JP2018029251A5 - - Google Patents

Download PDF

Info

Publication number
JP2018029251A5
JP2018029251A5 JP2016159854A JP2016159854A JP2018029251A5 JP 2018029251 A5 JP2018029251 A5 JP 2018029251A5 JP 2016159854 A JP2016159854 A JP 2016159854A JP 2016159854 A JP2016159854 A JP 2016159854A JP 2018029251 A5 JP2018029251 A5 JP 2018029251A5
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
detection
light
sensor elements
inspection
region
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2016159854A
Other languages
English (en)
Japanese (ja)
Other versions
JP6697681B2 (ja
JP2018029251A (ja
Filing date
Publication date
Application filed filed Critical
Priority claimed from JP2016159854A external-priority patent/JP6697681B2/ja
Priority to JP2016159854A priority Critical patent/JP6697681B2/ja
Priority to PCT/JP2017/028290 priority patent/WO2018034167A1/en
Priority to EP17826593.0A priority patent/EP3501169A1/en
Priority to US16/301,987 priority patent/US10893221B2/en
Priority to KR1020197003298A priority patent/KR20190039110A/ko
Priority to CN201780047672.XA priority patent/CN109565578B/zh
Publication of JP2018029251A publication Critical patent/JP2018029251A/ja
Publication of JP2018029251A5 publication Critical patent/JP2018029251A5/ja
Publication of JP6697681B2 publication Critical patent/JP6697681B2/ja
Application granted granted Critical
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

JP2016159854A 2016-08-17 2016-08-17 検査装置、検査方法、およびプログラム Active JP6697681B2 (ja)

Priority Applications (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016159854A JP6697681B2 (ja) 2016-08-17 2016-08-17 検査装置、検査方法、およびプログラム
KR1020197003298A KR20190039110A (ko) 2016-08-17 2017-08-03 검사 장치, 검사 방법, 및 프로그램
EP17826593.0A EP3501169A1 (en) 2016-08-17 2017-08-03 Examination device, examination method, and program
US16/301,987 US10893221B2 (en) 2016-08-17 2017-08-03 Imaging sensor with wavelength detection regions and pre-determined polarization directions
PCT/JP2017/028290 WO2018034167A1 (en) 2016-08-17 2017-08-03 Examination device, examination method, and program
CN201780047672.XA CN109565578B (zh) 2016-08-17 2017-08-03 检查设备和检查方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2016159854A JP6697681B2 (ja) 2016-08-17 2016-08-17 検査装置、検査方法、およびプログラム

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2018029251A JP2018029251A (ja) 2018-02-22
JP2018029251A5 true JP2018029251A5 (enExample) 2019-08-29
JP6697681B2 JP6697681B2 (ja) 2020-05-27

Family

ID=60953922

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2016159854A Active JP6697681B2 (ja) 2016-08-17 2016-08-17 検査装置、検査方法、およびプログラム

Country Status (6)

Country Link
US (1) US10893221B2 (enExample)
EP (1) EP3501169A1 (enExample)
JP (1) JP6697681B2 (enExample)
KR (1) KR20190039110A (enExample)
CN (1) CN109565578B (enExample)
WO (1) WO2018034167A1 (enExample)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2018074064A1 (ja) * 2016-10-17 2018-04-26 ソニー株式会社 画像処理装置と画像処理方法および撮像装置
KR102500640B1 (ko) * 2018-03-02 2023-02-15 제이에프이 스틸 가부시키가이샤 로의 제어 방법
CN113315934A (zh) * 2019-04-23 2021-08-27 Oppo广东移动通信有限公司 一种单色偏振式cis及图像处理方法、存储介质
WO2021039900A1 (ja) * 2019-08-28 2021-03-04 公立大学法人兵庫県立大学 試料測定装置および試料測定方法
US11270110B2 (en) 2019-09-17 2022-03-08 Boston Polarimetrics, Inc. Systems and methods for surface modeling using polarization cues
MX2022004163A (es) * 2019-10-07 2022-07-19 Boston Polarimetrics Inc Sistemas y metodos para la deteccion de estandares de superficie con polarizacion.
CN112629655B (zh) * 2019-10-09 2024-06-04 北京小米移动软件有限公司 移动终端
EP4066001A4 (en) 2019-11-30 2024-01-24 Boston Polarimetrics, Inc. Systems and methods for transparent object segmentation using polarization cues
CN111161283B (zh) * 2019-12-26 2023-08-04 可牛网络技术（北京）有限公司 一种处理图片资源的方法、装置及电子设备
CN113835135B (zh) * 2020-06-23 2022-11-22 同方威视技术股份有限公司 太赫兹安检机器人
EP4172598A4 (en) * 2020-06-24 2024-07-17 Rubens IP Pty Ltd DETECTION OF PROPERTIES OF A PLANT PRODUCT
US12385844B2 (en) 2020-07-03 2025-08-12 Signify Holding B.V. Methods and systems for determining the growth stage of a plant
CN115804100A (zh) * 2020-07-17 2023-03-14 索尼集团公司 图像捕获处理系统和3d模型生成方法
JP2022098668A (ja) * 2020-12-22 2022-07-04 セイコーエプソン株式会社 分光測定方法、分光測定システム、及びコンピュータープログラム

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4932978B1 (enExample) 1969-06-10 1974-09-04
JPS4932978A (enExample) 1972-07-26 1974-03-26
CN101584222B (zh) * 2007-05-31 2011-10-12 松下电器产业株式会社 图像处理装置
US8463078B2 (en) * 2007-08-23 2013-06-11 Lockheed Martin Corporation Multi-bank TDI approach for high-sensitivity scanners
JP5428509B2 (ja) * 2009-05-11 2014-02-26 ソニー株式会社 ２次元固体撮像装置、及び、２次元固体撮像装置における偏光光データ処理方法
US8823848B2 (en) * 2009-06-11 2014-09-02 The Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona Microgrid imaging polarimeters with frequency domain reconstruction
WO2012017600A1 (ja) * 2010-08-04 2012-02-09 パナソニック株式会社 撮像素子および撮像装置
JP2013031054A (ja) * 2011-07-29 2013-02-07 Ricoh Co Ltd 撮像装置及びこれを備えた物体検出装置、並びに、光学フィルタ及びその製造方法
WO2013031100A1 (ja) * 2011-09-02 2013-03-07 パナソニック株式会社 偏光撮像素子および内視鏡
WO2013044149A1 (en) * 2011-09-21 2013-03-28 Aptina Imaging Corporation Image sensors with multiple lenses of varying polarizations
JP5820794B2 (ja) * 2012-10-05 2015-11-24 オリンパス株式会社 撮像装置
JP5807192B2 (ja) * 2013-01-21 2015-11-10 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 測定装置および測定方法
WO2015015722A1 (ja) * 2013-07-29 2015-02-05 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 光学フィルタおよびそれを用いた偏光撮像装置
JP6260006B2 (ja) * 2013-07-30 2018-01-17 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 撮像装置、並びにそれを用いた撮像システム、電子ミラーシステムおよび測距装置
US10051209B2 (en) * 2014-04-09 2018-08-14 Omnivision Technologies, Inc. Combined visible and non-visible projection system
US9686487B1 (en) * 2014-04-30 2017-06-20 Lockheed Martin Corporation Variable scan rate image generation
US20160006954A1 (en) * 2014-07-03 2016-01-07 Snap Vision Technologies LLC Multispectral Detection and Processing From a Moving Platform
US9876972B1 (en) * 2014-08-28 2018-01-23 Lockheed Martin Corporation Multiple mode and multiple waveband detector systems and methods
JP2016049102A (ja) * 2014-08-29 2016-04-11 株式会社リコー 圃場管理システム、圃場管理方法、プログラム
JP6673327B2 (ja) * 2015-02-27 2020-03-25 ソニー株式会社 画像処理装置と画像処理方法および撮像素子
EP3315928B1 (en) * 2015-06-26 2021-05-05 Sony Corporation Inspection apparatus, sensing apparatus, sensitivity control apparatus, inspection method, and program
WO2017018258A1 (ja) * 2015-07-30 2017-02-02 ソニーセミコンダクタソリューションズ株式会社 固体撮像装置及び電子機器
EP3376759B1 (en) * 2015-11-10 2021-04-14 Sony Corporation Image processing device and image processing method
JP6650839B2 (ja) * 2016-06-24 2020-02-19 日立造船株式会社 偏光カメラ及び画像処理方法
JP6697680B2 (ja) * 2016-08-17 2020-05-27 ソニー株式会社 信号処理装置、信号処理方法、およびプログラム

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2018029251A5 (enExample)
JP2018029250A5 (enExample)
JP6697681B2 (ja) 検査装置、検査方法、およびプログラム
CN109360203B (zh) 图像配准方法、图像配准装置及存储介质
JP6697680B2 (ja) 信号処理装置、信号処理方法、およびプログラム
EP3460427B1 (en) Method for reconstructing hyperspectral image using prism and system therefor
US10964014B2 (en) Defect detecting method and defect detecting system
GB2527697B (en) People counting device and people counting method
Placht et al. Rochade: Robust checkerboard advanced detection for camera calibration
US10699400B2 (en) Image processing apparatus, image processing method, and storage medium
Wang et al. Recognition and location of the internal corners of planar checkerboard calibration pattern image
CN101865679B (zh) 一种基于数字图像技术的平面面积测量方法
KR20160073866A (ko) 홍채 인식 장치, 이를 포함하는 홍채 인식 시스템 및 상기 홍채 인식 시스템의 동작 방법
WO2019053842A1 (ja) 変状検出装置
CN110111711A (zh) 屏幕的检测方法及装置、计算机可读存储介质
KR101583423B1 (ko) 카메라에서 촬영된 영상의 왜곡을 보정하기 위한 영상 왜곡 보정 방법
KR20210007701A (ko) 실시간 360 깊이 영상 측정을 위한 카메라 캘리브레이션 방법 및 그 장치
KR20150009842A (ko) 카메라 모듈용 결함 픽셀 평가 시스템 및 이를 사용한 카메라 모듈용 결함 픽셀 평가 방법
JP2014153494A5 (enExample)
JP2012185030A (ja) 色ムラ判別装置、色ムラ判別方法及び表示装置
CN106373157B (zh) 高光谱异常探测方法和装置
KR102471205B1 (ko) 2차원 다시점 영상 보정 방법 및 장치
Guo Wei et al. Automatic detecting and counting of sorghum heads in breeding field using RGB imagery from UAV.
US20220172451A1 (en) Method For Defining An Outline Of An Object
TWI679611B (zh) 薄膜檢查方法