JP2018054776A - 試料設置台 - Google Patents
試料設置台 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2018054776A JP2018054776A JP2016189143A JP2016189143A JP2018054776A JP 2018054776 A JP2018054776 A JP 2018054776A JP 2016189143 A JP2016189143 A JP 2016189143A JP 2016189143 A JP2016189143 A JP 2016189143A JP 2018054776 A JP2018054776 A JP 2018054776A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- hemispherical
- sample table
- mounting table
- microscope
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Landscapes
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Abstract
【課題】顕微鏡下において任意の傾斜と回転を行った試料を常に固定位置で観察することを可能とする試料設置台を提供する。【解決手段】顕微鏡下で試料の傾斜と回転を行うために、試料を設置した半球型試料台1を円形の空間を有する試料台受2,3へ設置し、試料の観察位置を顕微鏡の焦点と合わせるように任意の傾斜と回転を行ったのち、試料台受に設けたスライド機構を半球型試料台へ押し付けて半球型試料台を固定し、不意な付加加重によって傾斜と回転が変動しないようにして試料の観察を行う。また、試料観察前後は顕微鏡の光軸に対して垂直の傾斜角度(傾斜角度0度)へ簡便かつ迅速に再現させるように半球型試料台の側面の一部に溝5と試料台受の一部にピン又はボールとスプリングとネジで構成されたプランジャ4を設け、プランジャの先端を半球型試料台の溝へ合わせたときに傾斜角度0度となる。【選択図】図1
Description
本発明は、可視及び赤外顕微鏡の観察下で観察対象の傾斜と回転角度を設定する試料設置台に関する。
従来の試料設置台には、半球型試料台によって多軸方向への傾斜と回転を可能にしたものがある(例えば、特許文献1)。この試料設置台は実体顕微鏡による反射光の可視観察を目的としており、外部からの付加加重に対する対策は施されていない。また、試料設置台の傾斜及び回転方法は試料台の下部に設置された可動機構によって行われるため、試料設置台の全体的な高さが大きくなり、透過と反射の両方を観察する光学顕微鏡や赤外顕微鏡のステージに設置できないことがあった。
従来の試料設置台は、実体顕微鏡の反射観察では観察時に試料設置台への外部からの強い付加加重が生じないため、問題は生じないが、赤外顕微鏡に付属された結晶を押し付けて観察する顕微ATR測定時に発生する強い付加加重の場合は、観察対象の位置が不意に変動する。
従来の試料設置台は、実体顕微鏡の反射観察では観察時に試料設置台への外部からの強い付加加重が生じないため、問題は生じないが、赤外顕微鏡に付属された結晶を押し付けて観察する顕微ATR測定時に発生する強い付加加重の場合は、観察対象の位置が不意に変動する。
また、試料設置台の可動機構が試料設置台の下部に設けられ、全体的な高さが大きくなっていたため、試料設置台を設置する空間が狭い赤外顕微鏡と一部の光学顕微鏡では、試料設置台を設置することができなかったことと、試料設置台の下部の可動機構を除いてしまった場合、顕微鏡の光軸に対しての基準位置を決めることができなくなっていた。
本発明は、強い付加加重が加わったときに生じる観察対象の位置の不意な変動を無くし、試料設置台の可動に特別な機構を設けずに試料設置台のサイズを全ての赤外顕微鏡と光学顕微鏡へ設置できる大きさへ低減するとともに、試料設置台の基準となる位置を容易に決定できる試料設置台を提供することを目的とする。
本発明は、
(1)下面が半球型の試料台と、半球型試料台を保持する試料台受からなる試料設置台であって、
試料設置台には、真球の一部を水平にカットした上部フラット面を有する半球型試料台を試料台受に固定するための機構と、半球型試料台の傾斜角度の基準位置を決定する機構を有する事を特徴とする試料設置台。
(2)試料台受は、上面側の一部にバネ又はネジからなるスライド式可動機構を設け、スライド式可動機構を半球型試料台へ押し当てて固定することを特徴とする(1)記載の試料設置台。
(3)半球型試料台の基準位置を決定する機構は、
試料台受上面側に設置されたブロックの内部に、ピン又はボールとスプリングとネジで構成されたプランジャを有し、半球型試料台の球面側の一部に設けた溝で位置決めする構造であることを特徴とする(1)又は(2)に記載の試料設置台。
である。
(1)下面が半球型の試料台と、半球型試料台を保持する試料台受からなる試料設置台であって、
試料設置台には、真球の一部を水平にカットした上部フラット面を有する半球型試料台を試料台受に固定するための機構と、半球型試料台の傾斜角度の基準位置を決定する機構を有する事を特徴とする試料設置台。
(2)試料台受は、上面側の一部にバネ又はネジからなるスライド式可動機構を設け、スライド式可動機構を半球型試料台へ押し当てて固定することを特徴とする(1)記載の試料設置台。
(3)半球型試料台の基準位置を決定する機構は、
試料台受上面側に設置されたブロックの内部に、ピン又はボールとスプリングとネジで構成されたプランジャを有し、半球型試料台の球面側の一部に設けた溝で位置決めする構造であることを特徴とする(1)又は(2)に記載の試料設置台。
である。
本発明は顕微鏡下で試料を観察するために用いる試料設置台であり、特に光学顕微鏡や赤外顕微鏡下で試料を傾斜させた場合に安定した観察を可能とする試料設置台である。
本発明の試料設置台とは半球型試料台を試料台受上で傾斜と回転を行って試料台に設置した試料の観察面を任意に設定するものである。
本発明の試料設置台とは半球型試料台を試料台受上で傾斜と回転を行って試料台に設置した試料の観察面を任意に設定するものである。
請求項1記載の試料設置台は、真球の一部を水平にカットした上部フラット面を有する半球型試料台と半球型試料台を設置する試料台受から構成されている。半球型試料台のフラット面は試料を設置することができ、半球型試料台の球面は試料台受と接触して自重と摩擦力で固定されている。試料台受には半球型試料台を設置するための円形の空間が設けられ、空間の円周に半球型試料台が接触して設置される。半球型試料台は、損傷を防ぐために試料台受より硬い材質、例えばステンレスなどが望ましい。反対に試料台受の半球型試料台と接触する部分は、例えばアルミニウムや樹脂などの半球型試料台より軟らかい材質が望ましい。この試料台受に設置した半球型試料台は、試料台受に設けた円形の空間へ設置したのち、空間の円周に接触しながら傾斜と回転を行うことができる。
請求項2記載の試料設置台は、請求項1の試料台受の上面側の一部にバネとネジからなるスライド式可動機構を設けている。試料台受上で半球型試料台を手動にて任意の方向へ傾斜及び回転を行ったのち、試料台受の一部に設けたバネとネジによって可動する部位を、バネの力で試料台受上をスライドさせて、半球型試料台へ押し付け、可動部位と半球型試料台の摩擦と押し付けの力によって強く固定することができる。この際、固定機構の半球型試料台と接触する部分には摩擦係数の高い素材を設けることによって固定する力を向上させる。素材としては摩擦係数だけでなく密着力も高いゴムのような弾性体が最も好ましいが、ポリプロピレンやポリアセタール樹脂であっても十分な固定力を発揮することができる。この固定機構によって、半球型試料台の自重と試料台受に設けた円形の空間との摩擦力よりも高い固定力を有し、赤外顕微鏡に付属された結晶を押し付けて観察する顕微ATR測定時に発生する強い付加加重が生じた場合であっても観察面の位置は変動しなくなる。
請求項3記載の試料設置台は、請求項1の試料台受上面側に設置されたブロックの内部に、ピン又はボールとスプリングとネジで構成されたプランジャを有し、半球型試料台の球面側の一部に溝が設けられている。試料台受の一部に設置されたピン又はボールとスプリングとネジで構成されたプランジャを、半球型試料台の側面の一部に設けた溝と合わせることによって、迅速に半球型試料台の基準位置を決定することができる。基準位置は、顕微鏡の光軸に対して試料設置面が垂直(傾斜角度0度)となる角度にするために設置されており、手動で簡便かつ迅速に基準位置を再現することが可能となる。
本発明の試料設置台は半球型試料台について可動と固定の変化を容易に可能とする。特に赤外顕微鏡に付属された結晶を押し付けて観察する顕微ATR測定時に発生する強い付加加重であっても、固定された半球型試料台の位置が動かず、目的とする部位の測定を精密に行うことができる。
以下、本発明の実施の形態を図1〜図4に基づいて説明する。
図においては、1は試料を設置するための円形の試料設置面6を有した半球型の形状をした試料台であり、試料台受下3に設けられた円筒状の空間A8へ設置され、半球型試料台1と試料台受下3は7の部分で接触する。
試料台受上2は、試料台受下3に固定されており、一部に図4のようなプランジャ4と図2のような半球型試料台1の押さえ具9を有している。
試料台受上2は、試料台受下3に固定されており、一部に図4のようなプランジャ4と図2のような半球型試料台1の押さえ具9を有している。
プランジャ4は、コイルバネと球を内蔵したネジから構成されており、半球型試料台1の外周と接触し、内蔵された球は半球型試料台1の一部に設けられた溝5のサイズと合わせられている。
押さえ具9は図4のような固定治具11、バネA13と可動用基準治具15を内蔵しており、試料台受下3の上で試料台受上2の間に設置され、左右にスライドできる。固定治具11は図3のようなネジの組み合わせのような形状をし、空間B12へ押し込むことができる。バネA13はコイルバネあるいは板バネであり、固定治具11を常に押し上げるように設置されている。可動用基準治具15は押さえ具9に固定された円筒状の棒であり、図4のように下方の試料台受下3まで飛び出ている。
押さえ具9は図4のような固定治具11、バネA13と可動用基準治具15を内蔵しており、試料台受下3の上で試料台受上2の間に設置され、左右にスライドできる。固定治具11は図3のようなネジの組み合わせのような形状をし、空間B12へ押し込むことができる。バネA13はコイルバネあるいは板バネであり、固定治具11を常に押し上げるように設置されている。可動用基準治具15は押さえ具9に固定された円筒状の棒であり、図4のように下方の試料台受下3まで飛び出ている。
押さえ具9の直下の試料台受下3の部分には、図4のような空間B12の中にバネB16、空間C17には固定用トラップ14として段差が設けられている。バネB16はねじりコイルあるいは板バネであり、図4のように可動用基準治具15を半球型試料台1の方向へ押し付けるように設置されている。固定用トラップ14は固定治具11が押し込まれたのち、固定治具11の下部が引っ掛かるような構造に設計されている。
以下、上記構成の動作を説明する。試料台受下3に設置された半球型試料台1は、手動によって任意の方向への傾斜と回転ができる。傾斜と回転がされた半球型試料台1の位置は、試料台受下3の接触面7との摩擦によって固定される。この固定は半球型試料台1の自重によって変動することはないが、外部からの付加加重によって任意の位置からの変動を生じる場合があるため、外部からの付加加重にも耐えられるように押さえ具9によって半球型試料台を強く固定することができ、赤外顕微鏡による顕微ATR測定の強い付加加重が生じても目的の位置での観察と測定が可能となる。
押さえ具9は、試料台受下3上を半球型試料台1の方向へスライドして半球型試料台1を押し付けるように固定する。押さえ具9による半球型試料台1への押し付けは、可動用基準治具15に巻き付くように取り付けられたバネB16によって自動的に行われる。押さえ具9は手動により、半球型試料台1と逆方向へスライドすることができ、押さえ具9による固定が無くなった半球型試料台1は手動によって任意の方向への傾斜と回転が可能となる。半球型試料台1と逆方向へスライドされた押さえ具9は、固定治具11を空間B12方向へ押し込んだまま固定治具11の下部を固定用トラップ14へ引っ掛けることにより固定することができる。固定の解除は押さえ具9を再度半球型試料台1と逆方向にスライドさせ、バネA13の力によって自動的に固定治具11を押し上げることによってできる。
また、半球型試料台1の溝5をプランジャ4へ合わせることによって、可視及び赤外顕微鏡の光軸に対して垂直となる位置へ迅速に設定することができる。
1 半球型試料台
2 試料台受上
3 試料台受下
4 プランジャ
5 溝
6 試料設置面
7 半球型試料台と試料台受の接触面
8 空間A
9 半球型試料台押さえ具
10 半球型試料台と押さえ具の接触面
11 固定治具
12 空間B
13 バネA
14 固定用トラップ
15 可動用基準治具
16 バネB
17 空間C
2 試料台受上
3 試料台受下
4 プランジャ
5 溝
6 試料設置面
7 半球型試料台と試料台受の接触面
8 空間A
9 半球型試料台押さえ具
10 半球型試料台と押さえ具の接触面
11 固定治具
12 空間B
13 バネA
14 固定用トラップ
15 可動用基準治具
16 バネB
17 空間C
Claims (3)
- 下面が半球型の試料台と、半球型試料台を保持する試料台受からなる試料設置台であって、
試料設置台には、真球の一部を水平にカットした上部フラット面を有する半球型試料台を試料台受に固定するための機構と、半球型試料台の傾斜角度の基準位置を決定する機構を有する事を特徴とする試料設置台。 - 試料台受は、上面側の一部にバネとネジからなるスライド式可動機構を設け、スライド式可動機構を半球型試料台へ押し当てて固定することを特徴とする請求項1記載の試料設置台。
- 半球型試料台の基準位置を決定する機構は、
試料台受上面側に設置されたブロックの内部に、ピン又はボールとスプリングとネジで構成されたプランジャを有し、半球型試料台の球面側の一部に設けた溝で位置決めする構造であることを特徴とする請求項1又は2に記載の試料設置台。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016189143A JP6156564B1 (ja) | 2016-09-28 | 2016-09-28 | 試料設置台 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2016189143A JP6156564B1 (ja) | 2016-09-28 | 2016-09-28 | 試料設置台 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP6156564B1 JP6156564B1 (ja) | 2017-07-05 |
JP2018054776A true JP2018054776A (ja) | 2018-04-05 |
Family
ID=59272976
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016189143A Expired - Fee Related JP6156564B1 (ja) | 2016-09-28 | 2016-09-28 | 試料設置台 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6156564B1 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107656365B (zh) * | 2017-10-17 | 2023-11-21 | 陕西华达科技股份有限公司 | 一种用于显微镜的仪器检测旋转工作台 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0453917A (ja) * | 1990-06-22 | 1992-02-21 | Hitachi Ltd | 試料ステージ |
JP3695818B2 (ja) * | 1996-01-09 | 2005-09-14 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡用焦点検出装置 |
JP2001264639A (ja) * | 2000-03-21 | 2001-09-26 | Olympus Optical Co Ltd | 光学素子スライダー |
-
2016
- 2016-09-28 JP JP2016189143A patent/JP6156564B1/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP6156564B1 (ja) | 2017-07-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5336279B2 (ja) | 表面性状測定装置および真円度測定装置 | |
CN105706426A (zh) | 用于测试手机的方法和设备 | |
JP6156564B1 (ja) | 試料設置台 | |
JP2018066672A (ja) | 測長装置 | |
JP2015152581A (ja) | ゲージ検査機、ゲージ検査方法およびゲージをゲージの検査機にセットするための治具 | |
TW201119075A (en) | Apparatus for mechanically structuralizing thin-film solar cell module | |
US20180330913A1 (en) | Sample Holder Unit and Specimen Observation Device | |
KR20160116626A (ko) | 광학장치용 거치대 | |
US10108000B2 (en) | Adjusting device for an illumination component of a microscope, a microscope illumination device and a microscope | |
EP3405769B1 (en) | Sample holder arrangement | |
KR101694723B1 (ko) | 시료고정장치 | |
US9823487B2 (en) | Lens assembly and test apparatus | |
KR20120085947A (ko) | 마운팅 시험편 고정장치 | |
CN110939834B (zh) | 一种激光器调节装置 | |
CN207502810U (zh) | 一种简易精密测量仪 | |
CN208283468U (zh) | 一种天线检测夹具 | |
KR20100098818A (ko) | 시편고정장치 | |
JP2009210413A (ja) | 硬さ試験機用アンビル | |
JP3193277U (ja) | 分光光度計用積分球 | |
US20150260624A1 (en) | Snap grip indenter mount used on a hardness tester | |
JP3296566B2 (ja) | 干渉計の回折格子間の測定対象の固定 | |
CN110514516A (zh) | 一种弹簧辅助紧固的拉伸试样夹具 | |
CN216160909U (zh) | 一种led线弧形状自动拍摄显微镜 | |
JP6004720B2 (ja) | 試料ホルダー用台座 | |
JP2018077950A (ja) | 試料台支持具 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20170417 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170516 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170522 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6156564 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |