JP2018009810A - 欠陥検査システム及びフィルム製造装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】光学系をより適切に配置し、フィルムの欠陥の検出精度を向上させることが可能な欠陥検査システム及びフィルム製造装置を提供する。【解決手段】フィルム2aに光を照射する光源4と、光源4とフィルム2aとの間に位置し、光源4からフィルム2aに照射される光の一部を遮光する遮光体7と、光源4からフィルム2aに照射されてフィルム2aを透過した光による画像を撮像する画像撮像装置5とを備えた欠陥検査システム10において、遮光体7とフィルム2aとの距離が20〜80mmである。遮光体7とフィルム2aとの距離が20mm以上であるため、遮光体7とフィルム2aとの接触を防止できる。遮光体7とフィルム2aとの距離が80mm以下であるため、画像撮像装置5により撮像された画像において、遮光体7により光が遮光されていない明るい部分と、遮光体7により光が遮光されている暗い部分との差を明瞭にでき、検出精度が向上する。【選択図】図2
Description
本発明は、フィルムの欠陥を検査するための欠陥検査システム及びフィルム製造装置に関する。
偏光フィルム及び位相差フィルム等の光学フィルム、電池のセパレータに用いられる積層フィルム等の欠陥を検出する欠陥検査システムが知られている。例えば、特許文献1には、光源とフィルムとの間に位置する遮光体により光源からフィルムに照射される光の一部を遮光し、撮像装置によりフィルムを透過した光による画像を撮像する欠陥検査システムが開示されている。フィルムからの散乱光が撮像装置に直接入射しないように遮光体が配置されていることにより、フィルムの欠陥によって散乱した散乱光が撮像装置によって受光される。これにより、フィルムの微小な欠陥を検出することができる。
ところで、上記技術においては、フィルム、光源、遮光体及び撮像装置等の光学系の配置が適切ではないため、フィルムの欠陥を精度良く検出することが難しいことがあり、改善が望まれている。
そこで、本発明は、光学系をより適切に配置し、フィルムの欠陥の検出精度を向上させることが可能な欠陥検査システム及びフィルム製造装置を提供することを目的とする。
本発明は、フィルムに光を照射する光源と、光源とフィルムとの間に位置し、光源からフィルムに照射される光の一部を遮光する遮光体と、光源からフィルムに照射されてフィルムを透過した光による画像を撮像する撮像部とを備え、遮光体とフィルムとの距離が20〜80mmである欠陥検査システムである。
この構成によれば、フィルムに光を照射する光源と、光源とフィルムとの間に位置し、光源からフィルムに照射される光の一部を遮光する遮光体と、光源からフィルムに照射されてフィルムを透過した光による画像を撮像する撮像部とを備えた欠陥検査システムにおいて、遮光体とフィルムとの距離が20〜80mmに設定される。遮光体とフィルムとの距離が20mm以上であることにより、遮光体とフィルムとが接触することを防止することができる。また、遮光体とフィルムとの距離が80mm以下であることにより、撮像部により撮像された画像において、遮光体により光が遮光されていない明るい部分と、遮光体により光が遮光されている暗い部分との差を明瞭にすることができ、検出精度を向上させることが可能となる。
この場合、光源とフィルムとの距離が80〜500mmであることが好適である。この構成によれば、光源とフィルムとの距離が80mm以上であるため、フィルムに光源からの光をより平行に入射させることができる。また、光源とフィルムとの距離が500mm以下であるため、光源からの光の輝度が不足することを防止することができる。
また、光源とフィルムとの間に、光源からフィルムに照射される光の進行方向を平行にする平行光ユニットをさらに備えることが好適である。この構成によれば、フィルムに光源からの光をより平行に入射させることができる。
また、本発明は、上記本発明の欠陥検査システムを備え、光源、遮光体及び撮像部に対してフィルムを搬送方向に相対的に搬送する搬送部をさらに備えたフィルム製造装置である。
本発明の欠陥検査システム及びフィルム製造装置によれば、光学系をより適切に配置し、フィルムの欠陥の検出精度を向上させることが可能となる。
以下、図面を参照して本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。
図1に示すように、第1実施形態のフィルム製造装置1aは、第1実施形態の欠陥検査システム10を備える。欠陥検査システム10は、光源4、画像撮像装置5、解析装置6、遮光体7及び平行光レンズ8を備えている。本実施形態のフィルム製造装置1aは、欠陥検査システム10に搬送装置3を備えて構成されている。
本実施形態のフィルム製造装置1aにより製造されるフィルム2aは、例えば、偏光特性を有する偏光フィルム(光学フィルム)及び偏光特性を有さない位相差フィルム(光学フィルム)等である。また、本実施形態のフィルム製造装置1aにより製造されるフィルム2aは、偏光フィルムに貼り合わされるセパレートフィルムや保護フィルム等である。偏光フィルムの偏光子の材料としては、PVA(Polyvinyl Alcohol)等が挙げられ、セパレートフィルムや保護フィルムの材料としては、PET(Polyethylene Terephthalate)等が挙げられる。フィルム2aは、搬送装置3の搬送方向Xに延在し、搬送方向Xに直交する幅方向Yに予め設定された幅を有する。
フィルム2aに生じ欠陥としては、異物、打痕、気泡(成形時に生じる物等)、異物気泡(異物の混入により生じる物等)、傷、クニック(折り目痕等により生じる物等)、及びスジ(厚さの違いにより生じる物等)が挙げられる。欠陥検査システム10は、これらの欠陥を検出する。
図1及び図2に示すように、フィルム製造装置1aの搬送部である搬送装置3は、フィルム2aにおいて、光源4により光を照射され、画像撮像装置5により画像を撮像される位置が変化するように、光源4、遮光体7及び画像撮像装置5に対してフィルム2aを搬送方向Xに相対的に搬送する。搬送装置3は、例えば、フィルム2aを搬送方向Xに搬送する送出ローラと受取ローラを備え、ロータリーエンコーダなどにより搬送距離を計測する。本実施形態では搬送速度は、搬送方向に2〜30m/分程度に設定される。搬送装置3における搬送速度は、解析装置6等によって設定及び制御される。
光源4は、フィルム2aに光を照射する。光源4は、幅方向Yに平行な線状な光を照射するように配置されている。光源4としては、メタルハライドランプ、ハロゲン伝送ライト、蛍光灯など、フィルム2aの組成および性質に影響を与えない光を照射するものであれば、特に限定されない。
画像撮像装置5は、光源4からフィルム2aに照射されてフィルム2aを透過した光による2次元画像を離散時間ごとに撮像する画像撮像部である。画像撮像装置5は、撮像したフィルム2aの2次元画像の画像データを処理し、解析装置6に出力する。画像撮像装置5は、2次元画像を撮像するCCD(Charge Coupled Device)またはCMOS(ComplementaryMetal-Oxide Semiconductor)等の撮像素子で構成されるエリアセンサからなる。
解析装置6は、画像撮像装置5により処理された画像データを解析する。解析装置6は、画像撮像装置5により処理された画像データにより、フィルム2aの欠陥の位置を特定する。解析装置6は、CPU(Central Processing Unit)、ROM(Read OnlyMemory)、RAM(Random Access Memory)及びハードディスク等を有するコンピュータ装置である。
表示装置30は、例えば、コンピュータ装置等からなり、解析装置6により解析された欠陥の位置をディスプレイに表示する。表示装置30は、搬送装置3における搬送速度や、画像撮像装置5及び解析装置6における動作の条件を設定及び制御する。
遮光体7は、光源4とフィルム2aとの間に位置し、光源4からフィルム2aに照射される光の一部を遮光するナイフエッジである。遮光体7は、画像撮像装置5から視て、搬送方向Xにおける画像撮像装置5の撮像領域の半分が隠れるように配置されている。遮光体7は、フィルム2aからの散乱光が画像撮像装置5に直接入射せず、フィルム2aの欠陥によって散乱した散乱光が画像撮像装置5によって受光されるように配置されている。
平行光レンズ8は、光源4とフィルム2aとの間、特に光源4と遮光体7との間、あるいは光源4と遮光体7との距離が極めて近い場合には遮光体7とフィルム2との間に配置され、光源4からフィルム2a及び遮光体7に照射される光の進行方向を平行にする平行光ユニットである。平行光レンズ8は、例えば、テレセントリック光学系により構成することができる。
本実施形態では、遮光体7とフィルム2aとの距離d1が20〜80mmに設定されている。遮光体7とフィルム2aとの距離d1は、20〜60mmがより好ましく、20〜40mmがさらに好ましい。遮光体7とフィルム2aとの距離d1とは、遮光体7及びフィルム2aの互いに対向する面同士の最短距離を意味する。
本実施形態では、遮光体7とフィルム2aとの距離が20mm以上であることにより、遮光体7とフィルム2aとが接触することを防止することができる。また、遮光体7とフィルム2aとの距離が80mm以下であることにより、画像撮像装置5により撮像された画像において、遮光体7により光が遮光されていない明るい部分と、遮光体7により光が遮光されている暗い部分との差を明瞭にすることができ、検出精度を向上させることが可能となる。
図3(A)に示すように、遮光体7とフィルム2aとの距離d1が80mmを超えて大きい場合は、搬送方向Xの変化に対して、フィルム2aを透過した光源4からの光の輝度Lの変化の勾配は緩やかになる。そのため、画像撮像装置5の視野Rに、輝度Lが最大値となる箇所と最小値となる箇所とが収まらなくなる。
一方、図3(B)に示すように、遮光体7とフィルム2aとの距離d1が80mm以下に小さい場合は、搬送方向Xの変化に対して、フィルム2aを透過した光源4からの光の輝度Lの変化の勾配は急峻となる。そのため、画像撮像装置5の視野Rに、輝度Lが最大値となる箇所と最小値となる箇所とが収まる。フィルム2aに生じる欠陥には、欠陥の種別に応じて、輝度が大きい箇所(明視野側)で検出し易い欠陥と、輝度が小さい箇所(暗視野側)で検出し易い欠陥とが存在する。したがって、図3(B)に示すように、画像撮像装置5の視野Rにおける輝度の差が大きい方が、検出精度が向上する。
また、本実施形態では、光源4とフィルム2aとの距離d2が80〜500mmに設定されている。光源4とフィルム2aとの距離d2は、200〜380mmがより好ましく、250〜380mmがさらに好ましい。光源4とフィルム2aとの距離d2とは、光源4及びフィルム2aの互いに対向する面同士の最短距離を意味する。
本実施形態では、光源4とフィルム2aとの距離d2が80mm以上であるため、フィルム2aに光源からの光をより平行に入射させることができる。また、光源とフィルムとの距離d2が500mm以下であるため、光源からの光の輝度が不足することを防止することができる。
また、本実施形態では、光源4とフィルム2aとの間に、光源4からフィルム2aに照射される光の進行方向を平行にする平行光レンズ8をさらに備えるため、フィルム2aに光源4からの光をより平行に入射させることができる。
以下、本発明の第2実施形態について説明する。図4に示すように、本実施形態のフィルム製造装置1bは、上記第1実施形態と同様の欠陥検査システム10に加えて、フィルム2aを画像撮像装置5に搬送する搬送装置3と、フィルム2bを画像撮像装置5に搬送する搬送装置3とをそれぞれ備えている。また、フィルム製造装置1bは、フィルム2aとフィルム2bとは搬送装置3によって貼り合わせ、積層されたフィルム2cを製造する。画像撮像装置5は、上記第1実施形態と同様に、積層されたフィルム2cの欠陥の検査を行う。フィルム2cは、例えば、電池用セパレータフィルム等に適用することができる。また、フィルム2cは、偏光特性を有する偏光フィルムや、偏光特性を有さない位相差フィルム等を、セパレートフィルムや保護フィルム等の他のフィルムと貼り合わせたフィルム等とすることができる。
以上、本発明の実施形態について説明したが、本発明は上記実施形態に限定されることなく様々な形態で実施される。
(実験例)
図1及び図2に示すようなフィルム製造装置1a及び欠陥検査システム10において、遮光体7とフィルム2aとの距離d1と、光源4とフィルム2aとの距離d2とを変化させつつ、搬送方向Xの変化に対するフィルム2aを透過した光源4からの光の輝度Lの変化を測定した。
図1及び図2に示すようなフィルム製造装置1a及び欠陥検査システム10において、遮光体7とフィルム2aとの距離d1と、光源4とフィルム2aとの距離d2とを変化させつつ、搬送方向Xの変化に対するフィルム2aを透過した光源4からの光の輝度Lの変化を測定した。
図5に示すように、遮光体7とフィルム2aとの距離d1が110mmの場合は、光源4とフィルム2aとの距離d2が110mm、150mm、220mm及び350mmのいずれの場合であっても、搬送方向Xの変化に対する輝度Lの変化の勾配は緩やかであり、画像撮像装置5の視野Rに、輝度Lが最大値となる箇所と最小値となる箇所とが収まらなかった。
光源4とフィルム2aとの距離d2が110mmの場合であって、遮光体7とフィルム2aとの距離d1が110mmの場合は、搬送方向Xの変化に対する輝度Lの変化の勾配は緩やかであり、搬送方向Xの変化に対する輝度Lの変化の勾配にばらつきが大きかった。また、光源4とフィルム2aとの距離d2が110mmの場合であって、遮光体7とフィルム2aとの距離d1が20mm及び50mmの場合は、搬送方向Xの変化に対する輝度Lの変化の勾配にばらつきが大きかったが、搬送方向Xの変化に対する輝度Lの変化の勾配は、距離d1が110mmの場合よりも急峻となった。
遮光体7とフィルム2aとの距離d1が50mmの場合は、搬送方向Xの変化に対する輝度Lの変化の勾配は、距離d1が110mmの場合よりも急峻となり、光源4とフィルム2aとの距離d2が150mm、220mm及び350mmと大きくなるにつれて、搬送方向Xの変化に対する輝度Lの変化の勾配のばらつきが小さくなった。
遮光体7とフィルム2aとの距離d1が20mmの場合は、搬送方向Xの変化に対する輝度Lの変化の勾配は、光源4とフィルム2aとの距離d2が110mm、150mm、220mm及び350mmのいずれの場合であっても、距離d1が50mm及び110mmの場合よりも大きくなった。遮光体7とフィルム2aとの距離d1が20mmの場合は、光源4とフィルム2aとの距離d2が150mm、220mm及び350mmと大きくなるにつれて、搬送方向Xの変化に対する輝度Lの変化の勾配のばらつきが小さくなった。遮光体7とフィルム2aとの距離d1が20mmであって、光源4とフィルム2aとの距離d2が350mmの場合に、搬送方向Xの変化に対する輝度Lの変化の勾配が最大となり、搬送方向Xの変化に対する輝度Lの変化の勾配のばらつきが最小となった。
1a,1b…フィルム製造装置、2a,2b,2c…フィルム、3…搬送装置、4…光源、5…画像撮像装置、6…解析装置、7…遮光体、8…平行光レンズ、10…欠陥検査システム、30…表示装置、X…搬送方向、Y…幅方向、d1,d2…距離、R…視野。
Claims (4)
- フィルムに光を照射する光源と、
前記光源と前記フィルムとの間に位置し、前記光源から前記フィルムに照射される前記光の一部を遮光する遮光体と、
前記光源から前記フィルムに照射されて前記フィルムを透過した前記光による画像を撮像する撮像部と、
を備え、
前記遮光体と前記フィルムとの距離が20〜80mmである、欠陥検査システム。 - 前記光源と前記フィルムとの距離が80〜500mmである、請求項1に記載の欠陥検査システム。
- 前記光源と前記フィルムとの間に、前記光源から前記フィルムに照射される前記光の進行方向を平行にする平行光ユニットをさらに備えた、請求項1又は2に記載の欠陥検査システム。
- 請求項1〜3のいずれか1項に記載の欠陥検査システムを備え、
前記光源、前記遮光体及び前記撮像部に対して前記フィルムを搬送方向に相対的に搬送する搬送部をさらに備えた、フィルム製造装置。
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JP2016136930A JP2018009810A (ja) | 2016-07-11 | 2016-07-11 | 欠陥検査システム及びフィルム製造装置 |
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CN113406101A (zh) * | 2020-03-17 | 2021-09-17 | 东友精细化工有限公司 | 透射光学系统的检查装置 |
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- 2016-07-11 JP JP2016136930A patent/JP2018009810A/ja active Pending
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