JP2018063907A - 軸受、支持装置、および真空装置 - Google Patents
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軸部材を支持する軸受であって、
前記軸部材を摺動可能に支持する円筒状の第1部分と、
前記第1部分の端部に接続され、前記第1部分よりも内径が大きく、かつ、前記第1部分よりも外径が大きい円筒状の第2部分と、
を含み、
前記第1部分には、前記第1部分の中心軸に沿った長手方向を持つ複数の長孔が、前記中心軸まわりに設けられている。
前記第1部分と前記軸部材との嵌め合いは、締り嵌めであってもよい。
前記第1部分および前記第2部分の材質は、樹脂であってもよい。
前記複数の長孔は、前記中心軸まわりに等間隔に設けられていてもよい。
前記第1部分の、前記第2部分が接続されている端部とは反対側の端部に接続され、前記第1部分よりも内径が大きく、かつ、前記第1部分よりも外径が大きい円筒状の第3部分を含んでいてもよい。
前記第2部分の外径と前記第3部分の外径とは、等しくてもよい。
前記第1部分は、前記軸部材が嵌め合わされることよって弾性変形してもよい。
本発明に係る軸受と、
前記軸部材と、
を含む。
前記軸部材が挿入され、前記軸部材の外径よりも大きな内径を有する円筒部材を含み、
前記第2部分は、前記円筒部材に圧入されていてもよい。
前記軸部材を、前記軸受とは異なる箇所で支持する軸支持部材を含んでいてもよい。
前記円筒部材は、前記軸支持部材に接続されていてもよい。
前記軸部材の先端部には、電子顕微鏡用の絞り板または試料ホルダーが装着されていてもよい。
本発明に係る支持装置を含む。
真空状態に維持される真空室を含み、
前記軸部材の先端部は、前記真空室に配置され、
前記軸部材の後端部は、前記真空室の外に配置されてもよい。
まず、本実施形態に係る軸受について図面を参照しながら説明する。図1は、本実施形態に係る軸受100を模式的に示す斜視図である。図2は、本実施形態に係る軸受100を模式的に示す側面図である。図3〜図5は、本実施形態に係る軸受100を模式的に示す断面図である。なお、図3は、図2のIII−III線断面図である。図4は、図2のIV−IV線断面図である。図5は、図2のV−V線断面図である。
きい。また、第2部分20の外径OD20は、第1部分10の外径OD10よりも大きい。
次に、本実施形態に係る支持装置1について、図面を参照しながら説明する。ここでは、支持装置1が電子顕微鏡用の絞りを支持する装置である場合について説明する。
比べて、電子顕微鏡における観察や分析において、その影響が大きい。軸受100では、上記のように、絞り孔3aのY方向の位置ずれを低減できるため、良好な電子顕微鏡像を得ることができる。
次に、本実施形態に係る真空装置について説明する。以下では、本発明に係る真空装置が電子顕微鏡である場合について説明する。図10は、本実施形態に係る電子顕微鏡1000を模式的に示す図である。図11は、本実施形態に係る電子顕微鏡1000に取り付
けられた支持装置1を模式的に示す図である。なお、図10では、便宜上、支持装置1を簡略化して図示している。
透過して対物レンズ1010によって結像される。対物レンズ1010によって結像された透過電子顕微鏡像は、中間レンズ1012および投影レンズ1014によってさらに拡大されて、撮像装置1016で撮影される。
Claims (14)
- 軸部材を支持する軸受であって、
前記軸部材を摺動可能に支持する円筒状の第1部分と、
前記第1部分の端部に接続され、前記第1部分よりも内径が大きく、かつ、前記第1部分よりも外径が大きい円筒状の第2部分と、
を含み、
前記第1部分には、前記第1部分の中心軸に沿った長手方向を持つ複数の長孔が、前記中心軸まわりに設けられている、軸受。 - 請求項1において、
前記第1部分と前記軸部材との嵌め合いは、締り嵌めである、軸受。 - 請求項1または2において、
前記第1部分および前記第2部分の材質は、樹脂である、軸受。 - 請求項1ないし3のいずれか1項において、
前記複数の長孔は、前記中心軸まわりに等間隔に設けられている、軸受。 - 請求項1ないし4のいずれか1項において、
前記第1部分の、前記第2部分が接続されている端部とは反対側の端部に接続され、前記第1部分よりも内径が大きく、かつ、前記第1部分よりも外径が大きい円筒状の第3部分を含む、軸受。 - 請求項5において、
前記第2部分の外径と前記第3部分の外径とは、等しい、軸受。 - 請求項1ないし6のいずれか1項において、
前記第1部分は、前記軸部材が嵌め合わされることよって弾性変形する、軸受。 - 請求項1ないし7のいずれか1項に記載の軸受と、
前記軸部材と、
を含む、支持装置。 - 請求項8において、
前記軸部材が挿入され、前記軸部材の外径よりも大きな内径を有する円筒部材を含み、
前記第2部分は、前記円筒部材に圧入されている、支持装置。 - 請求項9において、
前記軸部材を、前記軸受とは異なる箇所で支持する軸支持部材を含む、支持装置。 - 請求項10において、
前記円筒部材は、前記軸支持部材に接続されている、支持装置。 - 請求項8ないし11のいずれか1項において、
前記軸部材の先端部には、電子顕微鏡用の絞り板または試料ホルダーが装着されている、支持装置。 - 請求項8ないし12のいずれか1項に記載の支持装置を含む、真空装置。
- 請求項13において、
真空状態に維持される真空室を含み、
前記軸部材の先端部は、前記真空室に配置され、
前記軸部材の後端部は、前記真空室の外に配置される、真空装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2016202573A JP6823993B2 (ja) | 2016-10-14 | 2016-10-14 | 支持装置および真空装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2016202573A JP6823993B2 (ja) | 2016-10-14 | 2016-10-14 | 支持装置および真空装置 |
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JP6823993B2 JP6823993B2 (ja) | 2021-02-03 |
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JP2016202573A Active JP6823993B2 (ja) | 2016-10-14 | 2016-10-14 | 支持装置および真空装置 |
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Country | Link |
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JP (1) | JP6823993B2 (ja) |
-
2016
- 2016-10-14 JP JP2016202573A patent/JP6823993B2/ja active Active
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JP6823993B2 (ja) | 2021-02-03 |
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