JP2018024079A5 - - Google Patents

Claims (10)

1. 工作物を回転可能に支持する工作物支持装置と、
   前記工作物支持装置に支持された前記工作物を加工する工具と、
   前記工作物支持装置に支持された前記工作物に向けて発光し、且つ、前記工作物の表面からの反射光を受光するセンサと、
   前記工作物を回転させた状態における前記センサの受光量に基づいて前記工作物の形状情報を抽出する演算部と、
   を備える、測定機能を有する工作機械システム。
2. 前記演算部は、前記センサの受光量に基づいて前記工作物との距離を抽出し、その抽出された距離に基づいて前記形状情報を抽出する、請求項１に記載の測定機能を有する工作機械システム。
3. 前記演算部は、前記工作物に生じ得る回転振れ成分を抽出する、請求項１又は２に記載の測定機能を有する工作機械システム。
4. 前記工作物は、円筒形状に形成され、
   前記演算部は、前記工作物の回転位相に対する前記受光量の情報から前記工作物の回転振れ成分を除去し、前記形状情報として真円度成分を抽出する、請求項３に記載の測定機能を有する工作機械システム。
5. 前記演算部は、前記受光量の情報から、前記回転振れとして低周波成分を除去し、前記真円度成分として高周波成分を抽出する、請求項４に記載の測定機能を有する工作機械システム。
6. 前記演算部は、前記工作物に生じ得るびびり成分を抽出する、請求項１又は２に記載の測定機能を有する工作機械システム。
7. 前記工作物は、カムであり、
   前記演算部は、前記工作物を回転させつつ、前記センサをカム面に沿って移動させている状態における前記センサの受光量に基づいて、カムプロフィールの成分を抽出する、請求項１又は２に記載の測定機能を有する工作機械システム。
8. 前記センサは、
   基板と、
   前記基板上に装着され、前記工作物に向けて発光する発光素子と、
   前記基板上において前記発光素子の近傍に装着され、前記工作物からの反射光を受光可能な受光素子と、
   を備える、請求項１−７の何れか一項に記載の測定機能を有する工作機械システム。
9. 前記工作機械システムは、
   前記工作物を回転させた状態で前記センサによるセンシングを行うセンサ制御部を備え、
   前記演算部は、
   前記工作物を回転させた状態において前記センサが受光した受光量データから特定の周波数成分を除去又は抽出して得られる前記工作物の形状情報を、前記工作物の形状情報に関する基準閾値と比較し、前記工作物の形状に関する判定を行う判定部を備える、請求項１−８の何れか一項に記載の測定機能を有する工作機械システム。
10. 前記工作機械システムは、
    前記工作物支持装置、前記工具及び前記センサを備える複数の工作機械と、前記複数の工作機械が接続されるネットワーク上に設けられる解析部と、を備え、
    前記演算部は、前記解析部に設けられ、前記複数の研削盤における前記センサから送信されたデータに基づいて前記工作物の形状情報を抽出する、請求項１−９の何れか一項に記載の測定機能を有する工作機械システム。