
2017
- 2017-10-09 EP EP17195391.2A patent/EP3312591B1/en active Active
- 2017-10-17 US US15/785,753 patent/US10634611B2/en active Active
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